JPH10300580A - 色彩測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学系で生ずる分光画像の歪みを補正した、
外部標準白板に対する正確な色彩分布を得る。 【構成】 予め特定の分光強度分布パターンを有する基
準試料を分光測定し、分光画像の歪補正データをメモリ
２３に記憶しておく。歪補正処理部２２は、以降の測定
時に該歪補正データを用いて分光画像を補正する。ま
た、装置に備えた内部標準白板と外部標準白板とをそれ
ぞれ分光測定し、両者の差に基づいた標準補正データを
メモリ２６に記憶しておく。試料測定時には、まず内部
標準白板を測定して参照データをメモリ２５に格納す
る。引き続き試料を測定し、反射率演算部２４は、参照
データ及び標準補正データを用いて外部標準白板に対す
る相対反射率を算出する。複数の装置に対し共通の外部
標準白板を用いることにより、器差のない色彩分布を得
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は分光測定を利用した
色彩測定装置に関し、更に詳しくは、試料の一次元領域
像に対応した分光強度分布（波長別の強度情報）を複数
の微小受光素子が二次元的に配置された光検出器にて検
出することにより位置情報と波長方向の情報とを同時に
測定し、該分光測定結果に基づいて種々の色彩指標値を
算出する色彩測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】人間が認識する物体の色は、光源の分光
分布、目の感度、物体の反射率又は透過率の三要素によ
って決まる。測色において、前者の二要素はＪＩＳ（日
本工業規格）に数値として規定されているので、物体の
反射率又は透過率を分光測定装置を用いて測定すること
により色を客観的な数値として求めることができる。

【０００３】一般に測定対象とする物体の色は、二次元
的な広がりを有する色彩分布である。このため、色彩測
定に利用される分光測定装置では、物体の二次元投影面
の反射率又は透過率の分布を求める必要がある。図９
は、このような試料の二次元領域の分光測定を行なうた
めの分光測定装置の光学系の構成図である。光源１１か
ら照射された光は試料２のＹ軸方向に伸びる線領域で反
射されて、スリット１２に導かれる。スリット１２を通
過した光はレンズ１３でコリメートされ、回折格子１４
で波長分散された後に、二次光除去フィルタ１５及びレ
ンズ１６を介して光検出器１７上に投影される。光検出
器１７は微小受光素子が二次元的に配置されたものであ
って、光検出器１７上のｙ軸（位置）方向には試料２の
線領域内の位置情報が得られ、該ｙ軸に直交するλ軸
（波長）方向には線領域内の各点（微小領域）における
波長の広がりの情報が得られる。

【０００４】上記のように得られた分光画像から分光強
度分布を求める際には、λ軸方向においてそれぞれ所定
の中心波長λmに対する波長幅Δλmが設定され、該波長
幅Δλmに含まれる複数の受光素子によって得られた強
度信号が積分又は平均化される。このようにして、線領
域内の或る点における分光強度分布が求められる。続い
て、線領域内の各点において上記分光強度分布が計算さ
れることにより、試料２上の一次元領域の分光強度分布
が得られる。更に、試料２を載置した移動台１と光源１
１等から成る光学ユニット１０とを、Ｘ軸方向に所定ス
テップで順次相対移動させながら繰り返し一次元領域の
分光画像を得ることにより、試料２の二次元領域の分光
強度分布を測定する。

【０００５】上記の光学ユニット１０内の光路が理想的
であるとき、光検出器１７にて得られる分光画像の一例
を図１０（ａ）に示す。理想的な光路とは、スリット１
２等の光学部品の配置にズレがない、レンズ１３、１６
に収差がない、等の諸条件が全て満たされている場合で
ある。このような場合、線領域を有する試料Ａaに対し
て分光画像Ｂaが得られる。このとき、波長の広がり方
向はλ軸と一致しているので、試料Ａa内の位置Ｙaに対
する分光強度分布を得るには、分光画像Ｂaの位置ｙaの
λ軸方向に配列されている（図中の破線に沿った）各受
光素子の信号を順番に読み出せばよい。

【０００６】しかしながら、実際の分光測定装置では、
光学部品の相対的な位置のズレやレンズの収差等により
光検出器１７の結像には歪や変形が生じる。図１０
（ｂ）は、理想的でない光路の影響により歪が発生して
いる分光画像の一例を示す図である。この分光画像Ｂb
では、図１０（ａ）の場合とは異なり、試料Ａa内の或
る位置に対応する波長の広がり方向がλ軸と一致しな
い。従って、上述のようにλ軸方向に配列された受光素
子の信号を読み出しても正確な分光強度分布は得られな
い。更に、光学部品の調整や装置の分解・組立作業を行
なうと上記歪や変形の状態が変化するため、測定結果の
信頼性や再現性が一層低下することになる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記問題を解決するた
め、本願出願人は、既に特開平９−１５０４６号公報等
において新規な分光測定装置を提案している。この分光
測定装置では、測定対象試料の分光測定に先立って既知
の分光強度分布を有する基準試料を測定し、その測定結
果から分光画像の位置方向及び波長方向の歪や変形の状
態を把握し、これを補正するデータをメモリに記憶して
おく。そして、測定対象試料を測定する際には、該補正
データを利用して歪補正処理を行ない、歪や変形のない
分光画像を得る。また、色彩指標値を算出するには、規
格に適合した標準白板に対する相対反射率を求めておく
必要があるから、測定対象試料の測定に先立って標準白
板を測定し、歪補正がなされた分光画像に基づく分光強
度分布を参照データとしてメモリに記憶しておく。そし
て、測定対象試料の測定により得た分光強度分布と該参
照データとに基づき相対反射率の分布を計算する。

【０００８】このように算出された相対反射率を用いて
三刺激値等の色彩指標値を計算すれば、光路条件等に依
存する歪が補正されて精度の高い色彩分布を得ることが
できる。一般に、同一機種の分光測定装置であっても光
路条件等の器差は比較的大きいが、上記歪補正処理を行
なうことにより該器差が解消される。

【０００９】上記分光測定装置を用いた色彩測定におい
て高い測定精度を得るには、標準白板と測定対象試料と
の測定を時間的に連続して行なうことが好ましい。この
ため、標準白板は該装置に内蔵され（以下、各装置毎に
内蔵された標準白板を「内部標準白板」という）、比較
的簡単な操作により随時測定できるようになっている。
しかしながら、規格に適合した標準白板であっても実際
にはその色は標準白板毎に微妙に相違するため、内部標
準白板の色の差が各装置毎に測定された色彩分布の測定
結果の差の原因となるという問題があった。このため、
従来、相異なる装置で得られた色彩の測定結果を厳密な
色比較に利用するのは適当でなかった。

【００１０】本発明は上記課題を解決するために成され
たものであり、その目的とするところは、上記分光測定
装置を用いた色彩測定装置を更に改良したものであっ
て、光路が理想的な状態でない場合でも正確な色彩分布
の測定が行なえると共に、複数の装置において器差なく
色彩測定を行なうことができる色彩測定装置を提供する
ことにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、複数の微小受光素子が二次元的に
配置された光検出器の一方の次元方向に試料の一次元領
域像を投影させると共に他の次元方向に光を波長分散さ
せることにより分光画像を結像させ、該分光画像より求
めた分光強度分布を基に色彩を表わす指標値を算出する
色彩測定装置において、 a)既知の分光強度分布パターンを有する基準試料を分光
測定することにより求めた、分光画像の位置方向及び波
長方向のズレを補正するための補正情報を予め記憶して
おく第一記憶手段と、 b)該第一記憶手段から読み出した補正情報に基づいて分
光画像の歪を補正する歪補正手段と、 c)内蔵された既知の分光強度分布を有する内部標準試料
に対し歪補正を行なって得た分光測定結果と、外部より
装填された既知の分光強度分布を有する外部標準試料に
対し歪補正を行なって得た分光測定結果とに基づき、該
内部標準試料と外部標準試料の分光強度分布の差異に応
じた補正情報を予め記憶しておく第二記憶手段と、 d)測定対象試料に対し歪補正を行なって得た分光測定結
果と、前記内部標準試料に対し歪補正を行なって得た分
光測定結果と、前記第二記憶手段から読み出した補正情
報とに基づき、前記外部標準試料に対する測定対象試料
の相対反射率を計算し、更に該反射率に基づいて色彩の
指標値を算出する演算手段と、を備えることを特徴とし
ている。

【００１２】

【発明の実施の形態】本発明に係る色彩測定装置では、
分光強度分布パターンが既知である基準試料を予め分光
測定することにより、光学系が理想的でないことに起因
する分光画像の歪や変形の状態を把握することができ
る。そこで、基準試料を分光測定した分光強度分布パタ
ーンの波長の広がり方向又は試料の一次元領域像の方向
に対応する受光素子の位置情報を補正情報とし、第一記
憶手段に予め格納しておく。そして、試料測定時に、歪
補正手段は、該補正情報に基づいて各受光素子の検出信
号を読み出す又は検出信号を配置し直す等の補正処理を
行なうことにより、歪や変形の解消された分光画像を作
成する。

【００１３】次いで、相対反射率を求める際の基準とな
る情報を得るため、まず、装置毎に備えられた既知の特
定の分光強度分布を有する内部標準試料を分光測定し、
更に外部から装填される既知の分光強度分布を有する外
部標準試料を分光測定して、その両者の分光強度分布の
差に基づいて得られる標準補正情報を第二記憶手段に格
納しておく。このとき、それぞれの分光画像は歪補正が
なされているので、得られた標準補正情報も歪や変形が
解消されたものとなっている。

【００１４】試料測定時には、演算手段は、上記内部標
準試料と測定対象試料とをそれぞれ分光測定し、歪補正
手段により歪み補正された分光画像に基づいて両者の分
光強度分布を求め、更に、上記第二記憶手段から読み出
した標準補正情報を用いることにより内部標準試料と外
部標準試料との差異を補正して、外部標準試料に対する
測定対象試料の相対反射率を計算する。そして、この相
対反射率に基づいて色彩の指標値を計算する。

【００１５】

【発明の効果】本発明に係る色彩測定装置によれば、光
学部品の位置ズレやレンズの収差等による影響を補正し
た分光画像が得られるため、複雑なパターンを有する試
料を測定する場合でも緻密で正確な分光強度分布を測定
することができ、上記光学系の影響を解消した色彩の指
標値を得ることができる。

【００１６】また、本発明に係る色彩測定装置によれ
ば、装置に着脱可能であって複数の装置に対し共通に利
用される外部標準試料に対する相対反射率が求められ、
これに基づいて色彩の指標値が算出されるので、各装置
毎に内蔵された内部標準試料の色の差による器差が解消
され、外部標準試料を基準とする正確な色彩分布が得ら
れる。従って、異なる装置により測定された色彩分布等
の結果を厳密に比較することができる。

【００１７】

【実施例】以下、本発明に係る色彩測定装置の一実施例
を図を参照して説明する。図１は本発明に係る色彩測定
装置の全体構成図である。光学系の基本構成は図９に示
した従来の装置とほぼ同じであるが、本実施例の色彩測
定装置では、測定対象の試料２の代わりに、予め内部に
装填された内部標準白板３が図示しない可動アームによ
って試料２と同じ位置に移動可能な構成となっている。
また、出力部３０はディスプレイやプリンタであって、
信号処理部２０にて算出された色彩指標値を所定の形式
で表示又は印刷するために用いられる。また、操作部３
１は、測定者により操作されるキー入力スイッチ等から
構成される。なお、信号処理部２０は、実際には、パー
ソナルコンピュータを中心に構成することができ、該コ
ンピュータに所定のプログラムを実行させることにより
後述の各種処理を行なうようにすることができる。

【００１８】図２は、図１中の信号処理部２０の要部の
機能構成図である。光検出器１７による検出信号は、各
受光素子毎にＡ／Ｄ変換器２１にてデジタル信号に変換
され歪補正処理部２２へ入力される。歪補正処理部２２
には歪補正データを格納しておくための歪補正データメ
モリ２３が接続されており、該歪補正データを用いて後
述のような処理により分光画像の歪や変形を補正する。
歪補正処理部２２にて補正された分光画像は反射率演算
部２４へ入力される。

【００１９】反射率演算部２４には、参照データを格納
するための参照データメモリ２５と、標準補正データを
格納するための標準補正データメモリ２６とが接続され
ている。参照データメモリ２５には、内部標準白板の測
定によって得られる分光強度分布に基づく参照データが
予め書き込まれる。また、標準補正データメモリ２６に
は、内部標準白板と外部標準白板のそれぞれの分光測定
によって得られる分光強度分布の差異に基づく標準補正
データが予め書き込まれる。反射率演算部２４は、入力
された分光画像から分光強度分布を算出し、その結果と
参照データ及び標準補正データとにより外部標準白板に
対する相対反射率の分布を計算する。色彩演算部２７
は、所定の計算を行なうことにより該相対反射率から三
刺激値等の色彩指標値を計算する。

【００２０】以下、上記構成の色彩測定装置の処理動作
を詳述する。 〔歪補正処理の実施例〕まず、上記歪補正処理部２２で
実行される歪補正処理動作の一例について図３〜図６を
参照して説明する。 （i） 歪補正データの作成処理 装置入手直後、或いは、装置の分解調整直後等、光学系
の状態が変化したときには、所定の基準試料の分光測定
を行ない、歪補正を行なうための基本情報である歪補正
データを作成する。図３は、基準試料Ａ1と該試料Ａ1を
測定した結果得られる分光画像Ｂ1を示す図である。基
準試料Ａ1は、必要な位置分解能程度の大きさの微小パ
ターンを線領域内の位置Ｙk（ｋ＝１〜ｍ）に有するも
のである。光学ユニット１０内の光路が理想的であると
き、分光画像Ｂ1上のｍ本の曲線Ｃkはそれぞれλ軸方向
に伸びる直線となる筈であるから、該曲線の湾曲の状態
は光路の歪や変形を反映している。従って、この曲線に
基づいて、基準試料Ａ1のｍ個のパターンに対する波長
の広がり方向と受光素子との対応関係を得ることができ
る。この対応関係が、歪補正データとして歪補正データ
メモリ２３に予め記憶される。

【００２１】波長の広がり方向と受光素子の位置との対
応関係を得るための具体的な処理方法を、図４を用いて
説明する。基準試料Ａ1内の位置Ｙk（ｋ＝１〜ｍ）に在
るｍ個の微小パターンに対し、分光画像Ｂ1中のλi（ｉ
＝１〜ｎ）の位置にある縦一列の受光素子（分光画像Ｂ
1中の斜線部）の検出信号が読み出され、受光強度のピ
ーク値が現われる受光素子の位置がｐki（ｋ＝１〜ｍ）
として記憶される。例えば、λiの位置の縦一列の受光
素子の検出信号が図４中の右側に示すような値となる場
合、各ピークの位置（例えばｙ軸方向での受光素子の位
置を識別するために連続的に付された番号）がｐkiとし
て順次、歪補正データメモリ２３に記憶される。

【００２２】このような処理がｉ＝１からλ軸方向の受
光素子数ｎまで繰り返し行なわれることにより、基準試
料Ａ1内の位置Ｙk（ｋ＝１〜ｍ）と曲線Ｃkに沿った受
光素子の位置ｐki（ｉ＝１〜ｎ）との対応関係が得られ
る。すなわち、位置Ｙkの分光強度分布を得るために
は、ｐk1、ｐk2、…、ｐknの順に、それにより指示され
る受光素子の信号値を読み出せばよい。このようにし
て、位置Ｙkと該位置に対する波長の広がり方向を示す
受光素子の位置ｐkiとの対応関係が、ｙ軸（位置）方向
の歪補正データとして求められる。

【００２３】また、λ軸（波長）方向の歪や変形を補正
するための歪補正データは次のようにして得ることがで
きる。このときには、特定の波長で鋭いピークを有する
ような基準試料を用いるか、或いは特定波長で輝線が出
現する波長特性を有する光源１１を使用する。図５は、
特定の波長でピークを有する光源１１を平面的に略一定
の反射率を有する試料に照射して得た分光画像の例であ
る。λ軸方向に歪や変形がない場合には、曲線Ｌu（ｕ
＝１〜３）はｙ軸方向に直線（図５中の破線）となる筈
であるから、該曲線の湾曲の状態は光学系の歪や変形を
反映している。そこで、上記ｙ軸方向の場合と同様にし
て、波長と各曲線Ｌuに応じた受光素子の位置との対応
関係を求め、これをλ軸（波長）方向の歪補正データと
して歪補正データメモリ２３に記憶しておく。

【００２４】なお、上記歪補正データ作成処理は、光学
部品の相対的位置関係が変更されたり光学部品自体が交
換されたりした場合等、分光画像の歪や変形の状態が変
わる可能性があるとき毎に行なう必要があるため、測定
者が基準試料を移動台１上に載置し、操作部３１にて適
当なキー入力操作を行なうと、基準試料の分光測定が自
動的に行なわれて歪補正データメモリ２３内のデータが
書き換えられるようにするとよい。また、基準試料を装
置自体に組み込むようにしてもよい。

【００２５】（ii） 分光測定時の補正処理 歪補正処理部２２にはＡ／Ｄ変換された全受光素子の信
号値を記憶するための画像メモリが設けられており、歪
補正データメモリ２３に記憶されている歪補正データに
基づいた書込アドレスに従って、Ａ／Ｄ変換器２１の出
力信号は該画像メモリに書き込まれる。このとき、図６
に示すように、位置Ｙkと位置Ｙk+1との間に存在する位
置Ｙjに対しては、歪補正データメモリ２３に記憶して
いる曲線Ｃkと曲線Ｃk+1とに関する歪補正データが読み
出され、両者の重み付き平均の計算を行なうことにより
曲線Ｃj（図６中の破線の曲線）が求められ、これによ
り書込アドレスが得られる。このようにして、試料の線
領域内の如何なる位置に対応する信号も、その波長の広
がり方向に沿った、画像メモリ内の適切な位置に書き込
まれる。すなわち、画像メモリには歪や変形が補正され
た分光画像が得られる。

【００２６】なお、上記のような補正処理以外に、光検
出器１７を構成する複数の受光素子から検出信号を読み
出す際に、歪補正データに基づいて読み出すべき受光素
子を選択し、画像メモリへは所定のアドレス順序で書込
みを行なうようにしても同様の結果が得られることは明
らかである。また、歪や変形のある分光画像を、一旦第
一画像メモリへ書き込み、該第一画像メモリから第二画
像メモリへ書き移すときに歪補正処理を行なうようにし
てもよい。この場合、第一画像メモリ内には歪のある分
光画像が、第二画像メモリ内には歪の補正された分光画
像が得られる。

【００２７】〔歪補正処理の他の実施例〕次に、歪補正
データ作成処理の他の実施例を図７により説明する。上
記実施例による歪補正データの作成処理では、λ軸方向
に対して曲線Ｃk上の全ての受光素子の位置情報を歪補
正データメモリ２３に記憶させるため、大容量のメモリ
が必要となる。これに対し、本実施例では、曲線Ｃkに
対応する受光素子の位置ｐkiをλ軸方向にｉ＝１からｉ
＝ｎまで順番に求めるのではなく、λ軸方向に所定の受
光素子数間隔毎に求める。すなわち、図７中の斜線部の
縦の列についてのみ、受光強度のピークが現われる受光
素子の位置をｐkiとして記憶する。従って、上記実施例
ではλ軸方向の受光素子数に等しいｎ回繰り返し処理を
行なうことにより歪補正データを得ていたのに対し、本
実施例ではその繰り返し処理の回数を大幅に減らすこと
ができ、その分だけメモリ２３の容量も少なくて済む。
なお、λ軸方向にスキップした間の領域に関しては、補
正処理時に、多項式近似や補間等の計算によって曲線を
定式化し、これに基づき画像メモリの書込アドレスや読
み出すべき受光素子の位置を決定すればよい。

【００２８】更に、上記実施例とは相違する基準試料を
用いて歪補正データを得ることも可能である。図８は、
線領域内に唯一の微小パターンを有する基準試料Ａ2と
その分光画像Ｂ2を示す図である。基準試料Ａ2内の微小
パターンをＹ軸方向に必要な分解能程度のステップ幅で
移動させつつ、曲線Ｃに対応する受光素子の位置を求め
る。このとき、λ軸方向に対しては、対応するすべての
受光素子の位置を記憶するようにしてもよいし、所定間
隔毎に対応する受光素子の位置を記憶するようにしても
よい。

【００２９】〔反射率演算の処理の実施例〕続いて、上
記反射率演算部２４で実行される相対反射率演算の処理
動作を説明する。 （ｉ）標準補正データの作成処理 標準補正データの作成処理は、測定対象試料２の測定に
先立ち、装置に内蔵された内部標準白板３の測定と、試
料２と同様に移動台１上に容易に交換可能に載置される
外部標準白板４の測定という二段階の分光測定を通して
行なわれる。まず、測定者が操作部３１にて所定のキー
操作を行なうと、移動台１はＺ方向に後退され、アーム
により支持された内部標準白板３が光学ユニット１０の
直下の位置まで移動される。そして、この内部標準白板
３の分光測定が実行される。内部標準白板は、所定の規
格に適合したものである。この分光測定の際には、歪補
正処理部２２において上述のような歪補正が行なわれ、
光学系の歪や変形が補正された内部標準白板３の分光画
像が得られる。反射率演算部２４は、この内部標準白板
３の二次元領域における複数の分光画像から分光強度分
布を計算し、この分光強度分布データが参照データメモ
リ２５に一旦記憶される。

【００３０】次に、内部標準白板３は光学ユニット１０
の下方から後退され、再び移動台１が分光測定可能な位
置に移動される。測定者が該移動台１上の所定位置に外
部標準白板４を載置し、操作部３１にて所定のキー操作
を行なうと、外部標準白板４の分光測定が実行される。
外部標準白板４は、通常、内部標準白板３と同様の規格
に適合したものであって、複数の装置に対し共通の基準
として用いられる。

【００３１】分光測定では上記と同様に歪補正処理が行
なわれるから、光学系の歪や変形が補正された外部標準
白板４の分光画像が得られる。そして、外部標準白板４
の二次元領域における複数の分光画像から分光強度分布
が計算される。内部標準白板３と外部標準白板４とが同
一の規格に適合したものである場合、理想的にはその分
光強度分布は同一になる筈である。しかしながら、実際
には、色の微妙な差異があるため分光強度分布は同一と
はならない。そこで、反射率演算部２４は、先に参照デ
ータメモリ２５に記憶した内部標準白板３に対する分光
強度分布データと、後から測定した外部標準白板４に対
する分光強度分布データとの差を算出し、この差分を標
準補正データとして標準補正データメモリ２６に記憶す
る。従って、複数の装置に対し共通の外部標準白板を用
いて標準補正データを作成すれば、各装置毎に設けられ
た内部標準白板の色の差に対応して相違する標準補正デ
ータが標準補正データメモリ２６に記憶される。

【００３２】（ii） 試料測定時の反射率演算処理 上記標準補正データの算出に引き続いて測定対象試料２
の分光測定を行なう場合には、移動台１上に外部標準白
板４に代わって測定対象試料２が載置され、分光測定が
開始される。すなわち、移動台１と光学ユニット１０と
はＸ軸方向にステップ状に相対移動されつつ分光画像が
測定され、反射率演算部２４は該試料２上の二次元領域
の分光強度分布を求める。勿論、この分光測定の際に
も、歪補正処理部２２において歪補正処理が行なわれる
から、反射率演算部２４では光学系の歪や変形が補正さ
れた分光強度分布が得られる。

【００３３】更に、反射率演算部２４は、試料２に対す
る分光強度分布データ、参照データメモリ２５に記憶し
てある内部標準白板３に対する分光強度分布データ、及
び、標準補正データメモリ２６に記憶してある標準補正
データに基づき、試料２の二次元領域の外部標準白板に
対する相対反射率の分布を計算する。すなわち、各装置
毎の内部標準白板の色の差に拘らず、共通の基準である
外部標準白板に対する相対反射率が得られる。色彩演算
部２７は、上記相対反射率の分布に基づいて各種の色彩
指標値を計算する。従って、外部標準白板を基準とする
色彩分布が得られ、複数の装置における内部標準白板の
色の差異による色彩指標値の誤差は解消される。

【００３４】上記のように一旦標準補正データを作成し
た後は、測定対象試料２の測定を行なう毎に、内部標準
白板３の分光測定を行ない、参照データメモリ２５内の
参照データを書き換える。従って、光源１１の光量や照
射状態（平面を一定に照射しているか否か）等、反射率
に影響を及ぼす条件が変化した場合でも、内部標準白板
３の分光測定と測定対象試料２の分光測定とはほぼ同一
条件で測定が行なわれるので、この両者の測定により得
た分光強度分布に対し、標準補正データを用いて補正を
加えて相対反射率を算出すれば、常に外部標準白板４に
対する相対反射率を精度よく得ることができる。

【００３５】一方、標準補正データメモリ２６に記憶さ
れている標準補正データは、通常、書き換えられること
なく、別の外部標準白板が採用されるような場合にのみ
上記のような標準補正データ作成処理が実行される。

【００３６】なお、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨の範囲で適宜変形や修正を行なえることは明らか
である。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係る色彩測定装置の一実施例の全体
構成図。

【図２】 図１中の信号処理部の要部の機能構成図。

【図３】 分光画像の歪補正処理を説明するための模式
図。

【図４】 分光画像の歪補正処理を説明するための模式
図。

【図５】 分光画像の歪補正処理を説明するための模式
図。

【図６】 分光画像の歪補正処理を説明するための模式
図。

【図７】 分光画像の歪補正処理の他の例を説明するた
めの模式図。

【図８】 分光画像の歪補正処理の他の例を説明するた
めの模式図。

【図９】 二次元領域の分光測定装置の光学系の構成
図。

【図１０】 光検出器に結像する分光画像を示す模式
図。

【符号の説明】

１…移動台 ２…試料 ３…内部標準白板 ４…外部標準白板 １０…光学ユニット １１…光源 １２…スリット １４…回折格子 １７…光検出器 ２０…信号処理部 ２２…歪補正処理部 ２３…歪補正データメ
モリ ２４…反射率演算部 ２５…参照データメモ
リ ２６…標準補正データメモリ ２７…色彩演算部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の微小受光素子が二次元的に配置さ
   れた光検出器の一方の次元方向に試料の一次元領域像を
   投影させると共に他の次元方向に光を波長分散させるこ
   とにより分光画像を結像させ、該分光画像より求めた分
   光強度分布を基に色彩を表わす指標値を算出する色彩測
   定装置において、 a)既知の分光強度分布パターンを有する基準試料を分光
   測定することにより求めた、分光画像の位置方向及び波
   長方向のズレを補正するための補正情報を予め記憶して
   おく第一記憶手段と、 b)該第一記憶手段から読み出した補正情報に基づいて分
   光画像の歪を補正する歪補正手段と、 c)内蔵された既知の分光強度分布を有する内部標準試料
   に対し歪補正を行なって得た分光測定結果と、外部より
   装填された既知の分光強度分布を有する外部標準試料に
   対し歪補正を行なって得た分光測定結果とに基づき、該
   内部標準試料と外部標準試料の分光強度分布の差異に応
   じた補正情報を予め記憶しておく第二記憶手段と、 d)測定対象試料に対し歪補正を行なって得た分光測定結
   果と、前記内部標準試料に対し歪補正を行なって得た分
   光測定結果と、前記第二記憶手段から読み出した補正情
   報とに基づき、前記外部標準試料に対する測定対象試料
   の相対反射率を計算し、更に該反射率に基づいて色彩の
   指標値を算出する演算手段と、 を備えることを特徴とする色彩測定装置。