JP2538630B2 - テスト項目自動選択システム - Google Patents
テスト項目自動選択システムInfo
- Publication number
- JP2538630B2 JP2538630B2 JP63018706A JP1870688A JP2538630B2 JP 2538630 B2 JP2538630 B2 JP 2538630B2 JP 63018706 A JP63018706 A JP 63018706A JP 1870688 A JP1870688 A JP 1870688A JP 2538630 B2 JP2538630 B2 JP 2538630B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- module
- test
- test item
- source program
- management table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Stored Programmes (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プログラムのエラー修正後の復帰テストに
おけるテスト項目を自動的に選択するテスト項目自動選
択システムに関する。
おけるテスト項目を自動的に選択するテスト項目自動選
択システムに関する。
プログラムのエラーを修正したあとで、エラー状況を
テストすると共に、新しいエラーが生まれていないかど
うかをテストすることを復帰テストというが、そのテス
ト項目を選択するには、従来は修正仕様書等のドキュメ
ントとテスト項目一覧とを対比することにより、人手で
行っていた。
テストすると共に、新しいエラーが生まれていないかど
うかをテストすることを復帰テストというが、そのテス
ト項目を選択するには、従来は修正仕様書等のドキュメ
ントとテスト項目一覧とを対比することにより、人手で
行っていた。
しかし、上述の様な作業を人間が行うことは、比較・
照合するのに多くの時間が必要であり、転記ミスなどに
よるテスト項目の選択漏れが生じることが多い。また、
原始プログラムの修正に伴う修正仕様者などのドキュメ
ントが作成されていない場合は、修正されたことが分か
らずテストすべきテスト項目が欠落することもあった。
さらに、構造化プログラミング技法によるプログラムに
おいては多数のモジュールから構成される可能性が高
く、その関係が複雑になる。このため、あるモジュール
の修正したことによる関連するモジュールのテスト項
目、つまりインタフェースに関するテスト項目を見落と
しがちであった。
照合するのに多くの時間が必要であり、転記ミスなどに
よるテスト項目の選択漏れが生じることが多い。また、
原始プログラムの修正に伴う修正仕様者などのドキュメ
ントが作成されていない場合は、修正されたことが分か
らずテストすべきテスト項目が欠落することもあった。
さらに、構造化プログラミング技法によるプログラムに
おいては多数のモジュールから構成される可能性が高
く、その関係が複雑になる。このため、あるモジュール
の修正したことによる関連するモジュールのテスト項
目、つまりインタフェースに関するテスト項目を見落と
しがちであった。
本発明のテスト項目自動選択システムは、原始プログ
ラムを格納する外部記憶装置と、前記原始プログラムの
修正データを入力する入力装置と、前記原始プログラム
の各モジュール毎に修正されたことを記憶する原始プロ
グラム修正管理テーブルと、前記原始プログラムの構造
化プログラミングにおけるモジュール間のインタフェー
スの有無を記憶するモジュール関連情報テーブルと、モ
ジュール毎のテスト項目番号を記憶するモジュール毎テ
スト項目管理テーブルと、実行結果を出力する出力装置
とを含み、前記原始プログラム修正管理テーブルを検索
して修正モジュール一覧を作成し、この修正モジュール
一覧と前記モジュール関連情報テーブルとからテスト対
象モジュール一覧を作成し、このテスト対象モジュール
一覧と前記モジュール毎テスト項目管理テーブルとから
前記原始プログラムの修正に伴うテストのテスト項目を
選択し、前記出力装置により出力することを特徴とす
る。
ラムを格納する外部記憶装置と、前記原始プログラムの
修正データを入力する入力装置と、前記原始プログラム
の各モジュール毎に修正されたことを記憶する原始プロ
グラム修正管理テーブルと、前記原始プログラムの構造
化プログラミングにおけるモジュール間のインタフェー
スの有無を記憶するモジュール関連情報テーブルと、モ
ジュール毎のテスト項目番号を記憶するモジュール毎テ
スト項目管理テーブルと、実行結果を出力する出力装置
とを含み、前記原始プログラム修正管理テーブルを検索
して修正モジュール一覧を作成し、この修正モジュール
一覧と前記モジュール関連情報テーブルとからテスト対
象モジュール一覧を作成し、このテスト対象モジュール
一覧と前記モジュール毎テスト項目管理テーブルとから
前記原始プログラムの修正に伴うテストのテスト項目を
選択し、前記出力装置により出力することを特徴とす
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の基本的な考え方を説明す
るもので、原始プログラム修正管理テーブル13には、予
め管理対象とする総てのモジュール名を登録しておく。
一方、モジュール関係情報テーブル15は、プログラムの
構造設計が終了した後、それぞれのモジュールの関係
を、また、モジュール毎テスト項目管理テーブル17は、
モジュール毎のテスト・ケースを設計した後にそのテス
ト項目番号を、各々登録しておく。外部記憶装置12に存
在するプログラムの一部を修正する時、入力装置11より
修正データを入力した更新する。また、その更新作業が
終了した時点で、原始プログラム修正管理テーブル13に
修正日付の登録を行う。なお、修正日付の初期化は以後
の原始プログラムの修正をする必要がなくなった時点
で、且つ、総ての復帰テストが終了した時点で行う。
るもので、原始プログラム修正管理テーブル13には、予
め管理対象とする総てのモジュール名を登録しておく。
一方、モジュール関係情報テーブル15は、プログラムの
構造設計が終了した後、それぞれのモジュールの関係
を、また、モジュール毎テスト項目管理テーブル17は、
モジュール毎のテスト・ケースを設計した後にそのテス
ト項目番号を、各々登録しておく。外部記憶装置12に存
在するプログラムの一部を修正する時、入力装置11より
修正データを入力した更新する。また、その更新作業が
終了した時点で、原始プログラム修正管理テーブル13に
修正日付の登録を行う。なお、修正日付の初期化は以後
の原始プログラムの修正をする必要がなくなった時点
で、且つ、総ての復帰テストが終了した時点で行う。
復帰テストを行う場合、まず原始プログラム修正管理
テーブル13を検索することにより、修正モジュール一覧
14を作成し、これを一時確保する。つぎに、このモジュ
ール一覧14にあるプログラム名でモジュール関連情報テ
ーブル15を参照し、テスト対象モジュール一覧16を作成
する。これも一時的に確保するが、修正モジュール一覧
14はこの時点で不用となるので開放する。そして、この
テスト対象モジュール一覧16のモジュール名でモジュー
ル毎テスト項目管理テーブル17を検索することにより、
テスト対象モジュールのテスト項目番号を求める。この
ようにして得られた結果を、出力装置18により出力す
る。また、この時点でテスト対象モジュール一覧16も不
用となるので解放し、処理を終える。
テーブル13を検索することにより、修正モジュール一覧
14を作成し、これを一時確保する。つぎに、このモジュ
ール一覧14にあるプログラム名でモジュール関連情報テ
ーブル15を参照し、テスト対象モジュール一覧16を作成
する。これも一時的に確保するが、修正モジュール一覧
14はこの時点で不用となるので開放する。そして、この
テスト対象モジュール一覧16のモジュール名でモジュー
ル毎テスト項目管理テーブル17を検索することにより、
テスト対象モジュールのテスト項目番号を求める。この
ようにして得られた結果を、出力装置18により出力す
る。また、この時点でテスト対象モジュール一覧16も不
用となるので解放し、処理を終える。
第２図以降は、各テーブルの作成を詳細に説明するも
のであるが、まず、修正モジュール一覧14の作成につい
て説明する。たとえば、修正があった総てのモジュール
に関連した復帰テストを行いたい場合、“修正日付が空
白でない”という条件で、第２図に示す原始プログラム
修正管理テーブル13を検索するとモジュール“PRG11",
“PRG30",“PRG92"が条件に合致し、第３図に示すもの
が修正モジュール一覧14となる。また、ある日付け（た
とえば86年３月）以降に修正があったモジュールに関連
した復帰テストを、再度行いたい場合“修正日付が86年
３月以降”という条件で同様に検索すると、モジュール
“PRG11",“PRG30"が選択される。
のであるが、まず、修正モジュール一覧14の作成につい
て説明する。たとえば、修正があった総てのモジュール
に関連した復帰テストを行いたい場合、“修正日付が空
白でない”という条件で、第２図に示す原始プログラム
修正管理テーブル13を検索するとモジュール“PRG11",
“PRG30",“PRG92"が条件に合致し、第３図に示すもの
が修正モジュール一覧14となる。また、ある日付け（た
とえば86年３月）以降に修正があったモジュールに関連
した復帰テストを、再度行いたい場合“修正日付が86年
３月以降”という条件で同様に検索すると、モジュール
“PRG11",“PRG30"が選択される。
モジュール関連情報テーブル15の作成について説明す
ると、いまプログラム“PROG1"が“PRG00"〜“PRG92"の
複数のモジュールで構成され、それが第４図に示す階層
構造であるとき、呼ぶ／呼ばれる関係を表であらわす
と、第５図のようになる。たとえば、モジュール“PRG1
1"はモジュール“PRG10"から呼ばれており、モジュール
“PRG92"はモジュール“PRG30",“PRG40"から呼ばれて
いる。
ると、いまプログラム“PROG1"が“PRG00"〜“PRG92"の
複数のモジュールで構成され、それが第４図に示す階層
構造であるとき、呼ぶ／呼ばれる関係を表であらわす
と、第５図のようになる。たとえば、モジュール“PRG1
1"はモジュール“PRG10"から呼ばれており、モジュール
“PRG92"はモジュール“PRG30",“PRG40"から呼ばれて
いる。
このようにプログラムが階層構造であるとき、復帰テ
ストの対象は、修正したモジュールと、そのモジュール
の直前の上位モジュールとする。この前提でテスト対象
モジュール一覧16を作成すると、修正モジュール一覧14
のプログラム名によりモジュール関連情報テーブル15を
検索して、その修正したモジュールを呼ぶモジュールを
求める。修正モジュール一覧14が第３図に示す状態でプ
ログラムの階層構造が第４図に示すものであるとき、テ
スト対象モジュール一覧16は第６図に示すものとなる。
ただし、このままでは重複するモジュールがある（この
例ではモジュール“PRG30"が２回出現している）ので整
理して、第７図のように状態で確保しておく。
ストの対象は、修正したモジュールと、そのモジュール
の直前の上位モジュールとする。この前提でテスト対象
モジュール一覧16を作成すると、修正モジュール一覧14
のプログラム名によりモジュール関連情報テーブル15を
検索して、その修正したモジュールを呼ぶモジュールを
求める。修正モジュール一覧14が第３図に示す状態でプ
ログラムの階層構造が第４図に示すものであるとき、テ
スト対象モジュール一覧16は第６図に示すものとなる。
ただし、このままでは重複するモジュールがある（この
例ではモジュール“PRG30"が２回出現している）ので整
理して、第７図のように状態で確保しておく。
そして、最終目的であるテスト項目番号を得るため
に、テスト対象モジュール一覧16のモジュール名で、モ
ジュール毎テスト項目管理テーブル17を、参照すること
により求める。テスト対象モジュール一覧16および、モ
ジュール毎テスト項目管理テーブル17がそれぞれ第７
図，第８図に示す状態のとき、たとえば、モジュール
“PRG00"によりモジュール毎テスト項目管理テーブル17
を検索すると、テスト項目番号“1.1.1",“1.1.2",“1.
1.3"が得られる。同様にしてテスト対象モジュール一覧
16のすべてのモジュールのテスト項目番号を求めると、
第９図に示す結果となる。
に、テスト対象モジュール一覧16のモジュール名で、モ
ジュール毎テスト項目管理テーブル17を、参照すること
により求める。テスト対象モジュール一覧16および、モ
ジュール毎テスト項目管理テーブル17がそれぞれ第７
図，第８図に示す状態のとき、たとえば、モジュール
“PRG00"によりモジュール毎テスト項目管理テーブル17
を検索すると、テスト項目番号“1.1.1",“1.1.2",“1.
1.3"が得られる。同様にしてテスト対象モジュール一覧
16のすべてのモジュールのテスト項目番号を求めると、
第９図に示す結果となる。
以上に説明したように本発明は、テスト項目の選択を
人手に依らず計算機が行うので短時間で行え、単純な転
記ミス等がなくなる。また、原始プログラムが修正され
たことの検索は、原始プログラム修正管理テーブルを元
に行うのでドキュメント不備によるテスト項目の選択漏
れもない。さらに、モジュール関連情報を参照するの
で、インタフェースに関するテスト項目の見落としもな
くなる。
人手に依らず計算機が行うので短時間で行え、単純な転
記ミス等がなくなる。また、原始プログラムが修正され
たことの検索は、原始プログラム修正管理テーブルを元
に行うのでドキュメント不備によるテスト項目の選択漏
れもない。さらに、モジュール関連情報を参照するの
で、インタフェースに関するテスト項目の見落としもな
くなる。
第１図は本発明の一実施例の概要を示すブロック図、第
２図は第１図に示す原始プログラム修正管理テーブル13
の登録例を示す図、第３図は第１図に示す修正プログラ
ム一覧14の作成例を示す図、第４図はプログラムの構造
の例を示す図、第５図は第４図の構造図をもとにした第
１図に示すモジュール関連情報テーブル15の登録例を示
す図、第６図および第７図は第１図に示すテスト対象モ
ジュール一覧16の作成例を示す図、第８図は第１図に示
すモジュール毎テスト項目管理テーブル17の登録例を示
す図、第９図は第１図に示す実施例のテスト項目一覧の
出力例を示す図である。 11……入力装置、12……外部記憶装置、13……原始プロ
グラム修正管理テーブル、14……修正モジュール一覧、
15……モジュール関連情報テーブル、16……テスト対象
モジュール一覧、17……モジュール毎テスト項目管理テ
ーブル、18……出力装置。
２図は第１図に示す原始プログラム修正管理テーブル13
の登録例を示す図、第３図は第１図に示す修正プログラ
ム一覧14の作成例を示す図、第４図はプログラムの構造
の例を示す図、第５図は第４図の構造図をもとにした第
１図に示すモジュール関連情報テーブル15の登録例を示
す図、第６図および第７図は第１図に示すテスト対象モ
ジュール一覧16の作成例を示す図、第８図は第１図に示
すモジュール毎テスト項目管理テーブル17の登録例を示
す図、第９図は第１図に示す実施例のテスト項目一覧の
出力例を示す図である。 11……入力装置、12……外部記憶装置、13……原始プロ
グラム修正管理テーブル、14……修正モジュール一覧、
15……モジュール関連情報テーブル、16……テスト対象
モジュール一覧、17……モジュール毎テスト項目管理テ
ーブル、18……出力装置。
Claims (1)
- 【請求項１】原始プログラムを格納する外部記憶装置
と、前記原始プログラムの修正データを入力する入力装
置と、前記原始プログラムの各モジュール毎に修正され
たことを記憶する原始プログラム修正管理テーブルと、
前記原始プログラムの構造化プログラミングにおけるモ
ジュール間のインタフェースの有無を記憶するモジュー
ル関連情報テーブルと、モジュール毎のテスト項目番号
を記憶するモジュール毎テスト項目管理テーブルと、実
行結果を出力する出力装置とを含み、前記原始プログラ
ム修正管理テーブルを検索して修正モジュール一覧を作
成し、この修正モジュール一覧と前記モジュール関連情
報テーブルとからテスト対象モジュール一覧を作成し、
このテスト対象モジュール一覧と前記モジュール毎テス
ト項目管理テーブルとから前記原始プログラムの修正に
伴うテストのテスト項目を選択し、前記出力装置により
出力することを特徴とするテスト項目自動選択システ
ム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63018706A JP2538630B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | テスト項目自動選択システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63018706A JP2538630B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | テスト項目自動選択システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01193944A JPH01193944A (ja) | 1989-08-03 |
| JP2538630B2 true JP2538630B2 (ja) | 1996-09-25 |
Family
ID=11979091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63018706A Expired - Fee Related JP2538630B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | テスト項目自動選択システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2538630B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03291733A (ja) * | 1990-04-10 | 1991-12-20 | Fujitsu Ten Ltd | 試験用データフアイルの作成方法 |
| JP2893937B2 (ja) * | 1990-11-09 | 1999-05-24 | ブラザー工業株式会社 | ハードウェア動作チェック装置 |
| JPH07210424A (ja) * | 1994-01-14 | 1995-08-11 | Toshiba Corp | ソフトウェアテスト支援システム |
| JPH08328843A (ja) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Nec Corp | 再リンクチェック方法 |
| JP2001022574A (ja) * | 1999-07-05 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | モジュール保守管理システム |
| JP2006031121A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Nissan Motor Co Ltd | システム検査方法およびシステム検査装置 |
| JP6862949B2 (ja) * | 2017-03-15 | 2021-04-21 | 富士通株式会社 | テスト範囲出力プログラム、テスト範囲出力装置及びテスト範囲出力方法 |
-
1988
- 1988-01-28 JP JP63018706A patent/JP2538630B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01193944A (ja) | 1989-08-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |