JP7287271B2 - ワークの洗浄装置および洗浄方法 - Google Patents
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Description
[1]鉛直方向に延在する筒状の第1の筒状部と、該第1の筒状部の上部を覆う蓋部とを有する第1の固定体と、
前記第1の固定体の前記第1の筒状部よりも大きな径を有し、前記第1の固定体の前記第1の筒状部を内部に収容する筒状の第2の固定体と、
前記第1の固定体の前記第1の筒状部よりも大きな径かつ前記第2の固定体よりも小さな径を有する筒状の第2の筒状部と、該第2の筒状部の上部に配置された回転テーブルと、該回転テーブルの表面に設けられ、洗浄対象のワークを保持するワーク保持体とを有し、前記第2の筒状部が前記第1の固定体の前記第1の筒状部と前記第2の固定体との間に配置された回転体であって、該回転体は、前記第1の固定体の前記第1の筒状部と前記回転体との間の空隙に配置された上下一対の第1のベアリング、および前記第2の固定体と前記回転体の前記第2の筒状部との間の空隙に配置された上下一対の第2のベアリングによって前記第1の固定体および前記第2の固定体に回転自在に支持されている、回転体と、
前記ワークの表面にむけて洗浄液を噴射する上部ノズルと、
前記第1の固定体の内部に配されるとともに前記蓋体に固定され、前記ワークの裏面に向けて洗浄液を噴射する下部ノズルと、を備えるワークの洗浄装置において、
前記第1の固定体に設けられ、前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を前記空隙から排気するための排気口と、
前記第1の固定体内に配置され、一端が前記排気口に接続された排気管と、
前記排気管の他端に接続され、前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を吸引する吸引手段と、
を備えることを特徴とするワークの洗浄装置。
前記回転体を第1の回転速度で回転させて前記ワークを回転させつつ、前記上部ノズルから前記ワークの表面にむけて洗浄液を噴射するとともに、前記下部ノズルから前記ワークの裏面にむけて洗浄液を噴射して、前記ワークの両面を洗浄する洗浄工程と、
前記回転体を前記第1の回転速度よりも高い第2の回転速度で回転させて洗浄後の前記ワークを乾燥させる乾燥工程とを含むワークの洗浄方法において、
前記乾燥工程における少なくとも前記ワークの回転速度が600rpm以上の期間において、前記吸引手段を駆動させて前記排気口から前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を排気することを特徴とするワークの洗浄方法。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。本発明によるワークの洗浄装置は、鉛直方向に延在する筒状の第1の筒状部と、該第1の筒状部の上部を覆う蓋部とを有する第1の固定体と、前記第1の固定体の前記第1の筒状部よりも大きな径を有し、前記第1の固定体の前記第1の筒状部を内部に収容する筒状の第2の固定体と、前記第1の固定体の前記第1の筒状部よりも大きな径かつ前記第2の固定体よりも小さな径を有する筒状の第2の筒状部と、該第2の筒状部の上部に配置された回転テーブルと、該回転テーブルの表面に設けられ、洗浄対象のワークを保持するワーク保持体とを有し、前記第2の筒状部が前記第1の固定体の前記第1の筒状部と前記第2の固定体との間に配置された回転体であって、該回転体は、前記第1の固定体の前記第1の筒状部と前記回転体との間の空隙に配置された上下一対の第1のベアリング、および前記第2の固定体と前記回転体の前記第2の筒状部との間の空隙に配置された上下一対の第2のベアリングによって前記第1の固定体および前記第2の固定体に回転自在に支持されている、回転体と、前記ワークの表面にむけて洗浄液を噴射する上部ノズルと、前記第1の固定体の内部に配されるとともに前記蓋体に固定され、前記ワークの裏面に向けて洗浄液を噴射する下部ノズルとを備えるワークの洗浄装置である。ここで、前記第1の固定体に設けられ、前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を前記空隙から排気するための排気口と、前記第1の固定体内に配置され、一端が前記排気口に接続された排気管と、前記排気管の他端に接続され、前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を吸引する吸引手段とを備えることを特徴とする。
本発明によるワークの洗浄方法は、上述した本発明によるワークの洗浄装置を用いてワークの両面を洗浄する方法であり、回転体13を第1の回転速度で回転させてワークWを回転させつつ、上部ノズル18からワークWの表面にむけて洗浄液を噴射するとともに、下部ノズル19からワークWの裏面にむけて洗浄液を噴射して、ワークWの両面を洗浄する洗浄工程と、回転体13を第1の回転速度よりも高い第2の回転速度で回転させて洗浄後のワークWを乾燥させる乾燥工程とを含む。ここで、乾燥工程における少なくともワークWの回転速度が600rpm以上の期間において、吸引手段22を駆動させて排気口20から第1の固定体11と回転体13との間の空隙の気体を排気することを特徴とする。
図1に示したワークの洗浄装置1を用い、シリコンウェーハの洗浄を行った。図3は、シリコンウェーハの洗浄レシピを示しており、洗浄工程の加速時間(図3の(0)~(1))は8秒、300rpmでの保持時間(図3の(1)~(2))は77秒とし、乾燥工程の加速時間(図3の(2)~(3))は10秒、1500rpmでの保持時間(図3の(3)~(4))は25秒、減速時間(図3の(4)~(5))は7秒とした。
11 第1の固定体
11a 第1の筒状部
11b 蓋体
12 第2の固定体
13 回転体
13a 第2の筒状部
13b 回転テーブル
13c ワーク保持体
13d 凹部
14 第1のベアリング
15 第2のベアリング
16 回転ベルト
17 モータ
18 上部ノズル
19 下部ノズル
20 排気口
21 排気管
22 吸引手段
23 水受けカバー
24 水受けカップ
24a 排液管
24b 排気管
W ワーク
Claims (4)
- 鉛直方向に延在する筒状の第1の筒状部と、該第1の筒状部の上部を覆う蓋体とを有する第1の固定体と、
前記第1の固定体の前記第1の筒状部よりも大きな径を有し、前記第1の固定体の前記第1の筒状部を内部に収容する筒状の第2の固定体と、
前記第1の固定体の前記第1の筒状部よりも大きな径かつ前記第2の固定体よりも小さな径を有する筒状の第2の筒状部と、該第2の筒状部の上部に配置された回転テーブルと、該回転テーブルの表面に設けられ、洗浄対象のワークを保持するワーク保持体とを有し、前記第2の筒状部が前記第1の固定体の前記第1の筒状部と前記第2の固定体との間に配置された回転体であって、該回転体は、前記第1の固定体の前記第1の筒状部と前記回転体との間の空隙に配置された上下一対の第1のベアリング、および前記第2の固定体と前記回転体の前記第2の筒状部との間の空隙に配置された上下一対の第2のベアリングによって前記第1の固定体および前記第2の固定体に回転自在に支持されている、回転体と、
前記ワークの表面にむけて洗浄液を噴射する上部ノズルと、
前記第1の固定体の内部に配されるとともに前記蓋体に固定され、前記ワークの裏面に向けて洗浄液を噴射する下部ノズルと、を備えるワークの洗浄装置において、
前記第1の固定体に設けられ、前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を前記空隙から排気するための排気口と、
前記第1の固定体内に配置され、一端が前記排気口に接続された排気管と、
前記排気管の他端に接続され、前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を吸引する吸引手段と、
を備え、
前記排気口は、前記第1のベアリングの上側のベアリングよりも高い位置に設けられており、
前記排気口は、前記第1の筒状部および前記蓋体の双方に設けられていることを特徴とするワークの洗浄装置。 - 同一の高さ位置にて、4つ以上の排気口が周方向に等間隔に設けられている、請求項1に記載のワークの洗浄装置。
- 請求項1または2に記載のワークの洗浄装置を用いてワークの両面を洗浄する方法であって、
前記回転体を第1の回転速度で回転させて前記ワークを回転させつつ、前記上部ノズルから前記ワークの表面にむけて洗浄液を噴射するとともに、前記下部ノズルから前記ワークの裏面にむけて洗浄液を噴射して、前記ワークの両面を洗浄する洗浄工程と、
前記回転体を前記第1の回転速度よりも高い第2の回転速度で回転させて洗浄後の前記ワークを乾燥させる乾燥工程とを含むワークの洗浄方法において、
前記乾燥工程における少なくとも前記ワークの回転速度が600rpm以上の期間において、前記吸引手段を駆動させて前記排気口から前記第1の固定体と前記回転体との間の空隙の気体を排気することを特徴とするワークの洗浄方法。 - 前記ワークはシリコンウェーハである、請求項3に記載のワークの洗浄方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019236529A JP7287271B2 (ja) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | ワークの洗浄装置および洗浄方法 |
TW109143213A TWI760960B (zh) | 2019-12-26 | 2020-12-08 | 工件的洗淨裝置以及洗淨方法 |
CN202011551803.8A CN113053779B (zh) | 2019-12-26 | 2020-12-24 | 工件的清洗装置以及清洗方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019236529A JP7287271B2 (ja) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | ワークの洗浄装置および洗浄方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021106206A JP2021106206A (ja) | 2021-07-26 |
JP7287271B2 true JP7287271B2 (ja) | 2023-06-06 |
Family
ID=76508227
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019236529A Active JP7287271B2 (ja) | 2019-12-26 | 2019-12-26 | ワークの洗浄装置および洗浄方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7287271B2 (ja) |
CN (1) | CN113053779B (ja) |
TW (1) | TWI760960B (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016001703A (ja) | 2014-06-12 | 2016-01-07 | 株式会社荏原製作所 | 基板乾燥装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2019
- 2019-12-26 JP JP2019236529A patent/JP7287271B2/ja active Active
-
2020
- 2020-12-08 TW TW109143213A patent/TWI760960B/zh active
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016001703A (ja) | 2014-06-12 | 2016-01-07 | 株式会社荏原製作所 | 基板乾燥装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021106206A (ja) | 2021-07-26 |
TWI760960B (zh) | 2022-04-11 |
CN113053779A (zh) | 2021-06-29 |
CN113053779B (zh) | 2024-03-08 |
TW202124059A (zh) | 2021-07-01 |
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A621 | Written request for application examination |
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