JPS60210742A - 微粒子分散評価装置 - Google Patents
微粒子分散評価装置Info
- Publication number
- JPS60210742A JPS60210742A JP59065725A JP6572584A JPS60210742A JP S60210742 A JPS60210742 A JP S60210742A JP 59065725 A JP59065725 A JP 59065725A JP 6572584 A JP6572584 A JP 6572584A JP S60210742 A JPS60210742 A JP S60210742A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fine particles
- particulate
- point
- pixels
- directions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers
- G01N15/1468—Electro-optical investigation, e.g. flow cytometers with spatial resolution of the texture or inner structure of the particle
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、微粒子が液体中あるいは固体中に均゛−に分
散しているか否かを評価するための装置に係り、特に、
磁性粉蛍光体等の微粒子を薄膜塗布するための塗料およ
び塗膜中の分散性を評価するのに好適な微粒子分散評価
装置に関する。
散しているか否かを評価するための装置に係り、特に、
磁性粉蛍光体等の微粒子を薄膜塗布するための塗料およ
び塗膜中の分散性を評価するのに好適な微粒子分散評価
装置に関する。
塗布形の磁気記録媒体の記録密度を上げるためには、媒
体中の磁性粉を均一に分散させ、媒体から生ずる雑音を
減らす必要がある。
体中の磁性粉を均一に分散させ、媒体から生ずる雑音を
減らす必要がある。
従来この分散性を評価する方法として、塗料の粘度の測
定、製造中の塗料を膜状に塗布乾燥させた場合の表面あ
らさを測定する等の方法が行われていたが、それら測定
値と磁性粉の分散状態との関係が必ずしも明確でなく、
定性的な比較に止まっていた。また別の方法しとして、
塗料の薄膜を作成し、これの透過電子顕微鏡写真から判
断することも行われているが、観察者の主観が入り、定
量的比較が困難であった。
定、製造中の塗料を膜状に塗布乾燥させた場合の表面あ
らさを測定する等の方法が行われていたが、それら測定
値と磁性粉の分散状態との関係が必ずしも明確でなく、
定性的な比較に止まっていた。また別の方法しとして、
塗料の薄膜を作成し、これの透過電子顕微鏡写真から判
断することも行われているが、観察者の主観が入り、定
量的比較が困難であった。
本発明は上記した欠点を除き、微粒子の分散性を再現性
良く、定量的に表示することが可能な微粒子分散評価装
置を提供することを目的とする。
良く、定量的に表示することが可能な微粒子分散評価装
置を提供することを目的とする。
本発明では、微粒子と、分散媒体との間の電磁波（可視
、紫外光、Ｘ線、γ線等）あるいは電子線に対する透過
率の違いを用い、微粒子分散物の薄膜の透過率の分布像
を得、これを一定の透過率習２値化し、微粒子存在部分
と非存在部分とに分け、微粒子存在部分あるいは非存在
部分の各点における、微粒子存在部分あるいは非存在部
分の長さく又は幅）の平均値をめると、分散性の良好バ
１ 〔発明の実施例〕 以下本発明の一実施例を第１図により説明する。
、紫外光、Ｘ線、γ線等）あるいは電子線に対する透過
率の違いを用い、微粒子分散物の薄膜の透過率の分布像
を得、これを一定の透過率習２値化し、微粒子存在部分
と非存在部分とに分け、微粒子存在部分あるいは非存在
部分の各点における、微粒子存在部分あるいは非存在部
分の長さく又は幅）の平均値をめると、分散性の良好バ
１ 〔発明の実施例〕 以下本発明の一実施例を第１図により説明する。
第１図は本発明の一実施例になる微粒子分散評価装置の
概略構成を示すブロック図である。
概略構成を示すブロック図である。
微粒子を分散させた固体あるいは液体の溶媒を乾燥させ
たものを０．２ μｍ程の薄膜状に作成し、透過電子顕
微鏡写真１０を得、これをＴＶカメラ１００により撮影
する。ＴＶ、カメラ１００はＴＶカメラ制御回路１１０
により制御され、撮影された透過電子顕微鏡像は画像メ
モリ２００にディジタル値として蓄積される。
たものを０．２ μｍ程の薄膜状に作成し、透過電子顕
微鏡写真１０を得、これをＴＶカメラ１００により撮影
する。ＴＶ、カメラ１００はＴＶカメラ制御回路１１０
により制御され、撮影された透過電子顕微鏡像は画像メ
モリ２００にディジタル値として蓄積される。
演算制御回路２０は、画像メモリ２００に蓄積された透
過電子顕微鏡像のディジタル値を逐次取り出し、一定の
スライス・レベルＳより大きい時ｌを、小さい時０を、
対応する２値化画像メモリ２１０に記憶させる。
過電子顕微鏡像のディジタル値を逐次取り出し、一定の
スライス・レベルＳより大きい時ｌを、小さい時０を、
対応する２値化画像メモリ２１０に記憶させる。
本実施例では、ＴＶカメラ１００により撮象された画像
を縦横各２５６の合計６５５３６画素に分割し、各点を
８ビツトでディジタル化し、画像メモリ２００に蓄積し
、２値化した。
を縦横各２５６の合計６５５３６画素に分割し、各点を
８ビツトでディジタル化し、画像メモリ２００に蓄積し
、２値化した。
しかる後、演算制御回路２０は２値化メモリ中の中央部
の縦１６０．横１７９画素２合計２８６４０画素の各点
に対し、縦横、およびそれらと４５″となる２つの方向
の合計４方向に対し１１１ ＃ｌまたはＩＩ ＯＩＩが
連続する画素数をめ、各点での４方向の値の最小値を各
点に於けるｔｔ １ ｔｒまたは′０″の幅としてめる
。
の縦１６０．横１７９画素２合計２８６４０画素の各点
に対し、縦横、およびそれらと４５″となる２つの方向
の合計４方向に対し１１１ ＃ｌまたはＩＩ ＯＩＩが
連続する画素数をめ、各点での４方向の値の最小値を各
点に於けるｔｔ １ ｔｒまたは′０″の幅としてめる
。
本実施例では、微粒子として磁性粉を高分子樹脂中に分
散させた磁性塗料を用いた。この例では、微粒子である
磁性粉は、電子の透過率が低く２値化飯モリ２１０中で
は値がＯとなっている。従って、値がｉｔ ＯＩＩの各
点に対応する幅が微粒子存在部の幅であり、値がＬＬ
１７７の各点に対応する幅が微粒子非存在部の幅である
。本例では、スライスレベルＳとして１画像メモリ２０
０中の値の最大値と最小値の間で、その差の７０％を最
小値に加えた値を用いた。
散させた磁性塗料を用いた。この例では、微粒子である
磁性粉は、電子の透過率が低く２値化飯モリ２１０中で
は値がＯとなっている。従って、値がｉｔ ＯＩＩの各
点に対応する幅が微粒子存在部の幅であり、値がＬＬ
１７７の各点に対応する幅が微粒子非存在部の幅である
。本例では、スライスレベルＳとして１画像メモリ２０
０中の値の最大値と最小値の間で、その差の７０％を最
小値に加えた値を用いた。
そして、演算制御回路２０は２値化メモリのｓｒ Ｉ
Ｈおよび１１０ ｙ′に対応する各点の幅をそれぞれ合
計し、Ｌ Ｉ ＩＩおよびＩＩ Ｏ＃ｌの画素数で割っ
て磁性粉存在部および非存在部の平均幅をめるにれらの
値はプリンタ９０によりプリントとされる。
Ｈおよび１１０ ｙ′に対応する各点の幅をそれぞれ合
計し、Ｌ Ｉ ＩＩおよびＩＩ Ｏ＃ｌの画素数で割っ
て磁性粉存在部および非存在部の平均幅をめるにれらの
値はプリンタ９０によりプリントとされる。
本実施例の微粒子分散評価装置により評価した結果の一
例を第２図および第３図に示す。第２図ａは第１の磁性
媒体Ａ、第２図すは第２の磁性媒体Ｂの塗膜の透過電子
顕微鏡像を示し、倍率は６０００倍である。媒体Ａは磁
気ディスクに塗布した場合、信号対雑音比は約５５ （
Ｖｐ−ｐ ／ Ｖｒｔ−ｓ ）であったのに対し、媒体
Ｂは約７０であり、媒体Ａと比較し、媒体Ｂは信号対雑
音比が良く、分散性が良いものである。
例を第２図および第３図に示す。第２図ａは第１の磁性
媒体Ａ、第２図すは第２の磁性媒体Ｂの塗膜の透過電子
顕微鏡像を示し、倍率は６０００倍である。媒体Ａは磁
気ディスクに塗布した場合、信号対雑音比は約５５ （
Ｖｐ−ｐ ／ Ｖｒｔ−ｓ ）であったのに対し、媒体
Ｂは約７０であり、媒体Ａと比較し、媒体Ｂは信号対雑
音比が良く、分散性が良いものである。
第３図には本評価装置で測定した上記媒体Ａ。
Ｂの微粒子存在部平胸幅および、微粒子非存柱部平均幅
を示す。分散性の良い媒体Ｂは、微粒子存在部平胸幅お
よび、微粒子非存柱部平均幅共に小さい。
を示す。分散性の良い媒体Ｂは、微粒子存在部平胸幅お
よび、微粒子非存柱部平均幅共に小さい。
以上要するに、本発明によれば、従来定量性を欠いてい
た、微粒子の分散状態を定量的にめられる効果がある。
た、微粒子の分散状態を定量的にめられる効果がある。
本発明の装置はその原理からも明らかな様に分散してい
る微粒子が１つ１つ分散している必要がなく、透過率分
布像中で微粒子が重なっていても測定できるため、微粒
子濃度が高くなっても測定可能である。
る微粒子が１つ１つ分散している必要がなく、透過率分
布像中で微粒子が重なっていても測定できるため、微粒
子濃度が高くなっても測定可能である。
実施例中には、微粒子存在部および微粒子非存在部の幅
とて、縦、横、斜め、４方向の最小値を用いたが、必ず
しもこれに限られるものではなく、一方向のみの幅の測
定でも多少精度は低下するが同様の効果が得られる。ま
た、ＴＶカメラにより透過電子顕微鏡写真を撮影したが
、直接電子顕微鏡あるいは光学顕微鏡等にＴＶカメラを
取り付け、透過率分布像を直接撮影することも可能であ
る。
とて、縦、横、斜め、４方向の最小値を用いたが、必ず
しもこれに限られるものではなく、一方向のみの幅の測
定でも多少精度は低下するが同様の効果が得られる。ま
た、ＴＶカメラにより透過電子顕微鏡写真を撮影したが
、直接電子顕微鏡あるいは光学顕微鏡等にＴＶカメラを
取り付け、透過率分布像を直接撮影することも可能であ
る。
更に、画像メモリに画像を蓄積して測定を行なったが、
ＴＶカメラからの信号に同期して、信号出力の大小をス
ライスレベルとの大小による高低レベルとなるパルス信
号とし、このパルス信号の高し平ル、低レベル値の平均
長さをめて、微粒子存在部、非存在部の長さとする事に
より、本発明を簡易に実施することが可能であり、この
場合には一定時間にＴＶカメラの走査する距離が一定で
あることから、パルス信号の数の大小を用いて分散性を
拝承することも可能である。
ＴＶカメラからの信号に同期して、信号出力の大小をス
ライスレベルとの大小による高低レベルとなるパルス信
号とし、このパルス信号の高し平ル、低レベル値の平均
長さをめて、微粒子存在部、非存在部の長さとする事に
より、本発明を簡易に実施することが可能であり、この
場合には一定時間にＴＶカメラの走査する距離が一定で
あることから、パルス信号の数の大小を用いて分散性を
拝承することも可能である。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は二種
の磁性媒体Ａ、Ｂの透過電子顕微鏡写真、第３図は第２
図の媒体の分散性の測定結果を示す図である。 １０・・・透過電子顕微鏡写真、２０・・・制御演算回
路、９０・・・プリンタ、１００・・・ＴＶカメラ、１
１０・・・ＴＶカメラ制御回路、２００・・・画像メモ
リ、２１０・・・２値化画像メモリ。 代理人 弁理士 高橋明ｒ 閉 １ 口 第３図 ｇＺ達文チ＃１１ 平均幅 （任意λゲ一）ν）手続補
正書（方式） 事件の表示 昭和５９ 年特許願第 ６５７２５ 号発明の名称 微粒子分散評価装置 補正をする者 り１Ｍとの卯！ 特許出願人 名 杓 ｒｓ＋ｏ）４Ａ、式会１１ 日 立 製 作
折代 理 人 補正の内容 １、本願明細書第７頁１７行の「透過電子顕微鏡写真」
を「粒子構造を示す顕微鏡写真」％る。
の磁性媒体Ａ、Ｂの透過電子顕微鏡写真、第３図は第２
図の媒体の分散性の測定結果を示す図である。 １０・・・透過電子顕微鏡写真、２０・・・制御演算回
路、９０・・・プリンタ、１００・・・ＴＶカメラ、１
１０・・・ＴＶカメラ制御回路、２００・・・画像メモ
リ、２１０・・・２値化画像メモリ。 代理人 弁理士 高橋明ｒ 閉 １ 口 第３図 ｇＺ達文チ＃１１ 平均幅 （任意λゲ一）ν）手続補
正書（方式） 事件の表示 昭和５９ 年特許願第 ６５７２５ 号発明の名称 微粒子分散評価装置 補正をする者 り１Ｍとの卯！ 特許出願人 名 杓 ｒｓ＋ｏ）４Ａ、式会１１ 日 立 製 作
折代 理 人 補正の内容 １、本願明細書第７頁１７行の「透過電子顕微鏡写真」
を「粒子構造を示す顕微鏡写真」％る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 液体中または固体中の微粒子の分散性を、液体または固
定の薄膜中を透過する電磁波または電子線の微粒子存在
部分とその他の部分との透過率の差により評価する微粒
子分散評価装置において。 薄膜中の透過率の分布像を用い、像中の各点の透過率の
大小により、微粒子存在部分とその他の部分とに分け、
微粒子存在部分中の各点から見た微粒子存在部分の最短
持続幅の微粒子存在部分の各点の値の平均値あるいは、
微粒子非存在部分中の各点から見た微粒子非存在部分の
最短持続幅の微粒非存在部分の各点の平均値、 あるいはその両方の値の２乗の和の平方根を用いる事を
特徴とする微粒子分散性評価装置−
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59065725A JPS60210742A (ja) | 1984-04-04 | 1984-04-04 | 微粒子分散評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59065725A JPS60210742A (ja) | 1984-04-04 | 1984-04-04 | 微粒子分散評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60210742A true JPS60210742A (ja) | 1985-10-23 |
Family
ID=13295278
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59065725A Pending JPS60210742A (ja) | 1984-04-04 | 1984-04-04 | 微粒子分散評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60210742A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01167636A (ja) * | 1987-12-23 | 1989-07-03 | Nippon Steel Corp | 鋼材の偏析検出方法 |
| JP2014126534A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Kao Corp | 吸収性ポリマーの検出方法 |
-
1984
- 1984-04-04 JP JP59065725A patent/JPS60210742A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01167636A (ja) * | 1987-12-23 | 1989-07-03 | Nippon Steel Corp | 鋼材の偏析検出方法 |
| JP2014126534A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Kao Corp | 吸収性ポリマーの検出方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Higgins et al. | The nature and evaluation of the sharpness of photographic images | |
| CN108351288A (zh) | 精密浆料中大杂质颗粒的全息检测和表征 | |
| US4653909A (en) | Sinusoidal determination of limiting optical resolution | |
| JPS60210742A (ja) | 微粒子分散評価装置 | |
| DE3719524C2 (ja) | ||
| Ohara et al. | Investigation of basic imaging properties in digital radiography. 8. Detection of simulated low‐contrast objects in digital subtraction angiographic images | |
| US3612886A (en) | Process for the quantitative determination of light-absorbing or light-reflecting substances distributed on a carrier | |
| DE19942856B4 (de) | Hintergrund-Schlierenmeßverfahren für räumliche Dichtefelder | |
| Kahan et al. | Comparison of the Efficiency of Image Recording with a Spectracon and with Kodak IIa-O Emulsion | |
| James et al. | Confirmation of a faint red halo around NGC 5907 | |
| JPS59210780A (ja) | 結像装置の画像転送性能を測定する方法および装置 | |
| US5400667A (en) | Means for measuring picture quality | |
| JP3062703B2 (ja) | 画像ノイズシミュレーション方法 | |
| Rindfleisch et al. | A Figure of Merit Measuring Picture Resolution | |
| Nyberg et al. | Optical processing for pattern properties | |
| Arney et al. | Gloss granularity of electrophotographic prints | |
| SU1163247A1 (ru) | Способ определени качества магнитных дефектоскопических порошков | |
| SU1136070A1 (ru) | Способ определени качества магнитных порошков и эталонный образец дл его осуществлени | |
| ROETling et al. | Some practical aspects of measurement and restoration of motion-degraded images | |
| Martínez-Cano et al. | MAMFHRE_WP5_P3_part01_v01 | |
| JP2001155173A (ja) | カラー画像の処理方法 | |
| JPH03110404A (ja) | 微小寸法測定方法 | |
| EP0287809B1 (de) | Verfahren zur Herstellung mattierter photographischer Aufzeichnungsmaterialien | |
| JPH02272491A (ja) | ディスプレイ表示画面検査装置 | |
| Mc Camy | Properties Of Photographic Films Related To Information Recovery |