JP6928228B2 - 電池監視回路 - Google Patents

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Description

本発明は、電池監視回路に関する。
従来、基板に形成された配線パターンの特定区間に発生する電圧降下を検出することによって、配線パターンに流れる電流の電流値を検出する技術が知られている(例えば、特許文献1を参照)。
特開平7−98339号公報
しかしながら、基板に形成された配線パターンの抵抗値は、基板の個体差によってばらつくため、従来の技術では、配線パターンに流れる電流の電流値を正確に測定することが難しい。電流値の測定精度が低いと、電流値を積算することによって二次電池の残容量の算出精度が低下する。
そこで、本開示の一態様は、配線パターンに流れる電流の電流値の測定精度を向上させて二次電池の残容量の算出精度を向上させた電池監視回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本開示の一態様では、
基板に形成された配線パターンを介して負荷に電流を供給する二次電池で駆動する携帯機器に使用され、前記二次電池の残容量を算出する又は前記二次電池の状態を監視する電池監視回路であって、
前記配線パターンの特定区間に発生する電圧降下量をモニタし、前記電圧降下量に対応するアナログ値を、前記配線パターンに流れる電流の電流値として出力する電流測定回路と、
前記電流測定回路から出力された前記アナログ値を、デジタルの電流測定値に変換するADコンバータと、
前記基板の個体差による前記配線パターンの抵抗値ばらつきを補償するための、複数の種類の個体差補正用データを含む第1の補正データを格納する第1の格納部と、
前記第1の格納部から読み出した前記第1の補正データを使用する演算処理により前記電流測定値を補正した補正電流値を算出し、前記補正電流値を積算することによって前記残容量を算出する演算部とを備え
前記第1の補正データは、前記電流測定値に対する前記補正電流値の傾きを表す係数αと、前記電流測定値に対する前記補正電流値の切片を表す係数βとを含み、
前記電流測定値をIとするとき、
前記演算部は、「α×I+β」に従って、前記補正電流値を算出する、電池監視回路が提供される。
本開示の一態様によれば、配線パターンに流れる電流の電流値の測定精度を向上させて二次電池の残容量の算出精度を向上させることができる。
第1の実施形態に係る電池監視回路の構成の一例を示す図である。 第1の補正データの算出処理と第1の格納部への格納処理との流れの一例を示すフローチャートである。 印加電流と電流測定値との関係の一例を示す図である。 配線パターンの温度と抵抗値との関係の一例を示す図である。 温度測定値と、基板の個体差による抵抗値ばらつきが補償された後の補正電流値の誤差率との関係の一例を示す図である。 補正電流値の算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。 第2の実施形態に係る電池監視回路の構成の一例を示す図である。 電池監視回路が実装された基板を搭載する携帯機器の構成の一例を示す図である。
以下、本発明の実施形態を図面に従って説明する。
図1は、第1の実施形態に係る電池監視回路の構成の一例を示す図である。図1に示される電池残量計IC(Integrated Circuit)40Aは、電池監視回路の一例である。電池残量計IC40Aは、二次電池10の残量(残容量)などを計測し、その計測結果を外部回路50に提供する。電池残量計IC40Aは、二次電池10で駆動する携帯機器に使用される半導体集積回路の一例である。二次電池10は、基板20に形成された配線パターンを介して外部回路50のような負荷に電流を供給する。
電池残量計IC40Aは、基板20に実装される。基板20は、例えば、プリント基板である。その具体例として、ガラスエポキシ基板が挙げられる。図示の形態では、外部回路50は基板20に実装されていないが、電池残量計IC40Aが実装される基板20は、外部回路50が実装される共通の基板でもよい。
基板20は、電池プラス側端子21と、負荷プラス側端子22と、電池マイナス側端子23と、負荷マイナス側端子24と、外部出力端子25とを備える。また、基板20には、プラス側配線パターン26と、マイナス側配線パターン27とが形成されている。プラス側配線パターン26は、電池プラス側端子21と負荷プラス側端子22との間を接続する電流経路である。マイナス側配線パターン27は、電池マイナス側端子23と負荷マイナス側端子24との間を接続する電流経路である。特定区間28は、マイナス側配線パターン27の一部分の配線パターンを表す。
電池プラス側端子21には、二次電池10の正極11が接続されており、電池マイナス側端子23には、二次電池10の負極12が接続されている。二次電池10の具体例として、リチウムイオン電池、リチウムポリマ電池などが挙げられる。
電池残量計IC40Aは、電源端子VDDと、電圧測定端子VBATと、グランド端子VSSと、第1の電流検出端子VRSMと、第2の電流検出端子VRSPと、出力端子OUTとを備える。これらの6つの端子は、電池残量計IC40Aの内部回路と電池残量計IC40Aの外部とを接続するための外部接続端子である。出力端子OUTは、入力端子と出力端子とを兼用する入出力端子でもよい。
電源端子VDDと電圧測定端子VBATは、プラス側配線パターン26に接続されている。グランド端子VSSと第1の電流検出端子VRSMとは、電池マイナス側端子23と特定区間28の一端との間でマイナス側配線パターン27に接続されている。第2の電流検出端子VRSPは、負荷マイナス側端子24と特定区間28の他端との間でマイナス側配線パターン27に接続されている。出力端子OUTは、外部出力端子25に接続されている。
電池残量計IC40Aは、電圧測定回路41と、電流測定回路42と、温度測定回路43と、AD(Analog-to-Digital)コンバータ44と、不揮発性メモリ45と、CPU(Central Processing Unit)46と、ROM(Read Only Memory)48と、RAM(Random Access Memory)49と、インターフェイス回路47とを内部回路として備える。これらの内部回路は、二次電池10の電池電圧に基づいて電源端子VDDとグランド端子VSSとの間に印加される電源電圧によって動作する。
電圧測定回路41は、電圧測定端子VBATとグランド端子VSSとの間の電圧をモニタすることによって、二次電池10の電池電圧の電圧値を定期的に測定する。電圧測定回路41は、二次電池10の電池電圧の電圧値の測定値であるアナログの電圧測定値Vbを出力する。電圧測定回路41は、例えば、電圧測定端子VBATとグランド端子VSSとの間の電圧を分圧する抵抗素子を有し、その分圧値に対応する電圧測定値Vbを出力する。
電流測定回路42は、マイナス側配線パターン27の特定区間28に発生する電圧降下量を第1の電流検出端子VRSM及び第2の電流検出端子VRSPを介してモニタすることによって、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値を定期的に測定する。電流測定回路42は、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値の測定値であるアナログの電流測定値Ibを出力する。電流測定回路42は、例えば、第1の電流検出端子VRSMと第2の電流検出端子VRSPとの間の電圧を増幅する増幅器を有し、その増幅器の出力値に対応する電流測定値Ibを出力する。
このように、電圧降下量の検出手段として、マイナス側配線パターン27の一部分である特定区間28が用いられている。特定区間28は、マイナス側配線パターン27に使用される金属材料の抵抗率、導体パターンの長さ、幅、厚さ等によって決まる抵抗値を有する。
温度測定回路43は、マイナス側配線パターン(より好ましくは、特定区間28)の周囲温度を定期的に測定し、その周囲温度の測定値であるアナログの温度測定値Tbを出力する。温度測定回路43は、例えば、周囲温度に応じて抵抗値が変化するサーミスタを有し、そのサーミスタの出力値に応じて変化する温度測定値Tbを出力する。
ADコンバータ44は、アナログの電圧測定値Vbをデジタルの電圧測定値Vsに変換する。ADコンバータ44は、アナログの電流測定値Ibをデジタルの電流測定値Isに変換する。ADコンバータ44は、アナログの温度測定値Tbをデジタルの温度測定値Tsに変換する。
不揮発性メモリ45は、基板20に形成された配線パターン(より具体的には、特定区間28)の抵抗値ばらつきを補償するための補正データを格納する記憶部の一例である。特定区間28の抵抗値がばらつくと、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値が変わらなくても、特定区間28に発生する電圧降下量がばらついてしまう。特定区間28に発生する電圧降下量がばらついてしまうと、アナログの電流測定値Ibもデジタルの電流測定値Isもばらついてしまうので、CPU46が電流測定値Isを使用して演算した結果に誤差が発生する。
このような誤差の発生を防ぐため、抵抗値ばらつきを補償するための補正データが、電池残量計IC40Aが基板20に実装された後、検査装置70によって不揮発性メモリ45に予め書き込まれる。
不揮発性メモリ45は、不揮発性の第1の格納部45aと、不揮発性の第2の格納部45bとを有する。第1の格納部45aは、基板20の個体差による配線パターン(より具体的には、特定区間28)の抵抗値ばらつきを補償するための第1の補正データを格納する。第1の補正データには、一又は複数の種類のデータ(個体差補正用データ)が含まれる。第2の格納部45bは、基板20の配線パターン(より具体的には、特定区間28)の温度特性による抵抗値ばらつきを補償するための第2の補正データを格納する。第2の補正データには、一又は複数の種類のデータ(温度補正用データ)が含まれる。
CPU46は、電圧測定値Vs、電流測定値Is及び温度測定値TsをADコンバータ44から取得する。また、CPU46は、第1の補正データを第1の格納部45aから読み出し、第2の補正データを第2の格納部45bから読み出す。
CPU46は、電流測定値Isを補正する演算部の一例である。CPU46が実行する補正等の演算処理は、ROM48に記憶されたプログラムによって実現される。CPU46は、電流測定値Isを補正した補正電流値(つまり、電流測定値Isの補正後の電流値)を算出する。
CPU46は、例えば、算出した補正電流値を積算することによって、マイナス側配線パターン27に電池マイナス側端子23を介して接続される二次電池10の残容量を算出する。CPU46は、例えば、二次電池10の充放電停止状態での電圧測定値Vsを使用して、二次電池10の残容量の算出値を補正してもよい。
CPU46は、算出した補正電流値と、算出した補正電流値を所定の演算(例えば、残容量算出など)に使用して算出した値との少なくとも一方(演算結果)を、インターフェイス回路47に出力する。
インターフェイス回路47は、CPU46から出力された演算結果を所定の出力形式に変換して出力端子OUTから出力する。これにより、CPU46から出力された補正結果は、外部回路50に提供される。
インターフェイス回路47は、例えば、通信インターフェイス回路である。その具体例として、IC(Inter-Integrated Circuit)によるシリアル通信インターフェイス回路が挙げられる。ICの場合、データ入出力端子として使用される出力端子OUTの他に、クロック入力端子が電池残量計IC40Aに備えられる。
次に、基板20の個体差による配線パターンの抵抗値ばらつきを補償するための第1の補正データを算出する処理と、第1の補正データを第1の格納部45aへ格納する処理とについて説明する。
図2は、第1の補正データの算出処理と第1の格納部45aへの格納処理との流れの一例を示すフローチャートである。図2に示される各処理は、一定温度(例えば、25℃)の環境下で、電池残量計IC40Aが基板20に実装された後、電池残量計IC40Aが実装された基板20(又は、電池残量計IC40Aが実装された基板20を搭載する携帯機器)が出荷される前に実施される。つまり、図2に示される各処理は、製品出荷前の検査工程において一又は複数の検査装置70によって実施される。
ステップS10にて、検査装置70は、電流値が既知の印加電流I1が特定区間28を含むマイナス側配線パターン27に流れるように、負荷マイナス側端子24と電池マイナス側端子23との間に印加電流I1を印加する。
ステップS20にて、検査装置70は、印加電流I1が印加されている状態でCPU46がADコンバータ44から取得した電流測定値I1sを、インターフェイス回路47及び出力端子OUTから取得する。
ステップS30にて、検査装置70は、電流値が既知の印加電流I2が特定区間28を含むマイナス側配線パターン27に流れるように、負荷マイナス側端子24と電池マイナス側端子23との間に印加電流I2を印加する。印加電流I2は、電流値が印加電流I1と異なる(例えば、大きい)。
ステップS40にて、検査装置70は、印加電流I2が印加されている状態でCPU46がADコンバータ44から取得した電流測定値I2sを、インターフェイス回路47及び出力端子OUTから取得する。
図3は、印加電流と電流測定値との関係の一例を示す図である。つまり、検査装置70は、ステップS10,S20では、印加電流I1の電流値に対する電流測定値I1sのずれを検知し、ステップS30,S40では、印加電流I2の電流値に対する電流測定値I2sのずれを検出している。
ステップS50にて、検査装置70は、ステップS10,30で印加した印加電流I1,I2の電流値及びステップS20,S40で取得した電流測定値I1s,I2sを式1,2に代入することによって、ゲインα及びオフセットβを算出する。ゲインα及びオフセットβは、それぞれ、後述の図6に示される式3の一次式の係数を表す。
ステップS60にて、検査装置70は、ステップS50にて算出したゲインα及びオフセットβを出力端子OUT又は不図示の書き込み端子から第1の格納部45aに格納する。
したがって、製品出荷後の製品状態において、CPU46は、第1の格納部45aから読み出したゲインα及びオフセットβと、電流測定値Isとを、図6に示される式3に代入する。これにより、電流測定値Isの補正後の電流値である第1の補正電流値Iaを算出できる。
このように、基板20の個体差による配線パターンの抵抗値ばらつきによって電流測定値Isに誤差が生じても、CPU46は、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値を第1の補正電流値Iaとして正確に算出できる。よって、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値の測定精度が向上する。
次に、配線パターンの温度特性による抵抗値ばらつきを補償するための第2の補正データを算出する処理と、第2の補正データを第2の格納部45bへ格納する処理とについて説明する。
配線パターンの一部である特定区間28の抵抗値の温度特性は、当該配線パターンの素材の影響を受ける。
図4は、配線パターンの温度と抵抗値との関係の一例を示す図である。図4は、25℃で抵抗値が1mΩとなるように作成された、銅を素材とする配線パターンの一例を示す。図4に示されるように、配線パターンの抵抗値は、温度に対して略線形の特性を有する。
図5は、温度測定値Tsと、基板の個体差による抵抗値ばらつきが補償された後の第1の補正電流値Iaの誤差率(電流誤差率Err)との関係の一例を示す図である。電流誤差率Errは、第1の補正電流値Iaの所定の基準電流値Irに対する誤差率を表す(Err=(Ia−Ir)/Ir×100%)。基準電流値Irは、温度測定値Tsが基準温度(図5の場合、25℃)での電流値を表す。図5に示されるように、電流誤差率Errは、温度測定値Tsに対して略線形の特性を有する。
このように、電流誤差率Errは、温度測定値Tsに対して略線形の特性を有するので、図6に示される式4,5の近似式を立てることができる。つまり、検査装置70は、配線パターンの温度特性による抵抗値ばらつきを補償するための第2の補正データとして、式4の係数a,bを第2の格納部45bに格納する。図5の場合、近似式「y=0.3589x−8.9249」が立てることができる(yは、電流誤差率Errを表し、xは、温度測定値Tsを表す)。0.3589は、係数aの一例であり、−8.9249は、係数bの一例である。
図6は、補正電流値の算出処理の流れの一例を示すフローチャートである。図6に示される各処理は、製品出荷後の製品状態において、CPU46によって実施される。
ステップS70にて、CPU46は、電流測定値IsをADコンバータ44から取得する。ステップS80にて、CPU46は、温度測定値TsをADコンバータ44から取得する。
ステップS90にて、CPU46は、第1の格納部45aから読み出したゲインα及びオフセットβと、電流測定値Isとを、式3に代入することによって、電流測定値Isの補正後の電流値である第1の補正電流値Iaを算出する。そして、CPU46は、第2の格納部45bから読み出した係数a及び係数bと、温度測定値Tsとを、式4に代入することによって、電流誤差率Errを算出する。そして、CPU46は、第1の補正電流値Iaと電流誤差率Errとを式5に代入することによって、第1の補正電流値Iaの補正後の電流値である第2の補正電流値Icを算出する。
つまり、基板20の配線パターンの温度特性による抵抗値ばらつきによって電流測定値Isに誤差が生じても、CPU46は、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値を第2の補正電流値Icとして正確に算出できる。よって、マイナス側配線パターン27に流れる電流の電流値の測定精度が向上する。
したがって、CPU46は、例えば、第2の補正電流値Icを積算することにより、二次電池10の残容量を算出することによって、残容量の算出精度を向上させることができる。なお、CPU46は、第1の補正電流値Iaを積算することにより、二次電池10の残容量を算出することによって、残容量の算出精度を向上させることができる。
また、CPU46は、第1の補正電流値Ia又は第2の補正電流値Icを用いて、二次電池10の放電可能時間、二次電池10の充電可能時間、二次電池10の充電率、劣化率のうちの少なくとも一つの状態(二次電池10の状態)を算出してもよい。第1の補正電流値Ia又は第2の補正電流値Icを用いることで、これらの算出精度が向上する。また、CPU46は、第1の補正電流値Ia又は第2の補正電流値Icを所定の異常電流検出閾値と比較することで、二次電池10に流れる異常電流(二次電池10の状態の一例)を検出してもよい。第1の補正電流値Ia又は第2の補正電流値Icを用いることで、異常電流の検出精度が向上する。異常電流には、二次電池10の放電過電流又は充電過電流などがある。このように、電池残量計IC40Aは、二次電池10の状態を監視できる。
また、電流測定手段として、チップ抵抗ではなく、配線パターンの一部が使用されるため、電池残量計IC40Aが実装される基板20を搭載する携帯機器の部品コストを低減することができる。また、チップ抵抗が配線パターンの一部に置換されることにより、チップ抵抗を基板20に実装する工数が無くなるため、基板実装の工数を低減することができる。さらに、チップ抵抗が配線パターンの一部に置換されることにより、基板20の面積をチップ抵抗が無くなる分小さくできる。基板20の縮小化は、省スペース化が要求される携帯機器に有効である。
図7は、第2の実施形態に係る電池監視回路の構成の一例を示す図である。第2の実施形態に係る構成及び効果のうち、第1の実施形態に係る構成及び効果と同様の点については、上述の説明を援用することで省略する。
図7に示される電池残量計IC40Bは、電池残量計IC40Bの外部に設けられたサーミスタ30を用いて、マイナス側配線パターン(より好ましくは、特定区間28)の周囲温度を定期的に測定する温度測定回路31を備える点で、図1に示される構成と異なる。また、電池残量計IC40Bは、サーミスタ30と温度測定回路31とを接続するためのサーミスタ入力端子THMを備える。
温度測定回路31は、サーミスタ30の出力値に応じて変化するアナログの温度測定値Tbを出力する。温度測定回路31は、例えば、サーミスタ入力端子THMから入力されるサーミスタ30の出力値を減衰する減衰器を備え、その減衰器の出力値に応じた温度測定値Tbを出力する。サーミスタ30は、周囲温度に応じて抵抗値が変化する。例えば、サーミスタ30の一端は、サーミスタ入力端子THMに接続されており、サーミスタ30の他端は、電池マイナス側端子23と特定区間28の一端との間でマイナス側配線パターン27に接続されている。
サーミスタ30の使用により、サーミスタ30を特定区間28に近接配置しやすくなるので、温度測定回路31は、特定区間28の周囲温度をより高精度に測定できる。また、サーミスタ30の使用により、電池残量計IC40Bの基板20上での実装位置を特定区間28に必ずしも近づける必要がなくなるので、基板20上での実装レイアウトの自由度が向上する。
図8は、電池監視回路が実装された基板を搭載する携帯機器の構成の一例を示す図である。図8に示される電池残量計IC40は、上述の電池残量計IC40A又は40Bを表す。図8は、電池残量計IC40が実装された基板20を搭載するモバイル機器100の構成の一例を示す。
モバイル機器100は、ユーザが携帯可能な電子機器の一例である。モバイル機器100の具体例として、携帯電話、スマートフォン、タブレット端末、ノートパソコンなどが挙げられる。モバイル機器100は、モバイル機器100の電源である二次電池10と、電池残量計IC40が実装された基板20と、電池残量計IC40の計測結果が提供される外部回路50とを備える。
外部回路50は、パワーマネジメントIC(PMIC)51と、CPU52、ROM53、RAM54、ディスプレイ55、入出力装置56、外部インターフェイス(外部I/F)57、Wi−Fi(登録商標)通信部58、GPS(Global Positioning System)通信部59、カメラ60及び操作ボタン61を備える。
PMIC51は、二次電池10の充電を制御する回路の一例である。入出力装置56は、電池残量計IC40内のCPU46による残容量などの演算結果を取得し、取得した演算結果を、PMIC51、CPU52、RAM54、ディスプレイ55、外部I/F57のうちの少なくとも一つに供給する。
これにより、CPU52やPMIC51は、ROM53に格納されたプログラムに従って、残容量などの演算結果を用いた電源管理等の所定の処理を正確に実行できる。また、ディスプレイ55は、二次電池10の残容量などを表示できる。その結果、ユーザは、二次電池10の残容量などを視認でき、その視認内容に応じて、操作ボタン61の押下操作やディスプレイ55のタッチ操作を行うことができる。
以上、電池監視回路を実施形態により説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。他の実施形態の一部又は全部との組み合わせや置換などの種々の変形及び改良が、本発明の範囲内で可能である。
例えば、基板の個体差による配線パターンの抵抗値ばらつきを補償するための補正処理と、配線パターンの温度特性による抵抗値ばらつきを補償するための補正処理とが別々のCPUにより実現されてもよい。
また、特定区間28は、マイナス側配線パターン27の部位ではなく、プラス側配線パターン26の部位でもよい。
また、上述の実施形態では、電池監視回路の一例として、電池残量計ICが示されている。しかしながら、電池監視回路は、二次電池の残容量を算出する機能を備えた回路に限られず、二次電池の残容量を除く二次電池の状態を監視する回路でもよい。
10 二次電池
20 基板
26 プラス側配線パターン
27 マイナス側配線パターン
28 特定区間
40,40A,40B 電池残量計IC
43 温度測定回路
44 ADコンバータ
46 CPU
100 モバイル機器

Claims (5)

  1. 基板に形成された配線パターンを介して負荷に電流を供給する二次電池で駆動する携帯機器に使用され、前記二次電池の残容量を算出する又は前記二次電池の状態を監視する電池監視回路であって、
    前記配線パターンの特定区間に発生する電圧降下量をモニタし、前記電圧降下量に対応するアナログ値を、前記配線パターンに流れる電流の電流値として出力する電流測定回路と、
    前記電流測定回路から出力された前記アナログ値を、デジタルの電流測定値に変換するADコンバータと、
    前記基板の個体差による前記配線パターンの抵抗値ばらつきを補償するための、複数の種類の個体差補正用データを含む第1の補正データを格納する第1の格納部と、
    前記第1の格納部から読み出した前記第1の補正データを使用する演算処理により前記電流測定値を補正した補正電流値を算出し、前記補正電流値を積算することによって前記残容量を算出する演算部とを備え
    前記第1の補正データは、前記電流測定値に対する前記補正電流値の傾きを表す係数αと、前記電流測定値に対する前記補正電流値の切片を表す係数βとを含み、
    前記電流測定値をIとするとき、
    前記演算部は、「α×I+β」に従って、前記補正電流値を算出する、電池監視回路。
  2. 前記配線パターンの周囲温度を測定する温度測定回路を備え、
    前記ADコンバータは、前記温度測定回路によって測定された周囲温度を、デジタルの温度測定値に変換し、
    前記演算部は、前記電流測定値を、前記第1の格納部から読み出した前記第1の補正データと前記ADコンバータから取得した前記温度測定値とを使用する演算処理により補正する、請求項に記載の電池監視回路。
  3. 係数をa,bとし、前記温度測定値をT、前記補正電流値を第1の補正電流値Iaとするとき、
    前記演算部は、前記補正電流値の所定の基準電流値に対する誤差率Errを、前記ADコンバータから取得した前記温度測定値を使用して「a×T+b」に従って算出し、前記第1の補正電流値Iaと前記誤差率Errを使用して「Ia×100/(Err+100)」に従って、前記第1の補正電流値Iaの補正後の電流値である第2の補正電流値を算出する、請求項に記載の電池監視回路。
  4. 前記配線パターンの温度特性による抵抗値ばらつきを補償するための、複数の種類の温度補正用データを含む第2の補正データを格納する第2の格納部を備え、
    前記補正電流値の所定の基準電流値に対する誤差率は、前記温度測定値の一次式で表され、
    前記第2の補正データは、前記温度測定値に対する前記誤差率の傾きを表す係数aと、前記温度測定値に対する前記誤差率の切片を表す係数bとを含み、
    前記演算部は、前記電流測定値を、前記第1の格納部から読み出した前記第1の補正データと前記第2の格納部から読み出した前記第2の補正データと前記ADコンバータから取得した前記温度測定値とを使用する演算処理により補正する、請求項に記載の電池監視回路。
  5. 前記第1の補正データは、前記電流測定値に対する前記補正電流値の傾きを表す係数αと、前記電流測定値に対する前記補正電流値の切片を表す係数βとを含み、
    前記電流測定値をI、前記温度測定値をTとするとき、
    前記演算部は、「((α×I+β)×100)/((a×T+b)+100)」に従って、前記電流測定値を補正する、請求項に記載の電池監視回路。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7189421B2 (ja) 2018-09-21 2022-12-14 ミツミ電機株式会社 モータ駆動回路及びモータ駆動装置
DE102018217625A1 (de) 2018-10-15 2020-04-16 Continental Automotive Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Batteriesensors und Batteriesensor
CN109655654B (zh) * 2019-01-16 2023-10-20 江苏其厚智能电气设备有限公司 一种基于旁路分流技术的大电流测量方法及装置
CN113884910B (zh) * 2021-10-19 2023-04-28 岚图汽车科技有限公司 动力电池残值评估方法、装置、设备及可读存储介质
JP7276928B1 (ja) * 2022-03-29 2023-05-18 東洋システム株式会社 二次電池容量推定システム

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01313783A (ja) * 1988-06-14 1989-12-19 Philips Kk 電池の容量計測回路
JP3329892B2 (ja) * 1992-09-14 2002-09-30 松下電工株式会社 充電式電気機器
JPH0798339A (ja) 1993-09-28 1995-04-11 Yutaka Denki Seisakusho:Kk 電流検出パターン
US5606243A (en) * 1993-11-19 1997-02-25 Nippon Soken, Inc. Battery state judging apparatus
JP2001305166A (ja) * 2000-04-27 2001-10-31 Fuji Electric Co Ltd 電流検出回路
JP2002005968A (ja) * 2000-06-16 2002-01-09 Unisia Jecs Corp 電流検出装置
JP2002110801A (ja) * 2000-09-27 2002-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 配線抵抗補正方法
JP4215152B2 (ja) * 2001-08-13 2009-01-28 日立マクセル株式会社 電池容量検出方法
JP4097183B2 (ja) * 2001-12-27 2008-06-11 パナソニックEvエナジー株式会社 二次電池の残存容量推定方法および装置、並びに電池パックシステム
JP4157317B2 (ja) * 2002-04-10 2008-10-01 株式会社日立製作所 状態検知装置及びこれを用いた各種装置
JP4967421B2 (ja) 2006-04-03 2012-07-04 株式会社デンソー 電流測定装置
KR100971343B1 (ko) * 2007-09-28 2010-07-20 삼성에스디아이 주식회사 온도보상 전류측정 장치를 이용한 배터리팩
JP5815195B2 (ja) * 2008-09-11 2015-11-17 ミツミ電機株式会社 電池状態検知装置及びそれを内蔵する電池パック
US8269641B2 (en) * 2010-06-07 2012-09-18 Lear Corporation Vehicle power management system
KR101193173B1 (ko) 2011-04-14 2012-10-19 삼성에스디아이 주식회사 회로모듈 및 이를 구비한 전지 팩
CN103635822B (zh) * 2011-08-30 2016-02-10 三洋电机株式会社 电池系统、电动车辆、移动体、电力储存装置以及电源装置
JP6040684B2 (ja) * 2012-09-28 2016-12-07 富士通株式会社 二次電池の状態評価装置、二次電池の状態評価方法、及び、二次電池の状態評価プログラム
JP2013253991A (ja) * 2012-11-30 2013-12-19 Gs Yuasa Corp 蓄電素子の劣化後容量推定装置、劣化後容量推定方法及び蓄電システム
JP2015021731A (ja) * 2013-07-16 2015-02-02 富士通株式会社 電子装置及び電流モニタ方法
JP6200359B2 (ja) * 2014-03-20 2017-09-20 古河電気工業株式会社 二次電池内部温度推定装置および二次電池内部温度推定方法

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