JPS63148339A - プログラムテスト処理方式 - Google Patents

プログラムテスト処理方式

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JPS63148339A
JPS63148339A JP61296370A JP29637086A JPS63148339A JP S63148339 A JPS63148339 A JP S63148339A JP 61296370 A JP61296370 A JP 61296370A JP 29637086 A JP29637086 A JP 29637086A JP S63148339 A JPS63148339 A JP S63148339A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
factor
factors
knowledge
factor analysis
Prior art date
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Pending
Application number
JP61296370A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroo Takeuchi
竹内 洋生
Keizo Tatsumi
辰巳 敬三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP61296370A priority Critical patent/JPS63148339A/ja
Publication of JPS63148339A publication Critical patent/JPS63148339A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 プログラムをテストする際のテスト条件を定めるテスト
項目を、知識ベースを用いた連想による要因分析により
、自動的に生成する。これにより、テストの網羅性を高
め、テスト作業者の負担を軽減する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、プログラムのテスト処理方式に関するもので
あり、特にプログラムのテスト項目を自動的に生成する
方式に関する。
〔従来の技術〕
プログラム開発において、開発されたプログラムの動作
およびその性能をテストする場合、その外部仕様にした
がい種々のテスト条件を設定して動作させることが必要
とされる。
このため、予めテスト条件となる因子(パラメータ)を
洗い出し、それぞれの因子に適切な値を設定した組の複
数個からなるテスト項目設定表と呼ばれるものを作成す
る作業が行われる。
このような場合、従来は、テスト担当者がマニュアルを
読んで、そこから得た情報に基づいて。
まずテスト要因分析表というものをつくり、それからテ
スト項目設定表を作成していた。第5図にその具体例を
示す。
第5図において、51は外部仕様の1例であり。
ネットワーク制御コマンドのACTNETを示す。
このコマンドACTNETは、ネットワークのノードタ
イプTYPEとノード名N0DEを、オペランドで指定
する形式をとっている。
52はテスト要因分析表であり、コマンドACTNET
のオペランドにおいて、テスト要因の因子となるTYP
E、N0DEを分析し、因子のTYPEに指定、指定せ
ず、省略、異常値の5つの状態を設け、他の因子のN0
DEに、指定、指定せずの2つの状態を設けている。
53はテスト項目設定表であり、テスト要因分析表52
の因子TYPE、N0DEの各々に設定されている状態
に従って、各因子に、テストに必要な条件の組合せを展
開して1種々のテスト項目を作成したものである。
次に、テスト要因分析表についてさらに詳しく説明する
一般的に、プログラムの機能の大部分は、コマンド/制
御文/文・・・・・・等の命令形式で表される。
これらは、外部から与えられた入力をトリガに遂行する
この外部から与えられた入力によるトリガ条件を入力因
子と呼び、これに対して1機能遂行時の環境に関わり、
プログラムの動作に作用するような因子を環境因子と呼
ぶ。テスト要因分析では。
これらの因子が実際にとり得る状態を洗い出す。
テスト要因分析表は、上記した因子がとり得る状態を包
括できるように作成する。たとえば数値の因子であれば
、最大値、最小値、中間値、ゼロ。
・・・・・・のように、同値分割および限界値分析して
とり得る値の範囲を代表できる適当数の値を因子の状態
に設定する。また装置名の因子であれば。
想定される装置名の全てを因子の状態に設定する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
プログラムのテスト項目を設定するためには。
テスト要因分析において、全ての因子を抽出し。
それぞれの状態を展開するとともに、各因子の状態につ
いて適切な組合せを作らなければならない。
しかし従来は、これらのテスト要因分析を全てテス)f
fl当者が手作業で行っていたため、かなりの作業負担
がかかるとともに、因子の抽出漏れや状態の展開の誤り
を起こし易く、その結果テスト項目が網羅性を欠いて、
プログラムテストの信頼性が低下するという問題があっ
た。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、テスト要因分析における因子の抽出漏れや状
態の展開誤りを排除し、テスト担当者の負担を軽減する
ものである。
そのため1本発明においては、テスト担当者が個々に習
得している因子・状態の分析手法や同値分割法、限界値
分析法などといったテスト技法を。
分析知識として内蔵した分析機構を設けて、外部仕様か
ら因子および状態を抽出展開し、テスト知識として蓄積
しておき、テスト要因分析表作成要求時に随時利用可能
にする。関連する因子、状態についてはリンクをとって
おき、利用時に連想処理を行い、抽出漏れや展開誤りを
防止する。
第1図に1本発明の原理的構成を示す。
図において、1はテスト要因分析処理部、2は知識蓄積
機構、3は編集機構、4は連想機構、5は要因分析表管
理機構、6は外部仕様、7はテスト知識、8は初期のテ
スト要因分析画面、9は連想処理後のテスト要因分析画
面、10は要因データベース、11はテスト要因分析表
データベースである。
テスト知識7としては、同値分割や限界値分析等の通常
のテスト技法の他、経験則や障害分析に有用な情報など
が使用される。
これらのテスト知識7は、テスト要因分析処理部1の知
識蓄積機構2に予め入力され、そして蓄積される。
知識蓄積機構2は、外部仕様6にテスト知識7を適用し
て、外部仕様6に含まれている各因子(α、β、T)を
抽出するとともに、各因子についてそれぞれ状g (α
: a 1. a 2. a 3. ・・・、  β:
b++bZ+b++・・・、γ’ CI+ CZ+ ’
 !+・・・)を展開する。
次に、このようにして得られた各因子を互いにリンクし
、それぞれの状態とともに、因子名を用いて要因データ
ベース10に登録スる。
テスト担当者は、I集機構3を起動し、テスト要因分析
画面8を作成する。次にある因子Xを指定し、テスト要
因分析を指示すると、連想機構4が起動される。
連想機構4は、指定された因子Xにより要因データベー
ス10を検索し、リンクされた関連する因子(α、β、
γ)とそれぞれの状態のデータを得て、テスト要因分析
画面9に出力表示する。
テスト担当者は、必要に応じてさらに編集を行い、結果
を要因分析表管理機構5により、テスト要因分析表デー
タベース11に登録する。
このようにして、テスト要因分析表データベース11に
は、各外部仕様6に対応したテスト要因分析表が蓄積さ
れ、必要に応じて読み出してテスト項目設定表作成に利
用し、また適宜更新をすることができる。
〔作用〕
第1図に示された本発明の原理的構成において。
テスト要因分析処理部1は、知識蓄積機構2と連想機構
4とをそなえていることにより、まず知識蓄積機構2を
用いて任意の外部仕様を入力として。
関連因子の抽出と1分析知識適用しての状態展開とを行
い、要因データベース10にテスト知識として格納して
おき、テスト要因分析表作成時には。
連想機構4を用いて、要因データベースから関連する因
子および状態を全て読み出し、テスト知識として利用さ
せ、漏れのないテスト要因分析表を作成可能にする。
テスト知識の作成では、一定の形式で記載された外部仕
様から因子抽出し、因子が数値で与えられる場合には、
まず限界値分析により最大値、最小値、ゼロ値を求め、
さらに同値分割により、所定数の分割点の値を求めて、
それぞれ状態として展開する。他方、因子が装置名等で
与えられる場合には、各装置名等を状態として展開して
おく。
またファイル名、アクセス法、ファイル編成のように、
相互に関係の深い複数の因子(たとえばα、β、Tとす
る)については、予めリンクして。
要因データベース10に登録しておくことにより。
任意の因子、たとえばαが挙げられたとき、他の因子β
、Tも同時に挙げられるようにする。
このようにして、因子の抽出漏れや状態の展開誤りを防
止することができる。
〔実施例〕
以下に、実施例を用いて本発明の詳細な説明する。
はじめに、外部仕様を定形式で記述するための構文表記
法の例について説明する。
この構文表記法では、終端記号と、非終端記号と、構文
表記記号とが用いられる。
終端記号は、NEW、OLD、DSNAMEなど、ユー
ザが入力時にそのままの形で指定する必要のあるもので
ある。
非終端記号は、DD名、ファイル名などのような原則的
には和単語のものであり、ユーザが入力時に実際の値と
置き換えて指定する必要のあるものである。
構文表記記号は2文構造を指定するためのものであり、
以下の種類がある。
・大括弧〔〕:項目を一つ選択 ・中括弧()二指定省略可または一つ選択・下線 −二
省略時の標準値 ・繰返し記号・・・:直前の項目の操り返し・選択記号
1 :選択項目の区切り 次に、これらの構文表記の用法上の規則を、構文例を用
いて示す。なお例中で用いられる記号α。
β、γ1g、λ2 μは、いずれも終端記号が非終端記
号あるいはそれらの集まりを表している。
■ 選択記号(中括弧)としての用法 中括弧内に記述された複数個の項目α、β。
γの中から一つだけ選択することを表す。
■ 省略記号(大括弧)としての用法 大括弧内に記述された項目が省略できることを表す。
〔α〕
■ 省略可選択記号(大括弧)としての用法大括弧内に
記述された複数個の項目は、その中から一つを選択する
か、あるいは全部を省略してもよい。
■ 省略時の標準値記号(下線)としての用法大括弧内
に記述された項目の下に下線が施されている項目は、省
略時の標準値を示す。
■ 組合せ選択 選択記号(中括弧)と省略可選択記号(大括弧)は組合
せて用いられ1項目間のつながりを示す。
■ 繰返し記号(・・・) a)項目αを1回以上任意回数繰り返して指定できる。
α +  轡  伊 b)項目αに続けて項目βを任意回数繰り返して指定で
きる。βの省略も可。
α〔β〕 ・・・ C)項目αと項目βの組合せを1回以上繰り返して指定
できる。
αβ αβ・・・ d)項目αや項目βを任意の順序で任意回数繰り返して
指定できる。
以上のような構文表記記号と、終端記号、非終端記号と
を用いて表記された外部仕様が第1図のテスト要因分析
処理部1に入力されると、知識蓄積機構2は9次表のよ
うな変換処理を行い、因子泡生成と状態展開とを行い、
テスト知識を作成する。
次に、テスト知識の作成例を、単純型知識と連想型知識
とについて説明する。
垂にを雑益 単純型知識は、第2図に示すように、単一の因子と、そ
の因子が取り得る値である状態とからなり、知識名には
因子名を用いる。
単純型知識は、以下のように定義するが、状態には、既
定事実のように因子の取り得る値を宣言的に記述(最大
値Nを入力、最小値nを入力、・・・というように)す
る方法と、状態値(N、n。
・・・)を論理的に求める手続き名を指定する方法との
、いずれをも可能にする。
(因子(状H1)(状態2)・・・(状ffff1i)
)迷想二■窟 因子間の関係を因子の階層化により定義したものを連想
型知識と呼ぶ。連想型知識の例として。
因子名「ファイル」から連想される因子を次に示す。
因子「ファイル」から抽出された因子「レコード形式」
により、さらに連想される因子を抽出する。
連想は、入力された因子名をキーにして、テスト知識を
下位方向に連想して単純型知識を求める。
そのため、因子のα、βを連想させる因子Fileは。
次のように定義させる。
(File  (X Cx+)(xz) ・= (xi
) )(Y (y+)(yz)・・・(yi) )(Z
 (α(al)(az)−(at) )       
−(β(bl)(bり・・・(bi) ) )次に、テ
スト知識を利用した要因分析の方法について説明する。
単純型知識を利用した要因分析の場合、先にテスト要因
分析を行ったときの状態を、ひな型として登録および蓄
積しておき、これを利用することにより、有効かつ最小
の状態値を設定する。第3図に、数値を状態としてもつ
因子αのひな型による状態の提示例を示す。
テスト知識としては、この他に、装置種別には何がある
か、ファイル名の文字数は何文字以内が等の既定事実が
ある。この既定事実の活用により。
広範囲のソフトウェアのテスト知識を踏まえた要因分析
が可能となる。
次に連想型知識を利用した要因分析の場合、第4図(a
lに示す例のように、因子Xが与えられたとき、第1図
の要因データベース10がら、連想機構4を用いて因子
Xにリンクする因子α、β、γを自動抽出し、さらに因
子α、β、γのそれぞれについての単純型知識を求め、
第4図fb)に示すようにテスト要因分析表に記入する
このようにして完成したテスト要因分析表に基づいて、
適切なテスト項目設定表を作成し、プログラムテストを
実行する。
〔発明の効果〕
本発明によるテスト要因分析表の自動作成に基づくテス
ト項目生成方式では、因子や状態の抽出・展開漏れを防
止することができ、全てのテスト対象プログラムについ
て、テスト要因分析レベルを均一化することができる。
また、テスト要因分析表をデータベース化することによ
り、検索を容易にし、知識の再利用を可能にする。
その結果、テスト担当者の作業負担は大幅に軽減され、
プログラムテストの迅速化に高信頼化とを図ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理的構成図、第2図は単純型知識の
構造の説明図、第2図ないし第4図は本発明の実施例に
関する図で、第3図はひな型による状態の提示例の説明
図、第4図は連想型知識を利用した要因分析の例の説明
図である。また第5図は従来におけるテスト項目設定表
の作成手順の説明図である。 第1図中 l:テスト要因分析処理部 2:知識蓄積機構 4:連想機構 8.9:テスト要因分析画面 10:要因データベース

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 プログラムテストのためのテスト要因分析に関する知識
    を有し、入力された外部仕様からテストの因子および因
    子間の関連情報を抽出するとともに、各因子ごとにとり
    得る状態を展開する機能をそなえた知識蓄積機構(2)
    と、 因子および因子間のリンクと、因子ごとの状態に関する
    情報を因子名により管理し、保持する要因データベース
    (10)と、 因子名の指定に応じて、要因データベース(10)から
    、因子名により連想される全ての因子を因子間のリンク
    に基づいて検索し、抽出するとともに、抽出した各因子
    ごとの状態をとり出す機能をそなえた連想機構(4)と
    を含み、 テストすべきプログラムごとに指定される任意の因子名
    から、必要とするテスト要因分析表を自動的に作成する
    ことを特徴とするプログラムテスト処理方式。
JP61296370A 1986-12-12 1986-12-12 プログラムテスト処理方式 Pending JPS63148339A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61296370A JPS63148339A (ja) 1986-12-12 1986-12-12 プログラムテスト処理方式

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JP61296370A JPS63148339A (ja) 1986-12-12 1986-12-12 プログラムテスト処理方式

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JPS63148339A true JPS63148339A (ja) 1988-06-21

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ID=17832672

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JP61296370A Pending JPS63148339A (ja) 1986-12-12 1986-12-12 プログラムテスト処理方式

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