JP2018091691A - 蛍光x線分析装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】バックグラウンド成分を除去した高精度な分析が可能であり、かつ迅速に測定することができる蛍光X線分析装置を提供する。【解決手段】蛍光X線分析装置であって、2次X線を発生させる1次X線を、試料の表面に1mm以上の照射径で照射するX線源と、前記2次X線を分光する分光素子と、前記分光素子によって分光された前記2次X線の強度を測定する第1検出器と、前記2次X線の強度を分光せずに測定するエネルギー分散型の第2検出器と、前記第1及び第2検出器による測定結果に含まれる各バックグラウンド強度の比率を予め記憶する記憶装置と、前記第2検出器による前記試料の測定強度から、バックグラウンド強度を波形分離して算出するとともに、前記第1検出器による前記試料の測定強度から、前記分離されたバックグラウンド強度に前記比率を乗じた値を差し引く補正をし、定量分析を行う演算装置と、を有する。【選択図】図1
Description
本発明は、蛍光X線分析装置に関する。
試料に含まれる元素や当該元素の濃度を測定する機器として、X線を照射した際に発生する蛍光X線を検出し、当該蛍光X線のエネルギーと強度から構成元素を分析する蛍光X線分析装置が知られている。
蛍光X線分析装置には、分光素子で分光されたX線を検出する検出器を備え、1元素ずつ順次測定するか、分析元素毎に分光素子と検出器を備える必要があるが高精度な分析が可能である波長分散型蛍光X線分析装置と、エネルギー分散型の検出器を備え、分光素子を用いず全元素の測定が一度に可能であるが波長分散型の分析装置と比較すると分析精度が劣るエネルギー分散型蛍光X線分析装置と、が広く用いられている。
具体的には、例えば、分光素子で分光されたX線を測定する検出器を備える一般的な波長分散型の装置は、10eV程度のエネルギー分解能を有するのに対して、エネルギー分散型の検出器を備えるエネルギー分散型の装置は、分光素子を用いず、100eV程度のエネルギー分解能を有する。エネルギー分散型の検出器としては従来から知られている液体窒素での冷却が必要なSi(Li)検出器に加え、近年、高速でペルチェ素子による電子冷却で使用可能なSDD(Silicon Drift Detector)等の半導体検出器が使えるようになっている。
上記のような検出器を有する蛍光X線分析装置として、例えば、特許文献1及び特許文献2は、分光素子で分光されたX線を測定する検出器と分光素子を用いないエネルギー分散型の検出器を共に備えることで、分析の目的に応じてエネルギー分散型検出手段と波長分散型検出手段とを使い分け、効率よく測定を行うことができる点を開示している。
試料にX線(1次X線)が照射された場合、試料から出射されるX線(2次X線)には、試料で発生する蛍光X線の他に、試料で散乱した1次X線が含まれる。従って、蛍光X線分析装置を用いて試料から出射した2次X線を測定する場合、測定強度には、元素の分析に用いられる蛍光X線だけでなく、分析精度を低下させるバックグラウンド強度となる試料から散乱したX線が含まれる。波長分散型の蛍光X線分析装置はエネルギー分散型の装置よりエネルギー分解能がよいため、バックグラウンド強度の影響は少なくなくなる。
波長分散型の蛍光X線分析装置を用いて更に高精度な分析を行う手法として、バックグラウンド強度を除去する分析手法が知られている。具体的には、蛍光X線のピーク角度でピーク強度を測定した後、ピーク角度から少し角度をずらした位置でバックグランド強度測定を行い、ピーク強度からバックグラウンド強度を差し引くことで精度を向上させることが知られている。しかし、当該方法は、測定を複数回行う必要が生じる為、迅速な分析を行うことができない。また、測定対象となる試料によってバックグラウンドの強度が変わる為、試料ごとにバックグラウンド強度を測定する必要があり、分析に時間を要するという問題も存在する。
また、特許文献3は、分光素子で分光されたX線を測定する波長分散型検出手段と分光素子を用いないエネルギー分散型検出手段を共に備える電子線マイクロアナライザについて開示している。具体的には、波長分散型検出手段におけるピーク角度から少し角度をずらせて測定するバックグランド強度に替えて、特許文献3は、ピーク角度の近傍に対応するエネルギー分散型検出手段の測定強度にあらかじめ算出した一定比率を掛け合わせた数値を、波長分散型検出手段の測定強度から引き算することで迅速にバックグラウンド強度を除去する点を開示している。
また、特許文献4は、電子線マイクロアナライザにおいて、波長分散型検出手段で測定した蛍光X線のピーク検出位置でのバックグランド強度をエネルギー分散型検出手段で測定される蛍光X線強度による定量分析結果に基づく平均原子番号から算出し、当該ピーク検出位置での強度からバックグラウンド強度を差し引くことで迅速かつ高精度な分析を行う点を開示している。
電子線マイクロアナライザは電子線で励起するため、X線で励起する蛍光X線分析装置と比較して検出されるバックグラウンド強度が非常に大きい。そのため、特許文献3または特許文献4のようにバックグラウンド強度を除去する手法は、この非常に大きいバックグラウンド強度を概略除去するもので、元素マッピングを滑らかに表示するなどに効果はあるが、微量元素の定量分析や高精度な定量分析は行えなかった。
特許文献1及び2のように、波長分散型の検出手段に加えてエネルギー分散型の検出手段を併設する波長分散型蛍光X線分析装置では、波長分散型の検出手段による特定元素の定量分析とエネルギー分散型の検出手段による定性分析や半定量分析を同時に行えるので、迅速な分析は可能であった。しかし、波長分散型蛍光X線分析装置の目的は微量元素の定量分析や高精度な定量分析を行うことである。そのため、エネルギー分散型の検出手段を併設する波長分散型蛍光X線分析装置において、バックグラウンド強度を概略除去する特許文献3または4の手法を用いることは不適切であった。
特に、波長分散型蛍光X線分析装置が用いられる高精度な微量元素分析においては、特許文献3のように、ピーク角度及びピーク角度から少しずらした角度で測定を行う構成とした場合には、近傍のピークの影響により、エネルギー分散型検出手段と波長分散型の検出手段におけるバックグラウンドの前記一定比率を正確に求めることができない場合があった。また、測定対象となる試料によってバックグラウンドの強度が変わる為、前記一定比率を求めるためには試料ごとにバックグラウンド強度を測定する必要があり、分析に時間を要するという問題も存在する。
具体的には、例えば、鉱物試料をエネルギー分散型の検出手段で測定したスペクトルを図2に示す。図2の横軸は検出信号のエネルギー値に相当するマルチチャンネルアナライザのチャネルを表し、縦軸はX線の強度を表す。図2には、692chにピークを持つ測定対象とする鉛のPb−Lβ1線のほか、試料A,B,Cごとに鉄やヒ素などに由来する多くの蛍光X線が表れているが、試料ごとにバックグラウンドの強度が異なっている。
なお、特許文献4のように、電子線マイクロアナライザの分野においては、バックグランド強度の測定を行わず蛍光X線強度の測定による定量分析結果に基づく平均原子番号から演算によって前記一定比率を算出する点が知られている。しかしながら、電子線は、その特性上測定対象が微小領域に限られ、試料の表面状態等の影響により、X線を検出する方向が測定強度に大きな影響を与える。
そのため、従来の波長分散型の検出手段とエネルギー分散型の検出手段を併設した装置、特に電子線マイクロアナライザでは、精度よく前記一定比率を算出することが困難であり、観測された各ピーク角度におけるバックグラウンド強度を汎用的に計算することができなかった。
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであって、その目的はバックグラウンド強度を除去した高精度な分析が可能であり、かつ迅速に分析することができる蛍光X線分析装置を提供することにある。
請求項1に記載の蛍光X線分析装置は、2次X線を発生させる1次X線を、試料の表面に1mm以上の照射径で照射するX線源と、前記2次X線を分光する分光素子と、前記分光素子によって分光された前記2次X線の強度を測定する第1検出器と、前記2次X線の強度を分光せずに測定するエネルギー分散型の第2検出器と、前記第1及び第2検出器による測定強度に含まれる各バックグラウンド強度の比率を予め記憶する記憶装置と、前記第2検出器による前記試料の測定強度から、バックグラウンド強度を波形分離して算出するとともに、前記第1検出器による前記試料の測定強度から、前記分離されたバックグラウンド強度に前記比率を乗じた値を差し引く補正をし、定量分析を行う演算装置と、を有することを特徴とする。
請求項2に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1の蛍光X線分析装置において、前記2次X線が前記分光素子に入射する入射角度を変更するとともに、分光された前記2次X線が出射された方向に前記第1検出器の位置を走査する機構、をさらに有し、前記演算装置は、前記入射角度に応じて異なる前記比率を用いて補正することを特徴とする。
請求項3に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1又は2に記載の蛍光X線分析装置において、さらに、前記試料を載置する試料台と、測定中に、前記試料台に載置した前記試料を測定面に垂直な軸を中心に回転させる試料回転機構と、を有することを特徴とする。
請求項4に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1乃至3のいずれかに記載の蛍光X線分析装置において、それぞれ異なる波長の前記2次X線を分光する複数の前記分光素子を有し、前記記憶装置は、前記分光素子毎に異なる前記比率を記憶することを特徴とする。
請求項5に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1乃至4のいずれかに記載の蛍光X線分析装置において、前記記憶装置は、前記2次X線のエネルギーに対応した前記比率を記憶することを特徴とする。
請求項6に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1乃至5のいずれかに記載の蛍光X線分析装置において、前記記憶装置は、前記比率を前記2次X線のエネルギーの関数として記憶することを特徴とする。
請求項7に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1乃至6のいずれかに記載の蛍光X線分析装置において、前記試料と前記分光素子との間に配置される測定径が1mm以上であるコリメータを含む複数のコリメータと、前記複数のコリメータから測定に使用するコリメータを選択するコリメータ選択手段と、をさらに有し、前記記憶装置は、前記各コリメータに対応した前記比率を記憶することを特徴とする。
請求項8に記載の蛍光X線分析装置は、請求項1乃至7のいずれかに記載の蛍光X線分析装置において、前記記憶装置に記憶される前記比率を測定する際に、分析対象元素を含まない標準試料を用いることを特徴とする。
請求項9に記載の蛍光X線分析装置は、請求項8に記載の蛍光X線分析装置において、前記標準試料は、グラファイトまたはアクリルであることを特徴とする。
請求項1乃至9に記載の発明によれば、第1及び第2検出器による測定強度に含まれる各バックグラウンド強度の比率を予め記憶することで、蛍光X線のピーク検出角度の長波長側及び短波長側で試料毎に再度バックグラウンド強度を測定することなく、試料の表面状態によらず、微量元素に対しても高精度かつ迅速な元素分析を行うことができる。
また、照射径を1mm以上にすることで、試料の表面状態や第1及び第2検出器のX線を検出する方向の違いによる影響を低減して正確な補正を行うことができる。また、基本的にバックグラウンド強度はエネルギーに対して連続的に緩やかに変化しているので、第2検出器で測定したX線スペクトルを波形分離して必要なバックグラウンド強度を簡単に求めることができ、正確な補正を行うことができる。
また、請求項2に記載の発明によれば、第1及び第2検出器はそれぞれ異なるエネルギー感度特性を有するため、特に広い波長範囲に対して入射角度を走査する走査型の蛍光X線分析装置において、例えば、複数に分割した入射角度や、測定する蛍光X線に対応した入射角度ごとに記憶した比率を用いることで、より正確な補正を行うことができる。
また、請求項3に記載の発明によれば、試料を回転させながら測定することで、第1及び第2検出器のX線を検出する方向の違いによる試料の表面状態(表面粗さや不均一性等)の影響を低減し、より正確な補正を行うことができる。
以下、本発明を実施するための好適な実施の形態(以下、実施形態という)を、図面に従って説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る蛍光X線分析装置の概略を示す図である。図に示すように、蛍光X線分析装置は、X線源100と、試料室102と、試料台103と、試料回転機構と、分光素子106と、第1検出器108と、第2検出器110と、計数器112と、走査機構114と、記憶装置116と、演算装置118と、を含んで構成されている。
X線源100は、2次X線(蛍光X線、散乱X線を含む)を発生させる1次X線を、後述する試料101の表面に1mm以上の照射径で照射する。
試料室102は、X線源100の1次X線の出射部、試料台103、試料回転機構と、分光素子106、第1検出器108、第2検出器110、走査機構114、を内部に収容する。また、試料室102の内部は、真空排気装置(図示せず)によって真空引きしてもよい。さらに、試料室102をX線を透過する隔壁で仕切り、試料台103、試料回転機構と、分光素子106、第1検出器108、第2検出器110及び走査機構114を収容する分光室を設けてもよい。
試料台103は、試料101を載置する。具体的には、例えば、試料台103は、X線源100から1次X線が照射される面に対して、測定対象となる試料101を載置する。また、例えば、試料台103は、X線源100から1次X線が照射される面に対して、後述する比率を算出する為に必要な測定データを得る為に、標準試料を載置する。
試料回転機構は、試料台103を回転する。具体的には、例えば、試料回転機構は、モーター104と、回転軸105と、を含んで構成され、試料台103と連結される。試料回転機構は、モーター104が回転し、回転軸105が試料台103に動力を伝えることによって、測定中に試料台103に載置された試料101を測定面に垂直な軸を中心に回転する。試料101を回転させながら測定することで、前記第1検出器108と第2検出器110のX線を検出する方向の違いによる試料101の表面状態の影響を低減し、より正確な補正を行うことができる。なお、試料回転機構を有しない構成としてもよい。
分光素子106は、2次X線を分光する。具体的には、例えば、分光素子106は、試料101から発生した複数の波長の2次X線のうち、いわゆるブラッグの条件式を満たす特定の波長のみを分光する。
なお、本実施形態においては、分光素子106は、走査機構114によって回転する分光素子106aと、試料101から発生した2次X線の入射角度と分光素子106の表面との角度が一定である分光素子106bと、を含むが、いずれか一方のみを含む構成としてもよい。
また、分光素子106は、それぞれ異なる波長の2次X線を分光する複数の分光素子106を含む構成としてもよい。具体的には、例えば、複数の分光素子106がそれぞれ異なる格子間隔を有することにより、それぞれ異なる波長の2次X線を同時に分光する複数の分光素子106bを有する構成としてもよい。この場合、分光素子106bと同数の第1検出器108を有し、分光された2次X線の強度をそれぞれ同時に測定する。また、走査機構114によって回転する分光素子106aを複数有し、測定対象となる試料101に含まれる元素範囲に応じて、適当な分光素子106aが選択される構成としてもよい。
第1検出器108は、分光素子106によって分光された2次X線の強度を測定する検出器である。具体的には、例えば、第1検出器108は、従来から知られている比例計数管や、シンチレーション計数管、またはエネルギー分散型としても使用されるSDD等の検出器である。第1検出器108は、分光素子106によって分光された2次X線の強度を測定する。なお、第1検出器108は、回転する分光素子106a及び入射角度と分光素子106の表面との角度が一定である分光素子106bに対してそれぞれ設けられる。
第2検出器110は、2次X線の強度を測定するエネルギー分散型の検出器である。具体的には、例えば、第2検出器110は、従来から知られているSi(Li)検出器やSDD等の半導体検出器であって、試料101から発生した2次X線の強度を分光素子を介さず直接測定する。第1検出器108及び第2検出器110は、信号増幅器などを内蔵し、測定した2次X線のエネルギーに応じた波高値を有するパルス信号を出力する。
計数器112は、第1検出器108及び第2検出器110の測定強度として出力されるパルス信号を、波高値に応じて計数して演算装置118に出力する。具体的には、例えば、計数器112は、マルチチャンネルアナライザであって、第1検出器108及び第2検出器110の出力パルス信号を、2次X線のエネルギーに対応した各チャンネル毎に計数し、2次X線の強度として演算装置118に出力する。分光された2次X線を測定する第1検出器108の出力を取得する計数器112は、分光されたエネルギーに対応する波高値範囲のみのパルス信号を計数するシングルチャンネルアナライザであってもよい。
走査機構114は、2次X線が分光素子106に入射する入射角度を変更するとともに、分光された2次X線が出射された方向に第1検出器108の位置を走査する。具体的には、例えば、走査機構114は、分光素子106が固定された分光素子固定台(図示なし)を回転させる。また、分光された2次X線が進む方向と分光素子106の表面との成す出射角度は入射角度と等しくなることから、走査機構114は、上記分光素子106固定台の回転と連動して、分光素子106表面との成す角度が出射角度である方向に第1検出器108を走査する。
換言すると、走査機構114は、試料101から発生した2次X線の進む方向と分光素子106表面との成す入射角度をθ度とした場合に、試料101から発生した2次X線の進む方向と分光素子106によって分光された2次X線の進む方向との成す角度が2θ度となる関係を満たすように、分光素子106固定台を回転させるとともに、第1検出器108を走査する。
走査機構114の動作によって、2次X線が分光素子106に入射する入射角度が変更される。入射角度は分光される2次X線のエネルギーに相当することから、走査機構114を備えた第1検出器108は、様々なエネルギーの2次X線の強度を測定することができる。
記憶装置116は、第1検出器108及び第2検出器110による測定強度に含まれる各バックグラウンド強度の比率を予め記憶する。比率の算出方法に関する説明は、後述する。
演算装置118は、第2検出器110による試料101の測定強度から波形分離処理により、第1検出器108で測定する対象元素の蛍光X線の波長に対応するエネルギーでのバックグラウンド強度を分離するとともに、第1検出器108による試料101の測定強度から、分離されたバックグラウンド強度に比率を乗じた値を差し引く補正を行う。演算装置118の詳細な説明については後述する。
続いて、本実施形態における蛍光X線分析装置の動作について説明する。まず、記憶装置116が予め記憶する、第1検出器108及び第2検出器110による測定強度に含まれる各バックグラウンド強度の比率について説明する。
まず、試料台103に試料101が載置されており、当該試料101に1次X線が照射された場合において、第1検出器108及び第2検出器110は、それぞれ、2次X線の強度を測定する。
次に、演算装置118が、計数器112を介した第1検出器108の測定強度及び第2検出器110の測定強度から、各バックグラウンド強度を分離する。具体的には、例えば、まず、第1検出器108は、走査機構114により、第1検出器108を測定対象とする蛍光X線ピーク角度の長波長側及び短波長側に同角度離れたピーク強度を含まない角度に設定される。そして、演算装置118は、それぞれ測定した強度を平均して測定対象とする蛍光X線ピークエネルギーでのバックグラウンド強度を算出する。
次に、演算装置118は、蛍光X線のピーク波形がガウシアン関数、バックグラウンド強度がエネルギーの1次関数であると仮定して、第2検出器110の測定強度から最小二乗法によりピーク波形を波形分離してバックグラウンド強度の1次式を算出する。また、演算装置118は、この1次式により、測定対象とする蛍光X線ピークエネルギーでのバックグラウンド強度を算出する。
次に、演算装置118は、第1検出器108の測定強度に基づいて算出したバックグラウンド強度と、第2検出器110の測定強度に基づいて算出したバックグラウンド強度と、の比率を算出する。
ここで、試料101から発生した2次X線は、分光素子106によって分光される際、分光素子106の反射係数に応じて減衰する。第1検出器108が測定する2次X線は分光素子106によって分光されたX線であることから、第1検出器108が測定する2次X線の強度は、分光素子106によって減衰した後の強度である。
一方、第2検出器110は、試料101から発生した2次X線を直接測定する。従って、第2検出器110が測定する2次X線は、第1検出器108が測定する2次X線のように分光素子106による減衰が発生していない。
従って、分光素子106による減衰係数を、第1検出器108と第2検出器110によってそれぞれ測定した2次X線に含まれるバックグラウンドの強度の比率によって算出することができる。記憶装置116は、上記のようにして算出された比率を記憶する。
なお、上記比率を算出する際に測定対象となる試料101は、分析対象元素を含まない標準試料であることが望ましい。分析対象元素を含まない標準試料を用いると、第1検出器108、第2検出器110共に測定対象とする蛍光X線ピークエネルギーでのバックグラウンド強度を直接測定することができ、正確な比率を算出することができる。
具体的には、例えば、標準試料は、グラファイトまたはアクリルが用いられる。グラファイトやアクリルは、軽元素からなるのでバックグラウンドとなるコンプトン散乱が強く発生し、また、含まれる不純物が少ない。従って、測定する蛍光X線の妨害となるピークも殆どなく、前記比率をより正確に算出することができる。特に、グラファイトは、X線照射による劣化が少ないため、標準試料として用いることが望ましい。また、炭素を分析対象元素とする場合にはSiO2が用いられる。
また、記憶装置116は、分光素子106を複数備える構成とする場合には、分光素子106毎に異なる上記比率を記憶するようにしてもよい。
また、記憶装置116は、2次X線のエネルギーの大きさに対応した比率を記憶するようにしてもよい。具体的には、例えば、記憶装置116は、上記比率を2次X線のエネルギーの関数として記憶するようにしてもよい。
続いて、演算装置118が試料101測定時に行う処理について説明する。記憶装置116が上記比率を予め記憶している状態において、測定対象となる試料101が試料台103に載置される。当該試料101に対して1次X線が照射され、第1検出器108及び第2検出器110は、それぞれ、試料101から発生した2次X線の強度を測定する。
次に、演算装置118は、例えば、上記のような関数近似を用いて、第2検出器110による試料101の測定強度から、測定対象とする蛍光X線ピークエネルギーでのバックグラウンド強度を算出する。次に、演算装置118は、算出したバックグラウンド強度に対して、記憶装置116に記憶された上記比率を乗算する。
ここで、バックグラウンド強度の上記比率は、2次X線のエネルギーに対して連続的に緩やかに変化するので、ある程度のエネルギー範囲では一定の上記比率を用いることができるが、演算装置118は、上記入射角度に応じて異なる比率を用いて上記乗算することが望ましい。
具体的には、例えば、上記のように入射角度は分光される2次X線のエネルギーに相当する。従って、記憶装置116が2次X線のエネルギーに対応した比率を複数記憶する場合には、演算装置118は、2次X線のエネルギーに応じて異なる比率を用いて乗算することが望ましい。これによって、演算装置118は、入射角度に応じて異なる比率を用いた補正が行われる。
また、バックグラウンド強度の上記比率は、2次X線のエネルギーに対して連続的に変化するので、上記比率を2次X線のエネルギーの関数として記憶装置116に記憶してもよい。この場合、あらかじめバックグラウンド強度を測定していない2次X線のエネルギーに対しても、演算装置118で上記比率を算出して用いることができる。
次に、演算装置118は、第1検出器108による試料101の測定強度から、乗算によって得た値を差し引く補正を行う。ここで、上記比率は、第1検出器108及び第2検出器110によってそれぞれ測定したバックグラウンド強度の比率であるため、乗算によって得た値は、第1検出器108の測定強度に含まれるバックグラウンド強度と近似できる。
従って、第2検出器110による測定強度及び予め記憶装置116に記憶した比率に基づいて、第1検出器108による測定強度に含まれるバックグラウンド強度を除去することができる。
上記のように、記憶装置116が上記比率を予め記憶した上で、第1検出器108と第2検出器110が同時に2次X線を測定することによって、第1検出器108による測定強度に含まれるバックグラウンド強度が除去された測定強度を迅速に得ることができる。演算装置118は、上記のバックグラウンド強度が除去された測定強度を用い、例えば検量線法やFP(ファンダメンタルパラメータ)法により定量分析を行う。
なお、本実施形態は上記の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、測定径が1mm以上であるコリメータを含む複数のコリメータを、試料101と分光素子106との間に配置される構成としてもよい。
具体的には、例えば、試料101から出射した2次X線が分光素子106に進む経路に、コリメータを配置する構成としてもよい。コリメータを配置することによって、試料101の一部分のみを限定して測定することができる。ここで、測定径を1mm以上にすることで、第1検出器108と第2検出器110が測定する2次X線の方向の違いによる試料101の表面状態の影響を低減することができる。
この場合、蛍光X線分析装置は、さらに、測定径1mm以上であるコリメータを含む複数のコリメータから測定に使用するコリメータを選択するコリメータ選択手段を備える構成としてもよい。具体的には、例えば、コリメータ選択手段は、測定径に応じてコリメータを選択し、試料101から出射した2次X線が分光素子106に進む経路に配置するようにしてもよい。
さらに、記憶装置116は、各コリメータに対応した比率を記憶するようにしてもよい。具体的には、記憶装置116は、測定径が異なるコリメータ毎に上記比率を算出し、各コリメータと対応付けて当該比率を記憶するようにしてもよい。この場合、演算装置118は、上記演算をするにあたって、試料101の測定に用いたコリメータに応じた比率も用いて演算を行うようにしてもよい。
100 X線源、101 試料、102 試料室、103 試料台、104 モーター、105 回転軸、106 分光素子、106a 回転する分光素子、106b 固定された分光素子、108 第1検出器、110 第2検出器、112 計数器、114 走査機構、116 記憶装置、118 演算装置。
試料にX線(1次X線)が照射された場合、試料から出射されるX線(2次X線)には、試料で発生する蛍光X線の他に、試料で散乱した1次X線が含まれる。従って、蛍光X線分析装置を用いて試料から出射した2次X線を測定する場合、測定強度には、元素の分析に用いられる蛍光X線だけでなく、分析精度を低下させるバックグラウンド強度となる試料から散乱したX線が含まれる。波長分散型の蛍光X線分析装置はエネルギー分散型の装置よりエネルギー分解能がよいため、バックグラウンド強度の影響は少なくなる。
波長分散型の蛍光X線分析装置を用いて更に高精度な分析を行う手法として、バックグラウンド強度を除去する分析手法が知られている。具体的には、蛍光X線のピーク角度でピーク強度を測定した後、ピーク角度から少し角度をずらせた位置でバックグラウンド強度測定を行い、ピーク強度からバックグラウンド強度を差し引くことで精度を向上させることが知られている。しかし、当該方法は、測定を複数回行う必要が生じる為、迅速な分析を行うことができない。また、測定対象となる試料によってバックグラウンドの強度が変わる為、試料ごとにバックグラウンド強度を測定する必要があり、分析に時間を要するという問題も存在する。
また、特許文献3は、分光素子で分光されたX線を測定する波長分散型検出手段と分光素子を用いないエネルギー分散型検出手段を共に備える電子線マイクロアナライザについて開示している。具体的には、波長分散型検出手段におけるピーク角度から少し角度をずらせて測定するバックグラウンド強度に替えて、特許文献3は、ピーク角度の近傍に対応するエネルギー分散型検出手段の測定強度にあらかじめ算出した一定比率を掛け合わせた数値を、波長分散型検出手段の測定強度から引き算することで迅速にバックグラウンド強度を除去する点を開示している。
また、特許文献4は、電子線マイクロアナライザにおいて、波長分散型検出手段で測定した蛍光X線のピーク検出位置でのバックグラウンド強度をエネルギー分散型検出手段で測定される蛍光X線強度による定量分析結果に基づく平均原子番号から算出し、当該ピーク検出位置での強度からバックグラウンド強度を差し引くことで迅速かつ高精度な分析を行う点を開示している。
なお、特許文献4のように、電子線マイクロアナライザの分野においては、バックグラウンド強度の測定を行わず蛍光X線強度の測定による定量分析結果に基づく平均原子番号から演算によって前記一定比率を算出する点が知られている。しかしながら、電子線は、その特性上測定対象が微小領域に限られ、試料の表面状態等の影響により、X線を検出する方向が測定強度に大きな影響を与える。
Claims (9)
- 2次X線を発生させる1次X線を、試料の表面に1mm以上の照射径で照射するX線源と、
前記2次X線を分光する分光素子と、
前記分光素子によって分光された前記2次X線の強度を測定する第1検出器と、
前記2次X線の強度を分光せずに測定するエネルギー分散型の第2検出器と、
前記第1及び第2検出器による測定強度に含まれる各バックグラウンド強度の比率を予め記憶する記憶装置と、
前記第2検出器による前記試料の測定強度から、バックグラウンド強度を波形分離して算出するとともに、前記第1検出器による前記試料の測定強度から、前記分離されたバックグラウンド強度に前記比率を乗じた値を差し引く補正をし、定量分析を行う演算装置と、
を有する蛍光X線分析装置。 - 前記2次X線が前記分光素子に入射する入射角度を変更するとともに、分光された前記2次X線が出射された方向に前記第1検出器の位置を走査する機構、をさらに有し、
前記演算装置は、前記入射角度に応じて異なる前記比率を用いて補正することを特徴とする請求項1に記載の蛍光X線分析装置。 - さらに、前記試料を載置する試料台と、
測定中に、前記試料台に載置した前記試料を測定面に垂直な軸を中心に回転させる試料回転機構と、を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の蛍光X線分析装置。 - それぞれ異なる波長の前記2次X線を分光する複数の前記分光素子を有し、
前記記憶装置は、前記分光素子毎に異なる前記比率を記憶することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の蛍光X線分析装置。 - 前記記憶装置は、前記2次X線のエネルギーに対応した前記比率を記憶することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の蛍光X線分析装置。
- 前記記憶装置は、前記比率を前記2次X線のエネルギーの関数として記憶することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の蛍光X線分析装置。
- 前記試料と前記分光素子との間に配置される測定径が1mm以上であるコリメータを含む複数のコリメータと、
前記複数のコリメータから測定に使用するコリメータを選択するコリメータ選択手段と、をさらに有し、
前記記憶装置は、前記各コリメータに対応した前記比率を記憶することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の蛍光X線分析装置。 - 前記記憶装置に記憶される前記比率を測定する際に、分析対象元素を含まない標準試料を用いることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の蛍光X線分析装置。
- 前記標準試料は、グラファイトまたはアクリルであることを特徴とする請求項8に記載の蛍光X線分析装置。
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JPS59214743A (ja) * | 1983-05-20 | 1984-12-04 | Jeol Ltd | X線分析装置 |
JP2926857B2 (ja) * | 1990-03-31 | 1999-07-28 | 株式会社島津製作所 | X線による定性分析装置 |
JPH071311B2 (ja) * | 1991-04-05 | 1995-01-11 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線スペクトルのピーク分離方法 |
EP0554935A1 (en) * | 1992-02-03 | 1993-08-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Combined X-ray spectrometer |
EP0805967A1 (en) * | 1995-07-25 | 1997-11-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray spectrometer comprising a plurality of fixed measuring channels |
JPH1123495A (ja) * | 1997-07-08 | 1999-01-29 | Rigaku Ind Co | 蛍光x線分析用試料支持具およびこれを保持する試料ホルダ |
JP3488918B2 (ja) * | 1997-11-28 | 2004-01-19 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
JP3572333B2 (ja) * | 1998-12-28 | 2004-09-29 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
WO2003054531A1 (en) * | 2001-12-20 | 2003-07-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A method of determining the background corrected counts of radiation quanta in an x-ray energy spectrum |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023026598A1 (ja) * | 2021-08-24 | 2023-03-02 | 株式会社リガク | X線分析装置及び波高値予測プログラム |
JP2023031101A (ja) * | 2021-08-24 | 2023-03-08 | 株式会社リガク | X線分析装置及び波高値予測プログラム |
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