JPH01188421A - 超伝導体薄膜の製造方法 - Google Patents
超伝導体薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JPH01188421A JPH01188421A JP63012506A JP1250688A JPH01188421A JP H01188421 A JPH01188421 A JP H01188421A JP 63012506 A JP63012506 A JP 63012506A JP 1250688 A JP1250688 A JP 1250688A JP H01188421 A JPH01188421 A JP H01188421A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide
- oxygen
- substrate
- heat
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 24
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 3
- 238000001659 ion-beam spectroscopy Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 11
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 8
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract description 3
- 229910003097 YBa2Cu3O7−δ Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910021521 yttrium barium copper oxide Inorganic materials 0.000 abstract 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004480 active ingredient Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超伝導体薄膜の製造方法に係シ、特に酸素中
での熱処理を比較的低温で行な５ことが可能な、 Ｂａ
ｚＹＣｕｓＯｔ系酸化物超伝導体薄膜の製造方法に関す
る。
での熱処理を比較的低温で行な５ことが可能な、 Ｂａ
ｚＹＣｕｓＯｔ系酸化物超伝導体薄膜の製造方法に関す
る。
従来のＢａｔＹＣｕｓＯｔ系酸化物超伝導体の製造方法
は、ジャパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド−フ
ィジックス２６、Ｌ３５２（１９８７年） （Ｊ 、Ｊ
。
は、ジャパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド−フ
ィジックス２６、Ｌ３５２（１９８７年） （Ｊ 、Ｊ
。
Ａｐｐｌ、Ｐｈｙｓ、２６．Ｌ３３２（１９８７））に
おいて述べられている様に、ＢａｘＹＣｕｓＯｔ ６
（０＜ｓ ＜α５）系酸化物を酸素中９００℃で数時間
から数十時間保持し、その後、酸素中で徐冷することに
より、該酸化物中への酸素の拡散を促しＢａｘＹＣｕｓ
Ｏｔ −ａ （α５くａ〈１）酸化物超伝導体を得てい
た。
おいて述べられている様に、ＢａｘＹＣｕｓＯｔ ６
（０＜ｓ ＜α５）系酸化物を酸素中９００℃で数時間
から数十時間保持し、その後、酸素中で徐冷することに
より、該酸化物中への酸素の拡散を促しＢａｘＹＣｕｓ
Ｏｔ −ａ （α５くａ〈１）酸化物超伝導体を得てい
た。
〔発明が解決しよ５とする課題〕
上記従来技術は、９００℃という高温で保持することが
必要なため、例えば絶縁体基板上に超伝導体薄膜を形成
する際には、超伝導体中に絶縁物を構成する元素が拡散
し、超伝導特性な劣化させるという課題があった。
必要なため、例えば絶縁体基板上に超伝導体薄膜を形成
する際には、超伝導体中に絶縁物を構成する元素が拡散
し、超伝導特性な劣化させるという課題があった。
本発明の目的は、酸素雰囲気中での熱処理をより低温で
行ない、酸素以外の元素の拡散を抑えながらかつ、該酸
化物中への酸素の拡散を容易ならしめることにある。
行ない、酸素以外の元素の拡散を抑えながらかつ、該酸
化物中への酸素の拡散を容易ならしめることにある。
上記目的は、熱処理時の雰囲気ガスである酸素ガスの分
圧を高めかつ、酸素ガスを紫外光照射により励起し、活
性化させることによシ達成される・酸素ガスの分圧とし
ては１気圧以上、より高い方が望ましいが、１気圧未満
では、酸素の該酸化物表面からの脱離が進行し、好まし
くない。また紫外光の波長は、酸素分子の吸収帯である
１６０〜２００ ｎｍが好ましく、この場合に酸素分子
は効率的Ｇ（励起され活性糧となる。さらに、この時の
基板温度としては、該酸化物表面に吸着した酸素分子或
はその励起種の、該酸化物中への拡散を促すため、１０
０〜４００℃に保つのが好ましい。
圧を高めかつ、酸素ガスを紫外光照射により励起し、活
性化させることによシ達成される・酸素ガスの分圧とし
ては１気圧以上、より高い方が望ましいが、１気圧未満
では、酸素の該酸化物表面からの脱離が進行し、好まし
くない。また紫外光の波長は、酸素分子の吸収帯である
１６０〜２００ ｎｍが好ましく、この場合に酸素分子
は効率的Ｇ（励起され活性糧となる。さらに、この時の
基板温度としては、該酸化物表面に吸着した酸素分子或
はその励起種の、該酸化物中への拡散を促すため、１０
０〜４００℃に保つのが好ましい。
酸素ガス分圧を高めることによｐ核酸化物中への酸素の
拡散は容易となる。これは温度を上げたことと同様の効
果をもたらすため、該酸化物の温度は、酸素ガス分圧を
高めない場合に比べて低く抑えることができる。
拡散は容易となる。これは温度を上げたことと同様の効
果をもたらすため、該酸化物の温度は、酸素ガス分圧を
高めない場合に比べて低く抑えることができる。
また紫外光照射によって酸素分子を励起することによシ
酸素分子は種々の活性化された状態となりこれらは非常
に反応性に富んでいる。該酸化物の酸素中での熱処理中
にこの紫外光を酸化物表面に照射すると、該表面近傍で
生じた酸素活性種は、表面層の酸化物と反応し、同時に
、内部への拡散も起こり易くなり、この場合にも該酸化
物の温度を低く抑えることができる。
酸素分子は種々の活性化された状態となりこれらは非常
に反応性に富んでいる。該酸化物の酸素中での熱処理中
にこの紫外光を酸化物表面に照射すると、該表面近傍で
生じた酸素活性種は、表面層の酸化物と反応し、同時に
、内部への拡散も起こり易くなり、この場合にも該酸化
物の温度を低く抑えることができる。
さらに、この紫外光としてレーザー光を用いることによ
り励起効率を高め、熱処理時間を短くすることができる
。
り励起効率を高め、熱処理時間を短くすることができる
。
以下、本発明の実施例を第１図により説明する。
第１図は８ｒＴ ｉ（ｈ基板１上Ｋｆｉ層しりＢａｚＹ
ＣｕｓＯｔ−６（０（、ａ ＜ ０．５ ）系酸化物層
２を酸素雰囲気（３）下（１気圧）、紫外光５（波長１
８０ｎｍ）を照射しながら熱処理を行なっている様子の
断面図である。
ＣｕｓＯｔ−６（０（、ａ ＜ ０．５ ）系酸化物層
２を酸素雰囲気（３）下（１気圧）、紫外光５（波長１
８０ｎｍ）を照射しながら熱処理を行なっている様子の
断面図である。
紫外光照射により該酸化物層の表面近傍に生じた活性酸
素分子４は表面層と反応し、該酸化物中を拡散し、その
酸素欠陥部分に到達する。基板温度３５０℃で５時間保
持することにより従来と同等のＴｃ（８７Ｋ）？有する
超伝導体薄膜が得られた。
素分子４は表面層と反応し、該酸化物中を拡散し、その
酸素欠陥部分に到達する。基板温度３５０℃で５時間保
持することにより従来と同等のＴｃ（８７Ｋ）？有する
超伝導体薄膜が得られた。
本発明によれば、ＢａｚＹＣｕａＯｙ−ａ系の超伝導体
の熱処理温度を低く抑えることができる。その結果基板
上へ積層した超伝導体薄膜や、絶縁層により隔てられた
超伝導配線等の熱処理の際に、超伝導相に異種元素が拡
散することを抑え、超伝導特性の低下を抑えることがで
きる。
の熱処理温度を低く抑えることができる。その結果基板
上へ積層した超伝導体薄膜や、絶縁層により隔てられた
超伝導配線等の熱処理の際に、超伝導相に異種元素が拡
散することを抑え、超伝導特性の低下を抑えることがで
きる。
＠１図は本発明の一実施例の、基板上に積層したＢａｘ
ＹＣｕｓＯｔ −ｓ 系酸化物を紫外光照射しながら熱
処理する際の、基板の断面図を示している。 １・・・基板 ２ ・ＢａｔＹＣｕｓＯｙ−ａ系酸化物３・・・雰囲気
酸素分子 ４・・・紫外光により励起された活性酸素分子５・・・
紫外光 第 １ 図 ！、基 ａ ２． ｆ３ａ２７’ｃｔｎ（ｈ−１
； ３． 敏券分ひ４、月す柱鯖々トチ Ｓ、禁
タト九
ＹＣｕｓＯｔ −ｓ 系酸化物を紫外光照射しながら熱
処理する際の、基板の断面図を示している。 １・・・基板 ２ ・ＢａｔＹＣｕｓＯｙ−ａ系酸化物３・・・雰囲気
酸素分子 ４・・・紫外光により励起された活性酸素分子５・・・
紫外光 第 １ 図 ！、基 ａ ２． ｆ３ａ２７’ｃｔｎ（ｈ−１
； ３． 敏券分ひ４、月す柱鯖々トチ Ｓ、禁
タト九
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、スパッタリング法或はイオンビームスパッタリング
法により、基板上に形成されたＢａ＿２ＹＣｕ＿３Ｏ＿
７＿−＿δ（０≦δ≦１）酸化物を熱処理する方法にお
いて、１気圧以上の酸素雰囲気下、基板温度を１００〜
４００℃に保ちながら、該酸化物上に１６０〜２００ｎ
ｍの波長の紫外光を照射しながら１〜１０時間保持する
ことを特徴とする超伝導体薄膜の製造方法。 ２、紫外光として、レーザー光を用いることを特徴とす
る、請求項１記載の超伝導体薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63012506A JPH01188421A (ja) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | 超伝導体薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63012506A JPH01188421A (ja) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | 超伝導体薄膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01188421A true JPH01188421A (ja) | 1989-07-27 |
Family
ID=11807235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63012506A Pending JPH01188421A (ja) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | 超伝導体薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01188421A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04119905A (ja) * | 1989-08-21 | 1992-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜超伝導体および超伝導素子とそれらの製造方法 |
| JP2016508943A (ja) * | 2013-01-15 | 2016-03-24 | ミュラー、カール アレックス | 紫外線放射による酸化物の急速な固相反応 |
-
1988
- 1988-01-25 JP JP63012506A patent/JPH01188421A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04119905A (ja) * | 1989-08-21 | 1992-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜超伝導体および超伝導素子とそれらの製造方法 |
| JP2016508943A (ja) * | 2013-01-15 | 2016-03-24 | ミュラー、カール アレックス | 紫外線放射による酸化物の急速な固相反応 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6043166A (en) | Silicon-on-insulator substrates using low dose implantation | |
| CA1297764C (en) | Fabrication of devices having thin dielectric layers | |
| KR970060391A (ko) | 반도체장치 및 그 제작방법 | |
| JP3684709B2 (ja) | 結晶性酸化物誘電体薄膜と単結晶シリコン基体との複合構造体およびそれを用いた電子素子およびそれらの製造方法 | |
| JPH01188421A (ja) | 超伝導体薄膜の製造方法 | |
| JPS59202640A (ja) | 半導体ウエハの処理方法 | |
| JPH04158514A (ja) | 半導体基板への不純物拡散方法 | |
| JP3078853B2 (ja) | 酸化膜形成方法 | |
| JPH0770535B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH06244174A (ja) | 絶縁酸化膜の形成方法 | |
| JPS61160939A (ja) | ドライエツチング後Ｓｉ表面損傷の乾式による除去方法 | |
| JP2000114172A5 (ja) | ||
| JPH08335576A (ja) | シリコン酸化膜の形成方法 | |
| JPH01147878A (ja) | 超電導素子の製造方法 | |
| JPS58103122A (ja) | 化合物半導体装置の製造方法 | |
| JPH023539B2 (ja) | ||
| JPS59110112A (ja) | 半導体基体の製造方法 | |
| JPH08970B2 (ja) | 多元素化合物薄膜の形成方法 | |
| JPS63291485A (ja) | 酸化物超電導回路の製造方法 | |
| JP3272908B2 (ja) | 半導体多層材料の製造方法 | |
| JPH03280471A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| Zvanut et al. | Production of E δ′ center induced by dry heat treatment of nonburied SiO2 films | |
| JP2558765B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS61218131A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS63160324A (ja) | 分子線エピタキシヤル結晶成長方法 |