JP2610834B2 - 短絡位置検出装置及び短絡位置検出方法 - Google Patents
短絡位置検出装置及び短絡位置検出方法Info
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- JP2610834B2 JP2610834B2 JP61174821A JP17482186A JP2610834B2 JP 2610834 B2 JP2610834 B2 JP 2610834B2 JP 61174821 A JP61174821 A JP 61174821A JP 17482186 A JP17482186 A JP 17482186A JP 2610834 B2 JP2610834 B2 JP 2610834B2
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- conductor
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、導体間の短絡位置検出装置及び短絡位置
検出方法に関し、更に詳しくは導体の一端から短絡位置
までの導体長さを測定し得るようにした短絡位置検出装
置及び短絡位置検出方法に関するものである。
検出方法に関し、更に詳しくは導体の一端から短絡位置
までの導体長さを測定し得るようにした短絡位置検出装
置及び短絡位置検出方法に関するものである。
従来、短絡位置検出方法として公開特許公報「昭59−
214779」に示すものが知られている。この方法は短絡し
ている導体間に交流電流を流し、電磁誘導によるセンサ
で導体に沿って走査し、一方の導体から他方の導体に電
流が移る位置を検出するものである。しかし、このよう
な方法では大型、高密度のプリント基板では走査に時間
がかかる、あるいは部品が障害になってセンサを導体に
充分近づけることができず位置の特定が難しい、あるい
は導体が平行かつ接近している場合どちらの導体に電流
が流れているか弁別が難しい、などの欠点があった。
214779」に示すものが知られている。この方法は短絡し
ている導体間に交流電流を流し、電磁誘導によるセンサ
で導体に沿って走査し、一方の導体から他方の導体に電
流が移る位置を検出するものである。しかし、このよう
な方法では大型、高密度のプリント基板では走査に時間
がかかる、あるいは部品が障害になってセンサを導体に
充分近づけることができず位置の特定が難しい、あるい
は導体が平行かつ接近している場合どちらの導体に電流
が流れているか弁別が難しい、などの欠点があった。
この発明は、従来の問題点を解決したもので、その目
的とするところは導体の一端から短絡位置までの導体長
さを測定し得るようにするもので、電気的方法で短時間
かつ正確に検出できる短絡位置検出装置及び短絡位置検
出方法を提供するにある。
的とするところは導体の一端から短絡位置までの導体長
さを測定し得るようにするもので、電気的方法で短時間
かつ正確に検出できる短絡位置検出装置及び短絡位置検
出方法を提供するにある。
この発明の短絡位置検出装置及び短絡位置検出方法
は、短絡している一方の導体の一端から他方の導体の任
意の点に電流を流すことによって該一方の導体の一端か
ら短絡位置まで電流を流し、該一方の導体の一端と間に
短絡位置を含む他端の電位差を測定し、オームの法則に
より抵抗値を算出する。この抵抗値は該一方の導体の一
端から短絡位置までの抵抗値であり、該導体の抵抗率で
除算して該導体の一端から短絡位置までの導体長さを測
定し短絡位置を検出するものである。
は、短絡している一方の導体の一端から他方の導体の任
意の点に電流を流すことによって該一方の導体の一端か
ら短絡位置まで電流を流し、該一方の導体の一端と間に
短絡位置を含む他端の電位差を測定し、オームの法則に
より抵抗値を算出する。この抵抗値は該一方の導体の一
端から短絡位置までの抵抗値であり、該導体の抵抗率で
除算して該導体の一端から短絡位置までの導体長さを測
定し短絡位置を検出するものである。
第１図は、この発明の短絡位置検出装置及び短絡位置
検出方法の一例を示すブロック図である。図において、
P1とP2は導体、N1とN2は導体P1上の点、N3とN4は導体P2
上の点、N5は導体P1と導体P2の短絡位置、T1とT2は電流
端子でそれぞれ導体P1上の点N1と導体P2上の点N3の当接
されている。A1は定電流回路を示し電流端子T1とT2に定
電流を供給し、導体P1上の点N1から短絡位置N5まで定電
流が流れる。T3とT4は電圧測定端子で導体P1上の点N1と
N2にそれぞれ当接されている。A2は差動増幅器を示し電
圧測定端子T3とT4の電位差を増幅する。この電位差は定
電流が導体P1上の点N1から短絡位置N5まで流れたことに
よって生じたものであるから導体P1上の点N1から短絡位
置N5までの導体抵抗に比例し、抵抗率が一定であれば導
体長さに比例する。例えば、導体P1がプリント基板の配
線パターンで厚みが35μｍ、幅が0.3mmの場合、銅の体
積抵抗率から長さ1mでは約1.6mΩ、電流を10mA流すと長
さ1mmあたりの電位差は約16μＶである。A3はAD変換器
を示し差動増幅器A2の出力電圧をAD変換する。A4はマイ
クロコンピュータ、A5は表示器、A6は入力回路を示す。
マイクロコンピュータA4は入力回路A6から入力された導
体の種類を示すデータに対応する抵抗率を記憶し、AD変
換器A3から読みとった導体P1上の点N1とN2の電位差と、
定電流回路A1の電流値からオームの法則により抵抗値を
計算し、該抵抗値を上記抵抗率で除算し導体P1上の点N1
から短絡位置N5までの導体長さを求め、表示器A5に表示
し短絡位置を検出する。なお、半導体素子によって導通
している場合も同様にその位置を検出できることは明ら
かである。
検出方法の一例を示すブロック図である。図において、
P1とP2は導体、N1とN2は導体P1上の点、N3とN4は導体P2
上の点、N5は導体P1と導体P2の短絡位置、T1とT2は電流
端子でそれぞれ導体P1上の点N1と導体P2上の点N3の当接
されている。A1は定電流回路を示し電流端子T1とT2に定
電流を供給し、導体P1上の点N1から短絡位置N5まで定電
流が流れる。T3とT4は電圧測定端子で導体P1上の点N1と
N2にそれぞれ当接されている。A2は差動増幅器を示し電
圧測定端子T3とT4の電位差を増幅する。この電位差は定
電流が導体P1上の点N1から短絡位置N5まで流れたことに
よって生じたものであるから導体P1上の点N1から短絡位
置N5までの導体抵抗に比例し、抵抗率が一定であれば導
体長さに比例する。例えば、導体P1がプリント基板の配
線パターンで厚みが35μｍ、幅が0.3mmの場合、銅の体
積抵抗率から長さ1mでは約1.6mΩ、電流を10mA流すと長
さ1mmあたりの電位差は約16μＶである。A3はAD変換器
を示し差動増幅器A2の出力電圧をAD変換する。A4はマイ
クロコンピュータ、A5は表示器、A6は入力回路を示す。
マイクロコンピュータA4は入力回路A6から入力された導
体の種類を示すデータに対応する抵抗率を記憶し、AD変
換器A3から読みとった導体P1上の点N1とN2の電位差と、
定電流回路A1の電流値からオームの法則により抵抗値を
計算し、該抵抗値を上記抵抗率で除算し導体P1上の点N1
から短絡位置N5までの導体長さを求め、表示器A5に表示
し短絡位置を検出する。なお、半導体素子によって導通
している場合も同様にその位置を検出できることは明ら
かである。
以上説明したように、この発明によれば導体の一端か
ら短絡位置までの導体長さを測るようにしたものである
から、容易に短時間で短絡位置を検出でき、従来の欠点
を一掃できる。また短絡位置までセンサで走査する必要
がなく、短絡位置がシールドケースで被われている場合
でも正確に検出することができる。
ら短絡位置までの導体長さを測るようにしたものである
から、容易に短時間で短絡位置を検出でき、従来の欠点
を一掃できる。また短絡位置までセンサで走査する必要
がなく、短絡位置がシールドケースで被われている場合
でも正確に検出することができる。
図はこの発明の短絡位置検出装置の一例を示すブロック
図である。 A1……定電流回路 A2……差動増幅器 A3……AD変換器 A4……マイクロコンピュータ A5……表示器 A6……入力回路 T1.T2……電流端子 T3.T4……電圧測定端子 P1.P2……導体 N1.N2……導体P1上の点 N3.N4……導体P2上の点 N5……導体P1と導体P2の短絡位置
図である。 A1……定電流回路 A2……差動増幅器 A3……AD変換器 A4……マイクロコンピュータ A5……表示器 A6……入力回路 T1.T2……電流端子 T3.T4……電圧測定端子 P1.P2……導体 N1.N2……導体P1上の点 N3.N4……導体P2上の点 N5……導体P1と導体P2の短絡位置
Claims (2)
- 【請求項１】二つの導体間の短絡位置を検出するにあた
り、 被検体となる一方の導体の両端に接続される二つの電圧
端子を備え、両端子間の電位差を検出する差動増幅器
と、 前記差動増幅器の検出値から、前記被検体の短絡位置ま
での抵抗値や導体長さを演算するための被検体の抵抗率
記憶手段を備えるマイクロコンピュータと、 前記被検体の一端、及び、短絡が想定される他方の導体
の一端にそれぞれ接続される二つの電流端子を備えた定
電流源とを有し、 前記二つの導体間の短絡位置を検出することを特徴とす
る短絡位置検出装置。 - 【請求項２】二つの導体間の短絡位置を検出するにあた
り、 被検体となる一方の導体の一端から前記被検体との短絡
が想定される他方の導体の一端に一定電流を流し、前記
被検体の一端から短絡位置まで一定電流が流れたことに
よって生じた電位差をその両端において測定し、この電
位差と前記電流値によって前記被検体の一端から短絡位
置までの抵抗値を求め、前記被検体の抵抗率との比によ
って、前記被検体の一端から短絡位置までの導体長さを
求めることを特徴とする短絡位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61174821A JP2610834B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 短絡位置検出装置及び短絡位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61174821A JP2610834B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 短絡位置検出装置及び短絡位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6332378A JPS6332378A (ja) | 1988-02-12 |
| JP2610834B2 true JP2610834B2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=15985251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61174821A Expired - Fee Related JP2610834B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 短絡位置検出装置及び短絡位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2610834B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4446421A (en) * | 1981-06-22 | 1984-05-01 | Grumman Aerospace Corporation | Apparatus and method for locating faults in cables |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61174821A patent/JP2610834B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6332378A (ja) | 1988-02-12 |
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Legal Events
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