JPH01119672A - 高硬度窒化ホウ素被覆部品 - Google Patents
高硬度窒化ホウ素被覆部品Info
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- JPH01119672A JPH01119672A JP27342687A JP27342687A JPH01119672A JP H01119672 A JPH01119672 A JP H01119672A JP 27342687 A JP27342687 A JP 27342687A JP 27342687 A JP27342687 A JP 27342687A JP H01119672 A JPH01119672 A JP H01119672A
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Landscapes
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- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明に非常に高硬度を有するのみならず、熱伝導率に
とみ、化学的に安定で、加えてダイヤモンドとは異なり
鉄族金属に対する耐性にも優れることから、切削工具、
耐摩工具などの工具材料、さらにはヒートシンクなどの
電子材料として用いられている立方晶窒化ホウgt−1
気相より基材表面に析出させた被覆部品に関するもので
ある。
とみ、化学的に安定で、加えてダイヤモンドとは異なり
鉄族金属に対する耐性にも優れることから、切削工具、
耐摩工具などの工具材料、さらにはヒートシンクなどの
電子材料として用いられている立方晶窒化ホウgt−1
気相より基材表面に析出させた被覆部品に関するもので
ある。
気相より基材表面に高硬度の窒化硼素を析出させて被覆
する従来技術として、例えば下記■〜■の方法等が知ら
れている。
する従来技術として、例えば下記■〜■の方法等が知ら
れている。
■ 特公昭60−181262号公報に示されるように
、ホウ素を含有する蒸発源から基体上にホウ案分を蒸着
させると共に、少なくとも窒素を含めイオン種を発生せ
しめるイオン発生源から基体上に該イオンat照射して
、該基体上に窒化ホウ素を生成させる窒化ホウ素膜の製
造方法。
、ホウ素を含有する蒸発源から基体上にホウ案分を蒸着
させると共に、少なくとも窒素を含めイオン種を発生せ
しめるイオン発生源から基体上に該イオンat照射して
、該基体上に窒化ホウ素を生成させる窒化ホウ素膜の製
造方法。
■ 「ジャーナル オプ マテリアル サイエンス レ
ターズ(Journal of materialsc
ience 1etters )、4(1985)51
〜54頁」に示されるように、E、 + N、プラズマ
によるボロンの化学輸送を行うことにより、立方晶窒化
ホウ素を生成する方法。
ターズ(Journal of materialsc
ience 1etters )、4(1985)51
〜54頁」に示されるように、E、 + N、プラズマ
によるボロンの化学輸送を行うことにより、立方晶窒化
ホウ素を生成する方法。
■ 〔雑波;「真空」第28巻第7号(1985年)2
9〜34頁〕に示されるように、ホウ素原子含有固体に
電子ビーム(EE)を当てることによりホウ素を蒸発さ
せて、それに窒素原子含有ガスを流しこみ、ホウ素及び
窒素を同時にイオン化することによシ、基板表面に立方
晶窒化ホウ素を生成する方法。
9〜34頁〕に示されるように、ホウ素原子含有固体に
電子ビーム(EE)を当てることによりホウ素を蒸発さ
せて、それに窒素原子含有ガスを流しこみ、ホウ素及び
窒素を同時にイオン化することによシ、基板表面に立方
晶窒化ホウ素を生成する方法。
しかしながら、従来の方法で作成した高硬度窒化ホウ素
被覆部品は、いずれも被覆膜と基材との接着強度が弱い
ことから、1μm以上の膜厚では被覆膜が基材から剥離
してしまい、全く実用性に欠けていた。一方、1μm以
下の膜厚では高硬度窒化ホウ素を被覆した効果が顕著に
は得られないという結果に終ってしまう。
被覆部品は、いずれも被覆膜と基材との接着強度が弱い
ことから、1μm以上の膜厚では被覆膜が基材から剥離
してしまい、全く実用性に欠けていた。一方、1μm以
下の膜厚では高硬度窒化ホウ素を被覆した効果が顕著に
は得られないという結果に終ってしまう。
本発明に高硬度窒化ホウ素と基材との接着力が向上し九
高硬度窒化ホウ素被覆部品を意図してなされたものであ
る。
高硬度窒化ホウ素被覆部品を意図してなされたものであ
る。
〔問題点を解決する九めの手段及び作用〕本発明は気相
よ)高硬度窒化ホウ素膜を基材−表面に析出させて被覆
し念高硬度窒化ホウ素被覆部品において、該高硬度窒化
ホウ素膜と基材との中間にチタン層を有してなる高硬化
窒化ホウ素被覆部品である。本発明の高硬度窒化ホウ素
被覆部品において該チタン層は厚さα01μm〜100
μmであることが好ましい。
よ)高硬度窒化ホウ素膜を基材−表面に析出させて被覆
し念高硬度窒化ホウ素被覆部品において、該高硬度窒化
ホウ素膜と基材との中間にチタン層を有してなる高硬化
窒化ホウ素被覆部品である。本発明の高硬度窒化ホウ素
被覆部品において該チタン層は厚さα01μm〜100
μmであることが好ましい。
本発明は基材上に気相合成法を用いて立方晶窒化ホウ素
を析出せしめる際に、基材と立方晶窒化ホウ素薄膜の間
にチタン(T1)層を中間層として被覆したことを特徴
とする被覆部品である。
を析出せしめる際に、基材と立方晶窒化ホウ素薄膜の間
にチタン(T1)層を中間層として被覆したことを特徴
とする被覆部品である。
従来の基材に直接立方晶窒化ホウ素を被覆した被覆部品
は、立方晶窒化ホウ素の内部応力により被覆が基材から
剥離しやすかった。本発明の中間層とするTi tj、
基材との密着性が高く、しかも立方晶窒化ホウ素との密
着性も高いので、両者の中間層とすることで接着性を高
めることができる。さらにTi rC焼結立方晶窒化ホ
ウ素の助剤としでも有効に作用するので、本発明の被覆
部品を製造する際の、立方晶窒化ホウ素の生成促進の役
割も期待できる。
は、立方晶窒化ホウ素の内部応力により被覆が基材から
剥離しやすかった。本発明の中間層とするTi tj、
基材との密着性が高く、しかも立方晶窒化ホウ素との密
着性も高いので、両者の中間層とすることで接着性を高
めることができる。さらにTi rC焼結立方晶窒化ホ
ウ素の助剤としでも有効に作用するので、本発明の被覆
部品を製造する際の、立方晶窒化ホウ素の生成促進の役
割も期待できる。
以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。
本発明の被覆部品は第1図に断面図を示すように、基材
1と表面の高硬度窒化ホウ素層30間にTi1i2を設
けた点に特徴がある◎該Ti層の厚さは101μm〜1
00μmが好ましく、特に好ましくはα1μm〜104
i1mである。T1層が(lL01μm未満でに、薄す
ぎて中間層としての上記し要件用効果を奏することがで
きず、一方100μmt−越えると中間層が厚すぎてそ
の内部応力によ)基材とTi層の間で剥離が起こる。
1と表面の高硬度窒化ホウ素層30間にTi1i2を設
けた点に特徴がある◎該Ti層の厚さは101μm〜1
00μmが好ましく、特に好ましくはα1μm〜104
i1mである。T1層が(lL01μm未満でに、薄す
ぎて中間層としての上記し要件用効果を奏することがで
きず、一方100μmt−越えると中間層が厚すぎてそ
の内部応力によ)基材とTi層の間で剥離が起こる。
また表面に被覆された高硬度窒化ホウ素層に厚さ1μm
〜100μmが好ましい。これは前記のように1μm以
下では薄きにすぎて超硬被覆部品としての性能を期待で
きず、100μmを越えると膜の内部応力による剥離を
生じ好ましくないからである。
〜100μmが好ましい。これは前記のように1μm以
下では薄きにすぎて超硬被覆部品としての性能を期待で
きず、100μmを越えると膜の内部応力による剥離を
生じ好ましくないからである。
本発明の被覆部品の基材としては、このような被覆をそ
の表面に形成することが可能である材料であれば特に限
定されるところはないが、例えばMO基板、シリコン基
板、VC−Co系のような超硬合金等が挙げられる。
の表面に形成することが可能である材料であれば特に限
定されるところはないが、例えばMO基板、シリコン基
板、VC−Co系のような超硬合金等が挙げられる。
本発明の被覆部品は以下のようにして製造できる。まず
上記し九ような基材の表面にT1 層を形成するが、こ
れは従来公知の例えばCVD法、イオンブレーティング
法、真空蒸着法等によればよい。
上記し九ような基材の表面にT1 層を形成するが、こ
れは従来公知の例えばCVD法、イオンブレーティング
法、真空蒸着法等によればよい。
Ti層の形成が終了した後その表面に高硬度窒化ホウ素
gを被覆するが、プラズマCVD法、イオンブレーティ
ング法等の従来技術によって行えばよい。例えはプラズ
マcvn法は窒素原子、ホウ素原子を含有する原料ガス
をプラズマによって分解・励起して、基材上に窒化ホウ
素を生成させる方法で、用いる装置は容量結合型と誘導
結合型とがある。上記原料ガスとしてはホウ素系ガスと
してBIE・、 BQts、 EIF、 等が挙げ
られ、窒素系ガスとしてu ”* t ”s 等が挙
げられる。成膜条件としては圧力α01〜400Tor
r Q範囲が、プラズマが安定して出るので好ましい
。またプラズマ出力は100W以上が好ましい。100
W以下では原料ガスを分解・励起するのに不足するから
である。
gを被覆するが、プラズマCVD法、イオンブレーティ
ング法等の従来技術によって行えばよい。例えはプラズ
マcvn法は窒素原子、ホウ素原子を含有する原料ガス
をプラズマによって分解・励起して、基材上に窒化ホウ
素を生成させる方法で、用いる装置は容量結合型と誘導
結合型とがある。上記原料ガスとしてはホウ素系ガスと
してBIE・、 BQts、 EIF、 等が挙げ
られ、窒素系ガスとしてu ”* t ”s 等が挙
げられる。成膜条件としては圧力α01〜400Tor
r Q範囲が、プラズマが安定して出るので好ましい
。またプラズマ出力は100W以上が好ましい。100
W以下では原料ガスを分解・励起するのに不足するから
である。
イオンブレーティング法は、成膜用材料をターゲットと
して、これを電子ビーム等によシ蒸発させると共に、基
材上にバイアスを印加することによって基材上に成膜す
る方法である。このときの原料としては、金属ホウ素(
E) e BIOl eEN等が挙げられ、窒素原子含
有ガスとしてMl 、 ME、等、キャリヤーガスとし
てIII、 及び不活性ガスのAr等が挙げられる。
して、これを電子ビーム等によシ蒸発させると共に、基
材上にバイアスを印加することによって基材上に成膜す
る方法である。このときの原料としては、金属ホウ素(
E) e BIOl eEN等が挙げられ、窒素原子含
有ガスとしてMl 、 ME、等、キャリヤーガスとし
てIII、 及び不活性ガスのAr等が挙げられる。
成膜条件は例えば圧力10−”Torr以下が好ましい
。101TOrr を越えると、蒸発した気化原料が
基材上に到達できなくなるからである。
。101TOrr を越えると、蒸発した気化原料が
基材上に到達できなくなるからである。
実施91J1
第2図に示す中空熱陰極放電を利用した装置を用いて1
本発明の高硬度窒化ホウ素被覆部品を作製し友。反応室
25内の基板用ヒータ14に基板1として0−Eliを
載置した。を九Ti層の原料21としてチタンをタング
ステンボード26に載置し、ホウ素原子含有物4として
は金属ホウ素を反応室内に図のように設置した。
本発明の高硬度窒化ホウ素被覆部品を作製し友。反応室
25内の基板用ヒータ14に基板1として0−Eliを
載置した。を九Ti層の原料21としてチタンをタング
ステンボード26に載置し、ホウ素原子含有物4として
は金属ホウ素を反応室内に図のように設置した。
まず排気装置24によシ反応室23内を1×10−’
Torr とし、チタン蒸着用電源22でタングステ
ンボード26の温度12200℃とし、蒸着時間5分の
条件で基板IrcTi 層を蒸着した。次に反応室23
内の圧力ftL8X10”−”Torr に設定し、窒
素原子含有ガス供給装置6からMH,t−導入し、窒素
原子含有ガス励起ノズ#10(i−該励起ノズル用電源
11によ)7ム×65Vのパワーとして励起して基材上
に活性化した窒素原子含有ガスを照射し、一方中空熱陰
極放電用ガス供給装置8からはArガスを300C/
min導入し、中空熱陰極放電子銃9に中空熱陰極放電
用電源12で120ム×40vの出力とし、陰極放電を
生ぜしめ金覆ホウ素を蒸発させた。また基材1はヒータ
14で700℃に加熱し、R?パワーは高周波プラズマ
電源13によ、912owとした。この条件で窒化ホウ
素の成膜f:60分間行なった。その結果、基材の0−
8i板に1μm厚のチタン膜を介して5μm厚の窒化ホ
ウ素膜の析出を見た。得られた被覆物品t−X線回折法
を用いて評価したところ2θ=4五36 付近に鋭いピ
ークを検出し、立方晶窒化ホウ素であると同定できた。
Torr とし、チタン蒸着用電源22でタングステ
ンボード26の温度12200℃とし、蒸着時間5分の
条件で基板IrcTi 層を蒸着した。次に反応室23
内の圧力ftL8X10”−”Torr に設定し、窒
素原子含有ガス供給装置6からMH,t−導入し、窒素
原子含有ガス励起ノズ#10(i−該励起ノズル用電源
11によ)7ム×65Vのパワーとして励起して基材上
に活性化した窒素原子含有ガスを照射し、一方中空熱陰
極放電用ガス供給装置8からはArガスを300C/
min導入し、中空熱陰極放電子銃9に中空熱陰極放電
用電源12で120ム×40vの出力とし、陰極放電を
生ぜしめ金覆ホウ素を蒸発させた。また基材1はヒータ
14で700℃に加熱し、R?パワーは高周波プラズマ
電源13によ、912owとした。この条件で窒化ホウ
素の成膜f:60分間行なった。その結果、基材の0−
8i板に1μm厚のチタン膜を介して5μm厚の窒化ホ
ウ素膜の析出を見た。得られた被覆物品t−X線回折法
を用いて評価したところ2θ=4五36 付近に鋭いピ
ークを検出し、立方晶窒化ホウ素であると同定できた。
実施例2
第3図に示すプラズマOVD法を利用した装置を用いて
、本発明の高硬度窒化ホウ素被覆部品を作製し念。反応
容器23内に基材1としてモリブデン基材を設置し、高
周波プラズマ電源13及びR−IPコイル16によシ該
モリブデン基材1を850℃に加熱しておく。チタン原
子含有ガス供給装置7からTiO4100Q: / m
in f反応室23内に供給し、排気装置24、排気口
25によ)反応室内圧力i 1 ’rorr に保ち
ながら、高周波プラズマ電源13によj5 R−IFコ
イル16を100Wの出力として、基材1にまずチタン
層?:10分間成膜した。
、本発明の高硬度窒化ホウ素被覆部品を作製し念。反応
容器23内に基材1としてモリブデン基材を設置し、高
周波プラズマ電源13及びR−IPコイル16によシ該
モリブデン基材1を850℃に加熱しておく。チタン原
子含有ガス供給装置7からTiO4100Q: / m
in f反応室23内に供給し、排気装置24、排気口
25によ)反応室内圧力i 1 ’rorr に保ち
ながら、高周波プラズマ電源13によj5 R−IFコ
イル16を100Wの出力として、基材1にまずチタン
層?:10分間成膜した。
次にR−11Fコイル出力を250Wにし、ホウ素原料
ガス供給装置5からB2H420CC/ min −窒
素原料ガス供給装置6からH倉15 cc/ minを
夫々反応室23内に供給し、窒素原子含有ガス励起用電
源20によ)対向電極18を1001の出力としてM8
ガスを励起し、反応室内の圧力t−5Torr に
保持し、窒化ホウ素膜の析出を120分間行った。
ガス供給装置5からB2H420CC/ min −窒
素原料ガス供給装置6からH倉15 cc/ minを
夫々反応室23内に供給し、窒素原子含有ガス励起用電
源20によ)対向電極18を1001の出力としてM8
ガスを励起し、反応室内の圧力t−5Torr に
保持し、窒化ホウ素膜の析出を120分間行った。
その結果、基材の81−0表面に厚さ15μmのチタン
中間層を介して、4μm厚さの窒化ホウ素膜を形成でき
た。得られた被覆部品について、ラマン分光分析法によ
シ評価したところ、1310副−1付近及び1055
f:IR−”に鋭いピークを検出したので、立方晶窒化
ホウ素であると同定でき念。
中間層を介して、4μm厚さの窒化ホウ素膜を形成でき
た。得られた被覆部品について、ラマン分光分析法によ
シ評価したところ、1310副−1付近及び1055
f:IR−”に鋭いピークを検出したので、立方晶窒化
ホウ素であると同定でき念。
比較例1
第2図の中空熱陰極放電を利用した装置を用いて、C−
a1基材にチタン層を形成することなく、直接高硬度窒
化ホウ素被覆を行った。ホウ素原料としては金属ホウ素
を用い、窒素原子含有原料としてはN8 を30 C
C/ minを供給し次。
a1基材にチタン層を形成することなく、直接高硬度窒
化ホウ素被覆を行った。ホウ素原料としては金属ホウ素
を用い、窒素原子含有原料としてはN8 を30 C
C/ minを供給し次。
中空熱陰極放電出力[190AX45V、窒素原子含有
ガス励起ノズルの出力を8ム×557、反応室内圧力1
×10″″” Torr h 基材温度760℃で4
0分開成膜を行った。その結果、4μm厚さの窒化硼素
膜が析出した。この膜についてX線回折法により評価し
たところ、2#=4五3゜付近で鋭いピークを検出し、
立方晶窒化ホウ素であると同定できた。しかしながらこ
の被覆部品の立方晶窒化ホウ素膜は基材から剥離しやす
かった。
ガス励起ノズルの出力を8ム×557、反応室内圧力1
×10″″” Torr h 基材温度760℃で4
0分開成膜を行った。その結果、4μm厚さの窒化硼素
膜が析出した。この膜についてX線回折法により評価し
たところ、2#=4五3゜付近で鋭いピークを検出し、
立方晶窒化ホウ素であると同定できた。しかしながらこ
の被覆部品の立方晶窒化ホウ素膜は基材から剥離しやす
かった。
比較実験
以上の実施例1.2及び比較例10条件で立方晶窒化ホ
ウ素膜を被覆できたので、これらの条件でチップにコー
ティングを行ない、得られ念被覆部品を用いて切削テス
トを行った。さら、に比較例2.5としてコーティング
なしのチップ及びC’VD法によりTinコーティング
をしたチップについても切削テストヲ行った。基体とし
たチップはWCC超超硬合金あるTPGIIll 60
40B であり、被覆の厚さはいずれも3μmに統一
した。切削テストの条件を表1に示す。
ウ素膜を被覆できたので、これらの条件でチップにコー
ティングを行ない、得られ念被覆部品を用いて切削テス
トを行った。さら、に比較例2.5としてコーティング
なしのチップ及びC’VD法によりTinコーティング
をしたチップについても切削テストヲ行った。基体とし
たチップはWCC超超硬合金あるTPGIIll 60
40B であり、被覆の厚さはいずれも3μmに統一
した。切削テストの条件を表1に示す。
また切削テスト結果を表2に示す。
宍 1
表 2
表2の結果から明らかなように窒化ホウ素被覆チップ(
実施例1及び2.比較列1)はコートなし又1j Ti
N被覆チップに比して、いずれも耐摩耗性に優れておシ
、特にT1 中間層を設けた本発明品(実施列1及び2
)はTi 層のない比較例1よシ耐摩耗性が優れている
。
実施例1及び2.比較列1)はコートなし又1j Ti
N被覆チップに比して、いずれも耐摩耗性に優れておシ
、特にT1 中間層を設けた本発明品(実施列1及び2
)はTi 層のない比較例1よシ耐摩耗性が優れている
。
実施例3、比較例4〜6
に種の超硬合金(aNMl11120408 ) e基
材として、α2μm厚のT1 コーティングをした後
さらに4μm厚の立方晶窒化ホウ素(cBN ) t−
コーティングした本発明品イ(実施例3)、同じ基材を
用いて4μm厚さのcEMのみをコーティングした従来
品口(比較例4)、4μm厚さのTie ’ii−コー
ティングした従来品ハ(比較列5)、基材そのもので被
覆なしの比較品二(比較例6)の4種のチップを作製し
、鋳鉄旋削により耐摩耗特性を評価した。切削条件は、
被削材: IFCD50、切削速度: 280 m /
min s切り込み=(L2■、送):11■/ r
eマである。結果を第4図の図表に45口、ハ、二の曲
線で示すが、本発明品イが非常に優れていることが確認
できた。
材として、α2μm厚のT1 コーティングをした後
さらに4μm厚の立方晶窒化ホウ素(cBN ) t−
コーティングした本発明品イ(実施例3)、同じ基材を
用いて4μm厚さのcEMのみをコーティングした従来
品口(比較例4)、4μm厚さのTie ’ii−コー
ティングした従来品ハ(比較列5)、基材そのもので被
覆なしの比較品二(比較例6)の4種のチップを作製し
、鋳鉄旋削により耐摩耗特性を評価した。切削条件は、
被削材: IFCD50、切削速度: 280 m /
min s切り込み=(L2■、送):11■/ r
eマである。結果を第4図の図表に45口、ハ、二の曲
線で示すが、本発明品イが非常に優れていることが確認
できた。
実施例4、比較例7〜9
P 、t+J (D超硬合金(TPMN 220408
) を基材として、1lL1μm厚のT1コーティン
グに3μm厚のCBMコーティングを重ねた本発明品(
実施列4)、同じ基材を用いて3μ 厚のcBNコーテ
ィングのみを行つな従来品(比較例7)、同じく3μm
厚のAz=osコーティングをした従来品(比較gAU
8)、基材そのもので被覆なしの比較品(比較例9)、
04種のチップを作製し、鋼旋削における耐欠損特性を
評価した。被削材としては80M 440の丸棒にU溝
を4ケ有するように加工したものを用いた。切削速度:
250Wl / min %切シ込み: CL2m、送
シ:α3■/revとし念。結果を第5図の図表に示す
が1本発明品が欠損に到るまでの衝撃回数が最も多く、
耐欠損特性に侵れることが明らかである。
) を基材として、1lL1μm厚のT1コーティン
グに3μm厚のCBMコーティングを重ねた本発明品(
実施列4)、同じ基材を用いて3μ 厚のcBNコーテ
ィングのみを行つな従来品(比較例7)、同じく3μm
厚のAz=osコーティングをした従来品(比較gAU
8)、基材そのもので被覆なしの比較品(比較例9)、
04種のチップを作製し、鋼旋削における耐欠損特性を
評価した。被削材としては80M 440の丸棒にU溝
を4ケ有するように加工したものを用いた。切削速度:
250Wl / min %切シ込み: CL2m、送
シ:α3■/revとし念。結果を第5図の図表に示す
が1本発明品が欠損に到るまでの衝撃回数が最も多く、
耐欠損特性に侵れることが明らかである。
[発明の効果]
以上説明し九ように、本発明の高硬度窒化ホウ素被覆部
品は、表面に被覆された立方晶窒化ホウ素によシ耐熱衝
撃性、熱伝導性、硬度、耐摩耗性及び高温での鉄族金属
に対する耐性に優れているに加え、中間に設けたT1
層によシ・被覆と基材の密着力が向上しており、本発明
品を製造する工程での剥離発生がないに加え、Ti層に
よる立方晶窒化ホウ素生成促進作用も期待できるので、
これを製造する上でも容易かつ有利であるという利点が
ある。
品は、表面に被覆された立方晶窒化ホウ素によシ耐熱衝
撃性、熱伝導性、硬度、耐摩耗性及び高温での鉄族金属
に対する耐性に優れているに加え、中間に設けたT1
層によシ・被覆と基材の密着力が向上しており、本発明
品を製造する工程での剥離発生がないに加え、Ti層に
よる立方晶窒化ホウ素生成促進作用も期待できるので、
これを製造する上でも容易かつ有利であるという利点が
ある。
第1図に本発明の高硬度窒化ホウ素被覆部品の断面図、
第2図及び第3図に本発明の被覆部品を製造する方法の
説明図であって、第2図は中空熱陰極放電法を利用し九
列、第3因はプラズマavD法を利用した例を夫々示し
ている。 第4図は本発明品と比較品の鋳鉄旋削における耐摩耗特
性を示す図表、第5図は本発明と比較品の鋼旋削におけ
る耐欠損性を示す図表である。
第2図及び第3図に本発明の被覆部品を製造する方法の
説明図であって、第2図は中空熱陰極放電法を利用し九
列、第3因はプラズマavD法を利用した例を夫々示し
ている。 第4図は本発明品と比較品の鋳鉄旋削における耐摩耗特
性を示す図表、第5図は本発明と比較品の鋼旋削におけ
る耐欠損性を示す図表である。
Claims (2)
- (1)気相より高硬度窒化ホウ素膜を基材表面に析出さ
せて被覆した高硬度窒化ホウ素被覆部品において、該高
硬度窒化ホウ素膜と基材との中間にチタン層を有してな
る高硬度窒化ホウ素被覆部品。 - (2)チタン層が厚さ0.01μm〜100μmである
特許請求の範囲第(1)項記載の高硬度窒化ホウ素被覆
部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27342687A JPH01119672A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 高硬度窒化ホウ素被覆部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27342687A JPH01119672A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 高硬度窒化ホウ素被覆部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01119672A true JPH01119672A (ja) | 1989-05-11 |
Family
ID=17527733
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27342687A Pending JPH01119672A (ja) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | 高硬度窒化ホウ素被覆部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01119672A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4986869A (en) * | 1985-08-30 | 1991-01-22 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Method employing input and output staging chamber devices for reduced pressure lamination |
US20130130513A1 (en) * | 2010-07-21 | 2013-05-23 | Tokyo Electron Limited | Interlayer insulating layer forming method and semiconductor device |
-
1987
- 1987-10-30 JP JP27342687A patent/JPH01119672A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4986869A (en) * | 1985-08-30 | 1991-01-22 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Method employing input and output staging chamber devices for reduced pressure lamination |
US20130130513A1 (en) * | 2010-07-21 | 2013-05-23 | Tokyo Electron Limited | Interlayer insulating layer forming method and semiconductor device |
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