JP7126928B2 - 表面分析装置および表面分析方法 - Google Patents
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Description
試料に電子線を照射する光学系と、
前記試料から放出される信号を検出する検出器と、
前記検出器の出力信号に基づいて、スペクトルを生成するスペクトル生成部と、
前記スペクトルのノイズ成分の統計誤差を求める統計誤差演算部と、
前記統計誤差に基づいて、前記スペクトルの積算回数を求める積算回数演算部と、
分析対象となる元素の入力を受け付ける入力部と、
を含み、
前記統計誤差演算部は、
前記分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーに基づいて、エネルギー範囲を設定し、
設定された前記エネルギー範囲において、前記統計誤差を求め、
前記エネルギー範囲は、前記分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーよりも高く、
前記信号は、オージェ電子である。
ルの積算回数を算出することができるため、測定を無駄に繰り返すことなく、容易に、短時間で微量元素の分析が可能である。
試料に電子線を照射して、前記試料から放出される信号を検出してスペクトルを取得する表面分析装置における表面分析方法であって、
前記スペクトルのノイズ成分の統計誤差を求める工程と、
前記統計誤差に基づいて、前記スペクトルの積算回数を求める工程と、
を含み、
前記統計誤差を求める工程では、
分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーに基づいて、エネルギー範囲を設定し、
設定された前記エネルギー範囲において、前記統計誤差を求め、
前記エネルギー範囲は、前記分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーよりも高く、
前記信号は、オージェ電子である。
まず、本実施形態に係る表面分析装置について図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る表面分析装置100の構成を示す図である。
ータを記憶している。また、記憶部84は、処理部70のワーク領域としても用いられる。記憶部84は、例えば、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、およびハードディスクにより実現できる。
次に、本実施形態におけるスペクトルの積算回数を求める手法について説明する。スペクトルの積算回数は、ノイズ成分の統計誤差から求めることができる。ここでは、試料Sに微量のアルミニウムが含まれているか否かを判断する場合について説明する。
次に、表面分析装置100の処理部70の処理について説明する。図4は、表面分析装置100の処理部70の処理の一例を示すフローチャートである。
表面分析装置100は、例えば以下の特徴を有する。
Claims (6)
- 試料に電子線を照射する光学系と、
前記試料から放出される信号を検出する検出器と、
前記検出器の出力信号に基づいて、スペクトルを生成するスペクトル生成部と、
前記スペクトルのノイズ成分の統計誤差を求める統計誤差演算部と、
前記統計誤差に基づいて、前記スペクトルの積算回数を求める積算回数演算部と、
分析対象となる元素の入力を受け付ける入力部と、
を含み、
前記統計誤差演算部は、
前記分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーに基づいて、エネルギー範囲を設定し、
設定された前記エネルギー範囲において、前記統計誤差を求め、
前記エネルギー範囲は、前記分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーよりも高く、
前記信号は、オージェ電子である、表面分析装置。 - 請求項1において、
前記入力部は、前記分析対象となる元素の濃度の入力を受け付け、
前記積算回数演算部は、前記統計誤差および前記分析対象となる元素の濃度に基づいて、前記積算回数を求める、表面分析装置。 - 請求項1または2において、
前記積算回数に基づいて前記スペクトルを取得する測定を行う回数を設定し、設定された回数だけ測定が行われるように前記光学系を制御する制御部を含む、表面分析装置。 - 試料に電子線を照射して、前記試料から放出される信号を検出してスペクトルを取得する表面分析装置における表面分析方法であって、
前記スペクトルのノイズ成分の統計誤差を求める工程と、
前記統計誤差に基づいて、前記スペクトルの積算回数を求める工程と、
を含み、
前記統計誤差を求める工程では、
分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーに基づいて、エネルギー範囲を設定し、
設定された前記エネルギー範囲において、前記統計誤差を求め、
前記エネルギー範囲は、前記分析対象となる元素に固有の前記信号のエネルギーよりも高く、
前記信号は、オージェ電子である、表面分析方法。 - 請求項4において、
前記積算回数に基づいて、前記スペクトルを取得する測定の回数を設定する工程を含む、表面分析方法。 - 請求項4または5において、
前記積算回数を求める工程では、前記統計誤差および前記分析対象となる元素の濃度に基づいて、前記積算回数を求める、表面分析方法。
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Non-Patent Citations (1)
Title |
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吉原一紘,金属表面組成のオージェ電子分光分析法,まてりあ,日本,1997年,第36巻 第5号,https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/36/5/36_5_491/_pdf |
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