JPH01112741A - 集積回路の接続方法 - Google Patents

集積回路の接続方法

Info

Publication number
JPH01112741A
JPH01112741A JP62270529A JP27052987A JPH01112741A JP H01112741 A JPH01112741 A JP H01112741A JP 62270529 A JP62270529 A JP 62270529A JP 27052987 A JP27052987 A JP 27052987A JP H01112741 A JPH01112741 A JP H01112741A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
bumps
master mask
integrated circuit
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62270529A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0466384B2 (ja
Inventor
Yasunori Kusakabe
日下部 保範
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seikosha KK
Original Assignee
Seikosha KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seikosha KK filed Critical Seikosha KK
Priority to JP62270529A priority Critical patent/JPH01112741A/ja
Publication of JPH01112741A publication Critical patent/JPH01112741A/ja
Publication of JPH0466384B2 publication Critical patent/JPH0466384B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、集積回路を回路基板に接続する集積回路の接
続方法に関するものである。
(従来の技術) 従来より集積回路の接続には種々の方法が開発されてい
るが、特に転写バンプ法として、特開昭59−2026
43号公報に示されているものがある。これは接続バン
プが設けられているLSI、封止樹脂フィルムを用いる
もので、このフィルムの作成に際して先ずポリエステル
フィルム上にアルミニウム膜をラミネートし、このアル
ミニウム膜上にポリイミド等の樹脂フィルムを被覆し、
この樹脂フィルムに適当な方法でバンプ形成用穴をあけ
る。この穴にメッキによってニッケル等のバンプを形成
する。その後ポリエステルフィルムを機械的に剥がし、
ついでアルミニウム膜をエツチング法により除去する。
このようにしてバンプを釘する封止樹脂フィルムを製造
する。そしてLSIの電極と、封止樹脂フィルムのバン
プと、基数上の接続端子との位置合わせをして接続する
ものである。
(発明が解決しようとする問題点) 上記した従来技術では′、LSI封止樹脂フィルムを製
造するのにポリエステルフィルム、アルミニウム膜、ポ
リイミドフィルム等3層のラミネート工程が必要で、当
然ながら接着剤塗布工程も必要で工程が複雑である。ポ
リイミドフィルムにはバンプ形成用穴が適当な方法であ
けられるのであるが、これは高精度な位置出しを必要と
するのでコストの上昇を招き、しかもこのポリイミドフ
ィルムはその都度消費されるので高コストである。
さらにアルミニウム膜は1回毎にエツチング法により除
去されるので、再度の使用ができず、しかもこのエツチ
ング工程がさらに必要である。このように全体として工
程数が多く複雑であり、高精度な作業が必要で、量産性
に劣るものであり、ポリイミドフィルムやアルミニウム
膜の再利用が不可能なため製造コストが極めて高くなる
などの問題がある。
そこで本発明の目的は、バンプ付きフィルムの製造工程
を簡単にして低コスト化を達成し、量産性および信頼性
を向上させる集積回路の接続方法を提供することにある
(問題点を解決するための手段) 本発明の特徴は、−旦高精度に形成されたマスターマス
クをバンプ付きフィルムの形成に繰返し使用するところ
にある。すなわち導電体の上面に集積回路のパッドに対
向する位置に孔部を有するメッキ用マスクを設けてなる
マスターマスクを形成し、このマスターマスクの孔部に
電気メッキによってバンプを形成し、マスターマスクの
上面に上記バンプを保持するバインダとして作用する樹
脂被膜を形成し、バンプおよび樹脂被膜をマスターマス
クから剥離させてバンプ付きフィルムを形成し、このバ
ンプ付きフィルムを集積回路と回路基板との間に位置合
せして挾持して接合するところにある。
(実施例) 本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
まずマスターマスク1を形成するには、第1図示のよう
に、セラミック、耐熱ガラスなど耐熱性が良くて熱膨張
係数の小さい材料で作られた絶縁性基板11の上面に、
スパッタリングによって金属、金属酸化物などの導電体
12が形成される。
この導電体にはバンプが剥がれやすい材料が用いられる
もので、バンプとして金がメッキされる際には、例えば
プラチナ、ニッケル、銅などで形成される。導電体12
の上面には、メッキ用マスク13がスパッタリングまた
はキャスティングによって形成される。メッキ用マスク
13はポリイミド樹脂あるいは酸化ケイ素など、その上
に形成されるバンプ付きフィルム2の剥離性が良く、ピ
ンホールの少ない材料で形成される。メッキ用マスク1
3には集積回路のパッドに対向する位置に、エツチング
等によって孔部14・・・が高精度に設けられる。また
マスターマスク1の上面には、フィルムの剥離を容易に
するための剥離用のテフロンコーティングを施してもよ
い。
バンプ付きフィルム2をこのマスターマスク1で形成す
るには、第2図示のようにマスターマスクの孔部14・
・・に電気メッキ法によって金などのバンプ21・・・
を盛り上げ状態に形成する。ついでマスターマスク1の
メッキ用マスク13の上面に樹脂被膜22を形成する。
この樹脂被膜22はバンプ21を保持するバインダとし
て作用するもので、その材料としては、バンプ21を金
で形成する場合には、ポリイミド樹脂など耐熱性の優れ
たものが望ましく、その形成方法はキャスティング。
ロールコータ−、スピンナー等の種々の手段が適用可能
である。この他にもバンプをハンダで形成する場合には
、耐熱性は劣るが、エポキシ系、ポリエステル系などの
樹脂被膜などを用いて形成してもよい。樹脂被膜22の
厚さはバンプ21のバインダとして作用すればよいので
、バンプ21の高さとほぼ同じ程度あるいはバンプ21
の頂部が露出する程度すなわち25〜50ミクロン程度
でよい。また、−度樹脂を厚めに形成した後、表面を薄
く削り、各々のバンプを強制的に露出させてもよい。つ
いで樹脂被膜22をバンプ21と共にマスターマスク1
から剥離させ、バンプ付きフィルム2を形成する。マス
ターマスク1にテフロンコーティングを施しである場合
にはこの剥離は一層容易となる。
マスターマスク1から剥離したバンプ付きフィルム2は
、バンプ21・・・の位置が第3図示のように集積回路
3の接続用パッド3a・・・に対向し、また回路基板4
の上面に形成されている配線パターン4a、4bに対向
するように位置合わせした後で、熱圧着、超音波接合あ
るいはサーモンニツク接合技術等によって接合し、集積
回路3を回路基板4に接続する。なお集積回路3の下面
にはパッド3a・・・を除く部分に保護膜3bが形成し
である。
さらにバンプ付きフィルム2をマスターマスク1から剥
離する際には、樹脂被膜22が半硬化状態とすることが
望ましい。この半硬化状態のバンプ付きフィルム2を集
積回路3と回路基板4との間に挾持して接合することに
より、接合後は完全硬化状態となり、接続部の封止作用
とともに集積回路を回路基板に接続する作用を果す。
(発明の効果) 以上に説明したように本発明では、高精度に形成された
マスターマスクを繰り返し使用してバンプ付きフィルム
を形成することができるので、コストの低減を達成でき
、工程数が減少し作業が簡略化できる。しかも高精度の
マスターマスクを使用するので高精度なバンプ付きフィ
ルムが形成でき、接続の信頼性を増大できる。さらに樹
脂被膜が半硬化状態で接合されることにより、確実に接
着され、その接続部の封止状態が向上する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の詳細な説明するもので、第1図はマスタ
ーマスクの形成工程、第2図はバンプ付きフィルムの形
成工程、第3図は集積回路と回路基板との接合工程を示
す断面図である。 1・・・マスターマスク、 12・・・導電体、 13昏・・メッキ用マスク、 14・・・孔部、 2−・Φバンプ付きフィルム、 21・・・バンプ、 22・・・樹脂被膜、3・・・集
積回路、 3a・・・パッド、4・・・回路基板。 以  上

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、導電体の上面に集積回路のパッドに対向する位置に
    孔部を有するメッキ用マスクを設けてなるマスターマス
    クを形成し、 上記マスターマスクの孔部に電気メッキによってバンプ
    を形成し、 上記マスターマスクの上面に上記バンプを保持するバイ
    ンダとして作用する樹脂被膜を形成し、上記バンプおよ
    び上記樹脂被膜を上記マスターマスクから剥離させてバ
    ンプ付きフィルムを形成し、 上記バンプ付きフィルムを集積回路と回路基板との間に
    位置合せして挾持して接合する ことを特徴とする集積回路の接続方法。 2、上記特許請求の範囲第1項において、バンプ付きフ
    ィルムの剥離は、樹脂被膜が半硬化状態で行われること
    を特徴とする集積回路の接続方法。
JP62270529A 1987-10-27 1987-10-27 集積回路の接続方法 Granted JPH01112741A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62270529A JPH01112741A (ja) 1987-10-27 1987-10-27 集積回路の接続方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62270529A JPH01112741A (ja) 1987-10-27 1987-10-27 集積回路の接続方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01112741A true JPH01112741A (ja) 1989-05-01
JPH0466384B2 JPH0466384B2 (ja) 1992-10-23

Family

ID=17487487

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62270529A Granted JPH01112741A (ja) 1987-10-27 1987-10-27 集積回路の接続方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01112741A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5197185A (en) * 1991-11-18 1993-03-30 Ag Communication Systems Corporation Process of forming electrical connections between conductive layers using thermosonic wire bonded bump vias and thick film techniques
US5275970A (en) * 1990-10-17 1994-01-04 Nec Corporation Method of forming bonding bumps by punching a metal ribbon

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5275970A (en) * 1990-10-17 1994-01-04 Nec Corporation Method of forming bonding bumps by punching a metal ribbon
US5197185A (en) * 1991-11-18 1993-03-30 Ag Communication Systems Corporation Process of forming electrical connections between conductive layers using thermosonic wire bonded bump vias and thick film techniques

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0466384B2 (ja) 1992-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH07506217A (ja) 製造された半導体ダイ上に電極の接続を形成する方法
JP2004119728A (ja) 回路装置の製造方法
JP2004119726A (ja) 回路装置の製造方法
JP2003007921A (ja) 回路装置およびその製造方法
JP2003007918A (ja) 回路装置の製造方法
KR100658022B1 (ko) 회로 장치의 제조 방법
JPH03178152A (ja) モールドicおよびその製造方法
JP2003007922A (ja) 回路装置の製造方法
KR100639737B1 (ko) 회로 장치의 제조 방법
JPS6150339A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH01112741A (ja) 集積回路の接続方法
JPH09306949A (ja) 複合バンプへのテープ自動化結合方法
JPH03101142A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH03129745A (ja) 半導体装置の実装方法
JP4073294B2 (ja) 回路装置の製造方法
JP2508494B2 (ja) フィルムキャリアの製造方法
JP3028413B1 (ja) 電子回路装置
JPH0385741A (ja) 半導体装置の製造方法
JP3021508B2 (ja) 導電突起の形成方法
JPS5940539A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2000299399A (ja) 半導体装置
JPH0677285A (ja) Ic素子の実装方法
JPH11102939A (ja) 半導体素子搭載用テープキャリアおよびこれを用いた半導体装置
JP3021509B2 (ja) 導電突起の形成方法
JPH02232947A (ja) 半導体集積回路装置およびその実装方法