JPH01181490A - 半導体レーザー装置 - Google Patents

半導体レーザー装置

Info

Publication number
JPH01181490A
JPH01181490A JP63002394A JP239488A JPH01181490A JP H01181490 A JPH01181490 A JP H01181490A JP 63002394 A JP63002394 A JP 63002394A JP 239488 A JP239488 A JP 239488A JP H01181490 A JPH01181490 A JP H01181490A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
wiring
wiring pattern
mount material
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63002394A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Kondo
浩史 近藤
Tetsuo Yoshizawa
吉沢 徹夫
Yasuteru Ichida
市田 安照
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP63002394A priority Critical patent/JPH01181490A/ja
Publication of JPH01181490A publication Critical patent/JPH01181490A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022Mountings; Housings
    • H01S5/0233Mounting configuration of laser chips
    • H01S5/02345Wire-bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management
    • H01S5/02469Passive cooling, e.g. where heat is removed by the housing as a whole or by a heat pipe without any active cooling element like a TEC

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は、半導体レーザー用マウント材の2面を接続す
る配線パターンをマウント材に設けることにより、微小
な半導体レーザーをユニット化し、実装自由度が大幅に
向上する半導体レーザー装置に関する。
(従来の技術) 従来の半導体レーザー装置では、第16図に示すように
、半導体レーザー2を熱伝導率の高いヒートシンク13
と呼ばれる放熱体の上にマウントしていた。また、より
高い放熱特性を得るために、レーザー発振部分であり、
かつ発熱部分である活性層6をより放熱体に近づけてマ
ウントする方法、一般にジャンクション・ダウン方式と
呼ばれる方法が現在では主に採用されている。ただし、
ジャンクション・ダウン方式では、半導体レーザー材料
であるm−v族系化合物の線膨張係数と高熱伝導率をも
つ金属製ピートシンク材の線膨張係数の差から、実装工
程中の加熱処理または動差時のヒートサイクルにより、
ミスマツチによる歪が半導体レーザーの心臓部である活
性層6及びその付近に生じ、半導体レーザーの特性を変
化または破壊してしまう恐わがある。・そのため、第1
7図に示すように、半導体レーザー材料と比較的線膨張
係数が等しく、かつ熱伝導率の高いSi、ダイヤモンド
等のサブマウント14上に半導体レーザー2をマウント
した後に、金属製のヒートシンク13にマウントするサ
ブマウント方式が採用されている。また、このサブマウ
ント方式に関しては、特開昭59−167038号に開
示されているサブマウント上に部分的メタライズパター
ンを有したものや、特開昭59−159583号に開示
されている主面上の一部分に電極取り出しのためのワイ
ヤーボンド用パッド部を設けたものや、実告昭54−3
860号に開示されているサブマウント上にAPC(A
ut。
Power (:ontrol)用の光検出素子を形成
したもの等数々の新しい手法が試みられている。半導体
レーザー装置の実装のためには、まず、上述のように、
サブマウントに半導体レーザーをダイポンディングした
後に、これを、第18図に示すように金属製ヒートシン
ク13を有したステム16にマウントし、その後に、半
導体レーザー2の上面とステムリードビン15とをAu
線5により接続する。その後に不活性ガスもしくは還元
ガス雰囲気中で、レーザー出射窓ガラスを有するキャッ
プにて気密封止を行ない、実装が終了量る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記従来例では、半導体レーザーの発光
部である活性層は、m−v族系化合物半導体中の混晶比
を変化させて、ペテロ接合を形成したジャンクションで
あり、また、活性層上には、光、電流を閉じ込めるため
のクラッド層やキャップ層が形成されているという積層
構造と、レーザー発振をさせるための電流の注入は、一
般にこの活性層と呼ばれるジャンクションに対し、垂直
方向から行わなければならない。この理由により、半導
体レーザーを、封止用パッケージにマウントする際には
、レーザー出射方向以外に、レーザー出射平面に対し、
垂直方向の空間に配線する治工具が作動可能なスペース
(半導体レーザーのマウントされた上部空間)を必ず必
要とする。そのため、半導体レーザーパッケージを小型
化、または使用目的による自由な形状に変更する際に、
上記の配線の時のみに必要なむだな空間部分を必ず考慮
しなければならず、大きな障害となる。
本発明は、配線用のむだなスペースが不要な、コンパク
トな半導体レーザー装置を提供することを主目的とする
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の半導体レーザー装置は、 半導体レーザーがマウント材に設けられている半導体レ
ーザー装置において、 前記マウント材に、半導体レーザーがマウントされる前
記マウント材の主面と前記マウント材の他の面とを接続
する電気的連続な単数または複数の配線パターンを有し
、かつ少なくとも1つの配線パターンは前記半導体レー
ザーがマウントされる領域を含むように設けられ、かつ
複数の配線パターンが存在する場合、互いに他の配線パ
ターンと電気的に絶縁されていることを特徴としている
(作用〕 半導体レーザーをマウントするための、任意の形状をし
た高熱伝導性、低線膨張係数を有するマウント材の一面
とこの一面以外の面に連続する配線パターンを1つ以上
設け、2つ以上の時は互いに他と絶縁された連続パター
ンとする。このマウント材に半導体レーザーをマウント
することにより、当該半導体レーザーは、レーザー光の
出射方向に関係なく配線方向が採れるようになる。この
ため、回路構成と実装構造に関し大変大きな自由度が得
られ、多機能化、小型化が可能となる。また、マウント
材のサイズを適当に選択すれば、従来、素子ダメージを
与えるため触れることのできなかフた半導体レーザーの
端面方向(レーザー出射方向)や、レーザーチップサイ
ド方向からも、マウント材の部分をピックアップするこ
とが可能になる。このため、マウントすることが不可能
だった微小空間内へも、素子ダメージなく、また、後の
配線の心配なく、自由な位置へ半導体レーザーをマウン
トすることができる。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図(a)は本発明の半導体レーザー装置の一実施例
を示す模式斜視図である。
高熱伝導率、低線膨張係数を有するマウント材1に導電
性金属の配線パターン3,4が設けられている。一方の
配線パターン3上には半導体レーザー2がマウントされ
、この半導体レーザー2の上面の電極面と配線パターン
4とを接続するAu線5が設けられている。配線パター
ン3.4は半導体レーザー2が載設されている主面とそ
の他の面(主面の隣接面)を接続するようにマウント材
1に設けられ、両氏線パターン3,4は電気的に絶縁さ
れているように形成されている。なお、第1図(b)に
示すように、マウント材1の側面の配線パターン3.4
上にそれぞれボンディング用パッド3a、4aや、第1
図(C)に示すように、配線パターン3.4上にそれぞ
れマウント材1と他の配線パターンと接続するためのは
んだ、Auバンブ等の接合部材3 b、4 bを形成し
ておけば、次工程にかかる負荷は大幅に軽減される。半
導体レーザー2は、上記のようにマウント材1に設けら
れた配線パターン3上の所定の位置にダイボンディング
して接続する。Au線5によるボンディングは、その後
になす。この時点で半導体レーザー2への直接の取り扱
いは終了する。(以下、上記半導体レーザー2とマウン
ト材1が一体化されたものをレーザーユニットと呼ぶ。
)  Au線5は、本発明の目的であった小型化、実装
自由度を増加させるという観点において、高さ方向に占
める割合、また強度という点から、非常にむだが多い。
このAu線5の役割は、単に電流を流すだけであるから
、第5図に示すように、Au線5の代りにリード材7に
よる配線を行なえば、さらに省スペース化が図れる。こ
のリード材7は導電性フィルムであってもよい。上記の
ようなレーザーユニットでは、完成された状態で配線パ
ターン3,4にプロービングし、特性チエツクを行い、
不良品を取り除けばよい。この際、レーザーユニットの
大きさは半導体レーザー2のサイズ約0.3mm角より
もはるかに大きく、半導体レーザー以外の部分が充分に
あるため、ハンドリング系の全自動化は容易に可能であ
る。本実施例では、マウント材1が6面体の場合につい
て説明したが、マウント材1の形状は、マウント材使用
方法により自由に選択が可能であることは明らかである
。また、本実施例では半導体レーザー2の後方側面に配
線パターンが設けられた例を示したが、マウント材1を
取付けるユニット側の要求があれば、第2図、第3図、
第4図に示すようにマウント材1の他の各側面であって
ももちろん良い。また、それぞれの配線パターンが絶縁
された状態でマウント材の全側面に設けられた半導体レ
ーザー装置とし、レーザーを取り扱に際して必要な側面
からのみ配線を行うことも可能である。
次に、第6図は本発明の第4の実施例の斜視図、第7図
〜第9図はその応用例を示す斜視図である。
第6図において、高熱伝導率、低線膨張係数を有するマ
ウント材1に導電性金属製の配線パターン3.4を設け
、さらに一方の配線パターン3上に半導体レーザー2を
マウントする。この時半導体レーザー2をマウントする
位置はその隣接部に、さらに1個の半導体レーザーがマ
ウントされるスペースを空けてマウントする。また、そ
の空きスペース上には隣接する両面に渡る配線パターン
4を描いておく。このようなレーザー二三ットを2個装
作し、第7図に示すよう、上下方向から半導体レーザー
2をはさみ込むように、一方のレーザーユニットにおけ
る半導体レーザー2の基板側の電極面と他方のレーザー
ユニットの配線パターンとはジャンクション側と異なる
ロー材もしくは導電性接着材にて固着する。第8図は完
成図である。従来のアレイレーザーでは、半導体レーザ
ーチップの特性チエツクを個別に行えなかったが、本実
施例では、不良品を含んでいたものが取り除けることに
なり、歩留りの大幅な向上、また、同一工程で大量にレ
ーザーユニットを製作でき、アレイ化は単に2つのレー
ザーユニットを組み合せるだけである。2つの半導体レ
ーザーとしてそれぞれ波長の異なるレーザーを発振可能
なものを用いれば、2波長発振が可能レーザーアレイが
極めて簡単に製作できるようになる。また、発光部から
チップ端までの距離をし、発光部から基板面までの距離
をtとすると、ビーム間ピッチはiとなり、ビーム間ピ
ッチを約100−程度まで縮めることも可能である。さ
らには、このアレイレーザーユニットを多数個、並べる
ことにより、レーザーアレイが高歩留りに製作可能であ
り、また配線パターンがすべて同一面上に並んでいるた
め、レーザーユニットからの配線はTABリードによる
一括処理が行なえ、生産性が向上する。第9図はアレイ
レーザーユニットを3つ、支持体8に固着させ、これら
配線パターンをリード9により配線部材(不図示)と接
続したところを示すものである。なお、第6図〜第9図
において、配線パターン3.4は半導体レーザー2のレ
ーザー・ビームの方向と同方向に設けられているが、第
2図(a)〜第2図(C)に示したようにどの方向に設
けても良い。
次に、本発明の第5の実施例を第10図(a)〜第10
図(C)を参照して説明し、その応用例を第11図〜第
15図を参照して説明する。第10図(a)では、マウ
ント材1上に配線パターン3が設けられ、その上に半導
体レーザー2がマウントされ、さらに、半導体レーザー
2が存在しないマウント材1の上面には、絶縁体10が
設けられている。なお、絶縁体lOは第10図(a)に
示すようにマウント材1の主面と同サイズである必要は
なく、第1O図(b)に示すように周辺部分がマウント
材1よりひとまわり小さくてもよい。また、第10図(
C)に示すように、半導体レーザーメー面出射光をモニ
ターし制御するA P C(Auto Power (
:ontrol)駆動を行うためのレーザー光路部分の
絶縁体を取り除いたものでもよい。なお、第10図(a
)〜第1O図(C)の構造体の形成のために、まず、第
11図に示すように、マウント材1上に配線パターン3
を主面と他の面との間に連続に設ける。次に、半導体レ
ーザー2がマウントされる場所を避け、(チップ厚さ十
接合ロー材厚)に等しい厚さの絶縁体10を形成する。
この絶縁体10はポリイミドのような樹脂でも、セラミ
ックでも良い。このようにマウント材1と絶縁体10が
形成されたところに半導体レーザー2をマウントする。
このとき絶縁体10に形成された半導体レーザー用の切
りかきがガイドとなり、半導体レーザー2は極めて正確
な位置にマウントされる。次に、この上に第12図に示
すように、2面以上に連続な配線パターンを持つマウン
ト材を貼りつける。このように形成された半導体レーザ
ーユニットは、形状が等友釣となり、ハンドリングはさ
らに容易となり、ユニットとしての機能は高くなる。ま
た、従来、半導体レーザーの冷却は、マウントされてい
る面からしか行われなかったが、上述の応用例では、第
13図、第14図に示すように、両方向に放熱フィン1
1またはベルチェ素子12を取り付けること、及びその
際の配線も容易に行なうことが可能であり、ハイパワー
化、マルチ化、発熱量増大化の傾向にある半導体レーザ
ーにおいて、大変有効な手法となる。また、第15図に
示すように、本実施例と上述の第7図の例を併用すれば
、絶縁体lOは補強部材としての役割も兼ねアレイレー
ザーユニットとしての強度は飛躍的に高くなる。
(発明の効果〕 以上説明したように、本発明では半導体レーザー用マウ
ント材のマウントされる面とそれ以外の面に連続した配
線パターンを形成することによリ、配線をとるためのス
ペースが不用となり、また、ハンドリングが改善され、
素子ダメージによる不良も減少する。そのため、実装の
構造設計の自由度は大幅に向上し、半導体レーザーが任
意の場所にマウントされた半導体レーザー装置の提供が
可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の半導体レーザー装置の一実施例
を示す模式斜視図、第1図(b) 、 (C)はそれぞ
れ本発明の第2、第3の実施例の模式斜視図、第2図〜
第5図は第1図(a)の実施例の応用例を示す模式斜視
図、第6図は本発明の第4の実施例を示す模式斜視図、
第7図〜第9図は第6図の応用例を示す模式斜視図、第
10図(a)〜第1O図(C)は本発明の第5の実施例
を示す模式斜視図、第11〜第14図は第1θ図の応用
例を示す模式斜視図、第15図は第7図の応用例の模式
斜視図、第16図、第17図は従来例の模式正面図、第
18図(a) 、 (b)はそわぞれ、従来の半導体レ
ーザーユニットの正面図、側面図である。 1・・・マウント材、   2・・・半導体レーザー、
3.4・・・配線パターン、 3a、4a・・・ボンディング用パッド。 3b、4b−・・接合部材、5−Au線、6・・・活性
層、     7・・・リード材、8・・・支持体、 
    9・・・リード、10−・・絶縁体、    
11・−放熱フィン、12・・・ベルチェ素子、 13
・・・ヒートシンク、14−・・サブマウント、 15−・・ステムリードピン、 16・・・ステム。 特許出願人  キャノン株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)半導体レーザーがマウント材に設けられている半導
    体レーザー装置において、 前記マウント材に、半導体レーザーがマウントされる前
    記マウント材の主面と前記マウント材の他の面とを接続
    する電気的連続な単数または複数の配線パターンが設け
    られ、かつ少なくとも1つの配線パターンは前記半導体
    レーザーがマウントされる領域を含むように設けられ、
    かつ複数の配線パターンが存在する場合、互いに他の配
    線パターンと電気的に絶縁されていることを特徴とする
    半導体レーザー装置。 2)前記マウント材の他の面の配線パターン上に、他の
    配線体と固着させるための接合部材が設けられている請
    求項1記載の半導体レーザー装置。 3)前記マウント材の他の面の配線パターン上に、ボン
    ディング用のパッドが設けられている請求項1記載の半
    導体レーザー装置。 4)前記マウント材の主面に設けられた前記配線パター
    ン上で、前記半導体レーザーがマウントされる位置以外
    の部分に前記半導体レーザーの厚さと前記半導体レーザ
    ーを前記配線パターンに接合する層の厚みとを加算した
    のと同じ厚さの電気的絶縁体が設けられている請求項1
    記載の半導体レーザー装置。
JP63002394A 1988-01-11 1988-01-11 半導体レーザー装置 Pending JPH01181490A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63002394A JPH01181490A (ja) 1988-01-11 1988-01-11 半導体レーザー装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63002394A JPH01181490A (ja) 1988-01-11 1988-01-11 半導体レーザー装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01181490A true JPH01181490A (ja) 1989-07-19

Family

ID=11528022

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63002394A Pending JPH01181490A (ja) 1988-01-11 1988-01-11 半導体レーザー装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01181490A (ja)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0361364U (ja) * 1989-10-19 1991-06-17
JP2002232060A (ja) * 2001-02-01 2002-08-16 Mitsubishi Electric Corp 給電ライン付き基板およびこれを用いた光半導体装置、光半導体素子への給電方法
JP2002314182A (ja) * 2001-04-13 2002-10-25 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
JP2002329918A (ja) * 2001-05-02 2002-11-15 Sony Corp 光学装置
EP1267459A1 (en) * 2001-06-15 2002-12-18 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Heatsinks for laser electronic packages
JP2003031884A (ja) * 2001-07-18 2003-01-31 Fujitsu Quantum Devices Ltd 半導体モジュールの温度制御装置及び温度制御方法
JP2003037325A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Hamamatsu Photonics Kk 発光モジュール及び発光モジュールの組み立て方法
JP2004079168A (ja) * 1995-04-13 2004-03-11 Denso Corp 光学的記録再生装置用光学ヘッド
JP2007201223A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Toshiba Corp 多波長半導体レーザ装置
WO2008047933A1 (en) * 2006-10-17 2008-04-24 C.I.Kasei Company, Limited Package assembly for upper/lower electrode light-emitting diodes and light-emitting device manufacturing method using same
JP2010199274A (ja) * 2009-02-25 2010-09-09 Nichia Corp 半導体レーザ装置
WO2013128794A1 (ja) * 2012-03-02 2013-09-06 パナソニック株式会社 半導体発光装置
WO2017098689A1 (ja) * 2015-12-09 2017-06-15 パナソニック株式会社 半導体発光装置
EP3200251A1 (en) * 2016-01-26 2017-08-02 NGK Insulators, Ltd. Heat discharge structures for light source devices and light source systems
JP2018085422A (ja) * 2016-11-22 2018-05-31 住友電気工業株式会社 光モジュール
JP2021068794A (ja) * 2019-10-23 2021-04-30 日亜化学工業株式会社 光源装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49128745A (ja) * 1973-04-11 1974-12-10
JPS62261189A (ja) * 1986-05-08 1987-11-13 Nec Corp 半導体レ−ザダイオ−ド用ヒ−トシンク

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49128745A (ja) * 1973-04-11 1974-12-10
JPS62261189A (ja) * 1986-05-08 1987-11-13 Nec Corp 半導体レ−ザダイオ−ド用ヒ−トシンク

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0361364U (ja) * 1989-10-19 1991-06-17
JP2004079168A (ja) * 1995-04-13 2004-03-11 Denso Corp 光学的記録再生装置用光学ヘッド
JP4731696B2 (ja) * 2001-02-01 2011-07-27 三菱電機株式会社 光半導体装置、光半導体素子への給電方法
JP2002232060A (ja) * 2001-02-01 2002-08-16 Mitsubishi Electric Corp 給電ライン付き基板およびこれを用いた光半導体装置、光半導体素子への給電方法
JP2002314182A (ja) * 2001-04-13 2002-10-25 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
JP2002329918A (ja) * 2001-05-02 2002-11-15 Sony Corp 光学装置
EP1267459A1 (en) * 2001-06-15 2002-12-18 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Heatsinks for laser electronic packages
JP2003031884A (ja) * 2001-07-18 2003-01-31 Fujitsu Quantum Devices Ltd 半導体モジュールの温度制御装置及び温度制御方法
JP2003037325A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Hamamatsu Photonics Kk 発光モジュール及び発光モジュールの組み立て方法
JP2007201223A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Toshiba Corp 多波長半導体レーザ装置
US8088635B2 (en) 2006-10-17 2012-01-03 C.I. Kasei Company, Limited Vertical geometry light emitting diode package aggregate and production method of light emitting device using the same
WO2008047933A1 (en) * 2006-10-17 2008-04-24 C.I.Kasei Company, Limited Package assembly for upper/lower electrode light-emitting diodes and light-emitting device manufacturing method using same
JP2010199274A (ja) * 2009-02-25 2010-09-09 Nichia Corp 半導体レーザ装置
WO2013128794A1 (ja) * 2012-03-02 2013-09-06 パナソニック株式会社 半導体発光装置
US9203213B2 (en) 2012-03-02 2015-12-01 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Semiconductor light-emitting device
JPWO2017098689A1 (ja) * 2015-12-09 2018-10-04 パナソニック株式会社 半導体発光装置
US20180269650A1 (en) * 2015-12-09 2018-09-20 Panasonic Corporation Semiconductor light emitting device
WO2017098689A1 (ja) * 2015-12-09 2017-06-15 パナソニック株式会社 半導体発光装置
US10581218B2 (en) 2015-12-09 2020-03-03 Panasonic Corporation Semiconductor light emitting device
US11018472B2 (en) 2015-12-09 2021-05-25 Panasonic Corporation Semiconductor light emitting device
EP3200251A1 (en) * 2016-01-26 2017-08-02 NGK Insulators, Ltd. Heat discharge structures for light source devices and light source systems
JP2017135178A (ja) * 2016-01-26 2017-08-03 日本碍子株式会社 光源素子放熱構造体および光源装置
US10598369B2 (en) 2016-01-26 2020-03-24 Ngk Insulators, Ltd. Heat discharge structures for light source devices and light source systems
JP2018085422A (ja) * 2016-11-22 2018-05-31 住友電気工業株式会社 光モジュール
JP2021068794A (ja) * 2019-10-23 2021-04-30 日亜化学工業株式会社 光源装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5297006A (en) Three-dimensional multi-chip module
JPH01181490A (ja) 半導体レーザー装置
US6211053B1 (en) Laser wire bonding for wire embedded dielectrics to integrated circuits
CA2708392C (en) Laser light source module
KR100754407B1 (ko) 서브마운트 및 이를 구비하는 멀티 빔 레이저 다이오드모듈
US5668822A (en) Integrated semiconductor laser device
JPH0613717A (ja) レーザダイオードバー用の担体及び実装アセンブリ
KR20010070166A (ko) 반도체 다이와 반도체 디바이스 어셈블리 및 반도체다이의 접점 패드를 패키지 기판의 리드 패드에 접속하는방법과 접점 패드에 코일 스프링을 형성하는 방법
JP2002232061A (ja) 半導体レーザ装置の製造方法および半導体レーザ装置
JP6754769B2 (ja) 半導体モジュールおよびその製造方法
US10847702B2 (en) Semiconductor module
JP2012243960A (ja) 半導体レーザ装置
US5324387A (en) Method of fabricating asymmetric closely-spaced multiple diode lasers
JPH04275482A (ja) 半導体装置用マウント
JP2977338B2 (ja) 半導体モジュール
WO2021059752A1 (ja) レーザ発光素子およびレーザ発光装置
WO2023157522A1 (ja) 半導体装置
WO2023162501A1 (ja) 半導体装置
JPS58201388A (ja) 半導体装置
JPS60110185A (ja) 光集積回路パッケ−ジ
JP2006128254A (ja) 光素子の実装構造体及び実装方法
JP3127948B2 (ja) 半導体パッケージ及びその実装方法
JP2023144878A (ja) 光源装置および光源装置の製造方法
JP3474408B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH06125143A (ja) 半導体レーザ素子