JPH01184476A - Icハンドラの予熱・分類装置 - Google Patents
Icハンドラの予熱・分類装置Info
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- JPH01184476A JPH01184476A JP63007633A JP763388A JPH01184476A JP H01184476 A JPH01184476 A JP H01184476A JP 63007633 A JP63007633 A JP 63007633A JP 763388 A JP763388 A JP 763388A JP H01184476 A JPH01184476 A JP H01184476A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- preheating
- annular
- ics
- preheating device
- preheat
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 3
- ZZUFCTLCJUWOSV-UHFFFAOYSA-N furosemide Chemical compound C1=C(Cl)C(S(=O)(=O)N)=CC(C(O)=O)=C1NCC1=CC=CO1 ZZUFCTLCJUWOSV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005485 electric heating Methods 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はICハンドラ用の予熱・及び分類装置に関する
ものである。
ものである。
ICハンドラは、多数のICを順次に゛搬送してIC2
ll!定ソケツトに装着して電気的性能の検査に供し、
かつ、上記測定ソケットから離脱せしめたIC検査結果
に従って級別に分類して搬出する自動機器である。
ll!定ソケツトに装着して電気的性能の検査に供し、
かつ、上記測定ソケットから離脱せしめたIC検査結果
に従って級別に分類して搬出する自動機器である。
而して上記電気的性能の検査は所定の温度条件で行われ
るため、測定ソケットに装着する前にICを予熱しなけ
ればならない場合が多い。このような場合にはICの予
熱装置(プリヒータ)を設ける必要が有る。
るため、測定ソケットに装着する前にICを予熱しなけ
ればならない場合が多い。このような場合にはICの予
熱装置(プリヒータ)を設ける必要が有る。
また、前記ICハンドラの使用目的から明らかなように
、測定ソケットから離脱せしめたICを、その検査成績
に従って分類する手段が必要である。
、測定ソケットから離脱せしめたICを、その検査成績
に従って分類する手段が必要である。
更に、前述の予熱温度が高い場合は、上記の分類操作に
伴ってこれを放冷しなければならない。
伴ってこれを放冷しなければならない。
これは、高温の侭のICを合成樹脂製のパレット上に並
べると該パレットを変形させる虞れが有るからである。
べると該パレットを変形させる虞れが有るからである。
ICは一般に、ICチップを合成樹脂製パッケージの中
に埋設すると共に、該パッケージから多数のリードを突
出せしめた構造の製品しとて実用に供せられる。
に埋設すると共に、該パッケージから多数のリードを突
出せしめた構造の製品しとて実用に供せられる。
上記のパッケージ及びリードの形状に従ってICを大別
すると、第4図(A)に示すDIP形、同図(B )
i:、示すsop形、同図(c)に示すPLCC形、同
図(D)に示すEPP形、同図(E)に示すPGA形、
などの種類が有り、しがも、これら各形式内においても
各種の寸法のものが有るので、その外観形状の種別は膨
大な数にのぼる。
すると、第4図(A)に示すDIP形、同図(B )
i:、示すsop形、同図(c)に示すPLCC形、同
図(D)に示すEPP形、同図(E)に示すPGA形、
などの種類が有り、しがも、これら各形式内においても
各種の寸法のものが有るので、その外観形状の種別は膨
大な数にのぼる。
而して、前記の予熱用装置、及び分類用装置は、それぞ
れ特定の形式9寸法のICに対する専用機として構成さ
れている。このため、取扱い対象であるICの形式9寸
法が変わると、これに対応する段取り替えに多大の時間
と労力とを要する。
れ特定の形式9寸法のICに対する専用機として構成さ
れている。このため、取扱い対象であるICの形式9寸
法が変わると、これに対応する段取り替えに多大の時間
と労力とを要する。
本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので1、取扱い
対象であるICの形式1寸法の変更に際して迅速かつ容
易に適応することができ、しかも、構成が簡単で設置所
要面積の小さい、予熱・分類装置を提供することを目的
とする。
対象であるICの形式1寸法の変更に際して迅速かつ容
易に適応することができ、しかも、構成が簡単で設置所
要面積の小さい、予熱・分類装置を提供することを目的
とする。
上記の目的を達成すめために構成し8た本発明の予熱・
分類装置について、先ずその基本的な考え方を述べる。
分類装置について、先ずその基本的な考え方を述べる。
予熱装置も分類装置も、これを搬送装置と見ることが出
来る。
来る。
即ち、予熱装置(プリヒータ)とは、ICを搬送しなが
ら加熱する装置である。
ら加熱する装置である。
また、分類装置とは、ICを、その検査結果に基づいて
、区分して搬送する装置である。
、区分して搬送する装置である。
そこで、本発明の予熱・分類装置は、搬送手段として回
転テーブルを用いる。
転テーブルを用いる。
即ち、予熱装置は、加熱手段を備えた円板状(環状であ
っても良い)回転テーブルによって構成する。
っても良い)回転テーブルによって構成する。
分類装置は、上記予熱装置の円板の周囲に配設した環状
の回転テーブルによって構成する。
の回転テーブルによって構成する。
而して、回転駆動手段に対して、回転テーブルを着脱交
換可能な構造とする。
換可能な構造とする。
そして、上記双方の回転テーブルそれぞれの頂面に、I
Cを位置決め搭載する凹部(つまりICの指定座席)を
設ける。
Cを位置決め搭載する凹部(つまりICの指定座席)を
設ける。
前記の回転テーブルは、それぞれ複数個構成する。そし
て、ICの指定座席に譬えられる位置決め凹部は、これ
をICの型式と寸法に応じてこれに適合する形状寸法と
しておく。
て、ICの指定座席に譬えられる位置決め凹部は、これ
をICの型式と寸法に応じてこれに適合する形状寸法と
しておく。
即ち、例えばDIP形IC用テーブルとが、SOP形I
C用テーブルなどを、必要に応じて予め作成しておき、
取扱い対象であるICの型式寸法に応じて適宜に着脱交
換して使用する。
C用テーブルなどを、必要に応じて予め作成しておき、
取扱い対象であるICの型式寸法に応じて適宜に着脱交
換して使用する。
これにより、1基のICハンドラによって、迅速かつ容
易に、各種仕様のICを取り扱うことが出来るようにな
る。
易に、各種仕様のICを取り扱うことが出来るようにな
る。
回転テーブル形としたことは、着脱の容易を、保管の便
利さなどの効果を生じる。
利さなどの効果を生じる。
また、予熱テーブルと分類テーブルとを同心状に設けた
ことにより、設置所要面積が小さくて済む。
ことにより、設置所要面積が小さくて済む。
C実施例〕
第1図は本発明に係る予熱・分類装置の一実施例を示す
斜視図である。
斜視図である。
1は円板状のプリヒートテーブル、2は環状の分類テー
ブルである。これら双方のテーブルの回転駆動手段につ
いては、第2図について後述する。
ブルである。これら双方のテーブルの回転駆動手段につ
いては、第2図について後述する。
ワークであるICは、供給パレット3上に5列に並べて
供給される。5連の、真空吸着式供給ヘッド4は、5個
のI(1−=挙に吸着保持して矢印a方向に運び、プリ
ヒートテーブル1の上に、半径方向に整列させて搭載す
る。このプリヒートテーブルは矢印す方向に回転し、第
2図について後述するヒータによって加熱されている。
供給される。5連の、真空吸着式供給ヘッド4は、5個
のI(1−=挙に吸着保持して矢印a方向に運び、プリ
ヒートテーブル1の上に、半径方向に整列させて搭載す
る。このプリヒートテーブルは矢印す方向に回転し、第
2図について後述するヒータによって加熱されている。
搭載されたICは、矢印すの如く回転方向に搬送されな
がら予熱される。
がら予熱される。
1周近く回ったところで、ICは測定部ヘッド4′によ
って矢印c、c’の如く持ち上げ、運び出されて、矢印
dの如<ICソケット5に装着される。
って矢印c、c’の如く持ち上げ、運び出されて、矢印
dの如<ICソケット5に装着される。
上記ICソケット5でテストされたICは、矢印eの如
く位置合わせブロック6を経て、矢印fノ如く分類テー
ブル2の上に搭載され、矢印b′方向に運ばれる。
く位置合わせブロック6を経て、矢印fノ如く分類テー
ブル2の上に搭載され、矢印b′方向に運ばれる。
上記分類テーブル2の上には、3列の搭載位置が配列さ
れている。外ライン7a、中ライン7b、内ライン7c
である。本例においては、検査結果の良品を外ライン7
aに、不良品を内ライン7Cに搭載する。再検査を必要
とするものは中ライン7bに搭載する。
れている。外ライン7a、中ライン7b、内ライン7c
である。本例においては、検査結果の良品を外ライン7
aに、不良品を内ライン7Cに搭載する。再検査を必要
とするものは中ライン7bに搭載する。
図示のI C−H、I C−2y I C−3は検査結
果の良品で、外ライン7aに搭載されている。
果の良品で、外ライン7aに搭載されている。
IC−+oは検査不良品で、内ライン7Cに搭載されて
いる。
いる。
I C−20は再検査を必要とすると判定され、中ライ
ン7b上に搭載されている。
ン7b上に搭載されている。
分類テーブル2上のICは、矢印b′方向に移動しなが
ら約3/4周する間に放冷され、分類ヘッド8で取り卸
される。
ら約3/4周する間に放冷され、分類ヘッド8で取り卸
される。
このとき、良品は矢印g3のように良品受パレット9の
上に移され、再検査品は矢印g2のように再検品受パレ
ット10に移され、不良品は矢印glのように不良品受
箱11に投入される。
上に移され、再検査品は矢印g2のように再検品受パレ
ット10に移され、不良品は矢印glのように不良品受
箱11に投入される。
第2図は前記回転テーブル形のプリヒートテーブル1、
及び分類テーブル2の垂直断面図である。
及び分類テーブル2の垂直断面図である。
プリヒートテーブル1の上面には、IC位置決め用の凹
部1aが配列されている。この凹部はエ −Cの型式
2寸法に応じて形成され、第3図(A)〜(D)に各種
実施例を示す。
部1aが配列されている。この凹部はエ −Cの型式
2寸法に応じて形成され、第3図(A)〜(D)に各種
実施例を示す。
(A)はDIP形IC用、(B)はPGA形I形相C用
C)PLCC用及びSOJ用、(D)はEPP用及びS
O2用である。
C)PLCC用及びSOJ用、(D)はEPP用及びS
O2用である。
プリヒートテーブル1は、第2図に示す如く回転軸13
の上にピン13aを介して着脱自在に取り付けられてい
る。
の上にピン13aを介して着脱自在に取り付けられてい
る。
14はプリヒートテーブル1の直下に設けられた電熱板
、15はその周囲と底面とを覆っている断熱材である。
、15はその周囲と底面とを覆っている断熱材である。
前記の回転軸13には受歯車16が固着されていて、こ
れに噛合する元歯車17を介してモータ18によって駆
動される。
れに噛合する元歯車17を介してモータ18によって駆
動される。
上記の回転軸13は、回転スリーブ19により、上下摺
動自在に支承されている。
動自在に支承されている。
そして、該回転軸13には回転アーム20を介してカム
フォロワ21が取り付けられている。本例のカムフォロ
ワは、ころがり軸受によって構成されている。このカム
フォロワ21は1円筒カム22によって支承されている
。この構成により、プリヒートテーブル1が回転すると
き、カム作用によって約0.5ffI11上昇せしめら
れ、電熱板と摩擦せずに回転できる。
フォロワ21が取り付けられている。本例のカムフォロ
ワは、ころがり軸受によって構成されている。このカム
フォロワ21は1円筒カム22によって支承されている
。この構成により、プリヒートテーブル1が回転すると
き、カム作用によって約0.5ffI11上昇せしめら
れ、電熱板と摩擦せずに回転できる。
一方、前記の分類テーブル2は、回転リング23に対し
て、インロー21によって係合されている。
て、インロー21によって係合されている。
上記回転リング23は、ベアリング24によって上段の
ベース12aに対して回転自在に支承されている。更に
、上記の回転リング23には受歯車23aが形成されて
いて、これと噛合する元歯車25を介してモータ26に
より駆動されて回転する。
ベース12aに対して回転自在に支承されている。更に
、上記の回転リング23には受歯車23aが形成されて
いて、これと噛合する元歯車25を介してモータ26に
より駆動されて回転する。
本発明の予熱・分類装置によれば、取扱い対象であるI
Cの形式2寸法の変更に際して迅速かつ容易に適応する
ことができ、しかも、構成が簡単で設置所要面積の小さ
い、予熱・分類装置を構成することが出来る。
Cの形式2寸法の変更に際して迅速かつ容易に適応する
ことができ、しかも、構成が簡単で設置所要面積の小さ
い、予熱・分類装置を構成することが出来る。
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は同じ
く断面図である。 第3図はIC位置決め用凹部に関する各種の実施例の説
明図である。 第4図は各種形式のICの斜視図である。 1・・・プリヒートテーブル、2・・・分類テーブル、
3・・・供給バレン・ト、4・・・供給ヘッド、4′・
・・測定部ヘッド、5・・・IC測定ソケット、6・・
・位置合わせブロック、13・・・回転軸、21・・・
カムフォロワ、22・・・円筒カム。 特許出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
弁理士 秋 本 正 実 外1名栴 3 習 (A) CB) (C) (D) (FFF、 5OF) 雫≧千罷≧イ7
く断面図である。 第3図はIC位置決め用凹部に関する各種の実施例の説
明図である。 第4図は各種形式のICの斜視図である。 1・・・プリヒートテーブル、2・・・分類テーブル、
3・・・供給バレン・ト、4・・・供給ヘッド、4′・
・・測定部ヘッド、5・・・IC測定ソケット、6・・
・位置合わせブロック、13・・・回転軸、21・・・
カムフォロワ、22・・・円筒カム。 特許出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理人
弁理士 秋 本 正 実 外1名栴 3 習 (A) CB) (C) (D) (FFF、 5OF) 雫≧千罷≧イ7
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、(a)ICを配列、搭載して回転する、水平な頂面
を有する円板乃至環状のプリヒートテーブルと、 (b)上記プリヒートテーブルの外径よりも大きい内径
を有し、上記プリヒートテーブルと同心状に配列されて
回転する分類テーブルと、(c)前記プリヒートテーブ
ル及び分類テーブルのそれぞれの頂面に設けたIC位置
決め用の凹形の座とを有し、かつ、 (d)前記プリヒートテーブル及び分類テーブルのそれ
ぞれは、各テーブルの回転駆動手段に対して着脱交換し
得る構造であること、 を特徴とするICハンドラの予熱・分類装置。 2、前記のプリヒートテーブルは、その回転軸及びアー
ム部材を介してカムフォロアによってその重量を支承さ
れており、かつ、上記カムフォロアは円筒カムの頂面に
よって支承された構造であることを特徴とする、特許請
求の範囲第1項に記載したICハンドラの予熱・分類装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63007633A JPH01184476A (ja) | 1988-01-19 | 1988-01-19 | Icハンドラの予熱・分類装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63007633A JPH01184476A (ja) | 1988-01-19 | 1988-01-19 | Icハンドラの予熱・分類装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01184476A true JPH01184476A (ja) | 1989-07-24 |
Family
ID=11671233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63007633A Pending JPH01184476A (ja) | 1988-01-19 | 1988-01-19 | Icハンドラの予熱・分類装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01184476A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002243784A (ja) * | 2001-02-15 | 2002-08-28 | Tdk Corp | 電子部品の常温・高温電気的特性測定機 |
JP2010133716A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Ueno Seiki Kk | 高低温化装置及び高低温化装置を備えたテストハンドラ |
WO2010137072A1 (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-02 | 上野精機株式会社 | 分類装置 |
CN102039278A (zh) * | 2009-10-15 | 2011-05-04 | 旺矽科技股份有限公司 | 分送装置 |
JP2015021969A (ja) * | 2013-07-18 | 2015-02-02 | 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc. | テスト装置 |
-
1988
- 1988-01-19 JP JP63007633A patent/JPH01184476A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002243784A (ja) * | 2001-02-15 | 2002-08-28 | Tdk Corp | 電子部品の常温・高温電気的特性測定機 |
JP4513943B2 (ja) * | 2001-02-15 | 2010-07-28 | Tdk株式会社 | 電子部品の常温・高温電気的特性測定機 |
JP2010133716A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Ueno Seiki Kk | 高低温化装置及び高低温化装置を備えたテストハンドラ |
WO2010137072A1 (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-02 | 上野精機株式会社 | 分類装置 |
CN102039278A (zh) * | 2009-10-15 | 2011-05-04 | 旺矽科技股份有限公司 | 分送装置 |
JP2015021969A (ja) * | 2013-07-18 | 2015-02-02 | 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc. | テスト装置 |
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