JP2015021731A - 電子装置及び電流モニタ方法 - Google Patents

Abstract

【課題】電源回路からレシーバ回路へ流れ込む電流を測定すること。
【解決手段】電子装置において、検出回路５は、電源回路１とレシーバ回路３とを接続する電源配線７に流れる電流によって電源配線７の少なくとも一部の配線部分２の両端に生じる電圧差を検出する。電流供給回路４は、電源配線７にパイロット電流を供給する。制御回路６は、電流供給回路４に対してパイロット電流の供給及び供給停止を制御する。制御回路６は、パイロット電流の供給停止時に検出回路５によって検出される電圧差の値、パイロット電流の供給時に検出回路５によって検出される電圧差の値、及びパイロット電流の電流値に基づいて、配線部分２の配線抵抗値を算出する。制御回路６は、パイロット電流の供給停止時に検出回路５によって検出される電圧差の値、及び配線抵抗値に基づいて、電源回路１からレシーバ回路３に流れ込む主電流の電流値を算出する。
【選択図】図１

Description

この発明は、電子装置及び電流モニタ方法に関する。

従来、電流をモニタする装置及び方法として、配線パターンによって抵抗体を構成し、抵抗体の抵抗値と抵抗体における２点間の電圧差とに基づいて、電流値を測定する技術が開示されている。また、配線パターンによって形成された抵抗体の抵抗値を、予め測定しておいた温度特性に基づいて補正する技術が開示されている（例えば、特許文献１参照）。また、エージング槽の外に配置した基準抵抗における電圧降下を測定することによって、エージング槽内の半導体デバイスに流れる電流を測定する技術が開示されている（例えば、特許文献２参照）。

特開２００７−２８０６４３号公報 特開平６−１３８１７４号公報

しかしながら、近年の大規模ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ、大規模集積回路）のように、電源回路からＬＳＩへ数十〜１００Ａ程度の大電流が流れ込む場合、抵抗体での発熱によって抵抗体の抵抗値が変化するため、電流値の測定誤差が大きくなってしまう。温度特性に基づいて抵抗体の抵抗値を補正する場合、温度特性の測定結果を格納するテーブルを参照して間接的に電流値を求めることになるため、実際の電流値と測定値との間にずれが生じるおそれがある。つまり、電源回路からＬＳＩなどのレシーバ回路へ流れ込む電流を正確に測定することができないという問題点がある。

電源回路からレシーバ回路へ流れ込む電流を測定することができる電子装置及び電流モニタ方法を提供することを目的とする。

電子装置は、電源回路、レシーバ回路、検出回路、電流供給回路及び制御回路を備える。電源回路は、レシーバ回路に主電流を供給する。レシーバ回路は、電源回路から供給される主電流によって駆動される。検出回路は、電源回路とレシーバ回路とを接続する電源配線に流れる電流によって電源配線の少なくとも一部の配線部分の両端に生じる電圧差を検出する。電流供給回路は、電源配線に、主電流よりも小さい電流値のパイロット電流を供給する。制御回路は、電流供給回路に対してパイロット電流の供給及び供給停止を制御する。制御回路は、パイロット電流の供給停止時に検出回路によって検出される電圧差の値、パイロット電流の供給時に検出回路によって検出される電圧差の値、及びパイロット電流の電流値に基づいて、配線部分の配線抵抗値を算出する。制御回路は、パイロット電流の供給停止時に検出回路によって検出される電圧差の値、及び配線抵抗値に基づいて、主電流の電流値を算出する。

電流モニタ方法は、主電流を供給する電源回路と、電源回路から供給される主電流によって駆動されるレシーバ回路と、を接続する電源配線の少なくとも一部の配線部分に、電源回路からレシーバ回路に流れ込む主電流を流して、配線部分の両端に生じる第１の電圧差を検出する。また、電流モニタ方法は、配線部分に主電流と、主電流よりも小さい電流値のパイロット電流とを流して、配線部分の両端に生じる第２の電圧差を検出する。そして、電流モニタ方法は、第１の電圧差の値、第２の電圧差の値、及びパイロット電流の電流値に基づいて、配線部分の配線抵抗値を算出し、第１の電圧差の値及び配線抵抗値に基づいて主電流の電流値を算出する。

電子装置及び電流モニタ方法によれば、電源回路からレシーバ回路へ流れ込む電流を測定することができる。

図１は、実施の形態にかかる電子装置の第１の例を示す図である。 図２は、図１に示す電子装置における信号及び電流の流れを示す図である。 図３は、図１に示す電子装置における制御回路のハードウェア構成の一例を示す図である。 図４は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第１の例を示す図である。 図５は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例を示す図である。 図６は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例を説明する図（その１）である。 図７は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例を説明する図（その２）である。 図８は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例において電源電圧をフィードバック制御する例を説明する図（その１）である。 図９は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例において電源電圧をフィードバック制御する例を説明する図（その２）である。 図１０は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第２の例を示す図である。 図１１は、実施の形態にかかる電子装置の第３の例を示す図である。 図１２は、実施の形態にかかる電子装置の第４の例を示す図である。 図１３は、温度特性データの第１の例を示す図である。 図１４は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第３の例を示す図である。 図１５は、温度特性データの第２の例を示す図である。 図１６は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第４の例を示す図である。 図１７は、温度特性データの第３の例を示す図である。 図１８は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第５の例を示す図である。 図１９は、温度特性データの第４の例を示す図である。 図２０は、実施の形態にかかる電子装置の第７の例を示す図である。 図２１は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第６の例を示す図である。 図２２は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第７の例を示す図である。 図２３は、実施の形態にかかる電子装置の第８の例を示す図である。 図２４は、実施の形態にかかる電子装置の第９の例を示す図である。 図２５は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第８の例を示す図である。 図２６は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第９の例を示す図である。

以下に添付図面を参照して、この電子装置及び電流モニタ方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。以下の各実施例の説明においては、同様の構成要素には同一の符号を付して、重複する説明を省略する。

・電子装置の第１の例
図１は、実施の形態にかかる電子装置の第１の例を示す図である。図２は、図１に示す電子装置における信号及び電流の流れを示す図である。図１及び図２に示すように、電子装置は、電源回路１、レシーバ回路３、電流供給回路４、検出回路５及び制御回路６を有する。

電源回路１とレシーバ回路３とは、電源配線７によって接続されている。電源回路１は、電源配線７を介してレシーバ回路３に主電流を供給する。レシーバ回路３には、主電流が流れ込む。レシーバ回路３は、電源回路１から供給される主電流によって駆動される。図２では、主電流はＩｌｓｉと表記されている。

電流供給回路４は、電源配線７において、電源配線７の配線部分２とレシーバ回路３との間に接続されている。電流供給回路４は、制御回路６に接続されている。電流供給回路４は、制御回路６からの制御信号に基づいて、電源配線７にパイロット電流を供給し、またパイロット電流の供給を停止する。パイロット電流の電流値は、主電流の電流値よりも小さい。図２では、パイロット電流はＩｐｌｔと表記されている。

電流供給回路４によって電源配線７に供給されるパイロット電流は、電源配線７から引き抜かれる。つまり、電流供給回路４によって電源配線７にパイロット電流が供給されている状態では、電源配線７を流れる電流のうち、主電流はレシーバ回路３へ流れ込み、パイロット電流は電流供給回路４へ流れ込む。

検出回路５は、電源配線７の少なくとも一部の配線部分２の両端に接続されている。電源配線７に電流が流れることによって、電源配線７の配線部分２で電圧降下が起こる。検出回路５は、配線部分２の両端の電圧に基づいて、電圧降下によって配線部分２の両端に生じる電圧差を検出する。検出回路５は、電圧差の検出値に対応する信号を制御回路６へ出力する。

電源配線７の配線部分２の一端は電源回路１に接続され、他端はレシーバ回路３に接続される。電源配線７の配線部分２の一端が電源回路１に近く、他端はレシーバ回路３に近いのが好ましい。そうすれば、電源回路１とレシーバ回路３との間の電源配線７のほぼ全体が配線部分２になるため、配線部分２の配線抵抗値が主電流を測定するのに十分な大きさとなる。

制御回路６は、電流供給回路４及び検出回路５に接続されている。制御回路６は、電流供給回路４に対して制御信号を出力し、電流供給回路４におけるパイロット電流の供給及び供給停止を制御する。

制御回路６は、検出回路５から、電圧差の検出値に対応する信号を受け取る。制御回路６は、パイロット電流の供給停止時に検出回路５によって検出される電圧差の値、パイロット電流の供給時に検出回路５によって検出される電圧差の値、及びパイロット電流の電流値に基づいて、配線部分２の配線抵抗値を算出する。制御回路６は、パイロット電流の供給停止時に検出回路５によって検出される電圧差の値、及び配線部分２の配線抵抗値に基づいて、電源回路１からレシーバ回路３に流れ込む主電流の電流値を算出する。

図１に示す電子装置において、電源回路１、レシーバ回路３、電流供給回路４及び検出回路５は、それぞれハードウェアによって実現される。制御回路６は、ハードウェアによって実現されてもよいし、制御回路６によって実現される各機能がソフトウェアの処理によって実現されてもよい。制御回路６の各機能がソフトウェアの処理によって実現される場合のハードウェア構成の一例について説明する。

図３は、図１に示す電子装置における制御回路のハードウェア構成の一例を示す図である。図３に示すように、電子装置において、制御回路６は、例えばプロセッサ１１、インタフェース１２、不揮発性メモリ１３及び揮発性メモリ１４を有する。プロセッサ１１、インタフェース１２、不揮発性メモリ１３及び揮発性メモリ１４はバス１５に接続されていてもよい。

プロセッサ１１は、後述する電流モニタ方法を実現するプログラムを処理する。それによって、図１に示す電子装置における制御回路６の各機能が実現される。プロセッサ１１の一例として、例えばＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ、中央処理装置）、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ、デジタルシグナルプロセッサ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ、エーシック）、またはＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａy、フィールドプログラマブルゲートアレイ）などのプログラマブルロジックデバイスが挙げられる。

不揮発性メモリ１３は、ブートプログラムや後述する電流モニタ方法を実現するプログラムを記憶している。プロセッサ１１がプログラマブルロジックデバイスである場合には、不揮発性メモリ１３はプログラマブルロジックデバイスの回路情報を記憶していてもよい。不揮発性メモリ１３の一例として、マスクＲＯＭ（マスクロム）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ、イーイーピーロム）またはフラッシュメモリなどのＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ、ロム）が挙げられる。

揮発性メモリ１４は、プロセッサ１１の作業領域として用いられる。揮発性メモリ１４は、不揮発性メモリ１３から読み出されたプログラムを保持する。揮発性メモリ１４の一例としてＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ、ディーラム）やＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ、エスラム）などのＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ、ラム）が挙げられる。

インタフェース１２は、電流供給回路４に対してパイロット電流の供給及び供給停止を制御する制御信号の出力を司る。インタフェース１２は、検出回路５からの電圧差の検出値に対応する信号の入力を司る。

・電流モニタ方法の第１の例
図４は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第１の例を示す図である。図４に示す電流モニタ方法は、図１に示す電子装置において実施されてもよい。本実施例では、図４に示す電流モニタ方法が、図１に示す電子装置において実施されるとして説明する。

図４に示すように、電流モニタ方法が開始されると、電源回路１がオンにされ、電源回路１から電源配線７の配線部分２を通ってレシーバ回路３へ主電流が流れる（ステップＳ１）。このとき、電流供給回路４は、制御回路６からの制御信号によって、パイロット電流の供給を停止している。

次いで、検出回路５は、主電流が流れることによって電源配線７の配線部分２の両端に生じる第１の電圧差を検出する。そして、検出回路５は、第１の電圧差の検出値に基づく信号を制御回路６へ出力する（ステップＳ２）。

次いで、制御回路６は、電流供給回路４がパイロット電流を流すように、電流供給回路４へ制御信号を出力する。それによって、電源配線７の配線部分２に主電流と、主電流よりも小さい電流値のパイロット電流とが流れる（ステップＳ３）。

次いで、検出回路５は、主電流とパイロット電流とが流れることによって電源配線７の配線部分２の両端に生じる第２の電圧差を検出する。そして、検出回路５は、第２の電圧差の検出値に基づく信号を制御回路６へ出力する（ステップＳ４）。

次いで、制御回路６は、検出回路５の出力信号に基づいて、第１の電圧差の値及び第２の電圧差の値を求める。そして、制御回路６は、第１の電圧差の値、第２の電圧差の値及びパイロット電流の電流値に基づいて、電源配線７の配線部分２の配線抵抗値を算出する（ステップＳ５）。

次いで、制御回路６は、第１の電圧差の値及び配線抵抗値に基づいて主電流の電流値を算出する（ステップＳ６）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。なお、ステップＳ１〜ステップＳ２を行う前にステップＳ３〜ステップＳ４を行ってもよい。

図１に示す電子装置または図４に示す電流モニタ方法によれば、パイロット電流の電流値が主電流の電流値よりも小さいため、パイロット電流が電流供給回路４を流れるときの発熱量が、主電流とパイロット電流とが電源配線７の配線部分２を流れるときの発熱量よりも小さくなる。それによって、電流供給回路４の抵抗値の温度による変化量が電源配線７の配線部分２の配線抵抗値の変化量よりも小さくなるため、電流供給回路４が温度による影響の小さい定電流回路のようになる。つまり、電流供給回路４は、温度による影響を殆ど受けずに一定の電流値のパイロット電流を流すことができる。従って、検出回路５は、温度による影響を殆ど受けずに、パイロット電流が流れるときの電源配線７の配線部分２の両端の電圧差を検出することができる。そして、制御回路６は、温度による影響を殆ど受けずに、配線部分２の配線抵抗値を求め、その配線抵抗値に基づいて主電流の電流値を求めることができる。つまり、電子装置は、電源回路１からレシーバ回路３へ流れ込む主電流を測定することができる。

以下に示す電子装置の第２〜第１０の例は、上述した電子装置の第１の例を適用した電子装置の例である。

・電子装置の第２の例
図５は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例を示す図である。図５に示すように、電子装置は、コネクタ２２、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３、電源配線２４、電源配線２４の配線部分２５、ＬＳＩ２６、スイッチ２７、パイロット抵抗２８、差動アンプ２９、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ−ｔｏ−Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ、アナログデジタルコンバータ）３０及びプロセッサ３１を有する。コネクタ２２、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３、ＬＳＩ２６、スイッチ２７、パイロット抵抗２８、差動アンプ２９、ＡＤＣ３０及びプロセッサ３１は、プリント基板２１に実装されていてもよい。電源配線２４及び電源配線２４の配線部分２５は、プリント基板２１に形成されていてもよい。

コネクタ２２は、図示しない他のプリント基板、バックプレーンまたはラックのコネクタなどに接続される。

ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の入力端子は、コネクタ２２に接続されている。ＤＣ／ＤＣコンバータ２３は、コネクタ２２を介して、コネクタ２２に接続される他のプリント基板などから供給される直流電圧を、ＬＳＩ２６の駆動に適する直流電圧に変換して出力する。例えば、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３には、コネクタ２２から１２Ｖの直流電圧が供給され、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３は、１２Ｖの直流電圧を１．０Ｖの直流電圧に変換して出力してもよい。ＤＣ／ＤＣコンバータ２３は、電源回路１の一例である。

電源配線２４は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子とＬＳＩ２６の電源入力端子とに接続されている。従って、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３から出力される主電流は、電源配線２４を通ってＬＳＩ２６に流れ込む。

ＬＳＩ２６は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３から供給される主電流によって駆動される。ＬＳＩ２６は、レシーバ回路３の一例である。

スイッチ２７の一端は、電源配線２４の配線部分２５とＬＳＩ２６の電源入力端子との間に接続されている。スイッチ２７の他端には、パイロット抵抗２８の一端が接続されている。パイロット抵抗２８の他端は、例えばグラウンドに接続されている。スイッチ２７は、プロセッサ３１から出力される制御信号に基づいて、オンとオフとが切り替わる。

スイッチ２７がオン状態にあるときには、電源配線２４の配線部分２５とＬＳＩ２６の電源入力端子との間にパイロット抵抗２８が接続される。それによって、電源配線２４の配線部分２５には、主電流とパイロット電流とが流れる。パイロット電流は、電源配線２４の配線部分２５からパイロット抵抗２８へ流れる。パイロット抵抗２８の抵抗値は、既知であり、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値よりも大きい。従って、パイロット電流の電流値は、主電流の電流値よりも小さい。

スイッチ２７がオフ状態にあるときには、電源配線２４からパイロット抵抗２８が切り離される。そのため、電源配線２４の配線部分２５には、パイロット電流は流れず、主電流が流れる。スイッチ２７及びパイロット抵抗２８は、電流供給回路４の一例である。

差動アンプ２９の一方の入力端子は、電源配線２４において、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子と電源配線２４の配線部分２５との間に接続されている。差動アンプ２９のもう一方の入力端子は、電源配線２４において、ＬＳＩ２６の電源入力端子と電源配線２４の配線部分２５との間に接続されている。電源配線２４の配線部分２５に電流が流れることによって、配線部分２５で電圧降下が起こる。差動アンプ２９は、電圧降下によって配線部分２５の両端に生じる電圧差を検出して出力する。

ＡＤＣ３０は、差動アンプ２９の出力端に接続されている。ＡＤＣ３０は、差動アンプ２９から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換してプロセッサ３１へ出力する。差動アンプ２９及びＡＤＣ３０は、検出回路５の一例である。

プロセッサ３１は、スイッチ２７及びＡＤＣ３０の出力端に接続されている。プロセッサ３１は、スイッチ２７に対して制御信号を出力し、パイロット抵抗２８にパイロット電流を流したり、パイロット抵抗２８にパイロット電流が流れるのを停止させる。

プロセッサ３１は、ＡＤＣ３０から、電圧差の検出値に対応するデジタル信号を受け取る。プロセッサ３１は、パイロット電流が流れないときにＡＤＣ３０から受け取るデジタル信号による情報、パイロット電流が流れるときにＡＤＣ３０から受け取るデジタル信号による情報、及びパイロット電流の電流値に基づいて、配線部分２５の配線抵抗値を算出する。プロセッサ３１は、パイロット抵抗２８の抵抗値とＬＳＩ２６の電源入力端子の電圧値とからパイロット電流の電流値を求めることができる。

プロセッサ３１は、パイロット電流が流れないときにＡＤＣ３０から受け取るデジタル信号による情報、及び配線部分２５の配線抵抗値に基づいて、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３からＬＳＩ２６に流れ込む主電流の電流値を算出する。プロセッサ３１は、常時または定期的に主電流の電流値を算出してもよい。プロセッサ３１は、ＣＰＵでもよいし、ＤＳＰでもよいし、ＡＳＩＣでもよいし、ＦＰＧＡでもよい。プロセッサ３１は、制御回路６の一例である。

図６及び図７は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例を説明する図であり、図６は、スイッチ２７がオフ状態である場合を示し、図７は、スイッチ２７がオン状態である場合を示す。主電流の電流値をＩｌｓｉとし、パイロット電流の電流値をＩｐｌｔとする。また、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値をＲｐｔｎとし、パイロット抵抗２８の抵抗値をＲｐｌｔとする。

図６に示すように、スイッチ２７がオフ状態である場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子ＶＤＤの電圧値をＶｄｏｎとし、ＬＳＩ２６の電源入力端子ＶＤＤの電圧値をＶｌｉｎとする。また、図７に示すように、スイッチ２７がオン状態である場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子ＶＤＤの電圧値をＶｄｏｐとし、ＬＳＩ２６の電源入力端子ＶＤＤの電圧値をＶｌｉｐとする。

図８及び図９は、実施の形態にかかる電子装置の第２の例において電源電圧をフィードバック制御する例を説明する図であり、図８は、スイッチ２７がオフ状態である場合を示し、図９は、スイッチ２７がオン状態である場合を示す。

図８及び図９に示すように、ＬＳＩ２６の電源入力端子ＶＤＤの電圧をＳＥＮＣＥ電圧として、ＬＳＩ２６のＳＥＮＣＥ電圧出力端子ＳＥＮＣＥ−ＶＤＤからＤＣ／ＤＣコンバータ２３などの電源回路のＳＥＮＣＥ電圧入力端子ＳＥＮＣＥ−ＦＢにフィードバックすることがある。この場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３などの電源回路は、ＳＥＮＣＥ電圧入力端子ＳＥＮＣＥ−ＦＢの電圧値に基づいて、配線などの電流経路において発生する電圧降下分を補正することによって、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子ＶＤＤの電圧値を一定に保つ。

図６〜図９を比較して明らかなように、プロセッサ３１がパイロット電流の電流値Ｉｐｌｔ、配線部分２５の配線抵抗値Ｒｐｔｎ及び主電流の電流値Ｉｌｓｉを算出するにあたって、ＳＥＮＣＥ電圧のフィードバック制御の有無を考慮する必要はない。つまり、ＳＥＮＣＥ電圧のフィードバック制御があってもなくても、プロセッサ３１は同じ演算を行うことによって、パイロット電流の電流値Ｉｐｌｔ、配線部分２５の配線抵抗値Ｒｐｔｎ及び主電流の電流値Ｉｌｓｉを求めることができる。従って、上述した実施の形態における説明及びこれ以降の説明では、ＳＥＮＣＥ電圧のフィードバック制御がある場合とない場合との両方を含む。

プロセッサ３１における演算内容について説明する。変数を以下のように定義する。

スイッチ２７がオフ状態であるとき、すなわちパイロット電流が流れないときのＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子ＶＤＤの電圧値をＶｄｏｎとする。スイッチ２７がオン状態であるとき、すなわちパイロット電流が流れるときのＤＣ／ＤＣコンバータ２３の電源出力端子ＶＤＤの電圧値をＶｄｏｐとする。

パイロット電流が流れないときのＬＳＩ２６の電源入力端子ＶＤＤの電圧値をＶｌｉｎとする。パイロット電流が流れるときのＬＳＩ２６の電源入力端子ＶＤＤの電圧値をＶｌｉｐとする。Ｖｄｏｎ、Ｖｄｏｐ、Ｖｌｉｎ及びＶｌｉｐの各値は既知である。

電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値をＲｐｔｎとする。パイロット抵抗２８の抵抗値をＲｐｌｔとする。ＬＳＩ２６に流れ込む主電流の電流値をＩｌｓｉとする。パイロット抵抗２８を流れるパイロット電流の電流値をＩｐｌｔとする。Ｒｐｔｎ、Ｉｌｓｉ及びＩｐｌｔの各値は未知である。Ｒｐｌｔの値は既知である。

パイロット電流が流れないときの電源配線２４の配線部分２５の両端の電圧差は次の（１）式で表される。また、パイロット電流が流れるときの電源配線２４の配線部分２５の両端の電圧差は次の（２）式で表される。

Ｖｄｏｎ−Ｖｌｉｎ＝Ｉｌｓｉ×Ｒｐｔｎ ・・・（１）
Ｖｄｏｐ−Ｖｌｉｐ＝（Ｉｌｓｉ＋Ｉｐｌｔ）×Ｒｐｔｎ ・・・（２）

パイロット抵抗２８にパイロット電流が流れると、次の（３）式が成り立つ。（３）式を変形すると、（４）式が得られる。Ｖｌｉｐ及びＲｐｌｔの各値が既知であるため、プロセッサ３１はＩｐｌｔの値を求めることができる。

Ｖｌｉｐ＝Ｉｐｌｔ×Ｒｐｌｔ ・・・（３）
Ｉｐｌｔ＝Ｖｌｉｐ／Ｒｐｌｔ ・・・（４）

電源配線２４の配線部分２５に主電流とパイロット電流とが流れるときの電圧降下量は、電源配線２４の配線部分２５にパイロット電流が流れずに主電流が流れるときの電圧降下量よりも、パイロット電流が流れる分だけ大きくなる。従って、次の（５）式が成り立ち、プロセッサ３１はこの（５）式から、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値Ｒｐｔｎを求めることができる。

Ｒｐｔｎ＝｛（Ｖｄｏｐ−Ｖｌｉｐ）−（Ｖｄｏｎ−Ｖｌｉｎ）｝／Ｉｐｌｔ ・・・（５）

上記（１）式を変形すると、次の（６）式が得られる。従って、プロセッサ３１は、（５）式及び（６）式から、主電流の電流値を求めることができる。

Ｉｌｓｉ＝（Ｖｄｏｎ−Ｖｌｉｎ）／Ｒｐｔｎ ・・・（６）

一例として、例えば電源配線２４の配線部分２５の温度が０℃である場合、Ｖｄｏｎが１．１Ｖであり、Ｖｌｉｎが１．０Ｖであり、ＶｄｏｎとＶｌｉｎとの電圧差は０．１Ｖであるとする。また、Ｖｄｏｐが１．１０１Ｖであり、Ｖｌｉｐが１．０Ｖであり、ＶｄｏｐとＶｌｉｐとの電圧差は０．１０１Ｖであるとする。また、Ｒｐｌｔが１Ωであるとすると、上記（４）式から、Ｉｐｌｔは１Ａとなる。従って、上記（５）式から、Ｒｐｔｎは１ｍΩとなり、上記（６）式から、Ｉｌｓｉは１００Ａとなる。

一例として、例えば電源配線２４の配線部分２５に電流が流れることによって、配線部分２５の温度が１００℃になるとする。この場合に、Ｖｄｏｎが１．２Ｖであり、Ｖｌｉｎが１．０Ｖであり、ＶｄｏｎとＶｌｉｎとの電圧差は０．２Ｖであるとする。また、Ｖｄｏｐが１．２０２Ｖであり、Ｖｌｉｐが１．０Ｖであり、ＶｄｏｐとＶｌｉｐとの電圧差は０．２０２Ｖであるとする。パイロット抵抗２８に流れるパイロット電流の電流値は、電源配線２４の配線部分２５を流れる電流、すなわち主電流とパイロット電流とを合わせた電流の電流値よりも十分に小さい。そのため、パイロット抵抗２８にパイロット電流が流れても、パイロット抵抗２８の抵抗値は、例えば０℃である場合の抵抗値から殆ど変化しない。つまり、Ｒｐｌｔは１Ωであるとみなすことができる。従って、上記（４）式から、Ｉｐｌｔは１Ａとなり、上記（５）式から、Ｒｐｔｎは２ｍΩとなり、上記（６）式から、Ｉｌｓｉは１００Ａとなる。

・電流モニタ方法の第２の例
図１０は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第２の例を示す図である。図１０に示す電流モニタ方法は、例えば図５に示す電子装置において実施される。

図１０に示すように、例えば図５に示す電子装置において電流モニタ方法が開始されると、プロセッサ３１は、パイロット電流が流れるように、スイッチ２７をオンにする制御信号を出力する。それによって、スイッチ２７がオン状態となるため、電源配線２４の配線部分２５及びパイロット抵抗２８にパイロット電流が流れる（ステップＳ１１）。従って、電源配線２４の配線部分２５には、主電流とパイロット電流とが流れる。

差動アンプ２９は、主電流とパイロット電流とが流れることによって電源配線２４の配線部分２５の両端に生じる電圧差を検出して出力する。ＡＤＣ３０は、差動アンプ２９から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換してプロセッサ３１へ渡す。それによって、プロセッサ３１は、電源配線２４の配線部分２５に主電流とパイロット電流とが流れるときの配線部分２５の両端の電圧差を取得する（ステップＳ１２）。

次いで、プロセッサ３１は、パイロット電流が流れないように、スイッチ２７をオフにする制御信号を出力する。それによって、スイッチ２７がオフ状態となるため、パイロット電流が流れなくなる（ステップＳ１３）。従って、電源配線２４の配線部分２５には、主電流のみが流れる。

差動アンプ２９は、主電流が流れることによって電源配線２４の配線部分２５の両端に生じる電圧差を検出して出力する。ＡＤＣ３０は、差動アンプ２９から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換してプロセッサ３１へ渡す。それによって、プロセッサ３１は、電源配線２４の配線部分２５に主電流のみが流れるときの配線部分２５の両端の電圧差を取得する（ステップＳ１４）。

次いで、プロセッサ３１は、上述した（４）式から、パイロット電流の電流値を算出し、上述した（５）式から、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を算出する（ステップＳ１５）。

次いで、プロセッサ３１は、ステップＳ１５で算出した配線抵抗値及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ１６）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。なお、ステップＳ１１〜ステップＳ１２を行う前にステップＳ１３〜ステップＳ１４を行ってもよい。

図５に示す電子装置及び図１０に示す電流モニタ方法によれば、パイロット電流の電流値が主電流の電流値よりも小さいため、パイロット電流がパイロット抵抗２８を流れるときの発熱量が、主電流とパイロット電流とが電源配線２４の配線部分２５を流れるときの発熱量よりも小さくなる。それによって、パイロット抵抗２８の抵抗値の温度による変化量が電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値の変化量よりも小さくなるため、パイロット抵抗２８が温度による影響の小さい定電流回路のようになる。つまり、パイロット抵抗２８は、温度による影響を殆ど受けずに一定の電流値のパイロット電流を流すことができる。従って、差動アンプ２９は、温度による影響を殆ど受けずに、パイロット電流が流れるときの電源配線２４の配線部分２５の両端の電圧差を検出することができる。そして、プロセッサ３１は、温度による影響を殆ど受けずに、配線部分２５の配線抵抗値を求め、その配線抵抗値に基づいて主電流の電流値を求めることができる。つまり、電子装置は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３からＬＳＩ２６へ流れ込む主電流を測定することができる。

・電子装置の第３の例
図１１は、実施の形態にかかる電子装置の第３の例を示す図である。図１１に示すように、電子装置の第３の例は、図５に示す電子装置の第２の例において、パイロット抵抗２８の代わりに定電流回路３２を有する。

定電流回路３２は、スイッチ２７と例えばグラウンドとの間に接続されている。定電流回路３２は、スイッチ２７がオン状態にあるときに、電流値が一定であるパイロット電流を流す。その他の構成は、図５に示す電子装置の第２の例と同様であるため、重複する説明を省略する。

電子装置の第３の例では、パイロット電流の電流値が既知であるため、上述したプロセッサ３１における演算内容において、上記（４）式の演算は不要となる。つまり、プロセッサ３１は、ＡＤＣ３０から、パイロット電流が流れないときの電源配線２４の配線部分２５の両端の電圧差と、パイロット電流が流れるときの配線部分２５の両端の電圧差とを取得することによって、上記（５）式から、配線部分２５の配線抵抗値を求めることができる。そして、プロセッサ３１は、上記（６）式から、主電流の電流値を求めることができる。

図１１に示す電子装置において実施される電流モニタ方法については、プロセッサ３１がパイロット電流の電流値を算出する演算を行わないことを除いて、図１０に示す電流モニタ方法の第２の例と同様であるため、重複する説明を省略する。

図１１に示す電子装置によれば、パイロット電流を流す回路が定電流回路３２であるため、パイロット電流が流れるときのサージを抑制することができる。従って、主電流の電流値をより高精度に求めることができる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３に接続されるＬＳＩ２６がサージによって誤動作するのを抑制することができる。

・電子装置の第４の例
図１２は、実施の形態にかかる電子装置の第４の例を示す図である。図１２に示すように、電子装置の第４の例は、図１１に示す電子装置の第３の例において、電源配線２４の配線部分２５の温度を検出する温度センサ３３を有し、メモリ３４に温度特性データ３５を格納する。

温度センサ３３は、電源配線２４の配線部分２５の近傍に配置され、プロセッサ３１に接続されている。温度センサ３３は、電源配線２４の配線部分２５の近傍の温度を検出し、検出値をデジタル信号に変換してプロセッサ３１へ渡す。プロセッサ３１は、温度センサ３３によって検出される電源配線２４の配線部分２５の近傍の温度を、配線部分２５の温度として扱う。温度センサＩＣは、温度センサ３３の一例である。なお、温度センサ３３が温度の検出値をアナログ信号で出力する場合には、温度センサ３３から出力されるアナログ信号をアナログデジタルコンバータによってデジタル信号に変換してプロセッサ３１へ入力させればよい。

メモリ３４は、プロセッサ３１に内蔵されていてもよい。例えば、メモリ３４は、図３に示す不揮発性メモリ１３であってもよい。あるいは、メモリ３４は、プロセッサ３１とは別にプリント基板２１に実装されており、プロセッサ３１がアクセスすることができるようになっていてもよい。メモリ３４は、ＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリなどの書き換え可能なＲＯＭであってもよい。

図１３は、温度特性データの第１の例を示す図である。図１３に示すように、温度特性データ３５は、例えば温度フィールド、データ有無フィールド及び配線抵抗値フィールドを有する。温度フィールドには、例えば０．０℃から１００．０℃まで０．１℃おきに配線部分２５の温度の値が格納される。データ有無フィールドには、各温度ごとに配線抵抗値のデータがあるかないかを示す値が格納される。例えばデータ有無フィールドには、配線抵抗値のデータがない場合には０が格納され、配線抵抗値のデータがある場合には１が格納されてもよい。配線抵抗値フィールドには、各温度ごとに配線部分２５の配線抵抗値が格納される。

一例として、例えば図１３に示す例では、０．１℃の温度に対しては、データ有無フィールドの値は有りを示し、配線抵抗値として１．００１ｍΩが格納されている。０．２℃の温度に対しては、データ有無フィールドの値は無しを示し、配線抵抗値は格納されていない。１００．０℃の温度に対しては、データ有無フィールドの値は有りを示し、配線抵抗値として２．０００ｍΩが格納されている。０．０℃の温度に対しては、データ有無フィールドの値が直前まで無しであったのが、プロセッサ３１によって配線抵抗値として１．０００ｍΩが算出されたため、配線抵抗値フィールドに１．０００ｍΩが丁度、格納された状態となっている。この後、プロセッサ３１によって０．０℃の温度に対するデータ有無フィールドの値が有りに書き換えられる。

プロセッサ３１は、温度センサ３３によって電源配線２４の配線部分２５の温度を検出し、検出した温度に対して、温度特性データ３５に配線抵抗値のデータがある場合には、温度特性データ３５から配線抵抗値を取得する。プロセッサ３１は、温度センサ３３によって検出した温度に対して、温度特性データ３５に配線抵抗値のデータがない場合には、例えば図１０に示す電流モニタ方法の第２の例と同様にして配線部分２５の配線抵抗値を算出して温度特性データ３５に格納する。

その他の構成は、図１１に示す電子装置の第３の例と同様であるため、重複する説明を省略する。なお、図５に示す電子装置の第２の例のように、定電流回路３２の代わりにパイロット抵抗２８を用いてもよい。

・電流モニタ方法の第３の例
図１４は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第３の例を示す図である。図１４に示す電流モニタ方法は、例えば図１２に示す電子装置において実施される。

図１４に示すように、例えば図１２に示す電子装置において電流モニタ方法が開始されると、プロセッサ３１は、温度センサ３３によって電源配線２４の配線部分２５の温度を検出して取得する（ステップＳ２１）。そして、プロセッサ３１は、温度特性データ３５を参照し、取得した温度に対応する配線抵抗値のデータが温度特性データ３５にあるか否かを判断する（ステップＳ２２）。

温度特性データ３５に該当するデータがない場合（ステップＳ２２：Ｎｏ）、上述したステップＳ１１〜ステップＳ１５と同様にして、プロセッサ３１は、パイロット電流の供給及び供給停止を制御して、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を算出する（ステップＳ２３〜ステップＳ２７）。そして、プロセッサ３１は、温度特性データ３５の該当する温度の配線抵抗値フィールドに、算出した配線抵抗値を書き込むとともに、該当する温度のデータ有無フィールドの値を有りに書き換える（ステップＳ２８）。

次いで、プロセッサ３１は、ステップＳ２７で算出した配線抵抗値及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ２９）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

一方、ステップＳ２２において温度特性データ３５に該当するデータがある場合（ステップＳ２２：Ｙｅｓ）、プロセッサ３１は、パイロット電流が流れないようにスイッチ２７をオフに制御した状態で、差動アンプ２９及びＡＤＣ３０から、電源配線２４の配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得する（ステップＳ３０）。また、プロセッサ３１は、温度特性データ３５から該当する温度に対する配線抵抗値のデータを読み出す（ステップＳ３１）。なお、ステップＳ３０の前にステップＳ３１を行ってもよい。

次いで、プロセッサ３１は、ステップＳ３０で取得した電圧差の値と、ステップＳ３１で取得した配線抵抗値のデータとに基づいて、主電流の電流値を算出する（ステップＳ２９）。主電流の電流値は、例えばステップＳ３０で取得した電圧差の値を、ステップＳ３１で取得した配線抵抗値で除することにより得られる。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

図１２に示す電子装置及び図１４に示す電流モニタ方法によれば、温度特性データ３５に、電源配線２４の配線部分２５の温度に対応する配線抵抗値のデータがある場合には、温度特性データ３５から配線抵抗値のデータを取得することができるため、パイロット電流を流さなくて済む。従って、パイロット電流を流す回数が減り、パイロット電流の累積の電流値が抑えられるため、消費電力が増大するのを抑制することができる。

・電子装置の第５の例
図１５は、温度特性データの第２の例を示す図である。図１５に示すように、電子装置の第５の例は、図１２に示す電子装置の第４の例において、温度特性データ３５が例えば温度フィールド及びデータ有無フィールドの他に抵抗値の許容範囲フィールドを有し、かつ配線抵抗値フィールドの代わりに配線抵抗値の統計結果フィールドを有するものである。

抵抗値の許容範囲フィールドには、各温度ごとに電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値の許容範囲の値が格納される。配線抵抗値の許容範囲の値は、予め電子装置の設計者によって設定されてもよい。配線抵抗値の統計結果フィールドには、プロセッサ３１が配線部分２５の配線抵抗値を算出するたびに、例えば過去に算出した配線抵抗値との統計を取った値が格納される。例えば、新たに算出した配線抵抗値と、過去に算出した配線抵抗値との平均を取ることによって、配線抵抗値の統計結果としてもよい。

一例として、例えば図１５に示す例では、０．０℃、０．１℃及び０．２℃の各温度に対しては、抵抗値の許容範囲として１．０ｍΩ±１０％が格納されている。１００℃の温度に対しては、抵抗値の許容範囲として２．０ｍΩ±１０％が格納されている。０．０℃の温度に対しては、データ有無フィールドの値が直前まで無しであったのが、プロセッサ３１によって配線抵抗値として１．０００ｍΩが算出されたため、配線抵抗値の統計結果フィールドに１．０００ｍΩが丁度、格納された状態となっている。この後、プロセッサ３１によって０．０℃の温度に対するデータ有無フィールドの値が有りに書き換えられる。

プロセッサ３１は、温度センサ３３によって電源配線２４の配線部分２５の温度を検出し、配線抵抗値を算出する。プロセッサ３１は、算出した配線抵抗値が、検出した温度に対する抵抗値の許容範囲内に含まれる場合には、配線抵抗値の統計を取って、温度特性データ３５の該当する温度に対する配線抵抗値の統計結果フィールドの値を更新する。

算出した配線抵抗値が、検出した温度に対する抵抗値の許容範囲内に含まれるが、該当する温度に対する配線抵抗値の統計結果フィールドに値が格納されていないことがある。その場合には、プロセッサ３１は、該当する温度に対する配線抵抗値の統計結果フィールドに、算出した配線抵抗値を書き込む。

一方、算出した配線抵抗値が、検出した温度に対する抵抗値の許容範囲内に含まれない場合には、プロセッサ３１は、再び、パイロット電流の供給及び供給停止を制御して配線抵抗値を算出する。プロセッサ３１は、配線抵抗値の算出を所定回数、繰り返しても、算出した配線抵抗値が抵抗値の許容範囲内に含まれない場合には、例えば警報を発して処理を停止してもよい。警報を発生させた電子装置は、不良品として扱われてもよい。算出した配線抵抗値が抵抗値の許容範囲内に含まれない原因の一つとして、例えばノイズの影響が挙げられる。

その他の構成は、図１２に示す電子装置の第４の例と同様であるため、重複する説明を省略する。なお、図５に示す電子装置の第２の例のように、定電流回路３２の代わりにパイロット抵抗２８を用いてもよい。

・電流モニタ方法の第４の例
図１６は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第４の例を示す図である。図１６に示す電流モニタ方法は、例えば図１５に示す温度特性データ３５を有する電子装置において実施される。

図１６に示すように、例えば図１５に示す温度特性データ３５を有する電子装置において電流モニタ方法が開始されると、プロセッサ３１は、温度センサ３３によって電源配線２４の配線部分２５の温度を検出して取得する（ステップＳ４１）。次いで、上述したステップＳ１１〜ステップＳ１５と同様にして、プロセッサ３１は、パイロット電流の供給及び供給停止を制御して、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を算出する（ステップＳ４２〜ステップＳ４６）。

次いで、プロセッサ３１は、温度特性データ３５を参照し、ステップＳ４６で算出した配線抵抗値が、ステップＳ４１で取得した温度に対する抵抗値の許容範囲内に含まれるか否かを判断する（ステップＳ４７）。許容範囲内に含まれない場合（ステップＳ４７：Ｎｏ）、ステップＳ４１へ戻り、プロセッサ３１はステップＳ４１〜ステップＳ４７を繰り返す。ステップＳ４６で算出した配線抵抗値が許容範囲内に含まれないためにステップＳ４１〜ステップＳ４７を繰り返す回数が所定回数に達したら、プロセッサ３１は、例えば警報をあげて処理を停止してもよい。

一方、ステップＳ４６で算出した配線抵抗値が、該当する温度に対する抵抗値の許容範囲内に含まれる場合（ステップＳ４７：Ｙｅｓ）、プロセッサ３１は、温度特性データ３５を参照し、ステップＳ４１で取得した温度に対応する配線抵抗値の統計結果のデータが温度特性データ３５にあるか否かを判断する（ステップＳ４８）。

温度特性データ３５に該当するデータがない場合（ステップＳ４８：Ｎｏ）、プロセッサ３１は、温度特性データ３５の該当する温度に対する配線抵抗値の統計結果フィールドに、ステップＳ４６で算出した配線抵抗値を書き込む。また、プロセッサ３１は、温度特性データ３５の該当する温度に対するデータ有無フィールドの値を有りに書き換える（ステップＳ４９）。

次いで、プロセッサ３１は、ステップＳ４６で算出した配線抵抗値及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ５０）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

一方、ステップＳ４８において温度特性データ３５に該当するデータがある場合（ステップＳ４８：Ｙｅｓ）、プロセッサ３１は、ステップＳ４１で取得した温度に対応する配線抵抗値の統計結果フィールドの値と、ステップＳ４６で算出した配線抵抗値との統計、例えば平均値を算出する。そして、プロセッサ３１は、その統計結果の値、例えば平均値を該当する配線抵抗値の統計結果フィールドに格納して、配線抵抗値の統計結果フィールドの値を更新する（ステップＳ５１）。

次いで、プロセッサ３１は、ステップＳ５１で算出した統計結果の値を電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値とし、その配線抵抗値及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ５０）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

図１５に示す温度特性データ３５を有する電子装置及び図１６に示す電流モニタ方法によれば、算出した配線抵抗値が許容範囲から外れる場合、パイロット電流の供給及び供給停止を制御して配線抵抗値を算出し直すため、算出した配線抵抗値に対するノイズ等の影響を低減させることができる。従って、電子装置は、主電流の電流値をより高精度に測定することができる。また、配線抵抗値の統計結果を用いて主電流の電流値を算出するため、主電流の電流値をより高精度に測定することができる。

・電子装置の第６の例
図１７は、温度特性データの第３の例を示す図である。図１７に示すように、電子装置の第６の例は、図１２に示す電子装置の第４の例において、温度特性データ３５が例えば温度フィールドの代わりに、パイロット電流無しの場合の温度フィールド及びパイロット電流有りの場合の温度フィールドを有するものである。また、温度特性データ３５は、データ有無フィールドの他に、Δ℃補正量フィールド、ΔｍΩ補正量フィールド、抵抗値の許容範囲フィールドを有し、かつ配線抵抗値フィールドの代わりに配線抵抗値の統計結果フィールドを有する。

パイロット電流無しの場合の温度フィールドには、例えば０．０℃から１００．０℃まで０．１℃おきにパイロット電流が流れない場合の配線部分２５の温度の値が格納される。パイロット電流有りの場合の温度フィールドには、パイロット電流が流れる場合の配線部分２５の温度の値が格納される。

Δ℃補正量フィールドには、パイロット電流が流れる場合とパイロット電流が流れない場合との配線部分２５の温度差の値が格納される。ΔｍΩ補正量フィールドには、パイロット電流が流れる場合とパイロット電流が流れない場合との配線部分２５の温度差に対応する配線抵抗値の補正量の値が格納される。パイロット電流が流れる場合とパイロット電流が流れない場合との配線部分２５の温度差に対応する配線抵抗値の補正量の値は、予め電子装置の設計者によって設定されてもよい。

電子装置の設計者は、例えば図１２に示す電子装置を用いて実験を行うことができる。例えば、設計者は、電源配線２４の配線部分２５の各温度に対して、主電流に加えてパイロット電流を流すことによって温度が何度上昇するかを測定し、その温度上昇分に対する配線部分２５の配線抵抗値の増加量を測定する。そして、設計者は、温度特性データ３５のΔ℃補正量フィールド及びΔｍΩ補正量フィールドに、測定した各値を格納しておくようにしてもよい。

抵抗値の許容範囲フィールド及び配線抵抗値の統計結果フィールドについては、図１５に示す温度特性データの第２の例において説明した通りである。従って、重複する説明を省略する。

一例として、例えば図１７に示す例では、パイロット電流が流れない場合の温度が０．０℃〜０．２℃、３０．０℃〜３０．２℃及び１００．０℃である場合のそれぞれに対して、パイロット電流が流れる場合の温度が０．１℃高くなっている。従って、パイロット電流が流れない場合の各温度に対して、Δ℃補正量として０．１℃が格納されている。また、パイロット電流が流れない場合の各温度に対して、０．１℃のΔ℃補正量に対してΔｍΩ補正量として０．００１ｍΩが格納されている。３０．０℃の温度に対しては、データ有無フィールドの値が直前まで無しであったのが、プロセッサ３１によって配線抵抗値として１．３００ｍΩが算出されたため、配線抵抗値の統計結果フィールドに１．３００ｍΩが丁度、格納された状態となっている。この後、プロセッサ３１によって３０．０℃の温度に対するデータ有無フィールドの値が有りに書き換えられる。

プロセッサ３１は、パイロット電流が流れない場合、すなわち主電流のみが流れる場合と、パイロット電流が流れる場合、すなわち主電流とパイロット電流とが流れる場合とで、温度センサ３３によって電源配線２４の配線部分２５の温度を検出する。プロセッサ３１は、パイロット電流が流れない場合とパイロット電流が流れる場合との温度差を求め、この温度差に対応する配線抵抗値の補正量を温度特性データ３５から取得して、算出した配線抵抗値を補正する。

その他の構成は、図１２に示す電子装置の第４の例と同様であるため、重複する説明を省略する。なお、図５に示す電子装置の第２の例のように、定電流回路３２の代わりにパイロット抵抗２８を用いてもよい。

・電流モニタ方法の第５の例
図１８は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第５の例を示す図である。図１８に示す電流モニタ方法は、例えば図１７に示す温度特性データ３５を有する電子装置において実施される。

図１８に示すように、例えば図１７に示す温度特性データ３５を有する電子装置において電流モニタ方法が開始されると、プロセッサ３１は、温度センサ３３によって電源配線２４の配線部分２５の温度Ｔ１を検出して取得する（ステップＳ６１）。温度Ｔ１は、パイロット電流が流れない場合の温度である。次いで、上述したステップＳ１１〜ステップＳ１２と同様にして、プロセッサ３１は、パイロット電流を供給してパイロット電流が流れるようにして（ステップＳ６２）、配線部分２５の両端の電圧差を取得する（ステップＳ６３）。

次いで、プロセッサ３１は、温度センサ３３によって配線部分２５の温度Ｔ２を検出して取得する（ステップＳ６４）。温度Ｔ２は、パイロット電流が流れる場合の温度である。次いで、上述したステップＳ１３〜ステップＳ１４と同様にして、プロセッサ３１は、パイロット電流の供給を停止してパイロット電流が流れないようにして（ステップＳ６５）、配線部分２５の両端の電圧差を取得する（ステップＳ６６）。そして、上述したステップＳ１５と同様にして、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を算出する（ステップＳ６７）。

次いで、プロセッサ３１は、温度特性データ３５を参照し、ステップＳ６７で算出した配線抵抗値が、ステップＳ６１で取得した温度Ｔ１に対する抵抗値の許容範囲内に含まれるか否かを判断する（ステップＳ６８）。許容範囲内に含まれない場合（ステップＳ６８：Ｎｏ）、ステップＳ６１へ戻り、プロセッサ３１はステップＳ６１〜ステップＳ６８を繰り返す。ステップＳ６７で算出した配線抵抗値が許容範囲内に含まれないためにステップＳ６１〜ステップＳ６８を繰り返す回数が所定回数に達したら、プロセッサ３１は、例えば警報をあげて処理を停止してもよい。

一方、ステップＳ６７で算出した配線抵抗値が、該当する温度に対する抵抗値の許容範囲内に含まれる場合（ステップＳ６８：Ｙｅｓ）、プロセッサ３１は、ステップＳ６１で取得した温度Ｔ１とステップＳ６４で取得した温度Ｔ２とが一致するか否かを判断する（ステップＳ６９）。一致する場合（ステップＳ６９：Ｙｅｓ）、ステップＳ７０へ進む。一致しない場合（ステップＳ６９：Ｎｏ）、プロセッサ３１は、温度特性データ３５を参照し、ステップＳ６１で取得した温度Ｔ１に対応する配線抵抗値の補正量を温度特性データ３５から取得する。プロセッサ３１は、その配線抵抗値の補正量を用いて、ステップＳ６７で算出した配線抵抗値を補正する（ステップＳ７３）。そして、ステップＳ７０へ進む。

ステップＳ７０では、上述したステップＳ４８と同様にして、プロセッサ３１は、ステップＳ６１で取得した温度に対応する配線抵抗値の統計結果のデータが温度特性データ３５にあるか否かを判断する（ステップＳ７０）。温度特性データ３５に該当するデータがない場合には（ステップＳ７０：Ｎｏ）、上述したステップＳ４９と同様にして、温度特性データ３５の配線抵抗値の統計結果フィールドに、ステップＳ６７で算出した配線抵抗値もしくはステップＳ７３で補正した配線抵抗値を書き込む。そして、プロセッサ３１は、対応するデータ有無フィールドの値を有りに書き換える（ステップＳ７１）。

温度特性データ３５に該当するデータがある場合には（ステップＳ７０：Ｙｅｓ）、上述したステップＳ５１と同様にして、配線抵抗値の例えば平均値を算出し、平均値を用いて温度特性データ３５の配線抵抗値の統計結果フィールドの値を更新する（ステップＳ７４）。

ステップＳ７１またはステップＳ７４に続いて、プロセッサ３１は、ステップＳ７１で温度特性データ３５の配線抵抗値の統計結果フィールド書き込んだ値、もしくはステップＳ７４で配線抵抗値の統計結果フィールドを更新した値、及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ７２）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

一例として、例えばパイロット電流が流れない場合の電源配線２４の配線部分２５の温度が３０．０℃であり、配線部分２５の両端の電圧差が０．１Ｖであるとする。また、例えばパイロット電流が流れる場合の電源配線２４の配線部分２５の温度が３０．１℃であり、配線部分２５の両端の電圧差が０．１０１３０１Ｖであるとする。また、パイロット電流の電流値が１Ａであるとする。この場合、配線部分２５の配線抵抗値は、上記（５）式から、１．３０１ｍΩとなる。しかし、例えば図１７に示す温度特性データ３５によれば、パイロット電流が流れることによって配線部分２５の温度が３０．０℃から３０．１℃に０．１℃上昇する場合の配線抵抗値の増加量は０．００１ｍΩであるため、この配線抵抗値の増加量を補正すると、実際の配線部分２５の配線抵抗値は１．３００ｍΩとなる。

図１９は、温度特性データの第４の例を示す図である。図１９に示す例は、例えば０．１℃おきに電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を測定し、配線抵抗値の増加量を求めた結果のうち、例えば２５℃から２６℃までの温度範囲の結果を表したものである。

図１９に示すように、電源配線２４の配線部分２５の温度が上昇する場合の配線抵抗値の増加量を予め測定しておき、配線部分の温度上昇量と配線抵抗値の増加量との関係を、温度特性データ３５として電子装置に保持させておいてもよい。例えば、電子装置を立ち上げる際のセットアップ時に、電源配線２４の配線部分２５に電流が流れ始めるため、電源配線２４の配線部分２５の温度が上昇する。このセットアップ時の温度上昇時に一定温度間隔、例えば０．０℃から１００．０℃まで０．１℃おきに電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を測定することによって、図１９に示すような温度特性データを取得してもよい。例えば温度が０．１℃上昇するときの配線抵抗値の増加量がばらつく場合には、近似値を用いてもよい。

図１７もしくは図１９に示す温度特性データ３５を有する電子装置、及び図１８に示す電流モニタ方法によれば、電源配線２４の配線部分２５にパイロット電流が流れることによって配線部分２５の温度が上昇する場合、この温度の上昇によって配線部分２５の配線抵抗値が変化する分を補正することができる。従って、電子装置は、パイロット電流が流れることによる発熱の影響をなくすことができるため、主電流の電流値をより高精度に測定することができる。また、配線部分２５の温度上昇量として種々の値を設定し、温度上昇量の各設定値に対する配線部分２５の配線抵抗値の増加量を設定しておいてもよい。そうすれば、パイロット電流が流れることによる発熱の影響だけでなく、電子装置が置かれる環境の温度が変化したことによる配線抵抗値の変化分を補正することができる。また、図１９に示す温度特性データ３５を用いる場合には、電子装置の立ち上げ時に、配線部分２５の温度上昇量に対する配線抵抗値の補正量の関係が得られるため、予め電子装置の設計者が実験等によってこの関係を求めておく必要がない。従って、温度特性データ３５を容易に取得することができる。

・電子装置の第７の例
図２０は、実施の形態にかかる電子装置の第７の例を示す図である。図２０に示すように、電子装置の第７の例は、図５に示す電子装置の第２の例もしくは図１１に示す電子装置の第３の例において、スイッチ２７、パイロット抵抗２８もしくは定電流回路３２、差動アンプ２９、ＡＤＣ３０及びプロセッサ３１がないものである。

スイッチ２７、パイロット抵抗２８もしくは定電流回路３２、差動アンプ２９、ＡＤＣ３０及びプロセッサ３１によって実現される機能は、電子装置に対する外部機器４１〜４３によって実現される。例えば、電圧計４１、電子負荷４２及びコントローラ４３が外部機器として用いられてもよい。

プリント基板２１には、例えば４箇所の測定ポイントが設定されている。例えば、第１の測定ポイント３６は、電源配線２４においてＤＣ／ＤＣコンバータ２３と配線部分２５との間に設けられる。例えば、第２の測定ポイント３７は、電源配線２４において配線部分２５とＬＳＩ２６との間に設けられる。例えば、第３の測定ポイント３８は、電源配線２４において第２の測定ポイント３７とＬＳＩ２６との間に設けられる。例えば、第４の測定ポイント３９は、プリント基板２１のグラウンド配線またはＬＳＩ２６のグラウンド端子に設けられる。

電圧計４１は、差動アンプ２９及びＡＤＣ３０の機能を実現する。電圧計４１において、＋端子は第１の測定ポイント３６に接続され、−端子は第２の測定ポイント３７に接続され、ＧＮＤ端子は第４の測定ポイント３９に接続される。電圧計４１の一例として、例えばＡＤＶＡＮＴＥＳＴ社のＤＩＧＩＴＡＬ ＭＵＬＴＩＭＥＴＥＲ Ｒ６４５１Ａが挙げられる。

電子負荷４２は、スイッチ２７、及びパイロット抵抗２８もしくは定電流回路３２の機能を実現する。電子負荷４２において、＋端子は第３の測定ポイント３８に接続され、ＧＮＤ端子は第４の測定ポイント３９に接続される。電子負荷４２の一例として、例えばＦＵＪＩＴＳＵ ＤＥＮＳＯ社のＥＬＥＣＴＲＯＮＩＣ ＬＯＡＤ ＥＵＬ−３００αＢが挙げられる。

コントローラ４３は、プロセッサ３１の機能を実現する。コントローラ４３は、電圧計４１及び電子負荷４２に接続される。コントローラ４３は、電圧計４１及び電子負荷４２を制御して、後述する電流モニタ方法の第６または第７の例を実施し、データを収集する。そして、コントローラ４３は、収集したデータを処理してＬＳＩ２６に流れ込む主電流の電流値を算出する。例えば市販のパーソナルコンピュータをコントローラ４３に用いることができる。

・電流モニタ方法の第６の例
図２１は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第６の例を示す図である。図２１に示す電流モニタ方法は、例えば図２０に示す電子装置を含む電流測定システムにおいて実施される。

図２１に示すように、例えば図２０に示す電子装置を含む電流測定システムにおいて電流モニタ方法が開始されると、コントローラ４３は、電子負荷４２をオフ状態に制御する。そして、コントローラ４３は、電圧計４１を読み取り、電源配線２４の配線部分２５に主電流が流れることによって配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得する（ステップＳ８１）。

次いで、コントローラ４３は、電子負荷４２の電流値を例えば１Ａに設定して電子負荷４２をオン状態に制御する（ステップＳ８２）。それによって、電源配線２４の配線部分２５に主電流と例えば１Ａのパイロット電流とが流れる。そして、コントローラ４３は、電圧計４１を読み取り、電源配線２４の配線部分２５に主電流とパイロット電流とが流れることによって配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得する（ステップＳ８３）。

次いで、コントローラ４３は、上述した（５）式から、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を算出する（ステップＳ８４）。次いで、コントローラ４３は、ステップＳ８４で算出した配線抵抗値及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ８５）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。なお、電子負荷４２をオンにして配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得した後、電子負荷４２をオフにして配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得してもよい。

・電流モニタ方法の第７の例
図２２は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第７の例を示す図である。図２２に示す電流モニタ方法は、例えば図２０に示す電子装置を含む電流測定システムにおいて実施される。

図２２に示すように、例えば図２０に示す電子装置を含む電流測定システムにおいて電流モニタ方法が開始されると、コントローラ４３は、電子負荷４２をオフ状態に制御する。そして、コントローラ４３は、電圧計４１を読み取り、電源配線２４の配線部分２５に主電流が流れることによって配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得する（ステップＳ９１）。

次いで、コントローラ４３は、電子負荷４２の電流値を例えば０Ａに設定して電子負荷４２をオン状態に制御する（ステップＳ９２）。次いで、コントローラ４３は、電子負荷４２の電流値を、現在の設定値に対して例えば０．０１Ａを増やした値に設定する（ステップＳ９３）。それによって、主電流と、ステップＳ９３で設定した電流値のパイロット電流とが、電源配線２４の配線部分２５に流れる。現在の電子負荷４２の電流値に対して増やす値は、０．０１Ａに限らず、例えば０．０２Ａであってもよいし、０．１Ａであってもよい。

そして、コントローラ４３は、電圧計４１を読み取り、電源配線２４の配線部分２５に主電流とパイロット電流とが流れることによって配線部分２５の両端に生じる電圧差を取得する（ステップＳ９４）。次いで、コントローラ４３は、ステップＳ９４で取得した電圧差の値からステップＳ９１で取得した電圧差の値を減算することによって電圧差の差分を算出し、算出した差分が設定値以上であるか否かを判断する（ステップＳ９５）。判断の基準となる設定値は、特に限定しないが、例えば０．１Ｖであってもよい。

電圧差の差分が設定値以上でない場合（ステップＳ９５：Ｎｏ）、ステップＳ９３へ戻り、コントローラ４３はステップＳ９３〜ステップＳ９５を繰り返す。電圧差の差分が設定値以上である場合（ステップＳ９５：Ｙｅｓ）、コントローラ４３は、上述した（５）式から、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値を算出する（ステップＳ９６）。次いで、コントローラ４３は、ステップＳ９６で算出した配線抵抗値及び上述した（６）式から、主電流の電流値を算出する（ステップＳ９７）。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

図２０に示す電子装置を含む電流測定システム、及び図２１もしくは図２２に示す電流モニタ方法によれば、電子装置がスイッチ２７、パイロット抵抗２８もしくは定電流回路３２、差動アンプ２９、ＡＤＣ３０及びプロセッサ３１を有していなくても、主電流の電流値を測定することができる。また、図２２に示す電流モニタ方法によれば、パイロット電流の電流値が自動的に設定されるため、予め電子装置の電源配線に応じた各部の電流設定を確認する必要がない。従って、電子装置の回路仕様が明らかでない場合であっても、主電流の電流値を測定することができる。

・電子装置の第８の例
図２３は、実施の形態にかかる電子装置の第８の例を示す図である。図８に示すように、電子装置の第８の例は、図５に示す電子装置の第２の例において、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３に電源配線２４を介して複数のＬＳＩ２６が接続されているものである。この場合、ＬＳＩ２６ごとに、スイッチ２７、パイロット抵抗２８、差動アンプ２９、ＡＤＣ３０及びプロセッサ３１が設けられる。

各ＬＳＩ２６へ伸びる電源配線２４は、できるだけＤＣ／ＤＣコンバータ２３の近くから分岐するのが好ましい。そうすれば、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３と各ＬＳＩ２６との間の電源配線２４のほぼ全体が配線部分２５になるため、各ＬＳＩ２６に対する配線部分２５の配線抵抗値が主電流を測定するのに十分な大きさとなる。

その他の構成は、図５に示す電子装置の第２の例と同様であるため、重複する説明を省略する。なお、図１１に示す電子装置の第３の例のように、パイロット抵抗２８の代わりに定電流回路３２を用いてもよい。また、図１２に示す電子装置の第４の例、電子装置の第５の例または電子装置の第６の例のように、温度センサ３３を有し、メモリ３４に温度特性データ３５を格納してもよい。

図２３に示す電子装置によれば、電子装置が複数のＬＳＩ２６を有する場合でも、電子装置は、ＬＳＩ２６ごとに主電流の電流値を測定することができる。

・電子装置の第９の例
図２４は、実施の形態にかかる電子装置の第９の例を示す図である。図２４に示すように、電子装置の第９の例は、図１２に示す電子装置の第４の例において、主電流の電流値に基づいて、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３のシャットダウンを制御する。また、電子装置の第９の例は、定電流回路３２の代わりにパイロット抵抗２８を有する。

プロセッサ３１は、算出した主電流の電流値が、予め設定されている閾値を超える場合に、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３をシャットダウンさせる制御信号をＤＣ／ＤＣコンバータ２３へ出力する。ＤＣ／ＤＣコンバータ２３は、プロセッサ３１からシャットダウンの制御信号を受け取るとオフ状態に切り替わる。メモリ３４は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３をシャットダウンさせるか否かの判断の基準となる閾値を格納していてもよい。

その他の構成は、図１２に示す電子装置の第４の例と同様であるため、重複する説明を省略する。なお、パイロット抵抗２８の代わりに定電流回路３２を用いてもよい。

・電流モニタ方法の第８の例
図２５は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第８の例を示す図である。図２５に示す電流モニタ方法は、例えば図２４に示す電子装置において実施される。

図２５に示すように、例えば図２４に示す電子装置において電流モニタ方法が開始されると、上述したステップＳ２１〜ステップＳ３１と同様にして、プロセッサ３１は、主電流の電流値を算出する（ステップＳ１０１〜ステップＳ１１１）。次いで、プロセッサ３１は、例えばメモリ３４から主電流の電流値の閾値を読み出し、ステップＳ１０９で算出した主電流の電流値が、例えばメモリ３４から読み出した閾値を超えるか否かを判断する（ステップＳ１１２）。

主電流の電流値が閾値を超えない場合（ステップＳ１１２：Ｎｏ）、ステップＳ１０１へ戻り、プロセッサ３１はステップＳ１０１〜ステップＳ１１２を繰り返す。一方、主電流の電流値が閾値を超える場合（ステップＳ１１２：Ｙｅｓ）、プロセッサ３１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３をシャットダウンさせる制御信号をＤＣ／ＤＣコンバータ２３へ出力する（ステップＳ１１３）。それによって、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３がオフ状態に切り替わる。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

図２４に示す電子装置及び図２５に示す電流モニタ方法によれば、主電流の電流値が閾値を超えるとＤＣ／ＤＣコンバータ２３がオフ状態に切り替わるため、ＬＳＩ２６に過剰な電流が流れ込むのを防ぐことができる。従って、過剰な電流の流れ込みによってＬＳＩ２６が故障するのを防ぐことができる。

・電子装置の第１０の例
電子装置の第１０の例は、図２４に示す電子装置の第９の例において、主電流の電流値に基づいてＤＣ／ＤＣコンバータ２３をシャットダウン制御する代わりに、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値に基づいて、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧を制御する。電子装置の第１０の例は、図８及び図９に示すようなＳＥＮＣＥ電圧によるフィードバック制御のない電子装置に適用することができる。

プロセッサ３１は、電源配線２４の配線部分２５の配線抵抗値、主電流の電流値及びＬＳＩ２６の入力電圧値に基づいて、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値を算出する。例えば、プロセッサ３１は、上記（１）式を変形して得られる次の（７）式を計算することによってＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値を算出することができる。

Ｖｄｏｎ＝Ｖｌｉｎ＋Ｉｌｓｉ×Ｒｐｔｎ ・・・（７）

上述したように、Ｉｌｓｉは、主電流の電流値であり、プロセッサ３１によって算出される。Ｒｐｔｎは、配線部分２５の配線抵抗値であり、プロセッサ３１によって算出される。Ｖｌｉｎは、パイロット電流が流れないときのＬＳＩ２６の入力電圧値であり、既知である。また、Ｖｄｏｎは、パイロット電流が流れないときのＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値であり、Ｒｐｔｎ及びＩｌｓｉを算出する際には既知としているが、例えばＳＥＮＣＥ電圧によるフィードバック制御がない場合には、時間の経年とともに変化することがある。

プロセッサ３１は、算出したＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が、予め設定されている閾値に満たない場合に、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が閾値以上になるようにＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧を増大させる制御信号をＤＣ／ＤＣコンバータ２３へ出力する。ＤＣ／ＤＣコンバータ２３は、プロセッサ３１から出力増大の制御信号を受け取ると出力電圧を増大させる。メモリ３４は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧を増大させるか否かの判断の基準となる閾値を格納していてもよい。

その他の構成は、図１２に示す電子装置の第４の例と同様であるため、重複する説明を省略する。なお、パイロット抵抗２８の代わりに定電流回路３２を用いてもよい。

・電流モニタ方法の第９の例
図２６は、実施の形態にかかる電流モニタ方法の第９の例を示す図である。図２６に示す電流モニタ方法は、例えば図２４に示す電子装置において実施される。

図２６に示すように、例えば図２４に示す電子装置において電流モニタ方法が開始されると、上述したステップＳ２１〜ステップＳ３１と同様にして、プロセッサ３１は、主電流の電流値を算出する（ステップＳ１２１〜ステップＳ１３１）。次いで、プロセッサ３１は、上記（７）式を計算して、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値を算出する。そして、プロセッサ３１は、例えばメモリ３４からＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値の閾値を読み出し、算出したＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が、例えばメモリ３４から読み出した閾値よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１３２）。

ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が閾値よりも小さくない場合（ステップＳ１３２：Ｎｏ）、ステップＳ１２１へ戻り、プロセッサ３１はステップＳ１２１〜ステップＳ１３２を繰り返す。一方、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が閾値よりも小さい場合（ステップＳ１３２：Ｙｅｓ）、プロセッサ３１は、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が閾値以上になるようにＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧を増大させる制御信号をＤＣ／ＤＣコンバータ２３へ出力する（ステップＳ１３３）。それによって、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧が増大し、閾値以上の出力電圧値となる。そして、一連の電流モニタ方法の処理を終了する。

図２４に示す電子装置及び図２６に示す電流モニタ方法によれば、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧値が閾値以上に保たれるため、ＳＥＮＣＥ電圧によるフィードバック制御のない電子装置において、ＤＣ／ＤＣコンバータ２３の出力電圧が低下するのを防ぐことができる。従って、ＬＳＩ２６の入力電圧の低下によってＬＳＩ２６が誤動作するのを防ぐことができる。

上述した各実施例を含む実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

（付記１）主電流を供給する電源回路と、前記電源回路から供給される主電流によって駆動されるレシーバ回路と、前記電源回路と前記レシーバ回路とを接続する電源配線に流れる電流によって前記電源配線の少なくとも一部の配線部分の両端に生じる電圧差を検出する検出回路と、前記電源配線に、前記主電流よりも小さい電流値のパイロット電流を供給する電流供給回路と、前記電流供給回路に対して前記パイロット電流の供給及び供給停止を制御し、前記パイロット電流の供給停止時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、前記パイロット電流の供給時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、及び前記パイロット電流の電流値に基づいて、前記配線部分の配線抵抗値を算出し、前記パイロット電流の供給停止時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、及び前記配線抵抗値に基づいて、前記主電流の電流値を算出する制御回路と、を備えることを特徴とする電子装置。

（付記２）前記電流供給回路は、一端が前記配線部分と前記レシーバ回路との間の電源配線に接続され、かつ他端がグラウンドに接続され、かつ抵抗値が前記配線抵抗値よりも大きい既知である抵抗を有し、前記制御回路は、前記パイロット電流の供給時における前記レシーバ回路の入力電圧値、及び前記電流供給回路の前記抵抗の抵抗値に基づいて、前記パイロット電流の電流値を算出することを特徴とする付記１に記載の電子装置。

（付記３）前記電流供給回路は、前記配線部分と前記レシーバ回路との間の電源配線に接続され、かつ一定の電流値の前記パイロット電流を流す定電流回路を有することを特徴とする付記１に記載の電子装置。

（付記４）前記配線部分の温度を検出する温度センサと、前記配線抵抗値の温度特性データを格納するメモリと、を備え、前記制御回路は、前記温度センサによって検出される前記温度に対応する前記配線抵抗値のデータが前記メモリに格納されている場合には、前記メモリから前記配線抵抗値を読み出して前記主電流の電流値を算出することを特徴とする付記１乃至３のいずれか一つに記載の電子装置。

（付記５）前記配線抵抗値の温度特性データは、温度ごとに前記配線抵抗値の許容範囲のデータを含み、前記制御回路は、算出した前記配線抵抗値を、前記温度センサによって検出される前記温度に対応する前記配線抵抗値の許容範囲のデータと比較し、算出した前記配線抵抗値が前記許容範囲から外れる場合には、再度、前記パイロット電流の供給停止時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、前記パイロット電流の供給時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、及び前記パイロット電流の電流値に基づいて、前記配線部分の配線抵抗値を算出することを特徴とする付記４に記載の電子装置。

（付記６）前記配線抵抗値の温度特性データは、前記パイロット電流の供給時における前記配線部分の温度上昇量及び配線抵抗値変化量のデータを含み、前記制御回路は、前記パイロット電流の供給停止時に前記温度センサによって検出される前記温度と、前記パイロット電流の供給時に前記温度センサによって検出される前記温度との差分を求め、前記メモリから前記差分に対応する前記配線抵抗値変化量を読み出し、前記配線抵抗値変化量に基づいて前記パイロット電流の供給時における前記配線抵抗値を補正することを特徴とする付記４または５に記載の電子装置。

（付記７）複数の前記レシーバ回路がそれぞれの前記電源配線によって前記電源回路に接続されている場合、前記レシーバ回路ごとに前記電流供給回路を有し、前記電流供給回路は、それぞれの前記電源配線の前記配線部分とそれぞれの前記レシーバ回路との間の電源配線に接続されていることを特徴とする付記１乃至６のいずれか一つに記載の電子装置。

（付記８）前記制御回路は、前記主電流の電流値が閾値を超える場合に、前記電源回路に対して主電流の供給を停止させる制御を行うことを特徴とする付記１乃至７のいずれか一つに記載の電子装置。

（付記９）前記制御回路は、前記配線部分の配線抵抗値、前記主電流の電流値及び前記レシーバ回路の入力電圧値に基づいて、前記電源回路の出力電圧値を算出し、前記出力電圧値が閾値に満たない場合に、前記電源回路に対して前記出力電圧値が前記閾値以上になるように出力電圧を増大させる制御を行うことを特徴とする付記１乃至８のいずれか一つに記載の電子装置。

（付記１０）主電流を供給する電源回路と、前記電源回路から供給される主電流によって駆動されるレシーバ回路と、を接続する電源配線の少なくとも一部の配線部分に、前記電源回路から前記レシーバ回路に流れ込む主電流を流して、前記配線部分の両端に生じる第１の電圧差を検出し、前記配線部分に前記主電流と、前記主電流よりも小さい電流値のパイロット電流とを流して、前記配線部分の両端に生じる第２の電圧差を検出し、前記第１の電圧差の値、前記第２の電圧差の値、及び前記パイロット電流の電流値に基づいて、前記配線部分の配線抵抗値を算出し、前記第１の電圧差の値及び前記配線抵抗値に基づいて前記主電流の電流値を算出することを特徴とする電流モニタ方法。

（付記１１）前記配線部分の温度を検出し、検出した前記温度に対応する前記配線抵抗値のデータがメモリに格納されている場合には、前記メモリから前記配線抵抗値を読み出して前記主電流の電流値を算出することを特徴とする付記１０に記載の電流モニタ方法。

Ｉｌｓｉ 主電流
Ｉｐｌｔ パイロット電流
１ 電源回路
２，２５ 配線部分
３ レシーバ回路
４ 電流供給回路
５ 検出回路
６ 制御回路
７，２４ 電源配線
２３ ＤＣ／ＤＣコンバータ
２６ ＬＳＩ
２７ スイッチ
２８ パイロット抵抗
２９ 差動アンプ
３０ ＡＤＣ
３１ プロセッサ
３２ 定電流回路
３３ 温度センサ
３４ メモリ
３５ 温度特性データ

Claims (5)

1. 主電流を供給する電源回路と、
   前記電源回路から供給される主電流によって駆動されるレシーバ回路と、
   前記電源回路と前記レシーバ回路とを接続する電源配線に流れる電流によって前記電源配線の少なくとも一部の配線部分の両端に生じる電圧差を検出する検出回路と、
   前記電源配線に、前記主電流よりも小さい電流値のパイロット電流を供給する電流供給回路と、
   前記電流供給回路に対して前記パイロット電流の供給及び供給停止を制御し、前記パイロット電流の供給停止時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、前記パイロット電流の供給時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、及び前記パイロット電流の電流値に基づいて、前記配線部分の配線抵抗値を算出し、前記パイロット電流の供給停止時に前記検出回路によって検出される前記電圧差の値、及び前記配線抵抗値に基づいて、前記主電流の電流値を算出する制御回路と、
   を備えることを特徴とする電子装置。
2. 前記電流供給回路は、一端が前記配線部分と前記レシーバ回路との間の電源配線に接続され、かつ他端がグラウンドに接続され、かつ抵抗値が前記配線抵抗値よりも大きい既知である抵抗を有し、
   前記制御回路は、前記パイロット電流の供給時における前記レシーバ回路の入力電圧値、及び前記電流供給回路の前記抵抗の抵抗値に基づいて、前記パイロット電流の電流値を算出することを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
3. 前記電流供給回路は、前記配線部分と前記レシーバ回路との間の電源配線に接続され、かつ一定の電流値の前記パイロット電流を流す定電流回路を有することを特徴とする請求項１に記載の電子装置。
4. 前記配線部分の温度を検出する温度センサと、
   前記配線抵抗値の温度特性データを格納するメモリと、
   を備え、
   前記制御回路は、前記温度センサによって検出される前記温度に対応する前記配線抵抗値のデータが前記メモリに格納されている場合には、前記メモリから前記配線抵抗値を読み出して前記主電流の電流値を算出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の電子装置。
5. 主電流を供給する電源回路と、前記電源回路から供給される主電流によって駆動されるレシーバ回路と、を接続する電源配線の少なくとも一部の配線部分に、前記電源回路から前記レシーバ回路に流れ込む主電流を流して、前記配線部分の両端に生じる第１の電圧差を検出し、
   前記配線部分に前記主電流と、前記主電流よりも小さい電流値のパイロット電流とを流して、前記配線部分の両端に生じる第２の電圧差を検出し、
   前記第１の電圧差の値、前記第２の電圧差の値、及び前記パイロット電流の電流値に基づいて、前記配線部分の配線抵抗値を算出し、
   前記第１の電圧差の値及び前記配線抵抗値に基づいて前記主電流の電流値を算出することを特徴とする電流モニタ方法。

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