JPS60142779A - 画像解析装置 - Google Patents
画像解析装置Info
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- JPS60142779A JPS60142779A JP58250303A JP25030383A JPS60142779A JP S60142779 A JPS60142779 A JP S60142779A JP 58250303 A JP58250303 A JP 58250303A JP 25030383 A JP25030383 A JP 25030383A JP S60142779 A JPS60142779 A JP S60142779A
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/40—Analysis of texture
- G06T7/41—Analysis of texture based on statistical description of texture
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10056—Microscopic image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30136—Metal
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Probability & Statistics with Applications (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は画像解析装置に関し、特に金属組織中の粒界析
出物と粒内析出物を分離して定量化するように、組織内
の情報に応じて定量化する条件を規定することが可能な
画像解析装置に関するもの２“″である。
出物と粒内析出物を分離して定量化するように、組織内
の情報に応じて定量化する条件を規定することが可能な
画像解析装置に関するもの２“″である。
今日、多くのいわゆる画像解析装置が開発され、それら
を金属組織等の画像解析装置として活用しようとする試
みも行なわれてきた。たしかにこれらの装置においては
、介在物、析出物の量の定ｔ’化というような、白地の
マトリックスに黒い対象物として存在する介在物、析出
物の面積を測定することは容易でありかつ高速で処理可
能である。
を金属組織等の画像解析装置として活用しようとする試
みも行なわれてきた。たしかにこれらの装置においては
、介在物、析出物の量の定ｔ’化というような、白地の
マトリックスに黒い対象物として存在する介在物、析出
物の面積を測定することは容易でありかつ高速で処理可
能である。
しかしながら、より詳細に組織の特徴を抽出するために
は、介在物、析出物の存在する金属組織１０中の位置に
よって分類する必要がある。すなわち、その介在物、析
出物が粒界にあったのか粒内にあったのか、また粒内に
おいてもどの相にその介在物、析出物が存在したのか等
が材料の特性に重要な意味を持つ。従来の汎用画像解析
装置において１′は、本質的には画像を白と黒の２値化
画像としかとらえておらず、析出量等の定量においても
それらが存在した位置に関する情報を得ることが不可能
なため、上述した析出物等の定量化は困難であり測定者
が個々の析出物等を判断して数える必要２０があった。
は、介在物、析出物の存在する金属組織１０中の位置に
よって分類する必要がある。すなわち、その介在物、析
出物が粒界にあったのか粒内にあったのか、また粒内に
おいてもどの相にその介在物、析出物が存在したのか等
が材料の特性に重要な意味を持つ。従来の汎用画像解析
装置において１′は、本質的には画像を白と黒の２値化
画像としかとらえておらず、析出量等の定量においても
それらが存在した位置に関する情報を得ることが不可能
なため、上述した析出物等の定量化は困難であり測定者
が個々の析出物等を判断して数える必要２０があった。
本発明の目的は上述した不具合を解消し、介在物、析出
物抽出部のほかにマ） ＩＪラック組織の中ニ含まれる
線要素の抽出部とマ） ＩＪラック組織のテクスチャ情
報の抽出部とを並列に具え、かつそ５れらの抽出結果を
独立に記憶することにより介在物、析出物の存在位置別
の定量化が可能な画像解析装置を提供しようとするもの
である。
物抽出部のほかにマ） ＩＪラック組織の中ニ含まれる
線要素の抽出部とマ） ＩＪラック組織のテクスチャ情
報の抽出部とを並列に具え、かつそ５れらの抽出結果を
独立に記憶することにより介在物、析出物の存在位置別
の定量化が可能な画像解析装置を提供しようとするもの
である。
本発明の画像解析装置は、試料の像を撮像してアナログ
画像情報を出力する撮像機と、この撮像０機からのアナ
ログ画像情報を原調レベルのデジタル画像情報に変換す
るアナログ／デジタル変換部と、このアナログ／デジタ
ル変換部で変換されたデジタル画像情報から画像中の複
数の要素？各別に抽出する要素抽出部と、この要素抽出
部からの゛′各要素の情報を各別に記憶する記憶部と、
この記憶部に記憶された各要素の抽出情報を任意に重ね
合わせたり、定量化の際の条件として利用して画像解析
を行なう処理部とからなることを特徴とするものである
。 ２Ｇ （３） 第１図は本発明の画像解析装置の一実施例を示す線図で
ある。対象試料の例えば金属組織像は、顕微鏡］に接続
された撮像機２により光学画像情報として読み出され、
Ａ／Ｄ変換器３に供給され・。
画像情報を出力する撮像機と、この撮像０機からのアナ
ログ画像情報を原調レベルのデジタル画像情報に変換す
るアナログ／デジタル変換部と、このアナログ／デジタ
ル変換部で変換されたデジタル画像情報から画像中の複
数の要素？各別に抽出する要素抽出部と、この要素抽出
部からの゛′各要素の情報を各別に記憶する記憶部と、
この記憶部に記憶された各要素の抽出情報を任意に重ね
合わせたり、定量化の際の条件として利用して画像解析
を行なう処理部とからなることを特徴とするものである
。 ２Ｇ （３） 第１図は本発明の画像解析装置の一実施例を示す線図で
ある。対象試料の例えば金属組織像は、顕微鏡］に接続
された撮像機２により光学画像情報として読み出され、
Ａ／Ｄ変換器３に供給され・。
る。Ａ／Ｄ変換器８に供給された光学画像情報は例えば
１画素１バイトすなわち２５６灰調のデジタル情報に変
換される。変換されたデジタル情報は、析出物、介在物
のような独立した分散物を抽出するための介在物、析出
物抽出部４、粒界にあＩ（・たる線要素を抽出するため
の線要禦抽出部５および金属組織相の「きめ」にあたる
テクスチャを抽出するためのテクスチャ抽出部６に並列
に供給され、対象金属組織の特徴を上述した３要素に分
解してめる。３要素に分解された特徴は、５１２ ”×
５１２画素のフレームメモリよりなる記憶装置１、Ｒ，
９に各別に記憶される。
１画素１バイトすなわち２５６灰調のデジタル情報に変
換される。変換されたデジタル情報は、析出物、介在物
のような独立した分散物を抽出するための介在物、析出
物抽出部４、粒界にあＩ（・たる線要素を抽出するため
の線要禦抽出部５および金属組織相の「きめ」にあたる
テクスチャを抽出するためのテクスチャ抽出部６に並列
に供給され、対象金属組織の特徴を上述した３要素に分
解してめる。３要素に分解された特徴は、５１２ ”×
５１２画素のフレームメモリよりなる記憶装置１、Ｒ，
９に各別に記憶される。
すなわち、記憶装置７には、金属組織より一定の局部面
積中に占める一定の黒化部分の割合を予じめ設定してお
き、これに達しないものは除去す一゛ることによって独
立、分散している塊状１球状、１針状あるいは不定形の
要素のみを抽出してその他の要素は除かれた結果が記憶
される。このために抽出部４においては、ｍ要素のよう
な高周波成分を除去しである程度の面積を有する領域を
抽出すへる処理が行なわれる。
積中に占める一定の黒化部分の割合を予じめ設定してお
き、これに達しないものは除去す一゛ることによって独
立、分散している塊状１球状、１針状あるいは不定形の
要素のみを抽出してその他の要素は除かれた結果が記憶
される。このために抽出部４においては、ｍ要素のよう
な高周波成分を除去しである程度の面積を有する領域を
抽出すへる処理が行なわれる。
次に、記憶装置８には、塊状１球状、針状等の面積を有
するものを除去して線要素のみを抽出した結果が記録さ
れる。すなわち、抽出部５においては、デジタル画像情
報に対しＸＹ平面において１Ｇ画素間の濃淡の微分をと
ることにより、線要素のような急激な濃淡の変化のみを
強調して抽出する処理を行なっている。また、この１ｗ
要素中にはノイズ成分も含まれるため、上述した方法で
得た線要素の中より例えば５画素より長い線要素のみを
１５粒界として採用することによりノイズを除去してい
る。
するものを除去して線要素のみを抽出した結果が記録さ
れる。すなわち、抽出部５においては、デジタル画像情
報に対しＸＹ平面において１Ｇ画素間の濃淡の微分をと
ることにより、線要素のような急激な濃淡の変化のみを
強調して抽出する処理を行なっている。また、この１ｗ
要素中にはノイズ成分も含まれるため、上述した方法で
得た線要素の中より例えば５画素より長い線要素のみを
１５粒界として採用することによりノイズを除去してい
る。
さらに、記憶装置９には、テクスチャ情報の抽出結果が
記憶される。このテクスチャ情報とは画像の局部的な濃
淡変化によって構成される「きめｊ″０（４） 模様であり、組織中に現われる相に対応してその１特徴
が表わされる。この特徴を抽出するために、テクスチャ
抽出部６においては、特徴を抽出したい画素に対して距
１１［Ｉｒｌ角度θだけ離れた画素の明度がある灰調１
から他の灰調ｊに変化する確率５を計算し、この確率値
Ｐｈｉ （ｒ 、θ）の行列から算出される特徴量の統
計的判断によってテクスチャ情報を認識している。その
結果、テクスチャ情報によって識別された金属相の種類
がそれぞれの対応する位置に記憶されている。
記憶される。このテクスチャ情報とは画像の局部的な濃
淡変化によって構成される「きめｊ″０（４） 模様であり、組織中に現われる相に対応してその１特徴
が表わされる。この特徴を抽出するために、テクスチャ
抽出部６においては、特徴を抽出したい画素に対して距
１１［Ｉｒｌ角度θだけ離れた画素の明度がある灰調１
から他の灰調ｊに変化する確率５を計算し、この確率値
Ｐｈｉ （ｒ 、θ）の行列から算出される特徴量の統
計的判断によってテクスチャ情報を認識している。その
結果、テクスチャ情報によって識別された金属相の種類
がそれぞれの対応する位置に記憶されている。
以上の処理によって抽出された各特徴要素が記憶されて
いる記憶表［１７、８、９中の画像は同一画面領域を処
理した結果であり、そのため各画像間のＸＹ座標は一致
している。したがって、これらの記憶装置７．８．９の
内容から定量化処理部１″］０で処理を行うことによっ
て、例えば記憶装置７に記憶された介在物、析出物の情
報から定量化を行う際に記憶装置８の線要素の内容を加
味して、粒内１粒界の区別を行うことも可能であり、ざ
らに記憶装置９のテクスチャ要素の内容を加味して、″
ｌｌ粒内においてもその組織の中に現われる相にょっ１
て区別することも可能である。
いる記憶表［１７、８、９中の画像は同一画面領域を処
理した結果であり、そのため各画像間のＸＹ座標は一致
している。したがって、これらの記憶装置７．８．９の
内容から定量化処理部１″］０で処理を行うことによっ
て、例えば記憶装置７に記憶された介在物、析出物の情
報から定量化を行う際に記憶装置８の線要素の内容を加
味して、粒内１粒界の区別を行うことも可能であり、ざ
らに記憶装置９のテクスチャ要素の内容を加味して、″
ｌｌ粒内においてもその組織の中に現われる相にょっ１
て区別することも可能である。
以下具体的な実施例として、Ｏｒ −ＭＯｆｉｌｌ中の
析出炭化物の電顕観察結果より炭化物を定量化する例を
第２図〜第４図により説明する。第２図は撮５像機から
得た対象領域のオリジナル画像であり、この組織は第２
図中黒く表わされた析出炭化物と粒界によって構成され
ている。このオリジナル画像から上述した各要素を分離
抽出して、析出炭化物の定量の際使用する。すなわち、
例えば第８図１０中白い線で表示された粒界抽出結果と
第４図中白く表示された析出炭化物の抽出結果を定置化
処理部で重ね合わせることによって、粒界に存在する析
出炭化物と粒内の炭化物を分離して定量化することがで
きる。
析出炭化物の電顕観察結果より炭化物を定量化する例を
第２図〜第４図により説明する。第２図は撮５像機から
得た対象領域のオリジナル画像であり、この組織は第２
図中黒く表わされた析出炭化物と粒界によって構成され
ている。このオリジナル画像から上述した各要素を分離
抽出して、析出炭化物の定量の際使用する。すなわち、
例えば第８図１０中白い線で表示された粒界抽出結果と
第４図中白く表示された析出炭化物の抽出結果を定置化
処理部で重ね合わせることによって、粒界に存在する析
出炭化物と粒内の炭化物を分離して定量化することがで
きる。
なお上述した説明では本発明の画像処理装置を金属組織
像に適用した例について説明したが、他の分野例えば医
学の分野の染色体の判定等積々の分野に本発明の画像処
理装置は応用できる。
像に適用した例について説明したが、他の分野例えば医
学の分野の染色体の判定等積々の分野に本発明の画像処
理装置は応用できる。
以上詳細に説明したところから明らかなようにＺｏと
７ ） 本発明の画像解析装置によれば、画像中の介在物−析出
物抽出部のほかに線要素の抽出部とテクスチャ情報の抽
出部を並列に具えかつそれらの抽出結果を独立に記憶し
ているので、例えば介在物、析出物の存在位置別の定量
化等各種の要素を重ね合“・わせた画像の定量が可能と
なる。
７ ） 本発明の画像解析装置によれば、画像中の介在物−析出
物抽出部のほかに線要素の抽出部とテクスチャ情報の抽
出部を並列に具えかつそれらの抽出結果を独立に記憶し
ているので、例えば介在物、析出物の存在位置別の定量
化等各種の要素を重ね合“・わせた画像の定量が可能と
なる。
第１図は本発明の画像解析装置の一実施例を示す線図、
第２図は撮像機から得た対象領域のオリジナル“画像を
示す図、 第８図は第２図に示すオリジナル画像から粒界部分を抽
出した結果を示す図、 第４図は第２図に示すオリジナル画像から析出炭化物の
部分を抽出した結果を示す図である。 ゛１・・・＠微
鏡 ２・・・撮像機 ３・・・Ａ／Ｄ変換器 ４・・・介在物、析出物抽出部 ５・・・線要素抽出部 ６・・・テクスチャ抽出部７、
８．９・・・記憶装置 】０・・・定、量化処理部。
′”（６） 手続補正書（方式） 昭和５９年４ 月２６日 １、事件の表示 昭和５８年特許 願第２５０８０８号 ２、発明の名称 画像解析装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （１２５）川崎製鉄株式会社 日本レギュレーター株式会社 ５、補正命令の日付 ・ 昭和５９年３月２７日 ６”補正ｔｎ対象 明細書の「図面の簡単な説明」の欄
、「図面」■、明細書第８頁第１θ行の「第２図は撮像
機から１得た対象領域のオリジナル」を「第２図は撮像
機から得た対象領域における金属組織のオリジナル」に
訂正する。 ２、第８図、第４図を参考写真とし、訂正第８図、５第
４図を加入する。
示す図、 第８図は第２図に示すオリジナル画像から粒界部分を抽
出した結果を示す図、 第４図は第２図に示すオリジナル画像から析出炭化物の
部分を抽出した結果を示す図である。 ゛１・・・＠微
鏡 ２・・・撮像機 ３・・・Ａ／Ｄ変換器 ４・・・介在物、析出物抽出部 ５・・・線要素抽出部 ６・・・テクスチャ抽出部７、
８．９・・・記憶装置 】０・・・定、量化処理部。
′”（６） 手続補正書（方式） 昭和５９年４ 月２６日 １、事件の表示 昭和５８年特許 願第２５０８０８号 ２、発明の名称 画像解析装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （１２５）川崎製鉄株式会社 日本レギュレーター株式会社 ５、補正命令の日付 ・ 昭和５９年３月２７日 ６”補正ｔｎ対象 明細書の「図面の簡単な説明」の欄
、「図面」■、明細書第８頁第１θ行の「第２図は撮像
機から１得た対象領域のオリジナル」を「第２図は撮像
機から得た対象領域における金属組織のオリジナル」に
訂正する。 ２、第８図、第４図を参考写真とし、訂正第８図、５第
４図を加入する。
Claims (1)
- Ｌ 試料の像を撮像してアナログ画像情報を出力する撮
像機と、この撮像機からのアナログへ画像情報を灰調レ
ベルのデジタル画像情報に変換するアナログ／デジタル
変換部と、このアナログ／デジタル変換部で変換された
デジタル画像情報から画像中の複数の要素を各別に抽出
する要素抽出部と、この要素抽出部か１０らの各要素の
情報を各別に記憶する記憶部と、この記憶部に記憶され
た各要素の抽出情報を任意に重ね合わせたり、定量化の
際の条件として利用して画像解析を行なう処理部とから
なることを特徴とする画像解析装置。 ５
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58250303A JPS60142779A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 画像解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58250303A JPS60142779A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 画像解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142779A true JPS60142779A (ja) | 1985-07-27 |
| JPH0522274B2 JPH0522274B2 (ja) | 1993-03-29 |
Family
ID=17205899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58250303A Granted JPS60142779A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 画像解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60142779A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01167636A (ja) * | 1987-12-23 | 1989-07-03 | Nippon Steel Corp | 鋼材の偏析検出方法 |
| CN108072747A (zh) * | 2017-11-10 | 2018-05-25 | 中国航发北京航空材料研究院 | 一种高温合金夹杂面积定量估算方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5544914A (en) * | 1978-09-25 | 1980-03-29 | Omron Tateisi Electronics Co | Automatic blood corpuscle sorting apparatus |
| JPS5677704A (en) * | 1979-11-30 | 1981-06-26 | Hitachi Ltd | Inspection system for surface defect of substance |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP58250303A patent/JPS60142779A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5544914A (en) * | 1978-09-25 | 1980-03-29 | Omron Tateisi Electronics Co | Automatic blood corpuscle sorting apparatus |
| JPS5677704A (en) * | 1979-11-30 | 1981-06-26 | Hitachi Ltd | Inspection system for surface defect of substance |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01167636A (ja) * | 1987-12-23 | 1989-07-03 | Nippon Steel Corp | 鋼材の偏析検出方法 |
| CN108072747A (zh) * | 2017-11-10 | 2018-05-25 | 中国航发北京航空材料研究院 | 一种高温合金夹杂面积定量估算方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0522274B2 (ja) | 1993-03-29 |
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