JP7280068B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Description
まず、後述する検査装置1において検査されるプリント基板9について、説明する。
続いて、本発明の一実施形態に係る検査装置1について、説明する。
続いて、上記の検査装置1において、ミラー基板であるプリント基板9の欠陥検査を行う場合の処理について、説明する。図3は、ミラー基板に対する検査処理の流れを示したフローチャートである。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではない。
上記の実施形態では、ミラー基板の検査を行うときに、制御部10が、検査領域96A,96B中の特定領域95を、検査用画像D1,D2に基づいて抽出して指定していた。しかしながら、制御部10は、ミラー基板の設計データに基づいて、特定領域95を指定してもよい。また、上記の実施形態では、制御部10が、特定領域95を自動的に抽出して指定していた。しかしながら、特定領域95は、作業者が指定してもよい。すなわち、制御部10は、作業者からの指示入力に従って、特定領域95を指定してもよい。
また、上記の実施形態では、第1欠陥検出部33および第2欠陥検出部53は、特定領域95において欠陥を検出した場合に、必ずアラート情報A1,A2を出力していた。しかしながら、第1欠陥検出部33および第2欠陥検出部53は、配線パターン92および電子部品93の欠陥と、シルクパターン94の欠陥とを、区別して認識してもよい。そして、特定領域95においてシルクパターン94の欠陥が検出された場合にのみ、アラート情報A1,A2を出力するようにしてもよい。
上記の実施形態では、特定領域95において欠陥が発生したか否かを、欠陥検出部33,53が判定していた。そして、欠陥検出部33,53から制御部10へ、特定領域95において欠陥が検出されたことを示すアラート情報A1,A2を、送信していた。しかしながら、欠陥検出部33,53は、特定領域95における欠陥検出の有無を判断することなく、検査結果R1,R2を制御部10へ送信してもよい。その場合、制御部10が、受信した検査結果R1,R2に基づいて、特定領域95における欠陥検出の有無を判定すればよい。
基板投入部20に一括してセットされた複数枚のプリント基板9の向きが、全て間違っている場合、全てのプリント基板9について、特定領域95に欠陥が検出されることとなる。この場合、これらのプリント基板9の検査が全て完了してから、検査をやり直すと、時間のロスが大きい。このため、制御部10は、特定領域95において欠陥が検出されるプリント基板9が、所定枚数連続した場合に、警告動作を行うとともに、第1搬送機構31、反転機構40、第2搬送機構51、および基板排出部60の動作を停止させてもよい。
上述した図1の例では、ミラー基板であるプリント基板9が、特定領域95を除いてパターンが一致する2つの検査領域96A,96Bを有していた。しかしながら、本発明におけるミラー基板は、このような2つの検査領域を有するものには限られない。ミラー基板に含まれる検査領域の数は、1つ、4つ、6つなどでもよい。
9 プリント基板
10 制御部
11 モータコントローラ
20 基板投入部
31 第1搬送機構
32 第1撮影部
33 第1欠陥検出部
40 反転機構
51 第2搬送機構
52 第2撮影部
53 第2欠陥検出部
60 基板排出部
61 第1収納部
62 第2収納部
63 第3収納部
70 検査処理部
91 ベースプレート
92 配線パターン
93 電子部品
94 シルクパターン
95 特定領域
96A 検査領域
96B 検査領域
D1 第1検査用画像
D2 第2検査用画像
P1 第1撮影画像
P2 第2撮影画像
R1 第1検査結果
R2 第2検査結果
Claims (16)
- プリント基板の欠陥検査を行う検査装置であって、
前記プリント基板の設計データに基づく検査用画像を準備するプリペア部と、
前記プリント基板を搬送する搬送機構と、
前記搬送機構により搬送される前記プリント基板を撮影して、前記プリント基板の画像を取得する撮影部と、
前記撮影部により取得された撮影画像と、前記検査用画像とを比較することにより、前記プリント基板の欠陥を検出する検査処理部と、
を備え、
前記プリペア部は、前記プリント基板が、180°回転させたときに特定領域を除いて一致する少なくとも2つの検査領域を有する基板である場合に、前記特定領域を指定し、
前記検査処理部は、前記特定領域において欠陥が検出された場合に、前記プリント基板の向きが間違えてセットされている可能性があることを示すアラート情報を出力し、前記特定領域において欠陥が検出されなかった場合に、前記アラート情報を出力しない、検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記検査処理部は、前記プリント基板を、検査結果に応じて、
欠陥の検出が無い第1グループと、
欠陥の検出が予め設定された許容範囲内である第2グループと、
欠陥の検出が前記許容範囲を超えている第3グループと、
に分類し、
前記特定領域において欠陥が検出された場合は、前記プリント基板を必ず前記第3グループに分類する、検査装置。 - 請求項1または請求項2に記載の検査装置であって、
前記プリペア部は、作業者からの指示入力に従って、前記特定領域を指定する、検査装置。 - 請求項1または請求項2に記載の検査装置であって、
前記プリペア部は、前記設計データまたは前記検査用画像に基づいて、前記特定領域を自動的に抽出して指定する、検査装置。 - 請求項4に記載の検査装置であって、
前記プリペア部は、前記検査用画像に含まれる前記2つの検査領域のいずれか一方を180°回転させて、前記2つの検査領域を比較し、互いに相違する部分を前記特定領域として指定する、検査装置。 - 請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の検査装置であって、
前記検査処理部は、
前記プリント基板の配線パターンおよび電子部品の欠陥と、前記プリント基板の上面に印刷されたシルクパターンの欠陥とを、区別して認識し、
前記特定領域において前記シルクパターンの欠陥が検出された場合に、前記アラート情報を出力し、前記特定領域において前記シルクパターンの欠陥が検出されなかった場合に、前記アラート情報を出力しない、検査装置。 - 請求項1から請求項6までのいずれか1項に記載の検査装置であって、
前記検査処理部は、前記特定領域において欠陥が検出された場合に、前記アラート情報に基づいて警報動作を行う、検査装置。 - 請求項1から請求項7までのいずれか1項に記載の検査装置であって、
前記搬送機構を動作制御する制御部
をさらに備え、
前記制御部は、前記特定領域において欠陥が検出される前記プリント基板が、所定枚数連続した場合に、前記搬送機構の動作を停止させる、検査装置。 - プリント基板の欠陥検査を行う検査方法であって、
a)前記プリント基板の設計データに基づく検査用画像を準備する工程と、
b)前記プリント基板を搬送しつつ、前記プリント基板を撮影して、前記プリント基板の画像を取得する工程と、
c)前記工程b)により取得された撮影画像と、前記検査用画像とを比較することにより、前記プリント基板の欠陥を検出する工程と、
を有し、
前記工程a)では、前記プリント基板が、180°回転させたときに特定領域を除いて一致する少なくとも2つの検査領域を有する基板である場合に、前記特定領域を指定し、
前記工程c)では、前記特定領域において欠陥が検出された場合に、前記プリント基板の向きが間違えてセットされている可能性があることを示すアラート情報を出力し、前記特定領域において欠陥が検出されなかった場合に、前記アラート情報を出力しない、検査方法。 - 請求項9に記載の検査方法であって、
前記工程c)では、前記プリント基板を、検査結果に応じて、
欠陥の検出が無い第1グループと、
欠陥の検出が予め設定された許容範囲内である第2グループと、
欠陥の検出が前記許容範囲を超えている第3グループと、
に分類し、
前記特定領域において欠陥が検出された場合は、前記プリント基板を必ず前記第3グループに分類する、検査方法。 - 請求項9または請求項10に記載の検査方法であって、
前記工程a)では、作業者が、前記特定領域を指定する、検査方法。 - 請求項9または請求項10に記載の検査方法であって、
前記工程a)では、前記検査用画像を準備するコンピュータが、前記設計データまたは前記検査用画像に基づいて、前記特定領域を自動的に抽出して指定する、検査方法。 - 請求項12に記載の検査方法であって、
前記工程a)では、前記コンピュータが、前記検査用画像に含まれる前記2つの検査領域のいずれか一方を180°回転させて、前記2つの検査領域を比較し、互いに相違する部分を前記特定領域として指定する、検査方法。 - 請求項9から請求項13までのいずれか1項に記載の検査方法であって、
前記工程c)では、
前記プリント基板の配線パターンおよび電子部品の欠陥と、前記プリント基板の上面に印刷されたシルクパターンの欠陥とを、区別して認識し、
前記特定領域において前記シルクパターンの欠陥が検出された場合に、前記アラート情報を出力し、前記特定領域において前記シルクパターンの欠陥が検出されなかった場合に、前記アラート情報を出力しない、検査方法。 - 請求項9から請求項14までのいずれか1項に記載の検査方法であって、
前記工程c)では、前記特定領域において欠陥が検出された場合に、前記アラート情報に基づいて警報動作を行う、検査方法。 - 請求項9から請求項15までのいずれか1項に記載の検査方法であって、
前記特定領域において欠陥が検出される前記プリント基板が、所定枚数連続した場合に、前記プリント基板の搬送を停止する、検査方法。
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