JP7247557B2 - 回路基板、回路基板の製造方法、撮像装置 - Google Patents

回路基板、回路基板の製造方法、撮像装置 Download PDF

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Description

本発明は、回路基板、並びに、回路基板の製造方法、撮像装置に関する。
従来、基板同士を電気的に接続するために、例えば、FPC(Flexible Printed Circuit)やFFC(Flexible Flat Cable)などの回路基板が適用されている。回路基板は、基板用コネクタに挿入させて電気的に接続される接続部を有している。接続部には、配線パターンが露出した複数の接続端子が設けられている。各々の接続端子は、防錆やウイスカーの発生防止、接続抵抗の低減や接続信頼性の向上を図るべく、例えば金メッキなどの電気メッキ処理が施されている。
ところで、電気メッキ処理では、上記した接続端子に電位(電圧)を与える必要がある。このため、接続端子には、金属製のメッキリードが設けられている。メッキリードは、接続部をコネクタに挿入する方向で見て、接続端子から挿入方向に延出され、その延出端は、接続部の挿入先端に達している。
このため、接続部をコネクタに挿入する際に、金属製のメッキリードの延出端がコネクタの一部(例えば、脆弱な部分)に接触する場合がある。この場合、コネクタに対する接続部の挿入角の大きさによっては、メッキリードの延出端がコネクタの一部を削り、削りかすを発生させる。
このとき発生した削りかすは、接続部の挿入動作に伴ってコネクタ内部に押し込まれ、コンタクト部及びその周辺に集積される。そうすると、コンタクト部に集積される削りかすの程度によっては、接続端子とコンタクト部との間の電気的な接続が不良になる場合がある。この場合、かかる電気的な接続を良好な状態とするためには、削りかすをコンタクト部に集積され難くする技術が求められる。
そこで、本発明の目的は、削りかすをコンタクト部に集積され難くすることで、接続端子とコンタクト部との間の電気的な接続が不良となることを抑制する技術を提供することにある。
このような目的を達成するために、本発明は、基板本体と、基板本体の両端に設けられ、コネクタに挿入する接続部と、を具備する。接続部は、コネクタと電気的に接続される接続端子を有する。接続部の少なくとも一方は、接続端子から接続部の挿入先端に亘って延出されたメッキ用延出部を有する。メッキ用延出部は、コネクタと接続端子との電気的な接続位置を通って挿入方向に延びる仮想線を回避した位置に配置されている。

本発明によれば、削りかすをコンタクト部に集積され難くすることで、接続端子とコンタクト部と間の電気的な接続が不良となることを抑制する技術を実現することができる。
本発明の一実施形態に係る回路基板の平面図。 回路基板の接続部をコネクタに挿入させている状態を示す斜視図。 接続部が挿入されたコネクタの断面図。 接続部の挿入先端がコネクタの一部に接触している状態を示す断面図。 メッキリードの配置構成を示す平面図。 メッキリードの他の配置構成を示す平面図。 メッキリードの他の配置構成を示す平面図。 メッキリードの他の配置構成を示す平面図。 コンタクト部を回避させたメッキリードの配置構成を示す平面図。 コンタクト部を回避させたメッキリードの他の配置構成を示す平面図。 削りかすがコンタクト部の周辺に集積された状態を模式的に示す平面図。 回路基板の接続部を打ち抜き加工している状態を模式的に示す断面図。 メッキリードの挿入先端の形状を示す断面図。
「一実施形態の構成」
回路基板としては、例えば、FPC、FFC、PCB(Printed Circuit Board)などをはじめ、使用目的や使用環境に応じて各種のものがある。本実施形態では、回路基板の一例として、フキシブルプリント基板(以下、FPCと言う)を想定する。
図1は、FPC1の平面図である。図1に示すように、FPC1は、基板本体2と、基板本体2の両端に設けられた2つの接続部(第1接続部3、第2接続部4)と、を有している。基板本体2を構成する基材としては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂などが適用される。これにより、可撓性を有するFPC1(基板本体2)が実現される。
第1接続部3は、基板本体2の一端に配置されている。第2接続部4は、基板本体2の他端に配置されている。第1接続部3と第2接続部4とは、基板本体2に構成された接続配線パターンを介して、相互に接続されている。接続配線パターンは、基板本体2に積層されたカバーフィルムによって被覆されている。
第1接続部3の表面には、配線パターンが露出した複数の第1接続端子3pが設けられている。第1接続端子3pは、導電性を有する金属材料で形成されている。図1の例において、第1接続端子3pは、第1接続部3を横断する方向に延びた直線状を成している。直線状の第1接続端子3pは、第1接続部3の表面に沿って等間隔で配置されている。なお、第1接続部3の裏面には、補強板Rf(図13参照)が貼り付けられている。これにより、第1接続部3の剛性(強度)が高められ、コネクタ7(図2参照)に対する第1接続部3の挿入安定性が図られている。
第1接続端子3pは、例えば金メッキなどの電気メッキ処理が施されている。これにより、防錆やウイスカーの発生防止、接続抵抗の低減や接続信頼性の向上が図られている。電気メッキ処理では、第1接続端子3pに電位(電圧)を与える必要がある。このため、第1接続端子3pには、金属製の第1メッキリード3t(図5、図7、図8参照)が設けられている。
第1メッキリード3tは、第1接続部3をコネクタ7(図2参照)に挿入する方向で見て、第1接続端子3pの第1端面3sから挿入方向に延出され、その延出端は、第1接続部3の挿入先端3mに達している。換言すると、第1メッキリード3tは、第1接続端子3pから第1接続部3の挿入先端3mに亘って設けられている。なお、第1接続部3の挿入先端3mは、後述する製造プロセス(図12参照)において、第1接続部3を穿孔具Thで打ち抜いた後に残存した断面(せん断面、破断面)である。第1メッキリード3tは、延出部の一例である。
第2接続部4の表面には、配線パターンが露出した複数の第2接続端子4pが設けられている。第2接続端子4pは、導電性を有する金属材料で形成されている。図1の例において、第2接続端子4pは、第2接続部4を横断する方向に延びた直線状を成している。直線状の第2接続端子4pは、第2接続部4の表面に沿って等間隔で配置されている。なお、第2接続部4の裏面には、補強板Rf(図13参照)が貼り付けられている。これにより、第2接続部4の剛性(強度)が高められ、コネクタ8(図2参照)に対する第2接続部4の挿入安定性が図られている。
第2接続端子4pは、例えば金メッキなどの電気メッキ処理が施されている。これにより、防錆やウイスカーの発生防止、接続抵抗の低減や接続信頼性の向上が図られている。電気メッキ処理では、第2接続端子4pに電位(電圧)を与える必要がある。このため、第2接続端子4pには、金属製の第2メッキリード4t(図5~図8参照)が設けられている。
第2メッキリード4tは、第2接続部4をコネクタ8(図2参照)に挿入する方向で見て、第2接続端子4pの第2端面4sから挿入方向に延出され、その延出端は、第2接続部4の挿入先端4mに達している。換言すると、第2メッキリード4tは、第2接続端子4pから第2接続部4の挿入先端4mに亘って設けられている。なお、第2接続部4の挿入先端4mは、後述する製造プロセス(図12参照)において、第4接続部4を穿孔具Thで打ち抜いた後に残存した断面(せん断面、破断面)である。第2メッキリード4tは、延出部の一例である。
図2は、基板用コネクタ(第1コネクタ7、第2コネクタ8)に対するFPC1の接続プロセスを示す模式図である。図2に示すように、第1コネクタ7は、第1回路基板5に搭載されて電気的に接続されている。第1コネクタ7には、FPC1の第1接続部3が挿入されて接続される。一方、第2コネクタ8は、第2回路基板6に搭載されて電気的に接続されている。第2コネクタ8には、FPC1の第2接続部4が挿入されて接続される。
図2の例において、双方のコネクタ7,8は、互いに同一の構成を有し、コネクタ本体Cpと、電極Edと、カバーSeと、を有している。コネクタ本体Cpは、金属材料よりも脆弱な樹脂材料(例えば、ポリアミド樹脂)で成形されている。電極Edは、導電性を有する金属材料で形成されている。電極Edは、コネクタ本体Cpによって支持されている。コネクタ本体Cpは、電極Edを支持しつつ回路基板5,6に固定されている。
更に、電極Edは、複数の弾性端子Ed-1を有している。弾性端子Ed-1は、直線状を成し、互いに間隔を有して平行に配置されている。弾性端子Ed-1は、その一端が電極Edに支持され、その他端が自由端となった片持ち梁構造を有している。弾性端子Ed-1の間隔ピッチは、上記した接続端子3p,4pの間隔ピッチと同一に設定されている。これにより、FPC1の接続部3,4をコネクタ7,8に挿入した際に、接続端子3p,4pと弾性端子Ed-1とは、互いに対向して位置付けられる。
なお、コネクタ7,8に対する接続部3,4の挿入プロセスとしては、例えば、第1接続部3を第1コネクタ7に挿入した後、カバーSeを閉じる。これにより、第1接続部3と第1コネクタ7とが接続される。更に、第2接続部4を第2コネクタ8に挿入した後、カバーSeを閉じる。これにより、第2接続部4と第2コネクタ8とが接続される。
図3は、接続部3,4(接続端子3p,4p)とコネクタ7,8とが電気的に接続された状態を示す断面図である。図3に示すように、接続部3,4をコネクタ7,8に挿入して、カバーSe(図2参照)を閉じる。片持ち梁構造を有する弾性端子Ed-1の弾性力(復元力)により、当該弾性端子Ed-1が接続端子3p,4pに接近する。
弾性端子Ed-1には、挿入方向に直交する幅方向中央部分に、コンタクト部Pcが立ち上げられている。ここでは一例として、コンタクト部Pcは、先細り状の輪郭形状(例えば、円錐形状、四角錐形状)を有している。コンタクト部Pcは、接続部3,4(接続端子3p,4p)との電気的な接続位置を規定する。これにより、接続部3,4をコネクタ7,8に挿入した際に、接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとが、隙間無く電気的に接触する。この結果、接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間の電気的な接続が良好な状態となる。
図4は、接続部3,4をコネクタ7,8に挿入するプロセスを示す模式図である。図4に示すように、コネクタ7,8に対する接続部3,4の挿入角の大きさによっては、接続部3,4の挿入先端3m,4m(即ち、金属製のメッキリード3t,4tの延出端)が、コネクタ7,8の一部SCpに接触する。そして、コネクタ7,8の内部への接続部3,4の挿入動作に伴って、メッキリード3t,4tの延出端がコネクタ7,8の一部SCpを削り、削りかすを発生させる。なお、削りかすとしては、金属材料よりも脆弱なコネクタ本体Cpの一部SCpから削られた例えば樹脂粉や樹脂片などが想定される。
このとき発生した削りかすは、接続部3,4の挿入動作に伴ってコネクタ7,8の内部に押し込まれ、例えば、コンタクト部Pc及びその周辺に集積される。そうすると、コンタクト部Pcに集積される削りかすの程度によっては、接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間が電気的に接続されず、オープン不良が生じる虞がある。そこで、本実施形態では、削りかすをコンタクト部Pcに集積され難くする集積抑制技術が適用されている。
図5~図8には、接続端子3p,4p(接続部3,4)に適用された集積抑制技術のバリエーションが示されている。図5の例では、双方のメッキリード3t,4tを、接続端子3p,4pの幅方向片側に寄せて配置させる。図6の例では、一方のメッキリード3tを除去して第1端面3sのみにすると共に、他方のメッキリード4tを幅方向片側に寄せて配置させる。即ち、図5及び図6の例では、メッキリード3t,4tを同一方向に寄せて配置させる。なお、幅方向とは、上記した挿入方向に直交する方向として規定される。
図7の例では、双方のメッキリード3t,4tを異なる方向に寄せて配置させる。図8の例は、上記した図5と図6の組み合わせである。即ち、第1接続部3の隣り合う2つの接続端子3pにおいて、一方のメッキリード3tを除去して第1端面3sのみにすると共に、他方のメッキリード3tを幅方向片側に寄せて配置させる。更に、第2接続部4の隣り合う2つの接続端子4pにおいて、一方のメッキリード4tを幅方向片側に寄せて配置させると共に、他方のメッキリード4tを除去して第2端面4sのみにする。
図9及び図10は、メッキリード3t,4tと、上記したコンタクト部Pcとの位置関係を規定した模式図である。図9及び図10において、一点鎖線LPcは、コンタクト部Pc(上記した電気的な接続位置)を通って挿入方向に延びる仮想線である。即ち、仮想線LPcは、第1接続部3をコネクタ7(図2参照)に挿入する挿入方向に延在されている。この場合、メッキリード3t,4tは、仮想線LPcを回避した位置(即ち、仮想線LPcから外れた位置)に寄せて配置させる。
図9の例において、メッキリード3t,4tは、仮想線LPcの片側に回避させて配置されている。図10の例において、メッキリード3t,4tは、仮想線LPcの両側に回避させて配置されている。いずれの場合も、仮想線LPcとメッキリード3t,4tとの間のギャップGpは、可能な限り大きくすることが好ましい。
「一実施形態の作用効果」
以上、本実施形態のFPC1(回路基板)によれば、メッキリード3t,4tを、仮想線LPcを回避した位置に寄せて配置させる(図5~図10参照)。これにより、削りかすKCp(図11参照)をコンタクト部Pcに集積され難くすることができる。例えば、図11に示すように、削りかすKCpは、コネクタ7,8に対する接続部3,4の挿入時に、メッキリード3t,4tの延出端がコネクタ7,8の一部SCpを削ることで発生する。発生した削りかすKCpは、接続部3,4の挿入動作に伴って、コネクタ7,8の内部に押し込まれるものの、コンタクト部Pcに集中され難く、当該コンタクト部Pcを回避した周辺に集積される。この結果、接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間に介在する削りかすKCpの量を無くするか、或いは、大幅に少なくすることができる。かくして、当該接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間の電気的な接続が不良となることを抑制することができる。
本実施形態のFPC1(回路基板)によれば、メッキリード3t,4tのいずれか一方を無くする(図6、図8参照)。これにより、メッキリード3t,4tを無くした一方側において、接続端子3p,4pの端面3s,4sは、接続部3,4の挿入先端3m,4mに達すること無く、当該挿入先端3m,4mの手前に位置している。この場合、金属製の接続端子3p,4pが、コネクタ7,8の一部SCp(例えば、脆弱な部分)に接触することは無い。この結果、削りかすKCpの発生を完全に無くすることができる。
「FPC1の製造方法」
図12は、FPC1の製造装置の概念図である。本実施形態の製造装置は、FPC1の製造プロセスの最終段階において、接続部3,4を打ち抜く穿孔具Th(パンチとも言う)と、打ち抜き構造Stと、を有している。当該製造装置には、FPC1(図1参照)が複数連なったFPCシート11がセットされる。そして、セットされたFPCシート11から不要部12が打ち抜かれる。かくして、打ち抜かれた残余部に、FPC1の接続部3,4が形成される。以下、製造プロセスの一例を説明する。
ここで、FPC1には、基板本体2の表面にメッキ部Mpが積層され、基板本体2の裏面に補強板Tfが貼りつけられている。メッキ部Mpには、接続端子3p,4p及びメッキリード3t,4tが構成されている。このようなFPC1が複数連なったFPCシート11を打ち抜き構造Stにセットする。
この状態において、穿孔具Thを、メッキ部Mpの外側から矢印P方向に動作させる。このとき、各FPC1の接続部3,4が、メッキ部Mp側(即ち、基板本体2の表面側)から打ち抜かれる。かくして、図1に示すような輪郭の接続部3,4を有するFPC1が製造される。
図13は、本実施形態の製造装置で製造された接続部3,4周りのFPC1の断面図である。図13に示すように、接続部3,4の挿入先端3m,4mは、穿孔具Thによって、当該接続部3,4(FPC1)を、基板本体2の表面側から打ち抜いた後に残存した断面(せん断面、破断面)として構成される。
以上、本実施形態の製造方法によれば、接続部3,4の挿入先端3m,4mに達しているメッキリード3t,4tの延出端は、基板本体2方向に湾曲した形状となる。これにより、メッキリード3t,4tの延出端がコネクタ7,8(コネクタ本体Cp)の一部SCpに接触した際に、そのときの摩擦力(摩擦抵抗)を低減させることができる。この結果、削りかすKCpの発生量を大幅に抑制することができる。
かくして、上記したFPC1(回路基板)の特長(即ち、メッキリード3t,4tを、仮想線LPcを回避した位置に寄せて配置させる点)との相乗効果によって、コンタクト部Pc及びその周辺に押し込まれる削りかすKCpの量を、大幅に少なくすることができる。なお、反メッキ部Mp側(即ち、基板本体2の裏面側)から、矢印Pの反対方向に打ち抜いた場合、メッキリード3t,4tの延出端が毛羽立った(逆立った)輪郭形状となってしまう。このため、本実施形態の製造方法に比べ、摩擦力を低減することはできない。ただし、反メッキ部Mp側から打ち抜いた場合であっても、メッキリード3t,4tを、仮想線LPcを回避した位置に寄せて配置することで、接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間に介在する削りかすKCpの量を抑制することに対し、一定の効果を奏することはできる。かくして、当該接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間の電気的な接続が不良となることを抑制することができる。
「本発明の適用例」
本発明のFPC1(回路基板)は、各種の電子機器に適用が可能である。具体的な例としては、例えば、ステレオカメラ、単眼カメラなど各種の撮像装置に適用することが可能である。ここでは一例として、FPC1(回路基板)をステレオカメラに適用した場合を想定すると、例えば図2に示すように、ステレオカメラは、第1回路基板5と、第2回路基板6と、を有している。第1回路基板5には、第1コネクタ7と共に、撮像素子が搭載されている。第2回路基板6には、第2コネクタ8と共に、撮像素子を制御する制御回路が設けられている。
この場合、FPC1の第1接続部3を第1コネクタ7に挿入する。更に、FPC1の第2接続部4を第2コネクタ8に挿入する。このとき、当該コネクタ7,8に対する接続部3,4の挿入角の大きさによっては、上記したメッキリード3t,4tの延出端によって、コネクタ7,8の一部が削られ、削りかすが発生する。そして、当該削りかすは、接続部3,4の挿入動作に伴って、コネクタ7,8内部に押し込まれる。
しかし、メッキリード3t,4tは、上記した仮想線LPcを回避した位置に寄せて配置されている。このため、削りかすKCp(図11参照)をコンタクト部Pcに集積され難くすることができる。例えば、削りかすKCpを、当該コンタクト部Pcを回避した周辺に集積させることができる。これにより、FPC1の接続端子3p,4pとコンタクト部Pcとの間の電気的な接続を良好な状態とすることができる。かくして、撮像素子に対する制御が安定化され、その結果、立体(実体)画像の撮像精度が良好になる。
更に、本発明の適用範囲として、上記した実施形態では、接続端子3p,4pに電気メッキ処理を施す場合を想定したが、これに限定されることはなく、例えば、無電解メッキ処理が施される接続端子3p,4pに、金属製の延出部が存在する場合、当該延出部を上記した実施形態と同様の構成とすることで、同様の作用効果を奏することができる。
1…FPC(回路基板の一例)、2…基板本体、3…第1接続部、4…第2接続部、5…第1回路基板、6…第2回路基板、7…第1コネクタ、8…第2コネクタ、Cp…コネクタ本体、Ed…電極、Ed-1…弾性端子、Pc…コンタクト部、3P…第1接続端子、4P…第2接続端子、3t…第1メッキリード(延出部の一例)、4t…第2メッキリード(延出部の一例)、3s…第1端面、4s…第2端面、3m…第1接続部の挿入先端、4m…第2接続部の挿入先端。
特開2003-347699号公報

Claims (6)

  1. 基板本体と、
    前記基板本体の両端に設けられ、コネクタに挿入する接続部と、を具備し、
    前記接続部は、前記コネクタと電気的に接続される接続端子を有し、
    前記接続部の少なくとも一方は、前記接続端子から前記接続部の挿入先端に亘って延出されたメッキ用延出部を有し、
    前記メッキ用延出部は、前記コネクタと前記接続端子との電気的な接続位置を通って挿入方向に延びる仮想線を回避した位置に配置されている回路基板。
  2. 前記メッキ用延出部は、前記接続端子のうち前記挿入方向に直交する幅方向片側に寄せて配置されている請求項1に記載の回路基板。
  3. 前記接続部の前記一方のみが、前記接続端子から前記接続部の挿入先端に亘って延出された前記メッキ用延出部を有する請求項1又は2に記載の回路基板。
  4. 前記接続部の前記挿入先端に達している前記メッキ用延出部の延出端は、前記基板本体方向に湾曲した形状となる請求項1乃至3のいずれか1項に記載の回路基板。
  5. 請求項1乃至4のいずれか1項に記載され、前記基板本体の表面にメッキ部が積層され、前記基板本体の裏面に補強板が貼りつけられた回路基板の製造方法であって、
    前記回路基板が複数連なったシートを打ち抜き構造にセットする工程と、
    前記接続部に隣接する不要部を前記メッキ部側から打ち抜く工程と、を有している回路基板の製造方法。
  6. 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の回路基板を有する撮像装置。
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