JPS60253193A - アモルフアスシリコン系エレクトロルミネセンス装置及びその製造方法 - Google Patents

アモルフアスシリコン系エレクトロルミネセンス装置及びその製造方法

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JPS60253193A
JPS60253193A JP59108980A JP10898084A JPS60253193A JP S60253193 A JPS60253193 A JP S60253193A JP 59108980 A JP59108980 A JP 59108980A JP 10898084 A JP10898084 A JP 10898084A JP S60253193 A JPS60253193 A JP S60253193A
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amorphous silicon
film
amorphous
layer
silicon
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JPS6315715B2 (ja
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泰彦 笠間
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Alps Alpine Co Ltd
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Alps Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明はアモルファス・シリコン系材料を発光層とする
エレクトロルミネセンス装置(以下、1”J L装置と
略称する)及びその製造方法に関するものである。
(発明の背景) アモルファスソリコン系材料は大面積均質製膜が容易で
あるうえ、プラズマCVD法によれば、原料ガスの混会
比を変えるだけで添加原子との組成比を自由に変えるこ
とができる。それに伴い光学的禁制帯幅を広い範囲で自
由に制御できるため様々な色の発光かり能となり、HL
装置への応用が期待されている。
(便米技術と問題点) 第1図は発光層にアモルファスシリコンカーボンを用い
た従来の交流駆!+11型博膜EL装置の例である。透
明カラス基板1上にスパッタリンク法や蒸宥法でIn、
 0.、SnO2などの透明電極膜2を形成する。続い
て、第1絶縁体1−3として電子ビーム#層法でY、0
3層を形成した後、プラズマCVI)法でアモルファス
シリコンカーボン(a −S il−、(Cx:H)の
発光層4を形成する。さらに電子ビーム蒸着法でY、O
,の第2絶縁体層5を形成した後、蒸着あるいはスパッ
タリング法で対向′電極6を形成した1弓り装置が提案
されている。
従来の構造において、第1絶縁体層3は、EL装置とし
ての性能指数1、(誘電率εと絶縁破壊電界強度gbの
積で高いほどよい)を高く保ったうえで、低温形成可i
ヒでかつ透明″t!IL極膜2(In、、SnO,など
)との整合を図るため、電子ビーム蒸着法によるY、0
.が用いられている。この目的では、この他スパッタリ
ング法によるAI、03、Sin、、Ta、 0.、P
b Ti O,、更にHaTa、06 、PbNb、0
6、S r Ti O3などの多元系無+!に酸化物が
考えられる。
しかし、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法はいずれ
も方法自体が生産効率が悪いだけでな(、特に多元系化
合物では酸化物の組成制御も一般に峻かしい。才たSi
n、、AI、O,を除いて一般に特殊で藁価な原材料を
必要とする。
更に引き続き形成するプラズマCvL)法によるアモル
ファスソリコンカーボン(a−8i=xCx :ム])
の発光層4とは形成法が異なるため、製造工程途中にお
いて第1絶縁体層3と発光層4との間に汚染層を形成す
る可能性が激増する。第1絶縁体層3と発光層4の汚れ
た界面はEL装置の性能、信頼性の低下、歩溜りの低下
を招く。
また酸化物系の第1絶縁体層3はa−8ij、、)<C
x:Hの発光層4との界面に多くの界面準位を形成し、
駆動 値′低圧の上昇、応答速度の低下、発光効率の低
下などWL装置の性能の低下をおこすことが知られてい
る。
(発明の目的) 本発明はかかる従来の欠点を除去し、安価で、組成、膜
質の安定した絶縁層および、それと透明電極および発光
層との安定して整合のとれた界面を廟する、性能、信頼
性、歩溜りにおいて秀れたアモルファスシリコン糸gL
装置を得ることを目的とする。
(発明の構成) かかる目的を連成するため、本発明では、絶縁層として
望化ソリコンe縁ノーを用い、該絶縁層と透明電極膜と
の間に両層の整合を可能とするアモルファス・シリコン
膜のバッファ層を設け、かつ、前記バッファ層、窒化シ
リコン絶縁層、発光層の全てをプラズマCVD法により
同一反応槽中で連続的に形成することを特徴とする。
(発明の実施例) 第2図は1本発明のアモルファスソリコン系EL装置及
びその製造方法の1実施例を示す。透明電極膜2がパタ
ーニングされた透明ガラス基板1上にシラン、あるいは
ジシランガスを原料としてプラズマCVD法で200〜
300λ程度の極薄いアモルファスソリコンパソファ層
を形成し、続いて同−反応賛成で原料ガスを5i)i4
あるいはジシランと、アンモニアあるいは窒素との混合
ガスとしてプラズマCVD法により、200〜300λ
程度の第1の蒙化ソリコンに絶縁層8を形成する。更l
こひき続いて、原料カスをシラン、またはジンランとメ
タンあるいはエタン、またはプロパンまたはフロンガス
の混合ガスとして同一反応槽内で、アモルファスソリコ
ンカーボン膜の発光層4を1000X程度形成する。次
に、原料ガスを切り換え、前記第1の窒化ソリコン絶縁
層8の製法と同様に、第2のソリコン絶縁層9を形成す
る。最後に、該第2の窒化シリコン絶縁層9上に、At
などから成る対向電極6を所望のパターンに形成し、交
流駆動゛屯界効果型EL装置を製造する。なお、十分水
素を含んだアモルファスシリコン膜から成るバッファ層
7は、光学ギャップが1.8〜2.4Vと大きく、その
上、きわめて膜厚が薄いため、ロエ視光の透過率の低下
は小さい。また、製膜時の投入電力が極めて小さい(0
,I W/ca以下)ため、既に形成されている透明導
電膜2を損うことなく、また該透明導電膜2を強固な膜
で被うことができ、その後の第1の窒化ソリコン絶縁層
8の形成を容易にすることができる。
(発明の効果) 以上に説明したように、本発明のアモルファスソリコン
糸El、装置は、透明電極膜上に、アモルファスシリコ
ン膜から成るバッファ層を設けることにより、鴛化シリ
コンのようにすぐれた絶縁膜(高い性能指数と機械的強
度、経済性を有する)を絶縁層に用いることを可能とし
、更に窒化シリコン絶縁層、アモルファスソリコンカー
ボン膜の発光層、アモルファスシリコン膜のバッファ層
の全てを同一反応槽中で、原料ガスの簡単な切り換えの
みで連続的に形成することを可能としたため、精密な組
成制御、清浄な界面を実現し、幅広い発光波長域を有す
るアモルファスシリコン基1(L i置を再現性よく、
効率的に作成できるという顕著な効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のアモルファスシリコン、IL装置の部分
断面図、第2は本発明によるアモルファスソリフン系E
L装置の1実施例を示す部分軌血図である。 1・・・透明ガラス基板 2・・・透明電極膜 3・・・第is縁体層 4・・・発光層 5・・・第2P3縁体1− 6・・・対向電極 7・・・バッファ層 8・・・第1の窒化シリコン絶縁層 9・・・第2の窒化ソリコン絶縁層 特許出願人 アルプス電気株式会社 第1図 第2図 昭和5941; 7月/2日 特許庁長官 殿 1、事件の表示 特願昭59−108980号 2、発明の名称 アモルファスシリコン系エレクトロルミネセンス装置及
びその製造方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 〒145住所 東京都大田区雪谷大塚町1番7号八09
 名称 アルプス電気株式会判 明細内 (1)明細書箱5頁15行目に1200〜・300人」
とあるを[2000〜3000△]と補正する。 (2)明細書箱5頁16行目に「シリコンに絶縁層8」
とあるを「シリコン絶縁層8」と補正する。 手 続 ネ山 Di a <1ノ式) %式%[1 1、小書の表示 特願昭59−108980号 2、発明の名称 アモルファスシリコン系■レクトロルミネセンス装置及
びその製造方法 3 ンflI iI を づ る 者 Bイ′]との関係 11訂出願人 II I’li 〒145東京都人11区雪谷大塚町1
番7@名称AO9アルプス電気株式会社 昭和59年10月9日 (発送日 昭和59年10月30日) 5、補正の対蒙 願出の「特訂法第38条ただしがきの規定による特許出
願」の表示の欄、願書の特許請求の範囲に記載された発
明の数の欄、明細代の発明の詳細な説明の欄および図面
の簡単な説明の欄 6、補■の内容 (1)願書に「特許法第38条ただしがさの規定による
特許出願」及び願書の発明の名称の欄と発明者の欄との
間に[特許請求の範囲に記載された発明の数2」を加入
する。 (2)明細書箱4頁8行目に1駆動 値電圧」どあるを
「駆動量1IIi電圧」と補正する。 (3)明細用第7頁13行目に「第2は」とあるを「第
2図は」と補正づる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)透明’m極膜、窒化シリコン?P3縁層、及びア
    モルファスシリコンカーホン膜の発光j−からなるアモ
    ルファス系エレクトロルミネセンス装置において透明電
    極膜と窒化シリコン絶縁層との間にアモルファスソリコ
    ン膜のバッファ層を設けたことを特徴とするアモルファ
    スンリコン系エレクトロルミネセンス装置。
  2. (2) アモルファスソリコン膜のバッファ層、窒化ソ
    リコン絶縁層、アモルファスシリコンカーホン膜の発光
    層をプラズマCVD法により、同−反槽内で連続的に形
    成することを特徴とするアモルファスジルコン糸エレク
    トロルミネセンス装置の製造方法。
JP59108980A 1984-05-29 1984-05-29 アモルフアスシリコン系エレクトロルミネセンス装置及びその製造方法 Granted JPS60253193A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61188893A (ja) * 1985-02-14 1986-08-22 シャープ株式会社 薄膜発光素子の製造方法
JP2010174132A (ja) * 2009-01-29 2010-08-12 Japan Fine Ceramics Center 発光体およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61188893A (ja) * 1985-02-14 1986-08-22 シャープ株式会社 薄膜発光素子の製造方法
JPH0572078B2 (ja) * 1985-02-14 1993-10-08 Sharp Kk
JP2010174132A (ja) * 2009-01-29 2010-08-12 Japan Fine Ceramics Center 発光体およびその製造方法

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