JPH01106348A - 光学的走査装置 - Google Patents
光学的走査装置Info
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- JPH01106348A JPH01106348A JP63239900A JP23990088A JPH01106348A JP H01106348 A JPH01106348 A JP H01106348A JP 63239900 A JP63239900 A JP 63239900A JP 23990088 A JP23990088 A JP 23990088A JP H01106348 A JPH01106348 A JP H01106348A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
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- G11B11/1055—Disposition or mounting of transducers relative to record carriers
- G11B11/10576—Disposition or mounting of transducers relative to record carriers with provision for moving the transducers for maintaining alignment or spacing relative to the carrier
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- Optical Head (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光学的回折に作用する素子を有し、３ビーム
法により磁気光学的記録担体な走査するための光学的走
査装置に関する。この３ビーム法では、その偏光面が一
方向に回転された主ビームが磁気光学的記録担体力）ら
第１の光検出器に反射され、その偏光面が他方の方向に
回転された主ビームが磁気光学的記録担体力・ら第２の
光検出器に反射され、第１の光検出器と第２の光検出器
の光電圧の差からデータ信号が形成される。
法により磁気光学的記録担体な走査するための光学的走
査装置に関する。この３ビーム法では、その偏光面が一
方向に回転された主ビームが磁気光学的記録担体力）ら
第１の光検出器に反射され、その偏光面が他方の方向に
回転された主ビームが磁気光学的記録担体力・ら第２の
光検出器に反射され、第１の光検出器と第２の光検出器
の光電圧の差からデータ信号が形成される。
従来の技術
ＣＤプレーヤに対するいわゆる光学的ピックアップ、光
学的走査装置の構成と機能は＠ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ
ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓ ＆ ａｐｐｌ ｊｃａｔｆｏｎ
ｓ”、第６巻、４号、１９８４年第２０９頁−２１５頁
に記載されている。
学的走査装置の構成と機能は＠ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ
ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓ ＆ ａｐｐｌ ｊｃａｔｆｏｎ
ｓ”、第６巻、４号、１９８４年第２０９頁−２１５頁
に記載されている。
カー効果を利用して、どのようにデータを磁気光学的デ
ィスク書き込み、そこから読み出すノカハ、Ｆｕｎｋｓ
ｃｈａｕ ｌ ３、ｌ ９８６年６月２０日第３７頁
−４１頁の「磁気光学的試みは継続する」という記事に
記載されている。
ィスク書き込み、そこから読み出すノカハ、Ｆｕｎｋｓ
ｃｈａｕ ｌ ３、ｌ ９８６年６月２０日第３７頁
−４１頁の「磁気光学的試みは継続する」という記事に
記載されている。
第１図には光学的走査装置が示されている。
この装置では３ビーム法によって磁気光学的ディスク６
が読み出される。光源１（通常はレーザー）から送出さ
れた光ビームはレンズ２２回折格子３．プリズムビーム
スプリッタ壬、および別のレンズ５を介して磁気光学的
ディスク６上にフォーカスされる。回折格子３により光
ビームは主ビームと＋１次、−１次、＋２次、−２次な
どのビームに分光される。主ビームはデータの読み出し
に用い、一方＋１次および一１次の２つのビームはトラ
ッキングエラー信４ＴＥ＝ＥＳ−ＦＳに用いる。磁気光
学的°ディスク６から反射されたビーム、主ビームなら
びに＋１および−１次のビーム（その偏光面は磁気光学
的ディスク６の磁化方向に従ってフォーカスで右または
在処回転される）は、レンズ５を介してプリズムビーム
スプリツ）午に戻る。プリズムビームスシリツタはビー
ムを直角に、λ／２板７とレンズ８を介して偏光ビーム
スプリッタ９に達するよう回折する。一方向、例えば右
に回転された主ビームはレンズ１０を介して光検出器１
１に達する。この光検出器は牛つの四。
が読み出される。光源１（通常はレーザー）から送出さ
れた光ビームはレンズ２２回折格子３．プリズムビーム
スプリッタ壬、および別のレンズ５を介して磁気光学的
ディスク６上にフォーカスされる。回折格子３により光
ビームは主ビームと＋１次、−１次、＋２次、−２次な
どのビームに分光される。主ビームはデータの読み出し
に用い、一方＋１次および一１次の２つのビームはトラ
ッキングエラー信４ＴＥ＝ＥＳ−ＦＳに用いる。磁気光
学的°ディスク６から反射されたビーム、主ビームなら
びに＋１および−１次のビーム（その偏光面は磁気光学
的ディスク６の磁化方向に従ってフォーカスで右または
在処回転される）は、レンズ５を介してプリズムビーム
スプリツ）午に戻る。プリズムビームスシリツタはビー
ムを直角に、λ／２板７とレンズ８を介して偏光ビーム
スプリッタ９に達するよう回折する。一方向、例えば右
に回転された主ビームはレンズ１０を介して光検出器１
１に達する。この光検出器は牛つの四。
分円Ａ、Ｂ、ＣおよびＤからなる。一方左に回転された
主ビームは光検出器１２に達する。その偏光面が右に回
転された＋１次のビームはレンズ１１を介して光検出器
Ｆに回折され、一方その偏光面が右に同様に回転された
一１次のビ ・−ムはレンズ１１を介して光検出器Ｅに
達する。
主ビームは光検出器１２に達する。その偏光面が右に回
転された＋１次のビームはレンズ１１を介して光検出器
Ｆに回折され、一方その偏光面が右に同様に回転された
一１次のビ ・−ムはレンズ１１を介して光検出器Ｅに
達する。
別の方向、図示例では左に回転された主ビームと同様に
左に回転された＋１および一１次のビームは光検出器１
２に達し、その光電圧ＧＳは差動増幅器１３の減算入力
端に供給される。四分円Ａ、Ｂ、ＣおよびＤの出力電圧
ＡＳ、ＢＳ。
左に回転された＋１および一１次のビームは光検出器１
２に達し、その光電圧ＧＳは差動増幅器１３の減算入力
端に供給される。四分円Ａ、Ｂ、ＣおよびＤの出力電圧
ＡＳ、ＢＳ。
Ｃ３およびＤＳは差動増幅器１３に供給される。
差動増幅器の出力側にてデータ信号５＝ＡＳ十ＣＳ＋０
３−ＰＳが取り出される。光検出器Ｅの光電圧ＥＳは差
動増幅器１４の加算入力側に印加される。一方元検出器
Ｆの光電圧は差動増幅器１％の減算入力側に供給される
。従って、差動増幅器１４の出力側ではトラッキングエ
ラー信号ＴＥ＝ＥＳ−ＦＳが取り出される。
３−ＰＳが取り出される。光検出器Ｅの光電圧ＥＳは差
動増幅器１４の加算入力側に印加される。一方元検出器
Ｆの光電圧は差動増幅器１％の減算入力側に供給される
。従って、差動増幅器１４の出力側ではトラッキングエ
ラー信号ＴＥ＝ＥＳ−ＦＳが取り出される。
四分円Ａ、８．ＣおよびＤを有する光検出器１１には主
ビームのみが、それに対し光検出器１２には主ビームの
外に０次よりも高いビームおよび低いビームが放射され
るので、データ信号Ｓのノイズが高くなる。この回折生
成（ビームが比較的に高いまたを工低い次に回折される
）による不所望なノイズを回避するために、光検出器１
２は主ビームのみがそこに達するように調整されなけれ
ばならない。この種の難しい調整にはほぼ１００μｍ領
域の調整が必要であり、難しいこつだけでな（多（の時
間を必要とする。
ビームのみが、それに対し光検出器１２には主ビームの
外に０次よりも高いビームおよび低いビームが放射され
るので、データ信号Ｓのノイズが高くなる。この回折生
成（ビームが比較的に高いまたを工低い次に回折される
）による不所望なノイズを回避するために、光検出器１
２は主ビームのみがそこに達するように調整されなけれ
ばならない。この種の難しい調整にはほぼ１００μｍ領
域の調整が必要であり、難しいこつだけでな（多（の時
間を必要とする。
発明が解決しようとする課題
本発明の課題を工、請求項１の上位概念による光学的走
査装置において、０次よりも比較的に高いおよび低い回
折生成波によるデータ信号でのノイズを第２の光検出器
を正確に調整する必要なしに回避することのできるよう
構成することである。
査装置において、０次よりも比較的に高いおよび低い回
折生成波によるデータ信号でのノイズを第２の光検出器
を正確に調整する必要なしに回避することのできるよう
構成することである。
課題を解決するための手段
この課題は本発明により、第２の光検出器にも＋１次よ
りも高いおよび−１次よりも低いビームが磁気光学的記
録担体から反射され、第２の光検出器の光電圧ＰＳから
データ信号を形成するために少な（とも＋１次および−
１次のビームから形成された光電圧を差し引（ことによ
り解決される。
りも高いおよび−１次よりも低いビームが磁気光学的記
録担体から反射され、第２の光検出器の光電圧ＰＳから
データ信号を形成するために少な（とも＋１次および−
１次のビームから形成された光電圧を差し引（ことによ
り解決される。
実施例
本発明を以下第２図に示した実施例に基づき説明する。
第１図に示したと同様に送出される光ビームはレンズ２
、回折格子３．プリズムビームスプリッタ牛および別の
レンズ５を介して磁気光学的ディスク６にフォーカスさ
れる。回折格子３により光ビームは主ビームならびに＋
１次、−１次、＋２次、−２次などのビームに分光され
る。主ビームはデータの読み出しに用い、一方＋１およ
び−１次の副ビームはトラッキングエラー信号ＴＥ＝Ｅ
Ｓ−ＦＳを形成するために用いられる。磁気光学的ディ
スク６から反射された主ビームおよび＋１、−１次のビ
ームの偏光面は、磁気光学的ディスク６の主ビームの焦
点−での磁化方向に応じて右または左に回転される。
、回折格子３．プリズムビームスプリッタ牛および別の
レンズ５を介して磁気光学的ディスク６にフォーカスさ
れる。回折格子３により光ビームは主ビームならびに＋
１次、−１次、＋２次、−２次などのビームに分光され
る。主ビームはデータの読み出しに用い、一方＋１およ
び−１次の副ビームはトラッキングエラー信号ＴＥ＝Ｅ
Ｓ−ＦＳを形成するために用いられる。磁気光学的ディ
スク６から反射された主ビームおよび＋１、−１次のビ
ームの偏光面は、磁気光学的ディスク６の主ビームの焦
点−での磁化方向に応じて右または左に回転される。
これらのビームはレンズ５を介してビームスプリッタ牛
に戻り、このビームスプリッタ÷はビームを直角に回折
し、ビームはλ／２板７とレン・ズ８を介して偏光ビー
ムスプリッタ９に達する。別の方向、例えば右に回転さ
れた主ビームはレンズ１０を介して光検出器１１に達す
る。
に戻り、このビームスプリッタ÷はビームを直角に回折
し、ビームはλ／２板７とレン・ズ８を介して偏光ビー
ムスプリッタ９に達する。別の方向、例えば右に回転さ
れた主ビームはレンズ１０を介して光検出器１１に達す
る。
この光検出器は蚤つの四分円Ａ、Ｂ、ＣおよびＯから構
成されている。一方左に回転された主ビームは光検出器
１２に回折される。＋１次のビーム（その偏光面は右に
回転されている）はレンズ１１を介して光検出器Ｆに回
折され、それに対し−１次めビームは（その偏光面は同
様に右に回転されている）レンズ１１を介して光検出器
Ｅに回折される。別の方向に回転された主ビーム（図示
の例では左）ならびに、同様に左に回転された＋１、−
１次のビームは光検出器１２に達する。光検出器Ｅの光
電圧ＥＳは差動増幅器１３の第１２１０算入力側および
差動増幅器１４の加算入力側に供給される。差動増幅器
１３の出力側からデータ信号Ｓが取り出される。
成されている。一方左に回転された主ビームは光検出器
１２に回折される。＋１次のビーム（その偏光面は右に
回転されている）はレンズ１１を介して光検出器Ｆに回
折され、それに対し−１次めビームは（その偏光面は同
様に右に回転されている）レンズ１１を介して光検出器
Ｅに回折される。別の方向に回転された主ビーム（図示
の例では左）ならびに、同様に左に回転された＋１、−
１次のビームは光検出器１２に達する。光検出器Ｅの光
電圧ＥＳは差動増幅器１３の第１２１０算入力側および
差動増幅器１４の加算入力側に供給される。差動増幅器
１３の出力側からデータ信号Ｓが取り出される。
光検出器Ｆの光電圧ＦＳは差動増幅器１３の第２加算入
力側と差動増幅器１缶の減算入力側に供給される。この
差動増幅器１４の出力側にてトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅ＝ＥＳ−ＦＳが取り出される。光検出器１１の個々の
四分円Ａ。
力側と差動増幅器１缶の減算入力側に供給される。この
差動増幅器１４の出力側にてトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅ＝ＥＳ−ＦＳが取り出される。光検出器１１の個々の
四分円Ａ。
Ｂ、ＣおよびＤの光電圧ＡＳ、ＢＳ、ＣＳおよびＤＳは
それぞれ差動増幅器１３０減算入力側に供給される。光
検出器Ｆの横の光検出器Ｇは、そこに＋１次よりも高い
ビームが達するように配属されている。光検出器Ｅの横
の光検出器Ｈに、そこに−１次よりも低いビームが達す
るように配属されている。光検出器Ｇ、Ｈおよび１２の
光電圧ＧＳ、Ｈ３およびＰＳは差動増幅器１３の各加算
入力側忙供給される。従って、差動増幅器１３ではデー
タ信号５＝ＥＳ＋ＦＳ＋ＧＳ＋ＨＳ＋ＰＳ−（ＡＳ＋Ｂ
Ｓ＋Ｃ５＋ＯＳ）が形成される。この信号は２つ００次
のビーム（右オよび左に回転された主ビーム）の差信号
のみを表す。なぜならば０次よりも高いおよび低い回折
生成による光電圧ＥＳ、ＦＳ、ＧＳおよびＨ３は、すべ
ての光電圧の和であるＰＳから減算されているからであ
る。光電圧ＥＳ。
それぞれ差動増幅器１３０減算入力側に供給される。光
検出器Ｆの横の光検出器Ｇは、そこに＋１次よりも高い
ビームが達するように配属されている。光検出器Ｅの横
の光検出器Ｈに、そこに−１次よりも低いビームが達す
るように配属されている。光検出器Ｇ、Ｈおよび１２の
光電圧ＧＳ、Ｈ３およびＰＳは差動増幅器１３の各加算
入力側忙供給される。従って、差動増幅器１３ではデー
タ信号５＝ＥＳ＋ＦＳ＋ＧＳ＋ＨＳ＋ＰＳ−（ＡＳ＋Ｂ
Ｓ＋Ｃ５＋ＯＳ）が形成される。この信号は２つ００次
のビーム（右オよび左に回転された主ビーム）の差信号
のみを表す。なぜならば０次よりも高いおよび低い回折
生成による光電圧ＥＳ、ＦＳ、ＧＳおよびＨ３は、すべ
ての光電圧の和であるＰＳから減算されているからであ
る。光電圧ＥＳ。
Ｆ：Ｓ、ＧＳお、１ＦＨＳＩＸ１８ｏ’だけ、光検出器
１２にて０次よりも高いおよび低い回折生成波により形
成された光電圧に対して位相がずれているので、それら
は加算的に相互に結合される。
１２にて０次よりも高いおよび低い回折生成波により形
成された光電圧に対して位相がずれているので、それら
は加算的に相互に結合される。
光電圧ＰＳ、すなわち主ビームおよびその偏光面が一方
光に回転された回折生成波により形成された光電圧から
、回折生成波に°よる光電圧が差動増幅器１３にて減算
されるので、光検出器１２に対しては比較的に大きな光
検出器を選択できる。この光検出器は冒頭に述べたよう
に正確に調整する必要がなく、大まかに調整しておけば
良い。
光に回転された回折生成波により形成された光電圧から
、回折生成波に°よる光電圧が差動増幅器１３にて減算
されるので、光検出器１２に対しては比較的に大きな光
検出器を選択できる。この光検出器は冒頭に述べたよう
に正確に調整する必要がなく、大まかに調整しておけば
良い。
第２図に示した実施例は、光検出器ＧおよびＨな省略す
ることにより簡素化されている。すなわち、光検出器１
２の光電圧ＧＳ力）らは、＋１および一１次の回折生成
波による光電圧のみが減算される。しかしそれによって
も、データ信号Ｓのノイズは大幅に減少される。
ることにより簡素化されている。すなわち、光検出器１
２の光電圧ＧＳ力）らは、＋１および一１次の回折生成
波による光電圧のみが減算される。しかしそれによって
も、データ信号Ｓのノイズは大幅に減少される。
発明の効果
本発明により、０次よりも比較的に高いおよび低い回折
生成波によるデータ信号でのノイズが、第２の光検出器
を正確に調整する必要なしに回避される。
生成波によるデータ信号でのノイズが、第２の光検出器
を正確に調整する必要なしに回避される。
第１図は光学的走査装置を示し、第２図は本発明忙よる
実施例を示す。 ｌ・・・光源、２・・・レンズ、３・・・回折格子、牛
・・・ビームスプリッタ、６・・・磁気光学的記録担体
、７・・・λ／２板、１１，１２・・・光検出器、ＴＥ
・・・トラッキングエラー信号
実施例を示す。 ｌ・・・光源、２・・・レンズ、３・・・回折格子、牛
・・・ビームスプリッタ、６・・・磁気光学的記録担体
、７・・・λ／２板、１１，１２・・・光検出器、ＴＥ
・・・トラッキングエラー信号
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光学的回折に作用する素子を有し、その偏光面が一
方向に回転された主ビームが磁気記録担体（６）から第
１の光検出器（１１）に反射され、またその偏光面が他
方向に回転された主ビームが磁気光学的記録担体（６）
から第２の光検出器（１２）に反射され、データ信号が
第１および第２の光検出器（１１、１２）の光電圧の差
から形成される３ビーム法による磁気光学的記録担体（
６）の走査用光学的走査装置において、第２の光検出器
（１２）に＋１次よりも高いおよび−１次よりも低いビ
ームが反射され、さらにデータ信号（Ｓ）を形成するた
めに、第２の光検出器（１２）の光電圧ＰＳから、少な
くとも＋１次および−１次のビームにより形成された光
電圧が減算されることを特徴とする光学的走査装置。 ２、第３の光検出器（Ｅ）が設けられており、この光検
出器に＋１次のビームが磁気光学的記録担体から反射さ
れ、また第４の光検出器（Ｆ）が設けられており、この
光検出器に−１次のビームが磁気光学的記録担体（６）
から反射され、第３および第４の光検出器（Ｅ、Ｆ）の
光電圧ＥＳおよびＦＳの差からトラツキングエラー信号
ＴＥ＝Ｅ５−Ｆ５が形成され、さらに光電圧ＥＳおよび
ＦＳは第２の光検出器（１２）の光電圧ＰＳから減算さ
れる請求項１記載の光学的走査装置。 ３、第５の光検出器（Ｇ）が設けられており、この光検
出器へ磁気光学的記録担体（９）は＋１次よりも高いビ
ームを反射し、第６の光検出器（Ｈ）が設けられており
、この光検出器へ磁気光学的記録担体（６）は−１次よ
りも低いビームを反射し、そして第５および第６の光検
出器（Ｇ、Ｈ）の光電圧ＧＳおよびＨＳの光電圧は第２
の光検出器（１２）の光電圧から減算される請求項２記
載の光学的走査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3732944.8 | 1987-09-30 | ||
| DE19873732944 DE3732944A1 (de) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | Optische abtastvorrichtung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01106348A true JPH01106348A (ja) | 1989-04-24 |
| JP2907842B2 JP2907842B2 (ja) | 1999-06-21 |
Family
ID=6337224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63239900A Expired - Lifetime JP2907842B2 (ja) | 1987-09-30 | 1988-09-27 | 光学的走査装置 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4959821A (ja) |
| EP (1) | EP0309675B1 (ja) |
| JP (1) | JP2907842B2 (ja) |
| KR (1) | KR960016890B1 (ja) |
| CN (1) | CN1012115B (ja) |
| AT (1) | ATE86776T1 (ja) |
| DE (2) | DE3732944A1 (ja) |
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-
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-
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- 1988-09-30 DK DK547988A patent/DK547988A/da not_active Application Discontinuation
- 1988-09-30 KR KR1019880012767A patent/KR960016890B1/ko not_active IP Right Cessation
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