JPH01125876A - 薄膜超電導体 - Google Patents
薄膜超電導体Info
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- JPH01125876A JPH01125876A JP62283540A JP28354087A JPH01125876A JP H01125876 A JPH01125876 A JP H01125876A JP 62283540 A JP62283540 A JP 62283540A JP 28354087 A JP28354087 A JP 28354087A JP H01125876 A JPH01125876 A JP H01125876A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は薄膜超電導体に関するものである。
従来の技術
最近、酸化物の高温超電導体が注目を浴びているが、こ
れらの内でとくに関心を集め研究されているのが100
°に程度に超電導転移温度(TC)をもつY−Ba−C
u−0系である。化合物の組成はYBa2Cu30?−
yで表わされる事が明らかになっており、YをLu、Y
b、Tm、Er、Ho+Dy+Gd、Euなどの稀土類
元素にかえても殆んど同等のTcを示す事も確認されて
いる。結晶構造はCu068面体を含むベロスカイト類
似構造をもち、酸素欠損が超電導に重要な役割りを果た
す事が知られているが、酸素欠損の位置、欠損量(y)
に関してはまだ不明の点が多い。
れらの内でとくに関心を集め研究されているのが100
°に程度に超電導転移温度(TC)をもつY−Ba−C
u−0系である。化合物の組成はYBa2Cu30?−
yで表わされる事が明らかになっており、YをLu、Y
b、Tm、Er、Ho+Dy+Gd、Euなどの稀土類
元素にかえても殆んど同等のTcを示す事も確認されて
いる。結晶構造はCu068面体を含むベロスカイト類
似構造をもち、酸素欠損が超電導に重要な役割りを果た
す事が知られているが、酸素欠損の位置、欠損量(y)
に関してはまだ不明の点が多い。
発明が解決しようとする問題点
これまでの研究の多くは焼結体(セラミックス)で行な
われているが、ジョセフソン素子などの電子デバイスを
作成するには超電導材料の薄膜化が今後重要性を帯びて
くるのは必須であり、スパッタ法などによる薄膜化の検
討もすぐにいくつか報告されている。しかし、得られた
膜のTCはセラミックスの場合に比べ、たとえば、17
°にと著しく低く、基板として5rTjOs単結晶の(
001)面を用いた場合にのみTC〜60°Kが得られ
ている。
われているが、ジョセフソン素子などの電子デバイスを
作成するには超電導材料の薄膜化が今後重要性を帯びて
くるのは必須であり、スパッタ法などによる薄膜化の検
討もすぐにいくつか報告されている。しかし、得られた
膜のTCはセラミックスの場合に比べ、たとえば、17
°にと著しく低く、基板として5rTjOs単結晶の(
001)面を用いた場合にのみTC〜60°Kが得られ
ている。
また、基板材料はいずれも絶縁物であるが、近接効果型
ジョセフソン素子やYBag Cus 0t−yのもつ
異方性を利用したデバイスを実現するには導電性をもっ
た基板上に薄膜上に薄膜超電導体を設ける必要がある。
ジョセフソン素子やYBag Cus 0t−yのもつ
異方性を利用したデバイスを実現するには導電性をもっ
た基板上に薄膜上に薄膜超電導体を設ける必要がある。
本発明の目的は、導電性を有する基板上に設けられ、か
つ、セラミックスに近いTCを安定にもつ薄膜超電導体
を提供する事にある。
つ、セラミックスに近いTCを安定にもつ薄膜超電導体
を提供する事にある。
問題点を解決するための手段
本発明は上記目的を達成するもので、その技術的手段は
、基板に垂直に<001>方向に配向しかつ導電性を示
すペロブスカイト酸化物ABOsの薄膜を形成し、さら
にその上にSmo2薄膜を設けた後に、MBaz Cu
s 0t−y膜を作製した薄膜超電導体にある。
、基板に垂直に<001>方向に配向しかつ導電性を示
すペロブスカイト酸化物ABOsの薄膜を形成し、さら
にその上にSmo2薄膜を設けた後に、MBaz Cu
s 0t−y膜を作製した薄膜超電導体にある。
作用
ABOs薄膜とに、MBa2CusO?−y膜を作製す
ると製膜中や製膜後の熱処理によって、界面付近でイオ
ンの相互拡散の現象に基づく超電導材料の特性劣化を生
じるが、本願発明はSnO2膜を介してMBat Cu
s 0t−y膜を作製しているのでその劣化現象がなく
なる。
ると製膜中や製膜後の熱処理によって、界面付近でイオ
ンの相互拡散の現象に基づく超電導材料の特性劣化を生
じるが、本願発明はSnO2膜を介してMBat Cu
s 0t−y膜を作製しているのでその劣化現象がなく
なる。
一般的に、良質な薄膜を得るには基板に単結晶を用い、
かつ、基板の結晶構造が薄膜化しようとする物質と同じ
であり格子定数も近い事が望ましい。MBa2Cus0
7−yはベロプスカイ・ト類似構造をもち、M= Y
(YBag Cua Ot −y )の場合、a=3.
89A、b=a、s2X、c=11.7Xをもつ斜方晶
系か、a = a、sai、 C= 1 t、7Kをも
つ正方晶系に属すると報告されている。一方、ペロブス
カイト化合物ABO8はAがLa5Pr+Nd+S”+
Gd+D3’+)io、Erの少なくとも1種か、もし
くは、これらの一部がCa、Br、Baの少なくとも1
種で買換されたもので構成され、BがMn1FelCO
の少なくとも1種で構成される場合、立方晶系か正方晶
系に属し、a軸はa、5ocAと3.9oXO内の値と
なる。
かつ、基板の結晶構造が薄膜化しようとする物質と同じ
であり格子定数も近い事が望ましい。MBa2Cus0
7−yはベロプスカイ・ト類似構造をもち、M= Y
(YBag Cua Ot −y )の場合、a=3.
89A、b=a、s2X、c=11.7Xをもつ斜方晶
系か、a = a、sai、 C= 1 t、7Kをも
つ正方晶系に属すると報告されている。一方、ペロブス
カイト化合物ABO8はAがLa5Pr+Nd+S”+
Gd+D3’+)io、Erの少なくとも1種か、もし
くは、これらの一部がCa、Br、Baの少なくとも1
種で買換されたもので構成され、BがMn1FelCO
の少なくとも1種で構成される場合、立方晶系か正方晶
系に属し、a軸はa、5ocAと3.9oXO内の値と
なる。
たとえば、Laαa 5rci s C00aは立方晶
系に属しa=a、gaXである。これらの値はMB a
l! Cu IIO?−yのa軸もしくはb軸にほぼ
一致した値であり、上記ペロブスカイト化合物のC軸(
< 001 >)を、 基板に垂直に配向させた薄膜
を使用すれば、5rTiOs単結晶(a = 8.90
K)を用いた場合と同様に良質なMBa2Cu@0v−
y薄膜の形成が可能となる。
系に属しa=a、gaXである。これらの値はMB a
l! Cu IIO?−yのa軸もしくはb軸にほぼ
一致した値であり、上記ペロブスカイト化合物のC軸(
< 001 >)を、 基板に垂直に配向させた薄膜
を使用すれば、5rTiOs単結晶(a = 8.90
K)を用いた場合と同様に良質なMBa2Cu@0v−
y薄膜の形成が可能となる。
本発明で使用されるペロブスカイト化合物ABO3はA
、Bが上記元素で構成される場合、スパッタ法で薄膜化
するときわめて配向しやすく、たとえば[、aαsSr
αs C00aでは基板にガラスの様な非配向材料を用
いてもスパッタ条件によってはV完全に< 001 >
配向させ得るという第1の特徴をもつ。
、Bが上記元素で構成される場合、スパッタ法で薄膜化
するときわめて配向しやすく、たとえば[、aαsSr
αs C00aでは基板にガラスの様な非配向材料を用
いてもスパッタ条件によってはV完全に< 001 >
配向させ得るという第1の特徴をもつ。
第2の特徴は、高い導電性(たとえばLaCl35ra
sCQOaではρ〜4×10 Ω−cts )をもつ事
であり、組成によって1010・aから10−4Ω・a
の範囲でPを変化させる事が可能である。
sCQOaではρ〜4×10 Ω−cts )をもつ事
であり、組成によって1010・aから10−4Ω・a
の範囲でPを変化させる事が可能である。
本発明のA B Osにおいて、AはLa、Pr、Nd
+3m+Qd +Dy +HO,grの少なくとも1種
か、もしくは、これら稀土類元素の一部がCa+ S
r + B aの少なくとも1種で買換されたものを含
み、BはMn1FelCOの少なくとも1種を含み、M
はY。
+3m+Qd +Dy +HO,grの少なくとも1種
か、もしくは、これら稀土類元素の一部がCa+ S
r + B aの少なくとも1種で買換されたものを含
み、BはMn1FelCOの少なくとも1種を含み、M
はY。
Lu+Yb、Tm+Er+Ho+DyyGd+Euの少
なくと1種を含む事が望ましい。
なくと1種を含む事が望ましい。
また、A B Oaとしては、Lal X ysrzB
acOOsで表わされ、O<x≦0.8 、 O≦y≦
0.5 、0.1≦X+y≦0.8であることが好まし
い。
acOOsで表わされ、O<x≦0.8 、 O≦y≦
0.5 、0.1≦X+y≦0.8であることが好まし
い。
更にMBa2Cus07−yよりなる超電導薄膜のMは
、Y、Lu+Yb、Tm、Er+Ho+Dy+Gd+S
c+Euの少なくとも一種を含むことが好ましい。
、Y、Lu+Yb、Tm、Er+Ho+Dy+Gd+S
c+Euの少なくとも一種を含むことが好ましい。
実施例
以Fに本発明の実施例について詳細に説明する。
本実施例においてペロブスカイト化合物ABOsおよび
ペロブスカイト類似化合物MBa2Cu07−yの薄膜
はいずれもスパッタリング法で作成された。
ペロブスカイト類似化合物MBa2Cu07−yの薄膜
はいずれもスパッタリング法で作成された。
図に石英ガラスを基板として、ペロブスカイト化合物L
afia 5ras Coosの薄膜をRFスパッタリ
ング法で作成し、600℃で熱処理を行なった場合のX
線回折パターンを示す。スパッタリングのターゲットに
用いたLa116Sra6Coos原料粉末の回折パタ
ーンでは、2θが200と600の範囲で(100)、
(110)、(111)、(200)、(012)。
afia 5ras Coosの薄膜をRFスパッタリ
ング法で作成し、600℃で熱処理を行なった場合のX
線回折パターンを示す。スパッタリングのターゲットに
用いたLa116Sra6Coos原料粉末の回折パタ
ーンでは、2θが200と600の範囲で(100)、
(110)、(111)、(200)、(012)。
(1’21)面からの合計6本の回折線が立方対称に対
応して観測され、(110)回折線が最も強い。
応して観測され、(110)回折線が最も強い。
それに対し図では(100)、(200)回折線のみが
観測され完全に(100)(=(001))面が基板と
平行すなわち< 100 >(=<o o 1>)軸が
基板に垂直に配向した膜である事がわかる。スパッタガ
スには混合比3:1のアルゴンと酸素との混合ガスを用
い、全圧を8 X 10 ” 〜2X10 ”porr
。
観測され完全に(100)(=(001))面が基板と
平行すなわち< 100 >(=<o o 1>)軸が
基板に垂直に配向した膜である事がわかる。スパッタガ
スには混合比3:1のアルゴンと酸素との混合ガスを用
い、全圧を8 X 10 ” 〜2X10 ”porr
。
基板温度300℃、入力電力400W、ターゲット直径
12.5CMであった。La(155r(15CQOa
スパッタ膜は入力電力を増すにつれて非晶質、(11o
)配向膜、(110)と(100)の混ざった膜、(1
00)配向膜と変化する。入力電力以外にも基板温度、
ガス圧などによって配向膜のでき方は変化するが、基板
温度は200℃乃至700℃、ガス圧は10−8乃至1
0−8乃至1O−ITorrの間が望ましい。スパッタ
膜では通常酸素欠損が生じるため、組成は厳密にはLa
+165rQ5 Cods −Jと表わされるべきであ
るが、空気中もしくは酸素中アニールでδは減少する。
12.5CMであった。La(155r(15CQOa
スパッタ膜は入力電力を増すにつれて非晶質、(11o
)配向膜、(110)と(100)の混ざった膜、(1
00)配向膜と変化する。入力電力以外にも基板温度、
ガス圧などによって配向膜のでき方は変化するが、基板
温度は200℃乃至700℃、ガス圧は10−8乃至1
0−8乃至1O−ITorrの間が望ましい。スパッタ
膜では通常酸素欠損が生じるため、組成は厳密にはLa
+165rQ5 Cods −Jと表わされるべきであ
るが、空気中もしくは酸素中アニールでδは減少する。
δ≧0.5ではペロブスカイト構造ABO3をとシ得な
くなυ、ボストアニールでもペロブスカイト構造に戻ら
なくなるが、上記のスパッタ条件下ではδ〈0.5の膜
が得られ、これらを簡単のためにLaa5Sraa C
oosで表わす。
くなυ、ボストアニールでもペロブスカイト構造に戻ら
なくなるが、上記のスパッタ条件下ではδ〈0.5の膜
が得られ、これらを簡単のためにLaa5Sraa C
oosで表わす。
Laαs 5rns CoosでLaとSrの割合いを
変化させたシ、La以外の稀土数元素、Sr以外のアル
カリ土類元素、CO以外の鉄属元素を用いても同様の結
果が得られるが、稀土類元素のうちCeではペロブスカ
イト構造が得にくく、La以外ではPr+Nd、Sm、
Gd、Dy、Ho+Er が好適であり、アルカリ土類
元素としてはCa+Sr+Bas鉄属元素としてはMn
、Fe、C□が好適である。とくに、材料コスト、入手
のし易さ、合成のし易さを考慮するとLa+−x−yS
rxBayCOOsで0≦x<0.8゜0≦y≦0.5
、0.1≦x+y<0.8が実用的に望ましい。
変化させたシ、La以外の稀土数元素、Sr以外のアル
カリ土類元素、CO以外の鉄属元素を用いても同様の結
果が得られるが、稀土類元素のうちCeではペロブスカ
イト構造が得にくく、La以外ではPr+Nd、Sm、
Gd、Dy、Ho+Er が好適であり、アルカリ土類
元素としてはCa+Sr+Bas鉄属元素としてはMn
、Fe、C□が好適である。とくに、材料コスト、入手
のし易さ、合成のし易さを考慮するとLa+−x−yS
rxBayCOOsで0≦x<0.8゜0≦y≦0.5
、0.1≦x+y<0.8が実用的に望ましい。
ペロブスカイト酸化物の配向性薄膜を作成する際の基板
としては石英ガラス以外に、At208焼結体、ZrO
2焼結体、Atなど金属膜のいずれでもよ<、sr’r
ios 、MgOなどの単結晶でも勿論よい。基板によ
って配向性は若干具なるがスパッタリングの入力電力を
低くシ、マず非晶質膜をごく薄く設け、その後入力電力
を高くし配向膜を作成すると基板の種類に関係なく良好
な配向膜を得る事が可能である。この配向膜上にpt膜
をスパノノク法RF又はDCにより、100〜1ooo
Xの膜厚で設ける。
としては石英ガラス以外に、At208焼結体、ZrO
2焼結体、Atなど金属膜のいずれでもよ<、sr’r
ios 、MgOなどの単結晶でも勿論よい。基板によ
って配向性は若干具なるがスパッタリングの入力電力を
低くシ、マず非晶質膜をごく薄く設け、その後入力電力
を高くし配向膜を作成すると基板の種類に関係なく良好
な配向膜を得る事が可能である。この配向膜上にpt膜
をスパノノク法RF又はDCにより、100〜1ooo
Xの膜厚で設ける。
この様にして得られた導電性配向膜上にペロブスカイト
類似構造をもち高いTCをもつ超電導体MBa2Cua
O□−7をスパッタリングで作成した実施例を以下に述
べる。
類似構造をもち高いTCをもつ超電導体MBa2Cua
O□−7をスパッタリングで作成した実施例を以下に述
べる。
〈実施例1〉
ZrO□焼結体基板に垂直に<001>方向に配向した
La[15Sr(15Coo8膜上にRFスパッタリン
グ法で200XのSnO□膜を設け、更にそのSnO,
。
La[15Sr(15Coo8膜上にRFスパッタリン
グ法で200XのSnO□膜を設け、更にそのSnO,
。
膜上にYBa2 Cut Ot−y膜をRFスパッタリ
ング法で作成した。ターゲット材料はY2O2とBaC
O3とCuOを0.5 : 2 : 3.6のモル比で
混合したものを900℃〜950℃で20時間、数回、
焼成、混合をくシ返し作成した。CuOは20%過剰に
加えられている。スパッタ条件は、基板温度650℃、
全圧は2 X 10 ”l’orr (アルゴンと酸
素の混合比9:1)であった。La(15S’(15C
OO8とYBa2Cu8Q□ 、の膜厚は各h l p
m、7000^であった。
ング法で作成した。ターゲット材料はY2O2とBaC
O3とCuOを0.5 : 2 : 3.6のモル比で
混合したものを900℃〜950℃で20時間、数回、
焼成、混合をくシ返し作成した。CuOは20%過剰に
加えられている。スパッタ条件は、基板温度650℃、
全圧は2 X 10 ”l’orr (アルゴンと酸
素の混合比9:1)であった。La(15S’(15C
OO8とYBa2Cu8Q□ 、の膜厚は各h l p
m、7000^であった。
得られた薄膜を850℃で酸素中’5 Hアニールした
。室温でのLaas 5rl15 Coo3とYBa2
Cu2O7−y薄膜のρは各々3X10”Ω−d、8X
IQ ’Ω・t”IIであり、YBa2 Cua O□
□の超電導転移温度(Tc)は90°にであった。
。室温でのLaas 5rl15 Coo3とYBa2
Cu2O7−y薄膜のρは各々3X10”Ω−d、8X
IQ ’Ω・t”IIであり、YBa2 Cua O□
□の超電導転移温度(Tc)は90°にであった。
本実施例のSnO2膜の膜厚としては、あまり薄いピン
ホール等の発生により相互拡散防止の効果が悪くなり、
また厚すぎるとYBa2 Cul Oy−yの配向性が
悪くなる。これらのことから膜厚としては100〜10
0OXが望ましい。
ホール等の発生により相互拡散防止の効果が悪くなり、
また厚すぎるとYBa2 Cul Oy−yの配向性が
悪くなる。これらのことから膜厚としては100〜10
0OXが望ましい。
〈実施例2〉
実施例1においてLaa s S r (15Cooa
のかわりにLaαgBau2Cooaを用い同様の実験
を行ない、YBa2Cus07−y薄膜のTcとして8
5°Kを得た。
のかわりにLaαgBau2Cooaを用い同様の実験
を行ない、YBa2Cus07−y薄膜のTcとして8
5°Kを得た。
〈実施例3〉
実施例1においてLaQS SrQ& Coo8のかわ
りにSmn5SrasCOn9Fe(B Osを用い、
YBa2 Cus 07−yのかわりにEuBa2(
:u、 07−yを用いて同様の実験を行ない、Eu1
3a、 (:uaQ 、、の薄膜のTcとして95°K
を得た。
りにSmn5SrasCOn9Fe(B Osを用い、
YBa2 Cus 07−yのかわりにEuBa2(
:u、 07−yを用いて同様の実験を行ない、Eu1
3a、 (:uaQ 、、の薄膜のTcとして95°K
を得た。
〈比較例〉
実施例1においてLa (16S r (15Co O
s上のSnO2膜を設けず、ZrO2焼結体基板上に直
接YBa2Cu30?−y薄膜を同条件で作成したとこ
ろ基板と超電導材料との金属成分同士の相互拡散の影響
によりTC=60°にであった。
s上のSnO2膜を設けず、ZrO2焼結体基板上に直
接YBa2Cu30?−y薄膜を同条件で作成したとこ
ろ基板と超電導材料との金属成分同士の相互拡散の影響
によりTC=60°にであった。
発明の効果
以上要するに本発明は、超電導薄膜が、基板に°垂直に
<001>方向に配向したペロブスカイト化合物ABO
,薄膜上に、SnO2膜を介して設けられるため、セラ
ミックスに近いTcが安定に得られ、かつABO31,
SnO2膜が導電性を示すため、近接効果型ジョセフノ
ン素子や超電導体MBa2Cus O?−yのもつ異方
性を利用したデバイを可能ならしめる利点を有するもの
である。
<001>方向に配向したペロブスカイト化合物ABO
,薄膜上に、SnO2膜を介して設けられるため、セラ
ミックスに近いTcが安定に得られ、かつABO31,
SnO2膜が導電性を示すため、近接効果型ジョセフノ
ン素子や超電導体MBa2Cus O?−yのもつ異方
性を利用したデバイを可能ならしめる利点を有するもの
である。
図は本発明の一実施例ておける薄膜超電導体を構成する
配向性導電薄膜のX線回折パターンを示す図である。
配向性導電薄膜のX線回折パターンを示す図である。
Claims (5)
- (1)基板に垂直に<001>方向に配向しかつ導電性
を有するペロブスカイト酸化物ABO_3の薄膜上に、
SnO_2の薄膜を介してMBa_2CU_8O_7_
−_yよりなる超電導薄膜を設けたことを特徴とする薄
膜超電導体。 - (2)ペロブスカイト酸化物ABO_3のAサイトの元
素がLa、Pr、Nd、Sm、Gd、Dy、Ho、Er
の少なくとも1種であり、Bサイトの元素がMn、Fe
、Coの少なくとも1種である事を特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の薄膜超電導体。 - (3)Aサイトの元素であるLa、Pr、Nd、Sm、
Gd、Dy、Ho、Erの一部がCa、Br、Baの少
なくとも1種で買換された事を特徴とする特許請求の範
囲第2項記載の薄膜超電導体。 - (4)ペロブスカイト酸化物ABO_8がLa_1_x
_ySr_xBa_yCoO_3で表わされ、0≦x≧
0.8、0≦y≧0.5、0.1≦x+y≦0.8の組
成範囲にある事を特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の薄膜超電導体。 - (5)MBa_2CU_3O_7_−_yよりなる超電
導薄膜のMがY、Lu、Yb、Tm、Er、Ho、Dy
、Gd、Sc、Euの少なくとも1種を含む事を特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の薄膜超電導体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62283540A JPH01125876A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 薄膜超電導体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62283540A JPH01125876A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 薄膜超電導体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01125876A true JPH01125876A (ja) | 1989-05-18 |
Family
ID=17666855
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62283540A Pending JPH01125876A (ja) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | 薄膜超電導体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01125876A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2013027839A1 (ja) * | 2011-08-24 | 2015-03-23 | 古河電気工業株式会社 | 超電導導体用基材の製造方法、超電導導体の製造方法、超電導導体用基材、および超電導導体 |
-
1987
- 1987-11-10 JP JP62283540A patent/JPH01125876A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2013027839A1 (ja) * | 2011-08-24 | 2015-03-23 | 古河電気工業株式会社 | 超電導導体用基材の製造方法、超電導導体の製造方法、超電導導体用基材、および超電導導体 |
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