JPH01153253A - 非接触倣い方法 - Google Patents
非接触倣い方法Info
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- JPH01153253A JPH01153253A JP62312913A JP31291387A JPH01153253A JP H01153253 A JPH01153253 A JP H01153253A JP 62312913 A JP62312913 A JP 62312913A JP 31291387 A JP31291387 A JP 31291387A JP H01153253 A JPH01153253 A JP H01153253A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q35/00—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
- B23Q35/04—Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
- B23Q35/08—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
- B23Q35/12—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
- B23Q35/127—Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using non-mechanical sensing
- B23Q35/128—Sensing by using optical means
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
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- G05B2219/37425—Distance, range
-
- G—PHYSICS
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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- G05B2219/37554—Two camera, or tiltable camera to detect different surfaces of the object
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Machine Tool Copy Controls (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分舒〉
本発明は非接触倣い方式に係り、特に距離測定プローブ
を傾けて倣いを行う非接触倣い方式に関する。
を傾けて倣いを行う非接触倣い方式に関する。
〈従来技術〉
レーザ測長プローブのような非接触で距離が測定できる
プローブセンサ（距離測定プローブ）によりモデル面を
なられせて該モデル通りの倣い加工を行ったり、あるい
はモデル面データをデジタイジングする非接触倣い方式
がある。
プローブセンサ（距離測定プローブ）によりモデル面を
なられせて該モデル通りの倣い加工を行ったり、あるい
はモデル面データをデジタイジングする非接触倣い方式
がある。
かかる非接触倣いにおいて用いられる距離測定プローブ
は一般に基準距離り。を持っており、実際の測定距離り
と基準距離Ｌ０の差を誤差量ΔＬとして出力できるよう
になっている。
は一般に基準距離り。を持っており、実際の測定距離り
と基準距離Ｌ０の差を誤差量ΔＬとして出力できるよう
になっている。
第９図は非接触倣いの説明図であり、モデルＭＤＬを倣
うものとし、又Ａ、Ｂ、Ｃ点を適当に選ばれｔこサンプ
リング点とした場合、まずＡ点での距＄Ｌ１（＝Ｌ０＋
ΔＬ、）を測定しこれが基準距離Ｌ０に比べてΔＬ、た
け誤差がある時、その誤差分だけ測定軸方向（光軸方向
）に補正動作を掛けながら次のサンプリング点Ｂに向か
う。そして、Ｂ点におけろ誤差量ΔＬ２を求めて同様に
該誤差分だけ補正するように０点に向かい、以後同様な
処理を行うことによりモデル面を非接触で倣う。
うものとし、又Ａ、Ｂ、Ｃ点を適当に選ばれｔこサンプ
リング点とした場合、まずＡ点での距＄Ｌ１（＝Ｌ０＋
ΔＬ、）を測定しこれが基準距離Ｌ０に比べてΔＬ、た
け誤差がある時、その誤差分だけ測定軸方向（光軸方向
）に補正動作を掛けながら次のサンプリング点Ｂに向か
う。そして、Ｂ点におけろ誤差量ΔＬ２を求めて同様に
該誤差分だけ補正するように０点に向かい、以後同様な
処理を行うことによりモデル面を非接触で倣う。
ところで、非接触の距離測定プローブとしては、たとえ
ば光学的三角測距方式を採用したものがあり、かかるプ
ローブでは発光素子（半導体レーザ）から出たレーザ光
が投光し・ンズを介してモデル表面に照射され、その際
に拡散反射した光線の一部が受光レンズを介して位置検
出素子上にスポットを作り、該スポット位置がモデル表
面上の距離に応じて変化することにより距離が測定され
るようになっている。尚、受光レンズに十分の光量が入
力されないと正確な距離測定ができなくなる。
ば光学的三角測距方式を採用したものがあり、かかるプ
ローブでは発光素子（半導体レーザ）から出たレーザ光
が投光し・ンズを介してモデル表面に照射され、その際
に拡散反射した光線の一部が受光レンズを介して位置検
出素子上にスポットを作り、該スポット位置がモデル表
面上の距離に応じて変化することにより距離が測定され
るようになっている。尚、受光レンズに十分の光量が入
力されないと正確な距離測定ができなくなる。
このため、距離測定プローブＰＢには正確に距離を測定
できる範囲があり、第１０図において基準距１ｉＳｔＬ
ｏ＋ｌの範囲が測定可能範囲ＭＳＲとなる。
できる範囲があり、第１０図において基準距１ｉＳｔＬ
ｏ＋ｌの範囲が測定可能範囲ＭＳＲとなる。
又、距に＃測定プローブＰＢには正確に距ａｍ定できろ
モデル面傾斜角度θ（第１１図参照）の限界値があり、
該限界値以上の傾斜角度を有する面迄の距離は正確に測
定できない。
モデル面傾斜角度θ（第１１図参照）の限界値があり、
該限界値以上の傾斜角度を有する面迄の距離は正確に測
定できない。
このため、第１２図に示すようにモデルＭＤＬに直角に
近い壁（上り、下りを問わない）ＷＡＬが存在する場合
において、距離測定プローブＰＢがＡ→Ｂと移動すると
コーナ部Ｐで距離が測定できなくなる。そして、距離測
定が不可能になると従来（よ、逆方向にプローブＰＢを
戻し、極端に速度を落として再びＡ→Ｂ方向にプローブ
を移動させ、かつプローブを上下させて測定可能になる
位置を捜し、測定可能位置が求まれば該位置から通常の
非接触倣いを再開するようになっている。
近い壁（上り、下りを問わない）ＷＡＬが存在する場合
において、距離測定プローブＰＢがＡ→Ｂと移動すると
コーナ部Ｐで距離が測定できなくなる。そして、距離測
定が不可能になると従来（よ、逆方向にプローブＰＢを
戻し、極端に速度を落として再びＡ→Ｂ方向にプローブ
を移動させ、かつプローブを上下させて測定可能になる
位置を捜し、測定可能位置が求まれば該位置から通常の
非接触倣いを再開するようになっている。
〈発明が解決しようとしている問題点〉しかし、かかる
従来の非接触倣い方法においては、距離測定不能になる
と正常の非接触倣いが再開される迄に相当の時間が掛り
、高速の非接触倣い加工や高速の非接触倣いによるデジ
タイジングができないという問題がある。
従来の非接触倣い方法においては、距離測定不能になる
と正常の非接触倣いが再開される迄に相当の時間が掛り
、高速の非接触倣い加工や高速の非接触倣いによるデジ
タイジングができないという問題がある。
又、従来の方法では非接触倣いができない範囲が大きく
なるという問題もある。
なるという問題もある。
９上から、本発明の目的は距離測定不能となっても、短
時間に正常の非接触倣いを再開することができ、しかも
倣い不可能な範囲を減少することができる非接触倣い方
式を提供することである。
時間に正常の非接触倣いを再開することができ、しかも
倣い不可能な範囲を減少することができる非接触倣い方
式を提供することである。
く問題点を解決するための手段〉
第１図は本発明方式の説明図である。
ＭＤＬは上り、下りの壁ＷＡＬＩ〜ＷＡＬ４を有するモ
デル、ＰＢは距ＩＩＩ測定プローブ ｐ１〜Ｐ３は距−
測定不能点である。
デル、ＰＢは距ＩＩＩ測定プローブ ｐ１〜Ｐ３は距−
測定不能点である。
く作用〉
距離測定プローブＰＢの光軸を垂直軸から角度θ傾けて
非接触倣いを行い、ポイントＰ２に到達して距離測定不
能となった場合に（よ距離測定プローブＰＢの移動を停
止する□と共に、該距離測定プローブを回転させて光軸
を垂直方向から逆方向にθ傾け、しかる後非接触倣いを
再開する。
非接触倣いを行い、ポイントＰ２に到達して距離測定不
能となった場合に（よ距離測定プローブＰＢの移動を停
止する□と共に、該距離測定プローブを回転させて光軸
を垂直方向から逆方向にθ傾け、しかる後非接触倣いを
再開する。
〈実施例〉
第２図は本発明の非接触倣い方式を実現するシステムの
プローブ図である。
プローブ図である。
１１は倣い制御装置、１２２，１２Ｘは倣い制御装置か
ら発生するデジタルの各軸速度信号ｖ２．”ＶｘＧＤＡ
変換するＤＡ変換器、１３２，１３Ｘは各軸のサーボ回
路、１４２，１４ＸはＺ軸及びＸ軸駆動用のモータ、１
５２，１５Ｘは対応するモータが所定角度回転する毎に
検出パルスＰ２．Ｐｘを発生する位置検出用のパルスコ
ーグ、１６Ｚ。
ら発生するデジタルの各軸速度信号ｖ２．”ＶｘＧＤＡ
変換するＤＡ変換器、１３２，１３Ｘは各軸のサーボ回
路、１４２，１４ＸはＺ軸及びＸ軸駆動用のモータ、１
５２，１５Ｘは対応するモータが所定角度回転する毎に
検出パルスＰ２．Ｐｘを発生する位置検出用のパルスコ
ーグ、１６Ｚ。
１６Ｘは対応するパルスコーグから発生するパルスを移
動方向に応じて可逆計数して各軸現在位置ＺＡ、ｘＡを
監視する各軸現在位置レジスタ、１７はレーザを用いて
非接触でモデル表面上の距離を測定できろ距ｌ１ｉｌ！
測定プローブ（第１図におけろ距離測定プローブＰＢ−
に対応）、１８は倣い制御装置からの回転指令ＲＤＳに
よりプローブ１７を回転させるプローブ回転駆動部であ
る。
動方向に応じて可逆計数して各軸現在位置ＺＡ、ｘＡを
監視する各軸現在位置レジスタ、１７はレーザを用いて
非接触でモデル表面上の距離を測定できろ距ｌ１ｉｌ！
測定プローブ（第１図におけろ距離測定プローブＰＢ−
に対応）、１８は倣い制御装置からの回転指令ＲＤＳに
よりプローブ１７を回転させるプローブ回転駆動部であ
る。
倣い制御装置１１はコンピュータ構成になっており、プ
ロセッサ（ＣＰＵ）１１ ａ１プログラムメモＩＪ （
ＲＯＭ） １ ｌ ｂ、各種演算結果等を記憶するＲ
ＡＭ１１ｃを備え、非接触倣いやデジタ・イジング処理
ができるようになっている。尚、第２図のブロック図に
はＹ軸に関係する部分は省略しているが当然Ｙ軸につい
ても他の軸と同様の構成を有しているものである。
ロセッサ（ＣＰＵ）１１ ａ１プログラムメモＩＪ （
ＲＯＭ） １ ｌ ｂ、各種演算結果等を記憶するＲ
ＡＭ１１ｃを備え、非接触倣いやデジタ・イジング処理
ができるようになっている。尚、第２図のブロック図に
はＹ軸に関係する部分は省略しているが当然Ｙ軸につい
ても他の軸と同様の構成を有しているものである。
ｒ！ｒ！離測定プローゴ１７は、垂直軸からの光軸の傾
きを変更できるようになっており、垂直軸から倣い進行
方向への傾きの符号をプラスとすれば、最初−θ（たと
えばθ＝３０°）の状態で非接触倣いを行い（第１図参
照）、距離測定不能となる毎に（ポイントＰ −Ｐ に
おいて）−θ→＋θあるいは＋θ−−θへ光軸の傾きを
変更する。第３図及び第４図は光軸の傾きを変更させる
機構の原理説明図であり、第３図はレールＲＬに沿って
機械的にプローブ１７を移動させることによりモデルＭ
ＤＬ上の測定点Ｐを変更することなく光軸を進行方向に
±θの間で変更させるものであり、第４図は水平に配設
された円形レールＲＬ’に沿ってプローブを１８０°回
転させることによりモデルＭＤＬ上の測定点Ｐを変更す
ることなく光軸を進行方向に十〇の間で変更させるもの
である。
きを変更できるようになっており、垂直軸から倣い進行
方向への傾きの符号をプラスとすれば、最初−θ（たと
えばθ＝３０°）の状態で非接触倣いを行い（第１図参
照）、距離測定不能となる毎に（ポイントＰ −Ｐ に
おいて）−θ→＋θあるいは＋θ−−θへ光軸の傾きを
変更する。第３図及び第４図は光軸の傾きを変更させる
機構の原理説明図であり、第３図はレールＲＬに沿って
機械的にプローブ１７を移動させることによりモデルＭ
ＤＬ上の測定点Ｐを変更することなく光軸を進行方向に
±θの間で変更させるものであり、第４図は水平に配設
された円形レールＲＬ’に沿ってプローブを１８０°回
転させることによりモデルＭＤＬ上の測定点Ｐを変更す
ることなく光軸を進行方向に十〇の間で変更させるもの
である。
又、距離測定プローブ１７は、検出光量が設定値以上か
チエツクし、換言すれば正しく距離測定可能かをチエツ
クし、検出光量が設定値以上であればハイレベルの距離
測定可能信号ＤＭＳを出力するようになっている。
チエツクし、換言すれば正しく距離測定可能かをチエツ
クし、検出光量が設定値以上であればハイレベルの距離
測定可能信号ＤＭＳを出力するようになっている。
以下、非接触倣いを行いながらデジタイジングする場合
について本発明を説明する。尚、初期時、距離測定プロ
ーブ１７の光軸を垂直軸から一θ傾けておく （第１図
参照）。
について本発明を説明する。尚、初期時、距離測定プロ
ーブ１７の光軸を垂直軸から一θ傾けておく （第１図
参照）。
非接触ならいの起動が掛かつて、プローブ１７から測定
距ｇｌＬが入力されると、プロセッサ１１１１（よ基準
距＃Ｌ０と測定距離りとの誤差量ΔＬを計算すると共ｌ
こ、ΔＬ−ＶＮ特性、ΔＬ−Ｖ、特性に従って法線方向
速度信号ｖＮと接線方向速度信号Ｖ、を計算する。
距ｇｌＬが入力されると、プロセッサ１１１１（よ基準
距＃Ｌ０と測定距離りとの誤差量ΔＬを計算すると共ｌ
こ、ΔＬ−ＶＮ特性、ΔＬ−Ｖ、特性に従って法線方向
速度信号ｖＮと接線方向速度信号Ｖ、を計算する。
又、プロセッサ１１Ａは非接触ならい開始からの時間を
所定のサンプリング時間ＴＳ毎に分割する時、前々回の
タイムスロットにおけるならい方向θｎ−１（第５図参
照）と前回のタイムスロットにおけるならい方向θ。ど
の差分Δθ。並びに前回のならい方向θ。を用いて、 θ。＋（１／ｎ） ・Δθ。→θ、、＋１（１）（ｎ
は適宜に決めた定数：通常１／２）により今回のタイム
スロットにおけるならい方向θｎや、を演算する。
所定のサンプリング時間ＴＳ毎に分割する時、前々回の
タイムスロットにおけるならい方向θｎ−１（第５図参
照）と前回のタイムスロットにおけるならい方向θ。ど
の差分Δθ。並びに前回のならい方向θ。を用いて、 θ。＋（１／ｎ） ・Δθ。→θ、、＋１（１）（ｎ
は適宜に決めた定数：通常１／２）により今回のタイム
スロットにおけるならい方向θｎや、を演算する。
そして、速度信号ｖＮ、ｖＴ及び倣い方向が求まれば、
プロセッサは次式 ％式％（２） により各軸速度信号ｖｘ、ｖ２を発生し、該各軸方向の
なライ速度信号Ｖ、、Ｖ２ｅＤＡ変＃＠１２Ｘ。
プロセッサは次式 ％式％（２） により各軸速度信号ｖｘ、ｖ２を発生し、該各軸方向の
なライ速度信号Ｖ、、Ｖ２ｅＤＡ変＃＠１２Ｘ。
１２Ｚ及びサーボ回路１３Ｘ、１３２を介してモータ１
４Ｘ、１４２に印加して距離測定プローブ１７を各軸方
向に同時に移動させモデル面をならわせる。これにより
、プローブ１７はならい方向演算部１１ａで計算された
方向θ、＋、の方向に移動する。
４Ｘ、１４２に印加して距離測定プローブ１７を各軸方
向に同時に移動させモデル面をならわせる。これにより
、プローブ１７はならい方向演算部１１ａで計算された
方向θ、＋、の方向に移動する。
以上の非接触倣い制御と並行して、プロセッサ１１ａは
所定のサンプリング時間Ｔ、毎に各軸現在位置データＺ
Ａ、ｘＡを現在軸レジスタ１６Ｚ、１６ｘから取り込ん
でモデル面をデジタイジングする。尚、光軸を傾けてい
るため、ＺＡ、ｘＡをそのま５面データとして用いるこ
とができず補正が必要である。第６図は位置データの補
正処理説明図であり、測定距離をＬ１傾斜角度をθとす
れば、測定点Ｐの座標値ｘＰ、Ｚｐは次式 ％式％（４） で与えられる。尚、（４）式においてプラスは光軸が進
行方向（＋２方向）と逆方向に傾いている場合であり、
マイナスは進行方向に傾いている場合である。
所定のサンプリング時間Ｔ、毎に各軸現在位置データＺ
Ａ、ｘＡを現在軸レジスタ１６Ｚ、１６ｘから取り込ん
でモデル面をデジタイジングする。尚、光軸を傾けてい
るため、ＺＡ、ｘＡをそのま５面データとして用いるこ
とができず補正が必要である。第６図は位置データの補
正処理説明図であり、測定距離をＬ１傾斜角度をθとす
れば、測定点Ｐの座標値ｘＰ、Ｚｐは次式 ％式％（４） で与えられる。尚、（４）式においてプラスは光軸が進
行方向（＋２方向）と逆方向に傾いている場合であり、
マイナスは進行方向に傾いている場合である。
又、プロセッサはｌｌａは非接触倣いによるデジタイジ
ング処理と並行して、距離測定可能信号ＤＭＳを参照し
て距離測定不能位置に到達したかチエツクしている。
ング処理と並行して、距離測定可能信号ＤＭＳを参照し
て距離測定不能位置に到達したかチエツクしている。
そして、距離測定不能点（たとえば第１図のＰ、。
Ｐ２． Ｐ、等）に到達して距離測定プローブＤＭＳが
ローレベルになると、直ちに非接触倣いを停止してプロ
ーブ１７の移動を停止する。
ローレベルになると、直ちに非接触倣いを停止してプロ
ーブ１７の移動を停止する。
しかる後、プロセッサｌｌａはプローブ回転駆動部１８
に回転駆動信号ＲＤＳを、入力し、該回転駆動部をして
プローブ１７を回転させ、光軸が垂直軸から逆方向にθ
傾くように制御する（第１図の２１〜２３点におけるプ
ローブの傾きを参照）。
に回転駆動信号ＲＤＳを、入力し、該回転駆動部をして
プローブ１７を回転させ、光軸が垂直軸から逆方向にθ
傾くように制御する（第１図の２１〜２３点におけるプ
ローブの傾きを参照）。
尚、倣い停止直後に光軸が垂直軸から進行方向にθ傾い
ていれば、進行方向と逆方向にθ傾くようにプローブを
回転させ（＋θ→−θ）、一方非接触倣い停止直後に光
軸が垂直軸から進行方向と逆方向にθ傾いていれば、進
行方向にθ傾くようにプローブ回転させる（−θ→＋θ
）。
ていれば、進行方向と逆方向にθ傾くようにプローブを
回転させ（＋θ→−θ）、一方非接触倣い停止直後に光
軸が垂直軸から進行方向と逆方向にθ傾いていれば、進
行方向にθ傾くようにプローブ回転させる（−θ→＋θ
）。
しかる後、回転によりプローブの現在位置が変化してい
るから、第７図（ａ）のＡ矢印で示すように進行方向（
＋Ｘ方向）に回転しｔコ場合には次式％式％（６） により現在位置を補正し、一方第７図（ｂｌでＢ矢印で
示すように進行方向と逆方向に回転した場合には次式 ％式％（７１ により現在位置を補正する。
るから、第７図（ａ）のＡ矢印で示すように進行方向（
＋Ｘ方向）に回転しｔコ場合には次式％式％（６） により現在位置を補正し、一方第７図（ｂｌでＢ矢印で
示すように進行方向と逆方向に回転した場合には次式 ％式％（７１ により現在位置を補正する。
さて、プローブの回転により、距Ｓ測定が可能になるか
ら以後非接触倣いによるデジタイジング処理を行い、距
離測定不可能になる毎に同様にプローブを回転させて非
接触倣いを継続する。
ら以後非接触倣いによるデジタイジング処理を行い、距
離測定不可能になる毎に同様にプローブを回転させて非
接触倣いを継続する。
第８図Ｉｆ本発明により距離測定不能点でプローブを停
止させ、しかる後光軸方向を回転させて非接触倣いを再
開する場合において、非接触倣いが行われなかった範囲
、換言すればデジタイジングされなかった範囲を示す説
明図である。距離測定プローブの送り速度をｖＩＩＩＩ
ＩＩ／５ｅＣ１傾斜角度をθ、壁ＷＡＬの垂直面との角
度ψ、サンプリング時間をＴ、（ｍｓ）とすると距離測
定不能が検出されて瞬時に停止した時の最大行き過ぎ量
ΔＬ（第８図（ａｌ参照）は ΔＬ＝ＴｅＪ−ｖ／１０００ＩＩＩＩｌ（８）となる。
止させ、しかる後光軸方向を回転させて非接触倣いを再
開する場合において、非接触倣いが行われなかった範囲
、換言すればデジタイジングされなかった範囲を示す説
明図である。距離測定プローブの送り速度をｖＩＩＩＩ
ＩＩ／５ｅＣ１傾斜角度をθ、壁ＷＡＬの垂直面との角
度ψ、サンプリング時間をＴ、（ｍｓ）とすると距離測
定不能が検出されて瞬時に停止した時の最大行き過ぎ量
ΔＬ（第８図（ａｌ参照）は ΔＬ＝ＴｅＪ−ｖ／１０００ＩＩＩＩｌ（８）となる。
又、壁部ＷＡＬの最高点Ｐから光が当たる位置Ｑ（第８
図（ｂ）参照）迄の垂直方向距離ＨはＨ＝ΔＬ／ （ｔ
ａ ｎθ＋ｔａｎφ）（９）となり、例えばＶ＝１０
０ｍｍ／５ｅｅ１’ｒ、＝２ｍｓｅｃ、θ＝３０°、φ
＝θ°とすれば、 Ｈ＝０．２／ ０．５８＝０．３ｍｍ すなわち、高さ方向に約３００μ下がった位置から壁面
のデジタイジングが再開されることになり、精度上問題
は無い。
図（ｂ）参照）迄の垂直方向距離ＨはＨ＝ΔＬ／ （ｔ
ａ ｎθ＋ｔａｎφ）（９）となり、例えばＶ＝１０
０ｍｍ／５ｅｅ１’ｒ、＝２ｍｓｅｃ、θ＝３０°、φ
＝θ°とすれば、 Ｈ＝０．２／ ０．５８＝０．３ｍｍ すなわち、高さ方向に約３００μ下がった位置から壁面
のデジタイジングが再開されることになり、精度上問題
は無い。
〈発明の効果〉
以上本発明によれば、距離測定プローブの光軸を垂直方
向から角度θ傾けて非接触倣いを行い、距離測定不可能
となった゛場合には距離測定プローブの移動を停止する
と共に、該距離測定プローブの光軸を垂直方向から逆方
向にθ傾け、しかる後非接触倣いを再開するように構成
したから、モデル面の傾斜がきつくなって距離測定不能
となっても、短時間に正常の非接触倣いを再開すること
ができ、しかも倣い精２−１＝低下することもない。
向から角度θ傾けて非接触倣いを行い、距離測定不可能
となった゛場合には距離測定プローブの移動を停止する
と共に、該距離測定プローブの光軸を垂直方向から逆方
向にθ傾け、しかる後非接触倣いを再開するように構成
したから、モデル面の傾斜がきつくなって距離測定不能
となっても、短時間に正常の非接触倣いを再開すること
ができ、しかも倣い精２−１＝低下することもない。
第１図は本発明方式の説明図、
第２図は本発明方式にかかるシステムのブロック図、
第３図及び第４図はプローブ回転機構の原理図、第５図
は非接触倣いにおける倣い方向の算出説明図、 第６図は位置データ補正説明図、 第７図はプ四−ブ回転後の現在位置データ補正説明図、 第８図は倣いが行われない範囲説明図、第９図及び第１
１図は非接触倣いの背景説明図、第１０図は距離測定プ
ローブ説明図、 第１２図は従来の問題点説明図である。 ＭＤＬ・・モデル、 ＰＲ・・距離測定プローブ、 ｐ −ｐ ・・距離測定不能点 特許出顆人 ファナック株式会社代理人
弁理士 齋藤千幹第３図 □進行方向 第５図 −７−′ 第６図 （Ｘｐ、Ｚｐ） 第７図 （ａ） （ｂ） 第８図 （ａ） （ｂ） 第９図 第１ｏｒ３ 二：τ１２図
は非接触倣いにおける倣い方向の算出説明図、 第６図は位置データ補正説明図、 第７図はプ四−ブ回転後の現在位置データ補正説明図、 第８図は倣いが行われない範囲説明図、第９図及び第１
１図は非接触倣いの背景説明図、第１０図は距離測定プ
ローブ説明図、 第１２図は従来の問題点説明図である。 ＭＤＬ・・モデル、 ＰＲ・・距離測定プローブ、 ｐ −ｐ ・・距離測定不能点 特許出顆人 ファナック株式会社代理人
弁理士 齋藤千幹第３図 □進行方向 第５図 −７−′ 第６図 （Ｘｐ、Ｚｐ） 第７図 （ａ） （ｂ） 第８図 （ａ） （ｂ） 第９図 第１ｏｒ３ 二：τ１２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 非接触で距離を測定できる距離測定プローブによりモデ
ル面をならわせる非接触倣い方式において、 距離測定プローブの光軸を垂直方向から角度θ傾けて非
接触倣いを行い、 距離測定不可能となった場合には距離測定プローブの移
動を停止すると共に、該距離測定プローブの光軸を垂直
方向から逆方向にθ傾け、しかる後非接触倣いを再開す
ることを特徴とする非接触倣い方式。
Priority Applications (5)
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|---|---|---|---|
| JP62312913A JP2542653B2 (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 非接触倣い方法 |
| US07/392,921 US4949024A (en) | 1987-12-10 | 1988-11-25 | Contactless profiling method |
| PCT/JP1988/001194 WO1989005212A1 (en) | 1987-12-10 | 1988-11-25 | Non-contact profiling method |
| DE3850391T DE3850391T2 (de) | 1987-12-10 | 1988-11-25 | Kontaktlose profilierungsmethode. |
| EP88910125A EP0353302B1 (en) | 1987-12-10 | 1988-11-25 | Non-contact profiling method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62312913A JP2542653B2 (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 非接触倣い方法 |
Publications (2)
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|---|---|
| JPH01153253A true JPH01153253A (ja) | 1989-06-15 |
| JP2542653B2 JP2542653B2 (ja) | 1996-10-09 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62312913A Expired - Lifetime JP2542653B2 (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 非接触倣い方法 |
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1987
- 1987-12-10 JP JP62312913A patent/JP2542653B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-11-25 EP EP88910125A patent/EP0353302B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-25 US US07/392,921 patent/US4949024A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-11-25 WO PCT/JP1988/001194 patent/WO1989005212A1/ja active IP Right Grant
- 1988-11-25 DE DE3850391T patent/DE3850391T2/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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