JPS6029701A - 5層反射防止膜 - Google Patents
5層反射防止膜Info
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- JPS6029701A JPS6029701A JP58135067A JP13506783A JPS6029701A JP S6029701 A JPS6029701 A JP S6029701A JP 58135067 A JP58135067 A JP 58135067A JP 13506783 A JP13506783 A JP 13506783A JP S6029701 A JPS6029701 A JP S6029701A
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- high refractive
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B1/00—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
- G02B1/10—Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
- G02B1/11—Anti-reflection coatings
- G02B1/113—Anti-reflection coatings using inorganic layer materials only
- G02B1/115—Multilayers
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、屈折率が1.45〜1.60程度の基板□上
に設けられた5層系の干渉薄膜よシなる可視光領域で使
用される光学体用の反射防止膜に関するものである。
に設けられた5層系の干渉薄膜よシなる可視光領域で使
用される光学体用の反射防止膜に関するものである。
カメラレンズ、メガネ、ディスプレー等の光学体の表面
反射を低減させるためにその基体面に形成させる反射防
止膜としては、低屈折率物質の薄膜をλo/4(λ0:
設計波長、以下同じ)の光学膜厚゛に形成した単層反
射防止膜や、低・高2種類の屈折率を持つ物質を空気側
よシ順次(λ−〜20/2 )の光学膜厚に形成した2
層反射防止膜や、低・高・中の5種類の屈折率を持つ物
質をこの順序で空気側よシ順次λJ4−λJ2−λ。/
4 の光学膜厚に形成した3層反射防止膜や、空気側よ
シ低・高・中・低の屈折率物質を重ね、各層の光学膜厚
をλo/4−λo/2−λo/4−λJ2 ) とした
4層反射防止膜などが典型的なものとして知られている
。
反射を低減させるためにその基体面に形成させる反射防
止膜としては、低屈折率物質の薄膜をλo/4(λ0:
設計波長、以下同じ)の光学膜厚゛に形成した単層反
射防止膜や、低・高2種類の屈折率を持つ物質を空気側
よシ順次(λ−〜20/2 )の光学膜厚に形成した2
層反射防止膜や、低・高・中の5種類の屈折率を持つ物
質をこの順序で空気側よシ順次λJ4−λJ2−λ。/
4 の光学膜厚に形成した3層反射防止膜や、空気側よ
シ低・高・中・低の屈折率物質を重ね、各層の光学膜厚
をλo/4−λo/2−λo/4−λJ2 ) とした
4層反射防止膜などが典型的なものとして知られている
。
上記した中で、3層反射防止膜は、可視光全体にわたる
ような広い波長領域において低反射率を実現できるため
、広く実用化石れている。
ような広い波長領域において低反射率を実現できるため
、広く実用化石れている。
この3層反射防止膜は、第1図の様に基板10表面上に
空気側から数えて第1層2として光学膜厚λJ4 の屈
折率1.35〜1.47の低屈折率物質の薄膜を形成し
、第2層3として光学膜厚λJ2 の屈折率2.0〜2
.4の高屈折率物質の薄膜を形成し、第3層4として光
学膜厚λ/4の中間屈折率物質の薄膜を形成したもので
ある。この第3層4として要求される中間屈折率は、3
層反射防止膜の条件(n3 +ll’ n15 )によ
フ、例えば基板(ソーダライムガラス板)の屈折率n。
空気側から数えて第1層2として光学膜厚λJ4 の屈
折率1.35〜1.47の低屈折率物質の薄膜を形成し
、第2層3として光学膜厚λJ2 の屈折率2.0〜2
.4の高屈折率物質の薄膜を形成し、第3層4として光
学膜厚λ/4の中間屈折率物質の薄膜を形成したもので
ある。この第3層4として要求される中間屈折率は、3
層反射防止膜の条件(n3 +ll’ n15 )によ
フ、例えば基板(ソーダライムガラス板)の屈折率n。
が1.52で、第1層の低屈折率物質が屈折率1.38
のMgF2 である場合には、およそ1.38XEゴ了
−1,70となる。屈折率が1.45〜1.60の基板
の場合には、かかる第3層の中間屈折率層の屈折率は上
式よシ1.66〜1.76の範囲が選択される。かかる
屈折率層1.7の中間屈折率膜を形成する中間屈折率物
質としては、かかる屈折率が得られる各種物質の中から
、基板ガラスとの付着力、薄膜の硬石、化学的耐久性、
材料の入手しゃすて、材料の取シ扱いやすさ、薄膜の形
成の容易さ、生産性の点などからA t20sが°用い
られることが多い。しかしながら、現在生産手−として
最も普及している電子ビームによる真空蒸着法によ多形
成した場合、低・高屈折率膜に用いられるMgF2膜、
TiO□膜、ZrO2膜や(ZrO2+TiO2) 膜
の場合には特に耐久性の点で問題はないが、AZ、O,
膜は、耐アルカリ性に劣ることが見出された。例えば、
本発明者の実験によれば、電子ビーム真空蒸着法(蒸着
条件:圧力5 X 10−’ Torr 、蒸着速度2
4A/θθc1基板温度300℃)によシ垂直蒸着(蒸
着原子の飛来方向と基板の法線とのなす角(入射角)−
〇°の場合の蒸着)した場合に形成された膜厚層3oo
o;のAt203膜について14 % NH4OH水溶
液中に室温で浸漬しておくという耐アルカリ試験を行な
ったところAt203膜が表面から溶出してゆき、約4
時間後には完全に溶出してしまうことがわかった。しか
も、この溶出速度は、蒸着時の入射角を犬きくするとだ
んだん速くなってゆき、入射角が50°テハ、約300
0 A C1kltos Nカ約1 時間で完全に溶出
してしまうことが見出された。
のMgF2 である場合には、およそ1.38XEゴ了
−1,70となる。屈折率が1.45〜1.60の基板
の場合には、かかる第3層の中間屈折率層の屈折率は上
式よシ1.66〜1.76の範囲が選択される。かかる
屈折率層1.7の中間屈折率膜を形成する中間屈折率物
質としては、かかる屈折率が得られる各種物質の中から
、基板ガラスとの付着力、薄膜の硬石、化学的耐久性、
材料の入手しゃすて、材料の取シ扱いやすさ、薄膜の形
成の容易さ、生産性の点などからA t20sが°用い
られることが多い。しかしながら、現在生産手−として
最も普及している電子ビームによる真空蒸着法によ多形
成した場合、低・高屈折率膜に用いられるMgF2膜、
TiO□膜、ZrO2膜や(ZrO2+TiO2) 膜
の場合には特に耐久性の点で問題はないが、AZ、O,
膜は、耐アルカリ性に劣ることが見出された。例えば、
本発明者の実験によれば、電子ビーム真空蒸着法(蒸着
条件:圧力5 X 10−’ Torr 、蒸着速度2
4A/θθc1基板温度300℃)によシ垂直蒸着(蒸
着原子の飛来方向と基板の法線とのなす角(入射角)−
〇°の場合の蒸着)した場合に形成された膜厚層3oo
o;のAt203膜について14 % NH4OH水溶
液中に室温で浸漬しておくという耐アルカリ試験を行な
ったところAt203膜が表面から溶出してゆき、約4
時間後には完全に溶出してしまうことがわかった。しか
も、この溶出速度は、蒸着時の入射角を犬きくするとだ
んだん速くなってゆき、入射角が50°テハ、約300
0 A C1kltos Nカ約1 時間で完全に溶出
してしまうことが見出された。
上述した従来の3層反射防止膜構成においては、At2
03膜の上に光学膜厚層λ。/2の高屈折率膜(例えば
、ZrO2膜、TlO2膜、TlO2とZrO2の混合
膜など)と、更にその土に光学膜厚層λv4 の低屈折
率膜(例えばMgF2.8102など)が形成され、こ
れら高・低屈折率膜がアルカリ薬品に対するバリヤ一層
として働くので、垂直蒸着ないし垂直蒸着に近い斜め蒸
着例えば、入射角か30°以下の斜め蒸着で得られたA
t20゜膜を有する上記3層反射防止膜構成では、上述
の様なAt203膜のアルカリに対する不都合は許容で
きる。しかしながら、蒸着時の蒸着原子の飛来方向と基
板の法線とのなす角、即ち入射角が30膜以上となる条
件下で上記3層反射防止膜を斜め蒸着する場合には、斜
め蒸着による蒸着膜の膜構造の変化のためにA A20
3膜及びその上の高低屈折率膜の耐アルカリ性が低下し
、A403膜のアルカリによる溶出を抑えきれないとい
う欠点が顕著になる。例えば、蒸着原子の入射角が約4
0°以上になると、上記した様な耐アルカリ性試験を行
なった場合アルカリの浸透を抑制しきれなくなシ、アル
カリがAt2o3膜の上面に達してその部分を溶出させ
、At20.層とその上層(高屈折率膜)との界面で剥
離が生じてしまうという欠点が実験にょシ見られた。
03膜の上に光学膜厚層λ。/2の高屈折率膜(例えば
、ZrO2膜、TlO2膜、TlO2とZrO2の混合
膜など)と、更にその土に光学膜厚層λv4 の低屈折
率膜(例えばMgF2.8102など)が形成され、こ
れら高・低屈折率膜がアルカリ薬品に対するバリヤ一層
として働くので、垂直蒸着ないし垂直蒸着に近い斜め蒸
着例えば、入射角か30°以下の斜め蒸着で得られたA
t20゜膜を有する上記3層反射防止膜構成では、上述
の様なAt203膜のアルカリに対する不都合は許容で
きる。しかしながら、蒸着時の蒸着原子の飛来方向と基
板の法線とのなす角、即ち入射角が30膜以上となる条
件下で上記3層反射防止膜を斜め蒸着する場合には、斜
め蒸着による蒸着膜の膜構造の変化のためにA A20
3膜及びその上の高低屈折率膜の耐アルカリ性が低下し
、A403膜のアルカリによる溶出を抑えきれないとい
う欠点が顕著になる。例えば、蒸着原子の入射角が約4
0°以上になると、上記した様な耐アルカリ性試験を行
なった場合アルカリの浸透を抑制しきれなくなシ、アル
カリがAt2o3膜の上面に達してその部分を溶出させ
、At20.層とその上層(高屈折率膜)との界面で剥
離が生じてしまうという欠点が実験にょシ見られた。
この剥離までの時間は、AkOs膜上の高屈折率膜とし
て用いる材料で若干異なるが、上記した様なZ r 0
2膜、TlO2膜、(TlO2+zro、 ) 混合膜
の様な材料を用いた場合、上記した耐アルカリ性試験に
おいて約2時間程度で剥離が発生しはじめるものが多く
、24時間後はほぼ全面に剥離が生じてしまう。このた
め、製造工程上斜め蒸着法が有利な場合、例えば−回の
蒸着による処理基板枚数を多くして生産性を上げるため
には蒸着源からの基板の見込角が小さくなる様に基板を
傾ける必要が生じる場合などにおいては、製造者は入射
角をとって生産性を向上させるか、あるいは生産性を犠
牲にして耐アルカリ性をとるかという2者択一を余儀な
くされていた。
て用いる材料で若干異なるが、上記した様なZ r 0
2膜、TlO2膜、(TlO2+zro、 ) 混合膜
の様な材料を用いた場合、上記した耐アルカリ性試験に
おいて約2時間程度で剥離が発生しはじめるものが多く
、24時間後はほぼ全面に剥離が生じてしまう。このた
め、製造工程上斜め蒸着法が有利な場合、例えば−回の
蒸着による処理基板枚数を多くして生産性を上げるため
には蒸着源からの基板の見込角が小さくなる様に基板を
傾ける必要が生じる場合などにおいては、製造者は入射
角をとって生産性を向上させるか、あるいは生産性を犠
牲にして耐アルカリ性をとるかという2者択一を余儀な
くされていた。
本発明者は、かかる不都合を解消し、斜め蒸着しても実
用に十分な耐アルカリ性を持ちかつ反射防止特性の優れ
た多層反射防止膜を提供することを目的として種々の材
料について°調べた結果、第1として所定膜厚以上のM
gF2 層が斜め蒸着しfc場合にも良好なアルカリバ
リヤー能を示すこと、第2として高屈折率膜の膜厚をあ
まシ厚くせずに所定範囲とすることにょシ更に一層優れ
たアルカリバリヤー能を示すことを見出した。
用に十分な耐アルカリ性を持ちかつ反射防止特性の優れ
た多層反射防止膜を提供することを目的として種々の材
料について°調べた結果、第1として所定膜厚以上のM
gF2 層が斜め蒸着しfc場合にも良好なアルカリバ
リヤー能を示すこと、第2として高屈折率膜の膜厚をあ
まシ厚くせずに所定範囲とすることにょシ更に一層優れ
たアルカリバリヤー能を示すことを見出した。
本発明は、かかる知見に基づいて発明されたものであシ
、その要旨は屈折率が1.46〜1.60の範囲にある
基板の表面に設けられた5層薄膜よシなる反射防止膜で
あって、かかる反射防止膜の空気側から基板の側に向っ
て数えて第1層及び第3層はMgF2 からなシ、該第
1層の光学膜厚は(0,275±[LO2)λ。(λ0
は可視光域の設計波長、以下同じ)、第5層の光学膜
厚は(aos±0.02)λ0 であシ、又第2層及び
第4層は屈折率2.0〜2.3の範囲にある高屈折率物
質からなル、その光学膜厚はいずれも(0,2±a1)
λ0 であシ、又第5層はA/403からなり、該第5
層の光学膜厚Fi(o、27±0.05)2□ でちる
ことを特徴とする5層反射防止膜に関するものである。
、その要旨は屈折率が1.46〜1.60の範囲にある
基板の表面に設けられた5層薄膜よシなる反射防止膜で
あって、かかる反射防止膜の空気側から基板の側に向っ
て数えて第1層及び第3層はMgF2 からなシ、該第
1層の光学膜厚は(0,275±[LO2)λ。(λ0
は可視光域の設計波長、以下同じ)、第5層の光学膜
厚は(aos±0.02)λ0 であシ、又第2層及び
第4層は屈折率2.0〜2.3の範囲にある高屈折率物
質からなル、その光学膜厚はいずれも(0,2±a1)
λ0 であシ、又第5層はA/403からなり、該第5
層の光学膜厚Fi(o、27±0.05)2□ でちる
ことを特徴とする5層反射防止膜に関するものである。
これらの数値は計算機による反射防止能の最適化と、十
分な耐アルカリ性とを両方とも満足させるべく設定され
たものである。
分な耐アルカリ性とを両方とも満足させるべく設定され
たものである。
なお、従来の3層構成の反射防止膜においては、最上層
°として光学膜厚λ6 /4のMg7g 膜が、又その
下層として光学膜厚λo/2の高屈折率膜が用いられて
いるが、かかる構成のMgF、は光学膜厚がλo/4で
あル膜厚が充分ではないとともに、MgF2 膜の下層
となる高屈折率膜は一般に膜厚の増加とともに膜の構造
組織が粗大化する傾向にあるため光学膜厚λJ2程度の
厚い高屈折率膜の上にMgF、膜を形成したのでは、M
gFz 膜本来のアルカリバリアー能が発揮できないと
いうことが本発明者の実験によシ見出された。この原因
はまだ確認されたわけではないが粗大化した高屈折率膜
が下地となった場合、その上に形成されるMgF2 M
の1f&造が下地の影響を受けて変化するためと考えら
れる。かかる理由によ〕、従来のλo/4(低屈折率膜
)−λ0/2 (高屈折率膜)−λo/4(中間屈折率
膜−AI40s ) の3層構成反射防止膜においては
、斜め蒸着により形成した場合には、最上層にMgFl
膜があるにも拘らず前述のような耐アルカリ試験で剥離
が生じてしまうものと考えられる。
°として光学膜厚λ6 /4のMg7g 膜が、又その
下層として光学膜厚λo/2の高屈折率膜が用いられて
いるが、かかる構成のMgF、は光学膜厚がλo/4で
あル膜厚が充分ではないとともに、MgF2 膜の下層
となる高屈折率膜は一般に膜厚の増加とともに膜の構造
組織が粗大化する傾向にあるため光学膜厚λJ2程度の
厚い高屈折率膜の上にMgF、膜を形成したのでは、M
gFz 膜本来のアルカリバリアー能が発揮できないと
いうことが本発明者の実験によシ見出された。この原因
はまだ確認されたわけではないが粗大化した高屈折率膜
が下地となった場合、その上に形成されるMgF2 M
の1f&造が下地の影響を受けて変化するためと考えら
れる。かかる理由によ〕、従来のλo/4(低屈折率膜
)−λ0/2 (高屈折率膜)−λo/4(中間屈折率
膜−AI40s ) の3層構成反射防止膜においては
、斜め蒸着により形成した場合には、最上層にMgFl
膜があるにも拘らず前述のような耐アルカリ試験で剥離
が生じてしまうものと考えられる。
これに対し、本発明位、前述の知見をもとに■At20
3の上層にできるだけ厚いMg72 層をおく、■高屈
折率層の膜組織の粗大化を防ぐの2点を満たすべき反射
防止膜構成を探索した結果得られたもので、本発明の最
大の特徴は、従来のλo/2厚の高屈折率層の中間にM
gFl を挟み、該高屈折率層を分割したことである。
3の上層にできるだけ厚いMg72 層をおく、■高屈
折率層の膜組織の粗大化を防ぐの2点を満たすべき反射
防止膜構成を探索した結果得られたもので、本発明の最
大の特徴は、従来のλo/2厚の高屈折率層の中間にM
gFl を挟み、該高屈折率層を分割したことである。
このことによシ、3つの利点が生れる。ひとつはこうし
て層数を増やすことによシ最上層のMgFz 膜の膜厚
をλo/4 よシかなシ厚くしたデザインが可能になる
ことである。2っめは、第5層としてMgF、層を使用
することによシ、第1層と合わせたMgF、膜の合計膜
厚を更に厚くできることである。3つめは通常用いられ
る高屈折率膜(例えばZrO2、TlO2、ZrO2+
TiO2など)で社膜厚が増大すると膜の構造組織が粗
大化する傾向にl)、いわゆる厚み方向の不均質の原因
となるが、本発明者によれば、このことは前述 −のご
とくこれら高屈折率膜の上層のMgF2 膜のアルカリ
バリア性能をも低下させる。そこで、本発明の如く、高
屈折率層を分割し、中間にMgFm JIを挟むことに
よル、分割された各高屈折率層の膜厚を減少させ、該高
屈折率膜の構造組織の粗大化を抑制し、該高屈折率層自
身のアルカリバリア性能を向上させるとともに、該高屈
折率層の上に形成されるMgF2 膜のアルカリバリア
性能をも充分発揮させることができるようになる。
て層数を増やすことによシ最上層のMgFz 膜の膜厚
をλo/4 よシかなシ厚くしたデザインが可能になる
ことである。2っめは、第5層としてMgF、層を使用
することによシ、第1層と合わせたMgF、膜の合計膜
厚を更に厚くできることである。3つめは通常用いられ
る高屈折率膜(例えばZrO2、TlO2、ZrO2+
TiO2など)で社膜厚が増大すると膜の構造組織が粗
大化する傾向にl)、いわゆる厚み方向の不均質の原因
となるが、本発明者によれば、このことは前述 −のご
とくこれら高屈折率膜の上層のMgF2 膜のアルカリ
バリア性能をも低下させる。そこで、本発明の如く、高
屈折率層を分割し、中間にMgFm JIを挟むことに
よル、分割された各高屈折率層の膜厚を減少させ、該高
屈折率膜の構造組織の粗大化を抑制し、該高屈折率層自
身のアルカリバリア性能を向上させるとともに、該高屈
折率層の上に形成されるMgF2 膜のアルカリバリア
性能をも充分発揮させることができるようになる。
こうして得られた5層膜構成について上述したような向
上した耐アルカリ性能を損わない範囲で各層の膜厚を計
算機にょし、反射防止性能学膜厚はそれぞれcL275
±α02及び0.03±0.02、第2層及第4層の高
屈折率層としてそQ、2±[11の範囲とし、第5層は
At2o3 とし、その光学膜厚は[127±0.03
とすれは、もとの3層構成に比べて同等以上の反射防止
性能をもち、かつ酬アルカリ性では格段に優れた反射防
止膜が得られることがわかった。
上した耐アルカリ性能を損わない範囲で各層の膜厚を計
算機にょし、反射防止性能学膜厚はそれぞれcL275
±α02及び0.03±0.02、第2層及第4層の高
屈折率層としてそQ、2±[11の範囲とし、第5層は
At2o3 とし、その光学膜厚は[127±0.03
とすれは、もとの3層構成に比べて同等以上の反射防止
性能をもち、かつ酬アルカリ性では格段に優れた反射防
止膜が得られることがわかった。
第2図は本発明の実施例に係る5層反射防止膜であって
、屈折率1.45〜1.6の範囲にあるガラス、プラス
チックなどの透明ないし半透明の基板上に、空気側から
基板の側に向って第1〜5層の薄膜を施した光学体の横
断面図を示したものであシ、11は基板、12はMgF
2 膜からなる第1層、15は高屈折率膜からなる第2
層、14はMgF2 膜からなる第3層、15は高屈折
率膜からなる第4層、16はATOs膜からなる第5層
を示す。
、屈折率1.45〜1.6の範囲にあるガラス、プラス
チックなどの透明ないし半透明の基板上に、空気側から
基板の側に向って第1〜5層の薄膜を施した光学体の横
断面図を示したものであシ、11は基板、12はMgF
2 膜からなる第1層、15は高屈折率膜からなる第2
層、14はMgF2 膜からなる第3層、15は高屈折
率膜からなる第4層、16はATOs膜からなる第5層
を示す。
本発明の第1,3層の材料としては、低屈折率を有し、
その膜厚において高い耐アルカリ性を有することは勿論
、その他の耐薬品性にも優れておシ、又耐摩耗性、耐擦
傷性等の物理的耐久性にも優れておシ、更に膜形成が容
易であるという理由によ’) MgF2 が選ばれる。
その膜厚において高い耐アルカリ性を有することは勿論
、その他の耐薬品性にも優れておシ、又耐摩耗性、耐擦
傷性等の物理的耐久性にも優れておシ、更に膜形成が容
易であるという理由によ’) MgF2 が選ばれる。
又屈折率2.0〜Z4の第2,4層に用いられる高屈折
率膜を形成する材料としては、Z r 02 、 Y2
03 。
率膜を形成する材料としては、Z r 02 、 Y2
03 。
0eO1,0r203. Ta205. ’t’io、
、 ’rho3. Zn5 、又はこれらの混合物等が
利用される。中でも、ZrO2あるいはZrO2を主体
としてTlO2を含むものは、膜形成の容易さ及び安定
性の点で特に優れている。なお、第2,4層の高屈折率
膜は、使用材料を少なくし、安定した膜が容易に、かつ
生産性良く得られる様に同一の材料を用いることが好ま
しい。
、 ’rho3. Zn5 、又はこれらの混合物等が
利用される。中でも、ZrO2あるいはZrO2を主体
としてTlO2を含むものは、膜形成の容易さ及び安定
性の点で特に優れている。なお、第2,4層の高屈折率
膜は、使用材料を少なくし、安定した膜が容易に、かつ
生産性良く得られる様に同一の材料を用いることが好ま
しい。
又、本発明の第5層の材料としてハ、1.66〜t76
の屈折率を有し、かつ、安定した膜を容易に形成するこ
とができ、更に価格的にも取扱いの容易さの点からもと
いう理由でAt203が選ばれる。かかるAtzOs
Hには屈折率調整、膜物性改善等のために10係以下の
添加成分を加えることができる。
の屈折率を有し、かつ、安定した膜を容易に形成するこ
とができ、更に価格的にも取扱いの容易さの点からもと
いう理由でAt203が選ばれる。かかるAtzOs
Hには屈折率調整、膜物性改善等のために10係以下の
添加成分を加えることができる。
本発明における5層反射防止膜の各層は、真空蒸着法、
スパッター法、イオンプV−ティング法等のP、 V、
D法によ膜形成することができるが、本発明の構成を
とることにより耐久性が向上するので、耐久性の低い膜
が得られる傾向におる斜め真空蒸着法、例えば入射角が
60°〜50°程度の斜め真空蒸着法を利用することが
できる。この斜め真空蒸着法を利用することにより、各
層の膜形成の生産性を高めることができる。
スパッター法、イオンプV−ティング法等のP、 V、
D法によ膜形成することができるが、本発明の構成を
とることにより耐久性が向上するので、耐久性の低い膜
が得られる傾向におる斜め真空蒸着法、例えば入射角が
60°〜50°程度の斜め真空蒸着法を利用することが
できる。この斜め真空蒸着法を利用することにより、各
層の膜形成の生産性を高めることができる。
次に、本発明の実施例について説明する。
実施例1
第2図に示した、本発明による4117成で、各層の材
料として第1層にはAkOs 、第2.第4層にはZr
O2−4−Ti02 (10wt% )、第3.第5層
にはMgF、を用いて、ガラス基板上にs o O入射
の斜め真空蒸着法で5層反射防止膜を形成した。このと
き各層の要目はほぼ表1に示した通シである。前述の通
シ、第1層のMgF、か従来の3層構成に比べ厚いこと
、第3層と合わせたMgF2 層の合計の光学膜厚はα
303λ0 と相当厚いこと、又、第2.第4層の光学
膜厚がそれぞれ(l’192. α190と薄いことが
特徴である。この膜の分光反射特性の計算値を第2図に
、又その実測値を第5図のAに示す。仁の膜を14 %
NE40H水溶液中に室温で24時間浸漬したがハク
リは認められなかった。
料として第1層にはAkOs 、第2.第4層にはZr
O2−4−Ti02 (10wt% )、第3.第5層
にはMgF、を用いて、ガラス基板上にs o O入射
の斜め真空蒸着法で5層反射防止膜を形成した。このと
き各層の要目はほぼ表1に示した通シである。前述の通
シ、第1層のMgF、か従来の3層構成に比べ厚いこと
、第3層と合わせたMgF2 層の合計の光学膜厚はα
303λ0 と相当厚いこと、又、第2.第4層の光学
膜厚がそれぞれ(l’192. α190と薄いことが
特徴である。この膜の分光反射特性の計算値を第2図に
、又その実測値を第5図のAに示す。仁の膜を14 %
NE40H水溶液中に室温で24時間浸漬したがハク
リは認められなかった。
表 1
比較例
第1図に示した従来の3層構成で各層の材料として第1
層にはA /!、203、第2層には上記実施例と同じ
ZrO2+TiO2(10wt%)、第3層にはMgF
* ’!i”用いて、ガラス基板上に50°入射の斜め
真空蒸着法で6層反射防止膜を形成した。
層にはA /!、203、第2層には上記実施例と同じ
ZrO2+TiO2(10wt%)、第3層にはMgF
* ’!i”用いて、ガラス基板上に50°入射の斜め
真空蒸着法で6層反射防止膜を形成した。
このとき各層の要目は11ぼ表21C示した通りである
。この膜の分光反射特性の計算値を第5図に、又その実
測値を第5図のBに示す。この膜を14係NH4OH水
溶液中に室温で浸漬したところ約2時間後に膜の一部で
ハクリが生じはじめ24時間後には全面ハクリが起こル
、ガラス基板上から膜は消失した。
。この膜の分光反射特性の計算値を第5図に、又その実
測値を第5図のBに示す。この膜を14係NH4OH水
溶液中に室温で浸漬したところ約2時間後に膜の一部で
ハクリが生じはじめ24時間後には全面ハクリが起こル
、ガラス基板上から膜は消失した。
表 2
(λ、−0,25μ)
上記の実施例によれば、分光反射率及耐アルカリ性能と
もほぼ期待通シの結果を得ることができたのがわかる。
もほぼ期待通シの結果を得ることができたのがわかる。
したがって、本発明を用いれば斜め蒸着において、従来
の3層構成と比べて改善された耐アルカリ性能をもち、
しかも可視中央部の5留反射率は若干増加するものの低
反射領域は広がっておシ反射防止性能も同等以上の反射
防止膜が得られる。又、多数基板の同時処理分可能にす
るなど製造工程上寄与するところは大である。
の3層構成と比べて改善された耐アルカリ性能をもち、
しかも可視中央部の5留反射率は若干増加するものの低
反射領域は広がっておシ反射防止性能も同等以上の反射
防止膜が得られる。又、多数基板の同時処理分可能にす
るなど製造工程上寄与するところは大である。
第1図は、従来の3層反射防止膜の一例の断面図、第2
図は本発明の一具体例に係わる5層反射防止膜の断面図
、第3図は本発明の実施例の5層反射防止膜の計算値に
よる分光反射率曲線を示すグラフ、第4図は従来の3層
反射防止膜の3層反射防止膜の計算値による分光反射率
曲線を示すグラフ、第5図は従来例及び本発明の実施例
の反射防止膜の実測値による分光反射率曲線を示すグラ
フである。 1.11:基板、2,12:第1層、3,13:第2層
、4,14:第3層、15:第4層、16:第5層 才l閃 才2川 妓畏(P〜 才3)4 手続補正書 昭和59年7月ンク日 特許庁長官 殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第135067号 2、発明の名称 5層反射防止膜 3、補正をする者 本件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁旧番2号名称 (0
04)旭硝子株式会社 5、補正命令の日付 自発補正 8、補正の内容 (1)明細書第2頁第17行目の「(λ。14〜入。/
2)」を「(入◇/4−入o /2) J と訂正する
。 (2)明細書第2頁第18〜20行目の「順次λo/4
−λo/2−λo/aの」を「順次(λo/a−λ、/
2−λo/4)の」と訂正する。 (3)明細書第3頁第3〜4行目の「λo/4−入/4
−入◇・/4−入o /4) Jを「(入0/4−入◇
/2−λo/4−八〇 /4) J と訂正する。 (4)明細書第4頁第18行目ノ「24人/sec」を
「2.4人/sec」と訂正する。 (5)明細書第5頁第18行目の「入射角か」を「入射
角が」と訂正する。 (6)明細書第12頁第18行目の「2.0〜2.4」
を「2.0〜2.3」と訂正する。 (7)明細書第14頁第7行目乃至第9行目のrt51
層にはA12[+3、・・・・(中略)・・・・・・に
はMgFzを用いて、」の文章を[第1層及び第3層に
はMgF2を、第2層及び!s4層にはZr02(90
wt%)+Ti02(10wt%)を、第5MにはAh
O3を用いて、」ノ文章に訂正する。 (8)明細書第15頁下から第8行目の[第1層にはA
l2O3、Jを「第1層にはMgF、、」と訂正する。 (8)明細書第15頁下から第6行目のr NgF、を
用いて、」をrA1203を用いて、」と訂正する。 (10)明細書第18頁下から第9行目の「(入o =
0.25#L) Jを「(λ。=0.52PL) Jと
訂正する。 (11)図面の第2図を別紙の通りに訂正する。 以上 図面の1ンE(:も出こ変更なし) μ 第2e 手続補正書 昭和32年ざ月3θ日 特許庁長官志 賀 字殿 1、事件の表示 昭和3に年 牲 許 間第13Sθ67号2、発明の名
称 S層反射防止膜 3、 補正をする者 事件との関係 特許用&’Jt 人 任 所 呆永都千代田区丸の内二丁l:l1番2号氏
名(名称)(θ0グ)7JA硝子株式会社4、代理人 6、 補正により増加する発明の数 7、補正の対象
図は本発明の一具体例に係わる5層反射防止膜の断面図
、第3図は本発明の実施例の5層反射防止膜の計算値に
よる分光反射率曲線を示すグラフ、第4図は従来の3層
反射防止膜の3層反射防止膜の計算値による分光反射率
曲線を示すグラフ、第5図は従来例及び本発明の実施例
の反射防止膜の実測値による分光反射率曲線を示すグラ
フである。 1.11:基板、2,12:第1層、3,13:第2層
、4,14:第3層、15:第4層、16:第5層 才l閃 才2川 妓畏(P〜 才3)4 手続補正書 昭和59年7月ンク日 特許庁長官 殿 1、事件の表示 昭和58年特許願第135067号 2、発明の名称 5層反射防止膜 3、補正をする者 本件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁旧番2号名称 (0
04)旭硝子株式会社 5、補正命令の日付 自発補正 8、補正の内容 (1)明細書第2頁第17行目の「(λ。14〜入。/
2)」を「(入◇/4−入o /2) J と訂正する
。 (2)明細書第2頁第18〜20行目の「順次λo/4
−λo/2−λo/aの」を「順次(λo/a−λ、/
2−λo/4)の」と訂正する。 (3)明細書第3頁第3〜4行目の「λo/4−入/4
−入◇・/4−入o /4) Jを「(入0/4−入◇
/2−λo/4−八〇 /4) J と訂正する。 (4)明細書第4頁第18行目ノ「24人/sec」を
「2.4人/sec」と訂正する。 (5)明細書第5頁第18行目の「入射角か」を「入射
角が」と訂正する。 (6)明細書第12頁第18行目の「2.0〜2.4」
を「2.0〜2.3」と訂正する。 (7)明細書第14頁第7行目乃至第9行目のrt51
層にはA12[+3、・・・・(中略)・・・・・・に
はMgFzを用いて、」の文章を[第1層及び第3層に
はMgF2を、第2層及び!s4層にはZr02(90
wt%)+Ti02(10wt%)を、第5MにはAh
O3を用いて、」ノ文章に訂正する。 (8)明細書第15頁下から第8行目の[第1層にはA
l2O3、Jを「第1層にはMgF、、」と訂正する。 (8)明細書第15頁下から第6行目のr NgF、を
用いて、」をrA1203を用いて、」と訂正する。 (10)明細書第18頁下から第9行目の「(入o =
0.25#L) Jを「(λ。=0.52PL) Jと
訂正する。 (11)図面の第2図を別紙の通りに訂正する。 以上 図面の1ンE(:も出こ変更なし) μ 第2e 手続補正書 昭和32年ざ月3θ日 特許庁長官志 賀 字殿 1、事件の表示 昭和3に年 牲 許 間第13Sθ67号2、発明の名
称 S層反射防止膜 3、 補正をする者 事件との関係 特許用&’Jt 人 任 所 呆永都千代田区丸の内二丁l:l1番2号氏
名(名称)(θ0グ)7JA硝子株式会社4、代理人 6、 補正により増加する発明の数 7、補正の対象
Claims (3)
- (1)屈折率が1.45〜1.6の範囲にある基板の表
面に設けられた5層薄膜よシなる反射防止膜であって、
かかる反射防止膜の空気□側から基板の側に向って数え
て第1層及び第3層はMgFz からなシ、該第1層の
光学膜厚は(α275±α02)λ。(2゜は可視光域
の設計波長、以下同じ)、第5′層の光学膜厚は(α0
3±0.02)λG でアシ、又第2層及び第4層は屈
折率2.0〜′2.3の範囲にある高屈折率物質からな
シ、その光学膜厚はいずれも(Q、2±[Ll)λ。で
あシ又第5層は At203、又は少なくともh t、
03 を主成分□として含む混合物からなシ、該第5層
の光学膜厚は(α27±0.03)λ。であることを特
徴とする5層反射防止膜。 □ - (2) 第1層乃至第5層が斜め真空蒸着法によ多形成
されたものでおることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の5層反射防止膜。 - (3) 第2層及び第4盾の高屈折率膜がZrO2膜、
TlO2膜あるいはZrO2とTie、の混合膜である
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の5層反射
防止膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58135067A JPS6029701A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 5層反射防止膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58135067A JPS6029701A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 5層反射防止膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6029701A true JPS6029701A (ja) | 1985-02-15 |
Family
ID=15143090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58135067A Pending JPS6029701A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 5層反射防止膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6029701A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02262104A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-24 | Hoya Corp | 反射防止性高屈折率プラスチックレンズ |
JPH02291502A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-12-03 | Hoya Corp | プラスチックレンズ用多層反射防止膜 |
JPH03229202A (ja) * | 1990-02-02 | 1991-10-11 | Hoya Corp | プラスチックレンズ用反射防止膜 |
JPH04166901A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-12 | Hoya Corp | 反射防止膜を有する光学部品 |
JPH04191801A (ja) * | 1990-11-27 | 1992-07-10 | Hoya Corp | 光学部品 |
EP1584955A1 (en) * | 2004-03-30 | 2005-10-12 | Nikon Corporation | Antireflective coating |
US7256948B2 (en) | 2004-03-30 | 2007-08-14 | Nikon Corporation | Anti-reflection coating, and optical element and optical system with anti-reflection coating |
-
1983
- 1983-07-26 JP JP58135067A patent/JPS6029701A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02262104A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-24 | Hoya Corp | 反射防止性高屈折率プラスチックレンズ |
JPH02291502A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-12-03 | Hoya Corp | プラスチックレンズ用多層反射防止膜 |
JPH03229202A (ja) * | 1990-02-02 | 1991-10-11 | Hoya Corp | プラスチックレンズ用反射防止膜 |
JP2628589B2 (ja) * | 1990-02-02 | 1997-07-09 | ホーヤ 株式会社 | ポリウレタンレンズ用反射防止膜 |
JPH04166901A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-12 | Hoya Corp | 反射防止膜を有する光学部品 |
JPH04191801A (ja) * | 1990-11-27 | 1992-07-10 | Hoya Corp | 光学部品 |
EP1584955A1 (en) * | 2004-03-30 | 2005-10-12 | Nikon Corporation | Antireflective coating |
US7256948B2 (en) | 2004-03-30 | 2007-08-14 | Nikon Corporation | Anti-reflection coating, and optical element and optical system with anti-reflection coating |
US7336421B2 (en) | 2004-03-30 | 2008-02-26 | Nikon Corporation | Optical system with anti-reflection coating |
EP3324221A1 (en) * | 2004-03-30 | 2018-05-23 | Nikon Corporation | Antireflective coating |
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