JPH02205453A - 非接触ならい制御方式 - Google Patents

非接触ならい制御方式

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JPH02205453A
JPH02205453A JP2006389A JP2006389A JPH02205453A JP H02205453 A JPH02205453 A JP H02205453A JP 2006389 A JP2006389 A JP 2006389A JP 2006389 A JP2006389 A JP 2006389A JP H02205453 A JPH02205453 A JP H02205453A
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JP
Japan
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model
distance
tracing
control method
contact
Prior art date
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Pending
Application number
JP2006389A
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English (en)
Inventor
Akikatsu Kamiya
昭勝 神谷
Norihide Sato
典秀 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はならい加工装置あるいはデジタイジング装置に
使用する非接触ならい制御方式に関し、特に非接触で正
確なならい制御を可能にした非接触ならい制御方式に関
する。
〔従来の技術〕
モーゾルの表面をならって、ならい加工を行ったり、あ
るいはモデルの表面をならってモデルの形状データをデ
ィジタルな値で収拾するデジタイジング装置が広く使用
されている。
これらのならい制御方式はスタイラスをモデルに当てて
、その変位から各軸の移動速度を決めてならい制御を行
っている。これに対して、モデルの材質等の制限をなく
するために、非接触でモデルをならうならい制御方式が
検討されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、非接触ならい制御方式ではモデルまでの絶対的
な距離を正確に測定することが困難なために、従来の接
触式のならい制御方式はど精度のよいならい制御が困難
である。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、非
接触で正確なならい制御を可能にした非接触ならい制御
方式を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明では上記課題を解決するために、モデルの表面を
ならう非接触ならい制御方式において、3個の非接触位
置検出装置によって、モデル表面の3点を測定し、前記
3点で構成される三角形の重心を求め、前記非接触位置
検出装置から前記重心までの距離と基準変位量との差分
を求め、前記重心の接線方向の速度成分と、前記差分を
補正する補正速度成分によってならいを行うことを特徴
とする非接触ならい制御方式が、提供される。
〔作用〕
モデルと位置検出器の距離を3個の測定器で測定し、3
個の点で構成される三角形の重心と測定器の距離を求め
て、ならうので、モデルまでの距離が正確に測定でき、
より精度の高いならい制御が可能になる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の非接触ならい制御方式の概略図である
。位置検出器1は3個のレーザ位置検出器2.3及び4
で構成れさている。ここで3個のレーザ位置検出器はそ
の位置が同一水平面上で、正三角形の頂点になるように
配置されている。各レーザ位置検出器はそれぞれ垂直方
向にレーザ光を出し、その反射波から、モデル4との位
置を検出する。
それぞれのレーザ位置検出器からのレーザ光の測定個所
をA、B、Cとする。この3点で三角形ができ、その重
心をPgとし、その座標値を(Xl、yl、zl)とす
る。またこの三角形で決まる平面をSとする。平面Sは
次の式で表すことができる。
x+a y+b z+c−0 ただし、a、b及びCは定数である。
この重心pgと位置検出器1との距離は前述の各レーザ
位置検出器の測定した距#12.13.24から計算す
ることができ、その距離を!lとする。
〔表面ならい〕
まず表面ならいの場合を説明する。第2図は表面ならい
の説明図である。ならい平面をX−Z平面、基準変位量
を!とする。重心pgを通り、ならい平面上のモデル5
に対する接線りは以下の式%式% また、X軸に対する接線の傾きθは以下の式で現れる。
θ=tan−’ (−1/b) ここで、変位の誤差量Δlは、 Δ1=xx−tz である。そこで、X軸及びZ軸の速度成分■χ、Vzは
、 Vx干Vcosθ Vz=VAstnθ−にΔl で表すことができる。ただし、ここでVAはモデル5の
接線方向のベクトルを表す。この速度指令でX軸とZ軸
のサーボモータを駆動すれば、ならい動作を行うことが
できる。
〔輪郭ならい〕
次に輪郭ならいについて述べる。第3図(a)、(b)
及び(C)はこれらの傾きを求めるための説明図である
第3図(a)は位置検出器がモデルの輪郭をならう図で
ある。位置検出器1はモデル゛6を2軸の高さ一定でな
らう。現在、位置検出器1は点りのま上にありその接線
方向の点をFとする。実際に位置検出器1が進行するの
はE点でなければならない。
第3図(b)は第3図(a)のxY平面図である。ここ
で、D点でのモデル6の接線方向のベクトルをVとする
と、それぞれX軸及びY軸方向のベクトルVx及びvy
は、 Vx=Vcosθ Vy=Vs inθ である。
第3図(c)は第3図(a)のXZ平面図である。ここ
で、基準変位量に対する誤差量Δlに相当する分を補正
する必要があり、点Fでのモデル6に対する接線をLと
すると、補正分は、Δj!janθト2 で表すことができる。
同様にY−Z平面上の補正分は、 Δftanθy−z で表すことができる。従って、それぞれX軸及びY軸へ
の速度指令は、以下の式で与えられる。
Vx=VcosθX−Y+にΔff1tanθに一2V
x−Vsinθx−、+にΔj!tanθV。
ただし、ここでkは定数である。この速度指令でX軸及
びY軸のサーボモータを駆動すれば、輪郭ならいを行う
ことができる。
第4図は本発明を実施するためのならい制御装置のハー
ドウェアのブロック図である。プロセッサ11はROM
12に格納されたシステムプログラムに従って、ならい
制御装置全体を制御する。
RAM13は一時的にデータを格納するのに使用される
。不揮発性メモリ14には、モデル形状のディジタルデ
ータが格納される。不揮発性メモリは0MO3をバッテ
リバックアップしており、電源が切断されても収拾され
たデータは保持される。
グラフィック制御回路は各種のデータをビデオ信号に変
換し、表示装置t 16 aに送り、表示装置16aは
これらのデータを表示する。
速度制御回路18は上記に述べた速度指令を受けて、サ
ーボモータの制御信号をサーボアンプ19に与え、サー
ボアンプ19はサーボモータ20を駆動する。サーボモ
ータ20にはタコジェネレータ21が結合されており、
速度制御回路18に速度信号を帰還する。これらの速度
制御回路等の要素はそれぞれx、y、z軸の3軸分ある
が、すべて同じ構造なので、図ではl軸分のみ表してい
る。
位置検出器1にはレーザ位置検出器2.3及び4が設け
られており、測定された距離は入力回路6に送られ、プ
ロセッサ11によって読み取られ、先に述べたならい制
御に必要なデータが計算される。
このようにして、モデルの表面をならい、ならい加工を
実行し、また、単にモデルの表面をならって、モデルの
形状データをディジタルな形式で収拾することもできる
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明では、3個の点の位置を測定
して、その重心の距離を求めてならい制御を行うように
したので、精度のよいならい制御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の非接触ならい制御方式の概略図、 第2図は表面ならいの説明図、 第3図(a)は位置検出器がモデルの輪郭をならう状態
を示す図、 第3図(b)は第3図(a)のXY平面図、第3図(c
)は第3図(a)のYZ平面図、第4図は本発明を実施
するためのならい制御装置のハードウェアのブロック図
である。 1・−・−・・−・−・・−・位置検出器2〜4・−−
−−−−・・・・−レーザ位置検出器5−−−−−−−
−・・・−一−〜−モデル6−・・・・・−・−・−モ
デル 11−・−・−・・−−−−−プロセッサ12・・−・
・−−−−−・−・・メモリ13・−・     RA
M 14−・・−・・−・・・−不揮発性メモリ16・・−
・・−・−−−−−−・グラフィック制御回路16a 
   表示装置 17−・・・・・・−・・・キーボード18−・・・−
・・−・−・−速度制御回路19−・−−一−−−−−
・・−サーボアンプ20−・・−−−−−−・・・−・
サーボモータ21−−−−−−−−・・−・・タコジェ
ネレータP g−−−−−−−・−・−・・・重心特許
出願人 ファナック株式会社 代理人   弁理士  服部毅巖 第2図 第3 (b) 第3 図 (C) 第4図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)モデルの表面をならう非接触ならい制御方式にお
    いて、 3個の非接触位置検出装置によって、モデル表面の3点
    を測定し、 前記3点で構成される三角形の重心を求め、前記非接触
    位置検出装置から前記重心までの距離と基準変位量との
    差分を求め、 前記重心の接線方向の速度成分と、前記差分を補正する
    補正速度成分によってならいを行うことを特徴とする非
    接触ならい制御方式。
  2. (2)前記非接触位置検出器はレーザ位置検出器を使用
    することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の非接
    触ならい制御方式。
  3. (3)モデルの表面をならいながらワークを加工するこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の非接触なら
    い制御方式。
  4. (4)モデルの表面をならって、モデルの形状データを
    ディジタルなデータとして収拾することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の非接触ならい制御方式。
JP2006389A 1989-01-30 1989-01-30 非接触ならい制御方式 Pending JPH02205453A (ja)

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JPH02205453A true JPH02205453A (ja) 1990-08-15

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6215063A (ja) * 1985-07-10 1987-01-23 Shin Meiwa Ind Co Ltd 罫書き線追従装置における距離、姿勢制御装置
JPS63295162A (ja) * 1987-05-26 1988-12-01 Fanuc Ltd 非接触ならい方式

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6215063A (ja) * 1985-07-10 1987-01-23 Shin Meiwa Ind Co Ltd 罫書き線追従装置における距離、姿勢制御装置
JPS63295162A (ja) * 1987-05-26 1988-12-01 Fanuc Ltd 非接触ならい方式

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