JPH01167636A - 鋼材の偏析検出方法 - Google Patents
鋼材の偏析検出方法Info
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- JPH01167636A JPH01167636A JP62326248A JP32624887A JPH01167636A JP H01167636 A JPH01167636 A JP H01167636A JP 62326248 A JP62326248 A JP 62326248A JP 32624887 A JP32624887 A JP 32624887A JP H01167636 A JPH01167636 A JP H01167636A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
従来の偏析エッチプリント法に画像解析処理装置を併用
し、鋼材の偏析を有利に且つ有効に検出する方法に関す
る。ものである。
し、鋼材の偏析を有利に且つ有効に検出する方法に関す
る。ものである。
（従来の技術）
連鋳材の中心偏析挙動の評価としては、従来サルファー
プリント（以下Ｓ−プリントと称す）によりおこなわれ
ていたが、その機構上、低Ｓ鋼やＣａ、ＴＩ ’ａ加鋼
等では、中心偏析を検出できず、また、その評価も粗く
定量性に乏しいため、新たな評価法が必要となってきた
。この新しい評価法にはＳ−プリント並の簡便さと迅速
性が望まれ、かつ広い面積を優れた分解能で定量的に評
価できるものでなければならない。
プリント（以下Ｓ−プリントと称す）によりおこなわれ
ていたが、その機構上、低Ｓ鋼やＣａ、ＴＩ ’ａ加鋼
等では、中心偏析を検出できず、また、その評価も粗く
定量性に乏しいため、新たな評価法が必要となってきた
。この新しい評価法にはＳ−プリント並の簡便さと迅速
性が望まれ、かつ広い面積を優れた分解能で定量的に評
価できるものでなければならない。
これらの問題点を解決する手段として、特願昭５６−１
００４３１号公報の方法がある。これは、以下に示す方
法である。
００４３１号公報の方法がある。これは、以下に示す方
法である。
偏析エッチプリント法概要
ピクリン酸系腐食液でエツチング
↓
水洗乾燥
↓ ゛
ワセリン塗布ふきとり
↓
エメリペーパー１０００番で研磨
↓
プリント転写
しかしながらこの様な従来方法は鋼材の断面組織を転写
したものを単に観察し第５図に示す様な標準見本を見て
評点２．０〜０．５までの４段階で評価していた。とこ
ろが意味のない組織にまどわされる。又同一人間でも異
った人間でも人間の感覚に左右されるので偏析の評点を
正しく評価するのが困難である。即ち各評点の境界線に
ある偏析レベルを評価するときに二者択一のときは例え
ば２．０なのが１．５に見誤ったり又１．５なのが２．
０と評価したりするのが現状である。
したものを単に観察し第５図に示す様な標準見本を見て
評点２．０〜０．５までの４段階で評価していた。とこ
ろが意味のない組織にまどわされる。又同一人間でも異
った人間でも人間の感覚に左右されるので偏析の評点を
正しく評価するのが困難である。即ち各評点の境界線に
ある偏析レベルを評価するときに二者択一のときは例え
ば２．０なのが１．５に見誤ったり又１．５なのが２．
０と評価したりするのが現状である。
一般的に個々の偏析粒の大小の分布状況と、その鋳片を
圧延し、製品となった時の品質レベルとは、密接な関係
がある。特に、第６図に示す様に、平均偏析粒径は、線
材の２次伸線工程における断線回数と密接な関係があり
、また、鋼中の炭素濃度が高くなるにつれその平均偏析
粒径はより低い値を要求される。この指評は、目視によ
り求める事は、事実上不可能である。
圧延し、製品となった時の品質レベルとは、密接な関係
がある。特に、第６図に示す様に、平均偏析粒径は、線
材の２次伸線工程における断線回数と密接な関係があり
、また、鋼中の炭素濃度が高くなるにつれその平均偏析
粒径はより低い値を要求される。この指評は、目視によ
り求める事は、事実上不可能である。
この結果誤って不良品を良品と評価し線材まで圧延した
ときのコスト高、又良品を不良品と誤って圧延を中止し
スクラップ化するなどして非常にコスト高となっていた
。
ときのコスト高、又良品を不良品と誤って圧延を中止し
スクラップ化するなどして非常にコスト高となっていた
。
特に高炭素鋼線材においてハイテンワイヤー材は、偏析
起因によるカッピー断線が２次伸線工程にて重大な問題
となる。従って需要家へ偏析不良品が送り出さない事が
重要な課題であるしかし、従来までは、線材に圧延した
後に、コイルよりサンプリングした線材の偏析レベルを
評価する事により成品の合否判定を行なっていた。しか
し、この様な高級線材は鋳片〜線材までの圧延工程にお
いて、一般の鋼種に比較して、格段に手数が必要であり
、よりコストがかかっている鋼種であるので、前に述べ
た通り偏析不良品を、線材まで圧延した場合の損失は極
めて大きく、中間段階にてよりクレードの低い成品や、
圧延を中止しスクラップ化するなどの振り分けが必要で
あり、その合否判定を行なう場合可能な限り精度良く、
行なわれる必要がある。
起因によるカッピー断線が２次伸線工程にて重大な問題
となる。従って需要家へ偏析不良品が送り出さない事が
重要な課題であるしかし、従来までは、線材に圧延した
後に、コイルよりサンプリングした線材の偏析レベルを
評価する事により成品の合否判定を行なっていた。しか
し、この様な高級線材は鋳片〜線材までの圧延工程にお
いて、一般の鋼種に比較して、格段に手数が必要であり
、よりコストがかかっている鋼種であるので、前に述べ
た通り偏析不良品を、線材まで圧延した場合の損失は極
めて大きく、中間段階にてよりクレードの低い成品や、
圧延を中止しスクラップ化するなどの振り分けが必要で
あり、その合否判定を行なう場合可能な限り精度良く、
行なわれる必要がある。
例えば従来の目視評価により、検査鋳片１０００本中に
、１００本の偏析不良品が存在する場合、目視において
は、誤評価により５０本が良品として次工程にまわされ
、最終成品のチエツク段階で不良品としてはねだされて
いなのが現状であった。
、１００本の偏析不良品が存在する場合、目視において
は、誤評価により５０本が良品として次工程にまわされ
、最終成品のチエツク段階で不良品としてはねだされて
いなのが現状であった。
（本発明が解決しようとする問題点）
そこで本発明は前述に示すような人間だけが単に評価し
たときの問題点を解決す、るために人間が目視によって
判定したことを画像処理装置、コンピューター等により
偏析を更に精度良く評価する偏析検出方法を提供しよう
とするものである。
たときの問題点を解決す、るために人間が目視によって
判定したことを画像処理装置、コンピューター等により
偏析を更に精度良く評価する偏析検出方法を提供しよう
とするものである。
（問題点を解決するための手段）
前記の問題点を解決する手段は偏析エッチプリント法に
より鋼材の断面組織を転写したものを画像処理しビデオ
をみながら画像を最適輝度に調整し有害偏析粒のみを選
択しその信号を２値化により鮮明化しその後以下−に示
す式により面積率及び／又は平均偏析粒径を演算し求め
この値とあらかじめ鋼種ごと、に設定しておいた面積率
及び／又は粒径と、比較し偏析を一推寞する事を特徴と
する鋼材の偏析検出方法。
より鋼材の断面組織を転写したものを画像処理しビデオ
をみながら画像を最適輝度に調整し有害偏析粒のみを選
択しその信号を２値化により鮮明化しその後以下−に示
す式により面積率及び／又は平均偏析粒径を演算し求め
この値とあらかじめ鋼種ごと、に設定しておいた面積率
及び／又は粒径と、比較し偏析を一推寞する事を特徴と
する鋼材の偏析検出方法。
偏析面積率（％）
平均偏析粒径（ｍｍ）
等価の直径＝偏析粒と等しい面積の直径である。
従来の偏析評点と偏析面積率の関係を調査すると、第７
図に示す様に極めて良い相関がある事が判明した。そこ
でこの面積を求める事によって偏析レベルを評価する事
が可能となった。
図に示す様に極めて良い相関がある事が判明した。そこ
でこの面積を求める事によって偏析レベルを評価する事
が可能となった。
又第６図に示すように偏析粒径と断線回数に密接な関係
がある事も判った。そこで、本発明者等は偏析の面積と
粒径に着目し偏析レベルを正しく評価し後工程でのコス
トアップを大巾に改善する手段を見い出したものである
。
がある事も判った。そこで、本発明者等は偏析の面積と
粒径に着目し偏析レベルを正しく評価し後工程でのコス
トアップを大巾に改善する手段を見い出したものである
。
次に実施態様例を示す図面にもとすいて本発明の詳細な
説明する。
説明する。
第１図は本発明にもちいた画像解析装置の概要を示し、
第２図に偏析評価手順を示す。
第２図に偏析評価手順を示す。
以下これらを用いて説明する。まず本発明にもちいる装
置を第１図、第２図により説明する。撮影レンズ１とテ
レビカメラ２を相対し置き、更にその信号を受ける画像
処理装置３を設ける。この画像処理装置の機能は、エッ
チプリントを記録すること（５ｔａｐｌ）、モニターを
見ながら有害偏析粒のみを選択する機構、（Ｓｔｅｐ’
２５ 。
置を第１図、第２図により説明する。撮影レンズ１とテ
レビカメラ２を相対し置き、更にその信号を受ける画像
処理装置３を設ける。この画像処理装置の機能は、エッ
チプリントを記録すること（５ｔａｐｌ）、モニターを
見ながら有害偏析粒のみを選択する機構、（Ｓｔｅｐ’
２５ 。
更にそれらを２値化する機構を設ける（Ｓｔｅｐ３）
。
。
を有し、上記の画像処理装置３と上記で説明した目的で
使用するビデオモニター４を電気的に接続する。更に上
記の画像処理装置４と計算用コンピューター５も電気的
に接続する。その化ディスクドライブ６、アウトプット
するプリンター７等を用いる。
使用するビデオモニター４を電気的に接続する。更に上
記の画像処理装置４と計算用コンピューター５も電気的
に接続する。その化ディスクドライブ６、アウトプット
するプリンター７等を用いる。
（作 用）
従来の偏析エッチプリント法により鋼材の断面組織を転
写したものを第１図の３に示す画像処理装置で処理する
。これをビデオを見ながら画面の輝度を調整する。この
調整は常に有害偏析粒のみクローズアップする程度の輝
度に人間がビデオを見ながら調整する。このクローズア
ップしたものを該偏析とみなす。即ち該偏析を選択する
。その偏析を鮮明にするために電気的に２値化する。
写したものを第１図の３に示す画像処理装置で処理する
。これをビデオを見ながら画面の輝度を調整する。この
調整は常に有害偏析粒のみクローズアップする程度の輝
度に人間がビデオを見ながら調整する。このクローズア
ップしたものを該偏析とみなす。即ち該偏析を選択する
。その偏析を鮮明にするために電気的に２値化する。
その後前述に示す式によりコンピューターで偏析面積率
、平均偏析粒径をそれぞれ演算する。この演算値とあら
かじめ鋼種ごとに表−１に示すテーブルにもとすいて設
定し入力していた信号とを比較し合否を判定する。
、平均偏析粒径をそれぞれ演算する。この演算値とあら
かじめ鋼種ごとに表−１に示すテーブルにもとすいて設
定し入力していた信号とを比較し合否を判定する。
表１ 合否判断基準
評価結果は自動的にプリンターへ出力される。上記の偏
析面積率又は平均粒径、更にはその組合せの使い方は鋼
種によってそれぞれ使い分けてる。
析面積率又は平均粒径、更にはその組合せの使い方は鋼
種によってそれぞれ使い分けてる。
（実施例）
以下の前提にもとすいて実施した。
前提条件
調査対象物
鋼種；０．８％Ｃ高炭素鋼
成分及び鋳造速度
主要装置仕様
コンピューター、 ＰＣ−９８０１
ビデオ； ＮＥＣＲＧＢ ＭＥＤＩＡ
画像処理装置ｉ ＰＩＡＳ−１１
照明； ３００Ｗ
設定条件
有害偏析設定時の輝度 １２０
（全輝度の約半分）
実施結果
第３図に示す様に誤評価の発生率が０となった。即ち前
述に示す誤評価の５０本が正しい評価が出来た。従って
次工程での処理費用が第４図に示す様に大巾に削減でき
た。
述に示す誤評価の５０本が正しい評価が出来た。従って
次工程での処理費用が第４図に示す様に大巾に削減でき
た。
（発明の効果）
以上の様な画像処理装置を利用した偏析評価法を適用す
る事により、たとえば連鋳鋳片の偏析を評価し、中間段
階においての不良品のはねだしに利用した場合、その判
定精度が向上し誤評価の発生を略完全におさえる事がで
きる。
る事により、たとえば連鋳鋳片の偏析を評価し、中間段
階においての不良品のはねだしに利用した場合、その判
定精度が向上し誤評価の発生を略完全におさえる事がで
きる。
又本発明により熟練した鋼材の偏析を評価する要員も不
要となり実用上顕著な効果がある偏析評価方法である。
要となり実用上顕著な効果がある偏析評価方法である。
、さらに、従来、不良品の圧延によりむだなコストがか
かっていたが、画像処理という簡便なシステムを導入す
るだけで、総コストの略５％の削減が可能となる等価れ
た効果が得られる。
かっていたが、画像処理という簡便なシステムを導入す
るだけで、総コストの略５％の削減が可能となる等価れ
た効果が得られる。
第１図は本発明実施態様例における画像解析装置を示す
図、第２図は同様、本発明実施態様例における偏析評価
手順を示す図、第３図は本発明の実施例における誤評価
発生状況を示す図、第４図は同本発明の実施例における
コスト削減の効果を示す図、第５図はエッチプリント評
点見本図、第６図は最大平均偏析粒径と断線回数の関係
を示す図、第７図はＥＰ評点と偏析面積率の関係を示す
図である。 １・・・撮影レンズ、 ２・・・テレビカメラ、３・
・・画像処理装置、 ４・・−ＲＣＢビデオモニター、 ５・・・計算用コンピューター、 ６・・・ディスクドライブ、 ７・・・プリンター。 第１図 １：撮影レンズ ２：テレビカメラ ３：画像処理装置 ４： ＲＣＢビデオモニター ５：計算用コンピュータ ６：ディスクドライブ ７：プリンター 第２図 従来法 本発明性 従来法 本発明法 第７図 鋳片ＥＰ評点 図面の浄書 順 ＥＰ評点２０ ＥＰ評点１．０ ＥＰ評点１．３ ＥＰ評点Ｏ５ 手続補正書彷幻 昭和乙ａ年ξ月Ｉ蓼日 昭和６χ年特許願第うス１ｚｌｉ９号 事件との関係 出 願 人 ４″ ＦＴｒ （Ｆｉｉｆｒ）東京都千代田区大手町２
丁目６番３号！１ｆ１． ＠ （８ｍ） （６６５）新
日本製鐵株式會社４、代理 人 住 所 東京都千代田区丸の内２丁目６番２号丸の内
へ重洲ビル３３０５、補正命令の日付 昭和１３年３ 月よ２日 ８、補正の内容 別紙のとおり
図、第２図は同様、本発明実施態様例における偏析評価
手順を示す図、第３図は本発明の実施例における誤評価
発生状況を示す図、第４図は同本発明の実施例における
コスト削減の効果を示す図、第５図はエッチプリント評
点見本図、第６図は最大平均偏析粒径と断線回数の関係
を示す図、第７図はＥＰ評点と偏析面積率の関係を示す
図である。 １・・・撮影レンズ、 ２・・・テレビカメラ、３・
・・画像処理装置、 ４・・−ＲＣＢビデオモニター、 ５・・・計算用コンピューター、 ６・・・ディスクドライブ、 ７・・・プリンター。 第１図 １：撮影レンズ ２：テレビカメラ ３：画像処理装置 ４： ＲＣＢビデオモニター ５：計算用コンピュータ ６：ディスクドライブ ７：プリンター 第２図 従来法 本発明性 従来法 本発明法 第７図 鋳片ＥＰ評点 図面の浄書 順 ＥＰ評点２０ ＥＰ評点１．０ ＥＰ評点１．３ ＥＰ評点Ｏ５ 手続補正書彷幻 昭和乙ａ年ξ月Ｉ蓼日 昭和６χ年特許願第うス１ｚｌｉ９号 事件との関係 出 願 人 ４″ ＦＴｒ （Ｆｉｉｆｒ）東京都千代田区大手町２
丁目６番３号！１ｆ１． ＠ （８ｍ） （６６５）新
日本製鐵株式會社４、代理 人 住 所 東京都千代田区丸の内２丁目６番２号丸の内
へ重洲ビル３３０５、補正命令の日付 昭和１３年３ 月よ２日 ８、補正の内容 別紙のとおり
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 偏析エッチプリント法により鋼材の断面組織を転写した
ものを画像処理しビデオをみながら画像を最適輝度に調
整し有害偏析粒のみを選択しその信号を２値化により鮮
明化しその後以下に示す式により面積率及び／又は平均
偏析粒径を演算し求めこの値とあらかじめ鋼種ごとに設
定しておいた面積率及び／又は粒径と比較し偏析を推定
する事を特徴とする鋼材の偏析検出方法。 偏析面積率（％） ３００ｍｍ×５０ｍｍ内の偏析粒の面積×１００ ３００ｍｍ×５０ｍｍ平均偏析粒径（ｍｍ） 最大から５番目までの等価の直径等価の直径＝偏析粒と
等しい面積の直径
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62326248A JPH01167636A (ja) | 1987-12-23 | 1987-12-23 | 鋼材の偏析検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62326248A JPH01167636A (ja) | 1987-12-23 | 1987-12-23 | 鋼材の偏析検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01167636A true JPH01167636A (ja) | 1989-07-03 |
Family
ID=18185649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62326248A Pending JPH01167636A (ja) | 1987-12-23 | 1987-12-23 | 鋼材の偏析検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01167636A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002361381A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-17 | Nippon Steel Corp | ビレットおよび線材の偏析評価方法 |
| JP2007533955A (ja) * | 2003-08-04 | 2007-11-22 | ビーエーエスエフ コーティングス アクチェンゲゼルシャフト | 表面構造を特性決定する方法および材料の変性、新たな開発および製造のためのその使用 |
| JP2012529043A (ja) * | 2009-07-27 | 2012-11-15 | ヒュンダイ スチール カンパニー | 連続鋳造スラブの中心偏析評価方法 |
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|---|---|---|---|---|
| JPS5249091A (en) * | 1975-10-16 | 1977-04-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Apparatus for automatic analysis of sulfur segragation of steel produc ts |
| JPS60142779A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-27 | Kawasaki Steel Corp | 画像解析装置 |
| JPS60210742A (ja) * | 1984-04-04 | 1985-10-23 | Hitachi Ltd | 微粒子分散評価装置 |
| JPS61277008A (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-08 | Toshiba Mach Co Ltd | 絵柄面積率測定装置 |
-
1987
- 1987-12-23 JP JP62326248A patent/JPH01167636A/ja active Pending
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