JP7422141B2 - 多源照明ユニット及びその動作方法 - Google Patents
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- 238000011017 operating method Methods 0.000 title 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 96
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 40
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 33
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 9
- 238000005339 levitation Methods 0.000 claims description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 49
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 31
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 11
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 4
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 3
- VSQYNPJPULBZKU-UHFFFAOYSA-N mercury xenon Chemical compound [Xe].[Hg] VSQYNPJPULBZKU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 102000001554 Hemoglobins Human genes 0.000 description 1
- 108010054147 Hemoglobins Proteins 0.000 description 1
- 208000025174 PANDAS Diseases 0.000 description 1
- 208000021155 Paediatric autoimmune neuropsychiatric disorders associated with streptococcal infection Diseases 0.000 description 1
- 240000000220 Panda oleosa Species 0.000 description 1
- 235000016496 Panda oleosa Nutrition 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- 230000017531 blood circulation Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000002207 metabolite Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 230000036284 oxygen consumption Effects 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000000287 tissue oxygenation Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
- G01N21/9505—Wafer internal defects, e.g. microcracks
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/70605—Workpiece metrology
- G03F7/70616—Monitoring the printed patterns
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/70605—Workpiece metrology
- G03F7/706843—Metrology apparatus
- G03F7/706849—Irradiation branch, e.g. optical system details, illumination mode or polarisation control
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- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
- G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N2021/8835—Adjustable illumination, e.g. software adjustable screen
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
- Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Traffic Control Systems (AREA)
- Pinball Game Machines (AREA)
- Slot Machines And Peripheral Devices (AREA)
Description
[0001] 本出願は、2018年10月11日に出願された米国特許出願第62/744,558号の優先権を主張するものであり、その全体が参照により本明細書に組み込まれる。
1.サンプルの第1の領域を照明するために第1の電磁波を第1の方向に出力するための回路を含む第1の電磁波源と、
第2の電磁波を前記第1の方向と略反対の第2の方向に出力するための回路を含む第2の電磁波源と、
前記サンプルの第2の領域を照明するために前記第2の電磁波を略前記第1の方向に反射するように構成されたリフレクタと、
を備える、照明ユニット。
2.前記第1の電磁波源を制御するための回路を含む第1のコントローラと、
前記第2の電磁波源を制御するための回路を含む第2のコントローラと、を更に備え、
前記第1のコントローラ及び前記第2のコントローラは独立して動作する、条項1に記載の照明ユニット。
3.前記第1の電磁波源を前記第1の方向に移動させるように前記第1のコントローラにより制御される第1の移動機構を更に備える、条項2に記載の照明ユニット。
4.前記第2の電磁波源を前記第2の方向に移動させるように前記第2のコントローラにより制御される第2の移動機構を更に備える、条項2又は3に記載の照明ユニット。
5.前記第1の移動機構又は前記第2の移動機構は、サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム、又は磁力制御システムを含む、条項3又は4に記載の照明ユニット。
6.サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム、又は磁力制御システムを含む、前記第1の移動機構又は前記第2の移動機構は、サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム、又は磁力制御システムのうちの1つ又は複数を含む、前記第1の移動機構及び前記第2の移動機構を含む、条項5に記載の照明ユニット。
7.前記第1の電磁波源の照明面に面する第1のディフューザであって、前記第1の電磁波源から出力された前記第1の電磁波を拡散させるように構成される、第1のディフューザを更に備える、条項1~6の何れか一項に記載の照明ユニット。
8.前記リフレクタの直径は、前記第1のディフューザの直径よりも大きい、条項7に記載の照明ユニット。
9.前記第1のディフューザに面するコンデンサであって、前記第1のディフューザを通して拡散された前記第1の電磁波をコリメートする、コンデンサを更に備える、条項7又は8に記載の照明ユニット。
10.前記コンデンサ及び前記第1のディフューザは、接触している、条項9に記載の照明ユニット。
11.前記コンデンサは、前記第1のディフューザと略同じ大きさを有する、条項9又は10に記載の照明ユニット。
12.前記リフレクタに面する第2のディフューザであって、前記リフレクタから反射された前記第2の電磁波を拡散させるように構成される、第2のディフューザを更に備える、条項7~11の何れか一項に記載の照明ユニット。
13.前記第2のディフューザの大きさは、前記第1のディフューザの大きさよりも大きい、条項12に記載の照明ユニット。
14.前記第1のディフューザ及び前記第2のディフューザは、同じ材料で作製される、条項12又は13に記載の照明ユニット。
15.前記第1のディフューザ及び前記第2のディフューザは、異なる材料で作製される、条項12又は13に記載の照明ユニット。
16.前記第1のディフューザ及び前記第2のディフューザの少なくとも一方を所定の箇所に投影するように構成された投影レンズを更に備える、条項7~15の何れか一項に記載の照明ユニット。
17.前記投影レンズの半径は、前記第2のディフューザの半径と略同じである、条項16に記載の照明ユニット。
18.前記第1の電磁波源及び前記第2の電磁波源は、背面合わせで配置される、条項1~17の何れか一項に記載の照明ユニット。
19.前記第1の電磁波及び前記第2の電磁波は、同じ種類の電磁波である、条項1~18の何れか一項に記載の照明ユニット。
20.前記第1の電磁波及び前記第2の電磁波は、異なる種類の電磁波である、条項1~18の何れか一項に記載の照明ユニット。
21.前記第1の電磁波及び前記第2の電磁波の少なくとも一方は、広帯域電磁波である、条項1~20の何れか一項に記載の照明ユニット。
22.前記リフレクタの半径は、前記リフレクタと前記第2の電磁波源との間の距離の略2倍である、条項1~21の何れか一項に記載の照明ユニット。
23.前記第1の領域及び前記第2の領域は、互いに重なり合わない、条項1~21の何れか一項に記載の照明ユニット。
24.前記第1の領域及び前記第2の領域は、互いに部分的に重なり合う、条項1~21の何れか一項に記載の照明ユニット。
25.第1の電磁波源からサンプルの第1の領域に第1の電磁波を拡散させるように構成された第1のディフューザと、
第2の電磁波源からサンプルの第2の領域に第2の電磁波を拡散させるように構成された第2のディフューザと、を備え、
前記第1のディフューザから拡散された前記第1の電磁波及び前記第2のディフューザから拡散された前記第2の電磁波は、前記サンプルの前記第1の領域及び前記第2の領域を同時に照明する、
照明ユニット。
26.前記第1のディフューザ及び前記第2のディフューザは、互いに重なり合う、条項25に記載の照明ユニット。
27.前記第1のディフューザの大きさは、前記第2のディフューザの大きさよりも小さい、条項25又は26に記載の照明ユニット。
28.前記第1のディフューザは、前記第1のディフューザ及び前記第2のディフューザが同じ平面上に位置決めされるように、前記第2のディフューザの凹部内に位置決めされる、条項25に記載の照明ユニット。
29.前記第2の電磁波を前記第1の電磁波の伝搬方向と略同じ方向に反射するリフレクタを更に備える、条項25~28の何れか一項に記載の照明ユニット。
30.条項1~29の何れか一項に記載の照明ユニットを照明源として使用する、結像システム。
31.異なる開口数を有する少なくとも2つのチューブレンズを更に備える、条項30に記載の結像システム。
32.異なる視野を有する少なくとも2つのチューブレンズを更に備える、条項30又は31に記載の結像システム。
33.前記結像システムは、複数の結像システムを含み、
前記複数の結像システムの少なくとも1つは、異なる開口数を有する少なくとも2つのチューブレンズを備え、
前記第1の電磁波及び前記第2の電磁波は、少なくとも1つのビームスプリッタを通過することにより前記複数の結像システムに達する、条項30に記載の結像システム。
34.第1の電磁波を第1の方向に出力するための回路を含む第1の電磁波源と、
第2の電磁波を前記第1の方向と略反対の第2の方向に出力するための回路を含む第2の電磁波源と、
前記第1の電磁波源に面する第1のビームエキスパンダであって、前記出力された第1の電磁波を拡大して第1の視野角を提供するように構成される、第1のビームエキスパンダと、
前記第1のビームエキスパンダに面するビームコリメータであって、前記拡大された第1の電磁波をコリメートするように構成される、ビームコリメータと、
前記第2の電磁波源に面するビームリフレクタであって、前記出力された第2の電磁波を反射するように構成された、ビームリフレクタと、
前記ビームリフレクタに面する第2のビームエキスパンダであって、前記反射された第2の電磁波を拡大して第2の視野角を提供するように構成される、第2のビームエキスパンダと、
を備える、照明デバイス。
35.前記第1のビームエキスパンダ及び前記第2のビームエキスパンダの少なくとも一方を所定の位置に投影するように構成された投影レンズを更に備える、条項34に記載の照明デバイス。
36.条項34又は35に記載の照明デバイスを照明源として使用する、結像システム。
37.サンプルを照明するための方法であって、
前記サンプルの第1の領域を照明するために第1の電磁波を第1の方向に出力することと、
第2の電磁波を前記第1の方向と略反対の第2の方向に出力することと、
前記サンプルの第2の領域を照明するために前記第2の電磁波を略前記第1の方向に反射することと、
を含む、方法。
38.前記第1の電磁波を第1のビームエキスパンダに通過させることを更に含む、条項37に記載の方法。
39.前記拡大された第1の電磁波をコリメータに通過させることと、
前記反射された第2の電磁波を第2のビームエキスパンダに通過させることと、
を更に含む、条項38に記載の方法。
40.前記コリメートされた第1の電磁波と前記拡大された第2の電磁波とを投影レンズに通過させることを更に含む、条項39に記載の方法。
Claims (17)
- サンプルの第1の領域を照明するために第1の電磁波を第1の方向に出力するための回路を含む第1の電磁波源と、
第2の電磁波を前記第1の方向と略反対の第2の方向に出力するための回路を含む第2の電磁波源と、
前記サンプルの第2の領域を照明するために前記第2の電磁波を略前記第1の方向に反射するように構成されたリフレクタと、
前記第1の電磁波源及び/又は前記第2の電磁波源を前記第1の方向及び/又は前記第2の方向に移動させるように構成された移動機構と、
コリメート機能と集束機能の両方を同時に提供するコンデンサと、
を備える、照明ユニット。 - 前記第1の電磁波源を制御するための回路を含む第1のコントローラと、
前記第2の電磁波源を制御するための回路を含む第2のコントローラと、
を更に備え、
前記第1のコントローラ及び前記第2のコントローラは、独立して動作する、請求項1に記載の照明ユニット。 - 前記移動機構は、前記第1の電磁波源を前記第1の方向に移動させるように前記第1のコントローラにより制御される第1の移動機構を有する、請求項2に記載の照明ユニット。
- 前記第1の移動機構は、サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム又は磁力制御システムを含む、請求項3に記載の照明ユニット。
- 前記第1の移動機構は、サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム及び磁力制御システムのうちの複数を含む、請求項3に記載の照明ユニット。
- 前記移動機構は、前記第2の電磁波源を前記第2の方向に移動させるように前記第2のコントローラにより制御される第2の移動機構を有する、請求項2に記載の照明ユニット。
- 前記第2の移動機構は、サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム又は磁力制御システムを含む、請求項6に記載の照明ユニット。
- 前記第2の移動機構は、サーボモータ、ロボットアーム、磁気浮上システム及び磁力制御システムのうちの複数を含む、請求項6に記載の照明ユニット。
- 前記第1の電磁波源の照明面に面する第1のディフューザであって、前記第1の電磁波源から出力された前記第1の電磁波を拡散させるように構成される、第1のディフューザを更に備える、請求項1に記載の照明ユニット。
- 前記リフレクタの直径は、前記第1のディフューザの直径よりも大きい、請求項9に記載の照明ユニット。
- 前記コンデンサは、前記第1のディフューザに面するとともに、前記第1のディフューザを通して拡散された前記第1の電磁波をコリメートする、請求項9に記載の照明ユニット。
- 前記コンデンサ及び前記第1のディフューザは、接触している、請求項11に記載の照明ユニット。
- 前記コンデンサは、前記第1のディフューザと略同じ大きさを有する、請求項11に記載の照明ユニット。
- 前記リフレクタに面する第2のディフューザであって、前記リフレクタから反射された前記第2の電磁波を拡散させるように構成される、第2のディフューザを更に備える、請求項9に記載の照明ユニット。
- 前記第2のディフューザの大きさは、前記第1のディフューザの大きさよりも大きい、請求項14に記載の照明ユニット。
- 前記第1のディフューザ及び前記第2のディフューザは、同じ材料で作製される、請求項14に記載の照明ユニット。
- サンプルを照明するための方法であって、
前記サンプルの第1の領域を照明するために第1の電磁波源から第1の電磁波を第1の方向に出力することと、
第2の電磁波源から第2の電磁波を前記第1の方向と略反対の第2の方向に出力することと、
前記サンプルの第2の領域を照明するために前記第2の電磁波を略前記第1の方向に反射することと、
前記第1の電磁波源及び/又は前記第2の電磁波源を前記第1の方向及び/又は前記第2の方向に移動させることと、
コンデンサを用いて、コリメート機能と集束機能の両方を同時に提供することと、
を含む、方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201862744558P | 2018-10-11 | 2018-10-11 | |
US62/744,558 | 2018-10-11 | ||
PCT/EP2019/075313 WO2020074238A1 (en) | 2018-10-11 | 2019-09-20 | Multi-source illumination unit and method of operating the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022511324A JP2022511324A (ja) | 2022-01-31 |
JP7422141B2 true JP7422141B2 (ja) | 2024-01-25 |
Family
ID=68062931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021515100A Active JP7422141B2 (ja) | 2018-10-11 | 2019-09-20 | 多源照明ユニット及びその動作方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20210396683A1 (ja) |
JP (1) | JP7422141B2 (ja) |
KR (1) | KR20210055764A (ja) |
CN (1) | CN112840271B (ja) |
IL (1) | IL282144A (ja) |
TW (2) | TWI768583B (ja) |
WO (1) | WO2020074238A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102292547B1 (ko) * | 2020-04-10 | 2021-08-20 | 코그넥스코오포레이션 | 가변 확산판을 이용한 광학 시스템 |
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JP2006208258A (ja) | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Aisin Seiki Co Ltd | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 |
JP2010182583A (ja) | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Seiko Epson Corp | 光源装置、プロジェクター |
JP2012104296A (ja) | 2010-11-09 | 2012-05-31 | Shimatec:Kk | Led照明装置 |
JP2017107201A (ja) | 2015-12-09 | 2017-06-15 | 由田新技股▲ふん▼有限公司 | 動的オートフォーカスシステム |
WO2017115290A1 (en) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | Pirelli Tyre S.P.A. | Device for checking tyres |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US20100182582A1 (en) * | 2005-06-13 | 2010-07-22 | Asml Netherlands B.V, | Passive reticle tool, a lithographic apparatus and a method of patterning a device in a lithography tool |
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WO2011006501A1 (en) * | 2009-07-13 | 2011-01-20 | Martin Professional A/S | Color-combining illumination device |
JP5927164B2 (ja) * | 2013-09-27 | 2016-05-25 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置及びこれを用いた画像形成装置 |
US9335124B2 (en) * | 2013-11-18 | 2016-05-10 | Cubic Corporation | Compact riflescope display adapter |
CN107923591B (zh) * | 2015-09-07 | 2021-02-19 | 大日本印刷株式会社 | 照明装置 |
US10101676B2 (en) * | 2015-09-23 | 2018-10-16 | KLA—Tencor Corporation | Spectroscopic beam profile overlay metrology |
-
2019
- 2019-09-20 KR KR1020217010594A patent/KR20210055764A/ko active IP Right Grant
- 2019-09-20 US US17/283,930 patent/US20210396683A1/en active Pending
- 2019-09-20 JP JP2021515100A patent/JP7422141B2/ja active Active
- 2019-09-20 CN CN201980067125.7A patent/CN112840271B/zh active Active
- 2019-09-20 WO PCT/EP2019/075313 patent/WO2020074238A1/en active Application Filing
- 2019-09-24 TW TW109143232A patent/TWI768583B/zh active
- 2019-09-24 TW TW108134336A patent/TWI714274B/zh active
-
2021
- 2021-04-07 IL IL282144A patent/IL282144A/en unknown
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WO2017115290A1 (en) | 2015-12-28 | 2017-07-06 | Pirelli Tyre S.P.A. | Device for checking tyres |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20210055764A (ko) | 2021-05-17 |
TW202032275A (zh) | 2020-09-01 |
US20210396683A1 (en) | 2021-12-23 |
CN112840271A (zh) | 2021-05-25 |
WO2020074238A1 (en) | 2020-04-16 |
IL282144A (en) | 2021-05-31 |
TWI768583B (zh) | 2022-06-21 |
JP2022511324A (ja) | 2022-01-31 |
TWI714274B (zh) | 2020-12-21 |
CN112840271B (zh) | 2024-10-01 |
TW202129433A (zh) | 2021-08-01 |
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