JPH01120795A - 薄膜発光素子 - Google Patents
薄膜発光素子Info
- Publication number
- JPH01120795A JPH01120795A JP62277432A JP27743287A JPH01120795A JP H01120795 A JPH01120795 A JP H01120795A JP 62277432 A JP62277432 A JP 62277432A JP 27743287 A JP27743287 A JP 27743287A JP H01120795 A JPH01120795 A JP H01120795A
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- JP
- Japan
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- film
- pno
- thin film
- breakdown voltage
- insulating
- Prior art date
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- Pending
Links
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- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
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- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- -1 phosphorus nitride Chemical class 0.000 claims 1
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、デイスプレィとして好適なEL素子に関する
。
。
機能材料(1987年)6月号PP52−57に示され
たように、PN、及びPNO膜は優れた特性の絶縁膜で
あり、 InPMISFET等への応用が考案されてい
る。
たように、PN、及びPNO膜は優れた特性の絶縁膜で
あり、 InPMISFET等への応用が考案されてい
る。
上記従来技術では、EL素子にPN(又はPNO)膜を
適用した場合の効果については考慮されていなかった。
適用した場合の効果については考慮されていなかった。
本発明の目的は、駆動特性の安定した破壊しにくいE−
L素子を作成することにある。
L素子を作成することにある。
上記目的は、PN(又はPNO)膜をEL素子の絶縁膜
として用いることにより達成される。この場合、膜は薄
膜形成の手法で作成でき、例えば、CUD法、スパッタ
リング法、蒸着法、MBE法などが挙げられる。
として用いることにより達成される。この場合、膜は薄
膜形成の手法で作成でき、例えば、CUD法、スパッタ
リング法、蒸着法、MBE法などが挙げられる。
EL素子に用いる絶縁膜には、誘電率toErと破壊電
界強度Eaoの積で得られる、性能指数E0εrEao
(ε。:真空の誘電率)の高い膜が必要とされる。第2
図に、PN膜にOを含有させていった時の比誘電率it
、破壊電界強度EBo、性能指数totrEaoを示す
。EL素子の絶縁層として用いるには、1μC/C11
以上の性能指数を要するが、PNO膜は含有酸素量0−
50原子%の範囲でEL素子に適用可能である。この膜
の性能指数の高さは、破壊電界強度がSiOx、Si3
N+*Altosなど従来のEL用絶絶縁膜比較して更
に高くなることに起因する。
界強度Eaoの積で得られる、性能指数E0εrEao
(ε。:真空の誘電率)の高い膜が必要とされる。第2
図に、PN膜にOを含有させていった時の比誘電率it
、破壊電界強度EBo、性能指数totrEaoを示す
。EL素子の絶縁層として用いるには、1μC/C11
以上の性能指数を要するが、PNO膜は含有酸素量0−
50原子%の範囲でEL素子に適用可能である。この膜
の性能指数の高さは、破壊電界強度がSiOx、Si3
N+*Altosなど従来のEL用絶絶縁膜比較して更
に高くなることに起因する。
以下、本発明の実施例を第1図により説明する。
第1図は薄膜EL素子の断面図である。1はガラス基板
(コーニング#7059)、2は透明電極(ITO20
0nm)、3は第−絶#層、4は発光層(ZnS 1M
n1500 n m) 5は第二絶縁層、6は背面電極
(Al、200nm)である。電極2と6の間に交番電
界を印加することにより発光が生じる。第一、第二絶縁
層として、ELL子用絶縁膜として多く用いられるTa
z○δ、YzOatS i sN<ヲ用イf=E L@
子、及ヒ、PeNaOsを用いたEL素子の比較を第1
表に挙げる。
(コーニング#7059)、2は透明電極(ITO20
0nm)、3は第−絶#層、4は発光層(ZnS 1M
n1500 n m) 5は第二絶縁層、6は背面電極
(Al、200nm)である。電極2と6の間に交番電
界を印加することにより発光が生じる。第一、第二絶縁
層として、ELL子用絶縁膜として多く用いられるTa
z○δ、YzOatS i sN<ヲ用イf=E L@
子、及ヒ、PeNaOsを用いたEL素子の比較を第1
表に挙げる。
第1表に示すように、PeNaOs膜を用いたEL素子
は、破壊電圧が最も高く、発光開始電圧と破壊電圧との
差が大きいため、破壊しにくい安定なEL素子を作成す
ることが可能できる。
は、破壊電圧が最も高く、発光開始電圧と破壊電圧との
差が大きいため、破壊しにくい安定なEL素子を作成す
ることが可能できる。
又、PN及びPNO膜の用い方は、他種の絶縁層と積層
にして用いることもできる。その実施例を第3図に示す
。第3図で、7はS i 02.5L3Na+Ta20
aなどの他種の絶縁膜であり、8はTNO膜である。第
3図の実施例以外にも、7と8を上下逆にして用いるこ
とや、PNO膜を第一、第二絶縁層のうち一方のみに用
いることにより破壊しにくい安定なEL素子を作成する
ことができる。
にして用いることもできる。その実施例を第3図に示す
。第3図で、7はS i 02.5L3Na+Ta20
aなどの他種の絶縁膜であり、8はTNO膜である。第
3図の実施例以外にも、7と8を上下逆にして用いるこ
とや、PNO膜を第一、第二絶縁層のうち一方のみに用
いることにより破壊しにくい安定なEL素子を作成する
ことができる。
本発明によれば、薄膜EL素子の破壊電圧を高くでき、
破壊しにくいEL素子を作成することができる。
破壊しにくいEL素子を作成することができる。
第1図は本発明の一実施例の薄膜EL素子の断面図、第
2図は、PNO膜中の酸素含有率を変えた場合の比誘電
率tr、破壊電界強度EBD、性能指数EoErEBD
(εO:真空の誘電率)を示す図。 第3図は、本発明の他の実施例の薄膜EL素子の断面図
である。 1・・・ガラス基板、2・・・透明電極、3・・・第−
絶縁膜、4・・・発光層、5・・・第二絶縁層、6・・
・背面電極、7 。 ・・・各種絶縁膜、8・・・PNO膜。 \ 代理人 G″!l /J゛J”°″I′” 、)夕め
1 閉 /−n゛う又苓不反 乙−背め電池 乎 2 口
2図は、PNO膜中の酸素含有率を変えた場合の比誘電
率tr、破壊電界強度EBD、性能指数EoErEBD
(εO:真空の誘電率)を示す図。 第3図は、本発明の他の実施例の薄膜EL素子の断面図
である。 1・・・ガラス基板、2・・・透明電極、3・・・第−
絶縁膜、4・・・発光層、5・・・第二絶縁層、6・・
・背面電極、7 。 ・・・各種絶縁膜、8・・・PNO膜。 \ 代理人 G″!l /J゛J”°″I′” 、)夕め
1 閉 /−n゛う又苓不反 乙−背め電池 乎 2 口
Claims (3)
- 1. 絶縁層として、窒化リン膜を用いることを特徴と
する薄膜発光素子。 - 2. 絶縁層として、酸窒化リン膜を用いることを特徴
とする薄膜発光素子。 - 3. 特許請求の範囲第2項において、前記酸窒化リン
膜は酸素を0.01〜50原子%含むことを特徴とする
薄膜発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62277432A JPH01120795A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | 薄膜発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62277432A JPH01120795A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | 薄膜発光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01120795A true JPH01120795A (ja) | 1989-05-12 |
Family
ID=17583481
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62277432A Pending JPH01120795A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | 薄膜発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01120795A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007142456A (ja) * | 2007-02-05 | 2007-06-07 | Fujitsu Ltd | 静電チャック |
-
1987
- 1987-11-04 JP JP62277432A patent/JPH01120795A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007142456A (ja) * | 2007-02-05 | 2007-06-07 | Fujitsu Ltd | 静電チャック |
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