JP7332477B2 - 画素配列構造、表示基板、表示装置及びマスクプレート群 - Google Patents

画素配列構造、表示基板、表示装置及びマスクプレート群 Download PDF

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Description

関連出願の相互参照
本願は、2018年2月9日に出願された中国特許出願第201810137012.7号の優先権を主張し、ここで上記中国特許出願の開示全体が本願の一部として援用される。
本開示の実施例は、画素配列構造、表示基板、表示装置及びマスクプレート群に関する。
表示技術の発展につれて、表示装置の解析度を高めることが期待されている。高解析度の表示装置は、高表示品質などのメリットを有するため、幅広く採用されている。通常、画素のサイズ及び画素間の間隔を減少することにより、表示装置の解析度を向上させる。しかし、画素のサイズ及び画素間の間隔の減小には、製造工程上の精度に対する要求が高くなっている。それにより、表示装置の製造工程が難しく、かつ、製造のコストが高くなってしまう。
一方、サブピクセルレンダリング(Sup-Pixel Rendering、SPR)は、人の目による色違いのサブ画素への解析度の差異を利用して、赤・緑・青である三色のサブ画素により1つの画素を簡単に定義するとの従来のモードを変化させる。サブピクセルレンダリングでは、異なる画素同士が何らかの、位置解析度の敏感でない色のサブ画素を共用することにより、比較的少ないサブ画素を用いて、同画素解析度の表現効果をシミュレートして実現することで、表示装置の製造工程の難しさ及び製造のコストが低減される。
本開示の少なくとも1つの実施例は、複数の最小重複領域に分布される複数の第1色サブ画素ブロック、複数の第2色サブ画素ブロック及び複数の第3色サブ画素ブロックを含む画素配列構造であって、前記最小重複領域の各々は、矩形形状に形成されかつ第1仮想矩形を含み、1つの前記第1仮想矩形が1つの第1色サブ画素ブロックと、1つの第2色サブ画素ブロックと、1つの第3色サブ画素ブロックとを含んでおり、前記第1仮想矩形は、第1方向に延びる第1辺、及び第2方向に延びる第2辺を含み、前記第1辺の垂直二等分線の両側に前記第2色サブ画素ブロック及び前記第3色サブ画素ブロックが分布され、前記第2色サブ画素ブロック又は前記第3色サブ画素ブロックと、前記第1辺との間の距離がいずれも前記第1色サブ画素ブロックと前記第1辺との間の距離よりも小さく、前記第1色サブ画素ブロックの中心が前記第1辺の垂直二等分線上に位置しかつ前記第1辺との間の距離が前記第2辺の長さの1/2~3/4である画素配列構造を提供する。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記最小重複領域の各々は、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形をさらに含み、前記第1仮想矩形、前記第2仮想矩形、前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形が一辺を共有するように2×2のマトリクスを形成して前記最小重複領域を構成しており、前記第2仮想矩形は、前記第1仮想矩形と前記第1辺を共有するとともに、前記第1仮想矩形に対して前記第1辺に関して鏡像対称になり、前記第1仮想矩形は、その対角線に沿って前記対角線の長さだけ並進すると前記第3仮想矩形と重なり、前記第3仮想矩形は、前記第1方向に延びかつ前記第1辺と同一の直線上に位置する第3辺をさらに含んでおり、前記第4仮想矩形は、前記第3仮想矩形と前記第3辺を共有するとともに、前記第3仮想矩形に対して前記第3辺に関して鏡像対称になる。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第2色サブ画素ブロックと前記第3色サブ画素ブロックとは、それぞれ前記第1辺の両端の近くにあり、かつ前記第1仮想矩形の中心から離れる縁辺が前記第1辺に位置する。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1色サブ画素ブロックは緑のサブ画素であり、前記第2色サブ画素ブロックは赤のサブ画素であり、前記第3色サブ画素ブロックは青のサブ画素である。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1色サブ画素ブロックの形状は、底角が直角である対称の五角形であって、前記第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも底辺が前記第1辺から離れる五角形になる。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第2色サブ画素ブロックと前記第3色サブ画素ブロックとの両方の形状は、底角が直角である対称の五角形であって、底辺が前記第1辺に平行し又は前記第1辺に位置し、かつこの底辺が前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも前記第1辺に近い五角形になる。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第2色サブ画素ブロックと前記第3色サブ画素ブロックとの両方の形状は、底角が直角である五角形であって、底辺が前記第1辺に平行し又は前記第1辺に位置し、かつこの底辺が前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも前記第1辺に近くなるとともに、頂点を通過する第1斜辺及び第2斜辺を含む五角形になっており、前記第1斜辺は、前記第1色サブ画素ブロックに対向して設置され、前記第2斜辺よりも長さが大きい。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、第1色サブ画素ブロックの形状は、底角が直角である対称の五角形であって、前記第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、底辺が前記第1辺に平行しかつ前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも前記第1辺から離れるとともに、頂点を通過する等長の第3斜辺及び第4斜辺を含む五角形になっており、前記第1色サブ画素ブロックの第3斜辺は、前記第2色サブ画素ブロックの第1斜辺に対して平行に、第1距離である間隔で配置され、前記第1色サブ画素ブロックの第4斜辺は、前記第3色サブ画素ブロックの第1斜辺に対して平行に、第2距離である間隔で配置される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1仮想矩形及び前記第2仮想矩形において、前記第2色サブ画素ブロックが前記第3色サブ画素ブロックよりも前記最小重複領域の中心に近く、前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形において、前記第3色サブ画素ブロックが前記第2色サブ画素ブロックよりも前記最小重複領域の中心に近く、前記第1仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックと前記第4仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックとが隣接し、前記第2仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックと前記第3仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックとが隣接し、前記第1仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックの前記第2斜辺が、前記第4仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックの前記第2斜辺に対して平行に、第3距離である間隔で配置され、前記第2仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックの前記第2斜辺が、前記第3仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックの前記第2斜辺に対して平行に、第4距離である間隔で配置される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1距離、前記第2距離、前記第3距離及び前記第4距離は、すべて同じである。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第2色サブ画素ブロックと前記第3色サブ画素ブロックとの両方の形状は、底辺が前記第1辺に垂直であり、かつ直角辺と前記第1辺との距離が斜辺と前記第1辺との距離よりも小さい直角台形になる。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1色サブ画素ブロックの形状は、底角が直角である対称の五角形であって、前記第1辺の垂直二等分線に対して対称になり、底辺が前記第1辺に平行し又は前記第1辺に位置しかつ前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも前記第1辺から離れるとともに、頂点を通過する等長の第3斜辺及び第4斜辺を含む五角形になっており、前記第1色サブ画素ブロックの第3斜辺が前記第2色サブ画素ブロックの斜辺に対して平行に、第5距離である間隔で配置され、前記第1色サブ画素ブロックの第4斜辺が前記第3色サブ画素ブロックの斜辺に対して平行に、第6距離である間隔で配置される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1仮想矩形及び前記第2仮想矩形において、前記第3色サブ画素ブロックが前記第2色サブ画素ブロックよりも前記最小重複領域の中心に近く、前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形において、前記第2色サブ画素ブロックが前記第3色サブ画素ブロックよりも前記最小重複領域の中心に近く、前記第1仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックと前記第4仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックとが隣接し、前記第2仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックと前記第3仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックとが隣接しており、前記第1仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックの鋭角部と、前記第4仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックの鋭角部との間隔は、第7距離であり、前記第2仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックの鋭角部と、前記第3仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックの鋭角部との間隔は、第8距離である。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第5距離、前記第6距離、前記第7距離及び前記第8距離は、すべて同じである。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと前記第2仮想矩形の第2色サブ画素ブロックとは、同一のサブ画素に統合され、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第2色サブ画素ブロックとが、同一のサブ画素に統合される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第3色サブ画素ブロックと前記第2仮想矩形の第3色サブ画素ブロックとは、同一のサブ画素に統合され、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第3色サブ画素ブロックと前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第3色サブ画素ブロックとが、同一のサブ画素に統合される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、同一の前記最小重複領域において、前記第3仮想矩形の第1色サブ画素ブロックと前記第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックとは、サブ画素パターニング工程において同一の単色のパターン領域を共用し、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、前記第1最小重複領域における第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロックと前記第2最小重複領域における前記第2仮想矩形の第1色サブ画素ブロックとは、サブ画素パターニング工程において同一の単色パターン領域を共用する。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第3仮想矩形と前記第4仮想矩形における前記第1色サブ画素ブロックの所在位置に、第4色サブ画素が設置される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1色サブ画素ブロックは緑のサブ画素を含み、前記第4色サブ画素は黄のサブ画素を含む。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第3仮想矩形と前記第4仮想矩形における前記第1色サブ画素ブロックの所在位置に、第4色サブ画素が設置されており、前記第1仮想矩形と前記第4仮想矩形における前記第1色サブ画素ブロックの所在位置に、第5色サブ画素が設置される。
例えば、本開示の一実施例に係る画素配列構造において、前記第1色サブ画素ブロックは緑のサブ画素を含み、前記第5色サブ画素は白のサブ画素を含む。
本開示の少なくとも1つの実施例は、ベース基板と、前記ベース基板上に設置される複数の画素と、を含む表示基板であって、前記複数の画素には、前述のいずれかの画素配列構造が用いられる表示基板をさらに提供する。
例えば、本開示の一実施例に係る表示基板において、前記最小重複領域の各々は、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形をさらに含み、前記第1仮想矩形、前記第2仮想矩形、前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形が、一辺を共有するように2×2のマトリクスを形成して前記最小重複領域を構成しており、前記第2仮想矩形は、前記第1仮想矩形と前記第1辺を共有するとともに、前記第1仮想矩形に対して前記第1辺に関して鏡像対称になり、前記第1仮想矩形は、その対角線に沿って前記対角線の長さだけ並進すると前記第3仮想矩形と重なり、前記第3仮想矩形は、前記第1方向に延び前記第1辺と同一の直線上に位置する第3辺をさらに含んでおり、前記第4仮想矩形は、前記第3仮想矩形と前記第3辺を共有するとともに、前記第4仮想矩形に対して前記第3辺に関して鏡像対称になり、前記第1色サブ画素ブロックは、第1色画素電極と、前記第1色画素電極上に設置される第1色発光層とを含み、前記第2色サブ画素ブロックは、第2色画素電極と、前記第2色画素電極上に設置される第2色発光層とを含み、前記第3色サブ画素ブロックは、第3色画素電極と、前記第3色画素電極上に設置される第3色発光層とを含み、前記第1色画素電極は、前記第1色発光層を発光駆動するように配置され、前記第2色画素電極は、前記第2色発光層を発光駆動するように配置され、前記第3色画素電極は、前記第3色発光層を発光駆動するように配置される。
例えば、本開示の一実施例に係る表示基板において、同一の前記最小重複領域において、前記第3仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層と前記第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層とは、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成され、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、前記第1最小重複領域における第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層と前記第2最小重複領域における前記第2仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層とが、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成される。
例えば、本開示の一実施例に係る表示基板において、同一の前記最小重複領域において、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された前記第3仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層と前記第4仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層の面積が、前記第3仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積と前記第4仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積の和よりも大きく、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された前記第1最小重複領域の前記第1仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層と前記第2最小重複領域の前記第2仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層の面積が、前記第1最小重複領域の前記第1仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積と前記第2最小重複領域の前記第2仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積の和よりも大きい。
例えば、本開示の一実施例に係る表示基板において、同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極と前記第2仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極とは、同一の画素電極に統合され、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極と前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極とが、同一の画素電極に統合される。
例えば、本開示の一実施例に係る表示基板において、同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極と前記第2仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極とは、同一の画素電極に統合され、前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極と前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極とが、同一の画素電極に統合される。
例えば、本開示の一実施例に係る表示基板において、前記第1色サブ画素ブロックは第1色フィルタを含み、前記第2色サブ画素ブロックは第2色フィルタを含み、前記第3色サブ画素ブロックは第3色フィルタを含む。
本開示の少なくとも1つの実施例は、前述のいずれかの表示基板を含む表示装置をさらに提供する。
本開示の少なくとも1つの実施例は、請求項23に記載の表示基板を製造するように配置されるマスクプレート群であって、前記第1色画素ブロックを形成するための第1開口を有する第1マスクプレートと、前記第2色画素ブロックを形成するための第2開口を有する第2マスクプレートと、前記第3色画素ブロックを形成するための第3開口を有する第3マスクプレートと、を含み、前記第3仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層と、前記第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層とは、同一の前記第1開口により形成されるように配置されるマスクプレート群を提供する。
以下、本開示の実施例に係る技術手段をより明確に説明するために、実施例の図面について簡単に説明する。以下に説明する図面は、本発明のいくつかの実施例のみに関し、本発明を限定するものではないことが明白であろう。
本開示の一実施例に係る画素配列構造の模式図である。 本開示の一実施例に係る他の画素配列構造の模式図である。 本開示の一実施例に係る他の画素配列構造の模式図である。 本開示の一実施例に係る他の画素配列構造の模式図である。 本開示の一実施例に係る他の画素配列構造の模式図である。 本開示の一実施例に係る他の画素配列構造の模式図である。 本開示の一実施例に係る表示基板の構造模式図である。 本開示の一実施例に係る表示基板の一部を示す平面模式図である。 本開示の一実施例に係る表示基板の図8におけるA-A’方向に沿う断面模式図である。 本開示の一実施例に係る表示基板の図8におけるA-A’方向に沿う断面模式図である。 本開示の一実施例に係る第1マスクプレートの模式図である。 本開示の一実施例に係る第2マスクプレートの模式図である。 本開示の一実施例に係る第3マスクプレートの模式図である。
以下、本開示の実施例の目的、技術手段及び利点をより明確にするために、本開示の実施例の技術手段について、本開示の実施例の図面を参照しながら明確で完全に説明する。説明される実施例は、本開示の全ての実施例ではなく、単に一部の実施例であることが明白であろう。当業者には、開示された本発明の実施例に基づき、容易に成し遂げることができた他の実施例の全ては本発明の精神から逸脱しない。
特に定義しない限り、本開示に使用された技術用語または科学用語は、当業者に理解される一般的な意味である。本発明に係る特許出願の明細書及び特許請求の範囲に使用される「第1」、「第2」のような用語は順序、数量または重要性を示すものではなく、異なる構成要素を区別するものにすぎない。「備える」、「含む」および類似する用語は、挙げられた要素に加えて、他の要素が共存してもよいことを意味する。「接続」や「連結」などのような用語は物理的または機械的接続に限定されなく、直接的や間接的にかかわらず電気的接続を含む。
本発明者らが検討したことにより、高い解析度を有する表示装置を製造するために、画素のサイズ及び画素間の間隔を減少させる必要があるが、画素のサイズ及び画素間の間隔の減少には製造工程上の精度に対する要求が高くなって、表示装置の製造工程の難しさ及び製造コストが増加してしまうことが明らかとなった。例えば、高い解析度を有するアクティブマトリクス有機発光ダイオード(AMOLED)型表示装置を製造する際に、ファインメタルマスク(FMM)技術による工程精度が制限されるため、解析度が高い(例えば、300画素密度(PPI)よりも大きい)アクティブマトリクス有機発光ダイオード(AMOLED)型表示装置を製造するための製造工程が難しく、かつ製造コストが高い。
本開示の実施例は、画素配列構造、表示基板、表示装置及びマスクプレートを提供する。当該画素配列構造は、複数の最小重複領域に分布される複数の第1色サブ画素ブロック、複数の第2色サブ画素ブロッ、及び複数の第3色サブ画素ブロックを含む。最小重複領域の各々は、矩形形状に形成され第1仮想矩形を含む。1つの第1仮想矩形は、1つの第1色サブ画素ブロックと、1つの第2色サブ画素ブロックと、1つの第3色サブ画素ブロックとを含む。第1仮想矩形は、第1方向に延びる第1辺と、第2方向に延びる第2辺とを含んでおり、この第1辺の垂直二等分線の両側に、第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックが分布される。第2色サブ画素ブロック又は第3色サブ画素ブロックと、第1辺との間の距離は、いずれも第1色サブ画素ブロックと第1辺との間の距離よりも小さくなる。第1色サブ画素ブロックは、その中心が第1辺の垂直二等分線上に位置するとともに、該中心と第1辺との間の距離が第2辺の長さの1/2~3/4である。これにより、当該画素配列構造は、敏感な色のサブ画素の間隔を調整することで、敏感な色のサブ画素の分布均一性を改善させることができるので、当該画素配列構造の視覚上の解析度を向上させ、さらにその表示品質を向上させることができる。
以下、本開示の実施例に係る画素配列構造、表示基板、表示装置及びマスクプレートについて、図面と併せて説明する。
本開示の少なくとも1つの実施例は、画素配列構造を提供する。図1は、本開示の一実施例に係る画素配列構造の模式図である。当該画素配列構造は、複数の最小重複領域100に分布される複数の第1色サブ画素ブロック111、複数の第2色サブ画素ブロック112、及び複数の第3色サブ画素ブロック113を含む。図1は、1つの最小重複領域100を示す。最小重複領域100の各々は、図1に示されるように、第1仮想矩形110を含んでおり、1つの第1仮想矩形110は、1つの第1色サブ画素ブロック111と、1つの第2色サブ画素ブロック112と、1つの第3色サブ画素ブロック113とを含む。第1仮想矩形110は、第1方向に延びる第1辺1101と、第2方向に延びる第2辺1102とを含み、第1辺1101の垂直二等分線の両側に、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113が分布される。第2色サブ画素ブロック112又は第3色サブ画素ブロック113と第1辺1101との間の距離は、いずれも、第1色サブ画素ブロック111と第1辺1101との間の距離よりも小さくなる。第1色サブ画素ブロック111は、その中心が第1辺1101の垂直二等分線上に位置するとともに、該中心と第1辺1101との間の距離が第2辺1102の長さの1/2~3/4である。例えば、図1に示されるように、第2辺1102の長さをLとすると、第1色サブ画素ブロック111の中心と第1辺1101との間の距離は、(1/2~3/4)Lである。なお、上記第1仮想矩形は、、実際的な構造ではなく、第1色サブ画素ブロックの位置をよりよく説明するためのものである。また、上記第1仮想矩形は、その仮想矩形の範囲が第1仮想矩形における第1色サブ画素ブロック、第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックの発光領域よりも大きくなってもよい。上記した「中心」とは、サブ画素ブロック(例えば、第1色サブ画素ブロック、第2色サブ画素ブロック又は第3色サブ画素ブロック)の形状の幾何学的中心であり、上記した第2色サブ画素ブロック又は第3色サブ画素ブロックと第1辺との間の距離とは、第2色サブ画素ブロックの中心又は第3色サブ画素ブロックの中心と、第1辺との間の距離である。
本実施例に係る画素配列構造では、第1辺の垂直二等分線の両側に第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックが分布され、かつ、第1色サブ画素ブロックの中心が、第1辺の垂直二等分線上に位置し第1辺との間の距離が第2辺の長さの1/2~3/4であるため、隣接の2つの第1色サブ画素ブロックの中心距離が第2辺の長さの1/2より大きい。それにより、隣接の2つの第1色サブ画素ブロックは、互いに近接することにより区別の難しさが増大して、目で見ると視覚的に一体となることを回避できるので、それによる粒状性を回避することができる。これにより、当該画素配列構造は、第1色サブ画素ブロックの分布均一性を改善させることができるので、視覚的な解析度を向上させ、ひいては表示品質を向上させることができる。
例えば、幾つかの例示では、上記最小重複領域は、並進して重複的に配列されることにより、1つの完全の画素配列構造を形成可能である。なお、最小重複領域内には、並進して重複的に配列されるサブユニットが含まれていない。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロック111の中心は、第1辺1101の垂直二等分線上に位置するとともに、第1辺1101との間の距離が第2辺1102の長さの1/2~3/4である。
なお、画素配列構造を設計する際、サブ画素ブロック(例えば、第1色サブ画素ブロック、第2色サブ画素ブロック又は第3色サブ画素ブロック)は、通常、例えば六角形、五角形、台形又は他の規則的な形状に設計される。設計する際、サブ画素ブロックの中心は、上記規則的な形状の幾何学的中心であってもよい。しかし、実際の製造工程では、形成されたサブ画素ブロックの形状は、一般的に、上記設計された規則的な形状から多少ずれている。例えば、上記規則的な形状の各角が丸角になる可能性があるため、サブ画素ブロック(例えば、第1色サブ画素ブロック、第2色サブ画素ブロック又は第3色サブ画素ブロック)の形状は丸角パターンであってもよい。なお、実際に制造されたサブ画素ブロックの形状は、設計された形状に比して他の変化が生じる可能性がある。例えば、六角形に設計されたサブ画素ブロックの形状は、実際の制造において、略楕円形になる可能性がある。そのため、サブ画素ブロックの中心は、製造されたサブ画素ブロックの不規則的な形状の厳密的な幾何学的中心ではない場合がある。本開示の実施例では、サブ画素ブロックの中心は、サブ画素ブロックの形状の幾何学的中心から一定の偏移量が生じる。サブ画素ブロックの中心とは、サブ画素ブロックの幾何学的中心からサブ画素ブロックの縁辺の各点までの放射状の線分上の、当該幾何学的中心から当該放射状の線分の長さの1/3だけ離れて位置する特定な点によって囲まれる領域内の何れかの点である。当該サブ画素ブロックの中心の定義は、規則的な形状のサブ画素ブロック形状の中心に適用でき、不規則的な形状サブ画素ブロックの中心にも適用できる。
また、上記のように、様々な製造誤差により、実際に制造されたサブ画素ブロックの形状は、設計されたサブ画素ブロックの形状から多少ずれている可能性がある。そのため、本開示では、サブ画素ブロックの中心の位置、及びサブ画素ブロックの中心と他の対象の位置との間の関係について、一定の誤差があってもよい。例えば、サブ画素ブロックの中心の間を結ぶライン、又はサブ画素ブロックの中心を通過するラインは、対応の他の限定(例えば、延びる方向)を満たすと、上記放射状の線分上の特定な点によって囲まれた領域を通過すればよい。また、例えば、サブ画素ブロックの中心があるラインに位置することとは、このラインが上記放射状の線分の中心によって囲まれた領域を通過すれば良いことを意味する。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素113は、それぞれ独立して1つのサブ画素として表示してもよい。第1仮想矩形110における、第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113は、1つのカラー表示のための画素ユニットを構成可能である。もちろん、本開示の実施例は、これに限定されなく、第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素113が、それぞれ隣接の同色のサブ画素と併せて1つのサブ画素を構成して表示してもよい。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロックは、敏感な色のサブ画素である。人の目による色への敏感度が異なるため、隣接の敏感な色のサブ画素の距離が近いと、それらの距離が近いことにより、2つの隣接の敏感な色のサブ画素を区別しにくくなり、人の目で見る場合、視覚的に一体となることが発生しやすい。これにより、当該画素配列構造は、敏感な色のサブ画素の分布均一性を改善できるので、視覚的な解析度を向上でき、ひいては表示品質を向上することができる。なお、当該画素配列構造は、赤・緑・青(RGB)モードを採用する場合、上記敏感な色は緑である。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロックが緑のサブ画素で、第2色サブ画素ブロックが赤のサブ画素で、第3色サブ画素ブロックが青のサブ画素であり、または、第1色サブ画素ブロックが緑のサブ画素で、第2色サブ画素ブロックが青のサブ画素で、第3色サブ画素ブロックが赤のサブ画素である。もちろん、本開示の実施例はこれを含むがこれに限定されていない。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロック111の第1辺1101に近い縁辺と、第1辺1101との距離は、第2辺1102の長さの1/3~5/12である。そのため、隣接の2つの第1色サブ画素ブロックの、最も近い2つの縁辺の間の距離は、第2辺の長さの1/6よりも大きい。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロックの中心と第1辺との距離は、第2辺の長さの9/16~11/16である。これにより、第1色サブ画素ブロックの分布均一性をより一層向上することができるので、視覚的な解析度を向上でき、ひいては表示品質をより一層向上することができる。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロックの中心と第1辺との距離が第2辺長さの5/8である。これにより、第1色サブ画素ブロックの分布均一性をより一層向上することができるので、視覚的な解析度を向上でき、ひいては表示品質をより一層向上することができる。
例えば、幾つかの例示では、上記の仮想矩形は、正方形、すなわち、第1辺と第2辺の長さが同じであってもよい。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、各最小重複領域100は、第2仮想矩形120と、第3仮想矩形130と、第4仮想矩形140とをさらに含む。第1仮想矩形110、第2仮想矩形120、第3仮想矩形130及び第4仮想矩形140は、一辺を共有するように2×2のマトリクスを形成することにより、最小重複領域100を構成する。第2仮想矩形120は、第1仮想矩形と第1辺1101を共有し、かつ第1仮想矩形110に対して第1辺1101に関して鏡像対称になる。第1仮想矩形110は、その対角線に沿って1つの対角線の長さ分の距離で並進すると第3仮想矩形130に重なる。第3仮想矩形130は、第1方向に延びる第3辺1303を含んでおり、第4仮想矩形140は、第3仮想矩形130と第3辺1303を共有し、かつ第3仮想矩形130に対して第3辺1303に関して鏡像対称になる。なお、第1仮想矩形、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形は、密接に配列されて、矩形状をなす最小重複領域を形成する。なお、上記した重複とは、第3仮想矩形における3つのサブ画素ブロックと、第1仮想矩形の対角線に沿って1つの対角線の長さ分の距離で並進した第1仮想矩形における3つのサブ画素ブロックとは、形状も位置も同じである。ここで、重複とは、画素ブロックの重複のみを意味し、他の構造は同じであってもよく、同じでなくてもよい。また、上記した重複とは、大体の位置、形状や寸法がほぼ同じであればよく、配線または穴あけに応じて、例えば異なる位置に穴を開けることにより形状が少し異なる場合もある。また、本開示に記載された重なることとは、仮想矩形において、対応するサブ画素、サブ画素ブロックもしくは他の部品の、面積の少なくとも70%が重なり可能であればよく、本開示に記載された鏡像対称とは、鏡像の操作後、仮想矩形において、対応するサブ画素もしくはサブ画素ブロックの、面積の少なくとも70%が重なり可能であればよい。
本実施例に係る画素配列構造において、第2仮想矩形と第1仮想矩形とが鏡像対称になり、第3仮想矩形の構造と第1仮想矩形の対角線に沿って並進した第1仮想矩形の構造が同じであり、第4仮想矩形と第3仮想矩形とが鏡像対称になり、第3仮想矩形における第1色サブ画素ブロックの中心と第3辺との距離が第2辺の長さの1/2~3/4であり、第4仮想矩形における第1色サブ画素ブロックの中心と第3辺との距離が第2辺の長さの1/2~3/4であるため、第3仮想矩形における第1色サブ画素ブロックの中心と第4仮想矩形における第1色サブ画素ブロックの中心との距離が第2辺の長さの1/2よりも大きいので、隣接の第1色サブ画素ブロックの距離が近いことにより、隣接の2つの第1色サブ画素ブロックが区別しにくくなり、人の目で見る場合、視覚的に一体となることを回避でき、ひいてはそれによる粒状性を回避することができる。当該画素配列構造は、第1色サブ画素ブロックの分布均一性を改善できるので、視覚的な解析度を向上でき、ひいては表示品質を向上することができる。
また、図1に示されるように、第1仮想矩形における第1色サブ画素ブロックの中心と第1辺との距離が第2辺の長さの1/2~3/4であり、第4仮想矩形における第1色サブ画素ブロックの中心と第3辺との距離が第2辺の長さの1/2~3/4であり、第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロック及び第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの傾きが低いため、同一行に属する画素ユニット(例えば、第1仮想矩形及び第4仮想矩形)が共に直線を表示する場合に、第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロック及び第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの傾きが低いので、第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロック及び第4仮想矩形ユニットの第1色サブ画素ブロックの変動の範囲が小さく、それにより、変動の範囲が大きいことに起因して隣接の行で表示された直線と互いにかみ合うことで2本の直線が区別しにくくなり、人の目で見る場合、視覚的に一体となることを回避できる。これにより、当該画素配列構造は、視覚的な解析度を向上することができる。
また、当該画素配列構造は、第2仮想矩形と第1仮想矩形とが鏡像対称になり、第3仮想矩形の構造と第1仮想矩形の対角線に沿って並進した第1仮想矩形の構造が同じであり、第4仮想矩形と第3仮想矩形とが鏡像対称になるようにすることで、当該画素配列構造におけるサブ画素の分布均一度を向上でき、ひいては色線の形成を回避することができる。また、最小重複領域100において、同色のサブ画素に色が混ざることがなく、かつ第1仮想矩形110の第2色サブ画素ブロック112と第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112との距離が比較的に近いため、当該画素配列構造が有機発光表示装置に適用される場合、第1仮想矩形110の第2色サブ画素ブロック112の発光層と第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112の発光層が、同一のマスクプレートの穴によって形成可能である。同様に、当該画素配列構造が有機発光表示装置に適用される場合、第1仮想矩形110の第3色サブ画素ブロック113と第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113との距離が比較的に近いため、第1仮想矩形110の第3色サブ画素ブロック113の発光層と第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113の発光層も、同一のマスクプレートの穴によって形成可能である。
例えば、幾つかの例示では、第2仮想矩形120における第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113は、1つのカラー表示のための画素ユニットを構成でき、第3仮想矩形120における第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113は、1つのカラー表示のための画素ユニットを構成でき、第4仮想矩形120における第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113は、1つのカラー表示のための画素ユニットを構成できる。
本実施例に係る画素配列構造において、第1辺の垂直二等分線の両側に第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックが分布され、かつ第1色サブ画素ブロックの中心が、第1辺の垂直二等分線上に位置するとともに第1辺との距離が第2辺の長さの1/2~3/4であるため、隣接の2つの第1色サブ画素ブロック中心の間の距離が第2辺の長さの1/2よりも大きく、それにより、隣接の第1色サブ画素ブロックの距離が近いことに起因して隣接の2つの第1色サブ画素ブロックが区別しにくくなり、人の目で見る場合、視覚的に一体となることを回避でき、ひいてはそれによる粒状性を回避することができる。これにより、当該画素配列構造は、第1色サブ画素ブロックの分布均一性を改善できるので、視覚的な解析度を向上でき、ひいては表示品質を向上することができる。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、第1仮想矩形110内において、第2色サブ画素ブロック112と第3色サブ画素ブロック113がそれぞれ第1辺1101の両端に近づける。なお、上記した第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形と、第1仮想矩形との関係に応じて、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと第3色サブ画素ブロックとの位置関係も相応的に変化する。例えば、図1に示されるように、第4仮想矩形140において、第1色サブ画素ブロック111の中心と、第4仮想矩形140の上縁辺(第1仮想矩形110における第1辺1101に相当する)との距離は、第2辺の長さの1/2~3/4である。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、第1仮想矩形110内において、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の第1仮想矩形110の中心から離れる縁辺が第1辺上に位置することで、第1仮想矩形内の空間を最大限に利用することができる。なお、上記した第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形と、第1仮想矩形との関係に応じて、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと第3色サブ画素ブロックとの位置関係も相応的に変化する。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113間の最短距離は同じである。すなわち、第1色サブ画素ブロック111と第2色サブ画素ブロック112との間の最短距離、第1色サブ画素ブロック111と第3色サブ画素ブロック113との間の最短距離、及び第2色サブ画素ブロック112と第3色サブ画素ブロック113との間の最短距離が同じであるため、工程上の精度を最大限に利用できる。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、第2色サブ画素ブロック112の形状と第3色サブ画素ブロック113の形状が同じであり、第2色サブ画素ブロック112の形状と第3色サブ画素ブロック113の形状とが、第1色サブ画素ブロック111の形状の第1結び線121と第2結び線122によって構成される直角間に位置する対角線に関して対称になる。これにより、当該画素配列構造の対称性及び均一度をさらに向上でき、ひいては表示品質をさらに向上することができる。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、第1色サブ画素ブロック111の形状は、底角が直角である対称の五角形であって、第1辺1101の垂直二等分線に関して対称になり、かつ、底辺が、第1辺1101に平行しまたは第1辺1101上に位置するとともに第1辺1101に垂直な方向に頂点よりも第1辺1101から離れる五角形である。図1に示されるように、第1色サブ画素ブロック111の2つの斜辺は、それぞれ第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113に対向して設置される。従って、工程上の精度が一定である場合、すなわち、第1色サブ画素ブロック111と第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113との距離がそれぞれ一定である場合、第1色サブ画素ブロック111の面積が増加する。これにより、当該画素配列構造は、第1仮想矩形内の空間の利用率を向上できる。なお、上記した対向して設置されることとは、第1色サブ画素ブロック111の2つの斜辺がそれぞれ第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113に面することを意味する。
例えば、幾つかの例示では、図1に示されるように、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状はいずれも、底角が直角である対称の五角形であって、第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、底辺が、第1辺1101に平行しまたは第1辺1101上に位置するとともに第1辺1101に垂直な方向に頂点よりも第1辺1101に近い五角形である。図1に示されるように、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の第1色サブ画素ブロック111に近い斜辺は、それぞれ第1色サブ画素ブロック111に対向して設置される。従って、工程上の精度が一定である場合、すなわち、第1色サブ画素ブロック111と第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113との距離がそれぞれ一定である場合、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の面積が増加する。これにより、当該画素配列構造は、第1仮想矩形内の空間の利用率を向上することができる。
例えば、2つの第1色サブ画素ブロックの互いに隣接する縁辺間の距離は、12又は14ミクロン以上である。図1に示されるように、最小重複ユニット毎にある2つの第1色サブ画素ブロックは、例えば、第4仮想矩形140における1つの第1色サブ画素ブロックと第3仮想矩形130における1つの第1色サブ画素ブロックである。これらの2つの第1色サブ画素ブロックの互いに隣接する縁辺は、上方の第1色サブ画素ブロックの下側の縁辺と下方の第1色サブ画素ブロックの上側の縁辺である。これらの2つの第1色サブ画素ブロックの上記距離は、異なる解析度に応じて異なる数値に設定される。例えば、2つの第1色サブ画素ブロックの互いに隣接する縁辺の間の距離は、フルハイビジョンの解析度の四分の一である場合には12ミクロン以上であり、フルハイビジョンの解析度である場合には14ミクロン以上である。
図2は本開示の一実施例に係る別の画素配列構造の模式図である。図2に示されるように、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状はいずれも、直角台形であり、該直角台形の底辺が第1辺1101に垂直であり、該直角台形の直角辺と第1辺1101との距離が該直角台形の斜辺と第1辺1101との距離よりも小さい。図2に示されるように、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の斜辺は、それぞれ第1色サブ画素ブロック111に対向して設置される。従って、工程上の精度が一定である場合、すなわち、第1色サブ画素ブロック111と第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113との距離がそれぞれ一定である場合、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の面積が増加する。これにより、当該画素配列構造は、第1仮想矩形内の空間の利用率を向上することができる。そして、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状がいずれも直角台形であるため、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状がいずれも底角が直角である対称の五角形である場合に比べると、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の鋭角部190によって第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の面積をさらに増加させることができ、ひいては第1仮想矩形内の空間の利用率をさらに向上させる。
例えば、幾つかの例示では、図2に示されるように、第1色サブ画素ブロック111の形状は、底角が直角である対称の五角形であって、第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、かつ、底辺が、第1辺1101に平行するとともに第1辺に垂直な方向に頂点よりも第1辺から離れる五角形に形成されており、該五角形は、その頂点を通過する等長の第3斜辺193と第4斜辺194とを含み、第1色サブ画素ブロック111の第3斜辺193が、第2色サブ画素ブロック112の斜辺に対して平行に、第5距離である間隔で配置され、第1色サブ画素ブロック111の第4斜辺194が、第3色サブ画素ブロックの斜辺に対して平行に、第6距離である間隔で配置される。
例えば、幾つかの例示では、図2に示されるように、第1仮想矩形110及び第2仮想矩形120において、第3色サブ画素ブロック113は、第2色サブ画素ブロック112よりも最小重複領域100の中心に近くなり、第3仮想矩形130及び第4仮想矩形140において、第2色サブ画素ブロック112は、第3色サブ画素ブロック113よりも最小重複領域100の中心に近くなり、第1仮想矩形110における第3色サブ画素ブロック113と第4仮想矩形140における第2色サブ画素ブロック120とが隣接し、第2仮想矩形120における第3色サブ画素ブロック113と第3仮想矩形130における第2色サブ画素ブロック112とが隣接し、第1仮想矩形110における第3色サブ画素ブロック113の鋭角部190と第4仮想矩形140における第2色サブ画素ブロック112の鋭角部190との間隔が第7距離であり、第2仮想矩形120における第3色サブ画素ブロック113の鋭角部190と第3仮想矩形130における第2色サブ画素ブロック112の鋭角部との間隔が第8距離である。
例えば、幾つかの例示では、図2に示されるように、第5距離、第6距離、第7距離及び第8距離がすべて同じである。
例えば、図2のように、隣接する第3色サブ画素ブロックと第1色サブ画素ブロックとの間の距離と、隣接する第3色サブ画素と第2色サブ画素との間の距離は、同じであって、両方ともdである。幾つかの例示では、互いに隣接する第1色サブ画素ブロックと第2色サブ画素ブロックとの間の距離も、上記距離dに等しい。
例えば、幾つかの例示では、図2に示されるように、第2色サブ画素ブロックと第3色サブ画素ブロックとは、非対称形状であってもよく、例えば、その中心を通過した第2方向に沿う直線に対しては非対称である。
図3は、本開示の一実施例に係る別の画素配列構造の模式図である。図3に示されるように、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状はいずれも、底角が直角である五角形であって、底辺が、第1辺1101に垂直でありまたは第1辺1101上に位置するとともに第1辺1101に垂直な方向に頂点よりも第1辺1101に近い五角形に形成されており、該五角形は、その頂点を通過した第1斜辺191と第2斜辺192とを含み、第1斜辺191が、第1色サブ画素ブロック111に対向して設置され第2斜辺192よりも長さが大きくなる。例えば、第2色サブ画素ブロック112の第1斜辺191が、第1色サブ画素ブロック111に対向して設置され、第3色サブ画素ブロック113の第1斜辺191が、第1色サブ画素ブロック111に対向して設置されることで、工程上の精度が一定である場合、すなわち、第1色サブ画素ブロック111と第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113との距離がそれぞれ一定である場合、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の面積が増加する。そこで、第1仮想矩形内の空間の利用率が向上する。そして、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状がいずれも底角が直角である五角形であるため、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状がいずれも底角が直角である対称の五角形である場合に比べると、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の第2斜辺192が所在する領域によって第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の面積をさらに増加させる。そこで、第1仮想矩形内の空間の利用率がさらに向上する。そして、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の形状がいずれも直角台形である場合に比べると、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113の第2斜辺192によって製造上の難しさを低減させており、工程レベルが低い場合には、第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックの形状について底角が直角である五角形が採用できる。
例えば、幾つかの例示では、図3に示されるように、第1色サブ画素ブロック111の形状は、底角が直角である対称の五角形であって、第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、底辺が、第1辺に平行しまたは第1辺上に位置するとともに第1辺に垂直な方向に頂点よりも第1辺から離れる五角形に形成されており、該五角形は、その頂点を通過した等長の第3斜辺193と第4斜辺194とを含み、第1色サブ画素ブロック111の第3斜辺193が、第2色サブ画素ブロック112の第1斜辺191に対して平行に、第1距離である間隔で配置され、第1色サブ画素ブロック111の第4斜辺194が、第3色サブ画素ブロック113の第1斜辺191に対して平行に、第2距離である間隔で配置される。なお、上記した平行には、ほぼ平行の場合が含まれており、上記距離とは、最小距離、あるいは、2つのサブ画素の中心を結び線において当該結び線と2つのサブ画素の辺との交差点間の距離である。
例えば、幾つかの例示では、図3に示されるように、第1仮想矩形110及び第2仮想矩形120において、第3色サブ画素ブロック113は、第2色サブ画素ブロック112よりも最小重複領域100の中心に近くなり、第3仮想矩形130及び第4仮想矩形140において、第2色サブ画素ブロック112は、第3色サブ画素ブロック113よりも最小重複領域100の中心に近くなり、第1仮想矩形110における第3色サブ画素ブロック112と第4仮想矩形140における第2色サブ画素ブロック112とが隣接し、第2仮想矩形120における第3色サブ画素ブロック112と第3仮想矩形130における第2色サブ画素ブロック112とが隣接し、第1仮想矩形110における第3色サブ画素ブロック112の第2斜辺192が、第4仮想矩形140における第2色サブ画素ブロック112の第2斜辺192に対して平行に、第3距離である間隔で配置され、第2仮想矩形120における第3色サブ画素ブロック113の第2斜辺192が、第3仮想矩形130における第2色サブ画素ブロック112の第2斜辺192に対して平行に、第4距離である間隔で配置される。
例えば、幾つかの例示では、上記の第1距離、第2距離、第3距離及び第4距離がすべて同じであるため、工程精度の利用率を向上することができる。
図4は、本開示の一実施例に係る別の画素配列構造の模式図である。図4は、2つの最小重複領域100を示す。図4に示されるように、同一の最小重複領域100において、第1仮想矩形110の第2色サブ画素ブロック112と第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112とは、同一のサブ画素に統合されており、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002が含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第2色サブ画素ブロック112と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第2色サブ画素ブロック112が同一のサブ画素に統合される。これにより、同一サブ画素に統合される第2色サブ画素ブロックにより、第2色サブ画素ブロックの製造工程上の難しさを低減することができる。また、当該画素配列構造を表示パネルに適用する場合、サブピクセルレンダリング(Sup-Pixel Rendering、SPR)とのアルゴリズムにより駆動可能であるので、仮想表示を実現する。
なお、上記のように同一のサブ画素に統合される同一の最小重複領域における第1仮想矩形の第2色サブ画素ブロック及び第2仮想矩形の第2色サブ画素ブロック、また、同一のサブ画素に統合される第1最小重複領域の第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロック及び第2最小重複領域の第3仮想矩形の第2色サブ画素ブロックは、同一のサブ画素として発光駆動される。すなわち、上記のように同一のサブ画素に統合される、異なる仮想矩形内に位置する第2色サブ画素ブロックは、1つのサブ画素の一部に過ぎず、この場合、この集積されたサブ画素の中心が、第1辺または第2方向に隣接する2つの最小重複領域の共有の辺に位置する。
例えば、幾つかの例示では、図4に示されるように、同一の最小重複領域100において、第1仮想矩形110の第3色サブ画素ブロック113と第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113は同一のサブ画素に統合されており、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002が含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第3色サブ画素ブロック113と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第3色サブ画素ブロック113が、同一のサブ画素に統合される。これにより、同一のサブ画素に統合される第3色サブ画素ブロックにより、第3色サブ画素ブロックの製造工程上の難しさを低減することができる。また、当該画素配列構造を表示パネルに適用する場合、サブピクセルレンダリング(Sup-Pixel Rendering、SPR)とのアルゴリズムにより駆動可能であるので、仮想表示を実現する。
なお、上記のように同一のサブ画素に統合される同一の最小重複領域における第1仮想矩形の第3色サブ画素ブロック及び第2仮想矩形の第3色サブ画素ブロック、また、同一のサブ画素に統合される第1最小重複領域の第4仮想矩形の第3色サブ画素ブロック及び第2最小重複領域の第3仮想矩形の第3色サブ画素ブロックは、同一のサブ画素として発光駆動される。すなわち、上記のように同一のサブ画素に統合される、異なる仮想矩形内に位置する第3色サブ画素ブロックは、1つのサブ画素の一部に過ぎず、この場合、この集積されたサブ画素の中心が、第1辺または第2方向に隣接する2つの最小重複領域の共有の辺に位置する。
また、同一の最小重複領域100において、第1仮想矩形110の第2色サブ画素ブロック112と第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112は、同一のサブ画素に統合されなくてもよく、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002が含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第2色サブ画素ブロック112と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第2色サブ画素ブロック112が同一のサブ画素に統合されなくてもよい。このとき、第1仮想矩形110の第2色サブ画素ブロック112と第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112は、2つの第2色サブ画素ブロックとしてそれぞれ駆動発光されるとともに、サブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用できる。第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第2色サブ画素ブロック112と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第2色サブ画素ブロック112は、2つの第2色サブ画素ブロックとしてそれぞれ駆動発光されるとともに、サブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用できる。
また、同一の最小重複領域100において、第1仮想矩形110の第3色サブ画素ブロック113と第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113は、同一のサブ画素に統合されなくてもよく、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002とが含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第3色サブ画素ブロック113と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第3色サブ画素ブロック113が、同一のサブ画素に統合されなくてもよい。このとき、第1仮想矩形110の第3色サブ画素ブロック113と第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113は、2つの第2色サブ画素ブロックとしてそれぞれ駆動発光されるとともに、サブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用できる。第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第3色サブ画素ブロック113と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第3色サブ画素ブロック113は、2つの第2色サブ画素ブロックとしてそれぞれ駆動発光されるとともに、サブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用できる。例えば、幾つかの例示では、図4に示されるように、同一最小重複領域100において、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111と第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111は、サブ画素パターニング工程で同一の単色のパターン領域を共用する。例えば、当該画素配列構造を有機発光表示装置に適用する場合、サブ画素パターニング工程は、蒸着工程を含んでおり、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の発光層と第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の発光層とは、同一のマスクプレートの穴によって形成可能である。もちろん、上記サブ画素パターニング工程は、蒸着工程を含むがそれに限定されていなく、プリント、カラーフィルタパターニング工程などを含んでもよい。従って、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111と第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111は、プリント、カラーフィルタパターニング工程などのサブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用する。
例えば、幾つかの例示では、図4に示されるように、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の有機発光層と、第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の有機発光層とは、ファインメタルマスクプレートにおける同一の穴によって蒸着が行われる。
例えば、幾つかの例示では、図4に示されるように、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002とが含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111は、サブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用する。例えば、当該画素配列構造を有機発光表示装置に適用する場合、サブ画素パターニング工程は蒸着工程を含んでおり、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の発光層と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の発光層とは、同一のマスクプレートの穴によって形成され、すなわち、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111とは、同一のマスクプレートの穴によって形成される発光層を含む。もちろん、上記サブ画素パターニング工程は、蒸着工程を含むがそれに限定されていなく、プリント、カラーフィルタパターニング工程などを含んでもよい。従って、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111とは、プリント、カラーフィルタパターニング工程などのサブ画素パターニング工程において、同一の単色のパターン領域を共用する。これにより、同一のサブ画素に統合される第3色サブ画素ブロックにより、第3色サブ画素ブロックの製造工程上の難しさを低減することができる。
例えば、幾つかの例示では、図4に示されるように、同一の最小重複領域100において、第1仮想矩形110における第2色サブ画素ブロック112の中心と第3色サブ画素ブロック113の中心との間の距離を第1辺の長さの5/9~7/9とすることで、第1仮想矩形110及び第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113と、第1方向に隣接する最小重複領域の第1仮想矩形110及び第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112との間の距離を十分に大きく保持することができ、それにより、同一の最小重複領域100における第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111と第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111が同一のマスクプレートの穴によって形成され、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111が同一のマスクプレートの穴によって形成されることで、工程上の難しさが低減される。
また、図4の各仮想矩形と最小重複領域との関係から見ると、最小重複領域の第1方向のピッチが仮想矩形の辺の長さの約2倍であり、すなわち、最小重複領域の第1方向のピッチが約2Lである。図4に示されるように、第1仮想矩形110における第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックと、第2仮想矩形120における第2色サブ画素ブロック及び第3色サブ画素ブロックとは、1つの第2色サブ画素及び1つの第3色サブ画素に統合され、第3仮想矩形130における1つの第1サブ色画素ブロック及び第4仮想矩形140における1つの第1色サブ画素ブロックと共に、1つの重複ユニットを形成できる。すなわち、重複ユニットの第1方向のサイズ、または重複ユニットの第1方向のピッチは、仮想矩形の第1方向の辺の長さの2倍である。仮想矩形が正方形であれば、最小重複ユニットの第1方向のピッチが約2Lである。
図4から分かるように、第2色サブ画素と第3色サブ画素とは、長尺状、すなわち、第2方向に延びる長尺状である。また、第2色サブ画素と第3色サブ画素ブロックとは、楕円形であってもよい。第2色サブ画素は、第1方向の中心に沿って2つの部分(これらの2つの部分は、例えば、第1仮想矩形110に位置する第2色サブ画素ブロックと第2仮想矩形に位置する第2色サブ画素ブロックである)に分けられると、2つの第2色サブ画素ブロックの中心間の距離が0.3Lよりも小さい。また、第2色サブ画素の第2方向に沿うサイズは、0.6Lよりも小さい。
第2色サブ画素及び第3色サブ画素について、前記第2方向におけるサイズと前記第1方向に沿うサイズとの比率がγであり、かつγ>1になる。すなわち、第2色サブ画素及び第3色サブ画素は、第2方向に延びる長尺状である。
例えば、第2色サブ画素が赤のサブ画素であり、第3色サブ画素が青のサブ画素である。赤のサブ画素は、通常、青のサブ画素よりも寿命が長いため、赤のサブ画素の面積を青のサブ画素の面積よりも小さくしてもよいが、赤のサブ画素の、第1方向に沿うサイズと第2方向に沿うサイズとの比率が小さ過ぎてはならなく、小さ過ぎると、横方向及び縦方向の差異に影響して目立ってしまう虞がある。
図5は、本開示の一実施例に係る画素配列構造である。図5に示されるように、第3仮想矩形130及び第4仮想矩形140における第1色サブ画素ブロック111の位置は、第4色サブ画素114に設置される。
例えば、第1色サブ画素ブロック111は緑のサブ画素を含み、第4色サブ画素114は黄のサブ画素を含む。これにより、当該画素配列構造は、赤・緑・青・黄(RGBY)の4色モードを採用可能なので、その表示品質がさらに向上する。
図6は、本開示の一実施例に係る画素配列構造である。図6に示されるように、第1仮想矩形110及び第4仮想矩形140における第1色サブ画素ブロック111の位置は、第5色サブ画素115に設置される。
例えば、第1色サブ画素ブロック110は緑のサブ画素を含み、第5色サブ画素115は白いサブ画素を含む。これにより、当該画素配列構造は、赤・緑・青・白(RGBW)モードを採用可能なので、その亮度を有効的に向上させ、エネルギーに対する利用効率を向上させることができる。
本開示の一実施例は、表示基板をさらに提供する。図7は、本開示の一実施例に係る表示基板である。図7に示されるように、当該表示基板は、ベース基板101と、ベース基板101に設置される複数の画素200とを含む。複数の画素200は、上記実施例のいずれかに係る画素配列構造を採用できる。当該表示基板は、上記実施例のいずれかに係る画素配列構造を採用できるため、当該表示基板は、それに含まれる画素配列構造の有益な效果を有し、例えば、当該表示基板は、第1色サブ画素ブロックの分布均一性を改善でき、それにより視覚的な解析度を向上させ、ひいては表示品質を向上させることができる。
図8は、本開示の一実施例に係る他の表示基板の一部を示す平面模式図である。図9は、本開示の一実施例に係る表示基板の図8におけるA-A’方向に沿う断面模式図である。図8に示されるように、第1色サブ画素ブロック111は、第1色画素電極1110と、第1色画素電極1110に設置される第1色発光層1111とを含み、第2色サブ画素ブロック112は、第2色画素電極1120と、第2色画素電極1120に設置される第2色発光層1121とを含む、第3色サブ画素ブロック113は、第3色画素電極1130と第3色画素電極1130に設置される第3色発光層1131とを含む。これにより、当該表示基板がアレイ基板になりうる。
例えば、幾つかの例示では、第1色画素電極1110は、第1色発光層1111を発光駆動するように配置される。
例えば、第1色画素電極1110の形状は、第1色サブ画素ブロック111の形状と同じであってもよい。もちろん、本開示の実施例はこれを含むがこれに限定されていなく、第1色画素電極1110の形状は、第1色サブ画素ブロック111の形状と異なってもよく、第1色サブ画素ブロック111の形状は、画素拘束層によって拘束されてもよい。
なお、上記した第1色サブ画素ブロックの形状は、第1色サブ画素ブロックの発光領域の形状である。また、第1色発光層の具体的な形状は、製作工程によって設置され、本開示の実施例には限定されていない。例えば、第1色発光層の形状は、製作工程におけるマスクプレートの穴の形状によって決定される。
例えば、第1色画素電極1110は、第1色発光層1111と互いに接触してもよく、それにより、互いに接触する部分が発光層を発光駆動可能であり、第1色画素電極1110の、第1色発光層1111と互いに接触可能な部分が、サブ画素の発光可能な有效部分である。そのため、上記した第1色サブ画素ブロックの形状は、第1色サブ画素ブロックの発光領域の形状である。本開示の実施例において、第1色画素電極1110が陽極でありうるが、これに限定されていなく、画素電極として発光ダイオードの陰極を使用してもよい。
例えば、幾つかの例示では、第2色画素電極1120は、第2色発光層1121を発光駆動するように配置される。
例えば、第2色画素電極1120の形状は、第2色サブ画素ブロック112の形状と同じでありうる。もちろん、本開示の実施例はこれを含むがこれに限定されていなく、第2色画素電極1120の形状が第1色サブ画素ブロック112の形状と異なってもよく、第2色サブ画素ブロック112の形状が画素拘束層によって拘束されてもよい。
なお、上記した第2色サブ画素ブロックの形状は、第2色サブ画素ブロックの発光領域の形状である。また、第2色発光層の具体的な形状は、製作工程に応じて設置され、本開示の実施例には限定されていない。例えば、第2色発光層の形状は、製作工程におけるマスクプレートの穴の形状に応じて決定される。
例えば、第2色画素電極1120が第2色発光層1121と互いに接触してもよく、それにより、互いに接触する部分が発光層を発光駆動可能であり、第2色画素電極1120の、第2色発光層1121と互いに接触可能な部分が、サブ画素の発光可能な有效部分である。そのため、上記の第2色サブ画素ブロックの形状は、第2色サブ画素ブロックの発光領域の形状である。本開示の実施例において、第2色画素電極1120が陽極でありうるが、これに限定されていなく、画素電極として発光ダイオードの陰極を使用してもよい。例えば、幾つかの例示では、第3色画素電極1130の形状は、第3色発光層1131を発光駆動するように配置される。
例えば、第3色画素電極1130の形状は、第3色サブ画素ブロック113の形状と同じでありうる。もちろん、本開示の実施例これを含むがこれに限定されていなく、第3色画素電極1130の形状が第3色サブ画素ブロック113の形状と異なってもよく、第3色サブ画素ブロック113の形状が画素拘束層によって拘束されてもよい。
なお、上記した第3色サブ画素ブロックの形状は、第3色サブ画素ブロックの発光領域の形状である。また、第3色発光層の具体的な形状は、製作工程に応じて設置され、本開示の実施例には限定されていない。例えば、第3色発光層の形状は、製作工程におけるマスクプレートの穴の形状に応じて決定される。
例えば、第3色画素電極1130が第3色発光層1131と互いに接触してもよく、それにより、互いに接触する部分が発光層を発光駆動可能であり、第3色画素電極1130の、第3色発光層1131と互いに接触可能な部分が、サブ画素の発光可能な有效部分である。そのため、上記の第3色サブ画素ブロックの形状は、第3色サブ画素ブロックの発光領域の形状である。本開示の実施例において、第3色画素電極1130が陽極でありうるが、これに限定されていなく、画素電極として発光ダイオードの陰極を使用してもよい。
なお、各サブ画素については、画素電極の面積が発光層の面積よりもやや大きくてもよく、あるいは、発光層の面積が画素電極の面積よりもやや大きくてもよく、本開示の実施例には特に限定されていない。例えば、ここでの発光層は、電界発光層本体及び電界発光層の両側に位置する、例えば正孔注入層、正孔輸送層、電子注入層及び電子輸送層などの他の機能層を含んでもよい。幾つの実施例では、サブ画素の形状は、画素拘束層によって定義されてもよい。例えば、発光ダイオードの下電極(例えば、陽極)は、画素拘束層の下方に設置されてもとく、画素拘束層がサブ画素を拘束するための開口を含み、当該開口が電極の一部を露出させており、発光層が上記画素拘束層における開口に形成される場合、発光層と下電極とが接触して、この接触する部分で発光層を発光駆動することができる。そのため、この場合、サブ画素の形状は、画素拘束層の開口によって決められる。
例えば、本開示の実施例に記載された各種のサブ画素の形状については、いずれも大体の形状であり、発光層または各種の電極層を形成する時、サブ画素の辺縁が厳密的に直線でかつ角が厳密的に角状であることが保証できない。例えば、発光層は、マスク用蒸着工程によって形成可能であるので、その角部が丸角状であってもよい。幾つかの場合には、メタルエッチングにおいて抜き角があるため、蒸着工程によってサブ画素の発光層を形成する時、その発光層の1つの角が除去される可能性がある。
例えば、幾つかの例示では、図8及び図9に示されるように、同一の前記最小重複領域100において、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111及び第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111とは、同一色の単色のパターン領域を共用することにより形成でき、例えば、同一マスクプレートの穴によって形成される。
例えば、幾つかの例示では、同一の単色のパターン領域を共有することにより形成された、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111、及び第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111の面積が、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110の面積と第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110の面積の和よりも大きい。
例えば、幾つかの例示では、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の中心と、第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の中心との間の距離が、第2辺1102の長さの1/2よりも大きいため、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111、及び第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111の面積が、第3仮想矩形130の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110と第4仮想矩形140の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110の面積の和の1.5倍よりも大きい。
例えば、幾つかの例示では、図8及び図9に示されるように、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002とが含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111及び第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111とは、同一色の単色のパターン領域を共用することにより形成され、例えば、同一マスクプレートの穴によって形成される。
例えば、幾つかの例示では、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111及び第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111の面積が、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110の面積の和よりも大きい。
例えば、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の中心と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の中心との間の距離が、第2辺1102の長さの1/2よりも大きいため、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された、第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111及び第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の第1色発光層1111の面積が、第1最小重複領域1001の第1仮想矩形110の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110と第2最小重複領域1002の第2仮想矩形120の第1色サブ画素ブロック111の第1色画素電極1110の面積の和の1.5倍よりも大きい。
例えば、幾つかの例示では、第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113は、それぞれ独立して1つのサブ画素として表示し、仮想矩形毎における第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113が1つのカラー表示のための画素ユニットを構成可能である。もちろん、本開示の実施例はこれを含むがこれに限定されていなく、第1色サブ画素ブロック111、第2色サブ画素ブロック112及び第3色サブ画素ブロック113はそれぞれ、異なる仮想矩形に位置する隣接の同色サブ画素ブロックと併せて、例えば隣接の仮想矩形の共有する辺にて1つのサブ画素に統合されて表示してもよい。例えば、第1辺1101が当該統合されたサブ画素を通過し、かつ、当該統合されたサブ画素が第1辺1101に関して対称になる。例えば、幾つかの例示では、図8及び図9に示されるように、同一の最小重複領域100において、第1仮想矩形110の第2色サブ画素ブロック112の第2色画素電極1120と第2仮想矩形120の第2色サブ画素ブロック112の第2色画素電極1120は、同一の画素電極に統合されることで、1つの画素電極としてデータ信号を印加されて同一諧調を表示する。例えば、幾つかの例示では、図8及び図9に示されるように、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002とが含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第2色サブ画素ブロック112の第2色画素電極1120と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第2色サブ画素ブロック112の第2色画素電極1120は、同一の画素電極に統合されることで、1つの画素電極としてデータ信号を印加されて同一諧調を表示する。
例えば、幾つかの例示では、図8及び図9に示されるように、同一の最小重複区100において、第1仮想矩形110の第3色サブ画素ブロック113の第3色画素電極1130と第2仮想矩形120の第3色サブ画素ブロック113の第3色画素電極1130は、同一の画素電極に統合されることで、1つの画素電極としてデータ信号を印加されて同一諧調を表示する。
例えば、幾つかの例示では、図8及び図9に示されるように、第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域1001と第2最小重複領域1002とが含まれた、第2方向に隣接する2つの最小重複領域100において、第1最小重複領域1001の第4仮想矩形140の第3色サブ画素ブロック113の第3色画素電極1130と第2最小重複領域1002の第3仮想矩形130の第3色サブ画素ブロック113の第3色画素電極1130は、同一のサブ画素に統合されることで、1つの画素電極としてデータ信号を印加される。
図10は、本開示の一実施例に係る他の表示基板の図8におけるA-A’方向に沿う断面模式図である。図9に示されるように、第1色サブ画素ブロック111は第1色フィルタ1112を含み、第2色サブ画素ブロック112は第2色フィルタ1122を含み、第3色サブ画素ブロック113は第3色フィルタ1132を含む。これにより、当該表示基板がカラーフィルム基板になりうる。なお、当該表示基板がカラーフィルム基板である場合、液晶表示パネルに適用でき、カラーフィルムモードと併せて白色光のOLEDを採用した表示パネルにも適用できる。
例えば、幾つかの例示では、図10に示されるように、当該表示基板は、第1色フィルタ1112、第2色フィルタ1122及び第3色フィルタ1132の間に設置される黒のマトリクス400をさらに含む。
本開示の一実施例は、表示装置をさらに提供する。当該表示装置は、上記実施例に係る表示基板のいずれかを含む。そのため、当該表示装置の解析度を向上させることができ、ひいてはリアルな高解析度を有した表示装置を提供することができる。また、当該画素配列構造の対称性がより良いため、当該表示装置の表示效果がより良くなる。
例えば、幾つかの例示では、当該表示装置は、スマホ、タブレット、テレビ、ディスプレイ、ノートパソコン、デジタルフォトフレーム、ナビゲーションなどの任意の表示功能を有する製品または部品であってもよい。
本開示の一実施例は、マスクプレート群をさらに提供する。当該マスクプレート群は、上記実施例に係る画素配列構造のいずれかを形成することに用いられる。
例えば、マスクプレート群は、第1色サブ画素ブロックを形成するための第1マスクプレートと、第2色サブ画素ブロックを形成するための第2マスクプレートと、第3色サブ画素ブロックを形成するための第3マスクプレートとを含んでもよく、すなわち、当該マスクプレートが蒸着マスクプレートである。
例えば、蒸着工程において第1色サブ画素ブロックの発光層を形成するように第1マスクプレート上に第1穴を設置してもよく、蒸着工程において第2色サブ画素ブロックの発光層を形成するように第2マスクプレート上に第2穴を設置してもよく、蒸着工程において第3色サブ画素ブロックの発光層を形成するように第3マスクプレート上に第3穴を設置してもよい。
図11Aは、本開示の一実施例に係る第1マスクプレートの模式図であり、図11Bは、本開示の一実施例に係る第2マスクプレートの模式図であり、図11Cは、本開示の一実施例に係る第3マスクプレートの模式図である。図11A~11Cに示されるように、マスクプレート群は、第1開口515を含む、第1色サブ画素ブロックを形成するための第1マスクプレート510と、第2開口525を含む、第2色サブ画素ブロックを形成するための第2マスクプレート520と、第3開口535を含む、第3色サブ画素ブロックを形成するための第3マスクプレート530とを含む。第3仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層と第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層は、同一の第1開口515によって形成されるように配置されるので、製造の難しさを低減し、工程の簡単化を実現することができる。
例えば、幾つかの例示では、第1仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと第2仮想矩形の第2色サブ画素ブロックは、同一の第2開口525によって形成可能であり、第1仮想矩形の第3色サブ画素ブロックと第2仮想矩形の第3色サブ画素ブロックは、同一の第3開口535によって形成可能である。
なお、
(1)本発明の実施例の図面は、本発明の実施例に関する構造だけが示され、ほかの構造については通常の設計を参照すればよい。
(2)矛盾がない限り、本発明の同一実施例及び異なる実施例における特徴を互いに組み合わせることができる。
以上は、本発明の実施形態の例示に過ぎず、本発明の保護範囲はそれに限定されず、当業者が、本発明に開示された技術範囲を逸脱することなく、容易に想到し得る変更や置換はすべて本発明の保護範囲に属する。従って、本発明の保護範囲は、特許請求の範囲による保護範囲を基準とする。

Claims (22)

  1. 複数の最小重複領域に分布される複数の第1色サブ画素ブロック、複数の第2色サブ画素ブロック及び複数の第3色サブ画素ブロックを含む画素配列構造であって、
    前記最小重複領域の各々は、矩形形状に形成されかつ第1仮想矩形を含み、1つの前記第1仮想矩形が1つの第1色サブ画素ブロックと、1つの第2色サブ画素ブロックと、1つの第3色サブ画素ブロックとを含んでおり、
    前記第1仮想矩形は、第1方向に延びる第1辺、及び第2方向に延びる第2辺を含み、前記第1辺の垂直二等分線の両側に前記第2色サブ画素ブロック及び前記第3色サブ画素ブロックが分布され、前記第2色サブ画素ブロック又は前記第3色サブ画素ブロックと、前記第1辺との間の距離がいずれも前記第1色サブ画素ブロックと前記第1辺との間の距離よりも小さく、前記第1色サブ画素ブロックの中心が前記第1辺の垂直二等分線上に位置しかつ前記第1辺との間の距離が前記第2辺の長さのほぼ1/2~3/4であり、
    前記最小重複領域の各々は、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形をさらに含み、前記第1仮想矩形、前記第2仮想矩形、前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形が一辺を共有するように2×2のマトリクスを形成して前記最小重複領域を構成しており、
    前記第2仮想矩形は、前記第1仮想矩形と前記第1辺を共有するとともに、前記第1仮想矩形に対して前記第1辺に関して鏡像対称になり、
    前記第1仮想矩形は、その対角線に沿って前記対角線の長さだけ並進すると前記第3仮想矩形と重なり、
    前記第3仮想矩形は、前記第1方向に延びかつ前記第1辺と同一の直線上に位置する第3辺をさらに含んでおり、
    前記第4仮想矩形は、前記第3仮想矩形と前記第3辺を共有するとともに、前記第3仮想矩形に対して前記第3辺に関して鏡像対称になり、
    前記第2色サブ画素ブロックと前記第3色サブ画素ブロックとの両方の形状は、底角が直角である五角形であって、底辺が前記第1辺に平行し又は前記第1辺に位置し、かつこの底辺が前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも前記第1辺に近くなるとともに、頂点を通過する第1斜辺及び第2斜辺を含む五角形になっており、
    前記第1斜辺は、同じ仮想矩形内に位置する前記第1色サブ画素ブロックに対向して設置され、前記第2斜辺よりも長さが大きい、
    画素配列構造。
  2. 前記第2色サブ画素ブロックと前記第3色サブ画素ブロックとは、それぞれ前記第1辺の両端の近くにあり、かつ前記第1仮想矩形の中心から離れる縁辺が前記第1辺に位置する、
    請求項1に記載の画素配列構造。
  3. 前記第1色サブ画素ブロックは緑のサブ画素であり、
    前記第2色サブ画素ブロックは赤のサブ画素であり、
    前記第3色サブ画素ブロックは青のサブ画素である、
    請求項1または2に記載の画素配列構造。
  4. 前記第1色サブ画素ブロックの形状は、底角が直角である対称の五角形であって、前記第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも底辺が前記第1辺から離れる五角形になる、
    請求項1ないし3のいずれか一項に記載の画素配列構造。
  5. 第1色サブ画素ブロックの形状は、底角が直角である対称の五角形であって、前記第1辺の垂直二等分線に関して対称になり、底辺が前記第1辺に平行し又は前記第1辺に位置しかつ前記第1辺に垂直な方向において頂点よりも前記第1辺から離れるとともに、頂点を通過する等長の第3斜辺及び第4斜辺を含む五角形になっており、
    前記第1色サブ画素ブロックの第3斜辺は、同じ仮想矩形内に位置する前記第2色サブ画素ブロックの第1斜辺に対して平行に、第1距離である間隔で配置され、
    前記第1色サブ画素ブロックの第4斜辺は、同じ仮想矩形内に位置する前記第3色サブ画素ブロックの第1斜辺に対して平行に、第2距離である間隔で配置される、
    請求項に記載の画素配列構造。
  6. 前記第1仮想矩形及び前記第2仮想矩形において、前記第3色サブ画素ブロックが前記第2色サブ画素ブロックよりも前記最小重複領域の中心に近く、
    前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形において、前記第2色サブ画素ブロックが前記第3色サブ画素ブロックよりも前記最小重複領域の中心に近く、
    前記第1仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックと前記第4仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックとが隣接し、
    前記第2仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックと前記第3仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックとが隣接し、
    前記第1仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックの前記第2斜辺が、前記第4仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックの前記第2斜辺に対して平行に、第3距離である間隔で配置され、
    前記第2仮想矩形における前記第3色サブ画素ブロックの前記第2斜辺が、前記第3仮想矩形における前記第2色サブ画素ブロックの前記第2斜辺に対して平行に、第4距離である間隔で配置される、
    請求項に記載の画素配列構造。
  7. 前記第1距離、前記第2距離、前記第3距離及び前記第4距離は、ほぼ同じである、
    請求項に記載の画素配列構造。
  8. 同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと前記第2仮想矩形の第2色サブ画素ブロックとは、同一のサブ画素に統合され、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロックと前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第2色サブ画素ブロックとが、同一のサブ画素に統合される、
    請求項に記載の画素配列構造。
  9. 同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第3色サブ画素ブロックと前記第2仮想矩形の第3色サブ画素ブロックとは、同一のサブ画素に統合され、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第3色サブ画素ブロックと前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第3色サブ画素ブロックとが、同一のサブ画素に統合される、
    請求項に記載の画素配列構造。
  10. 同一の前記最小重複領域において、前記第3仮想矩形の第1色サブ画素ブロックと前記第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックとは、サブ画素パターニング工程において同一の単色のパターン領域を共用し、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    前記第1最小重複領域における第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロックと前記第2最小重複領域における前記第2仮想矩形の第1色サブ画素ブロックとは、サブ画素パターニング工程において同一の単色パターン領域を共用する、
    請求項に記載の画素配列構造。
  11. 前記第3仮想矩形と前記第4仮想矩形における前記第1色サブ画素ブロックの所在位置に、第4色サブ画素が設置される、
    請求項に記載の画素配列構造。
  12. 前記第1色サブ画素ブロックは緑のサブ画素を含み、
    前記第4色サブ画素は黄のサブ画素を含む、
    請求項11に記載の画素配列構造。
  13. 前記第1仮想矩形と前記第4仮想矩形における前記第1色サブ画素ブロックの所在位置に、第5色サブ画素が設置される、
    請求項2に記載の画素配列構造。
  14. 前記第1色サブ画素ブロックは緑のサブ画素を含み、
    前記第5色サブ画素は白のサブ画素を含む、
    請求項13に記載の画素配列構造。
  15. ベース基板と、
    前記ベース基板上に設置される複数の画素と、を含む表示基板であって、
    前記複数の画素には、請求項1に記載の画素配列構造が用いられる、
    表示基板。
  16. 前記最小重複領域の各々は、第2仮想矩形、第3仮想矩形及び第4仮想矩形をさらに含み、前記第1仮想矩形、前記第2仮想矩形、前記第3仮想矩形及び前記第4仮想矩形が、一辺を共有するように2×2のマトリクスを形成して前記最小重複領域を構成しており、
    前記第2仮想矩形は、前記第1仮想矩形と前記第1辺を共有するとともに、前記第1仮想矩形に対して前記第1辺に関して鏡像対称になり、
    前記第1仮想矩形は、その対角線に沿って前記対角線の長さだけ並進すると前記第3仮想矩形と重なり、
    前記第3仮想矩形は、前記第1方向に延び前記第1辺と同一の直線上に位置する第3辺をさらに含んでおり、
    前記第4仮想矩形は、前記第3仮想矩形と前記第3辺を共有するとともに、前記第4仮想矩形に対して前記第3辺に関して鏡像対称になり、
    前記第1色サブ画素ブロックは、第1色画素電極と、前記第1色画素電極上に設置される第1色発光層とを含み、
    前記第2色サブ画素ブロックは、第2色画素電極と、前記第2色画素電極上に設置される第2色発光層とを含み、
    前記第3色サブ画素ブロックは、第3色画素電極と、前記第3色画素電極上に設置される第3色発光層とを含み、
    前記第1色画素電極は、前記第1色発光層を発光駆動するように配置され、
    前記第2色画素電極は、前記第2色発光層を発光駆動するように配置され、
    前記第3色画素電極は、前記第3色発光層を発光駆動するように配置される、
    請求項15に記載の表示基板。
  17. 同一の前記最小重複領域において、前記第3仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層と前記第4仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層とは、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成され、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    前記第1最小重複領域における第1仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層と前記第2最小重複領域における前記第2仮想矩形の第1色サブ画素ブロックの第1色発光層とが、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成される、
    請求項16に記載の表示基板。
  18. 同一の前記最小重複領域において、同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された前記第3仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層と前記第4仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層の面積が、前記第3仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積と前記第4仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積の和よりも大きく、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    同一の単色のパターン領域を共用することにより形成された前記第1最小重複領域の前記第1仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層と前記第2最小重複領域の前記第2仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色発光層の面積が、前記第1最小重複領域の前記第1仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積と前記第2最小重複領域の前記第2仮想矩形の前記第1色サブ画素ブロックの前記第1色画素電極の面積の和よりも大きい、
    請求項17に記載の表示基板。
  19. 同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極と前記第2仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極とは、同一の画素電極に統合され、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極と前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第2色サブ画素ブロックの第2色画素電極とが、同一の画素電極に統合される、
    請求項16に記載の表示基板。
  20. 同一の前記最小重複領域において、前記第1仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極と前記第2仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極とは、同一の画素電極に統合され、
    前記第2方向に隣接する2つの前記最小重複領域においては、前記第2方向に沿って順に設置される第1最小重複領域と第2最小重複領域とが含まれ、
    前記第1最小重複領域における第4仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極と前記第2最小重複領域における前記第3仮想矩形の第3色サブ画素ブロックの第3色画素電極とが、同一の画素電極に統合される、
    請求項16に記載の表示基板。
  21. 前記第1色サブ画素ブロックは第1色フィルタを含み、
    前記第2色サブ画素ブロックは第2色フィルタを含み、
    前記第3色サブ画素ブロックは第3色フィルタを含む、
    請求項15に記載の表示基板。
  22. 請求項15ないし21のいずれか一項に記載の表示基板を含む表示装置。
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