JPH01120875A - 反射型光結合装置 - Google Patents

反射型光結合装置

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JPH01120875A
JPH01120875A JP62277499A JP27749987A JPH01120875A JP H01120875 A JPH01120875 A JP H01120875A JP 62277499 A JP62277499 A JP 62277499A JP 27749987 A JP27749987 A JP 27749987A JP H01120875 A JPH01120875 A JP H01120875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layers
photodetector
lead frame
film
gap
Prior art date
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Pending
Application number
JP62277499A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Aizawa
吉昭 相沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH01120875A publication Critical patent/JPH01120875A/ja
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は反射型光結合装置の改良に係り、特に絶縁耐圧
ならびに生産性の向上を図るものである。
(従来の技術) 最近光半導体素子の発展は自相ましいものがあり各種の
新製品が登場していると共に、その全生産量も大幅に向
上しているのが現状である。
ところで光結合装置の一種でいわゆるフォトカブラは通
常相対向して配置するリードフレームに発光素′子と受
光素子例えばホトトランジスタやTr、iac等を固着
し更にモールド樹脂層によりこの組立体を被覆して、接
地電位の異となる素子の信号を光によって結合すること
を可能とするのが特徴である。この素子では外囲塁とし
て寸法が規定されたDIPが適用されているので相対向
して配置するリードフレーム間距離にはMaxl、3+
u+と制限があって1,2次間の耐圧も必ずしも満足で
きる値でなかった。
一方反射型光結合装置として第3図に示す素子が知られ
ている。゛この反射型光結合装置では一対のリードフレ
ーム3G 、 、 30を準備し、その端部付近に発光
素子31と受光素子32を常法によりマウント後この画
素子をエンキャップ層33.33で被覆し、更にモール
ド樹脂層34によりこの組立体を被覆して反射型光結合
装置を完成するのが一般的な手法である。
この装置では発光素子から放射する光を透光性エンキャ
ップ材に連続して設置するモールド樹脂層により反射さ
せて前述の光結合を完成するものである。
この様な構造を持つ反射型光結合装置では一対のリード
フレーム30.30端部間の距離は約0.5m園に保持
されており1,2次間耐圧は2.5KV程度である。
(発明が解決しようとする問題点) このように必ずしも満足できない耐圧を向上するには前
記一対のリードフレーム30.30端部間の距離を拡大
することが必要になるが、透光性エンキャップ層33の
形成が非常に困難になる。この透光性エンキャップ層3
3の形成はいわゆるDispen−ser装置を利用す
るボッティング方法が適用されており、適当な粘度を持
つ透光性エンキャップ材は間隔の大きいリードフレーム
30.30に留まらず下側に流れてしまう、従って透光
性エンキャップ層33の形成が不能になって反射型光結
合装置が得られない難点を生じる。
本発明は上記難点を除去する新規な反射型光結合装置を
提供し、特に1,2次間耐圧向上をもたらす透光性エン
キャップ層の設置を目的とするものである。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) この目的を達成するのに本発明では一対のリードフレー
ム端部に配置する発光素子と受光素子犬々を透光性エン
キャップ層により被覆し、この透光性エンキャップ層及
びリードフレーム間に発生する隙間には絶縁性フィルム
を設置する手法を採用する。
(作 用) このように本発明では従来リードフレーム端部間の距離
が1.3+ua程度に制限されていたのを約2mmに拡
大可能とし必要な1,2次間耐圧もSKV位に向上でき
、製造段階の生産性をも向上できる利点を持つものであ
る。
(実施例) 第1図a、b及び第2図a、b、Qにより本発明を詳述
するが、従来の技術と重複する記載が都合によりでてく
る場合があるものの新しい番号を付けて説明するが、第
1図a及び第2図a、cは本発明の実施例に係る反射型
光結合装置の要部を示す断面図であり、第1図す及び第
2図すは各々の上面図である。
先ず本発明に必要なリードフレームを準備する程により
形成するSIPリードフレームは金属製の枠体から複数
の端子を林立して設置し、この端子の機械的強度を図る
ためにこの枠体から多少前れたこの端子部分に枠体に沿
って連結細条を設置し、更に前記端子の中間にはこの端
子より多少幅広のベツド部を形成してリードフレームを
完成する。
この枠体には工程の自動化に備えて透孔を設置してSI
P用のリードフレーム(図示せず)を準備する。
一方、DIP用のリードフレームもSIP用のそれと同
様にプレス工程により形成する場合が多く、その完成品
は相対向する金属製枠体を等間隔に区分して単位体を構
成し、この単位体の中心に向けてこの金属製枠体を起点
にする端子を設置し、前記単位体のほぼ中心には半導体
素子をマウントするベツド部をやはり前記金属製枠体を
起点とする端子間に張架し、前記金属製枠体にも工程の
自動化に備えて透孔を設置する。又前記連結細条は各端
子間を結んで前記金属製枠体に沿って形成して機械的強
度の増大を図るのはSIP用のリードフレームと同じで
ある。
ところで図面にはこのDIP用のリードフレーム1.1
が示されており、このDIP用のリードフレームのベツ
ド部は前記金属製枠体を起点とし同じ線分上に形成する
2端子の端部に2個を形成し、夫々には準備した前記発
光素子2と受光素子3をマウントする。
この工程を終えてからこのリードフレーム1゜1間の隙
間にポリイミド樹脂からなるフィルム4を張付け、この
ポリイミド樹脂からなるフィルムの−面には接着剤が塗
付しているので簡単に接着できる。更にこの一対のリー
ドフレーム1,1は同一線上に位置している。
次にマウントした前記発光素子2と受光素子3を含めた
組立体にはデイスペンサ装置を利用するボッティング工
程により第1の透光性エンキャップ材層5を被覆し、更
に全体にモールド樹脂層6を設置して保護層としての役
割を果させる。
第2図aに示す実施例では前記発光素子2と受光素子3
を同一線上に位置している一対のリードフレーム1,1
の端子に常法によりマウント後素子2素子3 にはデイ
スペンサ装置を利用するポツティング工程により第2の
透光性エンキャップ材層7,7を被覆し、この両道光性
エンキャップ材層6,6の隙間にはポリイミド樹脂から
なるフィルム4を張付けるが、このポリイミド樹脂から
なるフィルムの一面には接着剤が塗付しているので簡単
に接着できるし、又素子2素子3 を被覆する両道光性
エンキャップ材層6,6の頂面に接着するので作業性に
は勝れている。
第2図Cには前記発光素子2と受光素子3が同一線上に
位置していないリードフレーム1,1端子に設置する場
合を示している。
前記実施例はDIP用リードフレームの適用例であるが
SIP用リードフレームについても簡単に説明すると(
図示せず)、金属製枠体に林立して設置する端子に形成
するベツド部に前記発光素子2と受光素子3をマウント
するのは前述の通りであるが、1端子に1種類の素子を
固着するので2端子により1組ができることになり、面
端子が平行に設置され保護モールド樹脂層の同じ場所か
ら夫々が導出される点がDIP用リードフレームの場合
と相違する。
なお前記ポリイミド樹脂フィルムには多少の剛性が必要
であり従って箔状に形成したものは適用できない。
〔発明の効果〕
このように本発明に係る反射型光結合半導体装置は受光
素子用リードフレームと発光素子用リードフレームの間
隔が広くてもエンキャップ樹脂層の隙間もしくは一対の
リードフレームの隙間には絶縁性フィルムが設置されて
いるので、受光素子と発光素子の光結合が容易にできる
【図面の簡単な説明】
第1図a、b及び第2図a、b、Qは本発明の実施例を
示す断面図ならびに上面図、第3図は従来の装置の断面
図である。 代理人 弁理士  井 上 −男 を 第 2rlA 」 第  3  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  準備する一対のリードフレームと、このリードフレー
    ムの端部付近に固着する発光素子ならびに受光素子と、
    この各素子を囲んで形成する第1のエンキヤップ材と、
    このエンキヤップ材間もしくは一対のリードフレーム間
    の隙間を塞いで設置する絶縁性フィルムと、この絶縁性
    フィルム及び前記エンキヤップ材を被覆する第2のエン
    キヤップ材と、前記リードフレーム及び前記各部品を覆
    って設置するモールド樹脂層を具備することを特徴とす
    る反射型光結合装置。
JP62277499A 1987-11-04 1987-11-04 反射型光結合装置 Pending JPH01120875A (ja)

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JP62277499A JPH01120875A (ja) 1987-11-04 1987-11-04 反射型光結合装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000013273A1 (fr) * 1998-08-31 2000-03-09 Rohm Co., Ltd. Dispositif a semi-conducteurs et substrat s'appliquant a ce dispositif

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000013273A1 (fr) * 1998-08-31 2000-03-09 Rohm Co., Ltd. Dispositif a semi-conducteurs et substrat s'appliquant a ce dispositif
US6717256B1 (en) 1998-08-31 2004-04-06 Rohm Co., Ltd. Mounting structure for semiconductor device having entirely flat leads

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