JPH01134238A - 鋼板の表面疵検査装置 - Google Patents
鋼板の表面疵検査装置Info
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- JPH01134238A JPH01134238A JP29298587A JP29298587A JPH01134238A JP H01134238 A JPH01134238 A JP H01134238A JP 29298587 A JP29298587 A JP 29298587A JP 29298587 A JP29298587 A JP 29298587A JP H01134238 A JPH01134238 A JP H01134238A
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、鋼板の表面疵検査装置に関するものである。
鋼板の表面疵を求める装置としては、「欠陥検査装置」
（特開昭５１−１４５３８７号公報）等の光学式表面
疵検査装置が多く使われている。第４図は、一般的な光
学式表面疵検査装置の構造を示す、レーザー光源２１か
らのレーザー光線を走査機構２２により鋼板１１表面上
に走査させる。鋼板１１からの反射光を受光レンズ２３
を介して光電変換素子２４により検出する。
（特開昭５１−１４５３８７号公報）等の光学式表面
疵検査装置が多く使われている。第４図は、一般的な光
学式表面疵検査装置の構造を示す、レーザー光源２１か
らのレーザー光線を走査機構２２により鋼板１１表面上
に走査させる。鋼板１１からの反射光を受光レンズ２３
を介して光電変換素子２４により検出する。
これら、光学式表面疵検査装置は比較的小さな疵を検出
するが、押し疵等の疵は検出率が低く、また塗油ムラに
より誤検出をすることがある。
するが、押し疵等の疵は検出率が低く、また塗油ムラに
より誤検出をすることがある。
一方、′に１磁力を利用した疵検査装置としては「磁気
によるｇ鋼板欠陥検出装置Ｊ （特開昭５４−１３７０
６２号公報）等がある。第５図は、漏洩磁束による欠陥
検出装置の一般的な構造を示す。鋼板を直流電磁石２５
により磁化させる。このとき表面疵２６があると漏洩磁
束２７が発生し、これを感磁性素子２８にて検出する。
によるｇ鋼板欠陥検出装置Ｊ （特開昭５４−１３７０
６２号公報）等がある。第５図は、漏洩磁束による欠陥
検出装置の一般的な構造を示す。鋼板を直流電磁石２５
により磁化させる。このとき表面疵２６があると漏洩磁
束２７が発生し、これを感磁性素子２８にて検出する。
感磁性素子２８は、浮上用エアー噴出口２９から一定流
量のエアーを噴出することで、鋼板１１からのギャップ
を一定に保っている。
量のエアーを噴出することで、鋼板１１からのギャップ
を一定に保っている。
これら、電磁力を使用した疵検査装置は、塗油ムラや無
害な汚れにより誤検出することはなく、押し疵等の光学
的には区別が難しいが材質的に変化している疵について
も、比較的よく疵を検出する。しかし、全般的な疵の検
出率は光学式に比べ劣る。
害な汚れにより誤検出することはなく、押し疵等の光学
的には区別が難しいが材質的に変化している疵について
も、比較的よく疵を検出する。しかし、全般的な疵の検
出率は光学式に比べ劣る。
光学式表面疵検査送置では鋼板表面の塗油ムラや、無害
の汚れがあると、本来疵でない部分を疵と判断すること
がある（以下、このことを過検出と呼ぶ）。
の汚れがあると、本来疵でない部分を疵と判断すること
がある（以下、このことを過検出と呼ぶ）。
さらに、光学式表面疵検査装置は、鋼板表面の光学的性
質のみを情報として、飾部の材質的変化や疵の深さに関
する情報は得られないため、疵部・疵グレードを分類す
るには情報が不足している。
質のみを情報として、飾部の材質的変化や疵の深さに関
する情報は得られないため、疵部・疵グレードを分類す
るには情報が不足している。
一方、電磁力を利用した疵検査方式だけでは、微小な疵
に対する検出率は十分でない。
に対する検出率は十分でない。
本発明は、以上の如き問題点を有利に解決するためにな
したもので、その要旨とするところは。
したもので、その要旨とするところは。
光学的な疵検査装置と、電磁力を利用した疵検査装置と
、各々の検査装置からの表面疵検出信号を処理する複合
疵信号処理装置を具備してなる鋼板の表面疵検査装置で
ある。
、各々の検査装置からの表面疵検出信号を処理する複合
疵信号処理装置を具備してなる鋼板の表面疵検査装置で
ある。
次に第１図により、本発明の検査装置の一実施例を説明
する。
する。
鋼板検査ライン等において、磁化ロール１２を鋼板１１
に接触させ、飾部からでる漏洩磁束を漏洩磁束検出セン
サ１３で検出する。
に接触させ、飾部からでる漏洩磁束を漏洩磁束検出セン
サ１３で検出する。
漏洩磁束式疵検査装置から少し離れた位置に、光学式表
面疵検査装置１４を設置する。漏洩磁束検出センサ１３
の信号と光学式表面疵検査装置１４の信号は、ライン速
度センサ１５によってライン同期をとり、複合疵信号処
理装置１６によって、疵検出さらには疵部・疵グレード
判定が行なわれる。
面疵検査装置１４を設置する。漏洩磁束検出センサ１３
の信号と光学式表面疵検査装置１４の信号は、ライン速
度センサ１５によってライン同期をとり、複合疵信号処
理装置１６によって、疵検出さらには疵部・疵グレード
判定が行なわれる。
第２図を用いて、疵検出率が向上する理由を説明する。
第２図の（Ａ）は光学式表面疵検査装置の信号波形例、
第２図の（Ｂ）は漏洩磁束式疵検査装置の信号波形例で
ある。横軸は鋼板表面上の距離あるいはそれに対応する
時間であり、縦軸は反射光強度に対応した電圧と漏洩磁
束に対応した電圧である。
第２図の（Ｂ）は漏洩磁束式疵検査装置の信号波形例で
ある。横軸は鋼板表面上の距離あるいはそれに対応する
時間であり、縦軸は反射光強度に対応した電圧と漏洩磁
束に対応した電圧である。
光学式及び漏洩磁束方式とも疵以外の健全部分において
も信号はある。これは一般に地合成分あるいはノイズ成
分と呼ばれ１図中それぞれＮｏ。
も信号はある。これは一般に地合成分あるいはノイズ成
分と呼ばれ１図中それぞれＮｏ。
Ｎｍで示されるレベルの信号である。従来の光学式表面
疵検査装置単体による検査の場合、地合成分より十分大
きく、しきい値Ｔｈａｔを設定し、Ｔｈｏｌより大きな
信号に対して疵と判定している。
疵検査装置単体による検査の場合、地合成分より十分大
きく、しきい値Ｔｈａｔを設定し、Ｔｈｏｌより大きな
信号に対して疵と判定している。
しきい値Ｔｈｏｌは小さいほど多くの疵を検出するが、
逆に疵でない箇所を疵と判定する過検出が増える。一般
にしきい値Ｔｈｏｌは地合成分レベルＮｏの２倍程度に
選定することが多い。
逆に疵でない箇所を疵と判定する過検出が増える。一般
にしきい値Ｔｈｏｌは地合成分レベルＮｏの２倍程度に
選定することが多い。
したがって第２図の場合、光学式表面疵検査装置単体に
より疵Ｓ３と８６が検出できる６図中８１から８６は、
疵の候補箇所を示す、同様にして漏洩磁束式疵検査装置
単体によりＳｌと８３が検出できる。すなわち、光学式
と漏洩磁束式において検出可能な疵種は異なるため、複
合させることにより疵検出率は向上する。
より疵Ｓ３と８６が検出できる６図中８１から８６は、
疵の候補箇所を示す、同様にして漏洩磁束式疵検査装置
単体によりＳｌと８３が検出できる。すなわち、光学式
と漏洩磁束式において検出可能な疵種は異なるため、複
合させることにより疵検出率は向上する。
さらに、複合することにより、しきい値をそれぞれＴｈ
ｏｌからＴｈｏ２へ、Ｔｈｍ１からＴｈｍ２へと低くす
ることができる。第２図において光学式表面疵検査装置
単体によりしきい値を下げた場合。
ｏｌからＴｈｏ２へ、Ｔｈｍ１からＴｈｍ２へと低くす
ることができる。第２図において光学式表面疵検査装置
単体によりしきい値を下げた場合。
新たに８２と８４と８５が疵の候補となるが過検出であ
る可能性も強い、そこで、漏洩磁束式疵検査装置のほう
でも候補によるＳ５のみを疵と判定すれば、即ち両方の
候補の論理積で判定すれば過検出を抑えることができる
。
る可能性も強い、そこで、漏洩磁束式疵検査装置のほう
でも候補によるＳ５のみを疵と判定すれば、即ち両方の
候補の論理積で判定すれば過検出を抑えることができる
。
次に、疵部・疵グレードの判定が向上することを第３図
を用いて説明する。従来の光学式表面疵検査装置では、
表面の疵の大きさと疵の反射率の差（濃淡の差）により
疵部と疵グレードの評価をしている。もちろん、検出部
を複数配置したいわゆる複眼式の場合、正反射信号と乱
反射信号が得られ、さらに電気的な周波数フィルタによ
り多くの信号を得ることができるが、いずれにしても光
学式だけでは、疵の深さや材質変化に対する情報は得ら
れない。
を用いて説明する。従来の光学式表面疵検査装置では、
表面の疵の大きさと疵の反射率の差（濃淡の差）により
疵部と疵グレードの評価をしている。もちろん、検出部
を複数配置したいわゆる複眼式の場合、正反射信号と乱
反射信号が得られ、さらに電気的な周波数フィルタによ
り多くの信号を得ることができるが、いずれにしても光
学式だけでは、疵の深さや材質変化に対する情報は得ら
れない。
そこで漏洩磁束法を複合させることにより、疵の深さや
材質変化に対する情報を得る。第３図において、汚れ、
塗油ムラは、光学式では信号があるが、漏洩磁束法では
全く信号はない、さらに、浅いが黒っぽい疵については
、光学式の信号は大きく、漏洩磁束法の信号は小さい、
逆に、深くて白っぽい疵や、押し疵のように材質的に変
化している疵は、漏洩磁束法の信号の方が大きくなる。
材質変化に対する情報を得る。第３図において、汚れ、
塗油ムラは、光学式では信号があるが、漏洩磁束法では
全く信号はない、さらに、浅いが黒っぽい疵については
、光学式の信号は大きく、漏洩磁束法の信号は小さい、
逆に、深くて白っぽい疵や、押し疵のように材質的に変
化している疵は、漏洩磁束法の信号の方が大きくなる。
すなわち、鋼板表面の光学的特性の疵評価と、疵の深さ
及び材質変化に対する情報とを組み合わせて判定するこ
とにより、第３図に示されるような疵種の判定ができ、
疵部・疵グレードの判定精度を上げることができる。
及び材質変化に対する情報とを組み合わせて判定するこ
とにより、第３図に示されるような疵種の判定ができ、
疵部・疵グレードの判定精度を上げることができる。
（１）疵検出率が向上する。
（２）疵部・疵グレードの判定精度が向上する。
第１図は、本発明に係る鋼板表面疵検査装置の一実施例
を示す構成図、第２図は、複合により疵検出率が向上す
ることを説明するための波形図であって、（Ａ）は光学
式表面疵検査装置の信号波形例、（Ｂ）は漏洩磁束式検
査装置の信号波形例を示す。 第３図は、疵部及び疵グレード判定合致率が向上するこ
とを説明するための波形図であり、疵種ごとの代表的な
疵信号波形例を示す。 第４図は、光学式表面疵検査装置の一般的な構造を示す
ブロック図、第５図は、漏洩磁束式検査装置の一般的な
構造を示すブロック図である。 １１：ｔＩ４板 １２：磁化ロール１３
：漏洩磁束検出センサ １４：光学式表面疵検出装置 １５ニライン速度センサ １６：複合疵信号処理装置１１７：ロール２１：レーザ
ー光源 ２２：走査機構２３：受光レンズ
２４：光電変換素子２５：直流電磁石 ２
６：表面疵２７：漏洩磁束 ２８：感磁性素
子２９：浮上用エアー噴出口 憚 １ 図 声２図 を 声３図 茅４１刀 ９５１図
を示す構成図、第２図は、複合により疵検出率が向上す
ることを説明するための波形図であって、（Ａ）は光学
式表面疵検査装置の信号波形例、（Ｂ）は漏洩磁束式検
査装置の信号波形例を示す。 第３図は、疵部及び疵グレード判定合致率が向上するこ
とを説明するための波形図であり、疵種ごとの代表的な
疵信号波形例を示す。 第４図は、光学式表面疵検査装置の一般的な構造を示す
ブロック図、第５図は、漏洩磁束式検査装置の一般的な
構造を示すブロック図である。 １１：ｔＩ４板 １２：磁化ロール１３
：漏洩磁束検出センサ １４：光学式表面疵検出装置 １５ニライン速度センサ １６：複合疵信号処理装置１１７：ロール２１：レーザ
ー光源 ２２：走査機構２３：受光レンズ
２４：光電変換素子２５：直流電磁石 ２
６：表面疵２７：漏洩磁束 ２８：感磁性素
子２９：浮上用エアー噴出口 憚 １ 図 声２図 を 声３図 茅４１刀 ９５１図
Claims (1)
- 鋼板の表面疵を検査するにあたり、光学的な疵検査装置
と、電磁力を利用した疵検査装置と、各々の検査装置か
らの表面疵検出信号を処理する複合疵信号処理装置を具
備してなる鋼板の表面疵検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29298587A JPH01134238A (ja) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | 鋼板の表面疵検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29298587A JPH01134238A (ja) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | 鋼板の表面疵検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01134238A true JPH01134238A (ja) | 1989-05-26 |
Family
ID=17788978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29298587A Pending JPH01134238A (ja) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | 鋼板の表面疵検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01134238A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04348272A (ja) * | 1991-01-19 | 1992-12-03 | Nkk Corp | 金属帯の異常部検出装置 |
| JPH05196581A (ja) * | 1992-01-20 | 1993-08-06 | Nkk Corp | 鋼板の欠陥有害度測定装置 |
| US5512821A (en) * | 1991-06-04 | 1996-04-30 | Nkk Corporation | Method and apparatus for magnetically detecting defects in an object with compensation for magnetic field shift by means of a compensating coil |
| JP2007178384A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Aichi Mach Ind Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
| JP2009052904A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Jfe Steel Kk | 磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置 |
| JP2010107513A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Nippon Steel Corp | 金属棒上の表面欠陥の検出及び検証のための検査システム |
| CN104458756A (zh) * | 2014-12-13 | 2015-03-25 | 华东交通大学 | 一种基于机电光液一体化的皮带式钢轨智能探伤方法 |
| KR20150068157A (ko) * | 2013-12-11 | 2015-06-19 | 주식회사 포스코 | 강판의 결함 탐상 장치 및 방법 |
-
1987
- 1987-11-19 JP JP29298587A patent/JPH01134238A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04348272A (ja) * | 1991-01-19 | 1992-12-03 | Nkk Corp | 金属帯の異常部検出装置 |
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| CN104458756A (zh) * | 2014-12-13 | 2015-03-25 | 华东交通大学 | 一种基于机电光液一体化的皮带式钢轨智能探伤方法 |
| CN104458756B (zh) * | 2014-12-13 | 2017-03-22 | 华东交通大学 | 一种基于机电光液一体化的皮带式钢轨智能探伤方法 |
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