JP7213806B2 - 絶縁電線 - Google Patents
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Description
絶縁電線は、その端部が溶接される場合がある。溶接時においては、絶縁層となる絶縁皮膜、特に内側の層、すなわち、導体に近い層へと熱が伝わりやすい。ここで、絶縁皮膜を構成する樹脂のガラス転移温度が低い(例えば約270℃程度)と、溶接時において絶縁皮膜の弾性率が低下することとなる。そうすると、溶接時において絶縁皮膜中に微量含まれる水分が絶縁皮膜中で膨張して気泡が発生してしまうおそれがある。このような予期せぬ発泡は、絶縁皮膜の機能の低下を招くこととなり、好ましくない。
本開示によれば、機能の低下を防止することが可能な絶縁電線を提供できる。
次に本開示の実施態様を列記して説明する。本開示に係る絶縁電線は、線状の導体と、導体の外周側の面を取り囲むように配置される絶縁皮膜とを備える。絶縁皮膜は、下記式(1):
で表される繰り返し単位Aと、下記式(2):
で表される繰り返し単位Bと、を含む分子構造を有し、繰り返し単位Aおよび繰り返し単位Bの総モル数に対する繰り返し単位Bのモル数の百分率として表されるモル比率[B×100/(A+B)](モル%)が25モル%以上95モル%以下であるポリイミドからなるポリイミド層を含む。上記ポリイミド層は、複数の気孔を有している。上記ポリイミド層における気孔の占める割合は、5体積%以上80体積%以下である。
次に、本開示の絶縁電線の一実施の形態を、図1~図2を参照しつつ説明する。なお、以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付しその説明は繰返さない。
図1および図2は、本開示の一実施形態である実施の形態1に係る絶縁電線の構造を示す断面図である。図1は、線状に延びる絶縁電線を長手方向に垂直な平面で切断した場合の断面である。図2は、線状に延びる絶縁電線を長手方向に沿う平面で切断した場合の断面である。図2において、長手方向の一方側の向きを矢印Dで示す。
次に別の実施形態である実施の形態2について図4を参照して説明する。図4は、実施の形態2に係る絶縁電線21の一部を示す部分断面図である。図4は、図2に相当する部分断面図である。
次に別の実施形態である実施の形態3について図5を参照して説明する。図5は、実施の形態3に係る絶縁電線31の一部を示す部分断面図である。図5は、図2および図4に相当する部分断面図である。
次に別の実施形態である実施の形態4について図6を参照して説明する。図6は、実施の形態4に係る絶縁電線41の一部を示す部分断面図である。図6は、図2、図4および図5に示す部分断面に相当する。
次に別の実施形態である実施の形態4について図7および図8を参照して説明する。図7および図8は、本願の一実施形態に係る絶縁電線の構造を示す断面図である。図7は、線状に延びる絶縁電線を長手方向に垂直な平面で切断した場合の断面の図である。図8は、線状に延びる絶縁電線を長手方向に沿う平面で切断した場合の絶縁電線の断面の一部を示す部分断面図である。図8において、長手方向の一方側の向きを矢印Dで示す。
PMDA:ピロメリット酸無水物(Pyromellitic dianhydride)
BPDA:3,3’,4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(Biphenyltetracarboxylic Dianhydride)
(ジアミン成分)
ODA:4,4’-ジアミノジフェニルエーテル(4,4’-Diaminodiphenyl ether、4,4’-oxydianiline、4,4’-ODA)
(耐湿熱劣化性の評価)
耐湿熱劣化性については、以下のように評価した。まず、引張試験機(株式会社島津製作所製「AG-IS」)を用いて引張速度10mm/分で上記した絶縁電線を未伸張時の長さの110%になるまで予備伸張した。予備伸張した絶縁電線を温度85℃、湿度95%の環境下において750時間曝露した。その後、絶縁電線の表面に表れる亀裂の有無を目視で確認した。亀裂が発生したものをC、亀裂が発生しなかったものをAとして表1および表2中に示している。
耐溶接性1および耐溶接性2については、以下のように評価した。図10に耐溶接性の評価方法の模式図を示す。絶縁電線を100mmの長さに切断して試験片とし、各試験片の一方の端末から7.0mmの位置まで絶縁層を剥離した。絶縁層を剥離した側の末端から2.5mmの部分を、断面寸法が1.5mm×2.0mmである2本のクロム銅製アース棒61で挟み込み、試験片の端末の端部から1.25mm離れた位置(図10の試験片の端末の端部から溶接トーチ62の先端までの距離tが1.25mmとなる位置)に溶接トーチ62の先端位置を合わせ、TIG溶接機により通電を行った。通電時間は0.3秒とした。耐溶接性1の溶接条件として、設定電流を110Aとして溶接を行った。また、耐溶接性2の溶接条件として、設定電流を130Aとして溶接を行った。そして、それぞれの条件における溶接部近傍の絶縁層の発泡の有無を確認した。溶接部近傍の絶縁層の発泡を目視で確認できた場合を「C(良好でない)」、溶接部近傍の絶縁層の発泡を光学顕微鏡で20倍に拡大して確認できた場合を「B(使用可能な範囲である)」、発泡が確認できなかった場合を「A(良好である)」とした。なお、溶接は温度24℃、湿度45%の環境下で行った。
曲げ加工性については、以下のように評価した。絶縁層の曲げ加工性は、絶縁電線を90°折り曲げてその状態で10秒間保持した後、折り曲げ箇所の絶縁層を目視で確認し、割れが確認されなかった場合を「A(良好である)」、割れが確認された場合を「C(良好でない)」と判断した。
外観性については、以下のように評価した。絶縁電線の絶縁層の外観を目視で観察し、白濁、色ムラ等が生じている場合を「C(良好でない)」、白濁、色ムラ等が生じていない場合を「A(良好である)」と判断した。
(ワニスの調製)
ODA100モル%を、有機溶剤のN-メチル-2-ピロリドンに溶解させた後、得られた溶液に、表1に示すモル比率のPMDAおよびBPDAを加え、窒素雰囲気下で撹拌した。その後、撹拌しながら80℃で3時間反応させた後、室温に冷却することにより、N-メチル-2-ピロリドン中のポリイミド前駆体が溶解しているワニスを調製した。このワニス中のポリイミド前駆体濃度は30質量%とした。また、ワニス中には、熱分解性樹脂またはコア-シェル粒子が含有されている。なお、表1においては、気孔の占める割合について、有孔層全体の体積に対する、有孔層内に存在する全気孔の総体積の割合を意味する気孔率(体積%)という表記で示している。
銅を主成分とする平均直径1mmの丸線(長手方向に垂直な断面における導体の形状が円形である導線)を導体として準備した。上述のようにして調製したワニスを上記導体の外周側の面に塗工した。上記ワニスを塗工した導体を加熱温度400℃、加熱時間30秒の条件で加熱炉において加熱した。この塗工工程および加熱工程を10回ずつ繰り返し行った。このようにして、上記導体と、この導体の外周側の面に積層される平均厚さ35μmの絶縁皮膜とを備える絶縁電線を得た。
(ワニスの調製)
(i)中実層形成用ワニス(第一の層用のワニス)の調製
ODA100モル%を、有機溶剤のN-メチル-2-ピロリドンに溶解させた後、得られた溶液に、表2に示すモル比率のPMDAおよびBPDAを加え、窒素雰囲気下で撹拌した。その後、撹拌しながら80℃で3時間反応させた後、室温に冷却することにより、N-メチル-2-ピロリドン中のポリイミド前駆体が溶解している第一の層用のワニスおよび第二の層用のワニスを調製した。これらのワニス中のポリイミド前駆体濃度はそれぞれ30質量%とした。
ODA100モル%を、有機溶剤のN-メチル-2-ピロリドンに溶解させた後、得られた溶液に、表2に示すモル比率のPMDAおよびBPDAを加え、窒素雰囲気下で撹拌した。その後、撹拌しながら80℃で3時間反応させた後、室温に冷却することにより、N-メチル-2-ピロリドン中のポリイミド前駆体が溶解しているワニスを調製した。このワニス中のポリイミド前駆体濃度は30質量%とした。また、ワニス中には、熱分解性樹脂が含有されている。
銅を主成分とする平角銅線(長手方向に垂直な断面における導体の形状が高さ1.5mm、幅4mmの四角形状である銅線)を導体として準備した。上述のようにして調製した中実層形成用ワニス(第一の層用のワニス)を上記導体の外周側の面に塗工した。塗膜を加熱温度400℃、加熱時間30秒の条件で加熱炉において加熱した。この塗工工程および加熱工程を30回ずつ繰り返し行った。
上記のようにして得られた絶縁電線について、耐湿熱劣化性、耐溶接性(上記「耐溶接性2」の条件)、および外観性の評価を行った。結果を表2および表3に示す。
本開示に係る絶縁電線においては、その絶縁皮膜が式(1)で表される繰り返し単位Aと、式(2)で表される繰り返し単位Bと、を含む分子構造を有し、繰り返し単位Aおよび繰り返し単位Bの総モル数に対する繰り返し単位Bのモル数の百分率として表されるモル比率[B×100/(A+B)](モル%)が25モル%以上95モル%以下であるポリイミドからなるポリイミド層を含む。上記ポリイミド層は、複数の気孔を有している。上記ポリイミド層における気孔の占める割合は、5体積%以上80体積%以下である。
12 導体
13,26,28,36,38,58 面
14,24,34,44,54 絶縁皮膜
15,29,39,45,59 気孔
17,27,37,57 第二の層
25,35,55 第一の層
46 シェル
61 アース棒
62 溶接トーチ
Claims (7)
- 線状の導体と、
前記導体の外周側の面を取り囲むように配置される絶縁皮膜と、を備え、
前記絶縁皮膜は、
前記導体の外周側の面に接触して前記導体の外周側を覆う第一の層と、
前記第一の層の外周側を取り囲むように配置される第二の層と、
を含み、
前記第一の層は、325℃における貯蔵弾性率E’が200MPa以上の樹脂を含み、
前記第二の層は、
下記式(1):
で表される繰り返し単位Aと、下記式(2):
で表される繰り返し単位Bと、を含む分子構造を有し、前記繰り返し単位Aおよび前記繰り返し単位Bの総モル数に対する前記繰り返し単位Bのモル数の百分率として表されるモル比率(B×100/(A+B))が25モル%以上95モル%以下であるポリイミドからなるポリイミド層で構成され、
前記ポリイミド層は、複数の気孔を有し、
前記ポリイミド層における前記気孔の占める割合は、5体積%以上80体積%以下である、
絶縁電線。 - 前記気孔を取り囲むシェルを含む、
請求項1に記載の絶縁電線。 - 前記シェルの弾性率は、前記ポリイミドの弾性率よりも高い、
請求項2に記載の絶縁電線。 - 前記第一の層に含まれる前記樹脂は、ポリエーテルエーテルケトン、ポリアミドイミド、および前記繰り返し単位Aを含む分子構造を有するポリイミドのうちの少なくともいずれか一つを含む、
請求項1~請求項3のいずれか1項に記載の絶縁電線。 - 前記ポリイミド層を構成する前記ポリイミドは、ピロメリット酸無水物(PMDA)と、3,3’,4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(BPDA)と、4、4’-ジアミノジフェニルエーテル(ODA)との重合によって得られるポリイミド前駆体に由来し、前記ポリイミド前駆体の重量平均分子量が10,000以上である、
請求項1~請求項4のいずれか1項に記載の絶縁電線。 - 前記第二の層の厚みは、20μm以上である、
請求項1~請求項5のいずれか1項に記載の絶縁電線。 - 前記第一の層に含まれる前記樹脂は、325℃における前記貯蔵弾性率E’が20000MPa以下である、
請求項1~請求項6のいずれか1項に記載の絶縁電線。
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