JPH01163736A - ポジ型感光性樹脂組成物 - Google Patents
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- 239000011342 resin composition Substances 0.000 title claims description 13
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 46
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 46
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 claims abstract description 21
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims abstract description 13
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 claims abstract description 13
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims abstract description 13
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 claims abstract description 11
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims abstract description 9
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 claims abstract description 9
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 23
- 230000015843 photosynthesis, light reaction Effects 0.000 claims description 9
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 claims description 3
- 125000002178 anthracenyl group Chemical group C1(=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C12)* 0.000 claims description 3
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 claims description 3
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 238000007151 ring opening polymerisation reaction Methods 0.000 claims description 2
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- -1 acrylic ester Chemical class 0.000 abstract description 13
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 abstract description 6
- 239000000178 monomer Substances 0.000 abstract description 6
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 abstract description 4
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 abstract description 3
- 238000007142 ring opening reaction Methods 0.000 abstract description 2
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 42
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 39
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 39
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 36
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 34
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 22
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 17
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 13
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 12
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 12
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 12
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 12
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 12
- YFDVQUUMKXZPLK-ZHACJKMWSA-N (ne)-n-(3,4-dihydro-2h-naphthalen-1-ylidene)hydroxylamine Chemical compound C1=CC=C2C(=N/O)/CCCC2=C1 YFDVQUUMKXZPLK-ZHACJKMWSA-N 0.000 description 9
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 9
- QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N Hydroquinone Chemical compound OC1=CC=C(O)C=C1 QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical class C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 8
- MAGFQRLKWCCTQJ-UHFFFAOYSA-N 4-ethenylbenzenesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C1=CC=C(C=C)C=C1 MAGFQRLKWCCTQJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol Natural products OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- CRNNFEKVPRFZKJ-UHFFFAOYSA-N n-fluoren-9-ylidenehydroxylamine Chemical compound C1=CC=C2C(=NO)C3=CC=CC=C3C2=C1 CRNNFEKVPRFZKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 7
- AZUYLZMQTIKGSC-UHFFFAOYSA-N 1-[6-[4-(5-chloro-6-methyl-1H-indazol-4-yl)-5-methyl-3-(1-methylindazol-5-yl)pyrazol-1-yl]-2-azaspiro[3.3]heptan-2-yl]prop-2-en-1-one Chemical compound ClC=1C(=C2C=NNC2=CC=1C)C=1C(=NN(C=1C)C1CC2(CN(C2)C(C=C)=O)C1)C=1C=C2C=NN(C2=CC=1)C AZUYLZMQTIKGSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- OKIZCWYLBDKLSU-UHFFFAOYSA-M N,N,N-Trimethylmethanaminium chloride Chemical compound [Cl-].C[N+](C)(C)C OKIZCWYLBDKLSU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 5
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 5
- JHNRZXQVBKRYKN-VQHVLOKHSA-N (ne)-n-(1-phenylethylidene)hydroxylamine Chemical compound O\N=C(/C)C1=CC=CC=C1 JHNRZXQVBKRYKN-VQHVLOKHSA-N 0.000 description 4
- SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N Butylmethacrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C(C)=C SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VEZUQRBDRNJBJY-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone oxime Chemical compound ON=C1CCCCC1 VEZUQRBDRNJBJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XLLIQLLCWZCATF-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol monomethyl ether acetate Natural products COCCOC(C)=O XLLIQLLCWZCATF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- WHIVNJATOVLWBW-UHFFFAOYSA-N n-butan-2-ylidenehydroxylamine Chemical compound CCC(C)=NO WHIVNJATOVLWBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000002923 oximes Chemical class 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XHZPRMZZQOIPDS-UHFFFAOYSA-N 2-Methyl-2-[(1-oxo-2-propenyl)amino]-1-propanesulfonic acid Chemical class OS(=O)(=O)CC(C)(C)NC(=O)C=C XHZPRMZZQOIPDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethyl acetate Chemical compound CCOCCOC(C)=O SVONRAPFKPVNKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WTQZSMDDRMKJRI-UHFFFAOYSA-N 4-diazoniophenolate Chemical compound [O-]C1=CC=C([N+]#N)C=C1 WTQZSMDDRMKJRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VHEKFTULOYIMSU-UHFFFAOYSA-N 4-ethenylbenzenesulfonyl chloride Chemical compound ClS(=O)(=O)C1=CC=C(C=C)C=C1 VHEKFTULOYIMSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002585 base Substances 0.000 description 3
- CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N butyl acrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C=C CQEYYJKEWSMYFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- WQZMVDQDVKZABW-UHFFFAOYSA-N n-benzhydrylidenehydroxylamine;4-ethenylbenzenesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C1=CC=C(C=C)C=C1.C=1C=CC=CC=1C(=NO)C1=CC=CC=C1 WQZMVDQDVKZABW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- SZHIIIPPJJXYRY-UHFFFAOYSA-M sodium;2-methylprop-2-ene-1-sulfonate Chemical compound [Na+].CC(=C)CS([O-])(=O)=O SZHIIIPPJJXYRY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 125000000542 sulfonic acid group Chemical group 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CUNNCKOPAWXYDX-SFECMWDFSA-N (NZ)-N-[(2Z)-2-hydroxyiminocyclohexylidene]hydroxylamine Chemical compound O\N=C/1\CCCC\C\1=N\O CUNNCKOPAWXYDX-SFECMWDFSA-N 0.000 description 2
- AGBXYHCHUYARJY-UHFFFAOYSA-N 2-phenylethenesulfonic acid Chemical class OS(=O)(=O)C=CC1=CC=CC=C1 AGBXYHCHUYARJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acrylate Chemical compound CCOC(=O)C=C JIGUQPWFLRLWPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N Ethylamine Chemical compound CCN QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M Sodium acetate Chemical compound [Na+].CC([O-])=O VMHLLURERBWHNL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000007259 addition reaction Methods 0.000 description 2
- WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N adipic acid Chemical compound OC(=O)CCCCC(O)=O WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 2
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- ULDHMXUKGWMISQ-UHFFFAOYSA-N carvone Chemical compound CC(=C)C1CC=C(C)C(=O)C1 ULDHMXUKGWMISQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FSEUPUDHEBLWJY-HWKANZROSA-N diacetylmonoxime Chemical compound CC(=O)C(\C)=N\O FSEUPUDHEBLWJY-HWKANZROSA-N 0.000 description 2
- JGFBRKRYDCGYKD-UHFFFAOYSA-N dibutyl(oxo)tin Chemical compound CCCC[Sn](=O)CCCC JGFBRKRYDCGYKD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- SHZIWNPUGXLXDT-UHFFFAOYSA-N ethyl hexanoate Chemical compound CCCCCC(=O)OCC SHZIWNPUGXLXDT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N hexane-1,6-diol Chemical compound OCCCCCCO XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 2
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003821 menstrual periods Effects 0.000 description 2
- DNYZBFWKVMKMRM-UHFFFAOYSA-N n-benzhydrylidenehydroxylamine Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=NO)C1=CC=CC=C1 DNYZBFWKVMKMRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BDJRBEYXGGNYIS-UHFFFAOYSA-N nonanedioic acid Chemical compound OC(=O)CCCCCCCC(O)=O BDJRBEYXGGNYIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N pent‐4‐en‐2‐one Natural products CC(=O)CC=C PNJWIWWMYCMZRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N propylamine Chemical compound CCCN WGYKZJWCGVVSQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000001632 sodium acetate Substances 0.000 description 2
- 235000017281 sodium acetate Nutrition 0.000 description 2
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000011121 sodium hydroxide Nutrition 0.000 description 2
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 2
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 2
- FVQMJJQUGGVLEP-UHFFFAOYSA-N (2-methylpropan-2-yl)oxy 2-ethylhexaneperoxoate Chemical compound CCCCC(CC)C(=O)OOOC(C)(C)C FVQMJJQUGGVLEP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FZENGILVLUJGJX-NSCUHMNNSA-N (E)-acetaldehyde oxime Chemical compound C\C=N\O FZENGILVLUJGJX-NSCUHMNNSA-N 0.000 description 1
- XAAUYUMBCPRWED-NTMALXAHSA-N (nz)-n-[1-(4-methylphenyl)ethylidene]hydroxylamine Chemical compound O/N=C(/C)C1=CC=C(C)C=C1 XAAUYUMBCPRWED-NTMALXAHSA-N 0.000 description 1
- PAOHAQSLJSMLAT-UHFFFAOYSA-N 1-butylperoxybutane Chemical compound CCCCOOCCCC PAOHAQSLJSMLAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGWYICAEPBCRBL-UHFFFAOYSA-N 1h-indene-1-carboxylic acid Chemical compound C1=CC=C2C(C(=O)O)C=CC2=C1 KGWYICAEPBCRBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JKNCOURZONDCGV-UHFFFAOYSA-N 2-(dimethylamino)ethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CN(C)CCOC(=O)C(C)=C JKNCOURZONDCGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000536 2-Acrylamido-2-methylpropane sulfonic acid Chemical class 0.000 description 1
- VXZBYIWNGKSFOJ-UHFFFAOYSA-N 2-[4-[5-(2,3-dihydro-1H-inden-2-ylamino)pyrazin-2-yl]pyrazol-1-yl]-1-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)ethanone Chemical group C1C(CC2=CC=CC=C12)NC=1N=CC(=NC=1)C=1C=NN(C=1)CC(=O)N1CC2=C(CC1)NN=N2 VXZBYIWNGKSFOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QPLIOOUVEMFFTG-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-2-(prop-2-enoylamino)propane-1-sulfonyl chloride Chemical compound ClS(=O)(=O)CC(C)(C)NC(=O)C=C QPLIOOUVEMFFTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEEYSDHEOQHCDA-UHFFFAOYSA-N 2-methylprop-2-ene-1-sulfonic acid Chemical class CC(=C)CS(O)(=O)=O XEEYSDHEOQHCDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FKOZPUORKCHONH-UHFFFAOYSA-N 2-methylpropane-1-sulfonic acid Chemical compound CC(C)CS(O)(=O)=O FKOZPUORKCHONH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YQYGPGKTNQNXMH-UHFFFAOYSA-N 4-nitroacetophenone Chemical compound CC(=O)C1=CC=C([N+]([O-])=O)C=C1 YQYGPGKTNQNXMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XVMSFILGAMDHEY-UHFFFAOYSA-N 6-(4-aminophenyl)sulfonylpyridin-3-amine Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1S(=O)(=O)C1=CC=C(N)C=N1 XVMSFILGAMDHEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005973 Carvone Substances 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- AVXURJPOCDRRFD-UHFFFAOYSA-N Hydroxylamine Chemical compound ON AVXURJPOCDRRFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 239000004115 Sodium Silicate Substances 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZVQCMJNVPIDEA-UHFFFAOYSA-N [CH2]CN(CC)CC Chemical group [CH2]CN(CC)CC MZVQCMJNVPIDEA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TUVYSBJZBYRDHP-UHFFFAOYSA-N acetic acid;methoxymethane Chemical compound COC.CC(O)=O TUVYSBJZBYRDHP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXAJQJMDEXJWFB-UHFFFAOYSA-N acetone oxime Chemical compound CC(C)=NO PXAJQJMDEXJWFB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001361 adipic acid Substances 0.000 description 1
- 235000011037 adipic acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000007859 condensation product Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N di-tert-butyl peroxide Chemical compound CC(C)(C)OOC(C)(C)C LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WEHWNAOGRSTTBQ-UHFFFAOYSA-N dipropylamine Chemical compound CCCNCCC WEHWNAOGRSTTBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- CCGKOQOJPYTBIH-UHFFFAOYSA-N ethenone Chemical compound C=C=O CCGKOQOJPYTBIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SUPCQIBBMFXVTL-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)=C SUPCQIBBMFXVTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002140 halogenating effect Effects 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical group 0.000 description 1
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005457 ice water Substances 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- GREMSEUVNXUQFC-UHFFFAOYSA-N n-(1-anthracen-9-yl-2-phenylethylidene)hydroxylamine Chemical compound C=12C=CC=CC2=CC2=CC=CC=C2C=1C(=NO)CC1=CC=CC=C1 GREMSEUVNXUQFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KAXTWDXRCMICEQ-UHFFFAOYSA-N n-[1-(4-chlorophenyl)ethylidene]hydroxylamine Chemical compound ON=C(C)C1=CC=C(Cl)C=C1 KAXTWDXRCMICEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001971 neopentyl group Chemical group [H]C([*])([H])C(C([H])([H])[H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000000655 nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- UHZYTMXLRWXGPK-UHFFFAOYSA-N phosphorus pentachloride Chemical compound ClP(Cl)(Cl)(Cl)Cl UHZYTMXLRWXGPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
- 229920001083 polybutene Polymers 0.000 description 1
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 235000011118 potassium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 159000000001 potassium salts Chemical class 0.000 description 1
- 150000003141 primary amines Chemical class 0.000 description 1
- UIIIBRHUICCMAI-UHFFFAOYSA-N prop-2-ene-1-sulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)CC=C UIIIBRHUICCMAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 1
- 150000003335 secondary amines Chemical class 0.000 description 1
- 235000017550 sodium carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 235000019795 sodium metasilicate Nutrition 0.000 description 1
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052911 sodium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003381 solubilizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001174 sulfone group Chemical group 0.000 description 1
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 1
- YBBRCQOCSYXUOC-UHFFFAOYSA-N sulfuryl dichloride Chemical compound ClS(Cl)(=O)=O YBBRCQOCSYXUOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003512 tertiary amines Chemical class 0.000 description 1
- 229940073455 tetraethylammonium hydroxide Drugs 0.000 description 1
- LRGJRHZIDJQFCL-UHFFFAOYSA-M tetraethylazanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CC[N+](CC)(CC)CC LRGJRHZIDJQFCL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006337 unsaturated polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
- NLVXSWCKKBEXTG-UHFFFAOYSA-N vinylsulfonic acid Chemical class OS(=O)(=O)C=C NLVXSWCKKBEXTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/039—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は新規なポジ型感光性樹脂組成物にかかり、さら
に詳しくはイミノスルホネート基を含む樹脂からなり、
プリント配線板、集積回路などの製造に用いられる微細
加工用レジスト、あるいは平版印刷版などに有用な新規
ポジ型感光性樹脂組成物に関するものである。
に詳しくはイミノスルホネート基を含む樹脂からなり、
プリント配線板、集積回路などの製造に用いられる微細
加工用レジスト、あるいは平版印刷版などに有用な新規
ポジ型感光性樹脂組成物に関するものである。
従来技術
紫外線などの活性放射線により光分解で可溶性となる所
謂ポジ型感光性樹脂は一般にネガ型の感光性組成物より
も解像力に優れているため、プリント配線板や集積回路
などの製造時のエツチング保護材料として広く実用され
ている。これらポジ型感光性樹脂組成物としてはアルカ
リ可溶性のノボラック樹脂にキノンジアジド化合物を添
加したものがもっとも一般的であるが、素材が縮合重合
法で作られるノボラック樹脂であるため性能上のバラツ
キが大きく、分子量が比較的低いにもかかわらず軟化温
度が高いため、レジストフィルムが脆いとか、キノンジ
アジド化合物を多量に添加するため感度が塩化ゴム系ネ
ガ型のホトレジストより低くなるなどの問題があり、こ
れらを改良するための試みとしてキノンジアジドスルホ
ニル基をジヒドロキシ化合物に組み込んだ化合物(特開
昭58−182632号)あるいはビスフェノール型化
合物とキノンジアジドスルホニルクロライドの縮合物(
特開昭58−203434号)をアルカリ可溶性ノボラ
ック樹脂と組合せて、感度の向上がはかられている。し
かしながらノボラック樹脂を使用することによる欠点は
依然改善されていない。アルカリ可溶性ノボラック樹脂
の代わりにモノオレフィン系不飽和化合物とα、β−エ
チレン性不飽和カルボン酸の共重合体で、数平均分子量
500〜10,000のアクリル樹脂を用い、これとキ
ノンジアジド化合物を組み合わせることも提案されてい
るが(特開昭58−43451号)、フィルム性能の均
一化、レジストの機械的物性、アルカリ現像性のコント
ロールに難点があり、実用化に至っていない。さらにま
た、これらの技術ではキノンジアジド化合物が有機溶媒
には溶解するがアルカリ水溶液には溶解せず、紫外線照
射により同化合物がケテンを経てインデンカルボン酸と
なり、アルカリ水溶液に溶解性となる性質を利用するも
のであるが、キノンジアジドの光分解が吸収波長域40
0nm付近の紫外線により行われることから短波長域の
光線により高分解能を期待し得ないといった問題点をか
かえている。
謂ポジ型感光性樹脂は一般にネガ型の感光性組成物より
も解像力に優れているため、プリント配線板や集積回路
などの製造時のエツチング保護材料として広く実用され
ている。これらポジ型感光性樹脂組成物としてはアルカ
リ可溶性のノボラック樹脂にキノンジアジド化合物を添
加したものがもっとも一般的であるが、素材が縮合重合
法で作られるノボラック樹脂であるため性能上のバラツ
キが大きく、分子量が比較的低いにもかかわらず軟化温
度が高いため、レジストフィルムが脆いとか、キノンジ
アジド化合物を多量に添加するため感度が塩化ゴム系ネ
ガ型のホトレジストより低くなるなどの問題があり、こ
れらを改良するための試みとしてキノンジアジドスルホ
ニル基をジヒドロキシ化合物に組み込んだ化合物(特開
昭58−182632号)あるいはビスフェノール型化
合物とキノンジアジドスルホニルクロライドの縮合物(
特開昭58−203434号)をアルカリ可溶性ノボラ
ック樹脂と組合せて、感度の向上がはかられている。し
かしながらノボラック樹脂を使用することによる欠点は
依然改善されていない。アルカリ可溶性ノボラック樹脂
の代わりにモノオレフィン系不飽和化合物とα、β−エ
チレン性不飽和カルボン酸の共重合体で、数平均分子量
500〜10,000のアクリル樹脂を用い、これとキ
ノンジアジド化合物を組み合わせることも提案されてい
るが(特開昭58−43451号)、フィルム性能の均
一化、レジストの機械的物性、アルカリ現像性のコント
ロールに難点があり、実用化に至っていない。さらにま
た、これらの技術ではキノンジアジド化合物が有機溶媒
には溶解するがアルカリ水溶液には溶解せず、紫外線照
射により同化合物がケテンを経てインデンカルボン酸と
なり、アルカリ水溶液に溶解性となる性質を利用するも
のであるが、キノンジアジドの光分解が吸収波長域40
0nm付近の紫外線により行われることから短波長域の
光線により高分解能を期待し得ないといった問題点をか
かえている。
尚、ポジ型感光性樹脂組成物としては他にもオルトニト
ロカルビノールエステル基を有するポリマーを利用する
技術(例えば特公昭58−2696号、特開昭60−1
7445号など)あるいは光分解で生成する酸を利用し
、第2の光分解反応を生起させて可溶化する方法(例え
ば特開昭55−126236号、特開昭61−1414
42号など)など各種のものが知られているが、前者に
あっては感光性が充分でなく、また後者にあっては経時
安定性が悪いなど種々の欠点があり、いずれも実用化さ
れてはいない。
ロカルビノールエステル基を有するポリマーを利用する
技術(例えば特公昭58−2696号、特開昭60−1
7445号など)あるいは光分解で生成する酸を利用し
、第2の光分解反応を生起させて可溶化する方法(例え
ば特開昭55−126236号、特開昭61−1414
42号など)など各種のものが知られているが、前者に
あっては感光性が充分でなく、また後者にあっては経時
安定性が悪いなど種々の欠点があり、いずれも実用化さ
れてはいない。
発明が解決しようとする問題点
そこで可撓性、密着性に優れた樹脂をベースとし、経時
安定性に優れ、吸収波長域をより短波長域、例えば20
0nmから現在実用化されている400Illまでの広
範囲に変化させることができ、短波長域での高分解能を
期待することができ、解像力に優れたポジ型感光性樹脂
組成物が要望されておりかかる課題に応えることが本発
明目的である。
安定性に優れ、吸収波長域をより短波長域、例えば20
0nmから現在実用化されている400Illまでの広
範囲に変化させることができ、短波長域での高分解能を
期待することができ、解像力に優れたポジ型感光性樹脂
組成物が要望されておりかかる課題に応えることが本発
明目的である。
問題点を解決するための手段
本発明に従えば、上記目的が少なくとも1つの側鎖中あ
るいは主鎖末端に、式 (式中R1およびR2は夫々同一または異なる基で、水
素、アルキル、アシル、フェニル基、ナフチル基、アン
トラセニル基またはベンジル基を表し、あるいはR1と
R2が共同で脂環族環を形成することができる) で表されるイミノスルホネート基を有し、分子中のイミ
ノスルホネート基含量が、 1.5X 10 〜2.
5X 10 当量/gの範囲内にあり、光分解で発生
するスルホン酸で開環重合を起こす官能基を含まない樹
脂からなるポジ型感光性樹脂組成物により達成せられる
。
るいは主鎖末端に、式 (式中R1およびR2は夫々同一または異なる基で、水
素、アルキル、アシル、フェニル基、ナフチル基、アン
トラセニル基またはベンジル基を表し、あるいはR1と
R2が共同で脂環族環を形成することができる) で表されるイミノスルホネート基を有し、分子中のイミ
ノスルホネート基含量が、 1.5X 10 〜2.
5X 10 当量/gの範囲内にあり、光分解で発生
するスルホン酸で開環重合を起こす官能基を含まない樹
脂からなるポジ型感光性樹脂組成物により達成せられる
。
より具体的には上記樹脂はアクリル樹脂、ポリエステル
樹脂、エポキシ樹脂あるいはエポキシ化ポリブタジェン
樹脂からなる骨格樹脂の少なくとも1つの側鎖中あるい
は主鎖末端に上記式(I)で表されるイミノスルホネー
ト基を有し、スルホン酸と反応する官能基、例えばグリ
シジル基を含の基が離脱することによりアルカリ可溶性
となるものである。
樹脂、エポキシ樹脂あるいはエポキシ化ポリブタジェン
樹脂からなる骨格樹脂の少なくとも1つの側鎖中あるい
は主鎖末端に上記式(I)で表されるイミノスルホネー
ト基を有し、スルホン酸と反応する官能基、例えばグリ
シジル基を含の基が離脱することによりアルカリ可溶性
となるものである。
尚、上記のアルカリ可溶目的に対しアクリル樹脂は通常
数平均分子量が約1000〜50.000の範囲内にあ
るもの、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、エポキシ化
ポリブタジェン樹脂は700〜5000の範囲内にある
ものが特に好ましいことも見出されているが、感光基量
あるいはこれら樹脂中に存在せしめうる任意の他官能基
との割合などからこの分子量は流動的であり、要はそれ
自体アルカリ不溶性高分子体で、式(n)の基が離脱せ
しめられた際に実用的な溶解速度でアルカリ可溶ならし
められる限り、またスルホン酸で開環重合せしめられる
エポキシ環などが残存せぬ限り、任意の前記樹脂が好都
合に使用せられる。
数平均分子量が約1000〜50.000の範囲内にあ
るもの、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、エポキシ化
ポリブタジェン樹脂は700〜5000の範囲内にある
ものが特に好ましいことも見出されているが、感光基量
あるいはこれら樹脂中に存在せしめうる任意の他官能基
との割合などからこの分子量は流動的であり、要はそれ
自体アルカリ不溶性高分子体で、式(n)の基が離脱せ
しめられた際に実用的な溶解速度でアルカリ可溶ならし
められる限り、またスルホン酸で開環重合せしめられる
エポキシ環などが残存せぬ限り、任意の前記樹脂が好都
合に使用せられる。
本発明にかかる樹脂は側鎖中あるいは主鎖末端に、
(式中R1、R2は夫々前述せる通り)で表される光分
解性のイミノスルホネート基を有するアルカリ不溶性高
分子体で、スルホン酸により反応する官能基を含まぬ点
で新規−脂である。
解性のイミノスルホネート基を有するアルカリ不溶性高
分子体で、スルホン酸により反応する官能基を含まぬ点
で新規−脂である。
本発明者らは先に、
式
で表されるイミノスルホネート基を有するビニル樹脂が
、テトラヒドロフランなどの溶剤に可溶でフィルムを形
成し、紫外線照射で 基が離脱せしめられ、生成したスルホン酸によりグリシ
ジル基の架橋反応で高分子化され溶剤不溶性となるため
、ネガ型の感光性樹脂として有用であることを見出し、
ジャーナル オブ ポリマーサイエンス Vol、26
.119〜124 (19116)に発表しな。本研
究は上記のイミノスルホネート基の光分解反応をさらに
進展せしめたものであるが、式 (式中R1、R2は夫々前述せる通り)で表されるイミ
ノスルホネート基の光吸収波長域がR1およびR2の置
換基により約200〜400nmの間で変化せしめられ
ること、式 で表される基の離脱により、アルカリ不溶性高分子体が
分子内にスルホン酸基により反応する官能基を含まぬ限
りアルカリ可溶性高分子体に変化せしめられることを見
出し、ポジ型感光性樹脂組成物として極めて有用である
ことを知り、本発明を完成させたものである。尚、本発
明の樹脂は分子内にスルホン酸による反応性の官能基を
含まぬ点において前記ネガ型感光材としてのビニル樹脂
と明確に区別せられる。
、テトラヒドロフランなどの溶剤に可溶でフィルムを形
成し、紫外線照射で 基が離脱せしめられ、生成したスルホン酸によりグリシ
ジル基の架橋反応で高分子化され溶剤不溶性となるため
、ネガ型の感光性樹脂として有用であることを見出し、
ジャーナル オブ ポリマーサイエンス Vol、26
.119〜124 (19116)に発表しな。本研
究は上記のイミノスルホネート基の光分解反応をさらに
進展せしめたものであるが、式 (式中R1、R2は夫々前述せる通り)で表されるイミ
ノスルホネート基の光吸収波長域がR1およびR2の置
換基により約200〜400nmの間で変化せしめられ
ること、式 で表される基の離脱により、アルカリ不溶性高分子体が
分子内にスルホン酸基により反応する官能基を含まぬ限
りアルカリ可溶性高分子体に変化せしめられることを見
出し、ポジ型感光性樹脂組成物として極めて有用である
ことを知り、本発明を完成させたものである。尚、本発
明の樹脂は分子内にスルホン酸による反応性の官能基を
含まぬ点において前記ネガ型感光材としてのビニル樹脂
と明確に区別せられる。
本発明にかかる樹脂は、例えば式
(式中R’lおよびR2は夫々同一または異なる基で、
水素、アルキル、アシル、フェニル基、ナフチル基、ア
ントラセニル基またはベンジル基を表し、あるいはR1
とR2が共同で脂環族環を形成することができる゛) で表されるケトンにヒドロキシルアミンを反応させて得
られる、 で表されるオキシム化合物にα、β−エチレン性不飽和
結合を有するスルホン酸ハライドCHa:CH−Y−5
OzX (V )(式中Xはハロゲン、Y
は有機基) を塩基、例えばピリジンの存在下に反応させて得られる
、式 (式中R1、R2、Yは夫々前述せる通り)で表される
イミノスルホネート基を有するモノマーを用いることに
より、容易に製造することができる。すなわち上記イミ
ノスルホネート基を有するモノマーと、スルホン酸によ
る反応性の官能基を持たないその他のモノオレフィン系
不飽和化合物を共重合せしめることによりアクリル樹脂
が得られるし、また不飽和基を有する多塩基酸を用いて
得られる不飽和ポリエステル樹脂に上記のイミノスルホ
ネート基を有するモノマーを付加反応せしめることによ
りポリエステル樹脂が得られるし、またエポキシ樹脂お
よびエポキシ化ポリブタジェン樹脂の場合には、例えば
アクリル酸などをエポキシ基に反応させてα、β−エチ
レン性不飽和結合を導入し、それに前記のイミノスルホ
ネート基を有するモノマーを付加反応せしめることによ
り好都合に製造せられる。
水素、アルキル、アシル、フェニル基、ナフチル基、ア
ントラセニル基またはベンジル基を表し、あるいはR1
とR2が共同で脂環族環を形成することができる゛) で表されるケトンにヒドロキシルアミンを反応させて得
られる、 で表されるオキシム化合物にα、β−エチレン性不飽和
結合を有するスルホン酸ハライドCHa:CH−Y−5
OzX (V )(式中Xはハロゲン、Y
は有機基) を塩基、例えばピリジンの存在下に反応させて得られる
、式 (式中R1、R2、Yは夫々前述せる通り)で表される
イミノスルホネート基を有するモノマーを用いることに
より、容易に製造することができる。すなわち上記イミ
ノスルホネート基を有するモノマーと、スルホン酸によ
る反応性の官能基を持たないその他のモノオレフィン系
不飽和化合物を共重合せしめることによりアクリル樹脂
が得られるし、また不飽和基を有する多塩基酸を用いて
得られる不飽和ポリエステル樹脂に上記のイミノスルホ
ネート基を有するモノマーを付加反応せしめることによ
りポリエステル樹脂が得られるし、またエポキシ樹脂お
よびエポキシ化ポリブタジェン樹脂の場合には、例えば
アクリル酸などをエポキシ基に反応させてα、β−エチ
レン性不飽和結合を導入し、それに前記のイミノスルホ
ネート基を有するモノマーを付加反応せしめることによ
り好都合に製造せられる。
式(V)で表されるスルホン酸ハライドは容易に入手可
能あるいは合成容易なα、β−エチレン性不飽和結合と
スルホン基を有する化合物、例えばアリルスルホン酸、
メタリルスルホン酸、スチレンスルホン酸、ビニルスル
ホン酸あるいは2−アクリルアミド−2−メチルプロパ
ンスルホン酸のカリウム塩に五塩化燐を反応せしめる方
法(ジャーナル オブ ポリマー サイエンス 21.
781(19♂5))などにより容易に得られる。
能あるいは合成容易なα、β−エチレン性不飽和結合と
スルホン基を有する化合物、例えばアリルスルホン酸、
メタリルスルホン酸、スチレンスルホン酸、ビニルスル
ホン酸あるいは2−アクリルアミド−2−メチルプロパ
ンスルホン酸のカリウム塩に五塩化燐を反応せしめる方
法(ジャーナル オブ ポリマー サイエンス 21.
781(19♂5))などにより容易に得られる。
式(IV)で表わされるオキシムとしては各種の化合物
が公知であり、例えば下記の如きものが有利に用いられ
る。2−プロパノンオキシム、アセトアルドキシム、メ
チルエチルケトオキシム、3−へブタノンオキシム、シ
クロへキサノンオキシム、1.2−シクロヘキサンジオ
ンジオキシム、ビアセチルモノオキシム、アセトフェノ
ンオキシム、P−クロロアセトフェノンオキシム、P−
ニトロアセトフェノンオキシム、0−ニトロアセトフェ
ノンオキシム、P−メチルアセトフェノンオキシム、P
−フユニルアセトフェノンオキシム、ベンゾフェノンオ
キシム、メチルα−ナフチルケトオキシム、9−アント
ラセニルベンジルケトオキシム、テトラロンオキシム、
フルオレノンオキシムなど。上述のイミノスルホネート
基を有するモノマーと用いる代わりに本発明にかかる樹
脂は、例えばスルホン基を側鎖あるいは主鎖末端に有す
る樹脂をハロゲン化し、次いで式1’)で示されるオキ
シム化合物を反応させることにより製造することもでき
る。
が公知であり、例えば下記の如きものが有利に用いられ
る。2−プロパノンオキシム、アセトアルドキシム、メ
チルエチルケトオキシム、3−へブタノンオキシム、シ
クロへキサノンオキシム、1.2−シクロヘキサンジオ
ンジオキシム、ビアセチルモノオキシム、アセトフェノ
ンオキシム、P−クロロアセトフェノンオキシム、P−
ニトロアセトフェノンオキシム、0−ニトロアセトフェ
ノンオキシム、P−メチルアセトフェノンオキシム、P
−フユニルアセトフェノンオキシム、ベンゾフェノンオ
キシム、メチルα−ナフチルケトオキシム、9−アント
ラセニルベンジルケトオキシム、テトラロンオキシム、
フルオレノンオキシムなど。上述のイミノスルホネート
基を有するモノマーと用いる代わりに本発明にかかる樹
脂は、例えばスルホン基を側鎖あるいは主鎖末端に有す
る樹脂をハロゲン化し、次いで式1’)で示されるオキ
シム化合物を反応させることにより製造することもでき
る。
本発明にかかる樹脂には既に述べた如く、式
で表されるイミノスルホネート基が分子中に2.5X
10〜1.5X 10当量/g含まれる必要がある
。というのはイミノスルホネート基量がこの範囲より少
ないと光分解後、アルカリ液処理した場合、樹脂の溶解
性が低く、また上記範囲より多いと溶解性が過度となり
、いずれもシャープなコントラスト増が得られないから
である。
10〜1.5X 10当量/g含まれる必要がある
。というのはイミノスルホネート基量がこの範囲より少
ないと光分解後、アルカリ液処理した場合、樹脂の溶解
性が低く、また上記範囲より多いと溶解性が過度となり
、いずれもシャープなコントラスト増が得られないから
である。
また本発明の樹脂中にはスルホン酸による反応性の官能
基、例えばグリシジル基などをペンダント基として含ん
ではならない。というのはががる基が存在すると光分解
で生成するスルホン酸基が触媒となり、それら官能基が
開環反応し樹脂がアルカリ現像液に溶解せず、ポジ型感
光性樹脂として用い得ぬからである。スルホン酸基によ
り反応しない基は勿論、樹脂中に任意に存在せしめるこ
とができる。
基、例えばグリシジル基などをペンダント基として含ん
ではならない。というのはががる基が存在すると光分解
で生成するスルホン酸基が触媒となり、それら官能基が
開環反応し樹脂がアルカリ現像液に溶解せず、ポジ型感
光性樹脂として用い得ぬからである。スルホン酸基によ
り反応しない基は勿論、樹脂中に任意に存在せしめるこ
とができる。
本発明の樹脂はまた、光分解で
基が分離せしめられるとスルホン酸を生じアルカリ可溶
性ならしめられる。かかる可溶性は、主として使用する
骨格樹脂の分子量により制御せられることが好ましく、
数平均分子量でアクリル樹脂の場合は約1000〜50
,000、ポリエステル、エポキシ、エポキシ化ポリブ
タジェン樹脂の場合は約700〜5000で該目的を達
成することができ、これら分子量範囲のものは樹脂のフ
ロー性、光分解後のアルカリ液溶解性などの点で特に好
ましい。
性ならしめられる。かかる可溶性は、主として使用する
骨格樹脂の分子量により制御せられることが好ましく、
数平均分子量でアクリル樹脂の場合は約1000〜50
,000、ポリエステル、エポキシ、エポキシ化ポリブ
タジェン樹脂の場合は約700〜5000で該目的を達
成することができ、これら分子量範囲のものは樹脂のフ
ロー性、光分解後のアルカリ液溶解性などの点で特に好
ましい。
本発明の樹脂はいずれも活性放射線によりキシムの種類
により光吸収極大波長を約200〜40Onmの範囲内
に自由に選定しうる特徴を有するすなわちオキシムとし
て例えば2−プロパノンオキシムを選定した場合の吸収
極大は190nm;シクロへキサノンオキシムでは19
2nm; 1,2−シクロヘキサンジオンジオキシムで
は237nm;ビアセチルモノオキシムでは228nm
;アセトフェノンオキシムでは242nm; ベンゾ
フェノンオキシムでは252nm;フルオレノンオキシ
ムでは254nm、360nm;テトラロンオキシムで
は254nm の如く吸収極大長域が異なるので露光
装置に合わせて樹脂の選択が可能であり、また一般的に
短波長域の活性光線を用いることにより高解像度の良好
なポジ像を得ることができる。
により光吸収極大波長を約200〜40Onmの範囲内
に自由に選定しうる特徴を有するすなわちオキシムとし
て例えば2−プロパノンオキシムを選定した場合の吸収
極大は190nm;シクロへキサノンオキシムでは19
2nm; 1,2−シクロヘキサンジオンジオキシムで
は237nm;ビアセチルモノオキシムでは228nm
;アセトフェノンオキシムでは242nm; ベンゾ
フェノンオキシムでは252nm;フルオレノンオキシ
ムでは254nm、360nm;テトラロンオキシムで
は254nm の如く吸収極大長域が異なるので露光
装置に合わせて樹脂の選択が可能であり、また一般的に
短波長域の活性光線を用いることにより高解像度の良好
なポジ像を得ることができる。
本発明の感光性樹脂組成物は各種溶媒に溶解して作られ
るが、例えば溶媒としてエチレングリコールモノエチル
エーテル、エチレングリコールモノブチルエーテルなど
のグリコールエーテル類;エチレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチル
エーテルアセテートなどのセロソルブエステル類;トル
エン、キシレンなどの芳香族炭化水素類;メチルエチル
ケトン、シクロヘキサノンなどのケトン類;酢酸エチル
、酢酸ブチルなどのエステル類を挙げることができる。
るが、例えば溶媒としてエチレングリコールモノエチル
エーテル、エチレングリコールモノブチルエーテルなど
のグリコールエーテル類;エチレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチル
エーテルアセテートなどのセロソルブエステル類;トル
エン、キシレンなどの芳香族炭化水素類;メチルエチル
ケトン、シクロヘキサノンなどのケトン類;酢酸エチル
、酢酸ブチルなどのエステル類を挙げることができる。
本発明の感光性樹脂組成物の現象液には水酸化ナトリウ
ム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、メタケイ酸ナト
リウムなどの無機アルカリ類;エチルアミン、n−プロ
ピルアミンなどの第一級アミン類;ジェタノールアミン
、ジー1−プロピルアミンなどの第二級アミン類;トリ
エチルアミン、トリエタノールアミンなどの第三級アミ
ン類;テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ
エチルアンモニウムヒドロキシドなどの第四級アンモニ
ウム塩等のアルカリ類の水溶液が用いられる。
ム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、メタケイ酸ナト
リウムなどの無機アルカリ類;エチルアミン、n−プロ
ピルアミンなどの第一級アミン類;ジェタノールアミン
、ジー1−プロピルアミンなどの第二級アミン類;トリ
エチルアミン、トリエタノールアミンなどの第三級アミ
ン類;テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ
エチルアンモニウムヒドロキシドなどの第四級アンモニ
ウム塩等のアルカリ類の水溶液が用いられる。
本発明にかかる樹脂組成物はいずれも可撓性に富み、従
って基材との密着性に優れ、感光基が樹脂中に組み込ま
れているため経時安定性に優れ、吸収波長を200〜4
00nm までに自由に変更可能で短波長域では高分
解能であり、解像力に優れたポジ型感光性樹脂組成物と
なり、プリント配線板集積回路などの製造での微細レジ
スト、平版印刷版での感光材として極めて有用である。
って基材との密着性に優れ、感光基が樹脂中に組み込ま
れているため経時安定性に優れ、吸収波長を200〜4
00nm までに自由に変更可能で短波長域では高分
解能であり、解像力に優れたポジ型感光性樹脂組成物と
なり、プリント配線板集積回路などの製造での微細レジ
スト、平版印刷版での感光材として極めて有用である。
以下、実施例により本発明を説明する。実施例において
使用されている部および%は、特に言及されていない限
りいずれも重量による。
使用されている部および%は、特に言及されていない限
りいずれも重量による。
以下余白
合成例1
内容積50omlのセパラブルフラスコにピリジン25
0部、テトラロンオキシム96部を加え10℃以下に冷
却し、p−スチレンスルホニルクロライド120部を徐
々に滴下し、20℃以下で3時間反応した。内容物を5
%塩酸氷水中2500部に滴下攪拌し、クロロホルム5
00部を加えて抽出した後、溶媒を減圧除去し反応生成
物を得。
0部、テトラロンオキシム96部を加え10℃以下に冷
却し、p−スチレンスルホニルクロライド120部を徐
々に滴下し、20℃以下で3時間反応した。内容物を5
%塩酸氷水中2500部に滴下攪拌し、クロロホルム5
00部を加えて抽出した後、溶媒を減圧除去し反応生成
物を得。
IR,NMRスペクトルよりテトラロンオキシムp−ス
チレンスルホネートであることを確認した内容積IJL
のセパラブルフラスコに無水マレイン酸73.5部、ア
ジピン酸110部、ネオペンチルゲルコール295部、
キシレン14部、ジブチル錫オキシド0.2部を加え、
140℃に昇温して1時間保った後、3時間かけて20
0℃まで内温を上げ、カルボン酸の酸価が20になるま
で反応をつづけた。これを80℃まで下げてからキシレ
ン160部とエチレングリコールモツプチルエーテル8
0部を加え、別に調整したスチレン20部と上記a)で
得られたテトラロンオキシムp−スチレンスルホネート
140部、t−ブチルパーオキシ2−エチルヘキサノエ
ート9部とジーを一ブチルバーオキシド4.5部の混合
液を滴下し140℃で3時間反応し分子量約3200、
固形分70.4%のイミスルホネート基を有する変性ポ
リエステル樹脂が得られた。
チレンスルホネートであることを確認した内容積IJL
のセパラブルフラスコに無水マレイン酸73.5部、ア
ジピン酸110部、ネオペンチルゲルコール295部、
キシレン14部、ジブチル錫オキシド0.2部を加え、
140℃に昇温して1時間保った後、3時間かけて20
0℃まで内温を上げ、カルボン酸の酸価が20になるま
で反応をつづけた。これを80℃まで下げてからキシレ
ン160部とエチレングリコールモツプチルエーテル8
0部を加え、別に調整したスチレン20部と上記a)で
得られたテトラロンオキシムp−スチレンスルホネート
140部、t−ブチルパーオキシ2−エチルヘキサノエ
ート9部とジーを一ブチルバーオキシド4.5部の混合
液を滴下し140℃で3時間反応し分子量約3200、
固形分70.4%のイミスルホネート基を有する変性ポ
リエステル樹脂が得られた。
合成例2
合成例1a)におけるテトラロンオキシム96部をアセ
トフェノンオキシム81部、p−スチレンスルホニルク
ロライド120部を2−アクリルアミド−2−メチルプ
ロパンスルホニルクロライド140部にそれぞれ替えて
合成例1a)と同様の操作を行うことより、アセトフェ
ノンオキシム2−アクリルアミド−2−メチルプロパン
スルホネートが得られた。
トフェノンオキシム81部、p−スチレンスルホニルク
ロライド120部を2−アクリルアミド−2−メチルプ
ロパンスルホニルクロライド140部にそれぞれ替えて
合成例1a)と同様の操作を行うことより、アセトフェ
ノンオキシム2−アクリルアミド−2−メチルプロパン
スルホネートが得られた。
内容積2Lのセパラブルフラスコに無水マレイン酸73
.5部、アゼライン酸141部、水添ビスフェノールA
240部、1.6ヘキサンジオ一ル118部、キシレン
20部、ジブチル錫オキシド0.2部を加え140℃に
昇温して1時間保った後、3時間かけて200℃まで内
湯を上げ、カルボン酸の酸価が30になるまで反応をつ
づけたこれを80℃まで下げてからキシレン200部と
エチレングリコールモノブチルエーテル90部を加え、
別に調製したスチレン20部と上記a)で得られたアセ
トフェノンオキシム2−アクリルアミド2−メチルプロ
パンスルホネート162部、t−ブチルパーオキシ2−
エチルヘキサノエート9部とジ−t−ブチルパーオキシ
ド4.5部の混合液を滴下し140℃で3時間反応し分
子量約3000、固形分70,0%のイミノスルホネー
ト基を有する変性ポリエステル樹脂が得られた。
.5部、アゼライン酸141部、水添ビスフェノールA
240部、1.6ヘキサンジオ一ル118部、キシレン
20部、ジブチル錫オキシド0.2部を加え140℃に
昇温して1時間保った後、3時間かけて200℃まで内
湯を上げ、カルボン酸の酸価が30になるまで反応をつ
づけたこれを80℃まで下げてからキシレン200部と
エチレングリコールモノブチルエーテル90部を加え、
別に調製したスチレン20部と上記a)で得られたアセ
トフェノンオキシム2−アクリルアミド2−メチルプロ
パンスルホネート162部、t−ブチルパーオキシ2−
エチルヘキサノエート9部とジ−t−ブチルパーオキシ
ド4.5部の混合液を滴下し140℃で3時間反応し分
子量約3000、固形分70,0%のイミノスルホネー
ト基を有する変性ポリエステル樹脂が得られた。
合成例3
内容積1.Lのセパラブルフラスコにエチレングリコー
ルモノブチルエーテル250部を加え120℃に昇温し
な。メタクリル酸メチル150部、アクリル酸n−ブチ
ル200部、合成例2a)で得られたアセトフェノオキ
シム2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホネ
ート50部およびアゾビスイソブチロニトリル8部の混
合液を3時間かけて滴下した後、30分経過してからエ
チレングリコールモノブチルエーテル30部、アゾビス
イソブチロニトリル1部の混合液を30分で滴下し、同
温度で1時間反応し、分子量約20゜000、固形分5
8.0%のイミノスルホネート基を有するアクリル樹脂
が得られた。
ルモノブチルエーテル250部を加え120℃に昇温し
な。メタクリル酸メチル150部、アクリル酸n−ブチ
ル200部、合成例2a)で得られたアセトフェノオキ
シム2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホネ
ート50部およびアゾビスイソブチロニトリル8部の混
合液を3時間かけて滴下した後、30分経過してからエ
チレングリコールモノブチルエーテル30部、アゾビス
イソブチロニトリル1部の混合液を30分で滴下し、同
温度で1時間反応し、分子量約20゜000、固形分5
8.0%のイミノスルホネート基を有するアクリル樹脂
が得られた。
合成例4
合成例1a)におけるテトラロンオキシム96部をフル
オレノンオキシム117部に替えて合成例1. a )
と同様の操作を行うことにより、フルオレノンオキシム
p−スチレンスルホネートが得られた。
オレノンオキシム117部に替えて合成例1. a )
と同様の操作を行うことにより、フルオレノンオキシム
p−スチレンスルホネートが得られた。
内容積11のセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノブチルエーテル200部を加え120℃に昇温した
。メタクリル酸エチル140部、メタクリル酸n−ブチ
ル60部、上記a)で得られたフルオレノンオキシムp
−スチレンスルホネート50部およびアゾビスイソブチ
ロニトリル8部の混合液を3時間かけて滴下した後、3
0分経過してからエチレングリコールモノブチルエーテ
ル30部、アゾビスイソブチロニトリル1部の混合液を
30分で滴下し、同温度で1時間反応し、分子量約30
,000、固形分51.1%のイミノスルホネート基を
有するアクリル樹脂が得られた。
モノブチルエーテル200部を加え120℃に昇温した
。メタクリル酸エチル140部、メタクリル酸n−ブチ
ル60部、上記a)で得られたフルオレノンオキシムp
−スチレンスルホネート50部およびアゾビスイソブチ
ロニトリル8部の混合液を3時間かけて滴下した後、3
0分経過してからエチレングリコールモノブチルエーテ
ル30部、アゾビスイソブチロニトリル1部の混合液を
30分で滴下し、同温度で1時間反応し、分子量約30
,000、固形分51.1%のイミノスルホネート基を
有するアクリル樹脂が得られた。
合成例5
合成例1a)におけるテトラロンオキシム96部をメチ
ルエチルケトオキシム50部、p−スチレンスルホニル
クロライド120部をメタリルスルホニルクロライド9
5部にそれぞれ替えて合成例1a)と同様の操作を行う
ことにより、メチルエチルケトオキシムメタリルスルホ
ネートが得られた。
ルエチルケトオキシム50部、p−スチレンスルホニル
クロライド120部をメタリルスルホニルクロライド9
5部にそれぞれ替えて合成例1a)と同様の操作を行う
ことにより、メチルエチルケトオキシムメタリルスルホ
ネートが得られた。
内容積11のセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノブチルエーテル200部を加え120℃に昇温しな
。メタクリル酸メチル118部、メタクリル酸n−ブチ
ル38部、アクリル酸エチル44部、上記a)で得られ
たメチ゛ルエチルケドオキシムメタリルスルホネート3
0部およびアゾビスイソブチロニトリル12部の混合液
を3時間かけて滴下した後、30分経過してからエチレ
ングリコールモノブチルエーテル30部、アゾビスイソ
ブチロニトリル1部の混合液を30分で滴下し、同温度
で1時間反応し、分子量約5000、固形分48.6%
のイミノスルホネート基を有するアクリル樹脂が得られ
た。
モノブチルエーテル200部を加え120℃に昇温しな
。メタクリル酸メチル118部、メタクリル酸n−ブチ
ル38部、アクリル酸エチル44部、上記a)で得られ
たメチ゛ルエチルケドオキシムメタリルスルホネート3
0部およびアゾビスイソブチロニトリル12部の混合液
を3時間かけて滴下した後、30分経過してからエチレ
ングリコールモノブチルエーテル30部、アゾビスイソ
ブチロニトリル1部の混合液を30分で滴下し、同温度
で1時間反応し、分子量約5000、固形分48.6%
のイミノスルホネート基を有するアクリル樹脂が得られ
た。
合成例6
内容積IJ−のセパラブルフラスコにエチレングリコー
ルモノブチルエーテル250部を加え100℃に昇温し
な。メタクリル酸メチル100部、メタクリル酸ジメチ
ルアミノエチル160部、アクリル酸エチル25部、合
成例4a>で得られたフルオレノンオキシムp−スチレ
ンスルホネート50部およびアゾビスイソブチロニトリ
ル8部の混合液を4時間かけて滴下した後、30分経過
してから、エチレングリコールモノブチルエーテル50
部、アゾビスイソブチロニトリル1部の混合液を30分
で滴下し、同温度で1時間反応し、分子量約50,00
0、固形分52.0%のイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂が得られた。
ルモノブチルエーテル250部を加え100℃に昇温し
な。メタクリル酸メチル100部、メタクリル酸ジメチ
ルアミノエチル160部、アクリル酸エチル25部、合
成例4a>で得られたフルオレノンオキシムp−スチレ
ンスルホネート50部およびアゾビスイソブチロニトリ
ル8部の混合液を4時間かけて滴下した後、30分経過
してから、エチレングリコールモノブチルエーテル50
部、アゾビスイソブチロニトリル1部の混合液を30分
で滴下し、同温度で1時間反応し、分子量約50,00
0、固形分52.0%のイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂が得られた。
合成例7
合成例1a)におけるテトラロンオキシム96部をベン
シフ千ノンオキシム116部に替えて合成例1a)と同
様の操作を行うことにより、ベンゾフェノンオキシムp
−スチレンスルホネートが得られた。
シフ千ノンオキシム116部に替えて合成例1a)と同
様の操作を行うことにより、ベンゾフェノンオキシムp
−スチレンスルホネートが得られた。
内容積ILのセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノブチルエーテル250部を加え100℃に昇温した
。メタクリル酸メチル100部、メタシル酸ジエチルア
ミノエチル250部、アクリル酸n−ブチル50部、上
記a)で得られたベンゾフェノンオキシムp−スチレン
スルホネート70部およびアゾビスイソブチロニトリル
12部の混合液を4時間かけて滴下した後、30分経過
してから、エチレングリコールモノブチルエーテル10
0部、アゾビスイソブチロニトリル2部の混合液を30
分で滴下し、同温度で1時間反応し分子量的20,00
0固形分56.4%、のイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂が得られた。
モノブチルエーテル250部を加え100℃に昇温した
。メタクリル酸メチル100部、メタシル酸ジエチルア
ミノエチル250部、アクリル酸n−ブチル50部、上
記a)で得られたベンゾフェノンオキシムp−スチレン
スルホネート70部およびアゾビスイソブチロニトリル
12部の混合液を4時間かけて滴下した後、30分経過
してから、エチレングリコールモノブチルエーテル10
0部、アゾビスイソブチロニトリル2部の混合液を30
分で滴下し、同温度で1時間反応し分子量的20,00
0固形分56.4%、のイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂が得られた。
合成例8
内容積11のセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノブチルエーテル250部を加え120℃に昇温しな
。メタクリル酸メチル180部、メタクリル酸26部、
アクリル酸n−ブチル130部、合成例1a)で得られ
たテトラロンオキシムp−スチレンスルホネート70部
およびアゾビスイソブチロニトリル8部の混合液を4時
間かけて滴下した後、30分経過してから、エチレング
リコールモノブチルエーテル50部、アゾビスイソブチ
ロニトリル1部の混合液を30分で滴下し。
モノブチルエーテル250部を加え120℃に昇温しな
。メタクリル酸メチル180部、メタクリル酸26部、
アクリル酸n−ブチル130部、合成例1a)で得られ
たテトラロンオキシムp−スチレンスルホネート70部
およびアゾビスイソブチロニトリル8部の混合液を4時
間かけて滴下した後、30分経過してから、エチレング
リコールモノブチルエーテル50部、アゾビスイソブチ
ロニトリル1部の混合液を30分で滴下し。
同温度で1時間反応し、分子量的40,000、固形分
56.8%、ワニス酸価23.5のイミノスルホネート
基を有するアクリル樹脂が得られた合成例9 内容積ILのセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノエチルエーテルアセ−1−150部、エポキシ当量
950のビスフェノールAタイプのエポキシ樹脂285
部を加え150℃で”溶解させ温度を100℃に下げて
から、メタクリル酸26部、塩化テトラメチルアンモニ
ウム3部、ハイドロキノン0.02部を加えて2時間反
応した。温度を80℃に下げ合成例5a)で得られたメ
チルエチルケトオキシムメタリルスルホネート67部。
56.8%、ワニス酸価23.5のイミノスルホネート
基を有するアクリル樹脂が得られた合成例9 内容積ILのセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノエチルエーテルアセ−1−150部、エポキシ当量
950のビスフェノールAタイプのエポキシ樹脂285
部を加え150℃で”溶解させ温度を100℃に下げて
から、メタクリル酸26部、塩化テトラメチルアンモニ
ウム3部、ハイドロキノン0.02部を加えて2時間反
応した。温度を80℃に下げ合成例5a)で得られたメ
チルエチルケトオキシムメタリルスルホネート67部。
ジオキサン150部およびアゾビスイソブチロニトリル
5部の混合液を2時間かけて滴下した後、分子量的22
00、固形分55.1%のイミノスルホネート基を有す
るエポキシ樹脂が得られた。
5部の混合液を2時間かけて滴下した後、分子量的22
00、固形分55.1%のイミノスルホネート基を有す
るエポキシ樹脂が得られた。
合成例10
内容積IJLのセパラブルフラスコにエチレングリコー
ルモノエチルエーテルアセテート200部エポキシ当量
1900のビスフェノールAタイプのエポキシ樹脂38
0部を加え150℃で溶解させ、温度を100℃に下げ
てから、メタクリル酸18部、塩化テトラメチルアンモ
ニウム3部、ハイドロキノン0.02部を加えて2時間
反応した温度を80℃に下げ合成例7a)で得られたテ
トラロンオキシムp−スチレンスルホネート66部ジオ
キサン150部およびアゾビスイソブチロニトリル5部
の混合液を2時間かけて滴下した後、分子量的3700
、固形分56.4%のイミノスルホネート基を有するエ
ポキシ樹脂がえられた。
ルモノエチルエーテルアセテート200部エポキシ当量
1900のビスフェノールAタイプのエポキシ樹脂38
0部を加え150℃で溶解させ、温度を100℃に下げ
てから、メタクリル酸18部、塩化テトラメチルアンモ
ニウム3部、ハイドロキノン0.02部を加えて2時間
反応した温度を80℃に下げ合成例7a)で得られたテ
トラロンオキシムp−スチレンスルホネート66部ジオ
キサン150部およびアゾビスイソブチロニトリル5部
の混合液を2時間かけて滴下した後、分子量的3700
、固形分56.4%のイミノスルホネート基を有するエ
ポキシ樹脂がえられた。
合成例11
内容積ILのセパラブルフラスコにエチレングリコール
モノエチルエーテルアセテート180部。
モノエチルエーテルアセテート180部。
エポキシ当量950のビスフェノールAタイプのエポキ
シ樹脂285部を加え150℃で溶解させ温度を100
℃に下げてから、アクリル酸22部、塩化テトラメチル
アンモ乎つム3部、メトキノン0.02部を加えて2時
間反応した。温度を80℃に下げ合成例2a)で得られ
たアセトフェノオキシム2−アクリルアミド−2−メチ
ルプロパンスルホネート97部、ジオキサン140部お
よびアゾビスイソブチロニトリル5部の混合液を2時間
かけて滴下した後、分子量的2000.固形分55.2
%のイミスルホネート基を有するエポキシ樹脂が得られ
た。
シ樹脂285部を加え150℃で溶解させ温度を100
℃に下げてから、アクリル酸22部、塩化テトラメチル
アンモ乎つム3部、メトキノン0.02部を加えて2時
間反応した。温度を80℃に下げ合成例2a)で得られ
たアセトフェノオキシム2−アクリルアミド−2−メチ
ルプロパンスルホネート97部、ジオキサン140部お
よびアゾビスイソブチロニトリル5部の混合液を2時間
かけて滴下した後、分子量的2000.固形分55.2
%のイミスルホネート基を有するエポキシ樹脂が得られ
た。
合成例12
内容積11のセパラブルフラスコに出光ポリブタジェン
R−45EPT(出光石油化学社製、エポキシ化ポリブ
タジェン)435部、エチレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート150部を加え100℃で溶解させ、
アクリル酸22部。
R−45EPT(出光石油化学社製、エポキシ化ポリブ
タジェン)435部、エチレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート150部を加え100℃で溶解させ、
アクリル酸22部。
塩化テトラメチルアンモニウム3部、ハイドロキノン0
.02部を加えて2時間反応した。温度を80℃に下げ
合成例4a)で得られたフルオレノンオキシムp−スチ
レンスルホネート120部、ジオキサン150部および
アゾビスイソブチウニトル5部の混合液を2時間かけて
滴下した後、分子量約4000固形分65.2%のイミ
ノスルホネート基を有するポリブタジェン樹脂が得られ
た合成例13 内容積ILのセパラブルフラスコに出光ポリブタジェン
R−45EPT (出光石油化学社製、エポキシ化ポリ
ブタジェン)290部、エチレングリコールモノメチル
エーテルアセテート150部を加え100℃で溶解させ
、メタクリル酸17部塩化テトラメチルアンモニウム2
部、ハイドロキノン0.02部を加えて2時間反応した
。温度を80℃に下げ合成例7a)で得られたベンゾフ
ェノンオキシムp−スチレンスルホネート73部、ジオ
キサン150部およびアゾビスイソブチロニトリル4部
の混合液を2時間かけて滴下した後、分子量約3600
固形分55.4%のイミノスルホネート基を有するポリ
ブタジェン樹脂が得られた。
.02部を加えて2時間反応した。温度を80℃に下げ
合成例4a)で得られたフルオレノンオキシムp−スチ
レンスルホネート120部、ジオキサン150部および
アゾビスイソブチウニトル5部の混合液を2時間かけて
滴下した後、分子量約4000固形分65.2%のイミ
ノスルホネート基を有するポリブタジェン樹脂が得られ
た合成例13 内容積ILのセパラブルフラスコに出光ポリブタジェン
R−45EPT (出光石油化学社製、エポキシ化ポリ
ブタジェン)290部、エチレングリコールモノメチル
エーテルアセテート150部を加え100℃で溶解させ
、メタクリル酸17部塩化テトラメチルアンモニウム2
部、ハイドロキノン0.02部を加えて2時間反応した
。温度を80℃に下げ合成例7a)で得られたベンゾフ
ェノンオキシムp−スチレンスルホネート73部、ジオ
キサン150部およびアゾビスイソブチロニトリル4部
の混合液を2時間かけて滴下した後、分子量約3600
固形分55.4%のイミノスルホネート基を有するポリ
ブタジェン樹脂が得られた。
実施例1
合成例1b)で得られたイミノスルホネート基を有する
変性ポリエステル樹脂40部をエチレンフグリコールモ
ノエチルエーテル40部とメチルエチルケトン40部の
混合溶媒に溶解し、孔径0゜2)Lmのミリポアフィル
タ−で濾過して感光液を調製した。このようにして調製
した感光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェ
ハー上に塗布した後、80℃出10分オーブン中で乾燥
し、膜厚1.3八mの塗膜を得た。
変性ポリエステル樹脂40部をエチレンフグリコールモ
ノエチルエーテル40部とメチルエチルケトン40部の
混合溶媒に溶解し、孔径0゜2)Lmのミリポアフィル
タ−で濾過して感光液を調製した。このようにして調製
した感光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェ
ハー上に塗布した後、80℃出10分オーブン中で乾燥
し、膜厚1.3八mの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
254部mでの光強度が約10 mW/ Cmzである
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
したところ、電子顕微鏡による観察によって0.8.%
mのラインアンドスペースまで解像され、またレジスト
の剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3
ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が
得られた。
254部mでの光強度が約10 mW/ Cmzである
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
したところ、電子顕微鏡による観察によって0.8.%
mのラインアンドスペースまで解像され、またレジスト
の剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3
ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が
得られた。
実施例2
合成例2b)で得られたイミノスルホネート基を有する
変性ポリエステル樹脂40部をエチレングリコールモノ
エチルエーテル40部とメチルエチルケトン40部の混
合溶媒に溶解し、孔径0゜2%mのミリポアフィルタ−
で濾過して感光液を調製した。このようにして調製した
感光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー
上に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、
膜厚1.3)tmの塗膜を得た。
変性ポリエステル樹脂40部をエチレングリコールモノ
エチルエーテル40部とメチルエチルケトン40部の混
合溶媒に溶解し、孔径0゜2%mのミリポアフィルタ−
で濾過して感光液を調製した。このようにして調製した
感光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー
上に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、
膜厚1.3)tmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し2
54部mでの光強度が約10 mW/ cm である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
したところ、電子顕微鏡による観察によって0.9%m
のラインアンドスペースまで解像され、またレジストの
剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ
月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得
られた。
54部mでの光強度が約10 mW/ cm である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
したところ、電子顕微鏡による観察によって0.9%m
のラインアンドスペースまで解像され、またレジストの
剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ
月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得
られた。
実施例3
合成例3b)で得られたイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル26部とメチルエチルケトン26部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2.gmのミリポアフィルタ−で濾過
して感光液を調製した。
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル26部とメチルエチルケトン26部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2.gmのミリポアフィルタ−で濾過
して感光液を調製した。
このようにして調製した感光液をスピンナーを使用して
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1.3)tmの塗膜を得た
。
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1.3)tmの塗膜を得た
。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
254部mでの光強度が約10 mW/ cm”である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25°C160秒間現
像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.7.
%mのラインアンドスペースまで解像され、またレジス
トの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の
3ケ月経過後の評価を行ったところ、上記と同様の結果
が得られた。
254部mでの光強度が約10 mW/ cm”である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25°C160秒間現
像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.7.
%mのラインアンドスペースまで解像され、またレジス
トの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の
3ケ月経過後の評価を行ったところ、上記と同様の結果
が得られた。
実施例4
合成例4b)で得られたイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル25部とメチルエチルケトン25部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2//mのミリポアフィルタ−で濾過
して感光液を調製した。
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル25部とメチルエチルケトン25部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2//mのミリポアフィルタ−で濾過
して感光液を調製した。
このようにして調製した感光液をスピンナーを使用して
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1,2メmの塗膜を得た。
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1,2メmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
365nmでの光強度が約5mW/cm である低圧
水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像した
ところ、電子顕微鏡による観察によって0.6%mのラ
インアンドスペースまで解像され、またレジストの剥離
、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ月経
時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得られ
た。
365nmでの光強度が約5mW/cm である低圧
水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像した
ところ、電子顕微鏡による観察によって0.6%mのラ
インアンドスペースまで解像され、またレジストの剥離
、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ月経
時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得られ
た。
実施例5
合成例5b)で得られたイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂50部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル30部とメチルエチルケトン30部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2//−mのミリポアフィルタ−で濾
過して感光液を調製した。
アクリル樹脂50部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル30部とメチルエチルケトン30部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2//−mのミリポアフィルタ−で濾
過して感光液を調製した。
このようにして調製した感光液をスピンナーを使用して
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1,3メmの塗膜を得た。
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1,3メmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
254nmでの光強度が約10 mW/ am2である
低圧水銀ランプを100秒間照射し、2%テトラメチル
アンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現
像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.7f
imのラインアンドスペースまで解像され、またレジス
トの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の
3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果
が得られた。
254nmでの光強度が約10 mW/ am2である
低圧水銀ランプを100秒間照射し、2%テトラメチル
アンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現
像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.7f
imのラインアンドスペースまで解像され、またレジス
トの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の
3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果
が得られた。
実権例6
合成例6b)で得られたイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル20部とメチルエチルトン24部の混合溶媒に溶
解し、孔径0.2%mのミリポアフィルタ−で濾過して
感光液を調製した。
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル20部とメチルエチルトン24部の混合溶媒に溶
解し、孔径0.2%mのミリポアフィルタ−で濾過して
感光液を調製した。
このようにして調製した感光液をスピンナーを使用して
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1.2メmの塗膜を得た。
シリコン酸化膜ウェハー上に塗布した後、80℃で10
分オーブン中で乾燥し、膜厚1.2メmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
365nmでの光強度が約5mW/cm”である高圧水
銀ランプを40秒間照射し、066%酢酸水溶液と0,
8%酢酸ナトリウム水溶液の重量比1:2の混合液で2
5℃、60秒間現像したところ、電子顕微鏡による観察
によって0.7%mのラインアンドスペースまで解像さ
れまたレジストの剥離、割れは認められなかった。また
この感光液の3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記
と同様の結果が得られた。
365nmでの光強度が約5mW/cm”である高圧水
銀ランプを40秒間照射し、066%酢酸水溶液と0,
8%酢酸ナトリウム水溶液の重量比1:2の混合液で2
5℃、60秒間現像したところ、電子顕微鏡による観察
によって0.7%mのラインアンドスペースまで解像さ
れまたレジストの剥離、割れは認められなかった。また
この感光液の3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記
と同様の結果が得られた。
実施例7
合成例7b)で得られたイミノスルホネート基を有する
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル26部とメチルエチルケトン26部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2 、A’ mのミリポアフィルタ−
で濾過して感光液を調製したこのようにして調製した感
光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上
に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜
厚1.3ガmの塗膜を得た。
アクリル樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル26部とメチルエチルケトン26部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2 、A’ mのミリポアフィルタ−
で濾過して感光液を調製したこのようにして調製した感
光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上
に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜
厚1.3ガmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
254nmでの光強度が約10 mW/ cm″である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、0.6%酢酸水溶液
と0.8%酢酸ナトリウム水溶液の重量比1:2の混合
液で25℃60秒間現像したところ、電子顕微鏡による
観察によって0.61mのラインアンドスペースまで解
像され、またレジストの剥離、割れは認められなかった
。またこの感光液の3ケ月経時後の評価を行ったところ
上記と同様の結果が得られた。
254nmでの光強度が約10 mW/ cm″である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、0.6%酢酸水溶液
と0.8%酢酸ナトリウム水溶液の重量比1:2の混合
液で25℃60秒間現像したところ、電子顕微鏡による
観察によって0.61mのラインアンドスペースまで解
像され、またレジストの剥離、割れは認められなかった
。またこの感光液の3ケ月経時後の評価を行ったところ
上記と同様の結果が得られた。
実施例8
合成例8b)で得られたイミスルホネート基を有するア
クリル樹脂100部にトリエチルアミン4部を添加し、
脱イオン水280部を攪拌下徐々に加え、電着液を得た
。
クリル樹脂100部にトリエチルアミン4部を添加し、
脱イオン水280部を攪拌下徐々に加え、電着液を得た
。
次いでスルーホールを有する銅メツキされたプリント回
路基板を電着液の中に浸漬し、回路基板に正電極を、対
極として負電極を接続し、50Vの直流電圧を2分間印
荷して約7 、A’ mのアニオン性ポジ型感光性樹脂
被膜を回路基板上に析出させ水洗後100°Cで5分間
乾燥させた。
路基板を電着液の中に浸漬し、回路基板に正電極を、対
極として負電極を接続し、50Vの直流電圧を2分間印
荷して約7 、A’ mのアニオン性ポジ型感光性樹脂
被膜を回路基板上に析出させ水洗後100°Cで5分間
乾燥させた。
次に、回路パターンを有するポジタイプのフォトツール
を密着させ、両面より254部mでの光強度が約10
all/ am”である低圧水銀ランプで60秒間露光
し、1%炭酸ソーダ水溶液にて30℃で90秒間現像す
ることでレジストパターンを形成し、不要の銅を塩化第
二鉄溶液にて40℃で120秒間エツチング除去し、残
ったレジスト被膜を5%カセイソーダ水溶液にて50℃
で90秒間剥離することで、線巾50./(mのスルー
ホールを有する回路板が得られた。
を密着させ、両面より254部mでの光強度が約10
all/ am”である低圧水銀ランプで60秒間露光
し、1%炭酸ソーダ水溶液にて30℃で90秒間現像す
ることでレジストパターンを形成し、不要の銅を塩化第
二鉄溶液にて40℃で120秒間エツチング除去し、残
ったレジスト被膜を5%カセイソーダ水溶液にて50℃
で90秒間剥離することで、線巾50./(mのスルー
ホールを有する回路板が得られた。
実施例9
合成例9b)で得られたイミノスルホネート基を有する
エポキシ樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル24部とメチルエチルケトン24部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2部mのミリポアフィルタ−で濾過し
て感光液を調製したこのようにして調製した感光液をス
ピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上に塗布し
た後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜厚1.2
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し2
54部mでの光強度が約1011IW/ Cm であ
る低圧水銀ランプを100秒間照射し、2%テトラメチ
ルアンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間
現像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.6
メmのラインアンドスペースまで解像され、またレジス
トの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の
3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果
が得られた。
エポキシ樹脂40部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテル24部とメチルエチルケトン24部の混合溶媒に
溶解し、孔径0.2部mのミリポアフィルタ−で濾過し
て感光液を調製したこのようにして調製した感光液をス
ピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上に塗布し
た後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜厚1.2
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し2
54部mでの光強度が約1011IW/ Cm であ
る低圧水銀ランプを100秒間照射し、2%テトラメチ
ルアンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間
現像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.6
メmのラインアンドスペースまで解像され、またレジス
トの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の
3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果
が得られた。
実施例10
合成例10b)で得られたイミノスルホネート基を有す
るエポキシ樹脂40部をエチレングリコールモノエチル
エーテル24部とメチルエチルケトン24部の混合溶媒
に溶解し、孔径0.2メmのミリポアフィルタ−で濾過
して感光液を調製した。このようにして調製した感光液
をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上に塗
布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜厚1
.2%mの塗膜を得た。
るエポキシ樹脂40部をエチレングリコールモノエチル
エーテル24部とメチルエチルケトン24部の混合溶媒
に溶解し、孔径0.2メmのミリポアフィルタ−で濾過
して感光液を調製した。このようにして調製した感光液
をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上に塗
布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜厚1
.2%mの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し2
54部mでの光強度が約10 mW/ cm である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
したところ、電子顕微鏡による観察によって0.8)t
mのラインアンドスペースまで解像され、またレジスト
の剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3
ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が
得られた。 ・ 実施例11 合成例11b)で得られたイミノスルホネート基を有す
るエポキシ樹脂40部をエチレングリコールモノエチル
エーテル24部とメチルエチルケトン24部の混合溶媒
に溶解し、孔径0.2メm′のミリポアフィルタ−で濾
過して感光液を調製した。このようにして調製した感光
液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上に
塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜厚
1゜3メmの塗膜を得た。
54部mでの光強度が約10 mW/ cm である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
したところ、電子顕微鏡による観察によって0.8)t
mのラインアンドスペースまで解像され、またレジスト
の剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3
ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が
得られた。 ・ 実施例11 合成例11b)で得られたイミノスルホネート基を有す
るエポキシ樹脂40部をエチレングリコールモノエチル
エーテル24部とメチルエチルケトン24部の混合溶媒
に溶解し、孔径0.2メm′のミリポアフィルタ−で濾
過して感光液を調製した。このようにして調製した感光
液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上に
塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜厚
1゜3メmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し2
54部mでの光強度が約10 mW/ cm である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25゜℃、60秒間現
像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.8)
1.mのラインアンドスペースまで解像され、またレジ
ストの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液
の3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結
果が得られた。
54部mでの光強度が約10 mW/ cm である
低圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25゜℃、60秒間現
像したところ、電子顕微鏡による観察によって0.8)
1.mのラインアンドスペースまで解像され、またレジ
ストの剥離、割れは認められなかった。またこの感光液
の3ケ月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結
果が得られた。
実施例12
合成例12b)で得られたイミノスルホネート基を有す
るポリブジエン樹脂40部をエチレングリコールモノエ
チルエーテル32部とメチルエチルケトン32部の混合
溶媒に溶解し、孔径0.2μmのミリポアフィルタ−で
濾過して感光液を調製した。このようにして調製した感
光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上
に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜
厚1,3万mの塗膜を得た。
るポリブジエン樹脂40部をエチレングリコールモノエ
チルエーテル32部とメチルエチルケトン32部の混合
溶媒に溶解し、孔径0.2μmのミリポアフィルタ−で
濾過して感光液を調製した。このようにして調製した感
光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー上
に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、膜
厚1,3万mの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
365nmでの光強度が約5mW/am である高圧
水銀ランプを40秒間照射し、2%テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像した
ところ、電子顕微鏡による観察によってo、s%mのラ
インアンドスペースまで解像され、またレジストの剥離
、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ月経
時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得られ
た。
365nmでの光強度が約5mW/am である高圧
水銀ランプを40秒間照射し、2%テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像した
ところ、電子顕微鏡による観察によってo、s%mのラ
インアンドスペースまで解像され、またレジストの剥離
、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ月経
時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得られ
た。
実施例13
合成例13b)で得られたイミノスルホネート基を有す
るポリブタジェン樹脂40部をエチレングリコールモノ
エチルエーテル24部とメチルエチルケトン24部の混
合溶媒に溶解し、孔径0゜ラメmのミリポアフィルタ−
で濾過して感光液を調製した。このようにして調製した
感光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー
上に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、
膜厚1.3メmの塗膜を得た。
るポリブタジェン樹脂40部をエチレングリコールモノ
エチルエーテル24部とメチルエチルケトン24部の混
合溶媒に溶解し、孔径0゜ラメmのミリポアフィルタ−
で濾過して感光液を調製した。このようにして調製した
感光液をスピンナーを使用してシリコン酸化膜ウェハー
上に塗布した後、80℃で10分オーブン中で乾燥し、
膜厚1.3メmの塗膜を得た。
この感光層にラインアンドスペースパターンを密着し、
254nmでの光強度が約10 mW/ cm”である
高圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
しなところ、電子顕微鏡による観察によって0.9〆m
のラインアンドスペースまで解像され、またレジストの
剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ
月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得
られた。
254nmでの光強度が約10 mW/ cm”である
高圧水銀ランプを60秒間照射し、2%テトラメチルア
ンモニウムヒドロキシド水溶液で25℃、60秒間現像
しなところ、電子顕微鏡による観察によって0.9〆m
のラインアンドスペースまで解像され、またレジストの
剥離、割れは認められなかった。またこの感光液の3ケ
月経時後の評価を行ったところ、上記と同様の結果が得
られた。
特 許 出 願 代 理 天井 理
士 伊 藤 武 雄手続補正書(自発) 昭和63年 7月14日
士 伊 藤 武 雄手続補正書(自発) 昭和63年 7月14日
Claims (2)
- (1)少なくとも1つの側鎖中あるいは主鎖末端に、式 ▲数式、化学式、表等があります▼( I ) (式中R_1およびR_2は夫々同一または異なる基で
、水素、アルキル、アシル、フェニル基、ナフチル基、
アントラセニル基またはベンジル基を表し、あるいはR
_1とR_2が共同で脂環族環を形成することができる
) で表されるイミノスルホネート基を有し、分子中のイミ
ノスルホネート基含量が、1.5×10^−^4〜2.
5×10^−^3当量/gの範囲内にあり、光分解で発
生するスルホン酸で開環重合を起こす官能基を含まない
アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、エポ
キシ化ポリブタジエン樹脂からなる群より選ばれる基体
樹脂からなるポジ型感光性樹脂組成物。 - (2)基体樹脂がアクリル樹脂である請求項第1項記載
の組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63126809A JP2594112B2 (ja) | 1987-05-28 | 1988-05-23 | ポジ型感光性樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13275687 | 1987-05-28 | ||
JP62-132756 | 1987-05-28 | ||
JP63126809A JP2594112B2 (ja) | 1987-05-28 | 1988-05-23 | ポジ型感光性樹脂組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01163736A true JPH01163736A (ja) | 1989-06-28 |
JP2594112B2 JP2594112B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=26462927
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63126809A Expired - Lifetime JP2594112B2 (ja) | 1987-05-28 | 1988-05-23 | ポジ型感光性樹脂組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2594112B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02100053A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型感光性組成物 |
US6376154B2 (en) | 1996-02-26 | 2002-04-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pattern forming material and pattern forming method |
WO2006067944A1 (ja) * | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | 液浸露光用レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
WO2007148623A1 (ja) * | 2006-06-20 | 2007-12-27 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
JP2008275768A (ja) * | 2007-04-26 | 2008-11-13 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
KR101285715B1 (ko) * | 2006-01-12 | 2013-07-12 | 주식회사 동진쎄미켐 | 감광성 고분자 및 이를 포함하는 포토레지스트 조성물 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101357606B1 (ko) * | 2006-01-12 | 2014-02-03 | 주식회사 동진쎄미켐 | 감광성 고분자 및 이를 포함하는 포토레지스트 조성물 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61251652A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-11-08 | チバ − ガイギ− アクチエンゲゼルシヤフト | オキシムスルホネ−ト及び該化合物から製造されるポリマ− |
JPH01124848A (ja) * | 1986-04-08 | 1989-05-17 | Ciba Geigy Ag | 画像形成方法 |
-
1988
- 1988-05-23 JP JP63126809A patent/JP2594112B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61251652A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-11-08 | チバ − ガイギ− アクチエンゲゼルシヤフト | オキシムスルホネ−ト及び該化合物から製造されるポリマ− |
JPH01124848A (ja) * | 1986-04-08 | 1989-05-17 | Ciba Geigy Ag | 画像形成方法 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02100053A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型感光性組成物 |
US6376154B2 (en) | 1996-02-26 | 2002-04-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pattern forming material and pattern forming method |
US6387598B2 (en) | 1996-02-26 | 2002-05-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pattern forming material and pattern forming method |
US6387592B2 (en) | 1996-02-26 | 2002-05-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pattern forming material and pattern forming method |
WO2006067944A1 (ja) * | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | 液浸露光用レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
JP2006171656A (ja) * | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 液浸露光用レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
JP4597655B2 (ja) * | 2004-12-20 | 2010-12-15 | 東京応化工業株式会社 | レジストパターン形成方法 |
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WO2007148623A1 (ja) * | 2006-06-20 | 2007-12-27 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
JP2008275768A (ja) * | 2007-04-26 | 2008-11-13 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | レジスト組成物およびレジストパターン形成方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2594112B2 (ja) | 1997-03-26 |
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