JP7308872B2 - 誤り検出装置および誤り検出方法 - Google Patents

Description

本発明は、振幅をシンボルごとに４種類に分けた４値パルス振幅変調方式（ＰＡＭ４方式）によるＰＡＭ４信号を４値にデコードし、デコードした信号のレベル測定結果に基づいて誤りを検出する誤り検出装置および誤り検出方法に関する。

誤り率測定装置は、例えば下記特許文献１に開示されるように、被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test ）を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率を測定する装置として従来から知られている。

特開２００７－２７４４７４号公報

ところで、有線ネットワーク技術の主流であるイーサネット（登録商標）において、例えば４００Ｇイーサネット（登録商標）では、Ｃ２Ｍ（チップ２モジュール）インタフェースにＳｔｒｅｓｓｅｄ Ｉｎｐｕｔ ｔｅｓｔが規定されている。Ｓｔｒｅｓｓｅｄ Ｉｎｐｕｔ ｔｅｓｔは、ＰＲＢＳ１３Ｑなどの疑似ランダムパターンの他、ＲＳ－ＦＥＣ（Reed- Solomon Forward Error Correction）エンコード付きのスクランブルアイドルパターンが定義されている。

ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンでは、ＦＥＣによる誤り訂正が行われているため、ＦＥＣシンボルエラー数を確認することで、ＦＥＣによるエラー訂正効果を評価することができる（逆に、ビットエラーを確認するだけでは、ＦＥＣによるエラー訂正効果を正しく評価することが難しい）。

特に、２００Ｇ，４００Ｇイーサネット（登録商標）では、ＦＥＣによるエラー訂正が前提となっているため、ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンによってＦＥＣの効果を評価することは重要である。

ここで、図７に示すように、被測定物として４００Ｇイーサネット（登録商標）の光モジュール（ＱＳＦＰ－ＤＤ ＬＲ４光モジュール）を測定する場合を考える。

図７の測定系では、伝送速度と伝送チャネル数を変換するギアボックス（Ｇｅａｒｂｏｘ）Ｗａを被測定物（ＤＵＴ）Ｗの内部に備え、マルチレーン接続されるインタフェースとしてレーン間のスキューを許容しているが、被測定物Ｗに入力される各レーンにスキューがあると、パターン発生器３１のＭＳＢ（最上位ビット）で出力したパターンは、エラー検出器３２のＭＳＢに戻ってくる保証は無い。

図７の測定系の場合、８台のパターン発生器３１の出力のうち、２レーンのパターン発生器３１の出力が被測定物ＷのギアボックスＷａのＰＡＭ４ＡＳＩＣ内でマックスされると考えると、１レーンにはＭＳＢとＬＳＢ（最下位ビット）の２チャネルがあるので、４チャネルがマックスされる。したがって、エラー検出器３２に入力されるチャネルの組み合わせは、４つから２つ選ぶ順列なので、 ₄Ｐ₂ ＝４！／（４－２）！＝１２通りとなる。つまり、エラー検出器３２の１レーンに入力されるデータは１２通りあり、１２通りのリファレンスパターンをユーザが手動で探すことは非常に困難である。

さらに、スキューの影響によるエラー検出器３２に入力されるパターンの組み合わせの詳細について図８～図１１を参照しながら説明する。

なお、図８～図１１では、２台のパターン発生器３１（３１ａ，３１ｂ）、２台のエラー検出器３２（３２ａ，３２ｂ）を備え、被測定物（ＤＵＴ）Ｗが２：１ＭＵＸ（Ｗ１～Ｗ３）、１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ４～Ｗ６）を内部に備え、パターン発生器３１ａ，３１ｂから２レーン（レーン０～３）のパターンを、被測定物（ＤＵＴ）Ｗを介してエラー検出器３２ａ，３２ｂに入力する場合を例にとって説明する。

図８～図１１において、パターン発生器３１ａは、０→０．１→０．２→０．３のビット列をＭＳＢ：ＦＥＣレーン０のパターンとして発生し、２→２．１→２．２→２．３のビット列をＬＳＢ：ＦＥＣレーン２のパターンとして発生し、これらのパターンを被測定物Ｗの２：１ＭＵＸ（Ｗ１）に入力する。

また、パターン発生器３１ｂは、１→１．１→１．２→１．３のビット列をＭＳＢ：ＦＥＣレーン１のパターンとして発生し、３→３．１→３．２→３．３のビット列をＬＳＢ：ＦＥＣレーン３のパターンとして発生し、これらのパターンを被測定物Ｗの２：１ＭＵＸ（Ｗ２）に入力する。

そして、２：１ＭＵＸ（Ｗ１）は、ＦＥＣレーン２の先頭ビットからＦＥＣレーン２のパターンのビットとＦＥＣレーン０のパターンのビットを交互にＭＵＸしたビット列２→０→２．１→０．１→２．２→０．２→２．３→０．３を２：１ＭＵＸ（Ｗ３）に入力する。また、２：１ＭＵＸ（Ｗ２）は、ＦＥＣレーン３の先頭ビットからＦＥＣレーン３のパターンのビットとＦＥＣレーン１のパターンのビットを交互にＭＵＸしたビット列３→１→３．１→１．１→３．２→１．２→３．３→１．３を２：１ＭＵＸ（Ｗ３）に入力する。

続いて、２：１ＭＵＸ（Ｗ３）は、２：１ＭＵＸ（Ｗ２）にてＭＵＸしたビット列をＭＳＢ、２：１ＭＵＸ（Ｗ１）にてＭＵＸしたビット列をＬＳＢとして、ＰＡＭ４信号を生成し、２：１ＭＵＸ（Ｗ２）からのビットと２：１ＭＵＸ（Ｗ１）からのビットを交互にＭＵＸしたビット列を光ファイバで折り返して１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ４）に入力する。そして、１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ４）は、２：１ＭＵＸ（Ｗ３）からのビット列を奇数番目（ＬＳＢ）のビットと偶数番目（ＭＳＢ）のビットにＤＥＭＵＸし、奇数番目（ＬＳＢ）のビット列を１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ６）に入力し、偶数番目（ＭＳＢ）のビット列を１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ５）に入力する。

そして、１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ５）は、１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ４）からのビット列を偶数番目のビットと奇数番目のビットにＤＥＭＵＸする。これにより、エラー検出器３２ａには、偶数番目のビットがＭＳＢ：ＦＥＣレーン０、奇数番目のビットがＬＳＢ：ＦＥＣレーン２として入力される。また、１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ６）は、１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ４）からのビット列を偶数番目のビットと奇数番目のビットにＤＥＭＵＸする。これにより、エラー検出器３２ｂには、偶数番目のビットがＭＳＢ：ＦＥＣレーン１、奇数番目のビットがＬＳＢ：ＦＥＣレーン３として入力される。

ここで、図８はパターン発生器３１ａ，３１ｂから被測定物Ｗを介してエラー検出器３２ａ，３２ｂにパターンを入力する際に、スキューが無いパターンの組み合わせの一例を示している。図８の例では、エラー検出器３２ａ，３２ｂそれぞれに入力されるビット列に入れ替えが無い。

図９はパターン発生器３１ａ，３１ｂから被測定物Ｗを介してエラー検出器３２ａ，３２ｂにパターンを入力する際に、パターン発生器３１ａから被測定物Ｗに入力されるパターンにスキューが有る場合のパターンの組み合わせの一例を示している。図９の例では、パターン発生器３１ａのＭＳＢのＦＥＣレーン０の先頭に１ビットのスキュー（ｘ）が発生している。この場合、図８と同様、エラー検出器３２ａ，３２ｂそれぞれに入力されるビット列に入れ替えが無い。

図１０はパターン発生器３１ａ，３１ｂから被測定物Ｗを介してエラー検出器３２ａ，３２ｂにパターンを入力する際に、被測定物Ｗ内でパターンにスキューが有る場合のパターンの組み合わせの一例を示している。図１０の例では、２：１ＭＵＸ（Ｗ１）から２：１ＭＵＸ（Ｗ３）に入力されるパターンの先頭に１ビットのスキュー（ｘ）が発生している。この場合、エラー検出器３２ａに入力されるビット列のＭＳＢとＬＳＢの入れ替えが発生する。

図１１はパターン発生器３１ａ，３１ｂから被測定物Ｗを介してエラー検出器３２ａ，３２ｂにパターンを入力する際に、被測定物Ｗ内でパターンにスキューが有る場合のパターンの組み合わせの他の一例を示している。図１１の例では、２：１ＭＵＸ（Ｗ３）から１：２ＤＥＭＵＸ（Ｗ４）に入力されるパターンの先頭に１ビットのスキュー（ｘ）が発生している。この場合、エラー検出器３２ａ，３２ｂそれぞれに入力されるビット列のＭＳＢとＬＳＢの入れ替えが発生する。

このように、エラー検出器３２ａ，３２ｂにてエラー測定を行うＰＡＭ４シンボル列は、スキューの発生場所（スキュー量を含む）によってエラー測定のために出力したＰＡＭ４シンボル列とは異なるＰＡＭ４シンボル列（ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列が入れ替わったパターン）となってしまうことがある。

さらに説明すると、ＰＲＢＳ１３Ｑなどの擬似ランダムパターンを使用するときは、ＰＡＭ４のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列は同じパターンであるので、ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わり動作は問題とならない。具体的に、ＰＲＢＳ１３ビット列生成回路にてＰＲＢＳ１３ビット列を生成した場合、このＰＲＢＳ１３ビット列をＭＳＢビット列とＬＳＢビット列に交互に振り分けると、振り分け後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の位相は異なるが、振り分け後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列は何れもＰＲＢＳ１３ビット列となる。さらに、振り分け後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列をグレイコードエンコーダにてエンコードしても、エンコード後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列は何れもＰＲＢＳ１３ビット列となる。このため、ＰＲＢＳ１３Ｑなどの疑似ランダムパターンを使用した場合には、ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わりが起きても、エラー測定のリファレンスパターンに影響はない。

しかしながら、ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列が異なるパターンとなるＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンを使用するときは、エラー測定のために出力したＰＡＭ４シンボル列（パターン発生器の出力パターン）をそのままエラー検出器に設定しても、エラー測定ができるとは限らない。具体的に、スクランブルアイドルパターン生成回路にて４００ＧｂＥのＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンを生成した場合、このＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンをＦＥＣシンボル単位で１６レーンのＭＳＢビット列とＬＳＢビット列に交互に振り分けると、振り分け後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列はレーン毎に異なるビット列となる。さらに、振り分け後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列をグレイコードエンコーダにてレーン毎にエンコードすると、エンコード後のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列はエンコード前とも異なるビット列となる。そのため、ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンを使用した場合には、エラー検出器に同期できるパターンを設定することは非常に困難を伴う。

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ＭＳＢデータとＬＳＢデータの入れ替わりを自動検出することができる誤り検出装置および誤り検出方法を提供することを目的としている。

上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り検出装置は、リファレンスパターンのＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターン、グレイコードの有無、同期条件閾値を設定する設定部２ａを含む操作部２と、異なるパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータの組み合わせからなる既知のＰＡＭ４シンボル列を発生するパターン発生器３と、該パターン発生器が発生したＰＡＭ４シンボル列を被測定物Ｗに入力して該被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列を検出するエラー検出器４と、を備えた誤り検出器１であって、
前記エラー検出器は、
前記被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列をＭＳＢデータとＬＳＢデータに分離して出力するＰＡＭ４デコーダ１１と、
前記設定部にてグレイコード有りが設定されているときに、グレイコードのデコードを行うグレイコードデコーダ１２と、
前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを、前記グレイコードデコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延する第１の遅延部１３と、
前記グレイコードデコーダの出力または前記第１の遅延部の出力を選択するデータ選択部１４と、
前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを入力として、ＭＳＢ側の同期パターンの一致検出を行う第１の同期パターン検出部１５と、
前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを入力とし、前記第１の同期パターン検出部と並行してＬＳＢ側の同期パターンの一致検出を行う第２の同期パターン検出部１６と、
グレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納する第１領域１７ａと、グレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納する第２領域１７ｂとを有するＭＳＢメモリ１７と、
グレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納する第１領域１８ａと、グレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納する第２領域１８ｂとを有するＬＳＢメモリ１８と、
前記ＭＳＢメモリと前記ＬＳＢメモリから出力されるエラー測定用リファレンスパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータのグレイコードのエンコードを行うグレイコードエンコーダ１９と、
前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを、前記グレイコードエンコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延する第２の遅延部２０と、
前記第２の遅延部からのＭＳＢデータとＬＳＢデータとグレイコードエンコーダからのエラー測定用リファレンスパターンとを比較してエラーの検出および解析を行うエラー検出部２１と、
前記エラー検出部にて検出したエラーの量が前記同期条件閾値以下のときに前記操作部、前記第１の同期パターン検出部、前記第２の同期パターン検出部に同期確立を通知し、前記エラーの量が前記同期条件閾値以下でないときに前記操作部に同期未確立を通知する同期状態管理部２２と、を備え、
前記第１の同期パターン検出部は、前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータと前記設定部にて設定されたＭＳＢ同期パターンとを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＬＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返し、
前記第２の同期パターン検出部は、前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータと前記設定部にて設定されたＬＳＢ同期パターンとを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＭＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返すことを特徴とする。

本発明の請求項２に記載された誤り検出装置は、請求項１の誤り検出装置において、
前記ＰＡＭ４シンボル列がＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンからなることを特徴とする。

本発明の請求項３に記載された誤り検出装置は、請求項１の誤り検出装置において、
前記同期状態管理部２２は、前記第１の同期パターン検出部１５にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部１６にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別し、
前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を表示する表示部２ｂを備えたことを特徴とする。

本発明の請求項４に記載された誤り検出装置は、請求項２の誤り検出装置において、
前記同期状態管理部２２は、前記第１の同期パターン検出部１５にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部１６にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別し、
前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を前記ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンのレーン単位または全レーンについて表示する表示部２ｂを備えたことを特徴とする。

本発明の請求項５に記載された誤り検出方法は、リファレンスパターンのＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターン、グレイコードの有無、同期条件閾値を設定する設定部２ａを含む操作部２と、異なるパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータの組み合わせからなる既知のＰＡＭ４シンボル列を発生するパターン発生器３と、該パターン発生器が発生したＰＡＭ４シンボル列を被測定物Ｗに入力して該被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列を検出するエラー検出器４と、を備えた誤り検出器１の誤り検出方法であって、
前記エラー検出器のＰＡＭ４デコーダ１１が、前記被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列をＭＳＢデータとＬＳＢデータに分離して出力するステップと、
前記設定部にてグレイコード有りが設定されているときに、前記エラー検出器のグレイコードデコーダ１２がグレイコードのデコードを行うステップと、
前記エラー検出器の第１の遅延部１３が、前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記グレイコードデコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延するステップと、
前記エラー検出器のデータ選択部１４が前記グレイコードデコーダの出力または前記第１の遅延部の出力を選択するステップと、
前記エラー検出器の第１の同期パターン検出部１５が、前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを入力として、ＭＳＢ側の同期パターンの一致検出を行うステップと、
前記エラー検出器の第２の同期パターン検出部１６が、前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを入力とし、前記第１の同期パターン検出部と並行してＬＳＢ側の同期パターンの一致検出を行うステップと、
前記エラー検出器のＭＳＢメモリ１７の第１領域１７ａにグレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納し、前記ＭＳＢメモリの第２領域１７ｂにグレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納するステップと、
前記エラー検出器のＬＳＢメモリ１８の第１領域１８ａにグレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納し、前記ＬＳＢメモリの第２領域１８ｂにグレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納するステップと、
前記エラー検出器のグレイコードエンコーダ１９が、前記ＭＳＢメモリと前記ＬＳＢメモリから出力されるエラー測定用リファレンスパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータのグレイコードのエンコードを行うステップと、
前記エラー検出器の第２の遅延部２０が、前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記グレイコードエンコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延するステップと、
前記エラー検出器のエラー検出部２１が、前記第２の遅延部からのＭＳＢデータとＬＳＢデータとグレイコードエンコーダからのエラー測定用リファレンスパターンとを比較してエラーの検出および解析を行うステップと、
前記エラー検出器の同期状態管理部２２が、前記エラー検出部にて検出したエラーの量が前記同期条件閾値以下のときに前記操作部、前記第１の同期パターン検出部、前記第２の同期パターン検出部に同期確立を通知し、前記エラーの量が前記同期条件閾値以下でないときに前記操作部に同期未確立を通知するステップと、
前記エラー検出部の第１の同期パターン検出部が、前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータと前記設定部にて設定されたＭＳＢ同期パターンとを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＬＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返すステップと、
前記エラー検出部の前記第２の同期パターン検出部が、前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータと前記設定部にて設定されたＬＳＢ同期パターンとを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＭＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返すステップと、を含むことを特徴とする。

本発明の請求項６に記載された誤り検出方法は、請求項５の誤り検出方法において、
前記ＰＡＭ４シンボル列がＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンからなることを特徴とする。

本発明の請求項７に記載された誤り検出方法は、請求項５の誤り検出方法において、
前記同期状態管理部２２が、前記第１の同期パターン検出部１５にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部１６にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別するステップと、
前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を表示部２ｂに表示するステップと、を含むことを特徴とする。

本発明の請求項８に記載された誤り検出方法は、請求項６の誤り検出方法において、
前記同期状態管理部２２が、前記第１の同期パターン検出部１５にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部１６にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別するステップと、
前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を前記ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンのレーン単位または全レーンについて表示部２ｂに表示するステップと、を含むことを特徴とする。

本発明によれば、ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わりを自動検出することができ、パターン設定に起因する同期の問題を解決し、ユーザが調整しなければならないパラメータを減らし、測定の難易度を下げることができる。

本発明に係る誤り検出装置の全体構成を示すブロック図である。 本発明に係る誤り検出装置によるエラー解析結果の表示例を示す図である。 （ａ）グレイコードデコーダの真理値表を示す図、（ｂ）グレイコードエンコーダの真理値表を示す図である。 本発明に係る誤り検出装置のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わりの自動検出を含むエラー検出方法のフローチャートである。 本発明に係る誤り検出装置のＭＳＢ側の同期パターン検出処理のフローチャートである。 本発明に係る誤り検出装置のＬＳＢ側の同期パターン検出処理のフローチャートである。 被測定物として４００Ｇイーサネット（登録商標）の光モジュールのＳｔｒｅｓｓｅｄ ｉｎｐｕｔ ｔｅｓｔの測定系を示す図である。 パターン発生器から被測定物を介してエラー検出器にパターンを入力する際に、スキューが無いパターンの組み合わせの一例を示す図である。 パターン発生器から被測定物を介してエラー検出器にパターンを入力する際に、パターン発生器から被測定物に入力されるパターンにスキューが有る場合のパターンの組み合わせの一例を示す図である。 パターン発生器から被測定物を介してエラー検出器にパターンを入力する際に、被測定物内でパターンにスキューが有る場合のパターンの組み合わせの一例を示す図である。 パターン発生器から被測定物を介してエラー検出器にパターンを入力する際に、被測定物内でパターンにスキューが有る場合のパターンの組み合わせの他の一例を示す図である。

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

［本発明の概要］
例えば４００Ｇイーサネット（登録商標）などは、ＦＥＣによる誤り訂正を前提とした伝送となっている。そのため、ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンが試験用パターンとして用いられることがある。ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンは、ＰＡＭ４シンボル列のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列が異なるパターンである。このＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンを用いて４００Ｇイーサネット（登録商標）向けＱＳＦＰ－ＤＤ ＬＲ４光モジュールの折り返し試験を図７の測定系で行うと、測定系のスキューが原因で、ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列が入れ替わってしまうことがある。そのため、このような測定系では、エラー検出器で同期パターンを設定することが非常に難しいという問題がある。

そこで、本発明は、上述した問題を解決するため、ＰＡＭ４シンボル列のＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わりを自動検出して同期を取り、ＰＡＭ４パターンのエラー測定を行う機能を有し、パターン設定に起因する同期の問題を解決することができる誤り検出装置および誤り検出方法を提供する。

図１に示すように、本実施の形態の誤り検出装置１は、上記機能を実現するため、操作部２、パターン発生器３、エラー検出器４を備えて概略構成される。

操作部２は、ユーザの操作に応じて各種設定（例えば、リファレンスパターンのＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンの設定、グレイコードの有無の設定、同期条件閾値（装置の仕様および規格で決まっているエラーレートに基づく同期確立を判断するための値）の設定など）や各種指示（エラー測定の開始・停止の指示、エラー測定パターンの生成の指示、グレイコードの有無に応じたデータ選択の指示など）を行うための設定部２ａと、測定結果を表示するための表示部２ｂを含むグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）で構成される。

操作部２は、後述する同期状態管理部２２から同期未確立の通知を受けると、図２に示すように、ＭＳＢデータ、ＬＳＢデータ、ＭＳＢデータ＋ＬＳＢデータ毎に現在と過去の同期未確立の状態を表示部２ｂに識別表示する（例えば現在の同期未確立は図２の左側のＬＥＤ２ｂ１を赤色で点灯、過去の同期未確立は図２の右側のＬＥＤ２ｂ２を黄色で点灯）。

操作部２は、後述する同期状態管理部２２からＭＳＢデータとＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無の判別結果の通知を受けると、図２に示すように、判別結果を表示部２ｂに識別表示する。具体的に、操作部２が後述する同期状態管理部２２からＭＳＢデータとＬＳＢデータのビット列の入れ替え有りの判別結果の通知を受けると、図２のＭＳＢ／ＬＳＢ ＳｗａｐのＬＥＤ２ｂ３を例えば緑色に点灯する。

なお、図１では、設定部２ａと表示部２ｂを含む操作部２として図示しているが、設定部２ａと表示部２ｂを個別に設ける構成としてもよい。

パターン発生器３は、操作部２の指示により既知のエラー測定パターンを発生するパターン発生部３ａを備える。エラー測定パターンは、ＰＲＢＳ生成回路では生成できないパターンであり、異なるパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータの組み合わせからなる既知のＰＡＭ４シンボル列として生成される。具体的には、ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンであり、出力はＰＡＭ４エンコードされ、設定部２ａにてグレイコード有りの設定がなされている場合にはグレイコードエンコードされる。

エラー測定対象の被測定物Ｗは、例えば図７に示すＱＳＦＰ－ＤＤ ＬＲ４光モジュールであり、パターン発生器３で生成した既知のエラー測定パターン（ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンからなる既知のＰＡＭ４シンボル列）が入力され、入力されたエラー測定パターンをエラー検出器４に折り返して出力する。

エラー検出器４は、パターン発生器３から被測定物Ｗに入力して折り返される既知のエラー測定パターンのエラーを検出するもので、ＰＡＭ４デコーダ１１、グレイコードデコーダ１２、第１の遅延部１３、データ選択部１４、第１の同期パターン検出部１５、第２の同期パターン検出部１６、ＭＳＢメモリ１７、ＬＳＢメモリ１８、グレイコードエンコーダ１９、第２の遅延部２０、エラー検出部２１、同期状態管理部２２を備える。

ＰＡＭ４デコーダ１１は、被測定物Ｗから折り返して入力されるエラー測定パターンとしてのＰＡＭ４シンボル列をＭＳＢデータとＬＳＢデータに分離する。

グレイコードデコーダ１２は、被測定物Ｗに入力されたエラー測定パターンとしてのＰＡＭ４シンボル列にグレイコードがかかっているときに、ＰＡＭ４デコーダ１１にて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータに対し、図３（ａ）の真理値表に従ってグレイコードのデコードを行う。

第１の遅延部１３は、グレイコードデコーダ１２の処理と同じパイプライン段数を持つ遅延回路で構成され、ＰＡＭ４デコーダ１１にてデコードされたＭＳＢデータとＬＳＢデータがグレイコードデコーダ１２の出力と同じタイミングでデータ選択部１４に入力する。

データ選択部１４は、操作部２の指示に従い、グレイコードデコーダ１２の出力を使用するのか、第１の遅延部１３の出力を使用するのかを選択するセレクタで構成される。

第１の同期パターン検出部１５は、操作部２からグレイコードが実施されていないＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンが設定され、データ選択部１４にて選択されたＭＳＢデータが入力される。なお、ＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンは、例えばビット列の先頭パターン６４ｂｉｔなどが用いられる。

第１の同期パターン検出部１５は、データ選択部１４にて選択されたＭＳＢデータと、操作部２から設定されるＭＳＢ同期パターンとを比較し、ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出すると、リファレンスパターンを格納したＭＳＢメモリ１７の第１領域の読み出しを指示する。同時に、ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから一定時間（例えばリファレンスパターンの長さの８倍相当）経過しても同期状態管理部２２から同期確立の通知がなければ、ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに入れ替えてデータ選択部１４にて選択されたＭＳＢデータと比較し、ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出すると、ＭＳＢメモリ１７の第２領域の読み出しを指示し、ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから一定時間経過しても同期状態管理部２２から同期確立の通知がなければ、ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの検出を行い、以降、同期状態管理部２２の指示に従い、この動作を繰り返し、同期パターンの一致検出を行う。このＭＳＢ側の同期パターンの一致検出の動作については後述する。

第２の同期パターン検出部１６は、操作部２からグレイコードが実施されていないＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンが設定され、データ選択部１４にて選択されたＬＳＢデータが入力される。なお、ＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンは、例えばビット列の先頭パターン６４ｂｉｔなどが用いられる。

第２の同期パターン検出部１６は、データ選択部１４にて選択されたＬＳＢデータと、操作部２から設定されるＬＳＢ同期パターンとを比較し、ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出すると、リファレンスパターンを格納したＬＳＢメモリ１８の第１領域の読み出しを指示する。同時に、ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから一定時間（例えばリファレンスパターンの長さの８倍相当）経過しても同期状態管理部２２から同期確立の通知がなければ、ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに入れ替えてデータ選択部１４にて選択されたＬＳＢデータと比較し、ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出すると、ＬＳＢメモリ１８の第２領域の読み出しを指示し、ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから一定時間経過しても同期状態管理部２２から同期確立の通知がなければ、ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの検出を行い、以降、同期状態管理部２２の指示に従い、この動作を繰り返し、同期パターンの一致検出を行う。このＬＳＢ側の同期パターンの一致検出の動作については後述する。

ＭＳＢメモリ１７は、第１領域１７ａと第２領域１７ｂを有し、グレイコードが実施されていないＭＳＢデータを第１領域１７ａに格納し、グレイコードが実施されていないＬＳＢデータを第２領域１７ｂに格納する。ＭＳＢメモリ１７は、第１の同期パターン検出部１５からの指示に従い、第１領域１７ａまたは第２領域１７ｂに格納されたパターンを読み出し、エラー測定用のリファレンスパターンのＭＳＢデータまたはＬＳＢデータを出力する。

ＬＳＢメモリ１８は、第１領域１８ａと第２領域１８ｂを有し、グレイコードが実施されていないＬＳＢデータを第１領域１８ａに格納し、グレイコードが実施されていないＭＳＢデータを第２領域１８ｂに格納する。ＬＳＢメモリ１８は、第２の同期パターン検出部１６からの指示に従い、第１領域１８ａまたは第２領域１８ｂに格納されたパターンを読み出し、エラー測定用のリファレンスパターンのＬＳＢデータまたはＭＳＢデータを出力する。

グレイコードエンコーダ１９は、ＭＳＢメモリ１７とＬＳＢメモリ１８から出力されるエラー測定用リファレンスパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータに対し、図３（ｂ）の真理値表に従ってグレイコードのエンコードを行う。

第２の遅延部２０は、グレイコードデコーダ１２、データ選択部１４、第１の同期パターン検出部１５、第２の同期パターン検出部１６、ＭＳＢメモリ１７、ＬＳＢメモリ１８、グレイコードエンコーダ１９の処理と同じパイプライン段数を持つ遅延回路で構成され、ＰＡＭ４デコーダ１１にてデコードされたＭＳＢデータとＬＳＢデータがグレイコードエンコーダ１９の出力と同じタイミングでエラー検出部２１に入力する。

エラー検出部２１は、第２の遅延部２０からの入力パターンとグレイコードエンコーダ１９からのリファレンスパターンを比較し、エラーの検出および解析（エラーカウント）を行う。

なお、エラー検出部２１のエラーの解析結果は、図２に示すように、表示部２ｂのＭＳＢ、ＬＳＢ、ＭＳＢ＋ＬＳＢにおいて、Ｔｏｔａｌ（Ｔｏｔａｌ Ｅｒｒｏｒ）、ＩＮＳ（Ｉｎｓｅｒｔｉｏｎ Ｅｒｒｏｒ「０→１」）、ＯＭＩ（Ｏｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｒｒｏｒ「１→０」）のエラーレートとエラーカウントをエラー解析結果に基づいて一覧表示する。

同期状態管理部２２は、エラー検出部２１にて検出したエラー数の情報を基に、エラーの量が設定部２ａにて設定される同期条件閾値以下であれば、操作部２、第１の同期パターン検出部１５、第２の同期パターン検出部１６に同期確立を通知し、エラーの量が同期条件閾値以下でなければ、同期未確立を操作部２に通知する。

同期状態管理部２２は、第１の同期パターン検出部１５にて検出した同期パターンと、第２の同期パターン検出部１６にて検出した同期パターンを取得し、ＭＳＢデータとＬＳＢデータのビット列の入れ替えが起きたか否か、ビット列の入れ替えの有無を判別し、判別結果を操作部２に通知する。

次に、上述した構成からなる誤り検出装置１の動作として、ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わりの自動検出を含むエラー検出方法について図４～図６のフローチャートを参照しながら説明する。

ＭＳＢビット列とＬＳＢビット列の入れ替わりの自動検出を含むエラーを検出するにあたっては、操作部２の設定部２ａにてリファレンスパターンのＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンの設定、グレイコードの有無の設定、同期条件閾値の設定を行う（ＳＴ１）。

そして、パターン発生器３のパターン発生部３ａは、操作部２の指示によりエラー測定パターンを生成し、生成したエラー測定パターンを被測定物Ｗに入力する（ＳＴ２）。エラー測定パターンは、例えばＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンであり、出力はＰＡＭ４エンコードされ、設定部２ａにてグレイコード有りの設定がなされている場合にはグレイコードエンコードされる。

被測定物Ｗは、パターン発生部３ａにて生成されたエラー測定パターンが入力されると、入力されたエラー測定パターンをエラー検出器４に折り返して出力する。

エラー検出器４では、ＰＡＭ４デコーダ１１が被測定物Ｗから折り返して入力されるエラー測定パターンとしてのＰＡＭ４シンボル列をＭＳＢデータとＬＳＢデータに分離する（ＳＴ３）。

続いて、エラー測定パターンとしてのＰＡＭ４シンボル列にグレイコードがかかっていると、グレイコードデコーダ１２が図３（ａ）の真理値表に従ってグレイコードのデコードを行い（ＳＴ４）、デコードしたＭＳＢデータとＬＳＢデータをデータ選択部１４に入力する。

また、ＰＡＭ４デコーダ１１にてデコードされたＭＳＢデータとＬＳＢデータは、グレイコードデコーダ１２の出力と同じタイミングで第１の遅延部１３を介してデータ選択部１４に入力する。

そして、データ選択部１４は、操作部２の指示に従い、グレイコードデコーダ１２の出力を使用するのか、第１の遅延部１３の出力を使用するのかを選択し（ＳＴ５）、選択したＭＳＢデータを第１の同期パターン検出部１５に入力し、選択したＬＳＢデータを第２の同期パターン検出部１６に入力する。

そして、第１の同期パターン検出部１５によるＭＳＢ側の同期パターンの一致検出の動作と、第２の同期パターン検出部１６によるＬＳＢ側の同期パターンの一致検出の動作を並行して実行する（ＳＴ６）。

まず、第１の同期パターン検出部１５によるＭＳＢ側の同期パターンの一致検出の動作について図５を参照しながら説明する。

第１の同期パターン検出部１５では、データ選択部１４にて選択されたＭＳＢデータが入力して測定が開始されると（ＳＴ１１）、設定部２ａにてＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンが設定され（ＳＴ１２）、入力されるＭＳＢデータからＭＳＢ同期パターンを検索する（ＳＴ１３）。そして、ＭＳＢ同期パターンを検出したか否かを判別する（ＳＴ１４）。ＭＳＢ同期パターンを検出しないと判別すると（ＳＴ１４－Ｎｏ）、同期パターン検索開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ１５）。これに対し、ＭＳＢ同期パターンを検出したと判別すると（ＳＴ１４－Ｙｅｓ）、ＭＳＢメモリ１７の第１領域１７ａにパターン読み出しを指示し（ＳＴ１６）、エラー数が同期条件閾値以下であるか否かを判別する（ＳＴ１７）。

そして、エラー数が同期条件閾値以下であると判別すると（ＳＴ１７－Ｙｅｓ）、同期確立と判断して測定状態を保持する（ＳＴ１８）。これに対し、エラー数が同期条件閾値以下でないと判別すると（ＳＴ１７－Ｎｏ）、同期パターン開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ１５）。

そして、同期パターン検索開始後一定時間経過していないと判別すると（ＳＴ１５－Ｎｏ）、ＭＳＢ同期パターンを検索する処理に戻る（ＳＴ１３）。

また、同期パターン検索開始後一定時間経過していると判別すると（ＳＴ１５－Ｙｅｓ）、入力されるＭＳＢデータからＬＳＢ同期パターンを検索する（ＳＴ１９）。すなわち、このＬＳＢ同期パターンの検索は、ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから一定時間が経過しても同期状態管理部２２から同期確立の通知が無かったときに実行される。そして、ＬＳＢ同期パターンを検出したか否かを判別する（ＳＴ２０）。ＬＳＢ同期パターンを検出しないと判別すると（ＳＴ２０－Ｎｏ）、同期パターン検索開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ２１）。これに対し、ＬＳＢ同期パターンを検出したと判別すると（ＳＴ２０－Ｙｅｓ）、ＭＳＢメモリ１７の第２領域１７ｂにパターン読み出しを指示し（ＳＴ２２）、エラー数が同期条件閾値以下であるか否かを判別する（ＳＴ２３）。

そして、エラー数が同期条件閾値以下であると判別すると（ＳＴ２３－Ｙｅｓ）、同期確立と判断して測定状態を保持する（ＳＴ２４）。これに対し、エラー数が同期条件閾値以下でないと判別すると（ＳＴ２３－Ｎｏ）、同期パターン開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ２１）。

そして、同期パターン検索開始後一定時間経過していないと判別すると（ＳＴ２１－Ｎｏ）、ＬＳＢ同期パターンを検索する処理に戻る（ＳＴ１９）。これに対し、同期パターン検索開始後一定時間経過していると判別すると（ＳＴ２１－Ｙｅｓ）、ＭＳＢ同期パターンを検索する処理に戻る（ＳＴ１３）。

次に、第２の同期パターン検出部１６によるＬＳＢ側の同期パターンの一致検出の動作について図６を参照しながら説明する。

第２の同期パターン検出部１６では、データ選択部１４にて選択されたＬＳＢデータが入力して測定が開始されると（ＳＴ３１）、設定部２ａにてＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターンが設定され（ＳＴ３２）、入力されるＬＳＢデータからＬＳＢ同期パターンを検索する（ＳＴ３３）。そして、ＬＳＢ同期パターンを検出したか否かを判別する（ＳＴ３４）。ＬＳＢ同期パターンを検出しないと判別すると（ＳＴ３４－Ｎｏ）、同期パターン検索開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ３５）。これに対し、ＬＳＢ同期パターンを検出したと判別すると（ＳＴ３４－Ｙｅｓ）、ＬＳＢメモリ１８の第１領域１８ａにパターン読み出しを指示し（ＳＴ３６）、エラー数が同期条件閾値以下であるか否かを判別する（ＳＴ３７）。

そして、エラー数が同期条件閾値以下であると判別すると（ＳＴ３７－Ｙｅｓ）、同期確立と判断して測定状態を保持する（ＳＴ３８）。これに対し、エラー数が同期条件閾値以下でないと判別すると（ＳＴ３７－Ｎｏ）、同期パターン開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ３５）。

そして、同期パターン検索開始後一定時間経過していないと判別すると（ＳＴ３５－Ｎｏ）、ＬＳＢ同期パターンを検索する処理に戻る（ＳＴ３３）。

また、同期パターン検索開始後一定時間経過していると判別すると（ＳＴ３５－Ｙｅｓ）、入力されるＬＳＢデータからＭＳＢ同期パターンを検索する（ＳＴ３９）。すなわち、このＭＳＢ同期パターンの検索は、ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから一定時間が経過しても同期状態管理部２２から同期確立の通知が無かったときに実行される。そして、ＭＳＢ同期パターンを検出したか否かを判別する（ＳＴ４０）。ＭＳＢ同期パターンを検出しないと判別すると（ＳＴ４０－Ｎｏ）、同期パターン検索開始後一定時間経過したか否かを判別する（ＳＴ４１）。これに対し、ＭＳＢ同期パターンを検出したと判別すると（ＳＴ４０－Ｙｅｓ）、ＬＳＢメモリ１８の第２領域１８ｂにパターン読み出しを指示し（ＳＴ４２）、エラー数が同期条件閾値以下であるか否かを判別する（ＳＴ４３）。

そして、エラー数が同期条件閾値以下であると判別すると（ＳＴ４３－Ｙｅｓ）、同期確立と判断して測定状態を保持する（ＳＴ４４）。これに対し、エラー数が同期条件閾値以下でないと判別すると（ＳＴ４３－Ｎｏ）、同期パターン開始後一定時間（例えばリファレンスパターンの長さの８倍相当）経過したか否かを判別する（ＳＴ４１）。

そして、同期パターン検索開始後一定時間経過していないと判別すると（ＳＴ４１－Ｎｏ）、ＭＳＢ同期パターンを検索する処理に戻る（ＳＴ３９）。これに対し、同期パターン検索開始後一定時間経過していると判別すると（ＳＴ４１－Ｙｅｓ）、ＬＳＢ同期パターンを検索する処理に戻る（ＳＴ３３）。

続いて、グレイコードエンコーダ１９は、上述した図５および図６の同期パターンの一致検出の動作によってＭＳＢメモリ１７とＬＳＢメモリ１８から出力されるエラー測定用リファレンスパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータに対し、図３（ｂ）の真理値表に従ってグレイコードのエンコードを行い（ＳＴ７）、エラー検出部２１に入力する。

また、第２の遅延部２０は、ＰＡＭ４デコーダ１１にてデコードされたＭＳＢデータとＬＳＢデータがグレイコードエンコーダ１９の出力と同じタイミングでエラー検出部２１に入力する。

そして、エラー検出部２１は、第２の遅延部２０からの入力パターンとグレイコードエンコーダ１９からのリファレンスパターンを比較し、エラーの検出および解析（エラーカウント）を行い（ＳＴ８）、その結果を同期状態管理部２２に出力する。

同期状態管理部２２は、エラー検出部２１にて検出したエラー数の情報を基に、エラーの量が同期条件閾値以下であれば、操作部２、第１の同期パターン検出部１５、第２の同期パターン検出部１６に同期確立を通知し、エラーの量が同期条件閾値以下でなければ、同期未確立を操作部２に通知する（ＳＴ９）。

また、同期状態管理部２２は、第１の同期パターン検出部１５にて検出した同期パターンと、第２の同期パターン検出部１６にて検出した同期パターンを取得し、ＭＳＢデータとＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別し、その判別結果を操作部２に通知する（ＳＴ１０）。

このように、本実施の形態によれば、入力ＰＡＭ４シンボルのＭＳＢデータとＬＳＢデータのそれぞれにおいて、ＭＳＢデータなのか、ＬＳＢデータなのかの判定を交互に行うことにより、ＭＳＢデータとＬＳＢデータのビット列が入れ替わっていても、入力パターンに対して同期を行い、エラー測定を行うことができる。そして、ＭＳＢデータとＬＳＢデータのビット列の入れ替わりを自動検出することにより、パターン設定に起因する同期の問題を自動で解決し、ユーザが調整しなければならないパラメータを減らし、測定の難易度を下げることができる。

以上、本発明に係る誤り検出装置および誤り検出方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

１ 誤り検出装置
２ 操作部
２ａ 設定部
２ｂ 表示部
２ｂ１，２ｂ２，２ｂ３ ＬＥＤ
３ パターン発生器
３ａ パターン発生部
４ エラー検出器
１１ ＰＡＭ４デコーダ
１２ グレイコードデコーダ
１３ 第１の遅延部
１４ データ選択部
１５ 第１の同期パターン検出部
１６ 第２の同期パターン検出部
１７ ＭＳＢメモリ
１７ａ ＭＳＢメモリの第１領域
１７ｂ ＭＳＢメモリの第２領域
１８ ＬＳＢメモリ
１８ａ ＬＳＢメモリの第１領域
１８ｂ ＬＳＢメモリの第２領域
１９ グレイコードエンコーダ
２０ 第２の遅延部
２１ エラー検出部
２２ 同期状態管理部
３１（３１ａ，３１ｂ） パターン発生器
３２（３２ａ，３２ｂ） エラー検出器
Ｗ 被測定物（ＤＵＴ）
Ｗａ ギアボックス
Ｗ１～Ｗ３ ２：１ＭＵＸ
Ｗ４～Ｗ６ １：２ＤＥＭＵＸ

Claims (8)

1. リファレンスパターンのＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターン、グレイコードの有無、同期条件閾値を設定する設定部（２ａ）を含む操作部（２）と、異なるパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータの組み合わせからなる既知のＰＡＭ４シンボル列を発生するパターン発生器（３）と、該パターン発生器が発生したＰＡＭ４シンボル列を被測定物（Ｗ）に入力して該被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列を検出するエラー検出器（４）と、を備えた誤り検出器（１）であって、
   前記エラー検出器は、
   前記被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列をＭＳＢデータとＬＳＢデータに分離して出力するＰＡＭ４デコーダ（１１）と、
   前記設定部にてグレイコード有りが設定されているときに、グレイコードのデコードを行うグレイコードデコーダ（１２）と、
   前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを、前記グレイコードデコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延する第１の遅延部（１３）と、
   前記グレイコードデコーダの出力または前記第１の遅延部の出力を選択するデータ選択部（１４）と、
   前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを入力として、ＭＳＢ側の同期パターンの一致検出を行う第１の同期パターン検出部（１５）と、
   前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを入力とし、前記第１の同期パターン検出部と並行してＬＳＢ側の同期パターンの一致検出を行う第２の同期パターン検出部（１６）と、
   グレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納する第１領域（１７ａ）と、グレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納する第２領域（１７ｂ）とを有するＭＳＢメモリ（１７）と、
   グレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納する第１領域（１８ａ）と、グレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納する第２領域（１８ｂ）とを有するＬＳＢメモリ（１８）と、
   前記ＭＳＢメモリと前記ＬＳＢメモリから出力されるエラー測定用リファレンスパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータのグレイコードのエンコードを行うグレイコードエンコーダ（１９）と、
   前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを、前記グレイコードエンコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延する第２の遅延部（２０）と、
   前記第２の遅延部からのＭＳＢデータとＬＳＢデータとグレイコードエンコーダからのエラー測定用リファレンスパターンとを比較してエラーの検出および解析を行うエラー検出部（２１）と、
   前記エラー検出部にて検出したエラーの量が前記同期条件閾値以下のときに前記操作部、前記第１の同期パターン検出部、前記第２の同期パターン検出部に同期確立を通知し、前記エラーの量が前記同期条件閾値以下でないときに前記操作部に同期未確立を通知する同期状態管理部（２２）と、を備え、
   前記第１の同期パターン検出部は、前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータと前記設定部にて設定されたＭＳＢ同期パターンとを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＬＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返し、
   前記第２の同期パターン検出部は、前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータと前記設定部にて設定されたＬＳＢ同期パターンとを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＭＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返すことを特徴とする誤り検出装置。
2. 前記ＰＡＭ４シンボル列がＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンからなることを特徴とする請求項１に記載の誤り検出装置。
3. 前記同期状態管理部（２２）は、前記第１の同期パターン検出部（１５）にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部（１６）にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別し、
   前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を表示する表示部（２ｂ）を備えたことを特徴とする請求項１に記載の誤り検出装置。
4. 前記同期状態管理部（２２）は、前記第１の同期パターン検出部（１５）にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部（１６）にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別し、
   前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を前記ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンのレーン単位または全レーンについて表示する表示部（２ｂ）を備えたことを特徴とする請求項２に記載の誤り検出装置。
5. リファレンスパターンのＭＳＢ同期パターンとＬＳＢ同期パターン、グレイコードの有無、同期条件閾値を設定する設定部（２ａ）を含む操作部（２）と、異なるパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータの組み合わせからなる既知のＰＡＭ４シンボル列を発生するパターン発生器（３）と、該パターン発生器が発生したＰＡＭ４シンボル列を被測定物（Ｗ）に入力して該被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列を検出するエラー検出器（４）と、を備えた誤り検出器（１）の誤り検出方法であって、
   前記エラー検出器のＰＡＭ４デコーダ（１１）が、前記被測定物から折り返されるＰＡＭ４シンボル列をＭＳＢデータとＬＳＢデータに分離して出力するステップと、
   前記設定部にてグレイコード有りが設定されているときに、前記エラー検出器のグレイコードデコーダ（１２）がグレイコードのデコードを行うステップと、
   前記エラー検出器の第１の遅延部（１３）が、前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記グレイコードデコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延するステップと、
   前記エラー検出器のデータ選択部（１４）が前記グレイコードデコーダの出力または前記第１の遅延部の出力を選択するステップと、
   前記エラー検出器の第１の同期パターン検出部（１５）が、前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを入力として、ＭＳＢ側の同期パターンの一致検出を行うステップと、
   前記エラー検出器の第２の同期パターン検出部（１６）が、前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを入力とし、前記第１の同期パターン検出部と並行してＬＳＢ側の同期パターンの一致検出を行うステップと、
   前記エラー検出器のＭＳＢメモリ（１７）の第１領域（１７ａ）にグレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納し、前記ＭＳＢメモリの第２領域（１７ｂ）にグレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納するステップと、
   前記エラー検出器のＬＳＢメモリ（１８）の第１領域（１８ａ）にグレイコードが実施されていないＬＳＢデータを格納し、前記ＬＳＢメモリの第２領域（１８ｂ）にグレイコードが実施されていないＭＳＢデータを格納するステップと、
   前記エラー検出器のグレイコードエンコーダ（１９）が、前記ＭＳＢメモリと前記ＬＳＢメモリから出力されるエラー測定用リファレンスパターンのＭＳＢデータとＬＳＢデータのグレイコードのエンコードを行うステップと、
   前記エラー検出器の第２の遅延部（２０）が、前記ＰＡＭ４デコーダにて分離されたＭＳＢデータとＬＳＢデータを前記グレイコードエンコーダと同じ出力タイミングで出力するように遅延するステップと、
   前記エラー検出器のエラー検出部（２１）が、前記第２の遅延部からのＭＳＢデータとＬＳＢデータとグレイコードエンコーダからのエラー測定用リファレンスパターンとを比較してエラーの検出および解析を行うステップと、
   前記エラー検出器の同期状態管理部（２２）が、前記エラー検出部にて検出したエラーの量が前記同期条件閾値以下のときに前記操作部、前記第１の同期パターン検出部、前記第２の同期パターン検出部に同期確立を通知し、前記エラーの量が前記同期条件閾値以下でないときに前記操作部に同期未確立を通知するステップと、
   前記エラー検出部の第１の同期パターン検出部が、前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータと前記設定部にて設定されたＭＳＢ同期パターンとを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＬＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＭＳＢデータを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＭＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返すステップと、
   前記エラー検出部の前記第２の同期パターン検出部が、前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータと前記設定部にて設定されたＬＳＢ同期パターンとを比較して該ＬＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第１領域の読み出しを指示し、前記ＬＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＬＳＢ同期パターンをＭＳＢ同期パターンに入れ替え、入れ替えたＭＳＢ同期パターンと前記データ選択部にて選択されたＬＳＢデータを比較して該ＭＳＢ同期パターンと一致するパターンを検出したときに前記ＬＳＢメモリの第２領域の読み出しを指示し、前記ＭＳＢ同期パターンの検索を開始してから所定時間経過しても前記同期状態管理部から同期確立の通知がなければ前記ＭＳＢ同期パターンをＬＳＢ同期パターンに再度入れ替えて同期パターンの一致検出の動作を繰り返すステップと、を含むことを特徴とする誤り検出方法。
6. 前記ＰＡＭ４シンボル列がＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンからなることを特徴とする請求項５に記載の誤り検出方法。
7. 前記同期状態管理部（２２）が、前記第１の同期パターン検出部（１５）にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部（１６）にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別するステップと、
   前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を表示部（２ｂ）に表示するステップと、を含むことを特徴とする請求項５に記載の誤り検出方法。
8. 前記同期状態管理部（２２）が、前記第１の同期パターン検出部（１５）にて検出した同期パターンと前記第２の同期パターン検出部（１６）にて検出した同期パターンに基づいて前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータのビット列の入れ替えの有無を判別するステップと、
   前記ＭＳＢデータと前記ＬＳＢデータの入れ替わりの有無の判別結果を前記ＲＳ－ＦＥＣエンコード付きのスクランブルアイドルパターンのレーン単位または全レーンについて表示部（２ｂ）に表示するステップと、を含むことを特徴とする請求項６に記載の誤り検出方法。

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