JPH01107113A - 渦流量計 - Google Patents

渦流量計

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JPH01107113A
JPH01107113A JP62264918A JP26491887A JPH01107113A JP H01107113 A JPH01107113 A JP H01107113A JP 62264918 A JP62264918 A JP 62264918A JP 26491887 A JP26491887 A JP 26491887A JP H01107113 A JPH01107113 A JP H01107113A
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JP
Japan
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vortex generator
vortex
fluid
passage
gauge
Prior art date
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Pending
Application number
JP62264918A
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English (en)
Inventor
Tokuji Saegusa
三枝 徳治
Toshio Aga
阿賀 敏夫
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、測定流体が流れることによって渦発生体に発
生するカルマン渦に起因する交番力の変化の回数から測
定流体の体積流量或いは質m流mを測定する渦流量計に
係り、特に微少流量を測定することが出来るように改良
した渦流量計に関する。
〈従来の技術〉 第5図は従来の渦Fffi計の構成を示す縦断面図であ
る。
10は円筒状の金属製の流体管路であり、この中に測定
流体が紙面に直角方向に流される。11はこの流体管′
s10に直角に設けられた円筒状のノズルである。
12はノズル11とは間隔を保って流体管路10に直角
に挿入された台形断面を持つ柱状の渦発生体であり、そ
の一端は支持棒13で流体管路10に支持され、他端は
フランジ部14でノズル11にネジ或いは溶接により固
定されている。
15は渦発生体12の7ランジ部14側に設けられた凹
部である。この凹部15の中にはその底部に台座16が
、この上に圧電素子17がそれぞれ配列され、これ等を
押圧棒18で凹部15の底部に押圧固定している。 ゛ 圧電素子17はその厚みが0.5〜0.3mm程度であ
り、その上に流れの方向に対して左右に分割された一対
の電極が配置されている。
以上の構成において、測定流体が流体管路10に流され
ると渦発生体12はカルマン渦を発生し、これにより渦
発生体12の長手方向に直角方向に交番力Fを発生する
。この交番力Fにより渦発生体12の中立軸に対して長
手方向の左右にそれぞれ圧縮応力と引張応力がその軸方
向に交互に発生する。
圧ffi素子17はこの圧縮応力と引張応力とを交互に
受けて圧電素子の表面に設けられた一対の電極に交互に
極性の責なる18荷を発生する。
これ等の電荷は図示しないチャージコンバータで電圧に
変換されて測定流出に対応した周波数の流M信号として
出力される。
この様な渦流m計は、原理的にゼロ変動がなく、出力が
周波数で取り出すことができ、かつ渦検出素子が測定流
体に直接触れないので信頼性が高く苛酷な条件の流体に
も適用できるなどの各種の利点を有している。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながら、この様な従来の渦流量計は以下に説明す
る問題点がある。
この従来の渦流量計の渦発生体は金属を加工して製作す
るので口径が小さくなると必要な加工精度を得ることが
出来ず、また圧電素子それ自体も所定の厚さを必要とし
現在より小さくすることは出来ず、その上に流体管路の
内面の粗さの影響も口径が小さくなると相対的に大きく
なってあられれる。
従って、この従来の渦流量計はこの構成の延長線上で口
径を小ざくして微少流量を測定することが出来るように
することが難しい、という問題がある。
く問題点を解決するための手段〉 この発明は、以上の問題点を解決するために、測定流体
が流れる流体通路と共にこの流体通路と1体の渦発生体
を異方性エツチングで内部に形成したシリコンプレート
と、この渦発生体の表面に形成され測定流体によって発
生する応力を検出して電気信号に変換するピエゾ抵抗ゲ
ージと、シリコンプレートの両面に陽極接合により接合
され測定流体を流すガラスチューブとを具備するように
したものである。
・く作 用〉 流体通路に測定流体が流されてこれにより流体通路に1
体に形成された渦発生体によりカルマン渦が発生され、
このカルマン渦により渦発生体に歪みの変化が生じ、こ
れを渦発生体に1体に形成されたピエゾ抵抗ゲージで電
気信号に変化して測定流体の流量を検出する。
〈実施例〉 以下、本発明の実施例について図面に基づき説明する。
第1図は本発明の1実施例の構成を示す断面図である。
第1図(イ)は流体通路部分の中心の軸方向断面を示す
断面図、第1図(ロ)は(イ)に示ずA−A′断面を示
す断面図である。
19は所定の厚みを持つ外形が矩形状のシリコンプレー
トであり、このシリコンプレート19の上方部の内部に
は矩形状の流体通路20が異方性エツチングにより打ち
抜き形成され、その中央には上下にこの流体通路20を
遮るように断面が台形状の渦発生体21が形成されてい
る。
渦発生体21の上下はこの渦発生体21より細い結合部
22.23で流体通路20と1体に結合されている。こ
の渦発生体21は測定流体Qの流れの上流側でd、下流
側でd−(d>d−)、厚みがhの柱状をなしている。
渦発生体21の結合部22或いは23の近傍にはピエゾ
抵抗ゲージ24が例えば拡散などの半導体技術により形
成されている。
この流体通路20の下方のシリコンプレート19の表面
には、このピエゾ抵抗ゲージ24で渦発生体21の歪み
が変換された電気信号を信号処理する信号処理回路25
が集積回路技術で形成されている。
以上のようにして各種の要素がエツチング或いは半導体
プロセスにより形成されたシリコンプレート19は、そ
の流体通路20が覆われるように両側からパイレックス
ガラスなどで出来たガラスチューブ27.28を用いて
陽極接合などにより接合され渦流量計29が形成される
次に、この様な渦流量計を製造する方法について第2図
を用いて説明する。
第2図(イ)はシリコン基板に回路素子などを形成する
工程を示す。シリコン基板30には最終的に多数のシリ
コンプレート19を形成する領域31n (n−1,2
、・・・)が区切られており、各領域31nごとにピエ
ゾ抵抗ゲージ24と信号処理回路25が各々半導体プロ
セスによって形成される。
第2図(ロ)では異方性エツチングにより各領域31n
に渦発生体21、流体通路20をそれぞれ形成する。こ
の領域の一部の渦発生体の断面部分2を(ロ)−に拡大
して示す。シリコン基板29の上面には流体通路20に
対応する部分を除いてマスク32が施されて異方性エツ
チングがなされる。
異方性エツチングで渦発生体21が形成された後では、
渦発生体21のテーバ部とシリコン基板の下面とで出来
るエツジ部Eは極めてシャープとなり、これは渦の生成
に重要な流れの剥離点となるので安定な渦を発生させる
のに寄与する。
第2図(ハ)はダイシングの工程を示す。第2図(イ)
、(ロ)で作られた多数のシリコンプレート19はこの
ダイシング工程により切り出され、この切り出されたシ
リコンプレート19はピエゾ抵抗ゲージ24、渦発生体
21、流体通路20、信号処理回路25などが内蔵され
ている。
第2図(ホ)は接合工程を示す。シリコンプレート19
の両側には、(ニ)に示すガラスチューブ27および2
8を流体通路20をII塞するように陽極接合などによ
り接合して渦流量側29を作る。
このようにして作られた渦流m計29は、第2図(ホ)
に示すようにその周囲を絶縁物33などでモールドして
完成される。
以上の製造方法から判るように、本渦流量計は半導体技
術を駆使することによって大量にかつ安価に製造するこ
とができるのである。
次に、このようにして製造された第1図に示す渦am計
の動作について第3図に示す説明図を用いて説明する。
測定流体Qが流体通路20にガラスチューブ28を介し
て流入すると、渦発生体21でカルマン渦が発生し渦発
生体21の長手方向に直角に周期的に渦放出に伴なう揚
力L(第3図(イ))が発生する。この揚力りにより、
渦発生体21の結合部22には第3図(ロ)に示すよう
に捩じれの応力τが発生し、これをピエゾ抵抗ゲージ2
4で検出して電気信号に変換する。
この場合、渦発生体21の寸法比をh/d−0゜95程
度、テーバ角θ−55°程度(但し、tanθ−2h/
(d−dl)にすると安定な渦が形成される。
ピエゾ抵抗ゲージ24で変換され流速に比例して周期的
に変化する電気信号は信号処理回路25で増幅され、流
量に比例した渦信号として外部に出力される。
渦発生体21の幅dは口径りが小さくなるにしたがって
小さくなるが、シリコンの微細加工ではdが1mmのオ
ーダでも十分な1111が得られるので、d/D中0.
28とすると、口径りが4mm程洩は容易に製作するこ
とができる。
なお、第1図に示す実施例では、ピエゾ抵抗ゲージ24
の出力の電気信号を同一のシリコンプレート19上に形
成した信号処理回路25で処理しているが、この信号処
理回路は別体として構成しても良い。
また、第1図に示す実施例では検出寸べき応力を捩じれ
による応力でとして求めているが、これに限られず第4
図に示ず様に構成しても良い。
渦発生体を第4図(イ)に示す様にその両端34a、3
4bに第3図に示す様なくびれた結合部22.23を持
たない渦発生体34としてその表面にピエゾ抵抗ゲージ
24を形成する。
′−そして、ピエゾ抵抗ゲージ24は交番揚力しに起因
する曲げモーメントM(第4図(ロ))による曲げ応力
σ、或いは交番抗力Rに起因する曲げモーメント(第4
図(ロ))による曲げ応力σが検出できるような位置に
選定し、この位置で曲げ応力σを検出するようにしても
良い。
シリコンプレート19にはピエゾ抵抗ゲージと共に温度
センサを形成することにより、温度も同時に測定し温度
補償に用いると温度誤差がより小さくなる。
また、ピエゾ抵抗ゲージ24からの信号の周波数fは流
速をVとすればfO:Vであり、その振幅Sは流体の密
度をρとすれば5ocpV’となる。
従って、信号処理回路25でS/fなる演算を実行すれ
ばS/foeρVとなり、質量流mρVを容易に求める
こともできる。
〈発明の効果〉 以上、実施例と共に具体的に説明したように本発明によ
れば、同一のシリコンプレートに渦発生体、流体通路、
ピエゾ抵抗ゲージなどがシリコンの微細加工技術により
形成されているので、コストの安い大量生産が可能であ
り、しかもこれ等の寸法の精度が良く小形で微少流層ま
で安定に測定できる。
4、図面のw!JIIIな説明 第1図は本発明の1実施例の構成を示す断面図、第2図
は第1図に示す渦流量計を製造する製造方法の工程を示
す工程図、第3図は第1図に示す実施例の動作を説明す
る説明図、第4図は第1図に示ず渦発生体とは異なる構
成の渦発生体の変形実施例を示す説明図、第5図は従来
の渦流量計の構成を示寸断面図である。
10・・・流体管路、12・・・渦発生体、17・・・
圧電素子、19・・・シリコンプレート、20・・・流
体通路、21・・・渦発生体、24・・・ピエゾ抵抗ゲ
ージ、25・・・信号処理回路、27.28・・・ガラ
スチューブ、29・・・渦流量計、30・・・シリコン
基板。
第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測定流体が流れる流体通路と共にこの流体通路と1体の
    渦発生体を異方性エッチングで内部に形成したシリコン
    プレートと、この渦発生体の表面に形成され前記測定流
    体によって発生する応力を検出して電気信号に変換する
    ピエゾ抵抗ゲージと、前記シリコンプレートの両面に陽
    極接合により接合され前記測定流体を流すガラスチュー
    ブとを具備することを特徴とする渦流量計。
JP62264918A 1987-10-20 1987-10-20 渦流量計 Pending JPH01107113A (ja)

Priority Applications (1)

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JP62264918A JPH01107113A (ja) 1987-10-20 1987-10-20 渦流量計

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JP62264918A JPH01107113A (ja) 1987-10-20 1987-10-20 渦流量計

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JPH01107113A true JPH01107113A (ja) 1989-04-25

Family

ID=17410011

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JP62264918A Pending JPH01107113A (ja) 1987-10-20 1987-10-20 渦流量計

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0912883A4 (ja) * 1996-01-22 1999-05-06
US7409872B2 (en) 2006-12-28 2008-08-12 Saginomiya Seisakusho, Inc. Vortex flow meter

Cited By (3)

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EP0912883A4 (ja) * 1996-01-22 1999-05-06
EP0912883A1 (en) * 1996-01-22 1999-05-06 Xros, Inc. Vane-type micromachined silicon micro-flow meter
US7409872B2 (en) 2006-12-28 2008-08-12 Saginomiya Seisakusho, Inc. Vortex flow meter

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