JP7378629B2

JP7378629B2 - 緩衝器

Info

Publication number: JP7378629B2
Application number: JP2022540157A
Authority: JP
Inventors: 崇将小谷
Original assignee: Hitachi Astemo Ltd
Current assignee: Hitachi Astemo Ltd
Priority date: 2020-07-29
Filing date: 2021-07-14
Publication date: 2023-11-13
Anticipated expiration: 2041-07-14
Also published as: JPWO2022024766A1; DE112021004084T5; WO2022024766A1; KR20230003196A; US20230279920A1; CN116171356A

Description

本発明は、緩衝器に関する。
本願は、２０２０年７月２９日に、日本に出願された特願２０２０－１２８０９７号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。

緩衝器には、同一行程で開弁するバルブを２つ有するものがある（例えば、特許文献１参照）。

特公平２－４１６６６号公報

ところで、緩衝器において耐久性の向上を図る要望がある。

本発明は、耐久性の向上を図ることが可能となる緩衝器を提供する。

本発明の第１の態様によれば、緩衝器は、作動流体が封入されるシリンダと、前記シリンダ内に摺動可能に設けられ、該シリンダ内を２室に区画するピストンと、前記ピストンに連結されると共に前記シリンダの外部に延出されるピストンロッドと、前記ピストンの移動により上流側となる前記室から下流側となる前記室に作動流体が流れ出す第１通路と、前記第１通路に設けられ、減衰力を発生する第１減衰力発生機構と、前記第１通路とは別に設けられる第２通路と、前記第２通路に設けられ、前記第１減衰力発生機構よりもピストン速度低速時に開弁して減衰力を発生する第２減衰力発生機構と、前記第２通路とは別に設けられる第３通路と、前記第３通路に設けられる体積可変機構と、前記第３通路とは別に設けられる第４通路と、前記第４通路に設けられ、前記第２減衰力発生機構が開弁した後に開弁するリリーフ機構と、を備える。

上記した緩衝器によれば、耐久性の向上を図ることが可能となる。

本発明の第１実施形態に係る緩衝器を示す断面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器のピストン周辺を示す部分断面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の皿バネを示す平面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の可撓ディスクを示す平面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の伸び行程でのリリーフ機構の作動状態を示す部分断面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の縮み行程でのリリーフ機構の作動状態を示す部分断面図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の油圧回路図である。本発明の第１実施形態に係る緩衝器の可撓ディスクの変形例を示す平面図である。本発明の第２実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第２実施形態に係る緩衝器の可撓ディスクを示す平面図である。本発明の第３実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第４実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第５実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第６実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第７実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第８実施形態に係る緩衝器のピストン周辺を示す部分断面図である。本発明の第８実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第８実施形態に係る緩衝器の油圧回路図である。本発明の第９実施形態に係る緩衝器の要部を示す部分断面図である。本発明の第９実施形態に係る緩衝器の可撓ディスクを示す平面図である。本発明の第９実施形態に係る緩衝器の可撓ディスクの変形例を示す平面図である。本発明の第９実施形態に係る緩衝器の可撓ディスクの別の変形例を示す平面図である。ベースバルブへの適用例を示す油圧回路図である。

［第１実施形態］
第１実施形態を図１～図９に基づいて説明する。なお、以下においては、説明の便宜上、図１～図３，図６，図７，図１０，図１２～図１８，図２０における上側を「上」とし、図１～図３，図６，図７，図１０，図１２～図１８，図２０における下側を「下」として説明する。

＜構成＞
第１実施形態の緩衝器１は、鉄道車両や二輪、四輪等の自動車のサスペンション装置に用いられる緩衝器である。具体的には四輪自動車のサスペンション装置に用いられる緩衝器である。図１に示すように、緩衝器１は、円筒状の内筒２と、内筒２よりも大径で内筒２の径方向外側に設けられる有底筒状の外筒３とを有するシリンダ４を備えた複筒式の緩衝器である。外筒３と内筒２との間は、リザーバ室５となっている。

外筒３は、軸方向両端側が軸方向中間部よりも小径とされた段付き円筒状の胴部材８と、胴部材８の軸方向の一端部を閉塞する底部材９とを有している。胴部材８の底部材９とは反対側は開口部となっている。

緩衝器１は、内筒２の軸方向の一端部に設けられる円環状のバルブボディ１２と、内筒２および外筒３の軸方向の他端部に設けられる円環状のロッドガイド１３と、を有している。バルブボディ１２は、ベースバルブ１５を構成する。ベースバルブ１５は、外周部が段差状をなしている。ロッドガイド１３も、外周部が段差状をなしている。ロッドガイド１３の大径部分が胴部材８に嵌合されている。

内筒２は、軸方向の一端部が、バルブボディ１２の外周部の小径部分に嵌合されている。内筒２は、バルブボディ１２を介して外筒３の底部材９に係合している。内筒２は、軸方向の他端部が、ロッドガイド１３の外周部の小径部分に嵌合されている。内筒２は、ロッドガイド１３を介して外筒３の胴部材８に係合している。この状態で、内筒２は、外筒３に対して径方向に位置決めされる。バルブボディ１２と底部材９との間は、バルブボディ１２に形成された通路溝１６を介して内筒２と外筒３との間に連通しており、内筒２と外筒３との間と同様、リザーバ室５を構成している。

緩衝器１は、ロッドガイド１３の底部材９とは反対側に、円環状のシール部材１８を有している。このシール部材１８も、ロッドガイド１３と同様に胴部材８の内周部に嵌合されている。胴部材８の底部材９とは反対の端部には、胴部材８をカール加工等の加締め加工によって径方向内方に塑性変形させて係止部１９が形成されている。シール部材１８は、この係止部１９とロッドガイド１３とに挟持されている。シール部材１８は、外筒３の開口部を閉塞するものである。シール部材１８は、具体的にはオイルシールである。

緩衝器１は、シリンダ４内に設けられるピストン２１を有している。ピストン２１は、シリンダ４の内筒２に摺動可能に設けられている。ピストン２１は、内筒２内を上室２２と下室２３との２室に区画している。上室２２は、内筒２内のピストン２１とロッドガイド１３との間に設けられている。下室２３は、内筒２内のピストン２１とバルブボディ１２との間に設けられている。下室２３は、バルブボディ１２によって、リザーバ室５と画成されている。シリンダ４内には、上室２２および下室２３に作動流体としての油液Ｌが封入されている。リザーバ室５に、作動流体としてのガスＧと油液Ｌとが封入されている。

緩衝器１は、ピストンロッド２５を備えている。ピストンロッド２５は、軸方向の一端側部分がシリンダ４の内部に配置されてピストン２１に連結固定されると共に他端側部分がシリンダ４の外部に延出される。ピストンロッド２５は、金属製である。ピストンロッド２５は、上室２２内を貫通しており、下室２３は貫通していない。よって、上室２２は、ピストンロッド２５が貫通するロッド側室であり、下室２３はシリンダ４の底部材９側のボトム側室である。

ピストン２１およびピストンロッド２５は一体に移動する。ピストンロッド２５がシリンダ４からの突出量を増やす緩衝器１の伸び行程において、ピストン２１は上室２２側へ移動する。ピストンロッド２５がシリンダ４からの突出量を減らす緩衝器１の縮み行程において、ピストン２１は下室２３側へ移動する。

ロッドガイド１３およびシール部材１８は、いずれも円環状である。ピストンロッド２５は、これらロッドガイド１３およびシール部材１８のそれぞれの内側に摺動可能に挿通されてシリンダ４の内部から外部に延出されている。ピストンロッド２５の軸方向の一端側部分は、シリンダ４の内部でピストン２１に固定されている。ピストンロッド２５の軸方向の他端側部分は、シリンダ４の外部に、ロッドガイド１３およびシール部材１８を介して突出している。

ロッドガイド１３は、シリンダ４に対してピストンロッド２５を、その径方向移動を規制しつつ軸方向移動可能に支持して、このピストンロッド２５の移動を案内する。シール部材１８の外周部はシリンダ４に密着する。シール部材１８の内周部は、軸方向に移動するピストンロッド２５の外周部に摺接する。これにより、シール部材１８は、シリンダ４内の油液ＬやガスＧが外部に漏洩するのを防止する。

ピストンロッド２５は、主軸部２７と、これよりも小径の取付軸部２８と、を有している。主軸部２７は、ロッドガイド１３およびシール部材１８に摺動可能に嵌合される。取付軸部２８は、シリンダ４内に配置されてピストン２１等に連結される。主軸部２７の取付軸部２８側の端部は、軸直交方向に広がる軸段部２９となっている。

取付軸部２８の外周部には、軸方向の中間位置に軸方向に延在する通路切欠部３０が形成されており、軸方向の主軸部２７とは反対側の先端位置にオネジ３１が形成されている。通路切欠部３０は、例えば、取付軸部２８の外周部を、取付軸部２８の中心軸線に平行な面で平面状に切り欠いて形成されている。通路切欠部３０は、取付軸部２８の周方向の１８０度異なる二カ所の位置に、いわゆる二面幅の形状に形成できる。

緩衝器１は、例えばピストンロッド２５のシリンダ４からの突出部分が上部に配置されて車体により支持され、シリンダ４の底部材９が下部に配置されて車輪側に連結される。
これとは逆に、シリンダ４側が車体により支持され、ピストンロッド２５が車輪側に連結されるようにしても良い。

図２に示すように、ピストン２１は、ピストンロッド２５に接して連結される金属製のピストン本体３６と、ピストン本体３６の外周面に一体に装着されてシリンダ４の内筒２内を摺動する円環状の合成樹脂製の摺動部材３７とによって構成されている。

ピストン本体３６には、上室２２と下室２３とを連通可能な複数（図２では断面とした関係上一箇所のみ図示）の通路穴３８と、上室２２と下室２３とを連通可能な複数（図２では断面とした関係上一箇所のみ図示）の通路穴３９とが設けられている。

複数の通路穴３８は、ピストン本体３６の円周方向において、それぞれ間に一箇所の通路穴３９を挟んで等ピッチで形成されており、通路穴３８，３９の全数のうちの半数を構成する。複数の通路穴３８は、２箇所の屈曲点を有するクランク形状である。複数の通路穴３８は、ピストン２１の軸方向における下室２３側が、上室２２側よりもピストン２１の径方向における内側に開口している。ピストン本体３６には、軸方向の下室２３側に、複数の通路穴３８を連通させる円環状の環状溝５５が形成されている。

環状溝５５の下室２３側には、第１減衰力発生機構４１が設けられている。第１減衰力発生機構４１は、環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路を開閉して減衰力を発生する。第１減衰力発生機構４１が下室２３側に配置されることで、複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路は、ピストン２１の上室２２側への移動、つまり伸び行程において上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に向けて油液Ｌが流れ出す伸び側の通路となる。これら複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路に対して設けられた第１減衰力発生機構４１は、伸び側の複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路から下室２３への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生する伸び側の減衰力発生機構である。

通路穴３８，３９の全数のうちの残りの半数を構成する通路穴３９は、ピストン本体３６の円周方向において、それぞれ間に一箇所の通路穴３８を挟んで等ピッチで形成されている。複数の通路穴３９は、２箇所の屈曲点を有するクランク形状である。複数の通路穴３９は、ピストン２１の軸方向における上室２２側が、下室２３側よりもピストン２１の径方向における内側に開口している。ピストン本体３６には、軸方向の上室２２側に複数の通路穴３９を連通させる円環状の環状溝５６が形成されている。

環状溝５６の上室２２側には、複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路を開閉して減衰力を発生する第１減衰力発生機構４２が設けられている。第１減衰力発生機構４２が上室２２側に配置されることで、複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路は、ピストン２１の下室２３側への移動、つまり縮み行程において上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に向けて油液Ｌが流れ出す縮み側の通路となる。これら複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路に対して設けられた第１減衰力発生機構４２は、縮み側の複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路から上室２２への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生する縮み側の減衰力発生機構である。

ピストン本体３６は、略円板形状をなしている。ピストン本体３６の径方向の中央には、ピストンロッド２５の取付軸部２８が挿入される挿入穴４４が軸方向に貫通して形成されている。挿入穴４４は、ピストンロッド２５の取付軸部２８を嵌合させる軸方向一側の小径穴部４５と、小径穴部４５よりも大径の軸方向他側の大径穴部４６と、を有している。小径穴部４５が軸方向の上室２２側に、大径穴部４６が軸方向の下室２３側にそれぞれ設けられている。ピストン２１は、小径穴部４５に取付軸部２８が嵌合されて、ピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ピストン本体３６の軸方向の下室２３側の端部には、環状溝５５の下室２３側の開口よりも、ピストン本体３６の径方向における内側に円環状の内側シート部４７が形成されている。ピストン本体３６の軸方向の下室２３側の端部には、環状溝５５の下室２３側の開口よりも、ピストン本体３６の径方向における外側に、第１減衰力発生機構４１の一部を構成する円環状のバルブシート部４８が形成されている。

ピストン本体３６の軸方向の上室２２側の端部には、環状溝５６の上室２２側の開口よりもピストン本体３６の径方向における内側に円環状の内側シート部４９が形成されている。ピストン本体３６の軸方向の上室２２側の端部には、環状溝５６の上室２２側の開口よりも、ピストン本体３６の径方向における外側に、第１減衰力発生機構４２の一部を構成する円環状のバルブシート部５０が形成されている。

ピストン本体３６の挿入穴４４は、大径穴部４６が、小径穴部４５よりも軸方向の内側シート部４７側に設けられている。ピストン本体３６の大径穴部４６内の通路は、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１と軸方向の位置を重ね合わせて常時連通している。

ピストン本体３６において、バルブシート部４８よりも径方向外側は、バルブシート部４８よりも軸線方向高さが低い段差状をなしている。この段差状の部分に縮み側の通路穴３９の下室２３側の開口が配置されている。また、同様に、ピストン本体３６において、バルブシート部５０よりも径方向外側は、バルブシート部５０よりも軸線方向高さが低い段差状をなしている。この段差状の部分に伸び側の通路穴３８の上室２２側の開口が配置されている。

縮み側の第１減衰力発生機構４２は、ピストン２１のバルブシート部５０を含んでいる。第１減衰力発生機構４２は、軸方向のピストン２１側から順に、一枚のディスク６３と、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク６４と、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には三枚）のディスク６５と、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク６６と、一枚のディスク６７と、一枚のディスク６８と、一枚の環状部材６９と、を有している。ディスク６３～６８および環状部材６９は、金属製であり、いずれも一定厚さの有孔円形平板状をなしている。ディスク６３～６８および環状部材６９は、いずれも内側に取付軸部２８が嵌合されてピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。ディスク６３～６８は、プレーンディスク（軸方向に突出する突起のない平面ディスク）である。

ディスク６３は、ピストン２１の内側シート部４９の外径よりも大径であってバルブシート部５０の内径よりも小径の外径を有する。ディスク６３は、内側シート部４９に常時当接している。複数枚のディスク６４は、ピストン２１のバルブシート部５０の外径と同等の外径を有する。複数枚のディスク６４は、バルブシート部５０に着座可能である。複数枚のディスク６５は、ディスク６４の外径よりも小径の外径を有する。複数枚のディスク６６は、ディスク６５の外径よりも小径の外径を有する。ディスク６７は、ディスク６６の外径よりも小径であってピストン２１の内側シート部４９の外径と同等の外径を有する。ディスク６８は、ディスク６５の外径と同等の外径を有する。環状部材６９は、ディスク６８の外径よりも小径であってピストンロッド２５の軸段部２９の外径よりも大径の外径を有する。環状部材６９は、ディスク６３～６８よりも厚く高剛性である環状部材６９は、軸段部２９に当接している。

複数枚のディスク６４、複数枚のディスク６５および複数枚のディスク６６が、バルブシート部５０に離着座可能な縮み側のメインバルブ７１を構成している。メインバルブ７１は、バルブシート部５０から離座することで、複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路を上室２２に連通させると共に、バルブシート部５０との間の油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生する。環状部材６９は、ディスク６８とによって、メインバルブ７１の開方向への規定以上の変形をメインバルブ７１に当接して規制する。

複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路と、開弁時に出現するメインバルブ７１およびバルブシート部５０の間の通路とが、ピストン２１に形成され、ピストン２１の下室２３側への移動によりシリンダ４内の上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に油液Ｌが流れ出す縮み側の第１通路７２を構成している。減衰力を発生する縮み側の第１減衰力発生機構４２は、メインバルブ７１とバルブシート部５０とを含んでいる。よって、第１減衰力発生機構４２は第１通路７２に設けられている。第１通路７２は、バルブシート部５０を含むピストン２１に形成されている。ピストンロッド２５およびピストン２１が縮み側に移動するときに、油液Ｌが第１通路７２を通過する。

縮み側の第１減衰力発生機構４２には、バルブシート部５０およびこれに当接するメインバルブ７１のいずれにも、これらが当接状態にあっても上室２２と下室２３とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、縮み側の第１減衰力発生機構４２は、バルブシート部５０およびメインバルブ７１が全周にわたって当接状態にあれば、上室２２と下室２３とを連通させることはない。言い換えれば、第１通路７２は、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスが形成されておらず、上室２２と下室２３とを常時連通させる通路ではない。

伸び側の第１減衰力発生機構４１は、ピストン２１のバルブシート部４８を含んでいる。第１減衰力発生機構４１は、軸方向のピストン２１側から順に、一枚のディスク８２と、一枚のディスク８３と、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には四枚）のディスク８４と、一枚のディスク８５と、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には三枚）のディスク８６と、一枚のディスク８７と、を有している。ディスク８２～８７は、金属製であり、いずれも一定厚さの有孔円形平板状をなすプレーンディスクである。ディスク８２～８７は、いずれも内側に取付軸部２８が嵌合されて、ピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ディスク８２は、ピストン２１の内側シート部４７の外径よりも大径であってバルブシート部４８の内径よりも小径の外径を有する。ディスク８２は、内側シート部４７に常時当接している。ディスク８２には、図３に示すように、環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路を、ピストン２１の大径穴部４６内の通路およびピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１に常時連通させる切欠部９０が、径方向の内側シート部４７よりも外側の途中位置から内周縁部まで形成されている。切欠部９０は、ディスク８２のプレス成形時に形成される。切欠部９０は、ピストン２１の大径穴部４６に隣り合って対向している。ディスク８３は、ディスク８２と同外径であり、ディスク８２のような切欠部は形成されていない。複数枚のディスク８４は、ピストン２１のバルブシート部４８の外径と同等の外径を有する。複数枚のディスク８４は、バルブシート部４８に着座可能である。ディスク８５は、ディスク８４の外径よりも小径の外径を有する。複数枚のディスク８６は、ディスク８５の外径よりも小径の外径を有する。ディスク８７は、ディスク８６の外径よりも小径であってピストン２１の内側シート部４７の外径よりも若干大径の外径を有する。

複数枚のディスク８４、一枚のディスク８５、複数枚のディスク８６が、バルブシート部４８に離着座可能な伸び側のメインバルブ９１を構成している。メインバルブ９１は、バルブシート部４８から離座することで、環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路を下室２３に連通させると共に、バルブシート部４８との間の油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生する。

図２に示すように、複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路と、開弁時に出現するメインバルブ９１およびバルブシート部４８の間の通路とが、ピストン２１に形成され、ピストン２１の上室２２側への移動によりシリンダ４内の上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に油液Ｌが流れ出す伸び側の第１通路９２を構成している。減衰力を発生する伸び側の第１減衰力発生機構４１は、メインバルブ９１とバルブシート部４８とを含んでいる。よって、第１減衰力発生機構４１は、第１通路９２に設けられている。第１通路９２は、バルブシート部４８を含むピストン２１に形成されている。ピストンロッド２５およびピストン２１が伸び側に移動するときに、油液Ｌが第１通路９２を通過する。

伸び側の第１減衰力発生機構４１には、バルブシート部４８およびこれに当接するメインバルブ９１のいずれにも、これらが当接状態にあっても上室２２と下室２３とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、伸び側の第１減衰力発生機構４１は、バルブシート部４８およびメインバルブ９１が全周にわたって当接状態にあれば、上室２２と下室２３とを連通させることはない。言い換えれば、第１通路９２は、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスは形成されておらず、上室２２と下室２３とを常時連通させる通路ではない。

図３に示すように、伸び側の第１減衰力発生機構４１のピストン２１とは反対側には、第１減衰力発生機構４１側から順に、一つのキャップ部材９５と、一枚の皿バネ１１６（付勢部材）と、一枚のディスク９７と、一枚の可撓ディスク１００と、一枚の弁座ディスク１０１と、一枚のディスク１０２と、一枚のディスク１０３と、一枚のディスク１０４と、一枚のバネ部材１０５と、一枚のディスク１０６と、一枚のサブバルブ１０７と、外周側に一つのＯリング１０８が設けられた一つの弁座部材１０９と、一枚のサブバルブ１１０と、一枚のディスク１１１と、一枚のバネ部材１１２と、一枚のディスク１１３と、一枚の環状部材１１４とが、ピストンロッド２５の取付軸部２８をそれぞれの内側に嵌合させて設けられている。取付軸部２８をそれぞれの内側に嵌合させることにより、キャップ部材９５、皿バネ１１６、ディスク９７、可撓ディスク１００、弁座ディスク１０１、ディスク１０２～１０４、バネ部材１０５、ディスク１０６、サブバルブ１０７、弁座部材１０９、サブバルブ１１０、ディスク１１１、バネ部材１１２、ディスク１１３および環状部材１１４は、ピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

図２に示すように、ピストンロッド２５の取付軸部２８には、環状部材１１４よりも突出する部分にオネジ３１が形成されている。オネジ３１にナット１１９が螺合されている。ナット１１９は、環状部材１１４に当接している。

環状部材６９と、ディスク６３～６８と、ピストン２１と、ディスク８２～８７と、キャップ部材９５と、図３に示す皿バネ１１６と、ディスク９７と、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、弁座部材１０９と、サブバルブ１１０と、ディスク１１１と、バネ部材１１２と、ディスク１１３と、環状部材１１４とは、図２に示すように、少なくとも径方向内周側が、ピストンロッド２５の軸段部２９とナット１１９とによって軸方向にクランプされており、ピストンロッド２５に固定されている。この状態で、図３に示すように、皿バネ１１６と、ディスク９７と、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、弁座部材１０９と、サブバルブ１１０と、ディスク１１１と、バネ部材１１２と、ディスク１１３とが、キャップ部材９５内に配置されている。

キャップ部材９５、ディスク９７，１０２～１０４，１０６，１１１，１１３、可撓ディスク１００、弁座ディスク１０１、バネ部材１０５，１１２、サブバルブ１０７，１１０、弁座部材１０９、環状部材１１４および皿バネ１１６は、いずれも金属製である。ディスク９７，１０２～１０４，１０６，１１１，１１３、可撓ディスク１００、弁座ディスク１０１、サブバルブ１０７，１１０および環状部材１１４は、いずれも一定厚さの有孔円形平板状をなすプレーンディスクである。キャップ部材９５、弁座部材１０９および皿バネ１１６は、円環状である。バネ部材１０５，１１２は環状である。

キャップ部材９５は、有底筒状の一体成形品である。キャップ部材９５は、例えば金属板の塑性加工や切削加工により形成されている。キャップ部材９５は、有孔円板状の一定厚さの底部１２２と、底部１２２の外周縁部から、底部１２２の軸方向一側に拡径しつつ延出する中間湾曲部１２３と、中間湾曲部１２３の底部１２２とは反対側の端縁部から底部１２２とは反対方向に延出する円筒状の筒状部１２４と、を有している。

底部１２２は、全周にわたって径方向の幅が一定の有孔円形平板状である。底部１２２の内周部には、ピストンロッド２５の取付軸部２８が嵌合される。底部１２２の内周部に取付軸部２８を嵌合させることで、キャップ部材９５は、ピストンロッド２５に対し径方向に位置決めされて同軸状に配置される。底部１２２には、内周部と外周部との間に、底部１２２を底部１２２の軸方向に貫通する通路孔１２６が複数形成されている。複数の通路孔１２６は、底部１２２の中心から等距離の位置に底部１２２の周方向に等間隔に配置されている。キャップ部材９５は、底部１２２が、筒状部１２４よりもピストン２１側に位置する向きで配置されてディスク８７に当接している。キャップ部材９５は、底部１２２の内周部において取付軸部２８に嵌合している。ディスク８７の外径は、キャップ部材９５の径方向の中心と通路孔１２６とを結ぶ最短距離の２倍よりも小径である。

中間湾曲部１２３は、底部１２２と同軸の円環状である。中間湾曲部１２３は、その中心軸線を含む面での断面が径方向外側かつ軸方向の底部１２２側に凸の湾曲形状である。筒状部１２４も、底部１２２および中間湾曲部１２３と同軸状である。

キャップ部材９５は、ディスク８４～８６の一枚の厚さよりも厚く、有底筒状をなすことも合わせて、ディスク８４～８６よりも高剛性となっている。よって、キャップ部材９５は、複数枚のディスク８４～８６で構成されるメインバルブ９１の開方向への規定以上の変形をメインバルブ９１に当接して規制する。

皿バネ１１６は、金属製の有孔円形の板状であり、撓み可能である。皿バネ１１６は、一枚の板材からプレス成形による打ち抜きおよび折り曲げによって形成される。皿バネ１１６は、図４に示すように、内側円環部４０１と、中間円環部４０２と、外側円錐状部４０３と、内側円環部４０１および中間円環部４０２を繋ぐ複数、具体的には２本の支持部４０４とを有している。内側円環部４０１は、有孔円形平板状である。中間円環部４０２は、内側円環部４０１の外径よりも大径の内径を有する有孔円形平板状である。２本の支持部４０４は、内側円環部４０１と中間円環部４０２との間に設けられている。内側円環部４０１と中間円環部４０２と２本の支持部４０４とは同一平面に配置された平板状である。外側円錐状部４０３は、中間円環部４０２の外周縁部から径方向外方かつ軸方向一側に広がる円錐筒状である。皿バネ１１６の外径側は、外側円錐状部４０３である。皿バネ１１６の内径側は、内側円環部４０１と中間円環部４０２と２本の支持部４０４とを有する内側平面状部４１４である。内側平面状部４１４は、外側円錐状部４０３よりも平面に近い。

皿バネ１１６は、図３に示すように、外側円錐状部４０３の外径、すなわち皿バネ１１６の外径が、キャップ部材９５の筒状部１２４の内径よりも若干小径である。内側円環部４０１と中間円環部４０２と２本の支持部４０４とがキャップ部材９５の底部１２２に当接する。外側円錐状部４０３が軸方向において筒状部１２４と同側に延出する。皿バネ１１６は、この状態で内側円環部４０１の内周側に取付軸部２８が嵌合することにより、ピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。皿バネ１１６は、内周端部がピストンロッド２５と当接するように形成されている。皿バネ１１６の径方向外側に、キャップ部材９５の筒状部１２４が配置されている。

図４に示すように、内側円環部４０１、中間円環部４０２および外側円錐状部４０３は、いずれも全周にわたって径方向の幅が一定である。外側円錐状部４０３の径方向の幅は、内側円環部４０１の径方向の幅よりも広くなっている。内側円環部４０１の径方向の幅は、中間円環部４０２の径方向の幅よりも広くなっている。内側円環部４０１と中間円環部４０２と外側円錐状部４０３とは同軸状に配置されている。２本の支持部４０４は、内側円環部４０１と、中間円環部４０２および外側円錐状部４０３とを同軸の状態で連結する。２本の支持部４０４は、内側円環部４０１の外周縁部と中間円環部４０２の内周縁部とを結んでいる。

２本の支持部４０４は、内側円環部４０１、中間円環部４０２および外側円錐状部４０３の中心、言い換えれば皿バネ１１６の中心を通る同一直線上に配置された２箇所の外側接続部４１１を有している。これら外側接続部４１１が中間円環部４０２と接続されている。２箇所の外側接続部４１１は、中間円環部４０２の周方向に１８０度位相を異ならせて配置されている。２箇所の外側接続部４１１は、いずれも中間円環部４０２の内周縁部から中間円環部４０２の径方向内側に突出している。

２本の支持部４０４は、皿バネ１１６の中心を通る同一直線上に配置された２箇所の内側接続部４１２を有している。これら内側接続部４１２が内側円環部４０１と接続されている。２箇所の内側接続部４１２は、内側円環部４０１の周方向に１８０度位相を異ならせて配置されている。２箇所の内側接続部４１２は、いずれも内側円環部４０１の外周縁部から内側円環部４０１の径方向外側に突出している。２箇所の外側接続部４１１は、いずれも、第一の内側接続部４１２との皿バネ１１６の周方向における距離が、第二の内側接続部４１２との距離よりも短くなっている。言い換えれば、２箇所の内側接続部４１２は、いずれも、第一の外側接続部４１１との皿バネ１１６の周方向における距離が、第二の外側接続部４１１との距離よりも短くなっている。

皿バネ１１６の第一の側における外側接続部４１１と内側接続部４１２との周方向の距離は、皿バネ１１６の第二の側における外側接続部４１１と内側接続部４１２との周方向の距離と同等である。

２本の支持部４０４には、外側接続部４１１と内側接続部４１２とを接続させるように２箇所の連結腕部４１３が設けられている。すなわち、皿バネ１１６には、皿バネ１１６の周方向において第一の側における外側接続部４１１と内側接続部４１２とを接続させる第一の連結腕部４１３が設けられている。これら外側接続部４１１、内側接続部４１２および連結腕部４１３が第一の支持部４０４を構成している。皿バネ１１６の周方向において第二の側における外側接続部４１１と内側接続部４１２とを接続させる第二の連結腕部４１３が設けられている。これら外側接続部４１１、内側接続部４１２および連結腕部４１３が、第二の支持部４０４を構成している。

第一及び第二の連結腕部４１３は、内側円環部４０１の外周面および中間円環部４０２の内周面に沿って円弧状に延びている。第一及び第二の連結腕部４１３は、内側円環部４０１、中間円環部４０２および外側円錐状部４０３と同心の同一円上に配置されている。第一及び第二の連結腕部４１３は、それぞれが、皿バネ１１６の周方向において１８０°より若干小さい角度範囲で延びている。第一及び第二の連結腕部４１３は、中間円環部４０２の内周面からの径方向距離が、内側円環部４０１の外周面からの径方向距離よりも大きくなっている。

皿バネ１１６は、上記形状をなすことで、内側円環部４０１と中間円環部４０２と２箇所の支持部４０４とで囲まれて段付き円弧状の２箇所の穴部４１５が形成されている。２箇所の穴部４１５は、皿バネ１１６を厚さ方向（軸方向）に貫通している。２箇所の穴部４１５は、内側円環部４０１と中間円環部４０２との間に設けられている。よって、皿バネ１１６は、内周端部から外周端部までの間に段付き円弧状の２箇所の穴部４１５を有している。段付き円弧状の２箇所の穴部４１５は、内側平面状部４１４に設けられている。

２箇所の穴部４１５は、同形状である。２箇所の穴部４１５は、内側円環部４０１と連結腕部４１３との間に形成される円弧状の小径穴部４２１と、中間円環部４０２と連結腕部４１３との間に形成される円弧状の大径穴部４２２と、小径穴部４２１および大径穴部４２２を繋ぐ連結穴部４２３とを有している。小径穴部４２１および大径穴部４２２は、いずれも内側円環部４０１およびと中間円環部４０２と同軸の円弧状である。大径穴部４２２は小径穴部４２１よりも大径の円弧状である。穴部４１５は、大径穴部４２２と小径穴部４２１とが周方向に隣り合うように配置されている。大径穴部４２２および小径穴部４２１の互いに近接する側が、皿バネ１１６の径方向に沿う連結穴部４２３で連通されている。

図３に示すように、皿バネ１１６の中間円環部４０２の内径は、キャップ部材９５の径方向の中心と通路孔１２６とを結ぶ最長距離の２倍よりも小径であり、キャップ部材９５の径方向の中心と通路孔１２６とを結ぶ最短距離の２倍よりも大径である。よって、皿バネ１１６は、穴部４１５内の連通路４２５が底部１２２の通路孔１２６内の連通路１４８に常時連通する。皿バネ１１６は、穴部４１５の連通路４２５の図４に示す大径穴部４２２内の部分において通路孔１２６内の連通路１４８に常時連通する。図３に示すように、皿バネ１１６の中間円環部４０２の外径、すなわち外側円錐状部４０３の内径は、キャップ部材９５の径方向の中心と通路孔１２６とを結ぶ最長距離の２倍よりも大径である。皿バネ１１６は、中間円環部４０２が、キャップ部材９５の底部１２２の全ての通路孔１２６よりも底部１２２の径方向における外側位置に全周にわたって当接する。

ディスク９７は、全周にわたって径方向の幅が一定である。ディスク９７の外径は、皿バネ１１６の内側円環部４０１の外径よりも小径である。ディスク９７は、皿バネ１１６の内側円環部４０１の厚さ、すなわち皿バネ１１６の板厚よりも厚くなっている。

皿バネ１１６の内側円環部４０１が、図３に示すキャップ部材９５の底部１２２とディスク９７とによって軸方向にクランプされる。これにより、皿バネ１１６はピストンロッド２５に固定される。図４に示す２箇所の支持部４０４と中間円環部４０２とについては、図３に示すキャップ部材９５の底部１２２に当接するものの、ディスク９７には当接しない。よって、２箇所の支持部４０４と中間円環部４０２とは、軸方向にクランプされない。

可撓ディスク１００は、撓み可能である。可撓ディスク１００は、内周端部がピストンロッド２５と当接する。可撓ディスク１００の外径は、皿バネ１１６の外径よりも大径であり、キャップ部材９５の筒状部１２４の内径よりも若干小径である。可撓ディスク１００は、皿バネ１１６の板厚と同等の厚さである。

可撓ディスク１００は、一枚の板材からプレス成形による打ち抜きによって形成される。可撓ディスク１００は、ピストンロッド２５に組み付けられる前の自然状態で、平板状をなす。可撓ディスク１００は、図５に示すように、径方向の幅が全周にわたって一定である。可撓ディスク１００には、径方向の中間位置に連通孔５０１が複数、具体的には１５箇所形成されている。全ての連通孔５０１は同径の丸穴であり、可撓ディスク１００を厚さ方向（軸方向）に貫通している。全ての連通孔５０１は、可撓ディスク１００の中心から等距離の位置に形成されている。全ての連通孔５０１は、可撓ディスク１００の周方向に等間隔で形成されている。

可撓ディスク１００は、複数の連通孔５０１が形成されることで、内周縁部から連通孔５０１までの内側円環部５０２と、外周縁部から連通孔５０１までの外側円環部５０３と、可撓ディスク１００の径方向に延びて内側円環部５０２と外側円環部５０３とを繋ぐ連結部５０４とを有している。内側円環部５０２は、径方向の幅が全周にわたって一定である。外側円環部５０３も、径方向の幅が全周にわたって一定である。外側円環部５０３は、径方向の幅が内側円環部５０２よりも大きい。

連結部５０４は、可撓ディスク１００の周方向において隣り合う連通孔５０１と連通孔５０１との間にある。よって、連結部５０４は、可撓ディスク１００の径方向の中間位置に複数、具体的には連通孔５０１と同数の１５箇所形成されている。全ての連結部５０４は同形状であり、可撓ディスク１００の中心から等距離の位置に形成されている。全ての連結部５０４は、可撓ディスク１００の周方向に等間隔で形成されている。図３に示すように、可撓ディスク１００の内側円環部５０２の外径は、ディスク９７の外径よりも大径である。よって、可撓ディスク１００の連通孔５０１は、ディスク９７で閉塞されることはない。

皿バネ１１６は、外側円錐状部４０３の中間円環部４０２とは反対側の端縁部が円形である。この円形の端縁部が全周にわたって可撓ディスク１００の外側円環部５０３の外周縁部側に当接する。

弁座ディスク１０１は、全周にわたって径方向の幅が一定である。弁座ディスク１０１は、ピストンロッド２５に組み付けられる前の自然状態で、平板状をなす。弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００よりも若干厚さが薄い。弁座ディスク１０１の外径は、可撓ディスク１００の外側円環部５０３の内径よりも大径であり、外側円環部５０３の外径よりも小径である。弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００の外側円環部５０３に全周にわたって面接触で当接すると、全ての連通孔５０１を閉塞する。

ディスク１０２は、ディスク９７と同形状であり、互換性を有する。ディスク１０２は、ディスク９７とで可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１の内周側を軸方向にクランプする。

ディスク１０３は、全周にわたって径方向の幅が一定である。ディスク１０３の外径は、ディスク１０２の外径よりも大径であり、弁座ディスク１０１の外径よりも小径である。ディスク１０３は、可撓ディスク１００の厚さと同等の厚さである。

ディスク１０４は、全周にわたって径方向の幅が一定である。ディスク１０４は、外径が、弁座ディスク１０１の外径よりも大径であり、可撓ディスク１００の外径よりも小径である。ディスク１０４は、ディスク９７，１０２の厚さと同等の厚さである。ディスク１０４は、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１よりも厚さが厚く高剛性である。

バネ部材１０５は、取付軸部２８に嵌合する有孔円形平板状の基板部３３１と、基板部３３１の周方向の等間隔位置から基板部３３１の径方向の外方に延出する複数のバネ板部３３２とを有している。バネ板部３３２は、延出先端側ほど基板部３３１から基板部３３１の軸方向に離れるように基板部３３１に対して傾斜している。バネ部材１０５は、基板部３３１においてディスク１０４に当接する。バネ部材１０５は、基板部３３１からバネ板部３３２が基板部３３１の軸方向においてサブバルブ１０７側に延出するように取付軸部２８に取り付けられている。

ディスク１０６の外径は、バネ部材１０５の基板部３３１の外径よりも小径であってディスク１０２の外径よりも大径である。バネ部材１０５の基板部３３１がディスク１０６に当接する。バネ部材１０５の複数のバネ板部３３２が、サブバルブ１０７に当接する。

図２に示すように、弁座部材１０９は、有孔円板状である。弁座部材１０９には、その軸方向に延び厚さ方向に貫通して取付軸部２８を挿入させる貫通孔１３１が径方向の中央に形成されている。貫通孔１３１は、ピストンロッド２５の取付軸部２８を嵌合させる軸方向一側の小径穴部１３２と、小径穴部１３２よりも大径の軸方向他側の大径穴部１３３と、を有している。

弁座部材１０９は、軸方向の大径穴部１３３側の端部に、大径穴部１３３を囲むように円環状をなす内側シート部１３４を有している。弁座部材１０９は、この内側シート部１３４から径方向外方に広がるバルブシート部１３５を有している。弁座部材１０９は、軸方向反対側の小径穴部１３２側の端部に、小径穴部１３２を囲むように円環状をなす内側シート部１３８を有している。弁座部材１０９は、この内側シート部１３８から径方向外方に広がるバルブシート部１３９を有している。弁座部材１０９は、その軸方向の内側シート部１３４およびバルブシート部１３５と、内側シート部１３８およびバルブシート部１３９と、の間が有孔円板状の本体部１４０となっている。

内側シート部１３４は、本体部１４０の軸方向の大径穴部１３３側の内周縁部から、本体部１４０の軸方向に沿って一側に突出している。バルブシート部１３５も、内側シート部１３４の径方向外側で本体部１４０の軸方向に沿って本体部１４０から内側シート部１３４と同側に突出している。内側シート部１３４およびバルブシート部１３５は、突出側の先端面、すなわち本体部１４０とは反対側の先端面が、平坦面である。内側シート部１３４およびバルブシート部１３５は、弁座部材１０９の軸直交方向に広がって同一平面に配置されている。

内側シート部１３８は、本体部１４０の軸方向の小径穴部１３２側の内周縁部から、本体部１４０の軸方向に沿って内側シート部１３４とは反対側に突出している。バルブシート部１３９も、内側シート部１３８の径方向外側で本体部１４０の軸方向に沿って本体部１４０から内側シート部１３８と同側に突出している。内側シート部１３８およびバルブシート部１３９は、突出側の先端面、すなわち本体部１４０とは反対側の先端面が、平坦面である。内側シート部１３８およびバルブシート部１３９は、弁座部材１０９の軸直交方向に広がって同一平面に配置されている。内側シート部１３４，１３８は、同等の外径を有している。

バルブシート部１３５は、花びら型の異形シートである。バルブシート部１３５は、複数（図２では断面とした関係上一箇所のみ図示）のバルブシート構成部２０１を有している。これらのバルブシート構成部２０１は、同形状であり、弁座部材１０９の周方向に等間隔で配置されている。内側シート部１３４は、弁座部材１０９の中心軸線を中心とする円環状をなしている。

各バルブシート構成部２０１の内側には、内側シート部１３４の一部とで囲まれて、これらの突出側の先端面から弁座部材１０９の軸方向に凹む通路凹部２０５が形成されている。通路凹部２０５の底面は本体部１４０によって形成されている。すべてのバルブシート構成部２０１の内側に通路凹部２０５が形成されている。

弁座部材１０９の周方向における通路凹部２０５の中央位置には、本体部１４０を軸方向に貫通することで弁座部材１０９を軸方向に貫通する通路孔２０６が形成されている。
通路孔２０６は、弁座部材１０９の中心軸線に平行な直線状の孔である。すべての通路凹部２０５の底面に通路孔２０６が形成されている。

バルブシート部１３９も、花びら型の異形シートである。バルブシート部１３９は、複数（図２では断面とした関係上一箇所のみ図示）のバルブシート構成部２１１を有している。これらのバルブシート構成部２１１は同形状であり、弁座部材１０９の周方向に等間隔で配置されている。バルブシート構成部２１１は、バルブシート構成部２０１と同形状となっている。内側シート部１３８は、弁座部材１０９の中心軸線を中心とする円環状をなしている。

各バルブシート構成部２１１の内側には、内側シート部１３８の一部とで囲まれて、これらの突出側の先端面から弁座部材１０９の軸方向に凹む通路凹部２１５が形成されている。通路凹部２１５の底面は本体部１４０によって形成されている。すべてのバルブシート構成部２１１の内側に通路凹部２１５が形成されている。

弁座部材１０９の周方向における通路凹部２１５の中央位置には、本体部１４０を軸方向に貫通することで弁座部材１０９を軸方向に貫通する通路孔２１６が形成されている。
通路孔２１６は、弁座部材１０９の中心軸線に平行な直線状の孔である。すべての通路凹部２１５の底面に通路孔２１６が形成されている。

複数のバルブシート構成部２０１の弁座部材１０９の周方向における配置ピッチと、複数のバルブシート構成部２１１の弁座部材１０９の周方向における配置ピッチとは同じである。バルブシート構成部２０１およびバルブシート構成部２１１は、互いに半ピッチ分ずれている。通路孔２０６は、弁座部材１０９の周方向に隣り合うバルブシート構成部２１１とバルブシート構成部２１１との間に配置されている。よって、通路孔２０６は、バルブシート部１３９の範囲の外側に配置されている。通路孔２１６は、弁座部材１０９の周方向に隣り合うバルブシート構成部２０１とバルブシート構成部２０１との間に配置されている。よって、通路孔２１６は、バルブシート部１３５の範囲の外側に配置されている。

弁座部材１０９には、軸方向の大径穴部１３３側に、内側シート部１３４を径方向に横断する通路溝２２１が形成されている。通路溝２２１は、内側シート部１３４の本体部１４０とは反対側の先端面から弁座部材１０９の軸方向に凹んで形成されている。通路溝２２１は、弁座部材１０９の周方向において隣り合うバルブシート構成部２０１とバルブシート構成部２０１との間も含んでいる。通路孔２１６は、通路溝２２１の底面に開口している。通路溝２２１は、通路孔２１６と大径穴部１３３とを連通させる。

通路孔２１６と、この通路孔２１６が開口する通路凹部２１５とが、弁座部材１０９に設けられる第１通路部１６１を形成している。弁座部材１０９には第１通路部１６１が複数、弁座部材１０９の周方向に等間隔で設けられている。通路溝２２１は、第１通路部１６１に向けて径方向に延びる径方向通路２２２を形成している。弁座部材１０９には径方向通路２２２が複数、弁座部材１０９の周方向に等間隔で設けられている。

弁座部材１０９は、弁座部材１０９の周方向において隣り合うバルブシート構成部２１１とバルブシート構成部２１１との間が通路溝２２５となっている。通路孔２０６は、通路溝２２５の底面に開口している。よって、通路溝２２５は、通路孔２０６に連通する。

通路孔２０６と、この通路孔２０６が開口する通路凹部２０５とが、弁座部材１０９に設けられる第２通路部１６２を形成している。弁座部材１０９には第２通路部１６２が複数、弁座部材１０９の周方向に等間隔で設けられている。

複数の第１通路部１６１および複数の第２通路部１６２が、弁座部材１０９に設けられて油液Ｌが流通する弁座部材通路部１６０を構成している。

弁座部材１０９には、本体部１４０の外周部の軸方向中間位置に、径方向内方に凹む円環状のシール溝１４１が形成されている。このシール溝１４１内に、Ｏリング１０８が配置されている。弁座部材１０９は、内側シート部１３８およびバルブシート部１３９を、底部１２２とは反対側に向けた状態で、外周部においてキャップ部材９５の筒状部１２４に嵌合されている。この状態で、Ｏリング１０８は、キャップ部材９５の筒状部１２４と弁座部材１０９との隙間をシールする。

キャップ部材９５、Ｏリング１０８および弁座部材１０９は、キャップ部材９５の内側にキャップ室１４６を形成している。キャップ室１４６は、キャップ部材９５の底部１２２と弁座部材１０９との間に設けられている。図３に示すように、ディスク９７，１０２～１０４，１０６、可撓ディスク１００、弁座ディスク１０１、バネ部材１０５、サブバルブ１０７および皿バネ１１６は、このキャップ室１４６内に設けられている。

キャップ室１４６内には、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク９７と、キャップ部材９５の底部１２２とで囲まれて下室連通室１４９が形成されている。この下室連通室１４９は、皿バネ１１６の複数の穴部４１５内の連通路４２５およびキャップ部材９５の底部１２２の複数の通路孔１２６内の連通路１４８に常時連通している。

キャップ室１４６内には、キャップ部材９５と、皿バネ１１６と、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２～１０４，１０６と、バネ部材１０５と、サブバルブ１０７とで囲まれて上室連通室１４７が形成されている。下室連通室１４９と上室連通室１４７とは、皿バネ１１６と、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１とによって連通が遮断されている。

図２に示すように、環状の弁座部材１０９および有底筒状のキャップ部材９５は、下室２３に配置されている。その際に、弁座部材１０９は、バルブシート部１３５がキャップ室１４６側に、バルブシート部１３９が下室２３側に配置されている。図３に示すように、キャップ部材９５の底部１２２の連通路１４８は、下室２３に常時連通している。

上室連通室１４７は、キャップ部材９５の筒状部１２４とサブバルブ１０７との間の通路と、弁座部材１０９の通路溝２２１内の径方向通路２２２と、弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１およびピストン２１の大径穴部４６内の通路と、ディスク８２の切欠部９０内の通路と、ピストン２１の環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路とを介して、図２に示す上室２２に常時連通している。

可撓ディスク１００が軸方向に撓むことによって、下室連通室１４９および上室連通室１４７の容積が変化する。すなわち、可撓ディスク１００が撓むことによって下室連通室１４９および上室連通室１４７にアキュムレータの機能をもたせる。下室連通室１４９は、上室連通室１４７の容積の増大を吸収するために容積が減少して油液Ｌを下室２３に排出したり、上室連通室１４７の容積の減少を吸収するために容積が増大して油液Ｌを下室２３から流入させたりする。逆に、上室連通室１４７は、下室連通室１４９の容積の増大を吸収するために容積が減少して油液Ｌを上室２２側に排出したり、下室連通室１４９の容積の減少を吸収するために容積が増大して油液Ｌを上室２２側から流入させたりする。
以上のようにして、可撓ディスク１００の変形が上室連通室１４７および下室連通室１４９の油液Ｌによって阻害されることが抑制される。

弁座部材１０９の複数の通路溝２２５は下室２３に臨んで設けられている。複数の第２通路部１６２は、複数の通路溝２２５内の通路を介して下室２３に常時連通している。図３に示すように、皿バネ１１６に形成された連通路４２５およびキャップ部材９５の底部１２２に形成された連通路１４８は、上室２２および下室２３のうちの一方である下室２３と常時連通する。

弁座部材１０９の第１通路部１６１に開口する通路溝２２１内の径方向通路２２２は、上室連通室１４７に常時連通している。径方向通路２２２は、上室連通室１４７内と、弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路およびピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１とを常時連通している。

図２に示すように、サブバルブ１０７は、ディスク状である。サブバルブ１０７は、弁座部材１０９のバルブシート部１３５の外径と同等の外径を有する。サブバルブ１０７は、内側シート部１３４に常時当接し、バルブシート部１３５に離着座可能である。サブバルブ１０７は、バルブシート部１３５の全体に着座することで、すべての第２通路部１６２を閉塞する。サブバルブ１０７は、バルブシート部１３５のうちのいずれかのバルブシート構成部２０１の全体に着座することで、バルブシート構成部２０１の内側の第２通路部１６２を閉塞する。バネ部材１０５は、サブバルブ１０７を弁座部材１０９のバルブシート部１３５に当接させる。サブバルブ１０７は、バネ部材１０５の付勢力によってバルブシート部１３５に着座して第２通路部１６２を閉塞する。

バルブシート部１３５に離着座可能なサブバルブ１０７は、キャップ室１４６内に設けられている。サブバルブ１０７は、キャップ室１４６内でバルブシート部１３５から離座することで、複数の第２通路部１６２と上室連通室１４７とを連通させ、その結果、下室２３を上室２２に連通させる。このとき、サブバルブ１０７は、バルブシート部１３５との間の油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生する。サブバルブ１０７は、下室２３から上室連通室１４７側へ、複数の第２通路部１６２を介して油液Ｌを流入させる際に開く流入バルブである。サブバルブ１０７は、上室連通室１４７から下室２３への第２通路部１６２を介しての油液Ｌの流出を規制する逆止弁である。ここで、第１通路部１６１を構成する通路孔２１６は、弁座部材１０９におけるバルブシート部１３５の範囲よりも外側に開口している。このため、通路孔２１６は、バルブシート部１３５に着座するサブバルブ１０７とは無関係に上室連通室１４７に常時連通する。

複数の通路溝２２５内の通路と、複数の第２通路部１６２と、開弁時に出現するサブバルブ１０７およびバルブシート部１３５の間の通路と、上室連通室１４７と、弁座部材１０９の通路溝２２１内の径方向通路２２２と、弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１およびピストン２１の大径穴部４６内の通路と、ディスク８２の切欠部９０内の通路と、ピストン２１の環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路とが、第２通路１７２を構成している。ピストン２１の下室２３側への移動により、油液Ｌが、第２通路１７２を通ってシリンダ４内の上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に流れる。第２通路１７２は、ピストン２１の下室２３側への移動、つまり縮み行程において上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に向けて油液Ｌが流れ出す縮み側の通路となる。縮み側の第２通路１７２は、同じく縮み側の第１通路７２とは別に設けられている。

連通路１４８，４２５と下室連通室１４９とは、縮み側の第３通路５１１を構成している。第３通路５１１は常時下室２３に連通する。縮み側の第３通路５１１は、同じく縮み側の第２通路１７２とは別に設けられている。第３通路５１１は、第２通路１７２に対して並列に配置されている。

ディスク１０４は、サブバルブ１０７よりも厚く剛性が高い。ディスク１０４は、サブバルブ１０７の変形時にサブバルブ１０７に当接して、それ以上のサブバルブ１０７の変形を抑制する。ディスク１０４は、可撓ディスク１００の変形時に可撓ディスク１００に当接して、それ以上の可撓ディスク１００の変形を抑制する。サブバルブ１０７と、バルブシート部１３５を含む弁座部材１０９と、キャップ部材９５と、キャップ部材９５に形成された連通路１４８と、皿バネ１１６と、図３に示すディスク９７，１０２～１０４，１０６と、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、バネ部材１０５とが、縮み側の第２減衰力発生機構１７３を構成している。第２減衰力発生機構１７３は、図２に示す縮み側の第２通路１７２に設けられる。第２減衰力発生機構１７３は、第２通路１７２を開閉し、この第２通路１７２から上室２２への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生する。

第２減衰力発生機構１７３は、ピストンロッド２５に設けられている。第２減衰力発生機構１７３のバルブシート部１３５が弁座部材１０９に設けられている。第２減衰力発生機構１７３は、同じ縮み行程で減衰力を発生させる第１減衰力発生機構４２とは別に配置されている。縮み側の第２減衰力発生機構１７３を構成するサブバルブ１０７は、縮み側のサブバルブである。キャップ部材９５は、第２減衰力発生機構１７３の一端面側と弁座部材１０９の外周面側とを覆っている。キャップ部材９５は、第２減衰力発生機構１７３の一端面側と弁座部材１０９の外周面の少なくとも一部とを覆っていれば良い。

図３に示すように、キャップ部材９５の軸方向一端側の底部１２２には、キャップ部材９５の内外を連通する連通路１４８が形成されている。皿バネ１１６は、軸方向の一端面側がキャップ部材９５の連通路１４８よりも外周側と当接するよう設けられている。撓み可能な可撓ディスク１００は、皿バネ１１６の軸方向の他端面側と当接するように設けられている。

図２に示すように、第２通路１７２において、第２減衰力発生機構１７３が開状態にあるときに、ディスク８２の切欠部９０内の通路が、流路断面積が固定の部分の中で最も狭く、流路断面積がその上流側および下流側よりも狭くなって、第２通路１７２におけるオリフィス１７５となる。オリフィス１７５は、サブバルブ１０７が開弁して第２通路１７２で油液Ｌが流れる際の油液Ｌの流れのサブバルブ１０７よりも下流側に配置されている。オリフィス１７５は、サブバルブ１０７が開弁して第２通路１７２で油液Ｌが流れる際の油液Ｌの流れのサブバルブ１０７よりも上流側に配置されていても良い。オリフィス１７５は、第１減衰力発生機構４１のうち、ピストン２１に当接するディスク８２を切り欠いて形成されている。

縮み側の第２減衰力発生機構１７３は、バルブシート部１３５およびこれに当接するサブバルブ１０７のいずれにも、これらが当接状態にあっても上室２２と下室２３とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、縮み側の第２減衰力発生機構１７３は、バルブシート部１３５とサブバルブ１０７とが全周にわたって当接状態にあれば、上室２２と下室２３とを連通させることはない。言い換えれば、第２通路１７２は、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスは形成されておらず、上室２２と下室２３とを常時連通させる通路ではない。

上室２２と下室２３とを連通可能な縮み側の第２通路１７２は、同じく上室２２と下室２３とを連通可能な縮み側の通路である第１通路７２と並列している。第１通路７２に第１減衰力発生機構４２が設けられている。第２通路１７２に第２減衰力発生機構１７３が設けられている。よって、縮み側の第１減衰力発生機構４２および第２減衰力発生機構１７３は、並列に配置されている。

図３に示すように、サブバルブ１１０は、ディスク状である。サブバルブ１１０は、弁座部材１０９のバルブシート部１３９の外径と同等の外径を有する。サブバルブ１１０は、内側シート部１３８に常時当接し、バルブシート部１３９に離着座可能である。サブバルブ１１０は、バルブシート部１３９の全体に着座することで、すべての第１通路部１６１を閉塞する。サブバルブ１１０は、バルブシート部１３９のうちのいずれかのバルブシート構成部２１１の全体に着座することで、バルブシート構成部２１１の内側の第１通路部１６１を閉塞する。サブバルブ１１０は、サブバルブ１０７と同形状として、互換性を持たせることができる。

ディスク１１１は、ディスク１０６と同形状であり、互換性を有する。ディスク１１１の外径は、サブバルブ１１０の外径よりも小径であって、内側シート部１３８の外径よりも小径である。

バネ部材１１２は、取付軸部２８に嵌合する有孔円形平板状の基板部３４１と、基板部３４１の周方向の等間隔位置から基板部３４１の径方向の外方に延出する複数のバネ板部３４２とを有している。基板部３４１の外径は、ディスク１１１の外径よりも大径である。バネ板部３４２は、延出先端側ほど基板部３４１から基板部３４１の軸方向に離れるように基板部３４１に対して傾斜している。バネ部材１１２は、基板部３４１からバネ板部３４２が基板部３４１の軸方向においてサブバルブ１１０側に延出するように取付軸部２８に取り付けられている。バネ部材１１２の基板部３４１がディスク１１１に当接する。バネ部材１１２の複数のバネ板部３４２がサブバルブ１１０に当接する。バネ部材１１２は、サブバルブ１１０を弁座部材１０９のバルブシート部１３９に当接させる。サブバルブ１１０は、バネ部材１１２の付勢力によってバルブシート部１３９に着座して第１通路部１６１を閉塞する。

サブバルブ１１０は、下室２３内に設けられている。サブバルブ１１０は、バルブシート部１３９から離座することで、上室２２および上室連通室１４７と、下室２３とを連通させる。このとき、サブバルブ１１０は、バルブシート部１３９との間の油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生する。サブバルブ１１０は、上室２２および上室連通室１４７内から油液Ｌを下室２３に、弁座部材１０９の複数の第１通路部１６１を介して排出する際に開く排出バルブである。サブバルブ１１０は、下室２３から上室２２および上室連通室１４７内への第１通路部１６１を介しての油液Ｌの流入を規制する逆止弁である。図２に示すように、第２通路部１６２を構成する通路孔２０６は、弁座部材１０９におけるバルブシート部１３９の範囲よりも外側に開口している。このため、通路孔２０６は、バルブシート部１３９に着座するサブバルブ１１０とは無関係に下室２３に常時連通する。

ピストン２１の複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路と、ディスク８２の切欠部９０内の通路と、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１、ピストン２１の大径穴部４６内の通路および弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路と、弁座部材１０９の通路溝２２１内の径方向通路２２２と、弁座部材１０９の複数の第１通路部１６１と、開弁時に出現するサブバルブ１１０およびバルブシート部１３９の間の通路とが、第２通路１８２を構成している。ピストン２１の上室２２側への移動により、油液Ｌが、シリンダ４内の上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に第２通路１８２を通って流れる。第２通路１８２は、ピストン２１の上室２２側への移動、つまり伸び行程において上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に向けて油液Ｌが流れ出す伸び側の通路となる。

上室２２と下室２３とを連通可能な伸び側の第２通路１８２は、上室２２と下室２３とを連通可能な伸び側の通路である第１通路９２と、上室２２側の環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路を除いて並列している。第１通路９２および第２通路１８２は、並列部分が、互いに別に設けられている。

上室連通室１４７は、キャップ部材９５の筒状部１２４とサブバルブ１０７との間の通路とで、伸び側の第３通路５１２を構成する。伸び側の第３通路５１２は、同じく伸び側の第２通路１８２から分岐しており、第２通路１８２とは別に設けられている。

ディスク１１３は、外径が、サブバルブ１１０の外径と同等になっている。ディスク１１３は、サブバルブ１１０よりも厚く剛性が高い。ディスク１１３は、サブバルブ１１０の変形時にサブバルブ１１０に当接して、それ以上のサブバルブ１１０の変形を抑制する。環状部材１１４は、外径が、ディスク１１３の外径よりも小径である。環状部材１１４は、環状部材６９と同形状の共通部品である。

サブバルブ１１０と、バルブシート部１３９を含む弁座部材１０９と、ディスク１１１，１１３と、バネ部材１１２とが、伸び側の第２減衰力発生機構１８３を構成している。第２減衰力発生機構１８３は、伸び側の第２通路１８２に設けられる。第２減衰力発生機構１８３は、第２通路１８２を開閉し、この第２通路１８２から下室２３への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生する。言い換えれば、この第２減衰力発生機構１８３は、ピストンロッド２５に設けられている。第２減衰力発生機構１８３のバルブシート部１３９が弁座部材１０９に設けられている。第２減衰力発生機構１８３は、伸び行程で減衰力を発生させる第１減衰力発生機構４１とは別に配置されている。伸び側の第２減衰力発生機構１８３を構成するサブバルブ１１０は、伸び側のサブバルブである。

図３に示すように、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク９７と、キャップ部材９５の底部１２２と、下室連通室１４９とが、下室連通室１４９の体積を変更可能な下室体積可変機構１８５を構成している。下室体積可変機構１８５は、下室連通室１４９を含む縮み側の第３通路５１１に設けられている。流路上、可撓ディスク１００とサブバルブ１１０との、下室２３および連通路１４８，４２５を介しての間に下室連通室１４９が設けられている。

下室体積可変機構１８５は、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、底部１２２から離れるように一体に変形し移動することで下室連通室１４９の体積を増やすように変更する。その際に、可撓ディスク１００は、全周にわたって皿バネ１１６に当接する状態が維持されていれば、皿バネ１１６の外側円錐状部４０３との間が閉塞される。すなわち、可撓ディスク１００は、底部１２２から離れるように変形する際に、全周にわたって皿バネ１１６に当接する状態が維持されていれば、下室連通室１４９と上室連通室１４７との遮断状態を維持する。

下室体積可変機構１８５は、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、底部１２２に近づくように一体に変形し移動することで下室連通室１４９の体積を減らすように変更する。その際に、可撓ディスク１００は、全体的に皿バネ１１６に当接する状態が維持され皿バネ１１６の外側円錐状部４０３との間が閉塞される。

図２に示すように、上室２２に連通する上室連通室１４７を含む伸び側の第３通路５１２は、伸び側の第２通路１８２から分岐しており、第２通路１８２とは別に設けられている。図３に示すように、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５と、上室連通室１４７とが、上室連通室１４７の体積を変更可能な上室体積可変機構１８６を構成している。上室体積可変機構１８６は、上室連通室１４７を含む伸び側の第３通路５１２に設けられている。流路上、可撓ディスク１００とサブバルブ１０７との間に上室連通室１４７が設けられている。

上室体積可変機構１８６は、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、ディスク１０４から離れるように一体に変形し移動することで上室連通室１４７の体積を増やすように変更する。その際に、弁座ディスク１０１は、全体的に可撓ディスク１００に当接する状態が維持されていれば、可撓ディスク１００の連通孔５０１内の連通路５０５を閉塞する。すなわち、下室連通室１４９と上室連通室１４７との遮断状態を維持する。

上室体積可変機構１８６は、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、ディスク１０４に近づくように変形し移動することで上室連通室１４７の体積を減らすように変更する。その際に、弁座ディスク１０１は、全体的に可撓ディスク１００に当接する状態が維持され可撓ディスク１００の連通孔５０１内の連通路５０５を閉塞する。

下室体積可変機構１８５と上室体積可変機構１８６とに対して、可撓ディスク１００、弁座ディスク１０１および皿バネ１１６が共用である。下室連通室１４９を含む下室体積可変機構１８５と、上室連通室１４７を含む上室体積可変機構１８６とが、作動流体としての油液を貯留するアキュムレータ１９０を構成している。アキュムレータ１９０は、ピストンロッド２５に設けられている。アキュムレータ１９０は、緩衝器１内に、伸び側の第２減衰力発生機構１８３とは別に配置されている。アキュムレータ１９０の可撓ディスク１００は、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３が開弁するよりも前に変形し、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３が開弁するよりも前に変形する。

第２通路１８２において、第２減衰力発生機構１８３が開状態にあるときに、ディスク８２の切欠部９０内の通路が、流路断面積が固定の部分の中で最も狭く、流路断面積がその上流側および下流側よりも狭くなって第２通路１８２においてもオリフィス１７５となる。オリフィス１７５は、第２通路１７２，１８２に共通である。オリフィス１７５は、サブバルブ１１０が開弁して第２通路１８２で油液Ｌが流れる際の油液Ｌの流れのサブバルブ１１０よりも上流側に配置されている。オリフィス１７５は、サブバルブ１１０が開弁して第２通路１８２で油液Ｌが流れる際の油液Ｌの流れのサブバルブ１１０よりも下流側に配置されていても良い。サブバルブ１１０と、上記したサブバルブ１０７とは独立して開閉する。

伸び側の第２減衰力発生機構１８３は、バルブシート部１３９およびこれに当接するサブバルブ１１０のいずれにも、これらが当接状態にあっても上室２２と下室２３とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、伸び側の第２減衰力発生機構１８３は、バルブシート部１３９とサブバルブ１１０とが全周にわたって当接状態にあれば、上室２２と下室２３とを連通させることはない。言い換えれば、第２通路１８２は、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスは形成されておらず、上室２２と下室２３とを常時連通させる通路ではない。環状部材１１４は、ディスク１１３とによって、サブバルブ１１０の開方向への規定以上の変形をサブバルブ１１０に当接して規制する。

緩衝器１は、少なくともピストン２１の範囲内で軸方向に油液Ｌを通過させる流れとしては、上室２２と下室２３とが、第１減衰力発生機構４１，４２および第２減衰力発生機構１７３，１８３を介してのみ連通可能である。緩衝器１は、油液Ｌの通路上には、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスは設けられていない。

上記したように第２通路１８２と第１通路９２とは、環状溝５５内および複数の通路穴３８内の通路を除いて並列している。並列部分には、第１通路９２に第１減衰力発生機構４１が設けられている。第２通路１８２に第２減衰力発生機構１８３が設けられている。よって、伸び側の第１減衰力発生機構４１および第２減衰力発生機構１８３は、並列に配置されている。

第２減衰力発生機構１７３，１８３は、弁座部材１０９と、第２通路１７２，１８２のうちの弁座部材１０９に設けられる部分である弁座部材通路部１６０の一側に設けられるサブバルブ１１０および弁座部材通路部１６０の他側に設けられるサブバルブ１０７と、第２通路１７２，１８２におけるピストン２１と弁座部材１０９との間に設けられる有底筒状のキャップ部材９５と、を備えている。弁座部材１０９はキャップ部材９５内に設けられている。サブバルブ１１０は、弁座部材１０９の下室２３側に設けられている。サブバルブ１０７は、キャップ部材９５の底部１２２と弁座部材１０９との間のキャップ室１４６内に設けられている。

上室体積可変機構１８６は、可撓ディスク１００が、ディスク１０４から離れるように変形し移動することで上室連通室１４７の体積を増やすように変更する。第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態で、上室連通室１４７と下室連通室１４９との圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００は、図６に示すように、皿バネ１１６の外側円錐状部４０３を底部１２２側に弾性変形させながら、外周側が底部１２２側に変形する。すると、可撓ディスク１００は、弁座ディスク１０１から軸方向に離れ、連通孔５０１内の連通路５０５を介して上室連通室１４７と下室連通室１４９とを連通させる。連通孔５０１内の連通路５０５と、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１の間の通路とが、伸び行程において、上室連通室１４７と下室連通室１４９とを連通させる伸び側の第４通路５２１である。第４通路５２１は、上室連通室１４７を含む第３通路５１２とは別に設けられている。第４通路５２１は、開いた時に第３通路５１２と直列で連通するように設けられている。

可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが、第４通路５２１を介して上室連通室１４７から下室連通室１４９に、言い換えれば上室２２から下室２３に油液Ｌを流す伸び側のリリーフ機構５２２を構成している。リリーフ機構５２２は、伸び側の第４通路５２１に設けられている。リリーフ機構５２２は、伸び側の第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁するように設定されている。

上室体積可変機構１８６は、撓み可能な可撓ディスク１００と、皿バネ１１６と、を有している。可撓ディスク１００は、第２減衰力発生機構１８３が開弁するよりも前に変形する。可撓ディスク１００には、内周端部から外周端部までの間に、上流側と下流側とを連通する連通孔５０１が形成されている。皿バネ１１６は、可撓ディスク１００の端面に当接し可撓ディスク１００を付勢する。リリーフ機構５２２は、可撓ディスク１００の連通孔５０１を、この可撓ディスク１００の撓み量により開閉可能に配置されている。

下室体積可変機構１８５は、可撓ディスク１００が、ディスク１０４に近づくように変形し移動することで下室連通室１４９の体積を増やすように変更する。第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態で、上室連通室１４７と下室連通室１４９との圧力差が所定値を超えると、図７に示すように、可撓ディスク１００の外周側の変形量が大きくなる。すると、可撓ディスク１００は、皿バネ１１６から軸方向に離れ、皿バネ１１６との間を介して下室連通室１４９と上室連通室１４７とを連通させる。言い換えれば、皿バネ１１６は、可撓ディスク１００の端面に当接する部分が、可撓ディスク１００の撓み量により、可撓ディスク１００の端面から少なくとも一部離れる。可撓ディスク１００と皿バネ１１６との間の通路が、縮み行程において、下室連通室１４９と上室連通室１４７とを連通させる縮み側の第４通路５３１である。第４通路５３１は、下室連通室１４９を含む第３通路５１１とは別に設けられている。第４通路５３１は、開いた時に、第３通路５１１と直列で連通するように設けられている。

可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが、第４通路５３１を介して下室連通室１４９から上室連通室１４７に、言い換えれば下室２３から上室２２に油液Ｌを流す縮み側のリリーフ機構５３２を構成している。リリーフ機構５３２は、縮み側の第４通路５３１に設けられている。リリーフ機構５３２は、縮み側の第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁するように設定されている。

ピストンロッド２５に組み付けられた状態で、メインバルブ７１は、ディスク６３とディスク６７とに内周側がクランプされるとともに、ピストン２１のバルブシート部５０に外周側が全周にわたって当接する。この状態で、メインバルブ９１は、ディスク８３とディスク８７とに内周側がクランプされるとともに、ピストン２１のバルブシート部４８に外周側が全周にわたって当接する。

この状態で、サブバルブ１０７は、弁座部材１０９の内側シート部１３４とディスク１０６とに内周側がクランプされるとともに、弁座部材１０９のバルブシート部１３５に全周にわたって当接する。この状態で、サブバルブ１１０は、弁座部材１０９の内側シート部１３８とディスク１１１とに内周側がクランプされるとともに、弁座部材１０９のバルブシート部１３９に全周にわたって当接する。

この状態で、図３に示すように、可撓ディスク１００は、弁座ディスク１０１と共にディスク９７，１０２に内周側がクランプされるとともに、外周側が全周にわたって皿バネ１１６の外側円錐状部４０３に当接する。その際に、可撓ディスク１００は、ディスク９７よりも径方向外側の部分が径方向外側ほど軸方向において底部１２２から離れるようにテーパ状に弾性変形する。このとき、皿バネ１１６は、その外側円錐状部４０３が弾性変形しつつ可撓ディスク１００に全周にわたって当接する。この状態で、弁座ディスク１０１も、可撓ディスク１００の形状に倣って、ディスク１０２よりも径方向外側の部分が径方向外側ほど軸方向において底部１２２から離れるようにテーパ状に弾性変形する。

図１に示すように、バルブボディ１２には、軸方向に貫通する液通路２５１および液通路２５２が形成されている。液通路２５１，２５２は、下室２３とリザーバ室５とを連通可能である。ベースバルブ１５は、バルブボディ１２の軸方向の底部材９側に、液通路２５１を開閉可能な縮み側の減衰力発生機構２５５を有している。ベースバルブ１５は、バルブボディ１２の軸方向の底部材９とは反対側に、液通路２５２を開閉可能な伸び側の減衰力発生機構２５６を有している。

ベースバルブ１５は、ピストンロッド２５が縮み側に移動しピストン２１が下室２３を狭める方向に移動して下室２３の圧力がリザーバ室５の圧力よりも所定値以上高くなると、減衰力発生機構２５５が液通路２５１を開いて、下室２３の油液Ｌをリザーバ室５に流し、その際に減衰力を発生させる。言い換えれば、ピストンロッド２５が縮み側に移動してピストン２１を移動させると、液通路２５１において油液Ｌがリザーバ室５に流れ出す。減衰力発生機構２５５は、縮み側の減衰力発生機構である。この減衰力発生機構２５５は、液通路２５２の油液Ｌの流れを阻害することはない。

ベースバルブ１５は、ピストンロッド２５が伸び側に移動しピストン２１が上室２２側に移動して下室２３の圧力がリザーバ室５の圧力より低下すると、減衰力発生機構２５６が液通路２５２を開いて、リザーバ室５の油液Ｌを下室２３に流し、その際に減衰力を発生させる。言い換えれば、ピストンロッド２５が伸び側に移動してピストン２１を移動させると、液通路２５２において油液Ｌが下室２３に流れ出す。減衰力発生機構２５６は、伸び側の減衰力発生機構である。この減衰力発生機構２５６は、液通路２５１の油液Ｌの流れを阻害することはない。減衰力発生機構２５６は、リザーバ室５から下室２３内に実質的に減衰力を発生させずに油液Ｌを流すサクションバルブとしても良い。

以上の第１実施形態の緩衝器１のピストン２１等のピストンロッド２５に設けられた部品による油圧回路図を図８に示す。上室２２と下室２３との間に第１減衰力発生機構４１，４２と第２減衰力発生機構１７３，１８３とが並列に設けられている。第２減衰力発生機構１７３，１８３の上室２２側にオリフィス１７５が設けられている。オリフィス１７５よりも下室２３側に、第２減衰力発生機構１７３，１８３と並列してアキュムレータ１９０が設けられている。オリフィス１７５よりも下室２３側に、第２減衰力発生機構１７３，１８３およびアキュムレータ１９０と並列してリリーフ機構５２２，５３２が設けられている。

＜作動＞
図２に示すように、第１減衰力発生機構４１のメインバルブ９１は、第２減衰力発生機構１８３のサブバルブ１１０よりも剛性が高く開弁圧が高い。よって、伸び行程において、ピストン速度が所定値よりも低速の極微低速領域では第１減衰力発生機構４１は閉弁した状態で第２減衰力発生機構１８３が開弁する。また、ピストン速度がこの所定値以上の通常速度領域では、第１減衰力発生機構４１および第２減衰力発生機構１８３が共に開弁する。サブバルブ１１０は、ピストン速度が極微低速の領域で開弁して減衰力を発生させる極微低速バルブである。

すなわち、伸び行程においては、ピストン２１が上室２２側に移動することで上室２２の圧力が高くなり、下室２３の圧力が低くなる。すると、第１減衰力発生機構４１，４２および第２減衰力発生機構１７３，１８３のいずれにも、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスはないものの、上室２２の油液Ｌが、ピストン２１の複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路と、オリフィス１７５と、ピストン２１の大径穴部４６内の通路、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１および弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路と、弁座部材１０９の通路溝２２１内の径方向通路２２２と、第３通路５１２とを介して上室連通室１４７に流入する。これにより、上室連通室１４７が昇圧する。このため、上室体積可変機構１８６は、第２減衰力発生機構１８３が開弁する前に、可撓ディスク１００の皿バネ１１６の外側円錐状部４０３への当接位置よりも径方向内側の部分が、底部１２２側に撓んで上室連通室１４７の容量を大きくする。これにより、上室体積可変機構１８６が、上室連通室１４７の圧力の上昇を抑える。このとき、弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００に倣って変形し第４通路５２１の閉状態を維持する。また、このとき、可撓ディスク１００が底部１２２側に撓んで移動することから、下室体積可変機構１８５は下室連通室１４９の体積を小さくする。

ここで、緩衝器１の低周波入力時（大振幅加振時）の伸び行程では、上記のような上室２２から上室連通室１４７への油液Ｌの流入量が大となるため、可撓ディスク１００が大きく変形する。可撓ディスク１００は変形量が大きくなると、クランプされた内周側の支持剛性による反力が大きくなって変形量に制限がかかる。これにより、上室連通室１４７が昇圧していく。その結果、第２減衰力発生機構１８３が開弁する状態まで第２通路１８２が昇圧する。

このとき、第１減衰力発生機構４１，４２および第２減衰力発生機構１７３，１８３のいずれにも、上室２２と下室２３とを常時連通させる固定オリフィスがないことから、ピストン速度が、第２減衰力発生機構１８３が開弁する第１所定値未満での伸び行程においては、減衰力が急激に立ち上がる。また、ピストン速度が、第１所定値よりも高速の領域であって、第１所定値よりも高速の第２所定値よりも低速の極微低速領域では、第１減衰力発生機構４１は閉弁した状態で第２減衰力発生機構１８３が開弁する。

つまり、サブバルブ１１０がバルブシート部１３９から離座して、伸び側の第２通路１８２で上室２２と下室２３とを連通させる。よって、上室２２の油液Ｌが、ピストン２１の複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路と、オリフィス１７５と、ピストン２１の大径穴部４６内の通路、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１および弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路と、弁座部材１０９の通路溝２２１内の径方向通路２２２と、弁座部材１０９内の第１通路部１６１と、サブバルブ１１０およびバルブシート部１３９の間の通路とを介して下室２３に流れる。これにより、ピストン速度が第２所定値よりも低速の極微低速領域でも、バルブ特性（減衰力がピストン速度にほぼ比例する特性）の減衰力が得られる。

伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁するリリーフ機構５２２が設けられている。このため、ピストン速度が第２所定値以上の通常速度領域では、上室連通室１４７の圧力が高くなると、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態のまま、図６に示すように、リリーフ機構５２２が第４通路５２１を開いて、上室連通室１４７の油液Ｌを下室２３に流す。その後、第２減衰力発生機構１８３およびリリーフ機構５２２が開弁した状態のまま、第１減衰力発生機構４１が開弁する。すなわち、上記のようにサブバルブ１１０がバルブシート部１３９から離座して、伸び側の第２通路１８２で上室２２から下室２３に油液Ｌを流し、その後、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態のまま、リリーフ機構５２２が第４通路５２１を開いて、第４通路５２１で上室２２から下室２３に油液Ｌを流す。このとき、第２通路１８２においてメインバルブ９１よりも下流側に設けられたオリフィス１７５で油液Ｌの流れが絞られることにより、メインバルブ９１に加わる圧力が高くなって差圧が高まり、メインバルブ９１がバルブシート部４８から離座して、伸び側の第１通路９２で上室２２から下室２３に油液Ｌを流す。よって、上室２２の油液Ｌが、複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路と、メインバルブ９１およびバルブシート部４８の間の通路とを介して下室２３に流れる。

これにより、ピストン速度が第２所定値以上の通常速度領域でも、バルブ特性（減衰力がピストン速度にほぼ比例する）の減衰力が得られる。通常速度領域におけるピストン速度の増加に対する伸び側の減衰力の増加率は、極微低速領域におけるピストン速度の増加に対する伸び側の減衰力の増加率よりも低くなる。言い換えれば、通常速度領域におけるピストン速度の上昇に対する伸び側の減衰力の増加率の傾きを、極微低速領域よりも寝かせることができる。

ここで、伸び行程において、ピストン速度が第２所定値以上の通常速度領域では、上室２２と下室２３との差圧は、第１所定値以上第２所定値未満の低速領域よりも大きくなるが、第１通路９２はオリフィスによる絞りがないため、メインバルブ９１が開弁することで油液Ｌを第１通路９２を介して大流量で流すことができる。これと、第２通路１８２をオリフィス１７５で絞ること、及び、リリーフ機構５２２が第４通路５２１を開いて、上室連通室１４７の油液Ｌを下室２３に流すことにより、サブバルブ１１０の変形を抑制することができる。

このとき、閉状態のサブバルブ１０７には、下室２３と上室連通室１４７とから反対向きの圧力が加わる。上室２２と下室２３との差圧が大きくなっても、第２通路１８２においてサブバルブ１０７よりも上流側にオリフィス１７５が形成されているため、上室連通室１４７の圧力上昇が上室２２の圧力上昇に対して緩やかになる。更に、リリーフ機構５２２が第４通路５２１を開いて、上室連通室１４７の油液Ｌを下室２３に流す。これにより、上室連通室１４７と下室２３との圧力差が大きくなることを抑制する。よって、閉状態のサブバルブ１０７が受ける上室連通室１４７と下室２３との圧力差が大きくなることを抑制でき、サブバルブ１０７に上室連通室１４７側から下室２３側に向けた大きな背圧が加わることを抑制できる。

緩衝器１は、伸び行程で上室２２から下室２３に油液Ｌを流す流路を第１通路９２と第２通路１８２との並列で設け、メインバルブ９１とサブバルブ１１０とを並列で設けている。オリフィス１７５は、サブバルブ１１０と直列に接続されている。

以上のように、伸び行程において、ピストン速度が第２所定値以上の通常速度領域では、メインバルブ９１が開弁することで油液Ｌを第１通路９２を介して大流量で流すことができる。これにより、サブバルブ１１０およびバルブシート部１３９の間の通路を流れる流量が小さくなる。よって、例えば、ピストン速度が通常速度領域（第２所定値以上）でのピストン速度の上昇に対する減衰力の増加率を下げることができる。言い換えれば、通常速度領域（第２所定値以上）におけるピストン速度の上昇に対する伸び側の減衰力の増加率の傾きを、極微低速領域（第２所定値未満）よりも寝かせることができる。これにより、設計自由度を拡大することができる。

上記した低周波入力時よりも高い周波数が緩衝器１に入力される高周波入力時（小振幅加振時）の伸び行程では、上室２２から上室連通室１４７への油液Ｌの流入量が小さい。
このため、可撓ディスク１００の変形は小さく、上室体積可変機構１８６は、可撓ディスク１００の撓み量で、上室連通室１４７への油液Ｌの流入のボリュームを吸収できることになって、上室連通室１４７の昇圧が小さくなる。このため、極微低速減衰力の立ち上がり時には、あたかも、可撓ディスク１００がなく、上室連通室１４７が皿バネ１１６の連通路４２５およびキャップ部材９５の連通路１４８で下室２３に常時連通する状態、すなわち第２減衰力発生機構１８３がない構造と同じ状態にすることが可能となる。

よって、高周波入力時の伸び行程においては、低周波入力時に対して、極微低速減衰力の立ち上がりが緩やかになる。または、従来の減衰力特性に対して、極微低速減衰力の立ち上がりが緩やかになる。言い換えれば、伸び行程において、ピストン２１の周波数が所定周波数を超えると、可撓ディスク１００を含む上室体積可変機構１８６により、第２減衰力発生機構１８３のサブバルブ１１０への油液Ｌの流量を制限する。なお、可撓ディスク１００の剛性（板厚など）の違いにより、第２減衰力発生機構１８３の開弁までの減衰力変化（ピストン速度に対する減衰力の傾き）を調整できる。

第１減衰力発生機構４２のメインバルブ７１は、第２減衰力発生機構１７３のサブバルブ１０７よりも剛性が高く開弁圧が高い。よって、縮み行程において、ピストン速度が所定値よりも低速の極微低速領域では、第１減衰力発生機構４２は閉弁した状態で第２減衰力発生機構１７３が開弁する。ピストン速度がこの所定値以上の通常速度領域では、第１減衰力発生機構４２および第２減衰力発生機構１７３がともに開弁する。サブバルブ１０７は、ピストン速度が極微低速の領域で開弁して減衰力を発生させる極微低速バルブである。

すなわち、縮み行程においては、ピストン２１が下室２３側に移動することで下室２３の圧力が高くなり、上室２２の圧力が低くなる。すると、第１減衰力発生機構４１，４２および第２減衰力発生機構１７３，１８３のいずれにも、下室２３の油液Ｌが、キャップ部材９５の連通路１４８および皿バネ１１６の連通路４２５を介して下室連通室１４９に流入する。これにより、下室連通室１４９が昇圧する。このため、下室体積可変機構１８５は、第２減衰力発生機構１７３が開弁する前に、可撓ディスク１００が、ディスク１０４側に撓んで下室連通室１４９の容量を大きくする。これにより、下室体積可変機構１８５が、下室連通室１４９の圧力の上昇を抑える。このとき、弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００に倣って変形し第４通路５２１の閉状態を維持する。また、このとき、可撓ディスク１００がディスク１０４側に撓んで移動することから、上室体積可変機構１８６は上室連通室１４７の体積を小さくする。

緩衝器１の低周波入力時（大振幅加振時）の縮み行程では、上記のような下室２３から下室連通室１４９への油液Ｌの流入量が大となる。このため、可撓ディスク１００が大きく変形する。可撓ディスク１００は変形量が大きくなると、クランプされた内周側の支持剛性による反力が大きくなって変形量に制限がかかる。これにより、下室連通室１４９が昇圧する。その結果、第２減衰力発生機構１７３が開弁する状態まで第２通路１７２が昇圧する。

このとき、第１減衰力発生機構４１，４２および第２減衰力発生機構１７３，１８３のいずれにも、下室２３と上室２２とを常時連通させる固定オリフィスがない。このため、ピストン速度が、第２減衰力発生機構１７３が開弁する第３所定値未満での縮み行程においては、減衰力が急激に立ち上がる。また、ピストン速度が、第３所定値よりも高速の領域であって、第３所定値よりも高速の第４所定値よりも低速の極微低速領域では、第１減衰力発生機構４２は閉弁した状態で第２減衰力発生機構１７３が開弁する。

すなわち、サブバルブ１０７がバルブシート部１３５から離座して、縮み側の第２通路１７２で下室２３と上室２２とを連通させる。よって、下室２３の油液Ｌが、弁座部材１０９内の第２通路部１６２と、サブバルブ１０７およびバルブシート部１３５の間の通路と、上室連通室１４７と、弁座部材１０９の通路溝２２１内の径方向通路２２２と、弁座部材１０９の大径穴部１３３内の通路と、ピストンロッド２５の通路切欠部３０内のピストンロッド通路部５１と、ピストン２１の大径穴部４６内の通路と、オリフィス１７５と、ピストン２１の複数の通路穴３８内および環状溝５５内の通路と、を介して上室２２に流れる。これにより、ピストン速度が第４所定値よりも低速の極微低速領域でも、バルブ特性（減衰力がピストン速度にほぼ比例する特性）の減衰力が得られる。

また、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁するリリーフ機構５３２が設けられている。このため、ピストン速度が第４所定値以上の通常速度領域では、下室連通室１４９の圧力が高くなると、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態のまま、図７に示すように、リリーフ機構５３２が第４通路５３１を開いて、下室２３および下室連通室１４９の油液Ｌを上室連通室１４７を介して上室２２に流す。その後、第２減衰力発生機構１７３およびリリーフ機構５３２が開弁した状態のまま、第１減衰力発生機構４２が開弁する。すなわち、上記のようにサブバルブ１０７がバルブシート部１３５から離座して、縮み側の第２通路１７２で下室２３から上室２２に油液Ｌを流す。その後、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態のまま、リリーフ機構５３２が第４通路５３１を開いて、第４通路５３１で下室２３から上室２２に油液Ｌを流す。このとき、第２通路１７２においてサブバルブ１０７およびリリーフ機構５３２よりも下流側に設けられたオリフィス１７５で油液Ｌの流れが絞られることにより、メインバルブ７１に加わる圧力が高くなって差圧が高まり、メインバルブ７１がバルブシート部５０から離座して、縮み側の第１通路７２で下室２３から上室２２に油液Ｌを流す。よって、下室２３の油液Ｌが、複数の通路穴３９内および環状溝５６内の通路と、メインバルブ７１およびバルブシート部５０の間の通路とを介して上室２２に流れる。

これにより、ピストン速度が第４所定値以上の通常速度領域でも、バルブ特性（減衰力がピストン速度にほぼ比例する）の減衰力が得られる。通常速度領域におけるピストン速度の増加に対する縮み側の減衰力の増加率は、極微低速領域におけるピストン速度の増加に対する縮み側の減衰力の増加率よりも低くなる。言い換えれば、通常速度領域におけるピストン速度の上昇に対する伸び側の減衰力の増加率の傾きを、極微低速領域よりも寝かせることができる。

ここで、縮み行程において、ピストン速度が第４所定値以上の通常速度領域では、下室２３と上室２２との差圧は、第３所定値以上第４所定値未満の低速領域よりも大きくなるが、第１通路７２はオリフィスによる絞りがないため、メインバルブ７１が開弁することで油液Ｌを第１通路７２を介して大流量で流すことができる。これと、第２通路１７２をオリフィス１７５で絞ることと、リリーフ機構５３２が第４通路５３１を開いて、下室２３および下室連通室１４９の油液Ｌを上室連通室１４７に流すこととにより、サブバルブ１０７の変形を抑制することができる。

このとき、閉状態のサブバルブ１１０には下室２３と上室連通室１４７側とから反対向きの圧力が加わる。下室２３と上室２２との差圧が大きくなっても、第２通路１７２においてサブバルブ１１０よりも下流側にオリフィス１７５が形成されていることと、リリーフ機構５３２が第４通路５３１を開いて、下室２３および下室連通室１４９の油液Ｌを上室連通室１４７に流すことととにより、下室２３と上室連通室１４７との圧力差が大きくなることを抑制する。よって、閉状態のサブバルブ１１０が受ける下室２３と上室連通室１４７との圧力差が大きくなることを抑制でき、サブバルブ１１０に下室２３側から上室連通室１４７側に向けた大きな背圧が加わることを抑制できる。

緩衝器１には、縮み行程で下室２３から上室２２に油液Ｌを流す流路が、第１通路７２と第２通路１７２との並列で設けられている。緩衝器１には、メインバルブ７１とサブバルブ１０７とが並列で設けられている。オリフィス１７５はサブバルブ１０７と直列に接続されている。

以上のように、縮み行程において、ピストン速度が第４所定値以上の通常速度領域では、メインバルブ７１が開弁することで油液Ｌを第１通路７２を介して大流量で流すことができる。これにより、サブバルブ１０７およびバルブシート部１３５の間の通路を流れる流量が小さくなる。よって、例えば、ピストン速度が通常速度領域（第４所定値以上）でのピストン速度の上昇に対する減衰力の増加率を下げること等ができる。言い換えれば、通常速度領域（第４所定値以上）におけるピストン速度の上昇に対する縮み側の減衰力の増加率の傾きを、極微低速領域（第４所定値未満）よりも寝かせることができる。これにより、設計自由度を拡大することができる。

上記した低周波入力時よりも高い周波数が緩衝器１に入力される高周波入力時（小振幅加振時）の縮み行程では、下室２３から下室連通室１４９への油液Ｌの流入量が小さい。
このため、可撓ディスク１００の変形は小さい。よって、可撓ディスク１００の変形は小さく、下室体積可変機構１８５は、可撓ディスク１００の撓み量で、下室連通室１４９への油液Ｌの流入のボリュームを吸収できることになって、下室連通室１４９の昇圧が小さくなる。このため、極微低速減衰力の立ち上がり時には、あたかも、可撓ディスク１００がなく、下室連通室１４９が上室連通室１４７に常時連通する状態、すなわち第２減衰力発生機構１７３がない構造と同じ状態にすることが可能となる。

よって、高周波入力時の縮み行程において、低周波入力時または、従来の減衰力特性に対して、極微低速減衰力の立ち上がりが緩やかになる。言い換えれば、ピストン２１の周波数が所定周波数を超えると、可撓ディスク１００を含む下室体積可変機構１８５により、第２減衰力発生機構１７３のサブバルブ１０７への油液Ｌの流量を制限する。なお、可撓ディスク１００の剛性（板厚など）の違いにより、第２減衰力発生機構１７３の開弁までの減衰力変化（ピストン速度に対する減衰力の傾き）を調整できる。

ここで、縮み行程においては、減衰力発生機構２５５による減衰力特性も合わせた特性となる。

上記した特許文献１には、同一行程で開弁するバルブを２つ有する緩衝器が記載されている。このように同一行程で開弁するバルブを２つ有する構造を採用することで、一方のバルブを他方のバルブよりもピストン速度が低速の領域で開弁させ、これよりも高速の領域では両方のバルブを開弁させることができる。このような構造の緩衝器において、特に、微操舵入力時の応答性改善や良路乗り心地のフラット感改善等のため、極微低速領域での低周波入力時に減衰力を出す設定にすると、高周波入力時において異音が発生する可能性がある。また、緩衝器においては、付勢部材の組み付け性の向上が望まれている。

第１実施形態の緩衝器１は、キャップ部材９５の軸方向一端側の底部１２２および皿バネ１１６に、キャップ部材９５の内外を連通する連通路１４８，４２５が形成されている。皿バネ１１６が、軸方向の一端面側がキャップ部材９５の連通路１４８よりも外周側と当接するよう設けられている。撓み可能な可撓ディスク１００が、皿バネ１１６の軸方向の他端面側と当接するように設けられている。よって、キャップ部材９５と可撓ディスク１００と皿バネ１１６との間に、連通路１４８，４２５を介して下室２３に連通する下室連通室１４９を形成することができる。そして、可撓ディスク１００は、変形することにより下室連通室１４９の体積を変更する下室体積可変機構１８５を構成する。

これにより、上記のように縮み行程において、極微低速領域での低周波入力時に減衰力を出す設定にしても、高周波入力時には、下室体積可変機構１８５によって、第２通路１７２と並列に設けられた下室連通室１４９の体積を変更することが可能となる。よって、高周波入力時に、第２通路１７２を流れる油液Ｌの流量を変更することが可能となる。したがって、縮み行程において、極微低速領域での低周波入力時に減衰力を出す設定にしても、高周波入力時における縮み行程での異音の発生を抑制することが可能となる。

また、第１実施形態の緩衝器１は、可撓ディスク１００によって上室２２に連通する上室連通室１４７を形成することができる。そして、可撓ディスク１００は、変形することにより上室連通室１４７の体積を変更する上室体積可変機構１８６を構成する。

これにより、上記のように伸び行程において、極微低速領域での低周波入力時に減衰力を出す設定にしても、高周波入力時には、上室体積可変機構１８６によって、第２通路１８２に連通する上室連通室１４７の体積を変更することが可能となる。よって、高周波入力時に、第２通路１８２を流れる油液Ｌの流量を変更することが可能となる。したがって、伸び行程において、極微低速領域での低周波入力時に減衰力を出す設定にしても、高周波入力時における異音の発生を抑制することが可能となる。

また、第１実施形態の緩衝器１は、伸び側の第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁するリリーフ機構５２２が設けられている。このため、上室連通室１４７の圧力が高くなると、リリーフ機構５２２が第４通路５２１を開いて、上室２２および上室連通室１４７の油液Ｌを下室連通室１４９および下室２３に流す。これにより、可撓ディスク１００およびサブバルブ１１０の変形を抑制することができる。よって、可撓ディスク１００およびサブバルブ１１０の耐久性を向上させることができる。

また、第１実施形態の緩衝器１は、縮み側の第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁するリリーフ機構５３２が設けられている。このため、下室連通室１４９の圧力が高くなると、リリーフ機構５３２が第４通路５３１を開いて、下室２３および下室連通室１４９の油液Ｌを上室連通室１４７および上室２２に流す。これにより、可撓ディスク１００およびサブバルブ１０７の変形を抑制することができる。よって、可撓ディスク１００およびサブバルブ１０７の耐久性を向上させることができる。

皿バネ１１６は、内周端部から外周端部までの間に穴部４１５を有すると共に、内周端部がピストンロッド２５と当接するよう形成されている。このように、皿バネ１１６は、内周端部から外周端部までの間に穴部４１５を有するため、下室連通室１４９の下室２３への連通を確保することができる。その上で、皿バネ１１６は、内周端部がピストンロッド２５と当接するよう形成されているため、皿バネ１１６のピストンロッド２５への組み付け性を向上させることができる。したがって、皿バネ１１６を自動機でピストンロッド２５に組み付けることができ、人手を不要とし、また、組付時間を短縮できるため、組付コストを低減することができる。

皿バネ１１６は、外径側がバネ力を発生させる外側円錐状部４０３であり、内径側が外側円錐状部４０３よりも平面に近い内側平面状部４１４である。このため、内側平面状部４１４においてバキュームによる吸着および搬送が容易となり、さらに組付時間を短縮できる。したがって、組付コストを一層低減することができる。

皿バネ１１６は、穴部４１５が内側平面状部４１４に形成されている。このため、上室連通室１４７および下室連通室１４９の画成が容易となる。

なお、可撓ディスク１００にかえて、図９に示すような変形例の可撓ディスク１００Ａを設けても良い。可撓ディスク１００Ａは、可撓ディスク１００と同様の内側円環部５０２および外側円環部５０３を有しており、可撓ディスク１００と同様の連結部５０４が１箇所のみ設けられている。可撓ディスク１００Ａには、内側円環部５０２、外側円環部５０３および連結部５０４で囲まれて円弧状の連通孔５０１Ａが形成されている。連通孔５０１Ａは径方向の幅が連通孔５０１の内径と同等になっている。連通孔５０１Ａは、内側円環部５０２および外側円環部５０３と同心の円弧状である。連通孔５０１Ａは、可撓ディスク１００Ａを厚さ方向に貫通しており、その内側が連通路５０５Ａとなっている。連通路５０５Ａも、連通路５０５と同様に弁座ディスク１０１で開閉されることになり、開時に弁座ディスク１０１との間の通路とで第４通路５２１を形成する。

［第２実施形態］
次に、第２実施形態を主に図１０および図１１に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第２実施形態の緩衝器１Ｂにおいては、図１０に示すように、第１実施形態のアキュムレータ１９０にかえて、アキュムレータ１９０Ｂが設けられている。
アキュムレータ１９０Ｂは、第１実施形態の可撓ディスク１００にかえて可撓ディスク１００Ｂが設けられている。図１１に示すように、可撓ディスク１００Ｂは、可撓ディスク１００の外側円環部５０３のみを有する形状である。よって、可撓ディスク１００Ｂは、径方向の幅が全周にわたって一定である。可撓ディスク１００Ｂは、単純支持のフリーバルブである。可撓ディスク１００Ｂは、可撓ディスク１００の外側円環部５０３と同様に、図１０に示すように弁座ディスク１０１および皿バネ１１６に当接する。可撓ディスク１００Ｂは、ピストンロッド２５に対して径方向に移動可能である。可撓ディスク１００Ｂは、キャップ部材９５の筒状部１２４に当接することで径方向の移動量が所定の範囲内に制限される。可撓ディスク１００Ｂは、最大限径方向に移動しても全周にわたって弁座ディスク１０１および皿バネ１１６に対し径方向の位置が重なり合う状態が維持される。

アキュムレータ１９０Ｂは、第１実施形態のディスク９７にかえて、ディスク９７Ｂ、ディスク９８Ｂおよびディスク９９Ｂが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。ディスク９７Ｂ、ディスク９８Ｂおよびディスク９９Ｂは、いずれも金属製であり、いずれも径方向の幅が全周にわたって一定の有孔円形平板状である。ディスク９７Ｂ、ディスク９８Ｂおよびディスク９９Ｂは、いずれも、内側に取付軸部２８が嵌合されることで、ピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ディスク９７Ｂは皿バネ１１６の内側円環部４０１に当接している。ディスク９７Ｂの外径は、皿バネ１１６の内側円環部４０１の外径よりも若干大径であって、連結腕部４１３の内径よりも小径の内径である。ディスク９８Ｂおよびディスク９９Ｂは、いずれも外径がディスク１０２の外径と同等である。ディスク９９Ｂが弁座ディスク１０１に当接する。可撓ディスク１００Ｂと、ディスク９７Ｂ～９９Ｂとの間には、径方向に隙間がある。この部分が、第１実施形態の連通路５０５に対応する連通路５０５Ｂとなっている。言い換えれば、可撓ディスク１００Ｂは、内周端部からピストンロッド２５の外径までの間に、上流側と下流側とを連通する連通孔５０６Ｂが形成されている。

可撓ディスク１００Ｂと、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｂ～９９Ｂとが、第１実施形態の下室連通室１４９に対応する下室連通室１４９Ｂを形成している。下室連通室１４９Ｂも、連通路４２５，１４８とで、第１実施形態の第３通路５１１に対応する第３通路５１１Ｂを構成する。可撓ディスク１００Ｂと、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク９７Ｂ～９９Ｂと、キャップ部材９５の底部１２２と、下室連通室１４９Ｂとが、第３通路５１１Ｂに設けられて第１実施形態の下室体積可変機構１８５と同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｂを構成している。

可撓ディスク１００Ｂと、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５とが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｂを形成している。上室連通室１４７Ｂもサブバルブ１０７と筒状部１２４との間の通路とで、第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｂを構成する。可撓ディスク１００Ｂと、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５と、上室連通室１４７とが、第３通路５１２Ｂに設けられて第１実施形態の上室体積可変機構１８６と同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｂを構成している。

可撓ディスク１００Ｂと弁座ディスク１０１との間が、第１実施形態の第４通路５２１に対応する第４通路５２１Ｂを構成する。可撓ディスク１００Ｂと弁座ディスク１０１とが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｂが開かれて上室連通室１４７Ｂと下室連通室１４９Ｂとが連通する。可撓ディスク１００Ｂと弁座ディスク１０１とが、第４通路５２１Ｂに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５２２と同様に作動する伸び側のリリーフ機構５２２Ｂを構成している。

可撓ディスク１００Ｂと皿バネ１１６との間が、第１実施形態の第４通路５３１に対応する第４通路５３１Ｂを構成する。可撓ディスク１００Ｂと皿バネ１１６とが離間することで、これらの間の第４通路５３１Ｂが開かれて下室連通室１４９Ｂと上室連通室１４７Ｂとが連通する。可撓ディスク１００Ｂと皿バネ１１６とが、第４通路５３１Ｂに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５３２と同様に作動する縮み側のリリーフ機構５３２Ｂを構成している。

緩衝器１Ｂは、可撓ディスク１００Ｂがピストンロッド２５に固定されていない点およびキャップ部材９５の筒状部１２４で移動が制限される点が主に第１実施形態の緩衝器１と相違しており、第１実施形態の緩衝器１と同様の油圧回路となる。緩衝器１Ｂは、伸び行程および縮み行程の両行程において、第１実施形態の緩衝器１と同様に作動する。

［第３実施形態］
次に、第３実施形態を主に図１２に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第３実施形態の緩衝器１Ｃにおいては、図１２に示すように、第１実施形態のアキュムレータ１９０にかえて、アキュムレータ１９０Ｃが設けられている。
アキュムレータ１９０Ｃは、第１実施形態のディスク９７にかえて、ディスク９７Ｃ、ディスク９８Ｃおよびディスク９９Ｃが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。
ディスク９７Ｃ、ディスク９８Ｃおよびディスク９９Ｃ、いずれも金属製であり、いずれも径方向の幅が全周にわたって一定の有孔円形平板状である。ディスク９７Ｃ、ディスク９８Ｃおよびディスク９９Ｃは、いずれも、内側に取付軸部２８を嵌合させることでピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ディスク９７Ｃは皿バネ１１６の内側円環部４０１に当接している。ディスク９７Ｃの外径は、皿バネ１１６の内側円環部４０１の外径よりも若干大径であって、連結腕部４１３の内径よりも小径の内径である。ディスク９８Ｃの外径はディスク９７Ｃの外径よりも大径であって、皿バネ１１６の連結腕部４１３の外径と同等である。ディスク９９Ｃは、外径がディスク１０２の外径と同等である。

アキュムレータ１９０Ｃは、第１実施形態の弁座ディスク１０１にかえて、弁座ディスク１０１Ｃが設けられている。弁座ディスク１０１Ｃは径方向の中間部に軸方向に突出する突出部５５１Ｃが形成されている点が、弁座ディスク１０１とは異なっている。突出部５５１Ｃは、弁座ディスク１０１Ｃの中心軸線を中心とする円環状である。突出部５５１Ｃは、弁座ディスク１０１Ｃの中心軸線を含む面での断面が円弧状をなしている。

弁座ディスク１０１Ｃの突出部５５１Ｃよりも径方向の内側は、径方向の幅が全周にわたって一定の内側円環部５５２Ｃである。弁座ディスク１０１Ｃの突出部５５１Ｃよりも径方向の外側は、径方向の幅が全周にわたって一定の外側円環部５５３Ｃである。弁座ディスク１０１Ｃがピストンロッド２５に組み付けられる前の自然状態にあるとき、内側円環部５５２Ｃおよび外側円環部５５３Ｃは、いずれも平板状をなしており、同一平面上に配置される。

弁座ディスク１０１Ｃは、ピストンロッド２５に組み付けられると、内側円環部５５２Ｃが可撓ディスク１００の内側円環部５０２と共にディスク９９Ｃとディスク１０２とによって軸方向にクランプされる。この状態で、突出部５５１Ｃは、可撓ディスク１００の複数の連通孔５０１よりも径方向外側の外側円環部５０３に全周にわたって当接する。これにより、弁座ディスク１０１Ｃが可撓ディスク１００の複数の連通路５０５を閉塞させる。

可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１Ｃと、皿バネ１１６と、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｃ～９９Ｃとが、第１実施形態の下室連通室１４９に対応する下室連通室１４９Ｃを形成している。この下室連通室１４９Ｃも連通路４２５，１４８とで、第１実施形態の第３通路５１１に対応する第３通路５１１Ｃを構成する。可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１Ｃと、皿バネ１１６と、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｃ～９９Ｃと、下室連通室１４９Ｃとが、第３通路５１１Ｃに設けられて、第１実施形態の下室体積可変機構１８５とほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｃを構成している。

可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１Ｃと、皿バネ１１６と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５とが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｃを形成している。この上室連通室１４７Ｃもサブバルブ１０７と筒状部１２４との間の通路とで、第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｃを構成する。可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１Ｃと、皿バネ１１６と、ディスク１０２～１０４と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５と、上室連通室１４７Ｃとが、第３通路５１２Ｃに設けられて第１実施形態の上室体積可変機構１８６とほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｃを構成している。

可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１Ｃとの間が、第１実施形態の第４通路５２１に対応する第４通路５２１Ｃとなっている。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１Ｃとが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｃが開かれて上室連通室１４７Ｃと下室連通室１４９Ｃとが連通する。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１Ｃとが、第４通路５２１Ｃに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５２２とほぼ同様に作動する伸び側のリリーフ機構５２２Ｃを構成している。

可撓ディスク１００と皿バネ１１６との間が、第１実施形態の第４通路５３１に対応する第４通路５３１Ｃとなっている。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが離間することで、これらの間の第４通路５３１Ｃが開かれて下室連通室１４９Ｃと上室連通室１４７Ｃとが連通する。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが、第４通路５３１Ｃに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５３２とほぼ同様に作動する伸び側のリリーフ機構５３２Ｃを構成している。

アキュムレータ１９０Ｃは、弁座ディスク１０１Ｃが、円環状の突出部５５１Ｃを有している。アキュムレータ１９０Ｃの突出部５５１Ｃが可撓ディスク１００に当接している。緩衝器１Ｃは、第１実施形態の緩衝器１と同様の油圧回路となるものの、アキュムレータ１９０Ｃの作動が第１実施形態のアキュムレータ１９０の作動と若干異なる。

アキュムレータ１９０Ｃは、伸び行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１Ｃが、皿バネ１１６との当接位置よりも径方向内側の部分を底部１２２に近づけるように弾性変形して上室連通室１４７Ｃの体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１Ｃも可撓ディスク１００と一体に変形して突出部５５１Ｃを可撓ディスク１００に当接させて第４通路５２１Ｃを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｃは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態で、上室連通室１４７Ｃおよび下室連通室１４９Ｃの圧力差が所定値を超えると、第１実施形態と同様、可撓ディスク１００が皿バネ１１６の外側円錐状部４０３を弾性変形させながら底部１２２に近づくように弾性変形して、弁座ディスク１０１Ｃの突出部５５１Ｃから離れ、第４通路５２１Ｃを開いて上室連通室１４７Ｃを下室連通室１４９Ｃに連通させる。すなわち、リリーフ機構５２２Ｃは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁して、第４通路５２１Ｃを介して上室連通室１４７Ｃを下室連通室１４９Ｃに連通させる。

アキュムレータ１９０Ｃは、縮み行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１Ｃが、突出部５５１Ｃへの当接位置よりも径方向内側の部分をディスク１０４側に弾性変形させて下室連通室１４９Ｃの体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１Ｃは突出部５５１Ｃを可撓ディスク１００に当接させた状態を維持し第４通路５２１Ｃを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｃは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態で、下室連通室１４９Ｃおよび上室連通室１４７Ｃの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が弁座ディスク１０１Ｃと共にディスク１０４に近づくように変形して、皿バネ１１６の外側円錐状部４０３から離れ、第４通路５３１Ｃを開いて下室連通室１４９Ｃを上室連通室１４７Ｃに連通させる。すなわち、リリーフ機構５３２Ｃは、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁して、第４通路５３１Ｃを介して下室連通室１４９Ｃを上室連通室１４７Ｃに連通させる。

緩衝器１Ｃは、アキュムレータ１９０Ｃの上記作動以外は、伸び行程および縮み行程の両行程において、第１実施形態の緩衝器１と同様に作動する。

［第４実施形態］
次に、第４実施形態を主に図１３に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第４実施形態の緩衝器１Ｄにおいては、図１３に示すように、第１実施形態のアキュムレータ１９０にかえて、アキュムレータ１９０Ｄが設けられている。
アキュムレータ１９０Ｄは、第１実施形態のディスク９７にかえて、ディスク９７Ｄ、ディスク９８Ｄおよびディスク９９Ｄが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。
アキュムレータ１９０Ｄは、第１実施形態のディスク１０２～１０４にかえて、ディスク１０２Ｄ、ディスク１０３Ｄ、ディスク１０４Ｄ、皿バネ１１７Ｄおよびバネ当接ディスク５６１Ｄが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。

ディスク９７Ｄ～９９Ｄ，１０２Ｄ～１０４Ｄおよびバネ当接ディスク５６１Ｄは、いずれも金属製であり、いずれも径方向の幅が全周にわたって一定の有孔円形平板状である。皿バネ１１７Ｄは、皿バネ１１６と同形状であり、互換性を有している。ディスク９７Ｄ～９９Ｄ，１０２Ｄ～１０４Ｄ、皿バネ１１７Ｄおよびバネ当接ディスク５６１Ｄは、いずれも、内側に取付軸部２８が嵌合されることでピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ディスク９７Ｄは皿バネ１１６の内側円環部４０１に当接している。ディスク９７Ｄの外径は、皿バネ１１６の内側円環部４０１の外径よりも若干大径であって、連結腕部４１３の内径よりも小径の内径である。ディスク９８Ｄの外径は、ディスク９７Ｄの外径よりも大径であって、皿バネ１１６の連結腕部４１３の外径と同等である。ディスク９９Ｄの外径は、ディスク９７Ｄの外径よりも小径である。ディスク９９Ｄは、可撓ディスク１００に当接している。ディスク１０２Ｄは、ディスク９９Ｄと同形状であり、互換性を有している。ディスク１０２Ｄは、弁座ディスク１０１に当接している。ディスク１０３Ｄは、ディスク９８Ｄと同形状であり、互換性を有している。ディスク１０４Ｄは、ディスク９７Ｄと同形状であり、互換性を有している。

皿バネ１１７Ｄの内側円環部４０１がディスク１０４Ｄに当接している。皿バネ１１７Ｄは、外側円錐状部４０３の中間円環部４０２とは反対側の端縁部が全周にわたって可撓ディスク１００の外周側に当接している。すなわち、皿バネ１１７Ｄは、皿バネ１１６とで、可撓ディスク１００を軸方向両側から挟持している。

バネ当接ディスク５６１Ｄには、径方向の中間位置に厚さ方向（軸方向）に貫通する通路孔５６２Ｄが周方向に間隔をあけて複数形成されている。通路孔５６２Ｄ内は連通路５６３Ｄとなっている。通路孔５６２Ｄはバネ当接ディスク５６１Ｄの中心からの距離が、底部１２２の中心からの通路孔１２６の距離と同等になっている。連通路５６３Ｄは、皿バネ１１７Ｄの連通路４２５に常時連通している。バネ当接ディスク５６１Ｄは、皿バネ１１７Ｄおよび可撓ディスク１００よりも厚さが厚く高剛性である。

緩衝器１Ｄは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｄ～９９Ｄとが、第１実施形態の下室連通室１４９に対応する下室連通室１４９Ｄを形成している。この下室連通室１４９Ｄも連通路４２５，１４８とで、第１実施形態の第３通路５１１に対応する第３通路５１１Ｄを構成する。アキュムレータ１９０Ｄは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６，１１７Ｄと、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｄ～９９Ｄと、下室連通室１４９Ｄとが、第３通路５１１Ｄに設けられて第１実施形態の下室体積可変機構１８５とほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｄを構成している。

緩衝器１Ｄは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２Ｄ～１０４Ｄと、皿バネ１１６，１１７Ｄと、バネ当接ディスク５６１Ｄと、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５とが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｄを形成している。この上室連通室１４７Ｄもサブバルブ１０７と筒状部１２４との間の通路とで、第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｄを構成する。上室連通室１４７Ｄは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２Ｄ～１０４Ｄと、皿バネ１１７Ｄと、バネ当接ディスク５６１Ｄとで囲まれた室５６５Ｄを含んでいる。アキュムレータ１９０Ｄは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２Ｄ～１０４Ｄと、皿バネ１１６，１１７Ｄと、バネ当接ディスク５６１Ｄと、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５と、上室連通室１４７Ｄとが、第３通路５１２Ｄに設けられて第１実施形態の上室体積可変機構１８６とほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｄを構成している。

可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１との間が、第１実施形態の第４通路５２１に対応する第４通路５２１Ｄとなっている。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｄが開かれて上室連通室１４７Ｄと下室連通室１４９Ｄとが連通する。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが、第４通路５２１Ｄに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５２２とほぼ同様に作動する伸び側のリリーフ機構５２２Ｄを構成している。

可撓ディスク１００と皿バネ１１６との間が、第１実施形態の第４通路５３１に対応する第４通路５３１Ｄとなっている。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが離間することで、これらの間の第４通路５３１Ｄが開かれて下室連通室１４９Ｄと上室連通室１４７Ｄとが連通する。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが、第４通路５３１Ｄに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５３２とほぼ同様に作動する縮み側のリリーフ機構５３２Ｄを構成している。

緩衝器１Ｄは、第１実施形態の緩衝器１と同様の油圧回路となるものの、アキュムレータ１９０Ｄの作動が第１実施形態のアキュムレータ１９０の作動と若干異なる。

アキュムレータ１９０Ｄは、伸び行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が一体に、可撓ディスク１００の皿バネ１１６との当接位置よりも径方向内側の部分を底部１２２に近づけるように弾性変形して室５６５Ｄの体積を拡大し、室５６５Ｄを含む上室連通室１４７Ｄの体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００と一体に変形する状態では、第４通路５２１Ｄを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｄは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態で、上室連通室１４７Ｄおよび下室連通室１４９Ｄの圧力差が所定値を超えると、第１実施形態と同様、可撓ディスク１００が皿バネ１１６の外側円錐状部４０３を弾性変形させながら底部１２２に近づくように弾性変形して、弁座ディスク１０１から離れ、第４通路５２１Ｄを開いて上室連通室１４７Ｄを下室連通室１４９Ｄに連通させる。すなわち、リリーフ機構５２２Ｄは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁して、第４通路５２１Ｄを介して上室連通室１４７Ｄを下室連通室１４９Ｄに連通させる。

アキュムレータ１９０Ｄは、縮み行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が一体に、可撓ディスク１００の皿バネ１１７Ｄへの当接位置よりも径方向内側の部分をバネ当接ディスク５６１Ｄ側に弾性変形させて下室連通室１４９Ｄの体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１は可撓ディスク１００に当接する状態を維持し第４通路５２１Ｄを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｄは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態で、下室連通室１４９Ｄおよび上室連通室１４７Ｄの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が皿バネ１１７Ｄの外側円錐状部４０３を弾性変形させながら、弁座ディスク１０１と共にバネ当接ディスク５６１Ｄに近づくように変形して、皿バネ１１６の外側円錐状部４０３から離れ、第４通路５３１Ｄを開いて下室連通室１４９Ｄを上室連通室１４７Ｄに連通させる。すなわち、リリーフ機構５３２Ｄは、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁して、第４通路５３１Ｄを介して下室連通室１４９Ｄを上室連通室１４７Ｄに連通させる。

緩衝器１Ｄは、アキュムレータ１９０Ｄの上記作動以外は、伸び行程および縮み行程の両行程において、第１実施形態の緩衝器１と同様に作動する。

［第５実施形態］
次に、第５実施形態を主に図１４に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第５実施形態の緩衝器１Ｅにおいては、図１４に示すように、第１実施形態のアキュムレータ１９０にかえて、アキュムレータ１９０Ｅが設けられている。
アキュムレータ１９０Ｅには、第１実施形態の皿バネ１１６にかえて、ゴム等の弾性のシール部材からなるＯリング１１６Ｅ（付勢部材）が設けられている。アキュムレータ１９０Ｅは、第１実施形態のディスク９７にかえて、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク９７Ｅ、ディスク９８Ｅおよびディスク９９Ｅが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。アキュムレータ１９０Ｅは、第１実施形態の可撓ディスク１００にかえて、可撓ディスク１００の外周部の軸方向一側にゴム等からなる円環状の弾性部材５６７Ｅを貼着してなる可撓ディスク１００Ｅが設けられている。
アキュムレータ１９０Ｅは、第１実施形態のディスク１０４にかえて、ディスク１０４Ｅが設けられている。ディスク１０４Ｅは、ディスク１０４に軸方向に貫通する貫通穴５６８Ｅが形成され、貫通穴５６８Ｅ内が連通路５６９Ｅとされた構成となっている。

ディスク９７Ｅ～９９Ｅは、いずれも金属製であり、いずれも径方向の幅が全周にわたって一定の有孔円形平板状である。ディスク９７Ｅ～９９Ｅは、いずれも、内側に取付軸部２８が嵌合されることでピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ディスク９７Ｅはキャップ部材９５の底部１２２に当接している。ディスク９７Ｅは、外径がキャップ部材９５の径方向における中心から通路孔１２６までの最小距離の２倍よりも小径である。ディスク９８Ｅ外径は、ディスク９７Ｅの外径よりも大径である。ディスク９９Ｅの外径は、ディスク９７Ｅの外径よりも小径である。ディスク９９Ｅは、可撓ディスク１００Ｅの内側円環部５０２に当接している。ディスク９７Ｅ～９９Ｅは、Ｏリング１１６Ｅの径方向内側に、Ｏリング１１６Ｅから径方向に離れて配置されている。

Ｏリング１１６Ｅの外径は、筒状部１２４の内径よりも小径である。Ｏリング１１６Ｅの内径は、キャップ部材９５の径方向における中心から通路孔１２６までの最大距離の２倍よりも大径である。Ｏリング１１６Ｅは、キャップ部材９５の底部１２２の全ての連通路１４８を底部１２２の径方向における外側で囲むようにして軸方向の一端側が全周にわたって底部１２２に当接している。Ｏリング１１６Ｅは、軸方向の他端側が可撓ディスク１００Ｅの外側円環部５０３の外周側に全周にわたって当接している。可撓ディスク１００Ｅは、弾性部材５６７Ｅがディスク１０４Ｅの径方向における連通路５６９Ｅよりも外側に全周にわたって当接している。

緩衝器１Ｅは、可撓ディスク１００Ｅと、弁座ディスク１０１と、Ｏリング１１６Ｅと、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｅ～９９Ｅとが、第１実施形態の下室連通室１４９に対応する下室連通室１４９Ｅを形成している。この下室連通室１４９Ｅも連通路４２５，１４８とで第１実施形態の第３通路５１１に対応する第３通路５１１Ｅを構成する。アキュムレータ１９０Ｅは、可撓ディスク１００Ｅと、弁座ディスク１０１と、Ｏリング１１６Ｅと、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｅ～９９Ｅと、下室連通室１４９Ｅとが、第３通路５１１Ｅに設けられて第１実施形態の下室体積可変機構１８５とほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｅを構成している。

緩衝器１Ｅは、可撓ディスク１００Ｅと、弁座ディスク１０１と、Ｏリング１１６Ｅと、ディスク１０２，１０３と、ディスク１０４Ｅと、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５とが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｅを形成している。ディスク１０４Ｅの連通路５６９Ｅは、上室連通室１４７Ｅの全体を同圧にするように形成されている。この上室連通室１４７Ｅもサブバルブ１０７と筒状部１２４との間の通路とで第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｅを構成する。アキュムレータ１９０Ｅは、可撓ディスク１００Ｅと、弁座ディスク１０１と、Ｏリング１１６Ｅと、ディスク１０２，１０３と、ディスク１０４Ｅと、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５と、上室連通室１４７Ｅとが、第３通路５１２Ｅに設けられて第１実施形態の上室体積可変機構１８６とほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｅを構成している。

可撓ディスク１００Ｅと弁座ディスク１０１との間が、第１実施形態の第４通路５２１，５３１に対応する第４通路５２１Ｅとなっている。可撓ディスク１００Ｅと弁座ディスク１０１とが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｅが開かれて上室連通室１４７Ｅと下室連通室１４９Ｅとが連通する。可撓ディスク１００Ｅと弁座ディスク１０１とが、第４通路５２１Ｅに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５２２，５３２とほぼ同様に作動する伸び側および縮み側のリリーフ機構５２２Ｅを構成している。

緩衝器１Ｅは、第１実施形態の緩衝器１と同様の油圧回路となるものの、アキュムレータ１９０Ｅの作動が第１実施形態のアキュムレータ１９０の作動と若干異なる。

アキュムレータ１９０Ｅは、伸び行程においては、可撓ディスク１００Ｅおよび弁座ディスク１０１が一体に、可撓ディスク１００ＥのＯリング１１６Ｅとの当接位置よりも径方向内側の部分を底部１２２に近づけるように弾性変形して上室連通室１４７Ｅの体積を拡大する。このとき、Ｏリング１１６Ｅも弾性変形する。このとき、弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００Ｅと一体に変形する状態では、第４通路５２１Ｅを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｅは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態で、上室連通室１４７Ｅおよび下室連通室１４９Ｅの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００ＥがＯリング１１６Ｅをさらに弾性変形させながら底部１２２に近づくように弾性変形して、弁座ディスク１０１から離れ、第４通路５２１Ｅを開いて上室連通室１４７Ｅを下室連通室１４９Ｅに連通させる。すなわち、リリーフ機構５２２Ｅは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁して、第４通路５２１Ｅを介して上室連通室１４７Ｅを下室連通室１４９Ｅに連通させる。

アキュムレータ１９０Ｅは、縮み行程においては、可撓ディスク１００Ｅおよび弁座ディスク１０１が一体に、ディスク１０４Ｅ側に弾性変形して下室連通室１４９Ｅの体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１は可撓ディスク１００Ｅに当接する状態を維持し第４通路５２１Ｅを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｅは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態で、下室連通室１４９Ｅおよび上室連通室１４７Ｅの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００Ｅが、弁座ディスク１０１と共にディスク１０４Ｅ側に、弾性部材５６７Ｅを弾性変形させながら弾性変形し、弁座ディスク１０１が可撓ディスク１００Ｅから離れて、連通路５０５を含む第４通路５２１Ｅを開いて下室連通室１４９Ｅを上室連通室１４７Ｅに連通させる。この際に、Ｏリング１１６Ｅはシール機能を維持する。

緩衝器１Ｅは、アキュムレータ１９０Ｅの上記作動以外は、伸び行程および縮み行程の両行程において、第１実施形態の緩衝器１と同様に作動する。

［第６実施形態］
次に、第６実施形態を主に図１５に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第６実施形態の緩衝器１Ｆにおいては、図１５に示すように、第１実施形態と同様の可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク９７と、ディスク１０２，１０３と、第５実施形態と同様のディスク１０４Ｅとが、キャップ部材９５内ではなく、キャップ部材９５の外に、しかも軸方向に反転して設けられている。緩衝器１Ｆにおいては、キャップ部材９５の底部１２２とディスク８７との間に、軸方向のディスク８７側から順に、ディスク１０４Ｅ、ディスク１０３、ディスク１０２、弁座ディスク１０１、可撓ディスク１００、ディスク９７および皿バネ１１６が設けられている。

皿バネ１１６の内側円環部４０１、中間円環部４０２および２本の支持部４０４が、キャップ部材９５の底部１２２に当接する。皿バネ１１６の、外側円錐状部４０３の中間円環部４０２とは反対側の端縁部が、全周にわたって可撓ディスク１００の外側円環部５０３に当接する。皿バネ１１６の連通路４２５は、キャップ部材９５の底部１２２の連通路１４８に常時連通する。バネ部材１０５が基板部３３１においてキャップ部材９５の底部１２２に当接する。

緩衝器１Ｆは、弁座ディスク１０１と、可撓ディスク１００と、ディスク９７と、皿バネ１１６と、キャップ部材９５と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７とが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｆを形成している。この上室連通室１４７Ｆもサブバルブ１０７と筒状部１２４との間の通路とで、第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｆを構成する。アキュムレータ１９０Ｆは、弁座ディスク１０１と、可撓ディスク１００と、ディスク９７と、皿バネ１１６と、キャップ部材９５と、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、上室連通室１４７Ｆとが、第３通路５１２Ｆに設けられて、第１実施形態の上室体積可変機構１８６とほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｆを構成している。

アキュムレータ１９０Ｆは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク９７とが、第１実施形態の下室体積可変機構１８５とほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｆを構成している。

可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１との間が、下室２３と上室連通室１４７Ｆとを連通可能な第４通路５３１Ｆとなっている。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが離間することで、これらの間の第４通路５３１Ｆが開かれて下室２３と上室連通室１４７Ｆとが連通する。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが、第４通路５３１Ｆに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５３２とほぼ同様に作動する縮み側のリリーフ機構５３２Ｆを構成している。

可撓ディスク１００と皿バネ１１６との間が、上室連通室１４７Ｆと下室２３とを連通可能な第４通路５２１Ｆとなっている。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｆが開かれて上室連通室１４７Ｆと下室２３とが連通する。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが、第４通路５２１Ｆに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５２２とほぼ同様に作動する伸び側のリリーフ機構５２２Ｆを構成している。

緩衝器１Ｆは、第１実施形態の緩衝器１と同様の油圧回路となるものの、アキュムレータ１９０Ｆの作動が第１実施形態のアキュムレータ１９０の作動と若干異なる。

アキュムレータ１９０Ｆは、伸び行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が一体に、ディスク１０４Ｅ側に弾性変形して上室連通室１４７Ｆの体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００に当接する状態を維持し第４通路５３１Ｆを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｆは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態で、上室連通室１４７Ｆおよび下室２３の圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が弁座ディスク１０１と共にディスク１０４Ｅ側に弾性変形して、皿バネ１１６との間の第４通路５２１Ｆを開いて上室連通室１４７Ｆを下室２３に連通させる。すなわち、リリーフ機構５２２Ｆは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁して、第４通路５２１Ｆを介して上室連通室１４７Ｆを下室２３に連通させる。なお、ディスク１０４Ｅの連通路５６９Ｅは、可撓ディスク１００がディスク１０４Ｅに近づいても差圧を発生させないようにする。

アキュムレータ１９０Ｆは、縮み行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、可撓ディスク１００の皿バネ１１６との当接位置よりも径方向内側の部分をキャップ部材９５の底部１２２側に弾性変形させて下室２３の体積を拡大する。このとき、弁座ディスク１０１は、可撓ディスク１００と一体に変形する状態では、第４通路５３１Ｆを閉状態に維持する。

アキュムレータ１９０Ｅは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態で、下室２３および上室連通室１４７Ｆの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が皿バネ１１６の外側円錐状部４０３を弾性変形させながら底部１２２に近づくように弾性変形して、弁座ディスク１０１から離れ、第４通路５３１Ｆを開いて下室２３を上室連通室１４７Ｆに連通させる。すなわち、リリーフ機構５３２Ｆは、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁して、第４通路５３１Ｆを介して下室２３を上室連通室１４７Ｆに連通させる。

緩衝器１Ｆは、アキュムレータ１９０Ｆの上記作動以外は、伸び行程および縮み行程の両行程において、第１実施形態の緩衝器１と同様に作動する。

［第７実施形態］
次に、第７実施形態を主に図１６に基づいて第６実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第６実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第７実施形態の緩衝器１Ｇにおいては、図１６に示すように、第６実施形態のディスク８６が一枚のみ設けられ、第１実施形態と同様のディスク１０４が複数枚（具体的には二枚）設けられている。緩衝器１Ｇにおいては、キャップ部材９５、バネ部材１０５、ディスク１０６、サブバルブ１０７、弁座部材１０９、サブバルブ１１０、ディスク１１１およびバネ部材１１２にかえて、弁座部材１０９Ｇと、ディスク５７１Ｇと、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク５７２Ｇとが、軸方向の皿バネ１１６側から順に設けられている。緩衝器１Ｇには、単純支持のフリーバルブであるサブバルブ５７３Ｇが設けられている。

弁座部材１０９Ｇ、ディスク５７１Ｇ、ディスク５７２Ｇおよびサブバルブ５７３Ｇは、いずれも金属製である。ディスク５７１Ｇ、ディスク５７２Ｇおよびサブバルブ５７３Ｇは、径方向に一定幅の有孔円形平板状である。弁座部材１０９Ｇ、ディスク５７１Ｇおよびディスク５７２Ｇは、内側に取付軸部２８が嵌合されることでピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

弁座部材１０９Ｇは、径方向の中央に軸方向に貫通する貫通孔１３１Ｇが形成されている。貫通孔１３１Ｇは、取付軸部２８を嵌合させる小径穴部１３２Ｇと、これよりも大径の大径穴部１３３Ｇとを有している。弁座部材１０９Ｇは、軸方向の小径穴部１３２Ｇ側に、円環状の内側シート部１３８Ｇと、内側シート部１３８Ｇより大径の円環状の外側シート部１３９Ｇと、外側シート部１３９Ｇよりも大径の円環状の係止突出部５８１Ｇとを有している。内側シート部１３８Ｇと外側シート部１３９Ｇとの間は、これらよりも軸方向に凹む円環状の通路凹部２１５Ｇとなっている。

内側シート部１３８Ｇには、これを径方向に貫通する通路溝２２１Ｇが形成されている。通路溝２２１Ｇ内がピストンロッド通路部５１に常時連通する径方向通路２２２Ｇとなっている。通路凹部２１５Ｇには、弁座部材１０９Ｇを軸方向に貫通する複数の通路孔２１６Ｇが形成されている。通路凹部２１５Ｇおよび複数の通路孔２１６Ｇ内の通路部が、径方向通路２２２Ｇおよび皿バネ１１６の連通路４２５に常時連通している。係止突出部５８１Ｇには径方向に貫通する通路溝５８２Ｇが形成されている。

ディスク５７１Ｇは、内側シート部１３８Ｇの先端面の外径よりも大径の外径を有する。ディスク５７２Ｇは、ディスク５７１Ｇの外径よりも大径の外径を有する。

サブバルブ５７３Ｇの外径は、外側シート部１３９Ｇの先端面の内径よりも大径であり、係止突出部５８１Ｇの内径よりも小径である。サブバルブ５７３Ｇは、係止突出部５８１Ｇによって径方向の移動が規制される。サブバルブ５７３Ｇの内径は、ディスク５７１Ｇの外径よりも大径であり、ディスク５７２Ｇの外径よりも小径である。サブバルブ５７３Ｇは、外径側が軸方向一側から外側シート部１３９Ｇに当接し、内径側が、軸方向他側からディスク５７２Ｇに当接する。この状態で、サブバルブ５７３Ｇは、径方向外側ほど軸方向においてディスク１１３に近づくようにテーパ状に変形する。

サブバルブ５７３Ｇは、伸び行程においては、ディスク５７２Ｇに当接した状態のまま外側シート部１３９Ｇから離座する。サブバルブ５７３Ｇと外側シート部１３９Ｇとの間の通路と、通路凹部２１５Ｇ内の通路と、径方向通路２２２Ｇとは、ピストンロッド通路部５１に常時連通しており、よって、第１実施形態の伸び側の第２通路１８２に対応する伸び側の第２通路１８２Ｇを構成している。サブバルブ５７３Ｇと外側シート部１３９Ｇとは、第１実施形態の伸び側の第２減衰力発生機構１８３に対応する第２減衰力発生機構１８３Ｇを構成している。

サブバルブ５７３Ｇは、縮み行程においては、外側シート部１３９Ｇに当接した状態のまま、ディスク５７２Ｇから離座する。サブバルブ５７３Ｇとディスク５７２Ｇとの間の通路と、通路凹部２１５Ｇ内の通路と、径方向通路２２２Ｇとは、ピストンロッド通路部５１に常時連通しており、よって、第１実施形態の縮み側の第２通路１７２に対応する縮み側の第２通路１７２Ｇを構成している。サブバルブ５７３Ｇとディスク５７２Ｇとは、第１実施形態の縮み側の第２減衰力発生機構１７３に対応する第２減衰力発生機構１７３Ｇを構成している。

緩衝器１Ｇは、弁座ディスク１０１と、可撓ディスク１００と、ディスク９７と、皿バネ１１６と、弁座部材１０９Ｇと、ディスク５７１Ｇ，５７２Ｇと、サブバルブ５７３Ｇとが、第６実施形態の上室連通室１４７Ｆに対応する上室連通室１４７Ｇを形成している。この上室連通室１４７Ｇは、第６実施形態の第３通路５１２Ｆに対応する第３通路５１２Ｇを構成する。アキュムレータ１９０Ｇは、弁座ディスク１０１と、可撓ディスク１００と、ディスク９７と、皿バネ１１６と、弁座部材１０９Ｇと、ディスク５７１Ｇ，５７２Ｇと、サブバルブ５７３Ｇと、上室連通室１４７Ｇとが、第３通路５１２Ｇに設けられて、第６実施形態の上室体積可変機構１８６Ｆとほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｇを構成している。

アキュムレータ１９０Ｇは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６と、ディスク９７とが、第６実施形態の下室体積可変機構１８５Ｆとほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｇを構成している。

可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１との間が、下室２３と上室連通室１４７Ｇとを連通可能な第４通路５３１Ｇとなっている。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが離間することで、これらの間の第４通路５３１Ｇが開かれて下室２３と上室連通室１４７Ｇとが連通する。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが、第４通路５３１Ｇに設けられて、第６実施形態のリリーフ機構５３２Ｆとほぼ同様に作動する縮み側のリリーフ機構５３２Ｇを構成している。

可撓ディスク１００と皿バネ１１６との間が、上室連通室１４７Ｇと下室２３とを連通可能な第４通路５２１Ｇとなっている。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｇが開かれて上室連通室１４７Ｇと下室２３とが連通する。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが、第４通路５２１Ｇに設けられて、第６実施形態のリリーフ機構５２２Ｆとほぼ同様に作動する伸び側のリリーフ機構５２２Ｇを構成している。

緩衝器１Ｇは、第６実施形態の緩衝器１Ｆと同様の油圧回路となる。アキュムレータ１９０Ｇの作動も第６実施形態のアキュムレータ１９０Ｆの作動と同様となる。

アキュムレータ１９０Ｇは、伸び行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が一体に、ディスク１０４側に弾性変形して上室連通室１４７Ｇの体積を拡大する。

また、アキュムレータ１９０Ｇは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３Ｇが開弁した状態で、上室連通室１４７Ｇおよび下室２３の圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が弁座ディスク１０１と共にディスク１０４側に弾性変形して、皿バネ１１６との間の第４通路５２１Ｇを開いて上室連通室１４７Ｇを下室２３に連通させる。すなわち、リリーフ機構５２２Ｇは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３Ｇが開弁した後に開弁して、第４通路５２１Ｇを介して上室連通室１４７Ｇを下室２３に連通させる。

アキュムレータ１９０Ｇは、縮み行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、可撓ディスク１００の皿バネ１１６との当接位置よりも径方向内側の部分をキャップ部材９５の底部１２２側に弾性変形させて下室２３の体積を拡大する。

アキュムレータ１９０Ｇは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３Ｇが開弁した状態で、下室２３および上室連通室１４７Ｇの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が皿バネ１１６の外側円錐状部４０３を弾性変形させながら弁座部材１０Ｇに近づくように弾性変形して、弁座ディスク１０１から離れ、第４通路５３１Ｇを開いて下室２３を上室連通室１４７Ｇ連通させる。すなわち、リリーフ機構５３２Ｇは、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３Ｇが開弁した後に開弁して、第４通路５３１Ｇを介して下室２３を上室連通室１４７Ｇに連通させる。

［第８実施形態］
次に、第８実施形態を主に図１７～図１９に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第８実施形態の緩衝器１Ｈにおいては、図１７に示すように、ピストンロッド２５にかえて、ピストンロッド２５Ｈが設けられている。ピストンロッド２５Ｈは、取付軸部２８Ｈを有している。取付軸部２８Ｈは、通路切欠部３０およびピストンロッド通路部５１とは位置が異なる通路切欠部３０Ｈおよびピストンロッド通路部５１Ｈを有している。

緩衝器１Ｈにおいては、ピストン２１にかえて、ピストン２１Ｈを有している。ピストン２１Ｈは、ピストンロッド２５Ｈに連結される金属製の第１ピストン体３３Ｈと、ピストンロッド２５Ｈに連結される金属製の第２ピストン体３４Ｈとを有している。ピストン２１Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの外周面に摺動部材３７が装着されている。

第１ピストン体３３Ｈの本体部３６Ｈには、軸方向に貫通する複数の通路穴３７Ｈと、軸方向に貫通する複数の通路穴３９Ｈとが形成されている。

複数の通路穴３７Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの軸方向に沿って直線状に延びる形状である。複数の通路穴３７Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの円周方向に等ピッチで形成されている。第１ピストン体３３Ｈには、軸方向の上室２２とは反対側に、複数の通路穴３７Ｈを連通させる円環状の環状溝４０Ｈが形成されている。環状溝４０Ｈの上室２２とは反対側には、環状溝４０Ｈ内および複数の通路穴３７Ｈ内の第１通路４３Ｈを開閉して減衰力を発生する第１減衰力発生機構４１Ｈが設けられている。

複数の通路穴３７Ｈ内および環状溝４０Ｈ内の第１通路４３Ｈは、伸び行程において上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に向けて油液Ｌが流れ出す伸び側の通路となる。第１通路４３Ｈに対して設けられた第１減衰力発生機構４１Ｈは、伸び側の第１通路４３Ｈから下室２３への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生する伸び側の減衰力発生機構となっている。

複数の通路穴３９Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの軸方向に沿って直線状に延びる形状である。複数の通路穴３９Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの円周方向に所定のピッチで形成されている。すべての通路穴３９Ｈは、すべての通路穴３７Ｈよりも第１ピストン体３３Ｈの径方向における外側に形成されている。複数の通路穴３９Ｈの上室２２側には、複数の通路穴３９Ｈ内の第１通路１７４Ｈを開閉して減衰力を発生する第１減衰力発生機構４２Ｈが設けられている。

複数の通路穴３９Ｈ内の第１通路１７４Ｈは、縮み行程において上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に向けて油液が流れ出す縮み側の通路となる。第１通路１７４Ｈに対して設けられた第１減衰力発生機構４２Ｈは、縮み側の第１通路１７４Ｈから上室２２への油液の流動を抑制して減衰力を発生する縮み側の減衰力発生機構となっている。

第１ピストン体３３Ｈは、略円板形状をなしている。第１ピストン体３３Ｈの径方向の中央には、ピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈが挿入される挿入穴４４Ｈが軸方向に貫通して形成されている。挿入穴４４Ｈに、ピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈが嵌合することにより、第１ピストン体３３Ｈはピストンロッド２５Ｈに対し径方向に位置決めされる。

第１ピストン体３３Ｈの軸方向の上室２２とは反対側の部分には、環状溝４０Ｈの上室２２とは反対側の開口よりも第１ピストン体３３Ｈの径方向における内側に、環状の内側シート部４６Ｈが形成されている。第１ピストン体３３Ｈの軸方向の上室２２とは反対側の部分には、環状溝４０Ｈの上室２２とは反対側の開口よりも第１ピストン体３３Ｈの径方向における外側に、第１減衰力発生機構４１Ｈの一部を構成する円環状のバルブシート部４７Ｈが形成されている。内側シート部４６Ｈおよびバルブシート部４７Ｈは、本体部３６Ｈから軸方向の上室２２とは反対側に突出している。

第１ピストン体３３Ｈの軸方向の上室２２側の端部には、複数の通路穴３７Ｈの上室２２側の開口よりも第１ピストン体３３Ｈの径方向における内側に環状の内側シート部４９Ｈが形成されている。第１ピストン体３３Ｈの軸方向の上室２２側の端部には、複数の通路穴３９Ｈの一つまたは複数の上室２２側の開口を囲むように、環状で異形のバルブシート部５０Ｈが形成されている。内側シート部４９Ｈおよびバルブシート部５０Ｈは、本体部３６Ｈから軸方向の上室２２側に突出している。バルブシート部５０Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの周方向に間隔をあけて複数形成されている。複数の通路穴３７Ｈは、バルブシート部５０Ｈ間の隙間を介して上室２２に常時連通している。

縮み側の第１減衰力発生機構４２Ｈは、第１ピストン体３３Ｈのバルブシート部５０Ｈを含んでいる。第１減衰力発生機構４２Ｈは、軸方向の第１ピストン体３３Ｈ側から順に、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には四枚）のディスク６３Ｈと、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク６４Ｈとを有している。ディスク６４Ｈのディスク６３Ｈとは反対側には、ディスク６４Ｈ側から順に、一枚のディスク６５Ｈと、一枚のディスク６６Ｈと、第１実施形態と同様の環状部材６９とが設けられている。ディスク６３Ｈ～６６Ｈは、いずれも金属製であり、いずれも内側にピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈを嵌合可能である。ディスク６３Ｈ～６６Ｈは、いずれも径方向の幅が全周にわたって一定の有孔円形平板状をなしている。

ディスク６３Ｈの外径は、複数のバルブシート部５０Ｈの外接円の径と略同径である。ディスク６４Ｈは、ディスク６３Ｈの外径よりも小径であって第１ピストン体３３Ｈの内側シート部４９Ｈの外径よりも大径の外径を有する。ディスク６５Ｈは、第１ピストン体３３Ｈの内側シート部４９Ｈの外径よりも小径の外径を有する。ディスク６６Ｈは、ディスク６４Ｈおよび環状部材６９の外径よりも大径であってディスク６３Ｈの外径よりも小径の外径を有する。環状部材６９は、ディスク６３Ｈ～６６Ｈよりも厚く高剛性である。

複数枚のディスク６３Ｈは、内側シート部４９Ｈに常時当接している。複数枚のディスク６３Ｈは、バルブシート部５０Ｈに着座してバルブシート部５０Ｈを閉塞可能である。複数枚のディスク６３Ｈおよび複数枚のディスク６４Ｈが、撓み可能であってバルブシート部５０Ｈに離着座可能な縮み側のメインバルブ７１Ｈを構成している。メインバルブ７１Ｈは、バルブシート部５０Ｈから離座することで、複数の通路穴３９Ｈ内の第１通路１７４Ｈを上室２２に連通させると共に、バルブシート部５０Ｈとの間の油液の流れを抑制して減衰力を発生する。環状部材６９は、ディスク６６Ｈとによって、メインバルブ７１Ｈの開方向への規定以上の変形を規制する。

バルブシート部５０Ｈおよびこれに当接するメインバルブ７１Ｈの少なくともいずれか一方には、これらが当接状態にあっても第１通路１７４Ｈを上室２２に連通させる図１９に示す固定オリフィス５８１Ｈが形成されている。固定オリフィス５８１Ｈは、第１減衰力発生機構４２Ｈと並列に設けられている。

図１７に示すように、伸び側の第１減衰力発生機構４１Ｈは、第１ピストン体３３Ｈのバルブシート部４７Ｈを含んでいる。第１減衰力発生機構４１Ｈは、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク８３Ｈを有している。ディスク８３Ｈのバルブシート部４７Ｈとは反対側には、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク８４Ｈが設けられている。ディスク８３Ｈ，８４Ｈは、いずれも金属製である。ディスク８３Ｈ，８４Ｈは、いずれも内側にピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈを嵌合可能な一定厚さの有孔円形平板状をなしている。

複数枚のディスク８３Ｈは、第１ピストン体３３Ｈのバルブシート部４７Ｈの外径と略同等の外径を有する。複数枚のディスク８３Ｈは、バルブシート部４７Ｈに着座可能である。ディスク８４Ｈは、ディスク８３Ｈの外径よりも小径であって第１ピストン体３３Ｈの内側シート部４６Ｈの外径よりも小径の外径を有する。

複数枚のディスク８３Ｈは、内側シート部４６Ｈに常時当接している。複数枚のディスク８３Ｈは、バルブシート部４７Ｈに着座してバルブシート部４７Ｈを閉塞可能である。複数枚のディスク８３Ｈが、撓み可能であってバルブシート部４７Ｈに離着座可能な伸び側のメインバルブ９１Ｈを構成している。メインバルブ９１Ｈは、バルブシート部４７Ｈから離座することで、第１通路４３Ｈを下室２３に連通可能とすると共に、バルブシート部４７Ｈとの間の油液の流れを抑制して減衰力を発生する。

バルブシート部４７Ｈおよびこれに当接するメインバルブ９１Ｈの少なくともいずれか一方には、これらが当接状態にあっても、第１通路４３Ｈをメインバルブ９１Ｈと第２ピストン体３４Ｈとの間の中間室１１８Ｈに連通させる図１９に示す固定オリフィス５８２Ｈが設けられている。固定オリフィス５８２Ｈは、第１減衰力発生機構４１Ｈと並列に設けられている。固定オリフィス５８１Ｈ，５８２Ｈおよび第１減衰力発生機構４１Ｈ，４２Ｈが並列に設けられている。

図１７に示すように、第１ピストン体３３Ｈには、バルブシート部４７Ｈよりも第１ピストン体３３Ｈの径方向における外側に、本体部３６Ｈからバルブシート部４７Ｈよりも上室２２とは反対側に突出する円環状の嵌合筒部９５Ｈが形成されている。

複数枚のディスク８４Ｈの軸方向の上室２２とは反対側には、ディスク８４Ｈ側から順に、一つの第２ピストン体３４Ｈと、一枚のディスクバルブ１０１Ｈと、一枚のディスク１０２Ｈと、一枚のディスク１０３Ｈと、一枚のディスク１０４Ｈと、同一内径および同一外径の複数枚（具体的には二枚）のディスク１０５Ｈとが、ピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈがそれぞれの内側に嵌合されて設けられている。ディスクバルブ１０１Ｈおよびディスク１０２Ｈ～１０５Ｈは、いずれも金属製であり、いずれも内側にピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈを嵌合可能である。ディスクバルブ１０１Ｈおよびディスク１０２Ｈ～１０５Ｈは、いずれも全周にわたって径方向の幅が一定の有孔円形平板状をなしている。

第２ピストン体３４Ｈは、有底筒状の一体成形品である。第２ピストン体３４Ｈは、有孔円板状の底部１１１Ｈと、底部１１１Ｈの外周縁部から、底部１１１Ｈの軸方向一側に突出する円環状の外側筒部１１２Ｈと、底部１１１Ｈの内周縁部から、外側筒部１１２Ｈと軸方向同側に突出する円環状の内側筒部１１３Ｈとを有している。外側筒部１１２Ｈと内側筒部１１３Ｈとは、同軸状に配置されている。外側筒部１１２Ｈは、内側筒部１１３Ｈよりも底部１１１Ｈからの軸方向長さが長くなっている。

第２ピストン体３４Ｈの外周部は、段付き形状をなしている。第２ピストン体３４Ｈは、軸方向において、底部１１１Ｈが、外側筒部１１２Ｈおよび内側筒部１１３Ｈよりも第１ピストン体３３Ｈ側に位置する向きで配置されており、取付軸部２８Ｈに嵌合している。第２ピストン体３４Ｈは、外周部が小径部分において第１ピストン体３３Ｈの嵌合筒部９５Ｈに嵌合する。第２ピストン体３４Ｈは、底部１１１Ｈにおいてディスク８４Ｈに当接する。
第１ピストン体３３Ｈと第２ピストン体３４Ｈとは、間に中間室１１８Ｈを形成する。この中間室１１８Ｈにメインバルブ９１Ｈと複数枚のディスク８４Ｈとが配置されている。中間室１１８Ｈは、第１通路４３Ｈ，１７４Ｈおよび図１９に示す固定オリフィス５８１Ｈ，５８２Ｈを介して上室２２に常時連通している。

外側筒部１１２Ｈは、全周にわたって連続する円環状をなしている。外側筒部１１２Ｈの内周面は、底部１１１Ｈから軸方向に離れるほど大径となるテーパ面となっている。外側筒部１１２Ｈの軸方向における底部１１１Ｈとは反対側の先端面は、第２ピストン体３４Ｈの中心軸線に直交する平面となっている。外側筒部１１２Ｈの先端面および内周面の境界側の角縁部は、円環状をなしており、ディスクバルブ１０１Ｈが離着座する第１バルブシート１２１Ｈとなっている。

内側筒部１１３Ｈの外周面は、底部１１１Ｈから軸方向に離れるほど小径となるテーパ面となっている。内側筒部１１３Ｈの軸方向における底部１１１Ｈとは反対側の先端面が、第２ピストン体３４Ｈの中心軸線に直交する平面となっている。

底部１１１Ｈには、径方向の外側筒部１１２Ｈと内側筒部１１３Ｈとの間の位置に、底部１１１Ｈを軸方向に貫通する貫通穴１２３Ｈが形成されている。貫通穴１２３Ｈは、底部１１１Ｈの周方向に間隔をあけて複数形成されている。第２ピストン体３４Ｈには、外側筒部１１２Ｈと内側筒部１１３Ｈとの間に、複数の貫通穴１２３Ｈを連通させる円環状の環状溝１２４Ｈが形成されている。

第２ピストン体３４Ｈには、その径方向の中央に、底部１１１Ｈおよび内側筒部１１３Ｈを軸方向に貫通して、挿通穴１２５Ｈが形成されている。挿通穴１２５Ｈには、ピストンロッド２５Ｈの取付軸部２８Ｈが挿通される。挿通穴１２５Ｈは、底部１１１Ｈの内側に設けられる小径穴部５８６Ｈと、これより大径で内側筒部１１３Ｈの内側に設けられる大径穴部５８７Ｈとを有している。第２ピストン体３４Ｈは、小径穴部５８６Ｈに取付軸部２８Ｈを嵌合させることによりピストンロッド２５Ｈに対して径方向に位置決めされる。挿通穴１２５Ｈの大径穴部５８７Ｈ内の通路は、ピストンロッド２５Ｈの通路切欠部３０Ｈ内のピストンロッド通路部５１Ｈに常時連通している。内側筒部１１３Ｈには、径方向に貫通する通路溝５８８Ｈが形成されている。通路溝５８８Ｈ内の通路は、大径穴部５８７Ｈ内の通路に常時連通しており、環状溝１２４Ｈ内の通路に常時連通している。

ディスク１０５Ｈの外径は、第２ピストン体３４Ｈの内側筒部１１３Ｈの底部１１１Ｈとは反対側の先端面の外径よりも大径である。ディスク１０４Ｈは、ディスク１０５Ｈの外径よりも大径の外径を有する。ディスク１０３Ｈは、ディスク１０４Ｈの外径よりも大径の外径を有する。ディスク１０２Ｈは、ディスク１０３Ｈの外径よりも大径の外径を有する。

ディスク１０２Ｈの外径は、第２ピストン体３４Ｈの外側筒部１１２Ｈの先端面の内径、言い換えれば、第１バルブシート１２１Ｈの内径よりも小径である。ディスク１０２Ｈの軸方向の内側筒部１１３Ｈ側の端面は、第２ピストン体３４Ｈの第１バルブシート１２１Ｈの底部１１１Ｈとは反対側の先端面と、軸方向において同等位置に配置されている。

ディスク１０２Ｈの、軸方向の内側筒部１１３Ｈ側の円環状の外周部に、ディスクバルブ１０１Ｈが離着座する。ディスク１０２Ｈは、これに積層されたディスク１０３Ｈ，１０４Ｈとともに、ディスクバルブ１０１Ｈが離着座する第２バルブシート１３５Ｈを構成している。第２バルブシート１３５Ｈは、取付軸部２８Ｈが径方向内側に嵌合されることによりピストンロッド２５Ｈに対して径方向に位置決めされる。第２バルブシート１３５Ｈは、第２ピストン体３４Ｈの第１バルブシート１２１Ｈに対して径方向内側に離間して配置されている。

ディスク１０２Ｈ～１０４Ｈからなる第２バルブシート１３５Ｈは、撓み可能な構成である。これに対し、第２ピストン体３４Ｈの第１バルブシート１２１Ｈは、第２バルブシート１３５Ｈと比べて剛性が高く、基本的に撓むことはない。第２バルブシート１３５Ｈは、ディスク１０２Ｈ～１０４Ｈのそれぞれの厚みや外径、枚数等を変更することで、ディスクバルブ１０１Ｈの支持剛性を調整することができる。

ディスクバルブ１０１Ｈは、撓み可能である。ディスクバルブ１０１Ｈは、ピストンロッド２５Ｈに組み付けられる前の自然状態では全体が平板状をなしている。自然状態にあるディスクバルブ１０１Ｈは、有孔円形平板状の外側環状部１４１Ｈと、外側環状部１４１Ｈの内径よりも小径の外径を有して外側環状部１４１Ｈの径方向内側に配置される有孔円形平板状の内側環状部１４２Ｈと、外側環状部１４１Ｈと内側環状部１４２Ｈとを接続する支持部１４３Ｈとを有している。外側環状部１４１Ｈと内側環状部１４２Ｈとの間は、支持部１４３Ｈを除いて、ディスクバルブ１０１Ｈを厚さ方向に貫通する通路となっている。

外側環状部１４１Ｈおよび内側環状部１４２Ｈは、いずれも径方向の幅が全周にわたって一定の円環状をなしている。支持部１４３Ｈは、内側環状部１４２Ｈと外側環状部１４１Ｈとの間に配置されている。支持部１４３Ｈは、内側環状部１４２Ｈに外側環状部１４１Ｈを同心状に支持する。支持部１４３Ｈは、内側環状部１４２Ｈおよび外側環状部１４１Ｈよりも低剛性である。

ディスクバルブ１０１Ｈの内側環状部１４２Ｈの内側に取付軸部２８Ｈが嵌合されている。これにより、ディスクバルブ１０１Ｈは、ピストンロッド２５Ｈに対し径方向に位置決めされる。内側環状部１４２Ｈは、外径がディスク１０２Ｈの外径、すなわち第２バルブシート１３５Ｈの外径よりも小径である。内側環状部１４２Ｈの外径は、第２ピストン体３４Ｈの内側筒部１１３Ｈの先端面の外径よりも大きく、ディスク１０５Ｈの外径と同等になっている。よって、ディスクバルブ１０１Ｈは、内側環状部１４２Ｈが、ディスク１０２Ｈ～１０４Ｈとともに、第２ピストン体３４Ｈの内側筒部１１３Ｈとディスク１０５Ｈとで軸方向にクランプされる。

外側環状部１４１Ｈの内径は、ディスク１０２Ｈの外径、すなわち第２バルブシート１３５Ｈの外径よりも小径である。外側環状部１４１Ｈの外径は、第２ピストン体３４Ｈの外側筒部１１２Ｈの先端面の内径、すなわち第１バルブシート１２１Ｈの直径よりも大径である。

外側環状部１４１Ｈは、第２ピストン体３４Ｈの第１バルブシート１２１Ｈに外周部分が離接可能である。外側環状部１４１Ｈは、全周にわたって第１バルブシート１２１Ｈに着座すると第１バルブシート１２１Ｈとの隙間を閉塞し、第１バルブシート１２１Ｈから離座すると第１バルブシート１２１Ｈとの隙間を開放する。

また、外側環状部１４１Ｈは、第２バルブシート１３５Ｈのディスク１０２Ｈに内周部分が離接可能である。外側環状部１４１Ｈは、全周にわたって第２バルブシート１３５Ｈに着座すると第２バルブシート１３５Ｈとの隙間を閉塞し、第２バルブシート１３５Ｈから離座すると第２バルブシート１３５Ｈとの隙間を開放する。外側環状部１４１Ｈが全周にわたって第２バルブシート１３５Ｈに着座する状態にあるとき、ディスク１０２Ｈは、ディスクバルブ１０１Ｈの外側環状部１４１Ｈと内側環状部１４２Ｈとの間の通路を閉塞する。外側環状部１４１Ｈは、支持部１４３Ｈに比べて、十分に高い剛性を有する。外側環状部１４１Ｈは、開弁時には、支持部１４３Ｈのない単純支持のフリーバルブと同様の挙動で動作し、単純支持のフリーバルブと同様に変形する。

ディスクバルブ１０１Ｈの外側環状部１４１Ｈの内周部分は、第２バルブシート１３５Ｈに離着座可能なサブバルブ１７１Ｈを構成している。サブバルブ１７１Ｈは、第２バルブシート１３５Ｈから離座することで、第２バルブシート１３５Ｈとの隙間と、ディスクバルブ１０１Ｈの外側環状部１４１Ｈおよび内側環状部１４２Ｈの間の通路と、第２ピストン体３４Ｈの環状溝１２４Ｈ内および複数の貫通穴１２３Ｈ内の通路と、中間室１１８Ｈと、第１通路４３Ｈと、図１９に示す固定オリフィス５８２Ｈと、第１通路１７４Ｈと、図１９に示す固定オリフィス５８１Ｈとを介して下室２３を上室２２に連通させる。このとき、サブバルブ１７１Ｈは、第２バルブシート１３５Ｈとの間の油液の流れを抑制して減衰力を発生する。

開弁時に出現するサブバルブ１７１Ｈおよび第２バルブシート１３５Ｈの間の通路と、ディスクバルブ１０１Ｈの外側環状部１４１Ｈおよび内側環状部１４２Ｈの間の通路と、第２ピストン体３４Ｈの環状溝１２４Ｈ内および複数の貫通穴１２３Ｈ内の通路と、中間室１１８Ｈとが、第２通路１７２Ｈを構成している。第２通路１７２Ｈと、図１９に示す固定オリフィス５８２Ｈおよび第１通路４３Ｈと、第１通路１７４Ｈおよび図１９に示す固定オリフィス５８１Ｈとによって、ピストン２１Ｈの下室２３側への移動により内筒２内の上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に油液が流れ出す。

第２通路１７２Ｈは、ピストン２１Ｈの下室２３側への移動、つまり縮み行程において上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に向けて油液が流れ出す縮み側の通路となる。サブバルブ１７１Ｈと、第２バルブシート１３５Ｈとが、縮み側の第２通路１７２Ｈに設けられてこの第２通路１７２Ｈを開閉し、この第２通路１７２Ｈから上室２２への油液の流動を抑制して減衰力を発生する縮み側の第２減衰力発生機構１７３Ｈを構成している。

開弁時に出現するメインバルブ７１Ｈおよびバルブシート部５０Ｈの間の通路と、第１ピストン体３３Ｈの複数の通路穴３９Ｈ内の通路とが、中間室１１８Ｈと上室２２とを連通可能な第１通路１７４Ｈを構成している。第２通路１７２Ｈと第１通路１７４Ｈとによって、ピストン２１Ｈの下室２３側への移動により内筒２内の上流側となる下室２３から下流側となる上室２２に油液が流れ出す。縮み側の第１減衰力発生機構４２Ｈは、第１通路１７４Ｈを開閉し、この第１通路１７４Ｈから上室２２への油液の流動を抑制して減衰力を発生する。縮み側の第２減衰力発生機構１７３Ｈは、第２通路１７２Ｈを開閉し、この第２通路１７２Ｈから上室２２への油液の流動を抑制して減衰力を発生する。縮み側の第１減衰力発生機構４２Ｈおよび第２減衰力発生機構１７３Ｈは、第１通路１７４Ｈおよび第２通路１７２Ｈに直列に配置されている。第２減衰力発生機構１７３Ｈは、第１減衰力発生機構４２Ｈよりもピストン速度が低速のときに開弁して減衰力を発生する。第２減衰力発生機構１７３Ｈは、第１減衰力発生機構４２Ｈが開弁して減衰力を発生するときにも、開弁する。

ディスクバルブ１０１Ｈの外側環状部１４１Ｈの外周部分は、第１バルブシート１２１Ｈに離着座可能なサブバルブ１８１Ｈを構成している。サブバルブ１８１Ｈは、第１バルブシート１２１Ｈから離座することで、第１ピストン体３３Ｈの第１通路４３Ｈと、固定オリフィス５８２Ｈと、固定オリフィス５８１Ｈと、第１ピストン体３３Ｈの第１通路１７４Ｈと、中間室１１８Ｈと、第２ピストン体３４Ｈの複数の貫通穴１２３Ｈ内および環状溝１２４Ｈ内の通路と、第１バルブシート１２１Ｈとの隙間と、を介して上室２２を下室２３に連通させる。このとき、サブバルブ１８１Ｈは、第１バルブシート１２１Ｈとの間の油液の流れを抑制して減衰力を発生する。

中間室１１８Ｈと、第２ピストン体３４Ｈの複数の貫通穴１２３Ｈ内および環状溝１２４Ｈ内の通路と、開弁時に出現するサブバルブ１８１Ｈおよび第１バルブシート１２１Ｈの間の通路とが、第２通路１８２Ｈを構成している。第２通路１８２Ｈと、第１通路４３Ｈおよび図１９に示す固定オリフィス５８２Ｈと、図１９に示す固定オリフィス５８１Ｈおよび第１通路１７４Ｈとによって、ピストン２１Ｈの上室２２側への移動により内筒２内の上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に油液が流れ出す。

第２通路１８２Ｈは、ピストン２１Ｈの上室２２側への移動、つまり伸び行程において上流側となる上室２２から下流側となる下室２３に向けて油液が流れ出す伸び側の通路となる。サブバルブ１８１Ｈと、第１バルブシート１２１Ｈとが、伸び側の第２通路１８２Ｈに設けられ、この第２通路１８２Ｈを開閉し、この第２通路１８２Ｈから下室２３への油液の流動を抑制して減衰力を発生する伸び側の第２減衰力発生機構１８３Ｈを構成している。

第１減衰力発生機構４１Ｈは、第１通路４３Ｈを開閉し、この第１通路４３Ｈを介する上室２２から下室２３への油液の流動を抑制して減衰力を発生する。伸び側の第１減衰力発生機構４１Ｈおよび第２減衰力発生機構１８３Ｈは、第１通路４３Ｈおよび第２通路１８２Ｈに直列に配置されている。第２減衰力発生機構１８３Ｈは、第１減衰力発生機構４１Ｈよりもピストン速度が低速のときに開弁して減衰力を発生する。第２減衰力発生機構１８３Ｈは、第１減衰力発生機構４１Ｈが開弁して減衰力を発生するときにも、開弁して減衰力を発生する。

図１８に示すように、緩衝器１Ｈは、ディスク１０５Ｈと環状部材１１４との間に、第１実施形態と同様の可撓ディスク１００、弁座ディスク１０１およびディスク１０２～１０４と、皿バネ１１６Ｈと、ディスク９７Ｈとが設けられている。軸方向のディスク１０５Ｈ側から順に、複数枚（具体的には二枚）のディスク１０４と、皿バネ１１６Ｈと、ディスク９７Ｈと、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク１０２と、ディスク１０３と、複数枚（具体的には二枚）のディスク１０４と、が設けられている。

皿バネ１１６Ｈは、全周にわたって径方向に一定の幅の円環状をなす内側平面状部４１４Ｈと、内側平面状部４１４Ｈの外周縁部から径方向外方かつ軸方向一側に広がる第１実施形態と同様の外側円錐状部４０３とを有している。内側平面状部４１４Ｈは、穴部４１５が形成されていない点のみが第１実施形態の内側平面状部４１４とは異なっている。皿バネ１１６Ｈは、内側平面状部４１４Ｈが、ディスク１０４に当接し、外側円錐状部４０３の内側平面状部４１４Ｈとは反対側の端縁部が全周にわたって可撓ディスク１００の外側円環部５０３に当接する。ディスク９７Ｈは、ディスク９７に対し径方向に貫通する切欠部５９１Ｈを形成して構成されている。切欠部５９１Ｈ内の通路は、ピストンロッド２５Ｈの通路切欠部３０Ｈ内のピストンロッド通路部５１Ｈに常時連通している。

緩衝器１Ｈは、弁座ディスク１０１と、可撓ディスク１００と、ディスク９７Ｈと、皿バネ１１６Ｈとが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｈを形成している。この上室連通室１４７Ｈは、ディスク９７Ｈの切欠部５９１Ｈ内の通路とで、第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｈを構成する。アキュムレータ１９０Ｈは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、ディスク９７Ｈと、皿バネ１１６Ｈと、上室連通室１４７Ｈとが、第３通路５１２Ｈに設けられて、第１実施形態の上室体積可変機構１８６とほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｈを構成している。

アキュムレータ１９０Ｈは、可撓ディスク１００と、弁座ディスク１０１と、皿バネ１１６Ｈと、ディスク９７Ｈとが、第１実施形態の下室体積可変機構１８５とほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｈを構成している。

可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１との間が、下室２３と上室連通室１４７Ｈとを連通可能な第４通路５３１Ｈとなっている。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが離間することで、これらの間の第４通路５３１Ｈが開かれて下室２３と上室連通室１４７Ｈとが連通する。可撓ディスク１００と弁座ディスク１０１とが、第４通路５３１Ｈに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５３２とほぼ同様に作動する縮み側のリリーフ機構５３２Ｈを構成している。

可撓ディスク１００と皿バネ１１６Ｈとの間が、上室連通室１４７Ｈと下室２３とを連通可能な第４通路５２１Ｈとなっている。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが離間することで、これらの間の第４通路５２１Ｈが開かれて上室連通室１４７Ｈと下室２３とが連通する。可撓ディスク１００と皿バネ１１６とが、第４通路５２１Ｈに設けられて、第１実施形態のリリーフ機構５２２とほぼ同様に作動する伸び側のリリーフ機構５２２Ｈを構成している。

緩衝器１Ｈのピストン２１Ｈ等のピストンロッド２５Ｈに設けられた部品による油圧回路図を図１９に示す。上室２２と下室２３との間に第１減衰力発生機構４１Ｈ，４２Ｈと固定オリフィス５８１Ｈ，５８２Ｈとが並列して設けられている。これらよりも下室２３側に、第２減衰力発生機構１７３Ｈ，１８３Ｈと、アキュムレータ１９０Ｈと、リリーフ機構５２２Ｈ，５３２Ｈとが並列して設けられている。第１減衰力発生機構４１Ｈ，４２Ｈおよび固定オリフィス５８１Ｈ，５８２Ｈと、第２減衰力発生機構１７３Ｈ，１８３Ｈ、アキュムレータ１９０Ｈおよびリリーフ機構５２２Ｈ，５３２Ｈとは、直列に設けられている。

アキュムレータ１９０Ｈは、伸び行程においては、第２通路１８２Ｈから分岐した第３通路５１２Ｈに設けられた上室連通室１４７Ｈに導入される油液Ｌの圧力によって可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が一体に、ディスク１０３側に弾性変形して上室連通室１４７Ｈの体積を拡大する。

アキュムレータ１９０Ｈは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３Ｈが開弁した状態で、上室連通室１４７Ｈおよび下室２３の圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が弁座ディスク１０１と共にディスク１０３側に弾性変形して、皿バネ１１６との間の第４通路５２１Ｈを開いて上室連通室１４７Ｈを下室２３に連通させる。すなわち、リリーフ機構５２２Ｈは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３Ｈが開弁した後に開弁して、第４通路５２１Ｈを介して上室連通室１４７Ｈを下室２３に連通させる。

アキュムレータ１９０Ｈは、縮み行程においては、可撓ディスク１００および弁座ディスク１０１が、可撓ディスク１００の皿バネ１１６Ｈとの当接位置よりも径方向内側の部分を皿バネ１１６Ｈ側に弾性変形させて下室２３の体積を拡大する。

アキュムレータ１９０Ｈは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３Ｈが開弁した状態で、下室２３および上室連通室１４７Ｈの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００が皿バネ１１６Ｈの外側円錐状部４０３を弾性変形させながら皿バネ１１６Ｈに当接するディスク１０４に近づくように弾性変形して、弁座ディスク１０１から離れ、第４通路５３１Ｈを開いて下室２３を上室連通室１４７Ｈに連通させる。すなわち、リリーフ機構５３２Ｈは、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３Ｈが開弁した後に開弁して、第４通路５３１Ｈを介して下室２３を上室連通室１４７Ｈに連通させる。

［第９実施形態］
次に、第９実施形態を主に図２０～２３に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

第９実施形態の緩衝器１Ｊにおいては、図２０に示すように、第１実施形態のアキュムレータ１９０にかえて、アキュムレータ１９０Ｊが設けられている。
アキュムレータ１９０Ｊは、第１実施形態のディスク９７にかえて、ディスク９７Ｊ、ディスク９８Ｊおよびディスク９９Ｊが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。
アキュムレータ１９０Ｊには、第１実施形態の可撓ディスク１００にかえて、撓み可能な可撓ディスク１００Ｊが設けられている。アキュムレータ１９０Ｊは、第１実施形態の弁座ディスク１０１およびディスク１０２～１０４にかえて、ディスク１０２Ｊ、ディスク１０３Ｊ、ディスク１０４Ｊ、皿バネ１１７Ｊ（付勢部材）およびバネ当接ディスク５６１Ｊが、軸方向の底部１２２側から順に設けられている。

ディスク９７Ｊ～９９Ｊ，１０２Ｊ～１０４Ｊ、可撓ディスク１００Ｊおよびバネ当接ディスク５６１Ｊは、いずれも金属製であり、いずれも有孔円形平板状である。ディスク９７Ｊ～９９Ｊ，１０２Ｊ～１０４Ｊおよびバネ当接ディスク５６１Ｊは、径方向の幅が全周にわたって一定である。皿バネ１１７Ｊは、皿バネ１１６とほぼ同形状である。ディスク９７Ｊ～９９Ｊ，１０２Ｊ～１０４Ｊ、可撓ディスク１００Ｊ、皿バネ１１７Ｊおよびバネ当接ディスク５６１Ｊは、いずれも、内側に取付軸部２８が嵌合されることでピストンロッド２５に対して径方向に位置決めされる。

ディスク９７Ｊは皿バネ１１６の内側円環部４０１に当接している。ディスク９７Ｊの外径は、皿バネ１１６の内側円環部４０１の外径よりも若干大径である。ディスク９７Ｊの内径は、連結腕部４１３の内径よりも小径である。ディスク９８Ｊの外径は、皿バネ１１６の連結腕部４１３の外径よりも若干大径で皿バネ１１６の中間円環部４０２の内径よりも小径である。ディスク９８Ｊは、可撓ディスク１００Ｊよりも厚く高剛性である。ディスク９９Ｊ，１０２Ｊ，１０４Ｊは、ディスク９７Ｊと同形状であり、互換性を有する。ディスク１０３Ｊは、ディスク９８Ｊと同形状であり、互換性を有する。

可撓ディスク１００Ｊは、図２１に示すように、径方向の幅が全周にわたって一定の基板部６０１Ｊと、基板部６０１Ｊの外周縁部から基板部６０１Ｊの径方向外方に突出する複数（具体的には１８箇所）の同形状の突出部６０２Ｊとを有している。突出部６０２Ｊは、基板部６０１Ｊの周方向に等間隔で配置されている。複数の突出部６０２Ｊが基板部６０１Ｊの周方向に等間隔で断続的に配置されることで、基板部６０１Ｊの周方向に隣り合う突出部６０２Ｊと突出部６０２Ｊとの間が、可撓ディスク１００Ｊの外端縁部から径方向内方に凹む切欠部６０３Ｊとなっている。切欠部６０３Ｊは、突出部６０２Ｊと同数（具体的には１８箇所）設けられている。切欠部６０３Ｊは、同形状で、基板部６０１Ｊの周方向に等間隔で配置されている。

可撓ディスク１００Ｊの外周側において、突出部６０２Ｊの基板部６０１Ｊとは反対側の先端部が大径部６０５Ｊである。可撓ディスク１００Ｊの外周側において、切欠部６０３Ｊを構成する基板部６０１Ｊの外周縁部が小径部６０６Ｊである。大径部６０５Ｊは、可撓ディスク１００Ｊの内周側の中心軸からの長さが、小径部６０６Ｊの可撓ディスク１００Ｊの内周側の中心軸からの長さよりも長い。よって、可撓ディスク１００Ｊは、内周側の中心軸に対して外周側の長さが異なる大径部６０５Ｊと小径部６０６Ｊとを有している。

皿バネ１１６の内側平面状部４１４がキャップ部材９５の底部１２２に当接している。皿バネ１１６の、外側円錐状部４０３の内側平面状部４１４とは反対側の端縁部が、全周にわたって可撓ディスク１００Ｊの基板部６０１Ｊの外周縁部側に当接している。言い換えれば、皿バネ１１６は、その径方向において、可撓ディスク１００Ｊの小径部６０６Ｊよりも内側に配置されると共に可撓ディスク１００Ｊの軸方向一側の端面の小径部６０６Ｊよりも内側部分に当接して可撓ディスク１００Ｊを付勢する。

皿バネ１１７Ｊの内側平面状部４１４が、バネ当接ディスク５６１Ｊに当接している。皿バネ１１７Ｊは、外側円錐状部４０３の内側平面状部４１４とは反対側の端縁部が全周にわたって可撓ディスク１００Ｊの基板部６０１Ｊの外周縁部側に当接している。言い換えれば、皿バネ１１７Ｊも、その径方向において、可撓ディスク１００Ｊの小径部６０６Ｊよりも内側に配置されると共に可撓ディスク１００Ｊの軸方向他側の端面の小径部６０６Ｊよりも内側部分に当接して可撓ディスク１００Ｊを付勢する。すなわち、皿バネ１１７Ｊは、皿バネ１１６とで、可撓ディスク１００Ｊを軸方向両側から挟持している。

バネ当接ディスク５６１Ｊには、径方向の中間位置に厚さ方向（軸方向）に貫通する通路孔５６２Ｊが周方向に間隔をあけて複数形成されている。通路孔５６２Ｊ内は連通路５６３Ｊとなっている。連通路５６３Ｊは、皿バネ１１７Ｊの連通路４２５に常時連通している。バネ当接ディスク５６１Ｊは、皿バネ１１７Ｊおよび可撓ディスク１００Ｊよりも厚さが厚く高剛性となっている。

緩衝器１Ｊは、可撓ディスク１００Ｊと、皿バネ１１６と、キャップ部材９５の底部１２２と、ディスク９７Ｊ～９９Ｊとが、第１実施形態の下室連通室１４９に対応する下室連通室１４９Ｊを形成している。この下室連通室１４９Ｊも連通路４２５，１４８とで、第１実施形態の第３通路５１１に対応する第３通路５１１Ｊを構成する。アキュムレータ１９０Ｊは、可撓ディスク１００Ｊと、皿バネ１１６，１１７Ｊと、ディスク９７Ｊ～９９Ｊと、キャップ部材９５の底部１２２と、下室連通室１４９Ｊとが、第３通路５１１Ｊに設けられて第１実施形態の下室体積可変機構１８５とほぼ同様に作動する下室体積可変機構１８５Ｊを構成している。

緩衝器１Ｊは、可撓ディスク１００Ｊと、ディスク１０２Ｊ～１０４Ｊと、皿バネ１１６，１１７Ｊと、バネ当接ディスク５６１Ｊと、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５とが、第１実施形態の上室連通室１４７に対応する上室連通室１４７Ｊを形成している。この上室連通室１４７Ｊもサブバルブ１０７と筒状部１２４との間の通路とで、第１実施形態の第３通路５１２に対応する第３通路５１２Ｊを構成する。上室連通室１４７Ｊは、可撓ディスク１００Ｊと、ディスク１０２Ｊ～１０４Ｊと、皿バネ１１７Ｊと、バネ当接ディスク５６１Ｊとで囲まれた室５６５Ｊを含んでいる。アキュムレータ１９０Ｊは、可撓ディスク１００Ｊと、皿バネ１１６，１１７Ｊと、ディスク１０２Ｊ～１０４Ｊと、バネ当接ディスク５６１Ｊと、バネ部材１０５と、ディスク１０６と、サブバルブ１０７と、キャップ部材９５と、上室連通室１４７Ｊとが、第３通路５１２Ｊに設けられて第１実施形態の上室体積可変機構１８６とほぼ同様に作動する上室体積可変機構１８６Ｊを構成している。

可撓ディスク１００Ｊは、上室連通室１４７Ｊおよび下室連通室１４９Ｊの圧力差で、第２減衰力発生機構１７３，１８３が開弁するよりも前に、皿バネ１１６，１１７Ｊに当接する位置よりも径方向内側が変形する。すなわち、可撓ディスク１００Ｊは、上室連通室１４７Ｊの方が下室連通室１４９Ｊよりも高圧であれば上室連通室１４７Ｊを拡大させるように底部１２２側に変形し、下室連通室１４９Ｊの方が上室連通室１４７Ｊよりも高圧であれば下室連通室１４９Ｊを拡大させるようにバネ当接ディスク５６１Ｊ側に変形する。

可撓ディスク１００Ｊは、上室連通室１４７Ｊおよび下室連通室１４９Ｊの圧力差が所定値を超えると、その撓み量が所定値よりも大きくなり、皿バネ１１６，１１７Ｊに対する当接位置が基板部６０１Ｊから複数の突出部６０２Ｊにずれる。言い換えれば、可撓ディスク１００Ｊの撓み量により皿バネ１１６，１１７Ｊと可撓ディスク１００Ｊとの当接部が可撓ディスク１００Ｊの小径部６０６Ｊよりも外側に位置する。すると、複数の切欠部６０３Ｊ内の通路が上室連通室１４７Ｊと下室連通室１４９Ｊとを連通させる。ただし、可撓ディスク１００Ｊの撓み量が最大になっても、皿バネ１１６，１１７Ｊと可撓ディスク１００Ｊとの当接部が可撓ディスク１００Ｊの大径部６０５Ｊよりも外側に位置することはない。

可撓ディスク１００Ｊの撓み量により上室連通室１４７Ｊおよび下室連通室１４９Ｊを連通させるように出現する複数の切欠部６０３Ｊ内の通路が、第４通路６１１Ｊとなっている。可撓ディスク１００Ｊと皿バネ１１６，１１７Ｊとが、リリーフ機構６１２Ｊを構成している。リリーフ機構６１２Ｊは、第４通路６１１Ｊに設けられている。リリーフ機構６１２Ｊは、伸縮両行程で上室連通室１４７Ｊと下室連通室１４９Ｊとを連通させる。

緩衝器１Ｊは、第１実施形態の緩衝器１と同様の油圧回路となるものの、アキュムレータ１９０Ｊの作動が第１実施形態のアキュムレータ１９０の作動と若干異なる。

アキュムレータ１９０Ｊは、伸び行程においては、可撓ディスク１００Ｊが、可撓ディスク１００Ｊの皿バネ１１６との当接位置よりも径方向内側の部分を底部１２２に近づけるように弾性変形して室５６５Ｊの体積を拡大し、室５６５Ｊを含む上室連通室１４７Ｊの体積を拡大する。

アキュムレータ１９０Ｊは、伸び行程において、第２減衰力発生機構１８３が開弁した状態で、上室連通室１４７Ｊおよび下室連通室１４９Ｊの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００Ｊが底部１２２に近づくように大きく変形して、第４通路６１１Ｊを開いて上室連通室１４７Ｊを下室連通室１４９Ｊに連通させる。すなわち、リリーフ機構６１２Ｊは、伸び行程において第２減衰力発生機構１８３が開弁した後に開弁して、第４通路６１１Ｊを介して上室連通室１４７Ｊを下室連通室１４９Ｊに連通させる。

アキュムレータ１９０Ｊは、縮み行程においては、可撓ディスク１００Ｊが、可撓ディスク１００Ｊの皿バネ１１７Ｊへの当接位置よりも径方向内側の部分をバネ当接ディスク５６１Ｊ側に弾性変形させて下室連通室１４９Ｊの体積を拡大する。

アキュムレータ１９０Ｊは、縮み行程において、第２減衰力発生機構１７３が開弁した状態で、下室連通室１４９Ｊおよび上室連通室１４７Ｊの圧力差が所定値を超えると、可撓ディスク１００Ｊがバネ当接ディスク５６１Ｊに近づくように大きく変形して、第４通路６１１Ｊを開いて下室連通室１４９Ｊを上室連通室１４７Ｊに連通させる。すなわち、リリーフ機構６１２Ｊは、縮み行程において第２減衰力発生機構１７３が開弁した後に開弁して、第４通路６１１Ｊを介して下室連通室１４９Ｊを上室連通室１４７Ｊに連通させる。

緩衝器１Ｊは、アキュムレータ１９０Ｊの上記作動以外は、伸び行程および縮み行程の両行程において、第１実施形態の緩衝器１と同様に作動する。

第９実施形態の緩衝器１Ｊによれば、リリーフ機構６１２Ｊは、可撓ディスク１００Ｊの撓み量により皿バネ１１６，１１７Ｊと可撓ディスク１００Ｊとの当接部が小径部６０６Ｊよりも外側に位置することで、上室連通室１４７Ｊと下室連通室１４９Ｊとを連通させる。よって、リリーフ機構６１２Ｊを構成する部品の数を低減することができる。

なお、可撓ディスク１００Ｊにかえて、図２２に示すような変形例の可撓ディスク１００Ｋを設けても良い。可撓ディスク１００Ｋは、外周縁部が楕円形状をなしている。これにより、可撓ディスク１００Ｋは、外周縁部の長軸方向の両端部が大径部６０５Ｋとなり、外周縁部の短軸方向の両端が小径部６０６Ｋとなる。このような可撓ディスク１００Ｋを用いても、可撓ディスク１００Ｋの撓み量により皿バネ１１６，１１７Ｊと可撓ディスク１００Ｋとの当接部が小径部６０６Ｋよりも外側に位置することで上室連通室１４７Ｊと下室連通室１４９Ｊとを連通させることになる。

また、可撓ディスク１００Ｊにかえて、図２３に示すような変形例の可撓ディスク１００Ｌを設けても良い。可撓ディスク１００Ｌは、外周縁部が円形であり、円形の内周縁部に対して偏心している。これにより、外周縁部の内周縁部との径方向の距離が最も長い部分２箇所が大径部６０５Ｌとなる。外周縁部の内周縁部との径方向の距離が最も短い部分２箇所が小径部６０６Ｌとなる。このような可撓ディスク１００Ｌを用いても、可撓ディスク１００Ｌの撓み量により皿バネ１１６，１１７Ｊと可撓ディスク１００Ｌとの当接部が小径部６０６Ｌよりも外側に位置することで上室連通室１４７Ｊと下室連通室１４９Ｊとを連通させることになる。

なお、第１～第９実施形態では、例えば第１実施形態に示すようにアキュムレータ１９０とリリーフ機構５２２，５３２とをピストン２１に設ける場合を例にとり説明したが、ベースバルブ１５に設けることも可能である。その場合、ベースバルブ１５の油圧回路図が、例えば、図２４に示すようになり、下室２３とリザーバ室５との間に、減衰力発生機構２５５，２５６とアキュムレータ１９０とリリーフ機構５２２，５３２とが並列に設けられる構成となる。この場合、ピストン２１に設けられた第１減衰力発生機構４１，４２に対して、減衰力発生機構２５５，２５６が第２減衰力発生機構となる。

上記第１～第９実施形態は、複筒式の油圧緩衝器に本発明を用いた例を示したが、これに限らず、外筒をなくしシリンダ内の下室の上室とは反対側に摺動可能な区画体でガス室を形成するモノチューブ式の油圧緩衝器に用いてもよい。また、ディスクにシール部材を設けた構造のパッキンバルブを使用した圧力制御バルブを含むあらゆる緩衝器に用いることができる。

以上に述べた実施形態の第１の態様によれば、緩衝器は、作動流体が封入されるシリンダと、前記シリンダ内に摺動可能に設けられ、該シリンダ内を２室に区画するピストンと、前記ピストンに連結されると共に前記シリンダの外部に延出されるピストンロッドと、前記ピストンの移動により上流側となる前記室から下流側となる前記室に作動流体が流れ出す第１通路と、前記第１通路に設けられ、減衰力を発生する第１減衰力発生機構と、前記第１通路とは別に設けられる第２通路と、前記第２通路に設けられ、前記第１減衰力発生機構よりもピストン速度低速時に開弁して減衰力を発生する第２減衰力発生機構と、前記第２通路とは別に設けられる第３通路と、前記第３通路に設けられる体積可変機構と、前記第３通路とは別に設けられる第４通路と、前記第４通路に設けられ、前記第２減衰力発生機構が開弁した後に開弁するリリーフ機構と、を備える。これにより、耐久性の向上を図ることが可能となる。

実施形態の第２の態様は、第１の態様において、前記体積可変機構は、前記第２減衰力発生機構が開弁するよりも前に変形すると共に内周端部から外周端部までの間、または、内周端部から前記ピストンロッドの外径までの間に、上流側と下流側とを連通する連通孔が形成された撓み可能な可撓ディスクと、前記可撓ディスクの端面に当接し該可撓ディスクを付勢する付勢部材と、を有し、前記可撓ディスクの前記連通孔を該可撓ディスクの撓み量により開閉可能に配置された前記リリーフ機構と、を備える。

実施形態の第３の態様は、第１の態様において、前記体積可変機構は、前記第２減衰力発生機構が開弁するよりも前に変形すると共に内周側の中心軸に対して外周側の長さが異なる大径部と小径部とを有する撓み可能な可撓ディスクと、前記可撓ディスクの前記小径部よりも内側に配置されると共に該可撓ディスクの端面に当接し該可撓ディスクを付勢する付勢部材と、を有し、前記可撓ディスクの撓み量により前記付勢部材と該可撓ディスクとの当接部が前記小径部よりも外側に位置する。

実施形態の第４の態様は、第２または第３の態様において、前記付勢部材は、前記可撓ディスクの端面に当接する部分が、該可撓ディスクの撓み量により、該可撓ディスクの端面から少なくとも一部離れる。

１，１Ｂ～１Ｈ，１Ｊ緩衝器
４，シリンダ
２１，２１Ｈピストン
２２上室（室）
２３下室（室）
２５，２５Ｈピストンロッド
４１，４１Ｈ，４２，４２Ｈ第１減衰力発生機構
４３Ｈ，７２，９２，１７４Ｈ第１通路
１００，１００Ａ，１００Ｂ，１００Ｊ，１００Ｋ，１００Ｌ可撓ディスク
１１６，１１６Ｂ，１１６Ｈ，１１７Ｄ，１１７Ｊ皿バネ（付勢部材）
１１６ＥＯリング（付勢部材）
１７２，１７２Ｇ，１７２Ｈ，１８２，１８２Ｇ，１８２Ｈ第２通路
１７３，１７３Ｇ，１７３Ｈ，１８３，１８３Ｇ，１８３Ｈ第２減衰力発生機構
１８５，１８５Ｂ～１８５Ｈ，１８５Ｊ下室体積可変機構
１８６，１８６Ｂ～１８６Ｈ，１８６Ｊ上室体積可変機構
５０１，５０１Ａ，５０６Ｂ連通孔
５１１，５１１Ｂ～５１１Ｅ，５１１Ｊ，５１２，５１２Ｂ～５１２Ｈ，５１２Ｊ第３通路
５２１，５２１Ｂ～５２１Ｈ，５３１，５３１Ｂ～５３１Ｄ，５３１Ｆ～５３１Ｈ，６１１Ｊ第４通路
５２２，５２２Ｂ～５２２Ｈ，５３２，５３２Ｂ～５３２Ｄ，５３２Ｆ～５３２Ｈ，６１２Ｊリリーフ機構
６０５Ｊ大径部
６０６Ｊ小径部

Claims

作動流体が封入されるシリンダと、
前記シリンダ内に摺動可能に設けられ、該シリンダ内の室を２室に区画するピストンと、
前記ピストンに連結されると共に前記シリンダの外部に延出されるピストンロッドと、
前記ピストンの移動により上流側となる前記室から下流側となる前記室に作動流体が流れ出す第１通路と、
前記第１通路に設けられ、減衰力を発生する第１減衰力発生機構と、
前記第１通路とは別に設けられ、前記シリンダ内の室と連通する第２通路と、
前記第２通路に設けられ、前記第１減衰力発生機構よりもピストン速度低速時に開弁して減衰力を発生する第２減衰力発生機構と、
前記第２通路とは別に設けられ、前記シリンダ内の室と連通する第３通路と、
前記第３通路とは別に設けられ、前記第３通路と連通する第４通路と、
前記第３通路からの前記作動流体によって動作する可撓ディスクと、前記可撓ディスクが動作し、前記第２減衰力発生機構が開弁した後に開弁し、前記第３通路と前記第４通路とを流通させるリリーフ機構とを有する体積可変機構と、
を備える緩衝器。
請求項１に記載の緩衝器であって、
前記可撓ディスクは、撓み可能であって、前記第２減衰力発生機構が開弁するよりも前に変形すると共に内周端部から外周端部までの間、または、内周端部から前記ピストンロッドの外径までの間に、上流側と下流側とを連通する連通孔が形成されており、
前記体積可変機構は、前記可撓ディスクの端面に当接し該可撓ディスクを付勢する付勢部材を有し、
前記リリーフ機構は、前記可撓ディスクの前記連通孔を該可撓ディスクの撓み量により開閉可能に構成されている緩衝器。
請求項１に記載の緩衝器であって、
前記可撓ディスクは、撓み可能であって、前記第２減衰力発生機構が開弁するよりも前に変形すると共に内周側の中心軸に対して外周側の長さが異なる大径部と小径部とを有しており、
前記体積可変機構は、前記可撓ディスクの前記小径部よりも内側に配置されると共に該可撓ディスクの端面に当接し該可撓ディスクを付勢する付勢部材を有し、
前記リリーフ機構は、前記可撓ディスクの撓み量により前記付勢部材と該可撓ディスクとの当接部が前記小径部よりも外側に位置することで開弁する
緩衝器。
請求項２または３に記載の緩衝器であって、
前記リリーフ機構は、前記付勢部材の前記可撓ディスクの端面に当接する部分が、該可撓ディスクの撓み量により、該可撓ディスクの端面から少なくとも一部離れる緩衝器。