JPS61277008A - 絵柄面積率測定装置 - Google Patents

絵柄面積率測定装置

Info

Publication number
JPS61277008A
JPS61277008A JP60118605A JP11860585A JPS61277008A JP S61277008 A JPS61277008 A JP S61277008A JP 60118605 A JP60118605 A JP 60118605A JP 11860585 A JP11860585 A JP 11860585A JP S61277008 A JPS61277008 A JP S61277008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area ratio
press plate
picture pattern
scanning
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP60118605A
Other languages
English (en)
Inventor
Kosaku Togashi
富樫 幸作
Makoto Hayashi
誠 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP60118605A priority Critical patent/JPS61277008A/ja
Publication of JPS61277008A publication Critical patent/JPS61277008A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、絵柄面積測定装置に係り、例えばオフセット
輪転機の刷版またはフィルムの各インキ・キーゾーン毎
の絵柄面積率を高精度に測定するのに利用できる。
〔背景技術とその問題点〕
例えば、オフセット輪転機の各インキ・キーの開度、つ
まり各イン;12・キーゾーン毎のインキ供給量は、各
インキ・キーゾーン毎の絵柄面積率(インキ・キーゾー
ンの総面積に対する画線部の面積の比率)によって決る
。従って、各インキ・キーの開度を設定するにあたって
は、刷版またはフィルムのインキ・キーゾーン毎に絵柄
面積率を求めることが必要である。
従来、刷版またはフィルムから絵柄面積率を求める方決
としては、種々の方法が知られているが、いずれの方法
にしても測定精度に±1%〜2%の誤差が含まれる。
ところで、キーゾーン単位としてみて絵柄面積率が大き
いとき、例えば絵柄面積率が10%以上のときに測定誤
差が±1%位いあっても実際の印刷品質には影響しない
が、仮に絵柄面積率が3%のときに、測定誤差が±2%
あると、1%〜5%のデータのばらつきとなる。従って
、絵柄が少ない場合、いわゆるスポット絵の場合に問題
となる。
〔発明の目的〕
、:ζ、に、本発明の目的は、このような絵柄が少ない
場合でも、印刷品質に影響を与えることがな(、常に高
精度な測定が達成できる絵柄面積率測定装置を提供する
ことにある。
〔問題点を解決するための手段および作用]そのため、
本発明では、絵柄のない部分の絵柄面積率を完全に0%
と測定することは困難であることに着目し、予め絵柄が
ないことが明らかな部分はできるだけ測定しないように
することにより、逆にみれば絵柄部を含む限られたエリ
アのみを測定することにより、上記目的を達成しようと
するものである。
具体的には、刷版またはフィルムの各インキ・キーゾー
ン毎に絵柄面積率を測定し、その測定データに基づいて
各インキ・キーの開度を設定する絵柄面積率測定装置に
おいて、刷版たはフィルムの任意のエリアを設定するた
めの手段を設けるとともに、この設定手段で設定された
エリア以外の部分の絵柄面積率を0として各インキ・キ
ーゾーン毎の絵柄面積率を求める手段を設けたことを特
徴としている。
〔実施例〕
第1図は本発明の測定装置の原理図を示している。同図
において、刷版Wは、図示しない試料装着板上に凹円弧
状に湾曲された状態に保持されている。刷版Wの湾曲中
心軸線上には、その一方に直線偏光形レーザ11が、他
方にステッピングモータ12がそれぞれ配置されている
。ステッピングモータ12によって前記中心軸線を中心
として回動される回動枠13には、光偏向器14および
光電子増倍管15がそれぞれ取付けられている。
前記光偏向器14は、前記刷版Wの彎曲中心軸線上の光
走査位置に位置される走査ミラー14と。
この走査ミラー14Aを前記ステッピングモータ12の
回転軸と直交する軸を中心として回動させる走査器14
Bとから構成されている。これにより、直線偏光形レー
ザ11から走査ミラー14Aへ入射する光は、光走査器
14Bの作動により走査ミラー14Aが光軸と直交する
軸を中心として回動されるのに伴い刷版WのX方向へ、
ステッピングモータ12の作動により走査ミラー14A
が光軸を中心として回動されるのに伴い刷版WのY方向
へ走査される。
前記走査ミラー14Aと前記直線偏光形レーザ11との
間には、直線偏光形レーザ11からの光を円偏光特性を
もつ光に変換するχ波長板16と、このA波長板16か
らの円偏光特性をもつ光を直線偏光特性の光に変換する
偏光子17とが順次配置されている。これらレーザ11
およびA波長板16は、前駆ステッピングモータ12の
回動輪と同軸上に沿って互いに光軸を共有するように配
置されている。前記偏光子17は、その透過光が刷版W
へ入射する際、入射面(入射光と反射光とを含む平面)
と平行な偏光面をもつ直線偏光となるように、回動枠1
3に走査ミラー14Aと一体的に回動可能に取付けられ
ている。
前記光電子増倍管15の受光面側には、前記刷版Wへ入
射する光の偏光面と直交する偏光面を有する光のみを透
過させる検光子18が設けられている。検光子18を透
過した光は、光電子増倍管15によって光電変換され、
続いてA/D変換器22によりデジタル信号に変換され
た後、マイクロコンピュータ等から構成された演算処理
装置24へ入力されている。
演算処理装置24は、光偏向器制御装置25を介して前
記光偏向1iii 14を作動させ、直線偏光形レーザ
11からの光を刷版WのX方向へ走査させそのX方向へ
の走査において光電子増倍管15から与えられるデータ
を予め定められたタイミングで順次取込み、それを予め
決められた各キーゾーン毎の記憶エリアへ順次記憶させ
る。ここで、1つのX走査線上の走査が終了した後、ス
テッピングモータ12を所定角度回動させ、再びX方向
へ走査させ、そのX方向への走査において、光電子増倍
管15から与えられるデータを予め定められたタイミン
グで順次取込み、それを前記各キーゾーン毎の記憶エリ
アへ順次加算処理する。この繰り返しにより刷版Wの全
面を走査させると、各キーゾーン毎の記憶エリアにはY
方向における累積値が記憶される。
第2図は前記演算処理装置24の回路構成を示している
。同演算処理装置24は、CPU31、ROM32、R
AM33、出力装置34、キーボード35、および3つ
のl1036.37.38が互いにバス39を通じて接
続されている。前記[1036には前記A/D変換器2
2が、前記l1037には前記光偏向器制御装置25が
、前記[1038には前記ステッピングモータ12が、
それぞれ接続されている。
また、キーボード35からは、インキ・キー1個分に相
当する刷版Wのインキ・キーゾーンの幅寸法等の設定デ
ータのほかに、刷版W上の任意の2点を指定することに
より、その2点を対角点とする四角形状のエリアを設定
できるようになっている。これにより、刷版W上の任意
のエリアが設定されると、CPU31は、設定されたエ
リアを除く部分の絵柄面積率を0として各インキ・キー
ゾーン毎の絵柄面積率を演算する。
いま、第3図において、刷版Wの絵柄部分P++P z
、P 3を包囲するエリアA + 、A z 、A s
の対角点(x+、y+)  (Xz、yz)、  (X
 :lI Y 3)  (X 41 ’l 4)、(x
 S+ y s) (x b、 yh)をキーボード3
5より人力すると、その2点を対角、つとするエリアA
3.Az。
A、が設定される。
この状態において、直線偏光形レーザ11からの光を刷
版WのX方向およびY方向へ走査していくと、刷版Wか
らの反射光のうち検光子18の透過軸と平行な偏光面を
もつ光のみが検光子18を透過する。これを透過した光
は、光電子倍増管15で光電変換され、続いてA/D変
換器22でデジタル信号に変換された後、データ処理装
置24へ取り込まれる。
このとき、CPU31は、予め設定されたエリアA I
+ A 2. A 3の走査時のみの信号を各キーゾー
ン毎の記憶エリアへ記憶し、そのエリアを除く部分の走
査時の信号を0として処理する。
このようにして、光走査を刷版Wの全面について行った
後、この測定値と予め入力された設定データとから各イ
ンキ・キーゾーンz 、 −”−z 、。絵柄面積率を
算出する。
例えば、インキ・キーゾーンz3の絵柄面積率を求める
に当たって、エリアA1の中にあるキーゾーンz3の面
積をsb、その面積内の絵柄面積率をTb、インキ・キ
ーシン2.の総面積をSaとすると、キーゾーン毎 Ta=TbxSb/Sa で表すことができる。ここで、絵柄面積率Tbは測定値
である。また、キーゾーンz、lの総面積Saはキーゾ
ーンの幅寸法と刷版Wの長さ寸法とから求めることがで
きる。更に、エリアA、の中にあるキーゾーンz3の面
積sbは対角点(x+、y+)(xz+yz)とキーゾ
ーンの幅寸法とから計算で求めることができる。
従って、本実施例によれば、刷版Wの絵柄がない部分の
絵柄面積率を予め0%として演算するようにしたので、
より高精度な測定結果を得ることができる。そのため、
絵柄の少ない、いわゆるスポット絵の測定が可能となる
また、スポット絵の測定にあたっては、刷版Wの絵柄部
分P lI P z、 P sを包囲するエリアA I
、 A2、A3の対角点の座標値をキーボード35より
人゛力するだけでよいので、極めて簡単な操作で実現す
ることができる。
しかも、これらのエアリA 1. A 2 、 A x
を設定しなければ、通常の絵柄面積率の測定と同様に刷
版Wの全面について光学的走査を行い、これらの測定結
果から各キーゾーン毎の絵柄面積率を算出するので、い
わゆるスポット絵以外の測定も可能である。
なお、上記実施例では刷版W上の2点を指定することに
より、絵柄面積率を求めるエリアを特定したが、これら
のエリアを特定する方法については、上記実施例に限ら
れるものではない。
また、予めエリアが設定された場合には、このエリアを
除く部分の光学的操作を行うことなく、設定エリアのみ
を走査するようにすれば、より迅速な測定が達成できる
〔発明の効果〕
以上−の通り、本発明によれば、絵柄が少ないいわゆる
スポット絵の場合でも、印刷品質に影響を与えることが
なく、高精度な測定が達成できる絵柄面積率測定装置を
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示すもので、第1図は測定原理
を示す図、第2図は回路構成を示すブロック図、第3図
は刷版Wの平面図である。 W・・・刷板、A、〜A、エリア、31・・・CPU、
33・・・RAM、35・・・キーボード。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)刷版またはフィルムの各インキ・キーゾーン毎に
    絵柄面積率を測定し、その測定データに基づいて各イン
    キ・キーの開度を設定する絵柄面積率測定装置において
    、刷版またはフィルムの任意のエリアを設定するための
    手段を設けるとともに、この設定手段で設定されたエリ
    ア以外の部分の絵柄面積率を0として各インキ・キーゾ
    ーン毎の絵柄面積率を求める手段を設けたことを特徴と
    する絵柄面積率測定装置。
JP60118605A 1985-05-31 1985-05-31 絵柄面積率測定装置 Withdrawn JPS61277008A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60118605A JPS61277008A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 絵柄面積率測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60118605A JPS61277008A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 絵柄面積率測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61277008A true JPS61277008A (ja) 1986-12-08

Family

ID=14740699

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60118605A Withdrawn JPS61277008A (ja) 1985-05-31 1985-05-31 絵柄面積率測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61277008A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167636A (ja) * 1987-12-23 1989-07-03 Nippon Steel Corp 鋼材の偏析検出方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167636A (ja) * 1987-12-23 1989-07-03 Nippon Steel Corp 鋼材の偏析検出方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4650335A (en) Comparison type dimension measuring method and apparatus using a laser beam in a microscope system
JPH01191003A (ja) マーク位置検出装置およびマーク配置方法
JPH05142141A (ja) 薄膜測定装置
US4659936A (en) Line width measuring device and method
JPS61277008A (ja) 絵柄面積率測定装置
US4050821A (en) Linewidth measurement method and apparatus
EP0873496B1 (en) Test equipment for colour printing with CCD camera and framegrabber
JPH0350752A (ja) ウェハアライメント方法、及びその装置
JP2001253114A (ja) 画像露光記録装置における光量調整方法および装置
JPH10300580A (ja) 色彩測定装置
Sepold et al. Measuring the quality of high power laser beams
JP3019431B2 (ja) Otf測定装置
JPH11142322A (ja) 複屈折測定装置及び複屈折測定方法
US4941746A (en) Apparatus for automatically determining the densities of a graphic image
JP3446547B2 (ja) 網点面積率測定装置
JPH08159956A (ja) 複屈折測定方法及び装置
JPS58190704A (ja) 線巾の測定方法
JPH11352054A (ja) エリプソメトリ装置
JPH10282443A (ja) 複数レーザビームの走査装置およびレーザビームの走査位置調整方法
JPH0310104A (ja) 光点位置測定装置
JPH05172643A (ja) 偏光度測定器
Bajor et al. Automated polarimeter–macroscope for optical mapping of birefringence, azimuths, and transmission in large area wafers. Part II. Measurement setup and results
JPH0145861B2 (ja)
JP3217144B2 (ja) スリットレーザ光の湾曲度検査装置
JPS6179140A (ja) 紙の光学的特性測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees