JPH01106212A - スイッチング駆動回路 - Google Patents
スイッチング駆動回路Info
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- JPH01106212A JPH01106212A JP62264200A JP26420087A JPH01106212A JP H01106212 A JPH01106212 A JP H01106212A JP 62264200 A JP62264200 A JP 62264200A JP 26420087 A JP26420087 A JP 26420087A JP H01106212 A JPH01106212 A JP H01106212A
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
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- Electronic Switches (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、負荷への通電をON・OFF制御するスイッ
チング駆動回路に係わり、特にスイッチングトランジス
タに過電流が流れるのを防止する保護機能を設けたスイ
ッチング駆動回路に関する。
チング駆動回路に係わり、特にスイッチングトランジス
タに過電流が流れるのを防止する保護機能を設けたスイ
ッチング駆動回路に関する。
(従来の技術)
従来、3極管式の電離真空計では、フィラメントから放
出された電子をグリッドの正電位で加速し、この加速電
子によりガスをイオン化し、イオンを負電位のコレクタ
に集める。そして、イオン化されたガス分子によって流
れるイオン電流が、真空中の残留ガス圧力に比例するこ
とを利用して、真空度を測定している。
出された電子をグリッドの正電位で加速し、この加速電
子によりガスをイオン化し、イオンを負電位のコレクタ
に集める。そして、イオン化されたガス分子によって流
れるイオン電流が、真空中の残留ガス圧力に比例するこ
とを利用して、真空度を測定している。
このような電離真空計では、エミッション電流が変動す
ると、この変動によりイオン電流も変動するので正確な
真空度測定ができない。特に、フィラメントを加熱する
ための通電電流とエミッション電流との、関係は指数関
数的となる。このため、フィラメント電流を安定化しな
いと、電源型・圧変動等の外乱によりエミッション電流
が大きく変動してしまい、測定器として使用できない。
ると、この変動によりイオン電流も変動するので正確な
真空度測定ができない。特に、フィラメントを加熱する
ための通電電流とエミッション電流との、関係は指数関
数的となる。このため、フィラメント電流を安定化しな
いと、電源型・圧変動等の外乱によりエミッション電流
が大きく変動してしまい、測定器として使用できない。
従って、エミッション電流を安定に制御するエミッショ
ンコントロール装置が必要となる。
ンコントロール装置が必要となる。
この種の装置としては、エミッション電流を抵抗の電圧
降下環により検出し、この検出値を演算増幅器等を介し
てフィラメント電流にフィードバックする方法が考えら
れるが、これはアナログの負帰還制御で外乱を平均化し
て制御するものである。この場合、外乱に対して平均で
応答するので応答が遅く、また大きな外乱によりオーバ
シュートが生じてしまう。さらに、比例制御であること
から、数%オーダで揺ぎが生じる問題がある。
降下環により検出し、この検出値を演算増幅器等を介し
てフィラメント電流にフィードバックする方法が考えら
れるが、これはアナログの負帰還制御で外乱を平均化し
て制御するものである。この場合、外乱に対して平均で
応答するので応答が遅く、また大きな外乱によりオーバ
シュートが生じてしまう。さらに、比例制御であること
から、数%オーダで揺ぎが生じる問題がある。
また、増幅器出力をスイッチングレギュレータに入力し
、フィラメントの通電電流をON・OFF制御(増幅器
出力に応じてパルス幅を可変:PWM制御)することも
考えられる。しかしながら、この方法では応答時間の短
縮をはかることはできるが、オーバシュートの問題は依
然として解決できない。さらに、PWM制御するための
スイッチングレギュレータ等の複雑な回路が必要となり
、全体構成の複雑化を招く問題がある。
、フィラメントの通電電流をON・OFF制御(増幅器
出力に応じてパルス幅を可変:PWM制御)することも
考えられる。しかしながら、この方法では応答時間の短
縮をはかることはできるが、オーバシュートの問題は依
然として解決できない。さらに、PWM制御するための
スイッチングレギュレータ等の複雑な回路が必要となり
、全体構成の複雑化を招く問題がある。
一方、フィラメント電流をON・OFF制御する場合、
フィラメントのショート、オーブン或いはグリッド回路
のオーブン等の異常を検出する必要がある。特に、フィ
ラメントのショートはフィラメント通電回路に接続され
たスイッチング用のトランジスタ等の破壊を招き、グリ
ッド回路のオーブンはフィラメントにそのままパワーを
投入することになるのでフィラメントの寿命低下を招く
。
フィラメントのショート、オーブン或いはグリッド回路
のオーブン等の異常を検出する必要がある。特に、フィ
ラメントのショートはフィラメント通電回路に接続され
たスイッチング用のトランジスタ等の破壊を招き、グリ
ッド回路のオーブンはフィラメントにそのままパワーを
投入することになるのでフィラメントの寿命低下を招く
。
これらの異常を検出するには各部に検出器を設ければよ
いが、検出器の数が多くなり構成の複雑化を招く。また
、フィラメントのショートを検出するためにスイッチン
グ用のトランジスタと直列に電流検出用低抵抗を接続す
る方法もあるが、この場合は抵抗自体が損失源となり望
ましくない。特に、フィラメント通電回路等の小電圧、
大電流の回路では、電流検出用抵抗を入れるのは大きな
損失となる。
いが、検出器の数が多くなり構成の複雑化を招く。また
、フィラメントのショートを検出するためにスイッチン
グ用のトランジスタと直列に電流検出用低抵抗を接続す
る方法もあるが、この場合は抵抗自体が損失源となり望
ましくない。特に、フィラメント通電回路等の小電圧、
大電流の回路では、電流検出用抵抗を入れるのは大きな
損失となる。
(発明が解決しようとする問題点)
このように従来、フィラメント等の負荷を駆動する装置
においては、負荷の短絡によりスイッチングトランジス
タに過電流が流れトランジスタの破損を招く問題がある
。また、これを防止するためにスイッチングトランジス
タに直列に電流検出用抵抗を挿入すると、小電圧、大電
流の回路では電流検出用抵抗自体が大きな損失源になる
等の問題があった。
においては、負荷の短絡によりスイッチングトランジス
タに過電流が流れトランジスタの破損を招く問題がある
。また、これを防止するためにスイッチングトランジス
タに直列に電流検出用抵抗を挿入すると、小電圧、大電
流の回路では電流検出用抵抗自体が大きな損失源になる
等の問題があった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、その目的
とするところは、スイッチングトランジスタに直列に電
流検出用抵抗等を挿入することなく、負荷の短絡を検出
してスイッチングトランジスタを保護することができ、
信頼性の向上をはかり得るスイッチング駆動回路を提供
することにある。
とするところは、スイッチングトランジスタに直列に電
流検出用抵抗等を挿入することなく、負荷の短絡を検出
してスイッチングトランジスタを保護することができ、
信頼性の向上をはかり得るスイッチング駆動回路を提供
することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明の骨子は、負荷の両端電圧に基づいて負荷の短絡
を検出し、この短絡検出によりスイッチングトランジス
タを強制的にOFFすることにある。
を検出し、この短絡検出によりスイッチングトランジス
タを強制的にOFFすることにある。
即ち本発明は、負荷への通電電流をスイッチング駆動す
るスイッチング駆動回路において、電源と負荷との間に
直列に接続されたスイッチング用の第1のトランジスタ
と、負荷への通電指令によりオンされる第2のトランジ
スタと、前記負荷の両端電圧が所定値以上となるときオ
ンされる第3のトランジスタと、負荷への通電指令を入
力して一定時間だけ前記第1のトランジスタをオンする
手段とを具備し、前記第1のトランジスタを負荷への通
電指令を入力してからの一定時間以外に、前記第2及び
第3のトランジスタが共にオンのときオンするようにし
たものである。
るスイッチング駆動回路において、電源と負荷との間に
直列に接続されたスイッチング用の第1のトランジスタ
と、負荷への通電指令によりオンされる第2のトランジ
スタと、前記負荷の両端電圧が所定値以上となるときオ
ンされる第3のトランジスタと、負荷への通電指令を入
力して一定時間だけ前記第1のトランジスタをオンする
手段とを具備し、前記第1のトランジスタを負荷への通
電指令を入力してからの一定時間以外に、前記第2及び
第3のトランジスタが共にオンのときオンするようにし
たものである。
(作 用)
本発明によれば、負荷が短絡した場合負荷の両端電圧が
通常の電圧に比べて著しく低くなるので、この電圧変化
から負荷の異常(短絡)を第3のトランジスタにより検
出することができる。そして、負荷の短絡が検出された
ら第2のトランジスタがONであっても第3のトランジ
スタがOFFであるから、第1のトランジスタがOFF
となり、負荷への通電が自動的に停止される。これによ
り第1のトランジスタに過電流が流れるのを防止でき負
荷の短絡に伴うスイッチングトランジスタの破壊を防止
することが可能となる。
通常の電圧に比べて著しく低くなるので、この電圧変化
から負荷の異常(短絡)を第3のトランジスタにより検
出することができる。そして、負荷の短絡が検出された
ら第2のトランジスタがONであっても第3のトランジ
スタがOFFであるから、第1のトランジスタがOFF
となり、負荷への通電が自動的に停止される。これによ
り第1のトランジスタに過電流が流れるのを防止でき負
荷の短絡に伴うスイッチングトランジスタの破壊を防止
することが可能となる。
(実施例)
以下、本発明の詳細を図示の実施例によって説明する。
第1図は本発明の一実施例に係わるスイッチング駆動回
路を用いたエミッションコントロール装置を示す概略構
成図である。図中10は3極管式の電離真空計であり、
フィラメント11.グリッド12及びコレクタ13から
構成されている。この真空計10のコレクタ13にはイ
オン電流測定回路14が接続され、グリッド12には正
電圧を与えるためのグリッド定電圧回路15が接続され
ている。真空計10のフィラメント11には、フィラメ
ント電源21からの電流が後述するスイッチング駆動回
路22を介して供給されている。ここで、電源21は、
商用交流電圧を降圧・整流して低電圧V1の直流出力を
得るものである。
路を用いたエミッションコントロール装置を示す概略構
成図である。図中10は3極管式の電離真空計であり、
フィラメント11.グリッド12及びコレクタ13から
構成されている。この真空計10のコレクタ13にはイ
オン電流測定回路14が接続され、グリッド12には正
電圧を与えるためのグリッド定電圧回路15が接続され
ている。真空計10のフィラメント11には、フィラメ
ント電源21からの電流が後述するスイッチング駆動回
路22を介して供給されている。ここで、電源21は、
商用交流電圧を降圧・整流して低電圧V1の直流出力を
得るものである。
フィラメント13には抵抗R1* R2が並列に接続さ
れており、これらの抵抗R1,R2の接続点が抵抗R3
* R−1を直列に介して接地されている。そして、抵
抗R4にてエミッション電流が電圧に変換されて検出さ
れる。ここで、抵抗R1+R2は正確に等しい抵抗値を
持つものであり、中点電圧をとることによりトランジス
タQ1のスイッチングによる電圧ノイズをエミッション
電流の測定に影響しないようにする。抵抗R3は、フィ
ラメント11のバイアス用抵抗で、イオンゲージの動作
仕様により決める。
れており、これらの抵抗R1,R2の接続点が抵抗R3
* R−1を直列に介して接地されている。そして、抵
抗R4にてエミッション電流が電圧に変換されて検出さ
れる。ここで、抵抗R1+R2は正確に等しい抵抗値を
持つものであり、中点電圧をとることによりトランジス
タQ1のスイッチングによる電圧ノイズをエミッション
電流の測定に影響しないようにする。抵抗R3は、フィ
ラメント11のバイアス用抵抗で、イオンゲージの動作
仕様により決める。
抵抗R3,R4の接続点は抵抗R5を介して演算増幅器
23の非反転入力端に接続されている。
23の非反転入力端に接続されている。
演算増幅器14の反転入力端は基準電圧電源24に接続
され、非反転入力端と出力端との間には抵抗R6及びコ
ンデンサC1がそれぞれ接続され、これによりシュミッ
ト回路(比較回路)を構成している。そして、前記抵抗
R4により検出される電圧Veは比較回路により基準電
圧v2と比較され、検出電圧Veが基準電圧(基準電圧
V2の上限)よりも大きい場合に比較回路から“H″レ
ベル信号が出力され、検出電圧Veが基準電圧(基準電
圧v2の下限)よりも小さい場合に“L“レベルの信号
が出力されるものとなっている。ここで、抵抗R5,R
6は比較回路の正帰還抵抗であり、エミッション電流の
上限と下限を決定するものである。コンデンサC1は比
較回路における動作速度のスピードアップをはかるもの
である。
され、非反転入力端と出力端との間には抵抗R6及びコ
ンデンサC1がそれぞれ接続され、これによりシュミッ
ト回路(比較回路)を構成している。そして、前記抵抗
R4により検出される電圧Veは比較回路により基準電
圧v2と比較され、検出電圧Veが基準電圧(基準電圧
V2の上限)よりも大きい場合に比較回路から“H″レ
ベル信号が出力され、検出電圧Veが基準電圧(基準電
圧v2の下限)よりも小さい場合に“L“レベルの信号
が出力されるものとなっている。ここで、抵抗R5,R
6は比較回路の正帰還抵抗であり、エミッション電流の
上限と下限を決定するものである。コンデンサC1は比
較回路における動作速度のスピードアップをはかるもの
である。
比較回路の出力端には、抵抗R7及びフォトカブラ25
の発光素子(例えば発光ダイオード)Dlを介して電源
電圧Vecが供給されており、またフォトカブラ25の
受光素子(例えばフォトトランジスタ)D2は前記スイ
ッチング駆動回路22に接続されている。そして、前記
比較回路の比較出力に応じて、スイッチング駆動回路2
2により前記フィラメント11の通電がON・OFF駆
動される。つまり、比較回路の出力が“L”でフォトカ
ブラ25のD11D2がONのときスイッチング駆動回
路22によりフィラメント11が通電加熱され、比較囲
路の出力が“Hoでフォトカブラ25のり、、D2がO
FFのときスイッチング駆動回路22によりフィラメン
ト11の通電が停止されるものとなっている。
の発光素子(例えば発光ダイオード)Dlを介して電源
電圧Vecが供給されており、またフォトカブラ25の
受光素子(例えばフォトトランジスタ)D2は前記スイ
ッチング駆動回路22に接続されている。そして、前記
比較回路の比較出力に応じて、スイッチング駆動回路2
2により前記フィラメント11の通電がON・OFF駆
動される。つまり、比較回路の出力が“L”でフォトカ
ブラ25のD11D2がONのときスイッチング駆動回
路22によりフィラメント11が通電加熱され、比較囲
路の出力が“Hoでフォトカブラ25のり、、D2がO
FFのときスイッチング駆動回路22によりフィラメン
ト11の通電が停止されるものとなっている。
なお、フィラメントの熱的な遅れを測定すると数10a
secの時定数である。そこで、連続制御でなく、直接
フィラメント電流をスイッチングした場合を考えると、
エミッション電流のリップルを十分少なくするには20
KHz以上のスイッチングが必要となる。また、制御の
応答速度を最高にするには、リップルをそのまま判断に
使えば良い。
secの時定数である。そこで、連続制御でなく、直接
フィラメント電流をスイッチングした場合を考えると、
エミッション電流のリップルを十分少なくするには20
KHz以上のスイッチングが必要となる。また、制御の
応答速度を最高にするには、リップルをそのまま判断に
使えば良い。
一方、前記スイッチング駆動回路22は、第2図に示す
如くトランジスタQl−Q31抵抗R11〜R及びコン
デンサC11等から構成されている。
如くトランジスタQl−Q31抵抗R11〜R及びコン
デンサC11等から構成されている。
即ち、スイッチング用のパワーFET(第1のトランジ
スタ)Qlは電源21とフィラメント(負荷)11との
間に直列に接続され、フィラメント11には抵抗R、H
の直列回路が並列に接続されている。
スタ)Qlは電源21とフィラメント(負荷)11との
間に直列に接続され、フィラメント11には抵抗R、H
の直列回路が並列に接続されている。
バイポーラトランジスタ(第2のトランジスタ)Q2の
エミッタはトランジスタQ1のゲートに接続されると共
に抵抗R15を介して電源21の−ラインに接続され、
コレクタは抵抗R1□を介して電源21の+ラインに接
続されると共にコンデンサC11を介して電源21の−
ラインに接続されている。このトランジスタQ2のベー
スはスイッチング駆動回路22の入力端26となるもの
で、入力端26には前記フォトカブラ25の出力が供給
されている。そして、フォトカブラ25のD2がON、
つまり前記比較回路の出力が“Loのとき入力端26に
は“H”レベルの信号が入力され、D2がOFF、つま
り前記比較回路の出力が“H”のとき入力端26には“
L″レベル信号が入力されるものとなっている。
エミッタはトランジスタQ1のゲートに接続されると共
に抵抗R15を介して電源21の−ラインに接続され、
コレクタは抵抗R1□を介して電源21の+ラインに接
続されると共にコンデンサC11を介して電源21の−
ラインに接続されている。このトランジスタQ2のベー
スはスイッチング駆動回路22の入力端26となるもの
で、入力端26には前記フォトカブラ25の出力が供給
されている。そして、フォトカブラ25のD2がON、
つまり前記比較回路の出力が“Loのとき入力端26に
は“H”レベルの信号が入力され、D2がOFF、つま
り前記比較回路の出力が“H”のとき入力端26には“
L″レベル信号が入力されるものとなっている。
バイポーラトランジスタ(第3のトランジスタ)Q3の
エミッタは電源21の+ラインに接続され、コレクタは
抵抗R14を介してトランジスタQ2のコレクタに接続
されている。トランジスタQ3のベースが抵抗R、Hの
接続点に接続されている。そして、トランジスタQ3は
フィラメント11の両端電圧を抵抗RRで分圧した電圧
12’ 13 の大きさによりON・OFFされるものとなっている。
エミッタは電源21の+ラインに接続され、コレクタは
抵抗R14を介してトランジスタQ2のコレクタに接続
されている。トランジスタQ3のベースが抵抗R、Hの
接続点に接続されている。そして、トランジスタQ3は
フィラメント11の両端電圧を抵抗RRで分圧した電圧
12’ 13 の大きさによりON・OFFされるものとなっている。
次に、このように構成された本装置の作用について説明
する。
する。
まず、エミッション電流が小さく抵抗R4の両端電圧(
検出電圧)Veが基準電圧v2よりも低い場合、即ち第
3図中■の期間では、比較回路の出力は“L”レベルで
あり、このときフォトカブラ25のダイオードDlはO
Nl トランジスタD2もONとなる。従って、スイッ
チング駆動回路22によりフィラメント11に電流が供
給され、フィラメント温度は徐々に高くなる。
検出電圧)Veが基準電圧v2よりも低い場合、即ち第
3図中■の期間では、比較回路の出力は“L”レベルで
あり、このときフォトカブラ25のダイオードDlはO
Nl トランジスタD2もONとなる。従って、スイッ
チング駆動回路22によりフィラメント11に電流が供
給され、フィラメント温度は徐々に高くなる。
■の期間において上限のレベルは、演算増幅器23の非
反転入力端の電圧V′が基準電圧v2よりも高くなった
ときで、比較回路の出力が“L”であるから、 V’ −Ve −R6/ (R5+R6)が基準電圧v
°2を越えるときである。従って、抵抗R4の両端電圧
である検出電圧veがv2・(R5+Rb )/R6よ
り高くなった時、つまり基準電圧v2よりもv2・(R
5/R6)だけ高くなった時に比較回路の出力はH”レ
ベルとなる。そして、比較出力が“H”となった■の期
間ではダイオードD、はOFF、 トランジスタD2も
OFFとなり、スイッチング駆動回路22によるフィラ
メント11への通電が停止されることになる。
反転入力端の電圧V′が基準電圧v2よりも高くなった
ときで、比較回路の出力が“L”であるから、 V’ −Ve −R6/ (R5+R6)が基準電圧v
°2を越えるときである。従って、抵抗R4の両端電圧
である検出電圧veがv2・(R5+Rb )/R6よ
り高くなった時、つまり基準電圧v2よりもv2・(R
5/R6)だけ高くなった時に比較回路の出力はH”レ
ベルとなる。そして、比較出力が“H”となった■の期
間ではダイオードD、はOFF、 トランジスタD2も
OFFとなり、スイッチング駆動回路22によるフィラ
メント11への通電が停止されることになる。
■の期間において下限のレベルは、演算増幅器23の非
反転入力端の電圧V′が基準電圧v2よりも低くなった
ときで、比較回路の出力が“H”であるから、 v’ −Vce−(Vcc −Ve) ・R6/(R5
+R6)が基準電圧v2を一側に越えるときである。従
って、抵抗R4の両端電圧である検出電圧VcがV2−
(Vcc V2 ) ・(Rs / R6) ヨ
リ小さくなった時、つまり基準電圧v2よりも(Vcc
−V2)・(R5/R6)だけ低くなった時に比較回路
の出力は“L” レベルとなる。そして、比較出力が“
L”となった■の期間では、ダイオードD1がON、
トランジスタD2もONとなり、再びフィラメント1
1が通電加熱される。この操作の繰返しでフィラメント
電流はON・OFF制御され、エミッション電流は基準
値の上限と下限の間で変化することになる。
反転入力端の電圧V′が基準電圧v2よりも低くなった
ときで、比較回路の出力が“H”であるから、 v’ −Vce−(Vcc −Ve) ・R6/(R5
+R6)が基準電圧v2を一側に越えるときである。従
って、抵抗R4の両端電圧である検出電圧VcがV2−
(Vcc V2 ) ・(Rs / R6) ヨ
リ小さくなった時、つまり基準電圧v2よりも(Vcc
−V2)・(R5/R6)だけ低くなった時に比較回路
の出力は“L” レベルとなる。そして、比較出力が“
L”となった■の期間では、ダイオードD1がON、
トランジスタD2もONとなり、再びフィラメント1
1が通電加熱される。この操作の繰返しでフィラメント
電流はON・OFF制御され、エミッション電流は基準
値の上限と下限の間で変化することになる。
従って、R6)R5とすれば、上限、下限共に基準電圧
v2に極めて近くなり、上下限の幅が基準電圧に比べて
十分に小さくなり、エミッション電流は極めて微小な範
囲内で安定に保持されることになる。そしてこの場合、
エミッション電流が基準値の上限と下限との間の微小範
囲で常に安定するから、第4図中Aに示す如くオーバシ
ュートが発生することはない。これに対し比例制御では
、第4図中Bに示す如くオーバシュートが発生するので
ある。さらに、比例制御ではなく比較回路の2値出力に
よるON・OFF制御であるので、電源電圧変動等に対
して応答性良く制御することができる。
v2に極めて近くなり、上下限の幅が基準電圧に比べて
十分に小さくなり、エミッション電流は極めて微小な範
囲内で安定に保持されることになる。そしてこの場合、
エミッション電流が基準値の上限と下限との間の微小範
囲で常に安定するから、第4図中Aに示す如くオーバシ
ュートが発生することはない。これに対し比例制御では
、第4図中Bに示す如くオーバシュートが発生するので
ある。さらに、比例制御ではなく比較回路の2値出力に
よるON・OFF制御であるので、電源電圧変動等に対
して応答性良く制御することができる。
ところで、上記装置においてフィラメント回路のショー
ト等の異常が生じると、トランジスタQ1の破壊を招き
望ましくない。そこで本実施例では、スイッチング駆動
回路22により上記異常に対するスイッチングトランジ
スタQ1の保護機能を設けている。
ト等の異常が生じると、トランジスタQ1の破壊を招き
望ましくない。そこで本実施例では、スイッチング駆動
回路22により上記異常に対するスイッチングトランジ
スタQ1の保護機能を設けている。
前記比較回路の出力、即ち入力端26の出力が“L”
(フィラメント通電停止)のときは、トランジスタQ2
はOFF、)ランジスタQ1もOFFで、フィラメント
両端電圧VR−Oとなる。
(フィラメント通電停止)のときは、トランジスタQ2
はOFF、)ランジスタQ1もOFFで、フィラメント
両端電圧VR−Oとなる。
従って、トランジスタQ3もOFFとなる。コンデンサ
C1□は抵抗R1□により、略電源電圧vlまで充電さ
れる。
C1□は抵抗R1□により、略電源電圧vlまで充電さ
れる。
この状態で入力端26の出力を“H” (フィラメント
通電)にすると、トランジスタQ2がONとなり、コン
デンサC1lの電荷がトランジスタQ1の入力コンデン
サC1にチャージされ、Qlのスレッショルドレベルを
越すと、トランジスタQ1がONしてフィラメント11
に電流が供給される。
通電)にすると、トランジスタQ2がONとなり、コン
デンサC1lの電荷がトランジスタQ1の入力コンデン
サC1にチャージされ、Qlのスレッショルドレベルを
越すと、トランジスタQ1がONしてフィラメント11
に電流が供給される。
ここで、フィラメント11が正常な抵抗であれば、負荷
電圧vRは略電源電圧V1となり、抵抗R1□、R13
の負荷電圧検出回路の電圧もトランジスタQ3のスレッ
ショルドレベルを越すので、トランジスタQ3もONす
る。トランジスタQ3がONすると、トランジスタQ2
もONしているので、電源電圧v1を抵抗R、Rで分圧
する形でトランジスタQlのゲート電位が高くなるので
、トランジスタQ1もON状態を保持する。 −入
力端26の出力を“Loにすると、トランジスタQ2が
OFFとなり、トランジスタQ1の入力コンデンサC1
にチャージされた電荷は抵抗R15を通してディスチャ
ージされ、これによりトランジスタQ1はOFFする。
電圧vRは略電源電圧V1となり、抵抗R1□、R13
の負荷電圧検出回路の電圧もトランジスタQ3のスレッ
ショルドレベルを越すので、トランジスタQ3もONす
る。トランジスタQ3がONすると、トランジスタQ2
もONしているので、電源電圧v1を抵抗R、Rで分圧
する形でトランジスタQlのゲート電位が高くなるので
、トランジスタQ1もON状態を保持する。 −入
力端26の出力を“Loにすると、トランジスタQ2が
OFFとなり、トランジスタQ1の入力コンデンサC1
にチャージされた電荷は抵抗R15を通してディスチャ
ージされ、これによりトランジスタQ1はOFFする。
一方、フィラメント11がショートしている場合、トラ
ンジスタQ2をONしてトランジスタQlがONしても
、負荷電圧vRが電源電圧vlよりも十分に小さくなる
のテ、トランジスタQ3をONすることはできない。こ
のとき、トランジスタQ2をONしているので、トラン
ジスタQ1のゲート電圧は抵抗R、Rで電源電圧v1を
分圧した値まで下がってしまう。その電圧がトランジス
タQlのスレッショルドレベルより低いと、トランジス
タQ1はOFFとなり、トランジスタQlはフィラメン
ト11のショートによる過電流から保護されることにな
る。
ンジスタQ2をONしてトランジスタQlがONしても
、負荷電圧vRが電源電圧vlよりも十分に小さくなる
のテ、トランジスタQ3をONすることはできない。こ
のとき、トランジスタQ2をONしているので、トラン
ジスタQ1のゲート電圧は抵抗R、Rで電源電圧v1を
分圧した値まで下がってしまう。その電圧がトランジス
タQlのスレッショルドレベルより低いと、トランジス
タQ1はOFFとなり、トランジスタQlはフィラメン
ト11のショートによる過電流から保護されることにな
る。
ここで、各部の条件は次のように定めればよい。
Cxvl )vthxCl
R15/(R14+R15)xvlくv、hR/ (R
,5+R14) xVl )vthまた、抵抗RRはV
Rの判定レベルで、ト12’ 13 ランジスタQ3がON、っ、iすVt / (R14+
R15)の電流を流せるだけのトランジスタQ3のベー
ス電流となるよ・うに決める。
,5+R14) xVl )vthまた、抵抗RRはV
Rの判定レベルで、ト12’ 13 ランジスタQ3がON、っ、iすVt / (R14+
R15)の電流を流せるだけのトランジスタQ3のベー
ス電流となるよ・うに決める。
かくして本実施例によれば、電源電圧変動等の外乱に対
して応答性良くフィラメント電流を制御することができ
、しかもオーバシュートの発生を未然に防止することが
できる。また、回路構成が簡単であり、スイッチングに
よる0N−OFF制御であることから回路ロスが少ない
。スイッチングの周波数がシュミットの幅とフィラメン
トの応答速度で決り、フィラメントを変えても回路の応
答に影響ない(自動的にマツチングがとれる)。
して応答性良くフィラメント電流を制御することができ
、しかもオーバシュートの発生を未然に防止することが
できる。また、回路構成が簡単であり、スイッチングに
よる0N−OFF制御であることから回路ロスが少ない
。スイッチングの周波数がシュミットの幅とフィラメン
トの応答速度で決り、フィラメントを変えても回路の応
答に影響ない(自動的にマツチングがとれる)。
このため、電離真空計におけるエミッション電流の安定
化に極めて有効であり、真空度の測定精度の向上に寄与
することができる。
化に極めて有効であり、真空度の測定精度の向上に寄与
することができる。
また、フィラメント11のショートが生じた場合、スイ
ッチング駆動回路22によりフィラメントの通電を停止
することができる。従って、スイッチングトランジスタ
Q1に過電流が流れるのを防止し、負荷短絡に伴うトラ
ンジスタQlの破壊を未然に防止することができる。さ
らに、スイッチングトランジスタQ1と直列に電流検出
用抵抗を設ける構成とは異なり、ショート検出のために
フィラメント通電回路に余分な損失が増える等の問題は
ない。これはフィラメント通電等のように小電圧、大電
流の回路において特に有効である。
ッチング駆動回路22によりフィラメントの通電を停止
することができる。従って、スイッチングトランジスタ
Q1に過電流が流れるのを防止し、負荷短絡に伴うトラ
ンジスタQlの破壊を未然に防止することができる。さ
らに、スイッチングトランジスタQ1と直列に電流検出
用抵抗を設ける構成とは異なり、ショート検出のために
フィラメント通電回路に余分な損失が増える等の問題は
ない。これはフィラメント通電等のように小電圧、大電
流の回路において特に有効である。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。実施例では電離真空計のエミッションコントロール
装置に適用した例で説明したが、これに限らず各種機器
に適用できるのは勿論である。さらに、負荷はフィラメ
ントに限るものではなく、スイッチング駆動により通電
されるものであればよい。その他、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で、種々変形して実施することができる。
い。実施例では電離真空計のエミッションコントロール
装置に適用した例で説明したが、これに限らず各種機器
に適用できるのは勿論である。さらに、負荷はフィラメ
ントに限るものではなく、スイッチング駆動により通電
されるものであればよい。その他、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で、種々変形して実施することができる。
(発明の効果)
以上詳述したように本発明によれば、負荷の両端電圧を
検出してスイッチングトランジスタの0N−OFFを制
御しているので、電流検出用抵抗の付加に伴う損失を招
くことなく、負荷の短絡に伴うスイッチングトランジス
タの破壊を防止することができ、これによりスイッチン
グ駆動回路としての信頼性の向上をはかることができる
。
検出してスイッチングトランジスタの0N−OFFを制
御しているので、電流検出用抵抗の付加に伴う損失を招
くことなく、負荷の短絡に伴うスイッチングトランジス
タの破壊を防止することができ、これによりスイッチン
グ駆動回路としての信頼性の向上をはかることができる
。
第1図は本発明の一実施例に係わるスイッチング駆動回
路を用いたエミッションコントロール装置を示す概略構
成図、第2図は上記装置に用いたスイッチング駆動回路
の具体的構成を示す回路構成図、第3図及び第4図はそ
れぞれ上記装置の作用を説明するための模式図である。 10・・・電離真空計、11・・・フィラメント、12
・・・グリッド、13・・・コレクタ、14・・・イオ
ン電流測定回路、15・・・グリッド定電圧回路、21
・・・フィラメント電源、22・・・スイッチング駆動
回路、23・・・演算増幅器、24・・・基準電圧電源
、25・・・フォトカプラ、26・・・入力端子、Ql
・・・第1のトランジスタ(スイッチング用トランジス
タ)、Q2・・・第2のトランジスタ、Q3・・・第3
のトランジスタ、R・・・抵抗、C・・・コンデンサ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第3図
路を用いたエミッションコントロール装置を示す概略構
成図、第2図は上記装置に用いたスイッチング駆動回路
の具体的構成を示す回路構成図、第3図及び第4図はそ
れぞれ上記装置の作用を説明するための模式図である。 10・・・電離真空計、11・・・フィラメント、12
・・・グリッド、13・・・コレクタ、14・・・イオ
ン電流測定回路、15・・・グリッド定電圧回路、21
・・・フィラメント電源、22・・・スイッチング駆動
回路、23・・・演算増幅器、24・・・基準電圧電源
、25・・・フォトカプラ、26・・・入力端子、Ql
・・・第1のトランジスタ(スイッチング用トランジス
タ)、Q2・・・第2のトランジスタ、Q3・・・第3
のトランジスタ、R・・・抵抗、C・・・コンデンサ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第3図
Claims (4)
- (1)電源と負荷との間に直列に接続されたスイッチン
グ用の第1のトランジスタと、負荷への通電指令により
オンされる第2のトランジスタと、前記負荷の両端電圧
が所定値以上となるときオンされる第3のトランジスタ
と、負荷への通電指令を入力して一定時間だけ前記第1
のトランジスタをオンする手段とを具備し、前記第1の
トランジスタは負荷への通電指令を入力してからの一定
時間以外に、前記第2及び第3のトランジスタが共にオ
ンのときオンするものであることを特徴とするスイッチ
ング駆動回路。 - (2)前記第1のトランジスタは電界効果型パワートラ
ンジスタであり、前記第2及び第3のトランジスタはバ
イポーラトランジスタであることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載のスイッチング駆動回路。 - (3)前記第2のトランジスタは、エミッタを第1のト
ランジスタのゲートに接続すると共に抵抗R_1_5を
介して−ラインに接続し、ベースに負荷通電指令を入力
するものであり、前記第3のトランジスタは、エミッタ
を+ラインに接続し、コレクタを抵抗R_1_4を介し
て第2のトランジスタのコレクタに接続し、ベースを前
記負荷と並列接続された抵抗R_1_2、R_1_3の
中点に接続したものであり、前記第1のトランジスタを
一定時間オンする手段は、前記電源の+ラインから−ラ
インに抵抗R_1_1、コンデンサC_1_1を直列に
接続すると共に、抵抗R_1_1及びコンデンサC_1
_1の接続点を第2のトランジスタのコレクタに接続し
てなるものであることを特徴とする特許請求の範囲第2
項記載のスイッチング駆動回路。 - (4)前記負荷は、熱電子放出に供されるフィラメント
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のス
イッチング駆動回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62264200A JP2672951B2 (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | スイッチング駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62264200A JP2672951B2 (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | スイッチング駆動回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01106212A true JPH01106212A (ja) | 1989-04-24 |
JP2672951B2 JP2672951B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=17399875
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62264200A Expired - Fee Related JP2672951B2 (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | スイッチング駆動回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2672951B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011096542A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Shimadzu Corp | イオントラップ質量分析装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5836413A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-03-03 | Toray Ind Inc | 2軸延伸ポリエステルフイルム |
JPS61240309A (ja) * | 1985-02-21 | 1986-10-25 | ドイチエ・トムソン−ブラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 短絡耐性を有する電源装置 |
JPS63236111A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-10-03 | Nichicon Corp | 電源装置の遮断回路 |
-
1987
- 1987-10-20 JP JP62264200A patent/JP2672951B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5836413A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-03-03 | Toray Ind Inc | 2軸延伸ポリエステルフイルム |
JPS61240309A (ja) * | 1985-02-21 | 1986-10-25 | ドイチエ・トムソン−ブラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 短絡耐性を有する電源装置 |
JPS63236111A (ja) * | 1987-03-24 | 1988-10-03 | Nichicon Corp | 電源装置の遮断回路 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011096542A (ja) * | 2009-10-30 | 2011-05-12 | Shimadzu Corp | イオントラップ質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2672951B2 (ja) | 1997-11-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |