JPH01131465A - 電流測定装置 - Google Patents

電流測定装置

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JPH01131465A
JPH01131465A JP28994287A JP28994287A JPH01131465A JP H01131465 A JPH01131465 A JP H01131465A JP 28994287 A JP28994287 A JP 28994287A JP 28994287 A JP28994287 A JP 28994287A JP H01131465 A JPH01131465 A JP H01131465A
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JP
Japan
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current
wiring
measured
constant current
terminals
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Pending
Application number
JP28994287A
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Inventor
Satoshi Sekiya
関谷 聡
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Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は電流測定装置に関し、更に詳しくLま測定対
象の配線を切ったり、はずしたりして回路を開くことが
不要で、測定用端子を配線に当接するだけで測定し得る
電流測定装置に関するものである。
〔発明の概要〕
この発明の電流測定装置は、測定対象の配線上の二点を
選定し、最初に該2点間の微小抵抗に電流が流れて生じ
る電位差を測定し、次に該2点間に定電流を供給して該
2点間の電位差を測定し、前記2回の測定値と供給した
電流値とにより配線を流れる電流値を算出するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来、回路を開かずに電流を測定する方法として、電流
測定すべき配線のみを環状の磁界センサを通過させて電
流によって配線の周囲に生じる磁界を検出し測定する方
法が知られている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、従来の方法では測定対象の配線を他の配線と分
離して環状の磁界センサを通過させる必要がある。プリ
ント基板の配線パターンなどは測定対象となる配線と他
の配線とを分離することが不可能であり、従ってこのよ
うな配線の電流を測定できない欠点があった。
〔発明の目的〕
この発明の目的は従来の問題点を解決し、測定対象の配
線に測定用端子を当接するだけで電流を測定でき、従っ
てプリント基板の配線パターンなど固定された配線でも
容易に測定できる電流測定装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するためにこの発明は、電流測定装置
において、定電流回路と、この定電流回路を開閉するス
イッチと、定電流を供給する一対の端子と、差動増幅器
と、この差動増幅器に接続される一対の端子と、差動増
幅器の出力電圧をAD変換するAD変換器と、演算処理
装置と、AD変換された値を記憶するメモリと、表示器
とで構成し、それぞれの端子を電流測定すべき配線に当
接して電流を測定するようにした。
〔作用〕
上記のように構成された電流測定装置の定電流を供給す
る一対の端子と、差動増幅器に接続される一対の端子と
を、電流測定すべき配線上の2点にそれぞれ当接し、定
電流を開閉するスイッチを開き配線上の2点の電位差を
AD変換しメモリに記憶し、次に前記スイッチを閉じて
定電流を供給して配線上の2点の電位差をAD変換し、
メモリの他の部分に記憶し、前記定電流をIA、前者の
AD変換値を■1、後者のAD変換値をV1、測定すべ
き電流をIPとし、演算処理装置によって、2−Vl なる演算を行い配線を流れる電流IPを算出するので、
電流測定すべき回路を開かずに電流を測定できるのであ
る。
〔実施例〕
第1図は、この発明の電流測定装置の一例を示すブロッ
ク図である。第1図において、6はスイッチ、7は定電
流回路を示し、その出力の一方は電流端子5に接続され
、他方はスイッチ6を閉じた時電流端子4に接続される
。10は差動増幅器を示し電圧測定端子8と9の電位差
を増幅する。 11はAD変換器で差動増幅器の出力電
圧をAD変換する。12は演算処理装置、13はメモリ
、14は表示器である。演算処理装置12はAD変換器
の出力、電圧測定端子8と9の電位差を読み取りメモリ
13に記憶する。あるいは所定の演算をして結果を表示
器14に表示する。
このような構成において、最初にスイッチ6を開き電圧
測定端子8と9の電位差を測定してメモ1月3に記憶す
る。この電位差をvlとし、電圧測定端子8と9間の被
測定配線の抵抗値をRとし、被測定配線を流れる電流を
rpとすると電流TPは次式で表される。
次にスイッチ6を閉じ、定電流回路7で発生した電流を
電流端子4と5から被測定配線に供給し、電圧測定端子
8と9の電位差を測定してメモリー3に記憶する。この
時の電位差を■2、定電流回路AIの発生した電流値を
IAとすると、被測定配線の抵抗値Rは次式で表される
(2)式を(1)式に代入すると最初に被測定配線を流
れていた電流IPは次式で表される。
演算処理装置12は(3)式による演算を行い被測定配
線を流れる電流値IPを求め表示器14に表示する。
第2図は、本発明による測定例を示す図である。
第2図において15は被測定回路の電源、16は抵抗器
、17は本発明による電流測定装置である。電源15と
抵抗器16と配’h’A 1は直列に接続されており、
電源15の電圧が5V、抵抗器16の抵抗値が1にΩの
時配線1を流れる電流IPは 1にΩ である。配線1がプリント基板の配線パターンで厚みが
35μm5幅が0.3fiの銅の場合、体積抵抗率1.
69X10−”Ω・mから長さ1日では約1.6mΩ、
配線1上の点2と3の間の長さが20tmとすると、抵
抗値は32mΩである。このような構成において、配線
1上の点2と3の電位差■1を測定する。を位差v1は Vl−5mAx32mΩ−160/JVである0次に電
流端子4と8に10mAの定電流■Aを供給すると配w
Al上の点2と3の間の抵抗値32mΩが抵抗器16の
抵抗値1にΩに比べ微小なので定電流10mAの大部分
は配線Pl上の点2と3の間を流れ、前記電流IPの5
mAと合計して15mAの電流が流れる。配線1上の点
2と3の電位差V2は V 2−15mA x32mΩ=480/JVである。
Vl、V2.IAを(3)式に代入して480μV−1
60,c+ V なる電流!Pが算出できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば測定対象の配線
に測定用端子を当接するだけで電流を測定し得るように
したものであるから、測定対象の配線を切ったり外した
りして回路を開く必要がなく、プリント基板の配線パタ
ーンなど固定された配線でも容易に短時間で電流を測定
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の電流測定装置の一例を示すブロック
図、第2図は本発明による測定例を示す説明図である。 1・・・・・被測定配線 2.3 ・・・配線1上の点 4.5 ・・・電流端子 6・・・・・スイッチ 7・・・・・定電流回路 8.9 ・・・電圧測定端子 10・・・・・差動増幅器 11・・・・・AD変換器 12・・・・・演算処理装置 13・・・・・メモリ 14・・・・・表示器 15・・・・・電源 16・・・・・抵抗器 I7・・・・・電流促成装置 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 本発明の70ケア図 第1 図 不発θ月による測ズ伊1乞示す言えσ月図第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 定電流回路と、前記定電流回路を開閉するスイッチと、
    定電流を供給する第1の端子対と、差動増幅器と、前記
    差動増幅器に接続される第2の端子対と、差動増幅器の
    出力電圧をAD変換するAD変換器と、演算処理装置と
    、AD変換された値を記憶するメモリと、表示器とを備
    え、電流測定すべき配線上に2点を選定し、前記2点に
    定電流を供給する一対の端子と、前記差動増幅器に接続
    される一対の端子とを当接し、前記スイッチを開き配線
    上の2点の電位差をAD変換してメモリに記憶し、次に
    スイッチを閉じて定電流を供給して配線上の2点の電位
    差をAD変換し、メモリの他の部分に記憶し、前記定電
    流をIA、前者のAD変換値をV1、後者のAD変換値
    をV2、測定すべき電流をIPとし、前記演算処理装置
    によって、IP=[IA/(V2−V1)]・V1 なる演算を行い配線を流れる電流IPを算出するよう構
    成したことを特徴とする電流測定装置。
JP28994287A 1987-11-17 1987-11-17 電流測定装置 Pending JPH01131465A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015021731A (ja) * 2013-07-16 2015-02-02 富士通株式会社 電子装置及び電流モニタ方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015021731A (ja) * 2013-07-16 2015-02-02 富士通株式会社 電子装置及び電流モニタ方法

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