JP7234703B2 - 炭化ケイ素多結晶基板の製造方法、及び、炭化ケイ素多結晶基板の製造装置 - Google Patents
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Description
(炭化ケイ素多結晶基板の製造装置)
本発明の第一実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置について、図1、図2を参照して説明する。本実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置は、例えば、熱化学蒸着法により、黒鉛支持基板上に炭化ケイ素多結晶膜を成膜させて、蒸着基板を得た後、蒸着基板を燃焼して、黒鉛支持基板を燃焼除去することにより、炭化ケイ素多結晶基板を製造することに用いることができる。
次に、本発明の第一実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造方法について、その一例として、前述の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1を用いて炭化ケイ素多結晶基板を製造する方法を説明する。以下に説明する炭化ケイ素多結晶基板製造装置1の動作は一例であり、問題のない範囲で温度、圧力、ガス雰囲気等の各条件や、作動手順等を変更してもよい。
(炭化ケイ素多結晶基板の製造装置)
本発明の第二実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置について、図5を参照して説明する。本実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置は、例えば、熱化学蒸着法により、黒鉛支持基板上に炭化ケイ素多結晶膜を成膜させて、蒸着基板を得た後、蒸着基板を燃焼して、黒鉛支持基板を燃焼除去することにより、炭化ケイ素多結晶基板を製造することに用いることができる。第二実施形態の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1Aは、搬送チャンバー4がなく、蒸着炉2と燃焼炉3Aとが直接接しており、搬送手段38が燃焼炉3Aに設けられている点で第一実施形態の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1とは異なる。
次に、本発明の第二実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造方法について、前述の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1Aを用いて炭化ケイ素多結晶基板を製造する方法を説明する。なお、炭化ケイ素多結晶膜の黒鉛支持基板への成膜方法、黒鉛支持基板の燃焼方法は、第一実施形態と同じであるため、説明を省略する。
(炭化ケイ素多結晶基板の製造装置)
本発明の第三実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置について、図6、図7を参照して説明する。本実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置は、例えば、熱化学蒸着法により、黒鉛支持基板上に炭化ケイ素多結晶膜を成膜させて、蒸着基板を得た後、蒸着基板を燃焼して、黒鉛支持基板を燃焼除去することにより、炭化ケイ素多結晶基板を製造することに用いることができる。第三実施形態の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1Bは、搬送手段47の搬送アーム472に替えて搬送スロープ474が設けられている点で第一実施形態の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1とは異なる。
次に、本発明の第三実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造方法について、前述の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1Bを用いて炭化ケイ素多結晶基板を製造する方法を説明する。なお、炭化ケイ素多結晶膜の黒鉛支持基板への成膜方法、黒鉛支持基板の燃焼方法は、第一実施形態と同じであるため、説明を省略する。
(炭化ケイ素多結晶基板の製造装置)
本発明の第四実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置について、図8、図9を参照して説明する。本実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置は、例えば、熱化学蒸着法により、黒鉛支持基板上に炭化ケイ素多結晶膜を成膜させて、蒸着基板を得た後、蒸着基板を燃焼して、黒鉛支持基板を燃焼除去することにより、炭化ケイ素多結晶基板を製造することに用いることができる。第四実施形態の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1Cは、搬送チャンバー4がなく、蒸着炉2Cと燃焼炉3Cとが直接接しており、搬送手段47に替えて、蒸着炉側回転スロープ291及び燃焼炉側回転スロープ371を有する搬送手段が設けられている点で、第一実施形態の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1とは異なる。
次に、本発明の第四実施形態にかかる炭化ケイ素多結晶基板の製造方法について、前述の炭化ケイ素多結晶基板製造装置1Cを用いて炭化ケイ素多結晶基板を製造する方法を説明する。なお、炭化ケイ素多結晶膜の黒鉛支持基板への成膜方法、黒鉛支持基板の燃焼方法は、第一実施形態と同じであるため、説明を省略する。
黒鉛支持基板として、直径150mm、厚さ500μmの黒鉛基板を使用した。黒鉛支持基板を蒸着炉2の蒸着台座282上に載置し、成膜室22内を不図示の排気ポンプにより真空引きをした後、1350℃まで加熱した。原料ガスとして、SiCl4、CH4を用い、キャリアガスとしてH2を用い、不純物ドーピングガスとしてN2を用いた。炭化ケイ素多結晶膜の成膜工程においては、途中でガスの混合割合を変更して、二段階の工程により成膜を行った。第一成膜工程では、SiCl4:CH4:H2:N2=1:1:10:10の条件で、30分間の成膜を実施した。続いて、第二成膜工程では、N2ガスの流量を低減し、SiCl4:CH4:H2:N2=1:1:10:5の条件で20時間の炭化ケイ素多結晶膜の成膜を実施した。以上の成膜工程により、黒鉛支持基板上に厚さ600μmの炭化ケイ素多結晶膜が成膜した蒸着基板Sを得た。このときの成膜室22内の圧力は30kPaであった。
比較例1として、実施例1と同様の蒸着炉2を用いて、同じ条件で、黒鉛支持基板上に炭化ケイ素多結晶膜を成膜した。成膜後の蒸着基板Sを蒸着炉2内から取り出し口を介して外部へ取り出し、室温まで冷却した。蒸着炉2とは異なる場所に設置された燃焼炉3の取り出し口を介して、蒸着基板Sを外部から内部へと入れて、燃焼台座362に冷却した蒸着基板Sを載置した。そして、蒸着基板Sを、酸素雰囲気下、圧力は1気圧の条件で、1000℃で、10時間保持し、蒸着基板Sを燃焼させることで、実施例1と同じ条件により黒鉛支持基板を除去した。以上により、炭化ケイ素多結晶基板を得た。
以上の評価結果により、本発明の例示的態様である実施例1において、炭化ケイ素多結晶基板の製造において、再度の加熱による炭化ケイ素多結晶基板の反りの発生を抑制することができることが示された。
2、2B、2C 蒸着炉
3、3A、3B、3C 燃焼炉
4、4B 搬送チャンバー
5、5B、8 搬送路
6 蒸着炉側搬送路
7 燃焼炉側搬送路
43 ヒーター
44 ガス導入口
45 ガス排出口
47、38、47B 搬送手段
472、472A、472B、382 搬送アーム
474 搬送スロープ
291 蒸着炉側回転スロープ
371 燃焼炉側回転スロープ
282、282B 蒸着台座
362、362B 燃焼台座
S 蒸着基板
Claims (9)
- 化学蒸着により黒鉛支持基板の表面に炭化ケイ素多結晶膜を成膜する成膜工程と、
成膜工程後、前記表面に前記炭化ケイ素多結晶膜が成膜した前記黒鉛支持基板を燃焼させて、前記黒鉛支持基板を除去する除去工程を含み、
前記炭化ケイ素多結晶膜が成膜した前記黒鉛支持基板は、前記黒鉛支持基板に前記炭化ケイ素多結晶膜が成膜した後から前記除去工程が開始されるまでの間、500℃以上に保持される、炭化ケイ素多結晶基板の製造方法。 - 請求項1に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造方法に用いる炭化ケイ素多結晶基板の製造装置であって、
化学蒸着により、黒鉛支持基板上に炭化ケイ素多結晶膜を成膜させて蒸着基板を得る蒸着炉と、
前記蒸着基板を燃焼して、前記黒鉛支持基板を除去する燃焼炉と、
前記蒸着炉と前記燃焼炉とを直接つなぐ搬送路と、
前記搬送路を介して、前記蒸着基板を搬送する搬送手段と、を備える、炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。 - 前記搬送手段が、前記蒸着基板を搬送する搬送アームを有する、請求項2に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。
- 前記搬送アームが、前記蒸着炉の内部方向及び前記燃焼炉の内部方向に伸縮可能に構成されている、請求項3に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。
- 前記搬送手段が、前記蒸着基板が通過する搬送スロープを有する、請求項2~4のいずれか1項に記載の対価ケイ素多結晶基板の製造装置。
- 前記蒸着炉が、前記黒鉛支持基板が載置される蒸着台座を有し、
前記燃焼炉が、前記蒸着基板が載置される燃焼台座を有し、
前記蒸着台座、及び、前記燃焼台座がそれぞれ傾斜する、請求項5に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。 - 前記蒸着台座、及び、前記燃焼台座は、
前記蒸着台座における前記黒鉛支持基板の載置面と、前記搬送スロープにおける前記蒸着基板の通過面と、前記燃焼台座における前記蒸着基板の載置面と、が面一になるように傾斜する、請求項6に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。 - 前記搬送路が、搬送チャンバーを有し、
前記搬送チャンバーが、前記搬送チャンバー内の雰囲気を調整する、ガス導入口及びガス排出口を有する、請求項2~7のいずれか1項に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。 - 前記搬送チャンバーがヒーターをさらに有する、請求項8に記載の炭化ケイ素多結晶基板の製造装置。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003249426A (ja) | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | SiCモニタウェハ製造方法 |
JP2007182304A (ja) | 2006-01-06 | 2007-07-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置、基板搬送方法及びコンピュータプログラム |
JP2009260117A (ja) | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Tohoku Univ | 炭化珪素基板、半導体装置、配線基板及び炭化珪素の製造方法 |
JP2015079946A (ja) | 2013-09-13 | 2015-04-23 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
WO2016038664A1 (ja) | 2014-09-08 | 2016-03-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体アニール装置 |
JP2018181969A (ja) | 2017-04-07 | 2018-11-15 | 株式会社 天谷製作所 | 処理装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2625880B2 (ja) * | 1988-05-16 | 1997-07-02 | 三井造船株式会社 | SiC製サセプタの製造方法 |
JP2690862B2 (ja) * | 1994-07-29 | 1997-12-17 | シーケーディ株式会社 | 真空チャック装置からのワークの取り外し方法及びワークの取り外し装置 |
JPH10265265A (ja) * | 1997-03-26 | 1998-10-06 | Mitsubishi Materials Corp | SiC部材及びその製造方法 |
JPH11199323A (ja) * | 1998-01-14 | 1999-07-27 | Tokai Carbon Co Ltd | ダミーウエハ |
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2019
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003249426A (ja) | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | SiCモニタウェハ製造方法 |
JP2007182304A (ja) | 2006-01-06 | 2007-07-19 | Tokyo Electron Ltd | 基板搬送装置、基板搬送方法及びコンピュータプログラム |
JP2009260117A (ja) | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Tohoku Univ | 炭化珪素基板、半導体装置、配線基板及び炭化珪素の製造方法 |
JP2015079946A (ja) | 2013-09-13 | 2015-04-23 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
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