JPH01107178A - 磁気ディスク媒体の重ね書き特性測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気ディスク媒体の重ね書き特性測定方法に関
する。

〔技術環境〕

近年の磁気ディスク媒体拡、記録する情報量の増大にと
もないますます高密度化、大容量化する傾向にある。こ
のため媒体の物理的欠陥が少なく、電磁気変換特性の良
いものが求められている。

この中で重ね書き特性も重ｉな特性で６〕、この特性の
悪い媒体は、同一トラック上で何回も、データの書直し
をすると、前に書いたデータパターンによる残留ノイズ
により、新しく書いたデータパターンの８／Ｎ比が悪く
なり、データの信頼性が低下するため、事前の重ね書き
特性の測定によフ不良品と判定し次工程に流さないよう
にする必要がある。

〔従来の技術〕

従来の磁気ディスク媒体の重ね書き特性の測定方法とし
ては、例えばＪＩ８　　Ｃ６２９０−１９８２ｒ２００
ｍｍ　７レキシプルデイスクカートリツジ」の中で規定
されているように ビ）［流消去、 （ロ）　　Ｉｆ周波数の基準信号の書込み、（ハ）　１
ｆ周波数成分平均出力■１ｆの測定、に）　２ｆ周波数
の基準信号の書込み、の手順により磁気ディスク媒体の
重ね書き特性を測定する方法がある。

Ｉｆおよび２ｆ周波数成分平均出力は周波数選択レベル
計（セレクティプ電圧計）により測定する。

第３図（ａ）　〜（ｄ）および第４図（ａｌ　〜（ｄ）
は、磁気ディスク媒体のリード信号の例でありともに第
３図（ａｌは周波数の再準信号金書込んだ後のリード信
号、第３図（ｂ）は２ｆ周波数の基準信号全型ね書きし
た後のリード信号、第３図（Ｃ）は第３図［ｂＪのリー
ド信号の１ｆ周波数成分の出力、第３図（ｄｌは第３図
（ｂｌのリード信号の２ｆ周波数成分の出力である。

重ね書き後のリード信号の歪みは、２ｆ周波数〔発明が
解決しようとする間粗点〕 上述した従来の磁気ティスフ媒体の１ね書き特性測定方
法は、１ｆ周波数成分平均出方の変化から重ね書きによ
る媒体のリード信号の歪みの大きさを測定するものであ
っ之。一般に記録電流ｉ　−定として磁気ティスフ媒体
に信号を書込んだ後、読出した信号の平均出刃は、書込
んだ時の周波数が高いほど出力値が小さくなることが知
られている。例えば５．２５インチの磁気ディスク媒体
の国際規格であるｌ５Ｏ−ｆ）ＩＳ７９２９の中で（イ
）直流消去、 （口ｌ　　１ｆ周波数の基準信号の書込、（ハ）　ｌト
ラック平均出刃Ｖ１ｆ測定、の手順で測定される１ｆの
平均出力Ｖ１１と（イ）　直流消去、 （口ｌ　　２ｆ周波数の基準信号の譬込み、（ハ）　１
トラツク平均出カ■２ｆ測定、＝　１．２５ＭＪ（ｚ　
、　２ｆ＝２．５ＭＨｚでＲＥＳ＝＝０．８±０．１３
といり規格値になっている。

従来の祠定力法では、分解能が悪＜２ｆの平均出力が１
ｆの平均出力より小さな媒体はど、重ね一謔きにより２
ｆの出力が、１ｆの残留出力の影響全相対的に大きく受
け、リード信号の歪みが大きくなる。しかし、１ｆ周波
数の基準信号を書込んだ後の１ｆの平均出力と、２ｆ周
波数の基準信号き重ね；芽きした後の１ｆ（Ｏｎ留出力
の比率が、同じであれば風ね導き特性のδｉす定値は同
じになってしまい実際のリード信号の歪みを正しく測定
できないという欠点があった。

〔問題点を解決する之めの手段〕

本発明の色気ディスク媒体の重ね書き特性測定方法は、 （イ）　直流消去ステップ、 （ロ）　　Ｉｆ周波数の基準信号の書込みステップ、（
ハ）　２ｆ周波数の基準信号の書込みステップ、に）　
１ｆ周波数成分平均出力■、ｆ′の測定およびとを含ん
で構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。

第１図は、本発明の一実施例を示すフローチャート、第
２図は磁気ディスク媒体の重ね書き特性測定装置の一実
施例全示すブロック図である。本発明にもとづく装置は
、磁気ディスク媒体を密着し、規定の一定回転で回転す
るティスフ回転部２と。

リードライト切替部４がらのリードライト信号ａにより
磁気ディスク媒体１への基準信号の書込みと出力信号の
読出しを行うリードライトヘッド３と、ＣＰＵ５からの
切替指令ｅによりリードライトヘッド３にライト信号選
択部６がら送られてきたフィト信号Ｃを出力するかリー
ドライトヘッド３を介して読出した信号をリード信号ｄ
として周波数選択レベル計７に出方するか切替えるリー
ドライト切替部４と、リード信号ｄ全入方し１ｆおよび
２ｆ周波数成分の平均出方ｅｆ測測定ＣＰＵ５に出力す
る周波数選択レベル計７と、ＣＰＵ５からの選択指令ｆ
によ）ライト信号Ｃとして１ｆあるいは２ｆ周波数の基
準信号か直流消去信号の３つの中のいづれか１つを出力
するライト信号選択部６と、切替指令すおよび選択指令
ｆ−６出力するとともに１ｆおよび２ｆ周波数成分の平
均出力ｅから重ね誉き特性値を計算し結果を測定結果ｇ
として出力するＣＰＵとｔ含んで構成される。

次に本発明の一実施例の動作について、７０−チャート
を用いて説明する。

まずＣＰＵ５はライト信号選択部６に：、直流消去信号
をライト信号Ｃとしてリードライト切替部４に送るよう
に選択指令ｆｔ−出力する。さらにＣＰＵ５はリードラ
イト切替部４に、ライト信号Ｃ（この場合は直流消去信
号）　ｔ−リードライトヘッド３に送るように切替指令
ｂ４出力する。この結果リードライトヘッド３により磁
気ディスク媒体１の１トラツクが直流消去される（８１
）。

次にＣＰＵ５はライト信号選択部６に、１ｆ周波数の基
準信号をライト信号Ｃとしてリードライト切替部４に送
るように選択指令ｆｔ−出力する。他は直流消去の時と
同様であり、この結果リードライトヘッド３を介して磁
気ディスク媒体１の１トラツクに１ｆ周波数の基準信号
を書込む（Ｓ２）。

次にＣＰＵ５はライト信号選択部６に２ｆ周波数の基準
信号をライト信号Ｃとしてリードライト切替部４に送る
ように、選択指令ｆ全出力する。他は直流消去の時と同
様であり、この結果リードライトヘッド３を介して磁気
ディスク媒体１の１トラツクに２ｆ周波数の基準信号ｔ
−蒼込む（Ｓ３）。

次にＣＰＵ５はリードライト切替部４に対して、磁気デ
ィスク媒体からリード信号ｄｉ−ｄ出し周波数選択レベ
ル計７に送るように、切替指令ｂｔ−出力する。周波数
選択レベル計７は、リード信号ｄの１ｆ周波数成分の平
均出力ｅｔ−測定し結果ｆｃＰＵ５に出力する。ＣＰＵ
５はこの平均出力ｅｆｔ■１ｆ′として記憶する（Ｓ４
）。

次に周波数選択レベル計７は、リード信号ｄの２ｆ周波
数成分の平均出力ｅを測定し結果ｔ−ＣＰＵ５に出力す
る。ＣＰＵ５はこの平均出力ｅ　ｆｔＶ　２１として記
憶する（Ｓ５）。

測定結果として出力する（Ｓ６）。

第３図（ａ）　〜（ｄ）および第４図（ａ）〜（ｄ）は
、磁気ディスク媒体のリード信号の例であり、この重ね
書き　　・とな〕値の大きな第４図（ａ）〜（ｄ）の例
の万が重ね書き特性が悪いことになる。つまり１ｆ周波
数成分が同一でも２ｆ周波数成分が異なる場合には、リ
ード信号の歪み万が違うので測定結果もそれに対応して
異なってくる。

〔発明の効果〕

本発明の磁気ディスク媒体の重ね書き特性測定方法は、
１ｆに２ｆの基準信号を重ね書きした後ろことによシ、
分解能の影響を含め九重ね書きによる実際の波形の歪み
の大きさを、より正確に現実的な特性値として測定する
ことができるため、磁気ディスク媒体の電磁気変換特性
に関する信頼性を大幅に向上させることができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すフローチャート、第２
図は本発明の方法の用いた装置の一実施例を示すブロッ
ク図、第３図（ａ）〜（ｄ）および第４図（ａ）〜（ｄ
）はリード信号の波形図である。 １・・・・・・磁気ディスク媒体、２・・・・・・ディ
スク回転部、３・・・・・・リードライトヘッド、４・
山・・リードライト切替部、５・・・・・・ＣＰＵ、６
・・・・・・ライト信号選択部、７・・・・・・周波数
選択レベル計、ａ・・・・・・リードライト信号１ｂ・
・・・・・切替指令、Ｃ・・・・・・ライト信号、ｄ・
・・・・・リード信号、ｅ・・・・・・平均出力、ｆ・
・・・・・選択指令、９・・・・・・測定結果。 代理人　弁理士　　内　原　　　晋 月　１７ 第　４−　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （イ）直流消去ステップ、 （ロ）１ｆ周波数の基準信号の書込みステップ、（ハ）
   ２ｆ周波数の基準信号の書込みステップ、（ニ）１ｆ周
   波数成分平均出力Ｖ＿１＿ｆ＿′の測定および２ｆ周波
   数成分平均出力Ｖ＿２＿ｆの測定ステップ、（ホ）Ｖ＿
   １＿ｆ＿′／Ｖ＿２＿ｆの計算ステップ、とを含むこと
   を特徴とする磁気ディスク媒体の重ね書き特性測定方法
   。