JPH01158784A - 高温超電導薄膜作製の方法 - Google Patents
高温超電導薄膜作製の方法Info
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- JPH01158784A JPH01158784A JP62316277A JP31627787A JPH01158784A JP H01158784 A JPH01158784 A JP H01158784A JP 62316277 A JP62316277 A JP 62316277A JP 31627787 A JP31627787 A JP 31627787A JP H01158784 A JPH01158784 A JP H01158784A
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Landscapes
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- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高温超電導薄膜作製の方法に係り、特にジョセ
フソン素子などの超電導素子の製作に好適な高温超電導
薄膜作製の方法に関する。
フソン素子などの超電導素子の製作に好適な高温超電導
薄膜作製の方法に関する。
従来の高温超電導薄膜作製の方法は、′+jファイアや
酸化マグネ7ウムといった基板上に、スパッタ法又は蒸
着法により、高温超電導体の構成元素を一元素ずつ又は
複数の元素を同時に積層し、熱処理を行っていた。尚、
この種の作製方法とじて関連するものには例えばジャパ
ニーズ・ジャーナル・オプ争アプライド・フイズイツク
ス、26(1978年)第L1199頁から第L120
1頁(Japanese Journal of Ap
plied physics。
酸化マグネ7ウムといった基板上に、スパッタ法又は蒸
着法により、高温超電導体の構成元素を一元素ずつ又は
複数の元素を同時に積層し、熱処理を行っていた。尚、
この種の作製方法とじて関連するものには例えばジャパ
ニーズ・ジャーナル・オプ争アプライド・フイズイツク
ス、26(1978年)第L1199頁から第L120
1頁(Japanese Journal of Ap
plied physics。
26 (1978) pI)L1199−1201 )
において論じられている方法がある。
において論じられている方法がある。
上記従来技術では、十分な超電導特性を有する薄膜が得
られなかった。その理由としては、基板物質が熱処理に
より拡散し、超電導体構成元素と反応してしまうためで
ある。
られなかった。その理由としては、基板物質が熱処理に
より拡散し、超電導体構成元素と反応してしまうためで
ある。
本発明の目的は、超電導特性を妨げるよ・うな基板と超
電導体構成元素の反応生成物の発現をなくすことにある
。
電導体構成元素の反応生成物の発現をなくすことにある
。
上記目的は、基板物質として超電導体構成元素を用い、
熱処理による基板との反応生成物自体を超電導材にする
ことによシ達成される。
熱処理による基板との反応生成物自体を超電導材にする
ことによシ達成される。
成膜中あるいは成膜後の加熱処理により、基板物質と薄
膜物質間で反応が起こり超電導薄膜が形成され、基板か
らの異種元素の混入を防ぐことができる。
膜物質間で反応が起こり超電導薄膜が形成され、基板か
らの異種元素の混入を防ぐことができる。
以下2本発明の実施例を示す。
第1図は本発明を利用して高温超覗導薄膜を作製する真
空蒸着装置の例である。真空容器1内を排気装置2を用
いて排気し、蒸着源A3.蒸着源B4をヒータ6で加熱
して基板5上に蒸着する。
空蒸着装置の例である。真空容器1内を排気装置2を用
いて排気し、蒸着源A3.蒸着源B4をヒータ6で加熱
して基板5上に蒸着する。
シャッタ8の開閉により蒸着の仕方を変えられる。
また、酸素7を真空容器1内に導入することができる。
以下に第1図の真空蒸着を用いた際の具体的な実施例を
掲げる。
掲げる。
具体例1;バリウム(Ba)、イツトリウム(Y)。
銅(Cu)の三元系酸化物超電導体の薄膜を作ル場合(
YB a2Cus 06.8)■基板Cu上にBalO
oo人、Y340人 と順次蒸着。次に酸素7を導入し
950Cで5時間、550Cで2時間加熱する。第2図
は蒸着後の基板断面図である。第3図は加熱処理後の基
板断面図で、YBazCu306.sの超電導薄膜10
の下に100人程度のCu O2層9ができる。
YB a2Cus 06.8)■基板Cu上にBalO
oo人、Y340人 と順次蒸着。次に酸素7を導入し
950Cで5時間、550Cで2時間加熱する。第2図
は蒸着後の基板断面図である。第3図は加熱処理後の基
板断面図で、YBazCu306.sの超電導薄膜10
の下に100人程度のCu O2層9ができる。
■基板CLI上にBa、Yを同時蒸着し、■と同様の酸
素中加熱処理を行う。第4図は蒸着後の基板断面図であ
り、YとBaの混合薄膜11が形成されている。加熱処
理後は■と同様第3図のような基板断面図が得られる。
素中加熱処理を行う。第4図は蒸着後の基板断面図であ
り、YとBaの混合薄膜11が形成されている。加熱処
理後は■と同様第3図のような基板断面図が得られる。
■基板CUO又はcuo2にBa、Yを順次又は同時蒸
着し酸素中又は真空中で950Cで5時間、550Cで
2時間の加熱処理を行う。
着し酸素中又は真空中で950Cで5時間、550Cで
2時間の加熱処理を行う。
■基板Y2O3にCu、Baを順次又は同時蒸着し■と
同様の加熱処理を行う。
同様の加熱処理を行う。
■■〜■の蒸着処理を酸素中で基板を加熱しながら行う
。
。
具体例2;ニオブ(Nb)、 ケイ素(Si)、アル
ミニウム(At)の三元系酸化物超電導体の薄膜を作る
場合(N bA t+ −x S I x O3)■基
板Nb上にSi 600A’、 At400A’e順次
又は同時に蒸着し、酸素中で650C2時間の加熱処理
を行う。
ミニウム(At)の三元系酸化物超電導体の薄膜を作る
場合(N bA t+ −x S I x O3)■基
板Nb上にSi 600A’、 At400A’e順次
又は同時に蒸着し、酸素中で650C2時間の加熱処理
を行う。
■基板Si上にNb、Atを順次又は同時に蒸着し、■
と同様の加熱処理を行う。
と同様の加熱処理を行う。
■基板AA上にSi、Nbを順次又は同時に蒸着し、■
と同様の加熱処理を行う。
と同様の加熱処理を行う。
■基板NE)205上にSi、Atを順次又は同時に蒸
着し、酸素中又は真空中で650C,2時間の加熱処理
を行う。
着し、酸素中又は真空中で650C,2時間の加熱処理
を行う。
■基板5i02上にNb、A7を順次又は同時に蒸着し
、■と同様の加熱処理を行う。
、■と同様の加熱処理を行う。
■基板A A203上にNb、Sii順次又は同時に蒸
着し、■と同様の加熱処理を行う。
着し、■と同様の加熱処理を行う。
具体例1の工程■〜■、具体例2の工程■〜■は他の成
膜法1例えばスパッタ蒸着及びMOCVDにおいても適
応できる。スパッタ蒸着においては二元複合ターゲット
を用いることもできる。
膜法1例えばスパッタ蒸着及びMOCVDにおいても適
応できる。スパッタ蒸着においては二元複合ターゲット
を用いることもできる。
本実施例によれば、Y、Ba、Cu系の材料(YB a
2Cus 06−8)において、第5図に示すように、
アルミナを基板に用いた場合(Y B a2Cusoa
、s )の特性曲線1に較べ良好な超電導特性(曲線1
1)を得ることができる。
2Cus 06−8)において、第5図に示すように、
アルミナを基板に用いた場合(Y B a2Cusoa
、s )の特性曲線1に較べ良好な超電導特性(曲線1
1)を得ることができる。
本発明によれば、以下の効果が得られる。
(1)基板からの異物の拡散による界面の反応生成物を
なくシ、超電導特性の劣化を防ぐ。特に超薄膜の場合、
この効果は顕著である。
なくシ、超電導特性の劣化を防ぐ。特に超薄膜の場合、
この効果は顕著である。
(2)拡散の発生しない基板を用いる。又は金や銀でコ
ートして拡散バリヤ層を作る方法に較べ。
ートして拡散バリヤ層を作る方法に較べ。
容易でしかも安価である。
(3)従来法に較べ、蒸着源やターゲットの数が減り、
制御も簡略化が可能である。
制御も簡略化が可能である。
(4) アルミナよりも良好な超電導特性を得ること
ができるとされるMgO,5rTjOs、YSZ基板に
較べ、非常に安価な基板を用いて良好な超電導特性を得
ることができる。
ができるとされるMgO,5rTjOs、YSZ基板に
較べ、非常に安価な基板を用いて良好な超電導特性を得
ることができる。
第1図は本発明実施の為の真空蒸着装置例の装置配置図
、第2図は本発明実施にょp蒸着源物質を順次蒸着した
際の基板の部分断面斜視図、第3図は同じく加熱処理後
の基板の断面斜視図、第4図は同じく蒸着源物質を同時
蒸着した際の基板の部分断面斜視図、第5図は本発明の
各実施例で得た超電導薄膜の抵抗−温度特性図である。 1・・・真空容器、2・・・排気装置、3・・蒸着源A
、 4・・・蒸着源B、5・・・基板、6・・・ヒータ
、7・・・酸素。 8・・・シャッタ、9・・・基板酸化層、10・・・超
電導薄膜、11・・・蒸着源A−Hによる混合膜。 Cすj2\ 代理人 弁理士 小川−男2″m。 第2図 第 3図 華4図 竿5I¥Il ?・・・基入酸杷4 10・・刃!4痺腺 ヱ 浅 (K) ++、、、訴、LiA、p>+:、zi庇澄膿
、第2図は本発明実施にょp蒸着源物質を順次蒸着した
際の基板の部分断面斜視図、第3図は同じく加熱処理後
の基板の断面斜視図、第4図は同じく蒸着源物質を同時
蒸着した際の基板の部分断面斜視図、第5図は本発明の
各実施例で得た超電導薄膜の抵抗−温度特性図である。 1・・・真空容器、2・・・排気装置、3・・蒸着源A
、 4・・・蒸着源B、5・・・基板、6・・・ヒータ
、7・・・酸素。 8・・・シャッタ、9・・・基板酸化層、10・・・超
電導薄膜、11・・・蒸着源A−Hによる混合膜。 Cすj2\ 代理人 弁理士 小川−男2″m。 第2図 第 3図 華4図 竿5I¥Il ?・・・基入酸杷4 10・・刃!4痺腺 ヱ 浅 (K) ++、、、訴、LiA、p>+:、zi庇澄膿
Claims (1)
- 1、高温超電導体の薄膜作製の方法において、目的とす
る高温超電導材の構成元素のうちの1種の元素又は複数
の元素の化合物を基板に用い、残りの元素をその基板上
に成膜することを特徴とする高温超電導薄膜作製の方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62316277A JPH01158784A (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | 高温超電導薄膜作製の方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62316277A JPH01158784A (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | 高温超電導薄膜作製の方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01158784A true JPH01158784A (ja) | 1989-06-21 |
Family
ID=18075313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62316277A Pending JPH01158784A (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | 高温超電導薄膜作製の方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01158784A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01282122A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜超電導体の製造方法 |
-
1987
- 1987-12-16 JP JP62316277A patent/JPH01158784A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01282122A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜超電導体の製造方法 |
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