JP7350718B2 - 撮像素子及び電子機器 - Google Patents
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Description
光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有する。第1の態様に係る撮像素子は、電子機器に用いることができる。
光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う。第2の態様に係る撮像素子は、電子機器に用いることができる。
1.本開示の撮像素子及び電子機器、全般に関する説明
2.本開示の撮像素子
2-1.CMOSイメージセンサの構成例
2-2.画素の構成例
2-3.チップ構造
2-3-1.平置型のチップ構造(所謂、平置構造)
2-3-2.積層型のチップ構造(所謂、積層構造)
3.本開示の実施形態
3-1.実施例1
3-2.実施例2
3-3.実施例3
3-4.実施例4
4.変形例
5.応用例
6.本開示に係る技術の適用例
6-1.本開示の電子機器(撮像装置の例)
6-2.間接TOF方式距離画像センサへの適用
6-2-1.システム構成例
6-2-2.画素の構成例
6-3.移動体への応用例
7.本開示がとることができる構成
本開示の第1の態様に係る撮像素子及び電子機器にあっては、逐次比較型アナログ-デジタル変換器について、容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有する構成とすることができる。デジタル-アナログ変換器については、再度アナログ-デジタル変換を行うための複数の容量素子を余分に持つ構成、あるいは、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から成る構成とすることができる。そして、デジタル-アナログ変換器は、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、あるいは、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う構成とすることができる。
本開示に係る技術が適用される、本開示の撮像素子の基本的な構成について説明する。ここでは、撮像素子として、X-Yアドレス方式の撮像素子の一種であるCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサを例に挙げて説明する。CMOSイメージセンサは、CMOSプロセスを応用して、又は、部分的に使用して作製されたイメージセンサである。
図1は、本開示の撮像素子の一例であるCMOSイメージセンサの基本的な構成の概略を示すブロック図である。
図2は、画素2の回路構成の一例を示す回路図である。画素2は、光電変換部として、例えば、フォトダイオード21を有している。画素2は、フォトダイオード21に加えて、転送トランジスタ22、リセットトランジスタ23、増幅トランジスタ24、及び、選択トランジスタ25を有する画素構成となっている。
上記の構成のCMOSイメージセンサ1のチップ(半導体集積回路)構造としては、平置型のチップ構造及び積層型のチップ構造を例示することができる。平置型のチップ構造及び積層型のチップ構造のいずれのCMOSイメージセンサ1においても、画素2について、配線層が配される側の基板面を表面(正面)とするとき、その反対側の裏面側から照射される光を取り込む裏面照射型の画素構造とすることができる。以下に、平置型のチップ構造及び積層型のチップ構造について説明する。
図3は、CMOSイメージセンサ1の平置型のチップ構造の概略を示す平面図である。図3に示すように、平置型のチップ構造、所謂、平置構造は、画素2が行列状に配置されて成る画素アレイ部11と同じ半導体基板41上に、画素アレイ部11の周辺の回路部分を形成した構造となっている。具体的には、画素アレイ部11と同じ半導体基板41上に、行選択部12、定電流源部13、アナログ-デジタル変換部14、水平転送走査部15、信号処理部16、及び、タイミング制御部17等が形成されている。
図4は、CMOSイメージセンサ1の積層型のチップ構造の概略を示す分解斜視図である。図4に示すように、積層型のチップ構造、所謂、積層構造は、第1半導体基板42及び第2半導体基板43の少なくとも2つの半導体基板が積層された構造となっている。この積層構造において、画素アレイ部11は、1層目の第1半導体基板42に形成される。また、行選択部12、定電流源部13、アナログ-デジタル変換部14、水平転送走査部15、信号処理部16、及び、タイミング制御部17等の回路部分は、2層目の第2半導体基板43に形成される。そして、1層目の第1半導体基板42と2層目の第2半導体基板43とは、ビア(VIA)やCu-Cu接続などの接続部44を通して電気的に接続される。
上記の構成のCMOSイメージセンサ1において、列並列アナログ-デジタル変換部14におけるアナログ-デジタル変換器として、シングルスロープ型アナログ-デジタル変換器や逐次比較型アナログ-デジタル変換器などを例示することができる。但し、本実施形態では、アナログ-デジタル変換速度の点でシングルスロープ型アナログ-デジタル変換器よりも優れている逐次比較型アナログ-デジタル変換器を、列並列アナログ-デジタル変換部14におけるアナログ-デジタル変換器として用いることとする。逐次比較型アナログ-デジタル変換器については、画素アレイ部11が画素列に対して画素列の単位で設けてもよいし、複数の画素列の単位で設けてもよい。
実施例1に係る逐次比較型アナログ-デジタル変換器の構成を図6に示す。図6に示すように、実施例1に係る逐次比較型アナログ-デジタル変換器50は、プリアンプ51、コンパレータ52、SARロジック部53、SARバイナリ容量アレイ部54、再AD変換用容量アレイ部55、スイッチマトリクス部56、基準電圧生成部57、及び、リセットスイッチ58a,58bを有する構成となっている。
続いて、帯域制限機能を持つプリアンプ51について説明する。プリアンプ51は、SARロジック部53による制御の下、SARロジック部53から供給される制御信号Sに応答して帯域制限を行う。プリアンプ51の帯域制限については、図5において、少なくとも再AD変換期間で行うようにすることもできるし、再AD変換期間でのみ行うようにすることもできる。
プリアンプ51における帯域制限機能の第1例を図8Aに示す。プリアンプ51は、例えば、差動トランジスタQ11,Q12、負荷トランジスタQ13,Q14、及び、可変電流源Iを有する構成となっている。差動トランジスタQ11,Q12は、例えばPチャネルの電界効果トランジスタから成り、ソース電極が共通に接続されて動作を行う。
プリアンプ51における帯域制限機能の第2例を図8Bに示す。第2例は、プリアンプ51の差動出力の出力ノードとグランドとの間に、容量素子C11及びスイッチSW11、並びに、容量素子C12及びスイッチSW12をそれぞれ直列に接続した構成となっている。
プリアンプ51における帯域制限機能の第3例を図9Aに示す。第3例は、プリアンプ51の差動出力の出力ノードとグランドとの間に、容量素子C13及び抵抗素子R11、並びに、容量素子C14及び抵抗素子R12をそれぞれ直列に接続するとともに、容量素子C13及び容量素子C14の抵抗素子側の端部間にスイッチSW13を接続した構成となっている。
プリアンプ51における帯域制限機能の第4例を図9Bに示す。第4例は、プリアンプ51の差動出力の出力ノードとグランドとの間に、可変容量ダイオード(バラクタ/バリキャップ)VC11,VC12を接続した構成となっている。
実施例2に係る逐次比較型アナログ-デジタル変換器50の回路構成を図10に示す。図10に示すように、スイッチマトリクス部56において、再AD変換用容量アレイ部55の容量素子C1-0~容量素子C1-3に対応する各スイッチ群が、5個のスイッチから成る点で、3個のスイッチから成る実施例1の場合と異なっている。
実施例3に係る逐次比較型アナログ-デジタル変換器50の回路構成を図11に示す。実施例3の場合、SARバイナリ容量アレイ部54及び再AD変換用容量アレイ部55がそれぞれ2系統(54a,54b/55a,55b)設けられている。そして、SARバイナリ容量アレイ部54a,54bの容量素子C5~容量素子C9の各容量値が、実施例1及び実施例2の場合と異なっている。具体的には、容量素子C5の容量値が2C、容量素子C6の容量値が4C、容量素子C7の容量値が8C、容量素子C8の容量値が16C、容量素子C9の容量値が32Cにそれぞれ設定されている。
実施例4は、実施例2の変形例であり、プリアンプ51を持たない構成となっている。実施例4に係る逐次比較型アナログ-デジタル変換器50の回路構成を図12に示す。
以上、本開示に係る技術について、好ましい実施形態に基づき説明したが、本開示に係る技術は当該実施形態に限定されるものではない。上記の実施形態において説明した撮像素子の構成、構造は例示であり、適宜、変更することができる。例えば、SARバイナリ容量アレイ部54の容量素子C2~容量素子C9の各スイッチ群、及び、再AD変換用容量アレイ部55の容量素子C1-0~容量素子C1-3の各スイッチ群のスイッチの数の組み合わせについては、実施例1乃至実施例3に限られるものではない。他の組み合わせとして、例えば、SARバイナリ容量アレイ部54の容量素子C2~容量素子C9の各スイッチ群が2個のスイッチから成り、再AD変換用容量アレイ部55の容量素子C1-0~容量素子C1-3の各スイッチ群が3個のスイッチから成る構成を例示することができる。
以上説明した本実施形態に係るCMOSイメージセンサ1は、例えば図13に示すように、可視光、赤外光、紫外光、X線等の光をセンシングする様々な装置に使用することができる。様々な装置の具体例について以下に列挙する。
・自動停止等の安全運転や、運転者の状態の認識等のために、自動車の前方や後方、周囲、車内等を撮影する車載用センサ、走行車両や道路を監視する監視カメラ、車両間等の測距を行う測距センサ等の、交通の用に供される装置
・ユーザのジェスチャを撮影して、そのジェスチャに従った機器操作を行うために、TVや、冷蔵庫、エアーコンディショナ等の家電に供される装置
・内視鏡や、赤外光の受光による血管撮影を行う装置等の、医療やヘルスケアの用に供される装置
・防犯用途の監視カメラや、人物認証用途のカメラ等の、セキュリティの用に供される装置
・肌を撮影する肌測定器や、頭皮を撮影するマイクロスコープ等の、美容の用に供され装置
・スポーツ用途等向けのアクションカメラやウェアラブルカメラ等の、スポーツの用に供される装置
・畑や作物の状態を監視するためのカメラ等の、農業の用に供される装置
本開示に係る技術は、様々な製品に適用することができる。以下に、より具体的な適用例について説明する。
ここでは、デジタルスチルカメラやビデオカメラ等の撮像装置や、携帯電話機などの撮像機能を有する携帯端末装置や、画像読取部に撮像素子を用いる複写機などの電子機器に適用する場合について説明する。
図14は、本開示の電子機器の一例である撮像装置の構成を示すブロック図である。図14に示すように、本例に係る撮像装置100は、レンズ群等を含む撮像光学系101、撮像部102、DSP(Digital Signal Processor)回路103、フレームメモリ104、表示装置105、記録装置106、操作系107、及び、電源系108等を有している。そして、DSP回路103、フレームメモリ104、表示装置105、記録装置106、操作系107、及び、電源系108がバスライン109を介して相互に接続された構成となっている。
本開示に係る技術は、前述したCMOSイメージセンサ等の撮像素子の他に、間接TOF(Indirect-Time of Flight)方式距離画像センサに対しても適用することができる。間接TOF方式距離画像センサは、光源から発した光が対象物で反射し、その反射光の到達位相差の検出に基づいて光飛行時間を計測することによって、対象物までの距離を測定するセンサである。
図15は、本開示に係る技術を適用した間接TOF方式距離画像センサのシステム構成の一例を示すブロック図である。
図16は、本開示に係る技術を適用した間接TOF方式距離画像センサ200における画素204の回路構成の一例を示す回路図である。
本開示に係る技術は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット、建設機械、農業機械(トラクター)などのいずれかの種類の移動体に搭載される撮像素子として実現されてもよい。
尚、本開示は、以下のような構成をとることもできる。
[A-1]光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有する、
撮像素子。
[A-2]逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、再度アナログ-デジタル変換を行うための複数の容量素子を余分に持っており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、再度アナログ-デジタル変換を行う、
上記[A-1]に記載の撮像素子。
[A-3]逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
上記[A-1]に記載の撮像素子。
[A-4]プリアンプは、少なくとも再度アナログ-デジタル変換を行う期間で帯域制限を行う、
上記[A-2]又は上記[A-3]に記載の撮像素子。
[A-5]プリアンプは、再度アナログ-デジタル変換を行う期間でのみ帯域制限を行う、
上記[A-2]又は上記[A-3]に記載の撮像素子。
[A-6]プリアンプは、負荷の抵抗を変更することによって帯域制限を行う、
上記[A-1]乃至上記[A-5]のいずれかに記載の撮像素子。
[A-7]プリアンプは、出力の対地容量を変化させることによって帯域制限を行う、
上記[A-1]乃至上記[A-5]のいずれかに記載の撮像素子。
[A-8]プリアンプは、差動出力間に容量を追加することによって帯域制限を行う、
上記[A-1]乃至上記[A-5]のいずれかに記載の撮像素子。
[A-9]プリアンプは、出力ノードに接続された可変容量ダイオードを有し、可変容量ダイオードの容量を制御することによって帯域制限を行う、
上記[A-1]乃至上記[A-5]のいずれかに記載の撮像素子。
[A-10]プリアンプは、電流源バイアス、もしくは、駆動する電流源数を制御することによって帯域制限を行う、
上記[A-1]乃至上記[A-5]のいずれかに記載の撮像素子。
[B-1]光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子。
[B-2]デジタル-アナログ変換器は、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧を順に与えるスイッチ群を、複数の容量素子毎に有する、
上記[B-1]に記載の撮像素子。
[C-1]光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有する、
撮像素子を有する電子機器。
[C-2]逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、再度アナログ-デジタル変換を行うための複数の容量素子を余分に持っており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、再度アナログ-デジタル変換を行う、
上記[C-1]に記載の電子機器。
[C-3]逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
上記[C-1]に記載の電子機器。
[C-4]プリアンプは、少なくとも再度アナログ-デジタル変換を行う期間で帯域制限を行う、
上記[C-2]又は上記[C-3]に記載の電子機器。
[C-5]プリアンプは、再度アナログ-デジタル変換を行う期間でのみ帯域制限を行う、
上記[C-2]又は上記[C-3]に記載の電子機器。
[C-6]プリアンプは、負荷の抵抗を変更することによって帯域制限を行う、
上記[C-1]乃至上記[C-5]のいずれかに記載の電子機器。
[C-7]プリアンプは、出力の対地容量を変化させることによって帯域制限を行う、
上記[C-1]乃至上記[C-5]のいずれかに記載の電子機器。
[C-8]プリアンプは、差動出力間に容量を追加することによって帯域制限を行う、
上記[C-1]乃至上記[C-5]のいずれかに記載の電子機器。
[C-9]プリアンプは、出力ノードに接続された可変容量ダイオードを有し、可変容量ダイオードの容量を制御することによって帯域制限を行う、
上記[C-1]乃至上記[C-5]のいずれかに記載の電子機器。
[C-10]プリアンプは、電流源バイアス、もしくは、駆動する電流源数を制御することによって帯域制限を行う、
上記[C-1]乃至上記[C-5]のいずれかに記載の電子機器。
[D-1]光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子を有する電子機器。
[D-2]デジタル-アナログ変換器は、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧を順に与えるスイッチ群を、複数の容量素子毎に有する、
上記[D-1]に記載の電子機器。
Claims (13)
- 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、再度アナログ-デジタル変換を行うための複数の容量素子を余分に持っており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子。 - プリアンプは、少なくとも再度アナログ-デジタル変換を行う期間で帯域制限を行う、
請求項1に記載の撮像素子。 - プリアンプは、再度アナログ-デジタル変換を行う期間でのみ帯域制限を行う、
請求項1に記載の撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
プリアンプは、負荷の抵抗を変更することによって帯域制限を行う、
撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
プリアンプは、出力の対地容量を変化させることによって帯域制限を行う、
撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
プリアンプは、差動出力間に容量を追加することによって帯域制限を行う、
撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
プリアンプは、出力ノードに接続された可変容量ダイオードを有し、可変容量ダイオードの容量を制御することによって帯域制限を行う、
撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
プリアンプは、電流源バイアス、もしくは、駆動する電流源数を制御することによって帯域制限を行う、
撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子。 - デジタル-アナログ変換器は、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧を順に与えるスイッチ群を、複数の容量素子毎に有する、
請求項10に記載の撮像素子。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、帯域制限機能を持つプリアンプを有し、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子を有する電子機器。 - 光電変換部を含む画素から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換する逐次比較型アナログ-デジタル変換器を備え、
逐次比較型アナログ-デジタル変換器は、
容量素子を用いてアナログ-デジタル変換後のデジタル値をアナログ値に変換して、アナログ入力電圧と比較するための比較基準とするデジタル-アナログ変換器を有し、
デジタル-アナログ変換器は、下位ビットの容量素子の一つが複数の容量素子から構成されており、全ビットについてアナログ-デジタル変換を行った後に、複数の容量素子の各々に、少なくとも第1基準電圧~第4基準電圧が選択的に与えられることで、下位ビットについて再度アナログ-デジタル変換を行う、
撮像素子を有する電子機器。
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