JP7357509B2 - コイル装置 - Google Patents

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本開示は、コイル装置に関する。
絶縁性の基体上に、金属層を形成することで平面コイルが得られる。
例えば、特許文献1には、絶縁基板上に電鋳メッキによってコイルパターンを形成したコイル装置が開示されている。
特開2006-33953号公報
コイルとして利用する場合、金属層に電流が流れるため、金属層が発熱しやすい。
本開示のコイル装置は、第1面を有するセラミックスである第1基体と、前記第1面の上に位置する、空隙を有する金属層と、を有し、前記第1基体は、内部に第1流路と、前記第1面と前記第1流路をつなげる第1貫通穴を有している。
本開示の平面コイルは、高い放熱性を有する。
本開示のコイル装置の一例を第1面側から視た平面図である。 図1のA-A’線における断面図の一例である。 図2に示すS部における拡大図の一例である。 図2に示すS部における拡大図の一例である。 図1のA-A’線における断面図の一例である。 図1のA-A’線における断面図の一例である。 図1のA-A’線における断面図の一例である。 本開示のコイル装置の他の例の斜視図である。 図8のB-B’線における断面図の一例である。 図8のB-B’線における断面図の一例である。
本開示のコイル装置について、図面を参照しながら、以下に詳細に説明する。
本開示のコイル装置10は、図1および図2に示すように、第1面1aを有する第1基体1を有する。また、コイル装置は、第1面1a上に位置する金属層2を有する。また、金属層2は、複数の空隙3を有する。
ここで、本開示のコイル装置10における第1基体1は、セラミックスである。セラミックスとしては、例えば、酸化アルミニウム質セラミックス、フェライト質焼結体、炭化珪素質セラミックス、コージェライト質セラミックス、窒化珪素質セラミックス、窒化ア
ルミニウム質セラミックスまたはムライト質セラミックス等が挙げられる。特に、第1基体1が酸化アルミニウム質セラミックスからなるならば、加工性に優れ、かつ安価である。
また、図1に示すように、第1基体1は、板状であってもよい。また、金属層2は、第1基体1の第1面1a上に、蛇行状または渦状に位置していてもよい。また、金属層2は、第1基体1の第1面1a上に、どのような配置で位置していてもよい。
図3に示すように、金属層2は、空隙3を有している。そのため、金属層2は、空隙3のない金属層2に比べ表面積が大きい。したがって、コイル装置は高い放熱性を有する。
また、図2に示すように、第1基体1は、内部に第1流路1bと、第1面1aと第1流路1bをつなげる第1貫通穴1cを有している。そのため、第1流路1bに正圧が生じた場合、第1貫通穴1cから気体が噴出され、噴出された気体が金属層2に接触することで冷却し、また、第1流路1bに負圧が生じた場合、金属層2の周囲の気体が第1貫通穴1cにて吸入されるが、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に接触することで冷却する。したがって、コイル装置10は高い放熱性を有する。なお、第1貫通穴1cは複数あっても良い。
また、図3に示すように、金属層2は、第1金属粒子4と、第2金属粒子5と、を有していてもよい。空隙3は、第1金属粒子4と第2金属粒子5との間に位置していてもよい。このような構成を有する場合、第1金属粒子4および第2金属粒子5で生じた熱が空隙3に吸収されるため、コイル装置10は高い放熱性を有する。
ここで、金属層2を構成する第1金属粒子4および第2金属粒子5の材質は、例えば、ステンレスまたは銅であってもよい。
また、図3および図4に示すように、第1金属粒子4および第2金属粒子5の形状は、例えば、球状、粒状、ウィスカ状または針状であってもよい。第1金属粒子4および第2金属粒子5がウィスカ状または針状である場合は、第1金属粒子4および第2金属粒子5は屈曲していてもよい。第1金属粒子4および第2金属粒子5は角部を有していてもよい。また、第1金属粒子4および第2金属粒子5が球状または粒状である場合、第1金属粒子4および第2金属粒子5の長手方向の長さは0.5μm以上200μm以下であってもよい。第1金属粒子4および第2金属粒子5がウィスカ状または針状である場合、幅は1μm以上100μm以下であってもよく、長さが100μm以上5mm以下であってもよい。
図3においては、第1金属粒子4および第2金属粒子5が粒状である。図4においては、第1金属粒子4および第2金属粒子5がウィスカ状である。
また、金属層2の平均厚み2aは、1μm以上5mm以下であり、金属層2の平均高さ2bは、0.5mm以上10mm以下である。
また、金属層2の気孔率は、例えば、10%以上90%以下であってもよい。気孔率は、金属層2において空隙3が占める割合を表す指標となる、ここで、金属層2の気孔率は、例えば、アルキメデス法を用いて測定することで算出すればよい。
また、本開示のコイル装置20は、図2に示すように、第1貫通穴1cの断面積は、第1面1aに向かって小さくなってもよい。このような構成を有する場合、第1流路1bに正圧が生じた場合、第1貫通穴1cから気体が噴出され、噴出された気体がより遠くへと
飛ぶようになり、金属層2の広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置20の放熱性を高めることができる。
また、本開示のコイル装置20は、図5に示すように、第1貫通穴1cの断面積は、第1面1aに向かって大きくなってもよい。このような構成を有する場合、第1流路1bに負圧が生じた場合、第1金属層2の周囲の気体が第1貫通穴1cにて吸入されるが、吸入される気体が多くなるので、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置20は高い放熱性を高めることができる。
なお、本開示のコイル装置30は、図6に示すように、第1貫通穴1cの断面積は、段階的に第1面1aに向かって大きくなってもよい。
また、本開示のコイル装置40は、図7に示すように、金属層2および第1面1aの間に位置する第1接合層6を有しても良い。このような構成を有する場合、金属層2が第1基体1から剥がれにくくなる。また、接合層が、金属層2と第1基体1との熱膨張係数の差によって発生する応力を緩和しやすい。そのため、第1基体1に亀裂が生じにくくなる。したがって、本開示のコイル装置40は長期間の使用に耐えうる。なお、接合層の平均厚みは、1μm以上0.5mm以下であってもよい。
また、本開示のコイル装置40における接合層は、樹脂またはガラスを有していてもよい。ここで、樹脂としては、例えば、シリコーンまたはイミドアミドが挙げられる。ガラスとしては、例えば、ホウ硅酸系ガラスまたは珪酸系ガラスが挙げられる。接合層が上記の材料を含む場合、金属層2と第1基体1とが強固に接合され、金属層2が第1基体1から剥がれにくくなる。
また、本開示のコイル装置40は、図7に示すように、第1基体1は、第1面1aに第1凹部1dを有し、金属層2の一方の端部が第1凹部1d内に有してもよい。このような構成を有する場合、金属層2の端部が発熱した際に、膨張を抑制することができ、剥離を防ぐことができることから、信頼性を向上することができる。また、金属層2どうしの沿面距離を伸ばすことができ、電気的信頼性を向上することができる。
また、本開示のコイル装置50は、図8および図9に示すように、第1面1aに対向する第2面7aを有するセラミックスである第2基体7を有し、第2基体7は、内部に第2流路7bを有し、金属層2は、第1基体1と第2基体7の間に位置してもよい。このような構成を有するならば、第1基体1および第2基体7の両方から金属層2を冷却することができるので、放熱性を向上することができる。
なお、第2基体7のセラミックスとしては、例えば、酸化アルミニウム質セラミックス、フェライト質焼結体、炭化珪素質セラミックス、コージェライト質セラミックス、窒化珪素質セラミックス、窒化アルミニウム質セラミックスまたはムライト質セラミックス等が挙げられる。
また、本開示のコイル装置50は、第2基体7は、第2面7aと第2流路7bをつなげる第2貫通穴7cを有しても良い。このような構成を有する場合、第2流路7bに正圧が生じた場合、第2貫通穴7cから気体が噴出され、噴出された気体が金属層2に接触することで冷却し、また、第2流路7bに負圧が生じた場合、金属層2の周囲の気体が第2貫通穴7cにて吸入されるが、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に接触することで冷却する。したがって、コイル装置は高い放熱性を有する。なお、第2貫通穴7cは複数あっても良い。
また、本開示のコイル装置50は、図9に示すように、第2貫通穴7cの断面積は、第2面7aに向かって小さくなってもよい。このような構成を有する場合、第2流路7bに正圧が生じた場合、第2貫通穴7cから気体が噴出され、噴出された気体がより遠くへと飛ぶようになり、金属層2の広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置50の放熱性を高めることができる。
また、本開示のコイル装置60は、図10に示すように、第2貫通穴7cの断面積は、第2面7aに向かって大きくなってもよい。このような構成を有する場合、第2流路7bに負圧が生じた場合、金属層2の周囲の気体が第2貫通穴7cにて吸入されるが、吸入される気体が多くなるので、吸入される際に気体が金属層2の空隙3に広範囲で接触することで冷却するので、コイル装置60は高い放熱性を高めることができる。
また、本開示のコイル装置60は、図10に示すように、金属層2および第2面7aの間に位置する第2接合層8を有しても良い。このような構成を有する場合、金属層2が第2基体7から剥がれにくくなる。また、第2接合層8が、金属層2と第1基体1との熱膨張係数の差によって発生する応力を緩和しやすい。そのため、第2基体7に亀裂が生じにくくなる。したがって、本開示のコイル装置60は長期間の使用に耐えうる。なお、第2接合層8の平均厚みは、1μm以上0.5mm以下であってもよい。
また、本開示のコイル装置60における第2接合層8は、樹脂またはガラスを有していてもよい。ここで、樹脂としては、例えば、シリコーンまたはイミドアミドが挙げられる。ガラスとしては、例えば、ホウ硅酸系ガラスまたは珪酸系ガラスが挙げられる。第2接合層8が上記の材料を含む場合、金属層2と第2基体7とが強固に接合され、金属層2が第2基体7から剥がれにくくなる。
また、本開示のコイル装置60は、図10に示すように、第2基体7は、第2面7aに第2凹部を有し、金属層2の他方の端部が第2凹部7d内に有してもよい。このような構成を有する場合、金属層2の他方の端部が発熱した際に、膨張を抑制することができ、剥離を防ぐことができることから、信頼性を向上することができる。また、金属層2どうしの沿面距離を伸ばすことができ、電気的信頼性を向上することができる。
なお、このようなコイル装置10,20,30,40,50,60は、金属層2に複数の導線(図示しない)の一端を接続し、その導線の他端を電源やグランドに接続することで、無線給電装置、周波数フィルタ、トランスなどに使用することができる。また、導線は、第1貫通穴1cおよび第1流路1b、または第2貫通穴7cおよび第2流路7bに通してもよい。このような構成を有する場合、導線を外部にさらすことが無く、コイルに影響を与えることが無いので、コイル装置10,20,30,40,50,60の電気的信頼性を向上することができる。
次に、本開示のコイル装置10,20,30,40,50,60の製造方法の一例について説明する。
まず、セラミックスからなる第1基体1を用意する。なお、第1基体1の内部には第1流路1bを備え、第1貫通穴1cを形成する。また、第1面1aに凹部を形成しても良い。このように、流路、第1貫通穴1c、第1凹部1dは押出法、積層法などの公知の成形方法を用いた際に形成すればよく、その成形方法で得られた成形体を焼成することで第1基体1を得ることができる。なお、第2基体7も第1基体1と同様の方法で得ることができる。
次に、第1金属粒子4および第2金属粒子5を含む複数の金属粒子とバインダとを混ぜ
合わせた後に、メカプレス法、ロール法、押出法により成形体を作製する。次に、成形体を乾燥させることでバインダを蒸発させる。その後、所望形状に加工することで、金属層2を得ることができる。なお、加熱するか、超音波振動を与えるか、通電することにより、第1金属粒子4および第2金属粒子5が溶着され、溶着部を有することができる。
そして、金属層2を所望の形態に第1基体1に載置することで、本開示のコイル装置10,20,30を得ることができる。ここで、第1基体1に凹部を有するならば、金属層2の一方の端部を第1凹部1dにはまるように載置することで、本開示のコイル装置40を得ることができる。
なお、基体の第1面1aに金属層2を直接形成するのではなく、まず、第1面1aに第1接合層6を形成した後、この第1接合層6上に金属層2を形成することで、本開示のコイル装置40を得ることができる。ここで、接合層は、樹脂またはガラスである。一方、第1接合層6が、樹脂またはガラスである場合、上記マスク形成前に第1接合層6を形成すればよい。この場合、樹脂またはガラスは、それぞれを主成分としたペーストを第1面1aに塗布し、熱処理することで形成すればよい。また、樹脂またはガラスは、第1基体1の第1面1a全てを覆うように形成しても構わない。
そして、第1接合層6上に金属層2を形成した後、第1基体1を加熱することによって、第1接合層6が、樹脂またはガラスならば、金属層2に対して第1接合層6が濡れることで接合される。
なお、第1基体1に金属層2を形成した後または同時に、第2基体7と金属層2を接触または接合することで、第2基体7を有するコイル装置50,60とすることができる。
なお、本開示は上述の実施形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。
1:第1基体
1a:第1面
1b:第1流路
1c:第1貫通穴
1d:第1凹部
2:金属層
3:空隙
4:第1金属粒子
5:第2金属粒子
6:第1接合層
7:第2基体
7a:第2面
7b:第2流路
7c:第2貫通穴
7d:第2凹部
8:第2接合層
10、20、30、40、50、60:コイル装置

Claims (15)

  1. 第1面を有するセラミックスである第1基体と、
    前記第1面の上に位置する、空隙を有する金属層と、を有し、
    前記第1基体は、内部に第1流路と、前記第1面と前記第1流路をつなげる複数の第1貫通穴を有し、
    前記金属層は、前記第1面の平面視で蛇行状または渦状に延伸するコイルであり、
    該コイルは、前記第1面に交差する方向の長さである高さが、前記平面視で前記コイルの延伸方向に交差する方向の幅である厚みよりも大きく、
    前記第1貫通穴は、前記平面視において隣り合う前記金属層の間に少なくとも一つが位置する、コイル装置。
  2. 前記金属層の平均厚みは、1μm以上5mm以下であり、前記金属層の平均高さは、0.5mm以上10mm以下である、請求項1に記載のコイル装置。
  3. 前記金属層は、第1金属粒子と、第2金属粒子と、を有しており、
    前記空隙は、前記第1金属粒子と前記第2金属粒子との間に位置する、請求項1または請求項2に記載のコイル装置。
  4. 前記第1貫通穴の断面積は、前記第1面に向かって小さくなる、請求項1乃至請求項3のいずれか1つに記載のコイル装置。
  5. 前記第1貫通穴の断面積は、前記第1面に向かって大きくなる、請求項1乃至請求項3のいずれか1つに記載のコイル装置。
  6. 前記金属層および前記第1面の間に位置する第1接合層を有する、請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載のコイル装置。
  7. 前記第1接合層は、樹脂またはガラスを有する、請求項に記載のコイル装置。
  8. 前記第1基体は、前記第1面に第1凹部を有し、前記金属層の一方の端部が前記第1凹部内に有する、請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載のコイル装置。
  9. 前記第1面に対向する第2面を有するセラミックスである第2基体を有し、前記第2基体は、内部に第2流路を有し、前記金属層は、前記第1基体と前記第2基体の間に位置する、請求項1乃至請求項のいずれか1つに記載のコイル装置。
  10. 前記第2基体は、前記第2面と前記第2流路をつなげる第2貫通穴を有する、請求項に記載のコイル装置。
  11. 前記第2貫通穴の断面積は、前記第2面に向かって小さくなる、請求項10に記載のコイル装置。
  12. 前記第2貫通穴の断面積は、前記第2流路に向かって大きくなる、請求項10に記載のコイル装置。
  13. 前記金属層および前記第2面の間に位置する第2接合層を有する、請求項12に記載のコイル装置。
  14. 前記第2接合層は、樹脂またはガラスを有する、請求項13に記載のコイル装置。
  15. 前記第2基体は、前記第2面に第2凹部を有し、前記金属層の他方の端部が前記第2凹部内に有する、請求項乃至請求項14のいずれか1つに記載のコイル装置。
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