JPH01131501A - 広帯域反射防止膜 - Google Patents
広帯域反射防止膜Info
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- JPH01131501A JPH01131501A JP62290309A JP29030987A JPH01131501A JP H01131501 A JPH01131501 A JP H01131501A JP 62290309 A JP62290309 A JP 62290309A JP 29030987 A JP29030987 A JP 29030987A JP H01131501 A JPH01131501 A JP H01131501A
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- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、可視域ないし近赤外域、特に4000I11
ないし900nnの広帯域の波長領域の光に対して高効
率な反射防止作用を有する反射防止膜に関するものであ
る。
ないし900nnの広帯域の波長領域の光に対して高効
率な反射防止作用を有する反射防止膜に関するものであ
る。
(従来の技術)
従来、3層の可視域反射防止膜として、米国特許第3,
185.020号に示されるようなN5ub/N+ (
λ0/4)−NZ(λo/2) −Nl (λ0/4)
/NOの3群からなる基本タイプが知られている。ここ
で、N、は中間屈折率物質(1,6〜1.85程度)で
あり、N2は高屈折率物質(1,9〜2.3程度)であ
り、N、は低屈折率物質(1,2〜1.4程度)である
。
185.020号に示されるようなN5ub/N+ (
λ0/4)−NZ(λo/2) −Nl (λ0/4)
/NOの3群からなる基本タイプが知られている。ここ
で、N、は中間屈折率物質(1,6〜1.85程度)で
あり、N2は高屈折率物質(1,9〜2.3程度)であ
り、N、は低屈折率物質(1,2〜1.4程度)である
。
この3層反射防止膜の応用としては、
(t)N、(λ。/4)を、2層又は3層の等価膜に置
換したタイプ、 (21Nl(λ。/4)を、N1′(λ。/4) −N
2 ’ (λ。/4)またはN1#(λ。/4) H
z ’ (λ。/4) −83’ (λ。/4)の2群
又は3群に置き換えたタイプ、 (3) (2)のタイプを、さらに等価膜に置換した
タイプ、 ’(41N、(λ。/4)を、Nl(3λ。/4)又は
Nl ’ (λ。/2)・N2′(λ。/4)等に置き
換えられたタイプ、(51N2(λ。/2)を、N2′
(λ。/2) −sg ’ (λ。/2)−ht−Cλ
。/2)に置き換えたタイプ、(6)NZ(λ。/2)
を、N2′(λ。/、i) −NZ ’ (λ。/4)
に置き換えたタイプ 等の各タイプ又はこれらの複合タイプが知られている。
換したタイプ、 (21Nl(λ。/4)を、N1′(λ。/4) −N
2 ’ (λ。/4)またはN1#(λ。/4) H
z ’ (λ。/4) −83’ (λ。/4)の2群
又は3群に置き換えたタイプ、 (3) (2)のタイプを、さらに等価膜に置換した
タイプ、 ’(41N、(λ。/4)を、Nl(3λ。/4)又は
Nl ’ (λ。/2)・N2′(λ。/4)等に置き
換えられたタイプ、(51N2(λ。/2)を、N2′
(λ。/2) −sg ’ (λ。/2)−ht−Cλ
。/2)に置き換えたタイプ、(6)NZ(λ。/2)
を、N2′(λ。/、i) −NZ ’ (λ。/4)
に置き換えたタイプ 等の各タイプ又はこれらの複合タイプが知られている。
これらは、いずれも可視域反射防止効率の向上及び広帯
域化を目的とした上記3層反射防止膜の改良型と考えら
れる。
域化を目的とした上記3層反射防止膜の改良型と考えら
れる。
(発明が解決しようとする問題点)
最近の光学器械は、オートフォーカス、アライメント等
の多機能化、あるいはコンパクト化のため、同一の光学
系で可視光とLED、LD等から発せられる近赤外光を
用いる要求が強まってきている。従って、可視域(40
0ないし700nm程度)のみの反射防止だけでなく、
可視域及び近赤外域(400ないし900nm程度)に
かけての反射防止が要望されている。
の多機能化、あるいはコンパクト化のため、同一の光学
系で可視光とLED、LD等から発せられる近赤外光を
用いる要求が強まってきている。従って、可視域(40
0ないし700nm程度)のみの反射防止だけでなく、
可視域及び近赤外域(400ないし900nm程度)に
かけての反射防止が要望されている。
しかし、従来のMgF、単層反射防止膜では反射防止効
率が低く、これを使用した光学器械ではゴースト、フレ
アーによる悪影響が生じたり、光量不足により性能の低
下が生じるという欠点があった。
率が低く、これを使用した光学器械ではゴースト、フレ
アーによる悪影響が生じたり、光量不足により性能の低
下が生じるという欠点があった。
一方、従来の多層反射防止膜では可視域の反射防止効率
は充分に得られるが、近赤外域では反射が急増し基板そ
のままの時よりも反射が増してしまい、近赤外域では反
射防止膜として役に立たないものであった。
は充分に得られるが、近赤外域では反射が急増し基板そ
のままの時よりも反射が増してしまい、近赤外域では反
射防止膜として役に立たないものであった。
(問題を解決する手段)
本発明に係る多層反射防止膜の特徴とするところは、基
板Sの屈折率をN5ub 、そして、これに積層したn
群(nは4以上の整数)の被膜CNいCNz、−・−・
・、CNn、CN、の屈折率を、N1、N2、HH+H
H、N11−1.Nll とし、2≦i≦n−2の関係
のもとてこのうち最高の屈折率を有する被膜をCNiそ
の屈折率をNiとした反射防止膜S/NI、・・・・・
、N5−r 、Ni % Nz−r・・・”’ 、Nn
−1、Nn/ airにおいて、被膜CN、。
板Sの屈折率をN5ub 、そして、これに積層したn
群(nは4以上の整数)の被膜CNいCNz、−・−・
・、CNn、CN、の屈折率を、N1、N2、HH+H
H、N11−1.Nll とし、2≦i≦n−2の関係
のもとてこのうち最高の屈折率を有する被膜をCNiそ
の屈折率をNiとした反射防止膜S/NI、・・・・・
、N5−r 、Ni % Nz−r・・・”’ 、Nn
−1、Nn/ airにおいて、被膜CN、。
CN、1.、、、、 、CNn−、、CNfiは光学的
膜厚がすべてλ。/4(λ。:中心波長)であり、各被
膜の屈折率が N1 > Ni+1 >”・> Nn−+ > Nn
> N。
膜厚がすべてλ。/4(λ。:中心波長)であり、各被
膜の屈折率が N1 > Ni+1 >”・> Nn−+ > Nn
> N。
Nz > Ni+1 >・・・・・> Nl > N5
ubN i + I>N i −+ なる関係を有することである。
ubN i + I>N i −+ なる関係を有することである。
(関連技術の説明)
まず、ガラス基板と空気の境界面での複素振幅反射率r
(reiδ)は、第6図に示すように、横軸Xを実数
軸、縦軸Yを虚数軸とすると、実数軸Y(7)−0,2
0(7)点OI(r = 0.20、δ=180”)で
表わされる。これはApfe1表示と呼ばれる。そして
、このガラス基板に薄膜が蒸着されると、rの値が変化
する。例えば、ZnS (n+ =2.30)を蒸着す
ると、光学的膜厚n、d、が増加し、第6図の点Of
(r= 0.39)を中心に半径0+Ozの円周上
を描き、言i円周上の点Pから原点0までの距離がその
時の振幅、すなわちOPがrを表ゎす。
(reiδ)は、第6図に示すように、横軸Xを実数
軸、縦軸Yを虚数軸とすると、実数軸Y(7)−0,2
0(7)点OI(r = 0.20、δ=180”)で
表わされる。これはApfe1表示と呼ばれる。そして
、このガラス基板に薄膜が蒸着されると、rの値が変化
する。例えば、ZnS (n+ =2.30)を蒸着す
ると、光学的膜厚n、d、が増加し、第6図の点Of
(r= 0.39)を中心に半径0+Ozの円周上
を描き、言i円周上の点Pから原点0までの距離がその
時の振幅、すなわちOPがrを表ゎす。
次に、二層反射防止を考える。n□b=1.52の基板
をλ。で残留反射O%とするためには、n5ub=1.
52を等価的にn sub = 1.9にしてやればよ
いことが知られている。そのためには、第7図に示すよ
うに、n = 1.7の物質をλO/4蒸着し、さらに
n=1.38をλ。/4蒸着すればよいことがわかる。
をλ。で残留反射O%とするためには、n5ub=1.
52を等価的にn sub = 1.9にしてやればよ
いことが知られている。そのためには、第7図に示すよ
うに、n = 1.7の物質をλO/4蒸着し、さらに
n=1.38をλ。/4蒸着すればよいことがわかる。
なお、第7図において点線10.12は反射率R=1%
、0.5%の領域を示し、また点線14.16.18は
波長比ν=1.1、ν=1.2、ν=1.3を示す。
、0.5%の領域を示し、また点線14.16.18は
波長比ν=1.1、ν=1.2、ν=1.3を示す。
n = 1.7の物質が得られない場合は、第8図に示
すように、n > 1.7なる物質例えばZrO,(n
=2、(13)と、n < l、 7なる物質、例えば
MgF。
すように、n > 1.7なる物質例えばZrO,(n
=2、(13)と、n < l、 7なる物質、例えば
MgF。
(n=1.38)でn+1.7と等価になるように、2
.03(位相膜厚:δ+>1.38(位相膜厚:δ2)
で置換すればよい。これは二層等価膜(またはコンポジ
ット膜と呼ばれるもので、三層対称等価膜とともに、単
波長においてはnM<n<nLの屈折率の単層膜と等価
の膜を得るため極めて有効な手法である。ただしこの場
合、膜厚をA0/4以下で制御する技術が必要になる。
.03(位相膜厚:δ+>1.38(位相膜厚:δ2)
で置換すればよい。これは二層等価膜(またはコンポジ
ット膜と呼ばれるもので、三層対称等価膜とともに、単
波長においてはnM<n<nLの屈折率の単層膜と等価
の膜を得るため極めて有効な手法である。ただしこの場
合、膜厚をA0/4以下で制御する技術が必要になる。
以上述べたてきた二層反射防止膜では、前半の1.7(
λ。/4) 、2.03 (δ、)−1,38(δ2)
という層は、後半の1.38(λ。/4)層で無反射す
るための、すなわち基板の屈折率を等価的にn5ub’
== 1.38”;1.9にするための基板屈折率調
整層と考えることができる。
λ。/4) 、2.03 (δ、)−1,38(δ2)
という層は、後半の1.38(λ。/4)層で無反射す
るための、すなわち基板の屈折率を等価的にn5ub’
== 1.38”;1.9にするための基板屈折率調
整層と考えることができる。
これらの二層反射防止膜は■コート(V coat)と
呼ばれる単波長域反射防止膜であり、・中心波長以外に
おいては、第7図の点線14.16.18で示すように
反射率は単調に増加する。
呼ばれる単波長域反射防止膜であり、・中心波長以外に
おいては、第7図の点線14.16.18で示すように
反射率は単調に増加する。
次に、Wコート(W coat)と呼ばれる三層反射防
止膜について第9図、第10図及び第11図に基づいて
説明する。第9図において、点線20は1.63(λ。
止膜について第9図、第10図及び第11図に基づいて
説明する。第9図において、点線20は1.63(λ。
/4) −1,38(λ。/4)のコートを示し、線
22で1.63(λ。/4)−2,05(λ。/2)−
1,38(λ。/4)のWコートを示す。中心波長λ。
22で1.63(λ。/4)−2,05(λ。/2)−
1,38(λ。/4)のWコートを示す。中心波長λ。
においては、2.05(λ。/2)層の有無に関わらず
残留反射はVコートとWコートとで変わらない。しかし
、中心波長外、例えばν=λ/λ。
残留反射はVコートとWコートとで変わらない。しかし
、中心波長外、例えばν=λ/λ。
=0.7においては第10図に示すようにVコート20
では振幅反射率の軌跡は反射率0(原点O)まで戻らな
い。Wコート22では22で示すように2.05(ス。
では振幅反射率の軌跡は反射率0(原点O)まで戻らな
い。Wコート22では22で示すように2.05(ス。
/2)Nによっていくらか補正されて、反射率O(原点
O)に近い点まで戻る。
O)に近い点まで戻る。
同様にν=λ/λ。=1.3においては、第11図に示
すように、■コート20では振幅反射率の軌跡は原点0
を通り過ぎてしまい、Wコート22では2.05(λ。
すように、■コート20では振幅反射率の軌跡は原点0
を通り過ぎてしまい、Wコート22では2.05(λ。
/2)層によって補正され原点0に近い点で止まる。
このように三層反射防止膜は、二層反射防止膜に(λ。
/2)層を付加することによって、反射防止帯域を広く
することができる。つまり、三層反射防止膜の基本型膜
(I) ngub/ns(λo/4) nH(λ−/2)−n
L(λo/4)/airにおいて、nM(λ。/4)層
はn i、 (A a/4)層で充分な反射防止効果を
得るための基板屈折率調整層、nH(λ。/2)層は反
射防止帯域の広帯域化層、nL(λ。/4)層は反射防
止層とそれぞれ独立した機能をもっていると考えられる
。
することができる。つまり、三層反射防止膜の基本型膜
(I) ngub/ns(λo/4) nH(λ−/2)−n
L(λo/4)/airにおいて、nM(λ。/4)層
はn i、 (A a/4)層で充分な反射防止効果を
得るための基板屈折率調整層、nH(λ。/2)層は反
射防止帯域の広帯域化層、nL(λ。/4)層は反射防
止層とそれぞれ独立した機能をもっていると考えられる
。
三層反射防止膜の改良型
nsmb/n+*+ (λ、/4)−nxi(λe/4
)−n、I(λo/2)−nL(λ−/4)/airL
−一一一」 −一一一一」 (n−1) (I[−2) の場合は、膜(II−1)は基板屈折率調整層をnMI
(λ、/4) −n、t(λ。/4)−と多層化して最
適な基板屈折率の調整を行い、膜(1)の反射防止効率
を向上させた構成、膜(II−2)は、広帯域化層をn
ut(λ、/2) −n 、、(λo/2) n+1
2(λ。/2)と多層化して膜(I)の反射防止帯域を
広く改良した構成となる。膜(II−1)の特性を第1
2図ないし第14図に示し、膜(If−2)の特性を第
15図ないし第17図に示すが、第12図及び第15図
は第9図に対応し、第13図及び第16図は第10図に
対応し、第14図及び第17図は第11図に対応する。
)−n、I(λo/2)−nL(λ−/4)/airL
−一一一」 −一一一一」 (n−1) (I[−2) の場合は、膜(II−1)は基板屈折率調整層をnMI
(λ、/4) −n、t(λ。/4)−と多層化して最
適な基板屈折率の調整を行い、膜(1)の反射防止効率
を向上させた構成、膜(II−2)は、広帯域化層をn
ut(λ、/2) −n 、、(λo/2) n+1
2(λ。/2)と多層化して膜(I)の反射防止帯域を
広く改良した構成となる。膜(II−1)の特性を第1
2図ないし第14図に示し、膜(If−2)の特性を第
15図ないし第17図に示すが、第12図及び第15図
は第9図に対応し、第13図及び第16図は第10図に
対応し、第14図及び第17図は第11図に対応する。
第18図は、横軸に波長(n■)、縦軸に反射率(%)
をとった分光特性グラフ図であり、上記膜■、ll−1
、If−2の分光特性60.62.64を示す。
をとった分光特性グラフ図であり、上記膜■、ll−1
、If−2の分光特性60.62.64を示す。
三層反射防止膜の改良型膜(n−1)、(I[−2)を
基に、広帯域化層をn)11(λ、/2) −n H(
λ。/2)−nH□(λ。/2)に置換し、さらに、基
板屈折率調整層をA0付近の反射防止効率の向上ではな
く、λ。より離れた波長域での反射防止効率の向上を目
的としてnMI(λo/4) nMi(λ、/4)
−n 、1.(λ。/4)に置換し、各層の屈折率を最
適化することにより、次のような広帯域反射防止膜(I
I−3)が考えられる。
基に、広帯域化層をn)11(λ、/2) −n H(
λ。/2)−nH□(λ。/2)に置換し、さらに、基
板屈折率調整層をA0付近の反射防止効率の向上ではな
く、λ。より離れた波長域での反射防止効率の向上を目
的としてnMI(λo/4) nMi(λ、/4)
−n 、1.(λ。/4)に置換し、各層の屈折率を最
適化することにより、次のような広帯域反射防止膜(I
I−3)が考えられる。
(u−3)
具体的には、例えば、
1.52/1.46(λ。/4)−1,38(λ。/4
)−1,58(λ。/4)−2,03(λ。/2)−1
,58(λ。/2)−2,03(λ。/2)−1,38
(λ。/4)/airである。しかし、膜(I[−3)
のような広帯域反射防止膜の分光特性は、第19図及び
第20図に示すように、400ないし800nmではR
≦0.5%であるが、800nm以上では急激に反射率
が増加し、900nmでは基板自体の反射率を越えてし
まう。
)−1,58(λ。/4)−2,03(λ。/2)−1
,58(λ。/2)−2,03(λ。/2)−1,38
(λ。/4)/airである。しかし、膜(I[−3)
のような広帯域反射防止膜の分光特性は、第19図及び
第20図に示すように、400ないし800nmではR
≦0.5%であるが、800nm以上では急激に反射率
が増加し、900nmでは基板自体の反射率を越えてし
まう。
このように反射率増加の勾配が急峻であることは、斜入
射時の分光特性が短波長側にシフトすることを考え合わ
せると、広帯域反射防止膜にとっては非常に不利である
。
射時の分光特性が短波長側にシフトすることを考え合わ
せると、広帯域反射防止膜にとっては非常に不利である
。
また、この急激な反射率増加は、4・00nmないし8
00nmにおいて充分に基板の等価的な屈折率を調整し
た結果であり、三層反射防止膜(I)からの改良による
広帯域化はこの膜(II−3)の膜構成が限界であると
考えるべきである。
00nmにおいて充分に基板の等価的な屈折率を調整し
た結果であり、三層反射防止膜(I)からの改良による
広帯域化はこの膜(II−3)の膜構成が限界であると
考えるべきである。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
上記膜(n−1)において、反射防止帯域の広帯域化M
nH(λ。/2)を不均質度の大きf(Cλ。/2)層
である疑似不均質層とするため、 nMI (λo/4)−now(λ6/4) (nHI
>nuz) という二層に分割して、 という構成の五層広帯域反射防止膜を設定した。
nH(λ。/2)を不均質度の大きf(Cλ。/2)層
である疑似不均質層とするため、 nMI (λo/4)−now(λ6/4) (nHI
>nuz) という二層に分割して、 という構成の五層広帯域反射防止膜を設定した。
この構成は、同時にnoゎ、airを媒質、nHIを高
屈折率の基板(バルク)と考えると、(I[[) と見なすことができる。すなわち、第1図(a)に示す
膜(III)を、第1図中)に示すように、五層膜中の
n、層を充分に厚いバルクと考えると、片面は媒質n5
ubに対する二層反射防止膜、反対面は媒質airに対
する二層反射防止膜と考えられ、それぞれ独立に設計し
各々の残留反射率rl 、rtの和を五層広帯域反射防
止膜(III)の残留反射率Rとみなすことができる。
屈折率の基板(バルク)と考えると、(I[[) と見なすことができる。すなわち、第1図(a)に示す
膜(III)を、第1図中)に示すように、五層膜中の
n、層を充分に厚いバルクと考えると、片面は媒質n5
ubに対する二層反射防止膜、反対面は媒質airに対
する二層反射防止膜と考えられ、それぞれ独立に設計し
各々の残留反射率rl 、rtの和を五層広帯域反射防
止膜(III)の残留反射率Rとみなすことができる。
ただし、実際にはn、は基板ではな(nd=λ。/4の
薄膜であるため、上記の考え方ではnH(λ。/4)層
での多重干渉を無視した近似になる。よって、五層広帯
域反射防止膜(II[)は高屈折率層nHを考えてやれ
ば、他の四層n□、nゎ及びnMI、1M4の屈折率は
二層反射防止条件により次のように決定できる。
薄膜であるため、上記の考え方ではnH(λ。/4)層
での多重干渉を無視した近似になる。よって、五層広帯
域反射防止膜(II[)は高屈折率層nHを考えてやれ
ば、他の四層n□、nゎ及びnMI、1M4の屈折率は
二層反射防止条件により次のように決定できる。
nHI =n露ub n。
nsz =nsub ’ n。
nH3”noon H3
1N4 °no nH
nsub =]、52 nイ=2.35とすると
、n、、b=1.52/1.695(λ、/4)−2,
107(λ、/4)−2,35(λo/4)−1,89
8(λ、/4)−1,238(λ。/4)/n0=1
(E−1)ところがnH4=1.238で化学的に安
定で耐久性のある蒸着物質がないため(ns+ 1M
4)層での残留反射をr z =0.005(=0.5
%)許容すると、より、 n、。=1.52/1.70(λ。/4)−2,11(
λ。/4)−2,35(λ。/4)−1,97(λ、/
4)−1,38(λ。/4)/airとなり、MgF
zがn−、= 1.38として使える。これらの物質を
使用したときのへpfe1表示を第2図、分光特性を第
3図に示す。第2図において、X軸に沿って描かれてい
るのは、中心波長での各層を重ねていったときの中心波
長での振幅反射率の軌跡でありY軸に沿って描かれてい
るのは、波長をパラメータとしたときの全層による振幅
反射率の軌跡である。
、n、、b=1.52/1.695(λ、/4)−2,
107(λ、/4)−2,35(λo/4)−1,89
8(λ、/4)−1,238(λ。/4)/n0=1
(E−1)ところがnH4=1.238で化学的に安
定で耐久性のある蒸着物質がないため(ns+ 1M
4)層での残留反射をr z =0.005(=0.5
%)許容すると、より、 n、。=1.52/1.70(λ。/4)−2,11(
λ。/4)−2,35(λ。/4)−1,97(λ、/
4)−1,38(λ。/4)/airとなり、MgF
zがn−、= 1.38として使える。これらの物質を
使用したときのへpfe1表示を第2図、分光特性を第
3図に示す。第2図において、X軸に沿って描かれてい
るのは、中心波長での各層を重ねていったときの中心波
長での振幅反射率の軌跡でありY軸に沿って描かれてい
るのは、波長をパラメータとしたときの全層による振幅
反射率の軌跡である。
n5ub=1.52以外の基板に対しても前半のn14
In、4zのみを変えることによって下記のように決定
できる。
In、4zのみを変えることによって下記のように決定
できる。
n−ul、=1.52/1.70(A o/4)−2,
IHλO/4)−2,35(λo/4)−1,97(λ
、/4)−1,38(λo/4)/air (E
−2)n−ub□1.60/1.76(λ0/4)−2
,13(λ0/4)−2,35(A O/4)−1,9
7(λ、/4)−1,38(λo/4)/air
(E 3)n□、=1.70/1.84(λ。/4
)−2,17(λ。/4)−2,35(λ。/4)−1
97(λ0/4)−1,38(λo/4)/air
(E 4)n、、b=1.80/1.92(λ。
IHλO/4)−2,35(λo/4)−1,97(λ
、/4)−1,38(λo/4)/air (E
−2)n−ub□1.60/1.76(λ0/4)−2
,13(λ0/4)−2,35(A O/4)−1,9
7(λ、/4)−1,38(λo/4)/air
(E 3)n□、=1.70/1.84(λ。/4
)−2,17(λ。/4)−2,35(λ。/4)−1
97(λ0/4)−1,38(λo/4)/air
(E 4)n、、b=1.80/1.92(λ。
/4)−2,20(λ。/4)−2,35(λ。/4)
−1,97(J 、/4)−1,38(λo/4) /
a ir (E −5)上記実施例の膜の各層の
屈折率を基板側からN、 、N2、N、 、N、 、N
5とすると、N3 >N4 >Ns >N6 N、>N2>N、>N5ub Nz>Na なる関係がある。
−1,97(J 、/4)−1,38(λo/4) /
a ir (E −5)上記実施例の膜の各層の
屈折率を基板側からN、 、N2、N、 、N、 、N
5とすると、N3 >N4 >Ns >N6 N、>N2>N、>N5ub Nz>Na なる関係がある。
これらの分光特性は、第3図に示すように、400〜1
000nmにおいてR<1%を満たす。
000nmにおいてR<1%を満たす。
さらに、第1図(blに示す分割モデルにおいて、n
tub ”’ n s −v n H” n oの反射
防止層を各々三層にすることによって、 また、第1図(a)に示す膜において、媒質n□。
tub ”’ n s −v n H” n oの反射
防止層を各々三層にすることによって、 また、第1図(a)に示す膜において、媒質n□。
と高屈折率層nHの屈折率差が少ない場合には、第1層
及び第2層を一つの層で兼用し、四層構造とすることが
できる。すなわち、 n5ub/ n141 (λ。/4) nH(λ、/
4)−n、z(λ、/4) −1M3(λ。/4)/a
irという四層広帯反射防止膜(Vl)を得る。この場
合、nMl(λ。/4)はn5ubとn14(λ。/4
)との間の単層反射防止条件n□−1庁Tλ−nH−に
基づき例えば次のように決定できる。
及び第2層を一つの層で兼用し、四層構造とすることが
できる。すなわち、 n5ub/ n141 (λ。/4) nH(λ、/
4)−n、z(λ、/4) −1M3(λ。/4)/a
irという四層広帯反射防止膜(Vl)を得る。この場
合、nMl(λ。/4)はn5ubとn14(λ。/4
)との間の単層反射防止条件n□−1庁Tλ−nH−に
基づき例えば次のように決定できる。
n、、−= 1.80/2.05(λ。/4) −2
,35(λ。/4) −1,97(λ、/4) −1,
38(λ、/4)/air (f’ −6)この構
成による膜のApfe1表示を第4図に、また分光特性
を第5図に示す。
,35(λ。/4) −1,97(λ、/4) −1,
38(λ、/4)/air (f’ −6)この構
成による膜のApfe1表示を第4図に、また分光特性
を第5図に示す。
同様に、n)1を中心にn、。〜rlN反射防止層、n
、〜n0反射防止層の両方または片方を多層化・ ある
いは広帯域化、高効率化することにより各種の多層広帯
域反射防止膜が理論上可能になる。
、〜n0反射防止層の両方または片方を多層化・ ある
いは広帯域化、高効率化することにより各種の多層広帯
域反射防止膜が理論上可能になる。
以上のように、本発明は高屈折率層を中間層とするため
反射防止膜の構成をn群(nは4以上)構成とし、基板
Sの屈折率をN5ub 、そして、これに積層したn群
(nは4以上の整数)の被膜CNnCN、 、・・・・
・、CN、1−1.CN11の屈折率をN、、 Nz1
.、、、、 、N、1−、、N、lとし、2≦i≦n−
2の関係のもとてこのうち最高゛の屈折率を有する被膜
をCNiその屈折率をNi とした反射防止膜S/Nl
、・・・・・、Ni−1%Nt・N i−1、””’
、N11−1 、Ng/ airにおいて、被膜CNi
、CNz1.、、、、 、CN、−、、CN。
反射防止膜の構成をn群(nは4以上)構成とし、基板
Sの屈折率をN5ub 、そして、これに積層したn群
(nは4以上の整数)の被膜CNnCN、 、・・・・
・、CN、1−1.CN11の屈折率をN、、 Nz1
.、、、、 、N、1−、、N、lとし、2≦i≦n−
2の関係のもとてこのうち最高゛の屈折率を有する被膜
をCNiその屈折率をNi とした反射防止膜S/Nl
、・・・・・、Ni−1%Nt・N i−1、””’
、N11−1 、Ng/ airにおいて、被膜CNi
、CNz1.、、、、 、CN、−、、CN。
は光学的膜厚がすべてλ。/4(λ。:中心波長)であ
り、各被膜の屈折率が Nt>Nr+r>・・・・−>N、−、>N、l>N。
り、各被膜の屈折率が Nt>Nr+r>・・・・−>N、−、>N、l>N。
N、>pJ、−、>・・・−・>N、>N5ubN =
、 + > N = −+ なる関係をもたせるものである。
、 + > N = −+ なる関係をもたせるものである。
上述したように、本発明による反射防止膜は、可視域な
いし近赤外域、特に400nmないし900nmの広帯
域の波長領域に対して高効率な反射防止作用を得ること
ができる。
いし近赤外域、特に400nmないし900nmの広帯
域の波長領域に対して高効率な反射防止作用を得ること
ができる。
第1図は本発明の構成原理を説明するための反射防止膜
の断面説明図、第2図は実施例膜E−1のApfe1表
示グラフ図、第3図は実施例膜E−2ないしE−5の分
光特性グラフ図、第4図は実施例膜B−6のApfe1
表示グラフ図、第5図は実施例l1l−6の分光特性グ
ラフ図、第6図はApfe1表示法の説明図、第7図は
二層反射防止膜のApfe1表示グラフ図、第8図は二
層等価反射防止膜のApfe1表示グラフ図、第9図な
いし第11図はWコートの三層反射防止膜のApfe1
表示グラフ図、第12図ないし第14図は膜(n−1)
の/1pfe1表示グラフ図、第15図ないし第17図
は膜(■−2) Apfe1表示グラフ図、第18図は
膜(I、n−i、■−2)の分光特性グラフ図、第19
図は膜(If−3)のApfe1表示グラフ図、第20
図は膜(n−3)の分光特性グラフ図である。 10.12・・・・・・反射率グラフ 1イ、16.18.20,22・・・・・・振幅グラフ
図面の浄二グカ容に変更なし) 党1区 手続補正書く方式) 63,3.17 昭和 年 月 日 1、事件の表示 昭和62年特許願第290309
号2、発明の名称 広帯域反射防止膜 3、補正をする者 事件との関係 出願人 名称 東京光学機械株式会社 4、代理人 手続補正書 63.3.17 昭和 年 月 日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 1、事件の表示 昭和62年特許願第290309
号2、発明の名称 広帯域反射防止膜 3、補正をする者 事件との関係 出願人 名称 東京光学機械株式会社 4、代理人 5、補正命令の日付 自 発 6、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄
(1)明細書第3頁第19行の“N21 ”を「N1
′」(2)同上第3頁第20行の“N、IF ″をrN
I” Jに訂正する。 (3)同上第3頁第20行の“N31F ”をrN、”
Jに訂正する。 (4)同上第4頁第4行及び第5行の“(4)Nl・・
・タイプ、”を削除する。 (5)同上第4頁第6行の“(5)”をr (4) j
に訂正する。 (6)同上第4頁第8行及び第9行の“(6)N2・・
・タイプ”を削除する。 (7) 同上第7頁第1行の“す。”の次に「これは
Apfe1表示と呼ばれる。」を挿入する。 (8) 同上第7頁第3行の“の基板を”の次に「n
= 1.38の物質を用いて形成して」を挿入する。 (9) 添付図面の第3図、第4図、第5図、第11
図、第18図及び第20図を別紙の通り訂正する。
の断面説明図、第2図は実施例膜E−1のApfe1表
示グラフ図、第3図は実施例膜E−2ないしE−5の分
光特性グラフ図、第4図は実施例膜B−6のApfe1
表示グラフ図、第5図は実施例l1l−6の分光特性グ
ラフ図、第6図はApfe1表示法の説明図、第7図は
二層反射防止膜のApfe1表示グラフ図、第8図は二
層等価反射防止膜のApfe1表示グラフ図、第9図な
いし第11図はWコートの三層反射防止膜のApfe1
表示グラフ図、第12図ないし第14図は膜(n−1)
の/1pfe1表示グラフ図、第15図ないし第17図
は膜(■−2) Apfe1表示グラフ図、第18図は
膜(I、n−i、■−2)の分光特性グラフ図、第19
図は膜(If−3)のApfe1表示グラフ図、第20
図は膜(n−3)の分光特性グラフ図である。 10.12・・・・・・反射率グラフ 1イ、16.18.20,22・・・・・・振幅グラフ
図面の浄二グカ容に変更なし) 党1区 手続補正書く方式) 63,3.17 昭和 年 月 日 1、事件の表示 昭和62年特許願第290309
号2、発明の名称 広帯域反射防止膜 3、補正をする者 事件との関係 出願人 名称 東京光学機械株式会社 4、代理人 手続補正書 63.3.17 昭和 年 月 日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 1、事件の表示 昭和62年特許願第290309
号2、発明の名称 広帯域反射防止膜 3、補正をする者 事件との関係 出願人 名称 東京光学機械株式会社 4、代理人 5、補正命令の日付 自 発 6、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄
(1)明細書第3頁第19行の“N21 ”を「N1
′」(2)同上第3頁第20行の“N、IF ″をrN
I” Jに訂正する。 (3)同上第3頁第20行の“N31F ”をrN、”
Jに訂正する。 (4)同上第4頁第4行及び第5行の“(4)Nl・・
・タイプ、”を削除する。 (5)同上第4頁第6行の“(5)”をr (4) j
に訂正する。 (6)同上第4頁第8行及び第9行の“(6)N2・・
・タイプ”を削除する。 (7) 同上第7頁第1行の“す。”の次に「これは
Apfe1表示と呼ばれる。」を挿入する。 (8) 同上第7頁第3行の“の基板を”の次に「n
= 1.38の物質を用いて形成して」を挿入する。 (9) 添付図面の第3図、第4図、第5図、第11
図、第18図及び第20図を別紙の通り訂正する。
Claims (2)
- (1)基板Sの屈折率をNsub、そして、これに積層
したn群(nは4以上の整数)の被膜CN_1、CN_
2、・・・・・、CN_n_−_1、CN_nの屈折率
をN_1、N_2、・・・・・、N_n_−_1、N_
nとし、2≦i≦n−2の関係のもとでこのうち最高の
屈折率を有する被膜をCNiその屈折率をNiとした反
射防止膜S/N_1、・・・・・、N_i_−_1、N
i、N_i_−_1、・・・・・、N_n_−_1、N
_n/airにおいて、被膜CN_1、CN_2、・・
・・・、CN_n_−_1、CN_nは光学的膜厚がす
べてλ_0/4(λ_0:中心波長)であり、各被膜の
屈折率が N_i>N_i_+_1>・・・・・>N_n_−_1
>N_n>N_0N_i>N_i_−_1>・・・・・
>N_1>NsubN_i_+_1>N_i_−_1 なる関係を有することを特徴とする多層反射防止膜。 - (2)特許請求の範囲第(1)項記載の多層反射防止膜
において、nは5であって5群の被膜CN_1、CN_
2、CN_3、CN_4、CN_5のうち少なくとも一
群がコンポジット膜(2層等価膜)、又は3層等価膜か
ら成り、その等価屈折率が相当する被膜の屈折率と略一
致するように構成したことを特徴とする多層反射防止膜
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62290309A JPH0660961B2 (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 広帯域反射防止膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62290309A JPH0660961B2 (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 広帯域反射防止膜 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01131501A true JPH01131501A (ja) | 1989-05-24 |
JPH0660961B2 JPH0660961B2 (ja) | 1994-08-10 |
Family
ID=17754437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62290309A Expired - Lifetime JPH0660961B2 (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 広帯域反射防止膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0660961B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014119507A1 (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-07 | 日東電工株式会社 | 反射防止フィルムおよびその製造方法 |
US9851473B2 (en) | 2013-01-29 | 2017-12-26 | Nitto Denko Corporation | Anti-reflection film and production method therefor |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3463574A (en) * | 1967-06-26 | 1969-08-26 | Perkin Elmer Corp | Multilayer antireflection coating for low index materials |
JPS5694301A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-30 | Fujitsu Ltd | Multilayered antireflection film |
-
1987
- 1987-11-17 JP JP62290309A patent/JPH0660961B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3463574A (en) * | 1967-06-26 | 1969-08-26 | Perkin Elmer Corp | Multilayer antireflection coating for low index materials |
JPS5694301A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-30 | Fujitsu Ltd | Multilayered antireflection film |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014119507A1 (ja) * | 2013-01-29 | 2014-08-07 | 日東電工株式会社 | 反射防止フィルムおよびその製造方法 |
JP2014167621A (ja) * | 2013-01-29 | 2014-09-11 | Nitto Denko Corp | 反射防止フィルムおよびその製造方法 |
US9851473B2 (en) | 2013-01-29 | 2017-12-26 | Nitto Denko Corporation | Anti-reflection film and production method therefor |
JP2019012294A (ja) * | 2013-01-29 | 2019-01-24 | 日東電工株式会社 | 反射防止フィルムおよびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0660961B2 (ja) | 1994-08-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080810 Year of fee payment: 14 |
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EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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