JP7276144B2 - 液晶硬化フィルムおよびその製造方法、偏光板、並びに有機エレクトロルミネッセンス表示装置 - Google Patents
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Description
すなわち、本発明は、下記のものを含む。
前記液晶硬化層に含まれる前記液晶性化合物の少なくとも一部の分子が、前記液晶硬化層の層平面に対して傾斜しており、
前記液晶硬化層が、第一硬化層と、前記第一硬化層に直接に接した第二硬化層とを含み、
前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が、前記第一硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角よりも大きい、液晶硬化フィルム。
〔2〕 前記第一硬化層が、前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の傾斜角を大きくする配向膜として機能できる、〔1〕に記載の液晶硬化フィルム。
〔3〕 前記液晶硬化層における前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が、40°以上85°以下である、〔1〕又は〔2〕に記載の液晶硬化フィルム。
〔4〕 前記液晶硬化層が、前記第一硬化層、前記第二硬化層、及び、前記第二硬化層に直接に接した第三硬化層を、この順に含む、〔1〕~〔3〕のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルム。
〔5〕 前記液晶硬化層の厚みが10μm以下である、〔1〕~〔4〕のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルム。
〔6〕 前記液晶硬化層が、1/4波長板として機能できる、〔1〕~〔5〕のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルム。
〔7〕 〔1〕~〔6〕のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルムの製造方法であって、
支持面に、前記液晶性化合物を含む第一液晶組成物の層を形成する工程と、
前記第一液晶組成物の層に含まれる前記液晶性化合物を配向させる工程と、
前記第一液晶組成物の層を硬化させて、第一硬化層を形成する工程と、
前記第一硬化層上に、直接に、前記第一液晶組成物に含まれる前記液晶性化合物と同一または異なる液晶性化合物を含む第二液晶組成物の層を形成する工程と、
前記第二液晶組成物の層に含まれる前記液晶性化合物を配向させる工程と、
前記第二液晶組成物の層を硬化させて、第二硬化層を形成する工程と、を含む、液晶硬化フィルムの製造方法。
〔8〕 前記第二硬化層上に、直接に、前記第一液晶組成物に含まれる前記液晶性化合物及び前記第二液晶組成物に含まれる前記液晶性化合物と同一または異なる液晶性化合物を含む第三液晶組成物の層を形成する工程と、
前記第三液晶組成物の層に含まれる前記液晶性化合物を配向させる工程と、
前記第三液晶組成物の層を硬化させて、第三硬化層を形成する工程と、を含む、〔7〕に記載の液晶硬化フィルムの製造方法。
〔9〕 逆波長分散性の複屈折を発現できる液晶性化合物を含む液晶組成物の硬化物で形成され、配向状態を固定されていてもよい前記液晶性化合物の分子を含む液晶硬化層と、直線偏光子とを含み、
前記液晶硬化層に含まれる前記液晶性化合物の少なくとも一部の分子が、前記液晶硬化層の層平面に対して傾斜しており、
前記液晶硬化層が、第一硬化層と、前記第一硬化層に直接に接した第二硬化層とを含み、
前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が、前記第一硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角よりも大きい、偏光板。
〔10〕 〔9〕記載の偏光板を含む、有機エレクトロルミネッセンス表示装置。
Δn(450)<Δn(550) (N1)
Δn(450)>Δn(550) (N2)
本発明の液晶硬化フィルムは、逆分散液晶性化合物(即ち、逆波長分散性の複屈折を発現できる液晶性化合物)を含む液晶組成物の硬化物で形成された液晶硬化層を含むフィルムである。
逆分散液晶性化合物は、液晶性を有する化合物であり、通常、当該逆分散液晶性化合物を配向させた場合に、液晶相を呈することができる化合物である。
液晶性化合物の膜を作成し、その膜に含まれる液晶性化合物をホモジニアス配向させる。その後、その膜の面内レターデーションを測定する。そして、「(膜の面内レターデーション)÷(膜の厚み)」から、液晶性化合物の複屈折を求めることができる。この際、面内レターデーション及び厚みの測定を容易にするために、ホモジニアス配向させた液晶性化合物の膜は、硬化させてもよい。
R**は、炭素原子数1~3のアルキル基、及び、置換基を有していてもよいフェニル基からなる群より選ばれる基を表す。
R***は、炭素原子数1~3のアルキル基、及び、置換基を有していてもよいフェニル基からなる群より選ばれる基を表す。
R****は、水素原子、炭素原子数1~3のアルキル基、水酸基、及び、-COOR13からなる群より選ばれる基を表す。R13は、炭素原子数1~3のアルキル基を表す。
フェニル基が有しうる置換基としては、例えば、ハロゲン原子、アルキル基、アルケニル基、アリール基、ヘテロ環基、ヒドロキシル基、カルボキシル基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アシルオキシ基、シアノ基及びアミノ基が挙げられる。中でも、置換基としては、ハロゲン原子、アルキル基、シアノ基及びアルコキシ基が好ましい。フェニル基が有する置換基の数は、一つでもよく、複数でもよい。また、複数の置換基は、互いに同一であってもよく、異なっていてもよい。
(3)置換アルキル基における「炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環基」としては、例えば、D1~D3における炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環基と同じ例が挙げられる。
(3)置換アルキル基における「炭素原子数2~30の芳香族複素環基」としては、例えば、D1~D3における炭素原子数2~30の芳香族複素環基と同じ例が挙げられる。
(4)置換アルケニル基における「炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環基」としては、例えば、D1~D3における炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環基と同じ例が挙げられる。
(4)置換アルケニル基における「炭素原子数2~30の芳香族複素環基」としては、例えば、D1~D3における炭素原子数2~30の芳香族複素環基と同じ例が挙げられる。
(5)置換アルキニル基における「炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環基」としては、例えば、D1~D3における炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環基と同じ例が挙げられる。
(5)置換アルキニル基における「炭素原子数2~30の芳香族複素環基」としては、例えば、D1~D3における炭素原子数2~30の芳香族複素環基と同じ例が挙げられる。
また、Riの別の好ましい例としては、炭素原子数6~30の芳香族炭化水素環及び炭素原子数2~30の芳香族複素環からなる群より選ばれる1以上の芳香環を有する、炭素原子数2~40の複素環基が挙げられる。
液晶組成物は、逆分散液晶性化合物を含み、更に、必要に応じて任意の成分を含む。任意の成分は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の比率で組合わせて用いてもよい。
フッ素系界面活性剤を1重量%含む試料溶液を調製し、JIS 7260-117:2006{分配係数(1-オクタノール/水)の測定-高速液体クロマトグラフィー}に概ね準拠した方法で、HPLC/ELSD分析(高速液体クロマトグラフィー/蒸発光散乱検出分析)を行って、溶出時間(r.t.)を測定する。他方、JIS 7260-117:2006に記載のある、logPの値が既知の標識化合物に、前記フッ素系界面活性剤と同様にして、HPLC/ELSD分析を行い、溶出時間(r.t.)を測定する。標識化合物の測定結果に基づいて、溶出時間とlogPとの関係を示す検量線を作成する。その後、フッ素系界面活性剤について測定された溶出時間を、前記の検量線に当てはめることにより、フッ素系界面活性剤のlogPを求める。
液晶硬化層は、上述した液晶組成物を硬化した硬化物の層である。前記の液晶組成物の硬化は、通常、当該液晶組成物が含む重合性の化合物の重合によって達成される。よって、液晶硬化層は、通常、液晶組成物が含んでいた成分の一部又は全部の重合体を含む。例えば、逆分散液晶性化合物が重合性を有する場合、その逆分散液晶性化合物が重合するので、液晶硬化層は、重合前の配向状態を維持したまま重合した逆分散液晶性化合物の重合体を含む層でありうる。前述のように、この重合した逆分散液晶性化合物も、用語「液晶硬化層に含まれる逆分散液晶性化合物」に含める。
液晶硬化層を、エポキシ樹脂で包埋して、試料片を得る。この試料片を、ミクロトームを用いて、液晶硬化層の厚み方向に平行にスライスして、観察サンプルを得る。この際、スライスは、液晶硬化層の面内遅相軸方向と断面とが平行となるように行う。その後、スライスにより現れた断面を、偏光顕微鏡を用いて観察する。この観察は、観察サンプルと偏光顕微鏡の対物レンズとの間に波長板を挿入して、観察サンプルのレターデーションに応じた色を呈した像が見られるように行う。このとき、色が異なる部分を、単位硬化層と単位硬化層との境目として確認し、各単位硬化層を区別できる。
図2は、本発明の第一実施形態に係る液晶硬化フィルムが含む液晶硬化層100の模式的な断面図である。例えば、液晶硬化層100は、図2に示すように、第一硬化層110と、この第一硬化層110に直接に接した第二硬化層120とを含んでいてもよい。このような液晶硬化層100は、第一硬化層110を形成する工程の後で、その第一硬化層110の表面110Uに第二硬化層120を形成する工程を行って、製造できる。
第一硬化層における逆分散液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角は、好ましくは15°以上、より好ましくは20°以上、特に好ましくは30°以上である。上限は、特段の制限は無いが、好ましくは60°以下である。
Re(450)/Re(550)<1.00 (N3)
Re(450)/Re(550)<0.90 (N4)
液晶硬化フィルムは、液晶硬化層のみを含むフィルムであってもよく、液晶硬化層に組み合わせて任意の層を含むフィルムであってもよい。任意の層としては、液晶硬化層の製造に用いる基材;位相差フィルム;他の部材と接着するための接着剤層;フィルムの滑り性を良くするマット層;耐衝撃性ポリメタクリレート樹脂層などのハードコート層;反射防止層;防汚層;等が挙げられる。
上述した液晶硬化フィルムは、一実施形態として、適切な支持面に第一硬化層を形成する工程と、その第一硬化層上に、直接に第二硬化層を形成する工程とを含む製造方法によって、製造できる。ここで、ある層上に別の層を形成する態様が「直接に」とは、これら2層の間に他の層が無いことをいう。また、液晶硬化層の製造方法は、第二硬化層上に更に1又は2以上の単位硬化層を形成する工程を含んでいてもよい。この製造方法において、第一硬化層及び第二硬化層等の各単位硬化層の厚みは、同じでもよく、異なっていてもよい。さらに、各単位硬化層の液晶組成物の組成は、同じでもよく、異なっていてもよい。
(i)液晶組成物の層を形成する工程と;
(ii)液晶組成物の層に含まれる逆分散液晶性化合物を配向させる工程と;
(iii)液晶組成物の層を硬化させる工程と;
を含む。したがって、液晶硬化フィルムの製造方法では、これらの工程(i)~(iii)を繰り返して、所望の液晶硬化層を形成する。この際、各単位硬化層の厚みは、同じでもよく、異なっていてもよい。さらに、各単位硬化層の液晶組成物の組成は、同じでもよく、異なっていてもよい。
液晶組成物から重合開始剤を除いた試験組成物を用意する。この試験組成物をロータリーエバポレーターで減圧濃縮して溶媒を除去し、残留成分を得る。この残留成分について、予め、測定温度を変化させながら粘度を測定し、測定温度とその測定温度での粘度との情報を得る。この情報を、以下、適宜「温度-粘度情報」という。この「温度-粘度情報」から、逆分散液晶性化合物を配向させる工程(ii)での液晶組成物の層の温度における粘度を、残留分粘度として読み取る。
(A)逆分散液晶性化合物を配向させる工程(ii)における液晶組成物の層の温度を、適切に調整する。この方法では、通常、液晶組成物の層の温度を十分に高温にすることで、この温度と同一温度条件での試験組成物の残留分粘度を低くして、上述した範囲となるように調整する。
(B)液晶組成物の組成を、適切に調整する。この方法では、通常、液晶組成物に含まれる成分として、逆分散液晶性化合物に適切な種類及び量の添加剤を組み合わせることで、当該添加剤を含む試験組成物の残留分粘度を低くして、上述した範囲となるように調整する。
支持面に、逆分散液晶性化合物を含む第一液晶組成物の層を形成する工程と、
第一液晶組成物の層に含まれる逆分散液晶性化合物を配向させる工程と、
第一液晶組成物の層を硬化させて、第一硬化層を形成する工程と、
第一硬化層上に、直接に、逆分散液晶性化合物を含む第二液晶組成物の層を形成する工程と、
第二液晶組成物の層に含まれる逆分散液晶性化合物を配向させる工程と、
第二液晶組成物の層を硬化させて、第二硬化層を形成する工程と、
を含む製造方法によって、製造できる。以下の説明において、第一硬化層を形成するために用いられる第一液晶組成物に含まれる逆分散液晶性化合物を、「第一の逆分散液晶性化合物」ということがある。また、第二硬化層を形成するために用いられる第二液晶組成物に含まれる逆分散液晶性化合物を、「第二の逆分散液晶性化合物」ということがある。
また、第一硬化層の表面は、第一液晶組成物の層の空気界面に相当するので、特定の化学種が集中しやすい。また、これらの化学種の中には、逆分散液晶性化合物に対して親和性が小さいものがある。そうすると、第一硬化層上に第二液晶組成物の層を形成した場合、第二の逆分散液晶性化合物の分子は、前記の化学種にはなじまず、なるべく離れようとする。そのため、第二の逆分散液晶性化合物の分子は、第一硬化層の表面に弾かれるようにして大きく傾斜しようとするので、第二硬化層において、第二の逆分散液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を大きくできる。
そして、これらの作用により、第二硬化層における第二の逆分散液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を大きくできるので、第一硬化層及び第二硬化層を合わせた液晶硬化層全体における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を大きくできている。
第二硬化層上に、直接に、逆分散液晶性化合物を含む第三液晶組成物の層を形成する工程と、
第三液晶組成物の層に含まれる逆分散液晶性化合物を配向させる工程と、
第三液晶組成物の層を硬化させて、第三硬化層を形成する工程と、
を含む製造方法によって、製造できる。以下の説明において、第三硬化層を形成するために用いられる第三液晶組成物に含まれる逆分散液晶性化合物を、「第三の逆分散液晶性化合物」ということがある。
例えば、液晶硬化フィルムの製造方法は、支持面から液晶硬化層を剥離する工程を含んでいてもよい。上述した製造方法では、通常、基材の支持面上に形成された液晶硬化層が得られる。この基材及び液晶硬化層を含む複層フィルムを、液晶硬化フィルムとして用いてもよいが、液晶硬化層を支持面から剥離して、液晶硬化層自体を、液晶硬化フィルムとして用いてもよい。
本発明の偏光板は、上述した液晶硬化層と直線偏光子とを含む。この偏光板は、円偏光板又は楕円偏光板として機能できることが好ましい。このような偏光板は、有機EL表示装置に設けることにより、有機EL表示装置の表示面の正面方向において外光の反射を抑制できる。このとき、液晶硬化層が逆分散液晶性化合物を含むので、広い波長範囲において外光の反射抑制が可能である。また、上述した液晶硬化層は、逆分散液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が大きいことから分かるように、層全体として逆分散液晶性化合物の分子の傾斜角が大きいので、その面内方向だけでなく厚み方向においても複屈折を適切に調整することができる。よって、この液晶硬化層を含む偏光板は、有機EL表示装置の表示面の正面方向だけでなく傾斜方向においても外光の反射を抑制できる。したがって、この偏光板を用いることにより、視野角の広い有機EL表示装置を実現することができる。
また、直線偏光子の厚みは、好ましくは5μm~80μmである。
本発明の有機EL表示装置は、上述した偏光板を含む。有機EL表示装置は、通常、表示素子として有機EL素子を含み、この有機EL素子の視認側に、偏光板が設けられる。また、偏光板は、有機EL素子側から、液晶硬化層及び直線偏光子をこの順に含む。そして、このような構成において、前記の偏光板が反射抑制フィルムとして機能できる。
〔厚みの測定方法〕
液晶硬化層に含まれる各層の厚みは、膜厚計(フィルメトリクス社製「F20-EXR」)を用いて測定した。
また、測定された各層の厚みの合計として、液晶硬化層の厚みを計算した。この液晶硬化層の厚みを、以下の基準で評価した。
「A」:10.0μm以下。
「C」:10.0μm超過。
図4は、傾斜方向から液晶硬化層のレターデーションを測定する際の測定方向を説明するための斜視図である。図4において、矢印A1は液晶硬化層300の面内の遅相軸方向を表し、矢印A2は液晶硬化層300の面内の進相軸方向を表し、矢印A3は液晶硬化層300の厚み方向を表す。
A:実質最大傾斜角が40°以上85°以下。
B:実質最大傾斜角が30°以上40°未満。
C:実質最大傾斜角が30°未満。
この第一硬化層を液晶硬化層の代わりに用いること以外は、前記の液晶硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角の測定方法と同じ方法により、第一硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を測定した。この測定は、液晶硬化層の製造途中に、第一硬化層を得た後、その第一硬化層の表面にラビング処理を施して更に液晶組成物を塗工する前の時点で、行った。
液晶硬化層全体の液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角と、第一硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角とを測定した。そして、測定したこれらの実質最大傾斜角と、第一硬化層及び第二硬化層の厚みとを用いて、第二硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を計算した。
液晶硬化層全体の液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角と、第一硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角と、第二硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角とを測定した。そして、測定したこれらの実質最大傾斜角と、第一硬化層、第二硬化層及び第三硬化層の厚みとを用いて、第三硬化層における液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を計算した。
ライトテーブル上に一対の直線偏光子(偏光子及び検光子)を、パラニコルとなるように重ねた。ここでパラニコルとは、直線偏光子の偏光透過軸が平行となる態様を表す。
実施例又は比較例で製造した液晶硬化フィルムを、16cm角サイズに裁断し、測定用のフィルム片を得た。このフィルム片を、前記のようにライトテーブル上に設置した直線偏光子の間に置いた。この際、フィルム片の遅相軸は、厚み方向から見て直線偏光子の吸収軸に対して略45°の角度をなすように設定した。その後、目視にて観察した。観察された像での均一性(位相差の均一性)に応じて、下記の基準によって液晶硬化層の面状態を評価した。
A:観察された像に、ムラがない。
C:観察された像に、ムラが見られる。
実施例又は比較例で製造した液晶硬化フィルムを、偏光顕微鏡を用いて、クロスニコル下において、透過観察した。この観察の際、対物レンズは20倍に設定した。観察の結果から、下記の基準によって液晶硬化層の配向欠陥を評価した。
A:全面がほぼ均一で、配向欠陥が認められない。
C:配向欠陥がはっきりと認められる。
位相差計(Axometrics社製「AxoScan」)を用いて、液晶硬化層の面内レターデーション(即ち、液晶硬化層の入射角0°でのレターデーション)を、測定波長450nm及び550nmで測定した。測定された測定波長450nm及び550nmでの面内レターデーションRe(450)及びRe(550)の値から、液晶硬化層の逆波長分散性を、以下の基準で評価した。
「A」:Re(450)/Re(550)<0.9
「B」:0.9≦Re(450)/Re(550)≦1.0
「C」:Re(450)/Re(550)>1.0
位相差計(Axometrics社製「AxoScan」)を用いて、図4に示すように、液晶硬化層300のレターデーションを、入射角θが-50°~50°の範囲で測定した。この際、測定方向A4は、液晶硬化層300の面内の進相軸方向A2に対して垂直に設定した。また、測定波長は590nmであった。
「A」:レターデーション比R(θ)/R(0°)がθ=0°に対して非対称であるので、その液晶硬化層300に含まれる液晶性化合物の少なくとも一部の分子が液晶硬化層の層平面に対して(即ち面内方向に対して)傾斜配向している。
「C」:レターデーション比R(θ)/R(0°)がθ=0°に対して対称であるので、その液晶硬化層300に含まれる液晶性化合物の全ての分子が液晶硬化層の層平面に対して(即ち面内方向に対して)平行又は垂直である。
位相差計(Axometrics社製「AxoScan」)を用いて、図4に示すように、液晶硬化層300のレターデーションを、入射角θが-50°~50°の範囲で測定した。この際、測定方向A4は、液晶硬化層300の面内の進相軸方向A2に対して垂直に設定した。また、測定波長は590nmであった。
「A」:0.93≦R(±50°)/R(0°)≦1.10
「B」:0.90≦R(±50°)/R(0°)<0.93
「C」:R(±50°)/R(0°)<0.90
各実施例及び比較例の総合評価は、液晶硬化層に含まれる液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角、並びに、液晶硬化層の厚み、逆波長分散性及び視野角特性の評価結果を総合して、以下の基準で判定した。
「A」:液晶硬化層に含まれる液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角、並びに、液晶硬化層の厚み、逆波長分散性及び視野角特性の評価結果がいずれもAのみ。
「B」:液晶硬化層に含まれる液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角、並びに、液晶硬化層の厚み、逆波長分散性及び視野角特性の評価結果にCがなく、Bが一個以上。
「C」:液晶硬化層に含まれる液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角、並びに、液晶硬化層の厚み、逆波長分散性及び視野角特性の評価結果にCが1個以上。
下記式で表される重合性を有する逆分散液晶性化合物1を100重量部、フッ素系界面活性剤(AGCセイミケミカル社製「S420」)0.15重量部、光重合開始剤(BASF社製「IrgacureOXE04」)4.3重量部、並びに、溶媒としてシクロペンタノン148.5重量部及び1,3-ジオキソラン222.8重量部を混合して、液晶組成物1を製造した。
逆分散液晶性化合物1の代わりに、下記式で表される重合性を有する逆分散液晶性化合物2を用いた。以上の事項以外は、製造例1と同じ操作を行って、液晶組成物2を製造した。
逆分散液晶性化合物1の代わりに、下記式で表される重合性を有する順分散液晶性化合物3を用いた。以上の事項以外は、製造例1と同じ操作を行って、液晶組成物3を製造した。
(支持基材の用意)
支持基材として、片面にマスキングフィルムが貼り合わせられた熱可塑性のノルボルネン樹脂からなる樹脂フィルム(日本ゼオン社製「ゼオノアフィルム ZF16」;厚み100μm)を用意した。この支持基材からマスキングフィルムを剥離し、マスキング剥離面にコロナ処理を施した。次いで、支持基材のコロナ処理面にラビング処理を施した。
支持基材のラビング処理面に、ワイヤーバーを用いて、製造例1で製造した液晶組成物1を塗工して、液晶組成物の層を形成した。
次いで、この液晶組成物の層を、145℃に設定したオーブン内で4分間加熱して、層内の液晶性化合物を配向させた。前記の加熱条件は、使用した液晶組成物に対応する試験組成物の残留分粘度が170cPとなる温度条件であった。
その後、液晶組成物の層に窒素雰囲気下で500mJ/cm2の紫外線を照射して、液晶組成物の層を硬化させて、厚み1.0μmの第一硬化層を得た。
第一硬化層の表面に、ラビング処理を施した。そして、第一硬化層のラビング処理面に、ワイヤーバーを使用して、第一硬化層の形成時に用いた残りの液晶組成物(即ち、液晶組成物1)を塗工して、液晶組成物の層を形成した。
次いで、この液晶組成物の層を、145℃に設定したオーブン内で4分間加熱して、層内の液晶性化合物を配向させた。
その後、液晶組成物の層に窒素雰囲気下で500mJ/cm2の紫外線を照射して、液晶組成物の層を硬化させて、厚み1.0μmの第二硬化層を得た。
液晶組成物の塗工に用いるワイヤーバーを変更することにより、第一硬化層及び第二硬化層の厚みを下記表1に示すように変更した。以上の事項以外は、実施例1と同じ操作を行って、液晶硬化フィルムの製造及び液晶硬化層の評価を行った。
実施例1と同じ操作を行って、支持基材上に、第一硬化層及び第二硬化層を形成した。
次いで、この液晶組成物の層を、145℃に設定したオーブン内で4分間加熱して、層内の液晶性化合物を配向させた。
その後、液晶組成物の層に窒素雰囲気下で500mJ/cm2の紫外線を照射して、液晶組成物の層を硬化させて、厚み1.0μmの第三硬化層を得た。
液晶組成物の塗工に用いるワイヤーバーを変更することにより、第一硬化層及び第二硬化層の厚みを下記表2に示すように変更した。また、第一硬化層及び第二硬化層を形成するための液晶組成物として、液晶組成物1の代わりに製造例2で製造した液晶組成物2を用いた。以上の事項以外は、実施例1と同じ操作を行って、液晶硬化フィルムの製造及び液晶硬化層の評価を行った。なお、この実施例6において、液晶性化合物を配向させるために液晶組成物の層をオーブン内で加熱する際の加熱条件(即ち、設定温度145℃との加熱条件)は、使用した液晶組成物2に対応する試験組成物の残留分粘度が255cPとなる温度条件であった。
液晶組成物の塗工に用いるワイヤーバーを変更することにより、第一硬化層及び第二硬化層の厚みを下記表2に示すように変更した。また、第二硬化層を形成するための液晶組成物として、液晶組成物1の代わりに製造例2で製造した液晶組成物2を用いた。以上の事項以外は、実施例1と同じ操作を行って、液晶硬化フィルムの製造及び液晶硬化層の評価を行った。
第二硬化層の形成を行わなかったこと以外は、実施例1と同じ操作を行って、支持基材と、この支持基材上に形成された第一硬化層のみを含む液晶硬化層とを含む液晶硬化フィルムを得た。得られた液晶硬化フィルムを用いて、上述した方法で、液晶硬化層の評価を行った。
液晶組成物の塗工に用いるワイヤーバーを変更することにより、第一硬化層の厚みを下記表3に示すように変更した。以上の事項以外は、比較例1と同じ操作を行って、液晶硬化フィルムの製造及び液晶硬化層の評価を行った。
(ポジティブAプレートの作製)
逆分散液晶性化合物1を100重量部、フッ素系界面活性剤(DIC社製「F562」)0.30重量部、光重合開始剤(BASF社製「IrgacureOXE04」)4.3重量部、並びに、溶媒としてシクロペンタノン148.5重量部及び1,3-ジオキソラン222.8重量部を混合して、液晶組成物4を製造した。この液晶組成物4を、実施例1で用意した支持基材のラビング処理面に、ワイヤーバーを用いて塗工して、液晶組成物の層を形成した。次いで、この液晶組成物の層を、110℃に設定したオーブン内で4分間加熱して、層内の逆分散液晶性化合物を配向させた。その後、液晶組成物の層に窒素雰囲気下で500mJ/cm2の紫外線を照射して、液晶組成物の層を硬化させることにより、支持基材と、この支持基材上に設けられた逆分散液晶性化合物1を含む液晶組成物の硬化物からなる層Aとを備えた複層フィルムAを得た。第一硬化層に相当する層としてこの層Aに含まれる逆分散液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角を測定したところ、0°であった。
ポリ(9-ビニルカルバゾール)(アルドリッチケミカル製、重量平均分子量約110万)をN-メチル-2-ピロリドン(NMP)に溶解させ、濃度12重量%のポリマー溶液を調製した。また、このポリマー溶液には、界面活性剤(大日本インキ社製「メガファックF-144D」)を、ポリ(9-ビニルカルバゾール)100重量部に対して0.1重量部添加した。このポリマー溶液を、実施例1で用意した支持基材上にスピンコート法で塗工した。塗工されたポリマー溶液の層を、60℃に設定したオーブン内で60分間、次いで100℃に設定したオーブンで15分間乾燥することにより、支持基材と、この支持基材上に設けられたポリ(9-ビニルカルバゾール)からなる層Bとを備えた複層フィルムBを得た。層Bに液晶性化合物が含まれていると仮定して、第二硬化層に相当する層としてこの層Bの実質最大傾斜角を測定したところ、90°であった。
複層フィルムAの層Aと、複層フィルムBの層Bとを、接着剤(日東電工社製「CS9621T」)を介して貼り合わせて、複層フィルムCを得た。この複層フィルムCに含まれる、層A、接着剤層及び層Bからなる層部分を、液晶硬化層に相当する層として、上述した方法で評価した。なお、比較例5においては、前記の層部分に含まれる液晶性化合物に相当する成分が傾斜していないことから、液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角の測定は行わなかった。
液晶組成物の塗工に用いるワイヤーバーを変更することにより、第一硬化層及び第二硬化層の厚みを下記表4に示すように変更した。また、第一硬化層を形成するための液晶組成物として、液晶組成物1の代わりに製造例3で製造した液晶組成物3を用いた。以上の事項以外は、実施例1と同じ操作を行って、液晶硬化フィルムの製造及び液晶硬化層の評価を行った。
ポリビニルアルコール溶液(濃度5重量%;クラレ社製「PVA-204C」)を用意した。この溶液の溶媒は、水及びイソプロピルアルコールを1:1(重量比)で含む混合溶媒であった。
次いで、この液晶組成物の層を、145℃に設定したオーブン内で4分間加熱して、層内の液晶性化合物を配向させた。
その後、液晶組成物の層に窒素雰囲気下で500mJ/cm2の紫外線を照射して、液晶組成物の層を硬化させて、厚み3.4.μmの液晶硬化層を得た。この液晶硬化層を、上述した方法で評価した。
上述した実施例及び比較例の結果を、下記の表1~4に示す。下記の表において、略称の意味は、下記の通りである。
逆分散1:逆分散液晶性化合物1を含む液晶組成物。
逆分散2:逆分散液晶性化合物2を含む液晶組成物。
順分散3:順分散液晶性化合物3を含む液晶組成物。
ポジA:ポジティブAプレート。
ポジC:ポジティブCプレート。
PVA:ポリビニルアルコール。
表1及び表2から分かるように、実施例においては、実質最大傾斜角の大きい液晶硬化層が得られている。よって、本発明により、液晶硬化層の全体として液晶性化合物の分子の傾斜角を大きくすることができたことが確認された。その結果、視野角特性にも優れていた。また、実施例で得られた液晶硬化層は、いずれも、逆波長分散性を有しており、配向欠陥の発生が抑制されており、更に、面状態が良好であった。
また、表4に示す比較例6では、第一硬化層用の液晶性化合物として順分散液晶性化合物を用いた。この比較例6では、第一硬化層に含まれる逆分散液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角よりも、第二硬化層に含まれる逆分散液晶化合物の分子の実質最大傾斜角が小さい。さらに、比較例6では、液晶硬化層の面状態が不良であり、配向欠陥が生じている。よって、比較例6では、第一硬化層による配向規制力が第二硬化層に十分に及んでいないので、液晶硬化層全体としての実質最大傾斜角を大きくできなかったことが分かる。
これらの結果から、実質最大傾斜角の大きい液晶硬化層を得るという前記の効果が、逆分散液晶性化合物を含む第一硬化層と、逆分散液晶性化合物を含む第二硬化層との組み合わせによって実現されていることが分かる。
110 第一硬化層
120 第二硬化層
200 液晶硬化層
230 第三硬化層
240 液晶硬化層において、第三硬化層よりも前に形成された層部分
300 液晶硬化層
Claims (10)
- 液晶性化合物を含む液晶組成物の硬化物で形成され、配向状態を固定されていてもよい前記液晶性化合物の分子を含む液晶硬化層を含む液晶硬化フィルムであって、
前記液晶硬化層に含まれる前記液晶性化合物の少なくとも一部の分子が、前記液晶硬化層の層平面に対して傾斜しており、
前記液晶硬化層が、第一硬化層と、前記第一硬化層に直接に接した第二硬化層とを含み、
前記第一硬化層に含まれる前記液晶性化合物及び前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物が、いずれも、逆波長分散性の複屈折を発現でき、
前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が、前記第一硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角よりも大きい、液晶硬化フィルム。 - 前記第一硬化層が、前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の傾斜角を大きくする配向膜として機能できる、請求項1に記載の液晶硬化フィルム。
- 前記液晶硬化層における前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が、40°以上85°以下である、請求項1又は2に記載の液晶硬化フィルム。
- 前記液晶硬化層が、前記第一硬化層、前記第二硬化層、及び、前記第二硬化層に直接に接した第三硬化層を、この順に含む、請求項1~3のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルム。
- 前記液晶硬化層の厚みが10μm以下である、請求項1~4のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルム。
- 前記液晶硬化層が、1/4波長板として機能できる、請求項1~5のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルム。
- 請求項1~6のいずれか一項に記載の液晶硬化フィルムの製造方法であって、
支持面に、前記液晶性化合物を含む第一液晶組成物の層を形成する工程と、
前記第一液晶組成物の層に含まれる前記液晶性化合物を配向させる工程と、
前記第一液晶組成物の層を硬化させて、第一硬化層を形成する工程と、
前記第一硬化層上に、直接に、前記第一液晶組成物に含まれる前記液晶性化合物と同一または異なる液晶性化合物を含む第二液晶組成物の層を形成する工程と、
前記第二液晶組成物の層に含まれる前記液晶性化合物を配向させる工程と、
前記第二液晶組成物の層を硬化させて、第二硬化層を形成する工程と、を含む、液晶硬化フィルムの製造方法。 - 前記第二硬化層上に、直接に、前記第一液晶組成物に含まれる前記液晶性化合物及び前記第二液晶組成物に含まれる前記液晶性化合物と同一または異なる液晶性化合物を含む第三液晶組成物の層を形成する工程と、
前記第三液晶組成物の層に含まれる前記液晶性化合物を配向させる工程と、
前記第三液晶組成物の層を硬化させて、第三硬化層を形成する工程と、を含む、請求項7に記載の液晶硬化フィルムの製造方法。 - 液晶性化合物を含む液晶組成物の硬化物で形成され、配向状態を固定されていてもよい前記液晶性化合物の分子を含む液晶硬化層と、直線偏光子とを含み、
前記液晶硬化層に含まれる前記液晶性化合物の少なくとも一部の分子が、前記液晶硬化層の層平面に対して傾斜しており、
前記液晶硬化層が、第一硬化層と、前記第一硬化層に直接に接した第二硬化層とを含み、
前記第一硬化層に含まれる前記液晶性化合物及び前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物が、いずれも、逆波長分散性の複屈折を発現でき、
前記第二硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角が、前記第一硬化層に含まれる前記液晶性化合物の分子の実質最大傾斜角よりも大きい、偏光板。 - 請求項9記載の偏光板を含む、有機エレクトロルミネッセンス表示装置。
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