JP7728488B1 - 接合基板、接合基板の製造方法、及び、半導体装置の製造方法 - Google Patents
接合基板、接合基板の製造方法、及び、半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JP7728488B1 JP7728488B1 JP2025518326A JP2025518326A JP7728488B1 JP 7728488 B1 JP7728488 B1 JP 7728488B1 JP 2025518326 A JP2025518326 A JP 2025518326A JP 2025518326 A JP2025518326 A JP 2025518326A JP 7728488 B1 JP7728488 B1 JP 7728488B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- deposit
- end portion
- bonded
- upper substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P95/00—Generic processes or apparatus for manufacture or treatments not covered by the other groups of this subclass
Landscapes
- Recrystallisation Techniques (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2024/009922 WO2025191767A1 (ja) | 2024-03-14 | 2024-03-14 | 接合基板、接合基板の製造方法、及び、半導体装置の製造方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP7728488B1 true JP7728488B1 (ja) | 2025-08-22 |
| JPWO2025191767A1 JPWO2025191767A1 (https=) | 2025-09-18 |
| JPWO2025191767A5 JPWO2025191767A5 (https=) | 2026-02-18 |
Family
ID=96775422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2025518326A Active JP7728488B1 (ja) | 2024-03-14 | 2024-03-14 | 接合基板、接合基板の製造方法、及び、半導体装置の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7728488B1 (https=) |
| WO (1) | WO2025191767A1 (https=) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05304062A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Rohm Co Ltd | 接合ウェーハ及びその製造方法 |
| WO2014192411A1 (ja) * | 2013-05-29 | 2014-12-04 | 住友電気工業株式会社 | 炭化珪素基板および炭化珪素半導体装置ならびに炭化珪素基板および炭化珪素半導体装置の製造方法 |
| WO2018055838A1 (ja) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | 株式会社テンシックス | 半導体素子の製造方法及び半導体基板 |
-
2024
- 2024-03-14 JP JP2025518326A patent/JP7728488B1/ja active Active
- 2024-03-14 WO PCT/JP2024/009922 patent/WO2025191767A1/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05304062A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Rohm Co Ltd | 接合ウェーハ及びその製造方法 |
| WO2014192411A1 (ja) * | 2013-05-29 | 2014-12-04 | 住友電気工業株式会社 | 炭化珪素基板および炭化珪素半導体装置ならびに炭化珪素基板および炭化珪素半導体装置の製造方法 |
| WO2018055838A1 (ja) * | 2016-09-23 | 2018-03-29 | 株式会社テンシックス | 半導体素子の製造方法及び半導体基板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPWO2025191767A1 (https=) | 2025-09-18 |
| WO2025191767A1 (ja) | 2025-09-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110301034B (zh) | 碳化硅层叠基板及其制造方法 | |
| TWI741094B (zh) | 具有整合式夾鉗二極體之橫向高電子遷移率電晶體 | |
| KR100819222B1 (ko) | 고온 방열 복합 구조체 | |
| US20110318860A1 (en) | Group-III Nitride Epitaxial Layer on Silicon Substrate | |
| JP7118069B2 (ja) | 縦型パワーデバイスのための方法およびシステム | |
| US20070278574A1 (en) | Compound semiconductor-on-silicon wafer with a thermally soft insulator | |
| JP7791179B2 (ja) | ガリウムベースのiii-n合金の層をエピタキシャル成長させるための基板を製造するための方法 | |
| JP2009081352A (ja) | 半導体基板の製造方法及び半導体基板 | |
| JP2016171265A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| CN112038396A (zh) | 氮化镓肖特基二极管及其制备方法 | |
| JP6658171B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| TW202331814A (zh) | 半導體基板,半導體裝置,半導體基板的製造方法及半導體裝置的製造方法 | |
| US8698161B2 (en) | Semiconductor structures having directly bonded diamond heat sinks and methods for making such structures | |
| JP7728488B1 (ja) | 接合基板、接合基板の製造方法、及び、半導体装置の製造方法 | |
| CN116013982B (zh) | 一种降低晶格失配的GaN HEMT功率器件 | |
| JP2011171639A (ja) | 半導体装置、半導体ウェハ、半導体装置の製造方法及び半導体ウェハの製造方法 | |
| JP2017139266A (ja) | 複合基板、半導体装置、およびこれらの製造方法 | |
| JP2023542884A (ja) | ガリウムベースのiii-n合金の層をエピタキシャル成長させるための基板を製造するための方法 | |
| JP5972917B2 (ja) | 空間的に閉じ込められた誘電体領域を含む半導体構造 | |
| JP7791180B2 (ja) | ガリウムベースのiii-n合金の層をエピタキシャル成長させるための基板を製造するための方法 | |
| US20150287839A1 (en) | Schottky barrier diode and method of manufacturing the same | |
| JP2022186426A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JP2023172730A (ja) | 炭化珪素半導体装置の製造方法 | |
| JP2003178983A (ja) | 炭化珪素基板及びその製造方法、及び半導体装置及びその製造方法 | |
| CN121666051A (zh) | 一种可转移衬底的半导体器件及其制备方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250327 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20250327 |
|
| A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20250327 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250520 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250709 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20250715 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20250812 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7728488 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |