JP7008044B2 - 座標測定機のための取り外し可能なプローブに電力を供給するための電力伝達構成体 - Google Patents

座標測定機のための取り外し可能なプローブに電力を供給するための電力伝達構成体 Download PDF

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Description

本開示は、精密計測学に関し、より詳細には座標測定機から取り外されている間に座標測定機のプローブに電力を供給することに関する。
座標測定システム、例えば座標測定機(CMM)などの1次元または3次元測定システムは、タッチプローブのスタイラスがワークピースに接触したときに、座標測定ゲージの読み取りをトリガするタッチプローブを使用することによって、検査されたワークピースの測定値を得ることができる。参照によりその全体が本明細書に組み込まれる、米国特許第5,526,576号に記載される1つの例示的な従来技術のCMMは、ワークピースと接触するためのタッチプローブと、タッチプローブを動かすための複数の駆動装置を含む移動機構と、タッチプローブヘッド内またはタッチプローブヘッドからの信号処理に関する機能を含む関連する電子システムと、を備える。走査型CMMプローブが表面と接触している間に、表面を走査するような様々なCMMを構成することもできる。表面走査プローブを含むCMMは、米国特許第7,652,275号に記載されており、その全体が参照により本明細書に組み込まれる。そこに開示されているように、機械的接触プローブまたは光学プローブはワークピース表面を横切って走査することができる。
測定動作中に、CMMプローブ内の回路部品(回路要素)は、ワークピース表面測定に使用される信号に影響を与え、熱膨張または熱収縮を通じてCMMプローブの機械部分の寸法に影響を与える可能性がある熱を発生させうるかもしれない。この問題に対処するために、CMMプローブがワークピース表面測定を開始する前に定常状態の温度に達するように、CMMがウォームアップ期間中にCMMに取り付けられたCMMプローブに電力を供給できるようにすることが知られている。これは、特に複数のCMMプローブの使用を必要とする測定操作にとっては時間がかかり、望ましくない可能性がある。従って、ウォームアップ期間を早めるまたは回避するためのいくつかの手段が存在する。例えば、CMMプローブまたはCMMプローブを支持するCMMプローブヘッドは、CMMプローブの温度を所望の定常状態まで迅速に上昇させるように構成された熱調節器を備えてもよい。参照によりその全体が本明細書に組み込まれる米国特許第8,474,148号は、CMMプローブヘッドの内部に熱を供給するように構成されたヒータを開示している。
座標測定システムはまた、CMMプローブが格納ラックに格納されてCMMから取り外されている間に、CMMプローブに電力を供給するように構成されてもよい。参照によりその全体が本明細書に組み込まれる米国特許第8,381,588号( '588特許)は、様々なCMMプローブが使用されていない間にそれらを保持するための格納ラックを開示している。格納ラックは、測定中にCMMと通信するために通常使用されるCMMプローブの上部の電気接点を介して、使用されていない間にCMMプローブに電力を供給するように構成される。 '588特許はまた、プローブ本体側の一対の浮動ピンを介してアナログ走査プローブ内のレーザに電力を供給するように構成された同様のCMMプローブの格納ラックを開示している。CMMプローブに供給される電力は、CMMプローブがCMMに取り付けられているとき、測定動作中にCMMプローブの温度を定常状態の温度にほぼ等しい温度まで上昇させることができる。しかしながら、いずれの場合も、関連する接点配置は、複雑で高価な機械的特徴、格納ラック内のそのレセプタクル内のCMMプローブの比較的正確な位置合わせ、および各所望のCMMが格納ラック内の接点構成と確実に一致することを必要とする。これらの側面は時々、格納ラック内のCMMに電力を供給することを高価にし、信頼性に欠けるか又は不便にする。様々な用途において、直接電気接点または電池要素を必要とせずに、CMMから取り外されている間(例えば、格納ラックにある間)に電力を受け取るように構成されているCMMプローブを提供することが望ましい。
この概要は、[発明を実施するための形態]において以下でさらに説明される様々な開示された特徴および原理のより迅速な認識および理解を可能にするために簡略化された形で概念の抜粋を紹介するように提供される。従って、この概要は、簡単な概要としてのみ意図されており、特許請求される主題の重要な特徴を特定することを意図するものではなく、特許請求される主題の範囲を決定する際の助けとして使用されることも意図していない。
この概要は、詳細な説明において以下でさらに説明される様々な開示された特徴および原理のより迅速な認識および理解を可能にするために簡略化された形で概念の抜粋を紹介するように提供される。従って、この概要は簡単な概要としてのみ意図されており、特許請求された主題の重要な特徴を分離することを意図されておらず、特許請求された主題の範囲を決定する際の補助として使用されることも意図されていない。
格納された座標測定機(CMM)プローブに電力を供給するためのシステムが開示されている。そのシステムは、格納ラックと、CMMの近傍に取り付けられ、CMMによって自動的に挿抜されるように自身を受け入れて保持するように構成されたプローブレセプタクルを備える格納ラックに格納され、CMMに自動的に着脱可能であるCMMプローブと、電力伝達構成体と、を備える。電力伝達構成体は、プローブレセプタクルの近傍または内部で格納ラックに取り付けられ、交流発生電源から電力を受け取り、プローブレセプタクル内に保持されたCMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍で変化する電磁場を発生させるように構成された一次電磁巻線と、プローブレセプタクル内に保持されたCMMプローブのハウジングの内部かつCMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍に配置され、変化する電磁場に応答してCMMプローブの内部で使用可能な電力を発生させる二次電磁巻線と、を備える。そして、ハウジングの近傍部分は、CMMに取り付けられるCMMプローブの接触面ではなく、ハウジングの側面にあり、ハウジングは、少なくとも一部がハウジングの近傍部分を少なくとも部分的に囲む金属部分を少なくとも備える金属ハウジングであり、ハウジングの近傍部分は、二次電磁巻線が一次電磁巻線によって発生する変化する電磁場に良好に結合可能となるように、ハウジングの金属部分と少なくとも1つ異なる特性を備える。
一次電磁巻線を含む格納ラックは、上で概説した電力伝達構成体と共に使用するように構成することができる。
座標測定機から取り外された少なくとも1つの座標測定機(CMM)プローブに電力を供給するための方法が開示される。その方法は、CMMプローブを格納ラックのプローブレセプタクル内に保持するステップと、プローブレセプタクルに備えられ、プローブレセプタクルの近傍または内部に取り付けられた一次電磁巻線に電力を供給し、プローブレセプタクルに保持されたCMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍で変化する電磁場を発生させるように格納ラックを動作させるステップと、変化する電磁場に応答して、CMMプローブのハウジングの内部かつCMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍に配置された二次電磁巻線に電力を発生させるステップと、を含む。そして、ハウジングの近傍部分は、CMMに取り付けられるCMMプローブの接触面ではなく、ハウジングの側面にあり、ハウジングは、少なくとも一部がハウジングの近傍部分を少なくとも部分的に囲む金属部分を少なくとも備える金属ハウジングであり、ハウジングの近傍部分は、二次電磁巻線が一次電磁巻線によって発生する変化する電磁場に良好に結合可能となるように、ハウジングの金属部分と少なくとも1つ異なる特性を備える。
CMMの様々な例示的要素を示す図である。 本明細書に開示されている原理に従って格納されたCMMプローブに電力を供給し加熱するための電力伝達構成体を含む、格納ラック200およびCMMプローブ180の部分概略図である。 格納されたCMMプローブに電力を供給するために使用可能な格納ラックの第1の従来技術のプローブレセプタクルの部分概略断面図である。 格納されたCMMプローブに電力を供給するために使用可能な格納ラックの第2の従来技術のプローブレセプタクルの部分概略断面図である。 CMMプローブに電力を供給する方法を示すフロー図である。
図1は、交換可能なCMMプローブ180を利用するCMM150を含む測定システム100の様々な例示的要素を示す図である。測定システム100は、手動操作ユニット110と、インターフェース電子機器120およびホストコンピュータ115を備えるホスト電子システムと、を有する。インターフェース電子機器120は、例えば、CMM150の動きを制御するモーションコントローラと、(例えば信号線および制御線130Aを介して)CMMプローブ180に接続するインターフェース回路と、を備える。手動操作ユニット110は、(例えば信号線および制御線130Cを介して)インターフェース電子機器120に結合することができ、CMM150を手動で操作するためのジョイスティック111を備えることができる。ホストコンピュータ115は、(例えば信号線および制御線130Bを介して)インターフェース電子機器120に結合され、ユーザ入力またはプログラム制御を介してCMM150を操作し、ワークピースWの測定データを処理することができる。ホストコンピュータ115は、例えば、測定条件または指示を入力するための入力手段112(例えばキーボードなど)と、例えば測定結果を出力するための出力手段113(例えばディスプレイ、プリンタなど)と、を備える。様々な実施形態では、ホストコンピュータ115とインターフェース電子機器120は併合および/または区別できないことがある。
CMM150は、定盤152上に配置された駆動機構151と、交換可能なCMMプローブ180を駆動機構151に取り付けるための(例えば、関節式ヘッド160に含まれるような)取り付け部165と、を備える。様々な実施形態では、CMMプローブ180(例えばCMMプローブ180A~180Cのうちの1つ)は、自動的に格納ラック200に格納され、格納ラック200から自動的に取り外され、自動ジョイント接続170で、(例えば検査プログラムの制御下で)取り付け部165に取り付けられる(つまり、CMMプローブ180はCMM150に自動的に着脱可能とされている)。なお、自動ジョイント接続170は、既知の原理に従って、様々な交換可能なCMMプローブまたはセンサに共通の物理的インターフェースを提供する精密なキネマティック取り付け機構および電気的接続を備える。格納ラック200、および/または自動ジョイント接続170でキネマティック取り付けされるCMMプローブ180の自動交換に使用可能な例示的な既知の技術および機構は、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる米国特許第4651405号に記載されている。しかしながら、他の既知の技術およびメカニズムが使用されてもよいことは言うまでもない。本明細書に開示されている原理に従って格納されているCMMプローブ(例えばCMMプローブ180)に電力を供給/加熱するための格納ラック200の実施形態は、さらに以下に記載される。
駆動機構151は、CMMプローブ180を3次元的に移動させるためのx軸、y軸、z軸のスライド機構151X、151Y、151Zを備える。図1に示す特定の実施形態では、自動ジョイント接続170でCMMに取り付けられるCMMプローブ180Bは、接触走査型CMMプローブであり、プローブ本体181Bと、接触部183Bに取り付けられたスタイラス182Bと、を備える。スタイラス182Bは、スタイラス懸架部を介してプローブ本体181Bに取り付けられている。スタイラス懸架部は、接触部183BがワークピースWの表面上の測定経路に沿って移動すると、接触部183Bがプローブ本体に対して3方向に自由に位置を変えることを許容している。
CMMプローブ180Bは、(接触部183Bの位置を反映して)スタイラス182Bの撓みを感知し、(例えば信号線および制御線130Aを介して)撓みまたは位置データをインターフェース電子機器120に出力するセンサおよび回路を備える。しかしながら、このタイプのCMMプローブは例示的なものにすぎず、限定的なものではない。より一般的には、本明細書に開示されている原理に従って、互換性のある任意のタイプの交換可能なCMMプローブ(例えば、タッチプローブ180A、または非接触走査プローブ180C、または色点センサ、またはカメラ)または他のセンサを使用することができる。
図2は、本明細書に開示されている原理に従って格納されたCMMプローブに電力を供給し加熱するための電力伝達構成体を含む、格納ラック200およびCMMプローブ180の部分概略図である。図2の特定の番号を付けられた要素1XXまたは1XX' は、図1の同様の番号を付けられた対応する要素1XXに対応するおよび/または同様の動作を有することがあり、以下の説明または文脈によって別段に示されない限り、それと同様に理解され得る。適用可能であれば、類似の設計および/または機能を有する要素を示すためのこの番号付けの方式は、以下の図にも適用することができる。
図2に示すように、格納ラック200は、CMMに自動的に取り付け可能かつ取り外し可能な少なくとも1つのCMMプローブ180(例えば、図1に示すCMMプローブ180A、180C、および180B)を格納する。格納ラック200は、測定システム100のように、CMMの近傍に取り付けることができる。図2に示す実施形態では、格納ラック200は、CMMプローブ180を受け入れて保持するように構成された3つのプローブレセプタクル210A、210B、210Cを備える。なお、CMMプローブ180は、CMMによって自動的に挿抜される。プローブレセプタクル210A、210Bおよび210Cは概略的に示されていることを理解されたい。当然のことながら、格納ラック200およびプローブレセプタクル210A、210B、および210Cは、CMMプローブ180がCMMによって自動的に挿抜されるときに、CMMプローブ180を係合および開放するためのCMMプローブ180上の既知の機械的機構と結びつく既知の機構を備えている。例えば、格納ラック200は、公知の市販の格納ラック、および/または日本国特開昭60-224005号、および/または欧州特許第856377号、および/または米国特許第8,381,588号、第7,722,515号に開示されている格納ラックと同様のレセプタクル機構を備えている。なお、これらの各々は、参照によりその全体が本明細書に組み込まれている。いくつかの実施形態では、格納ラックは、本明細書で開示されている既知の動力付き機構および/または様々な要素を動作させるために、CMMから電力を受け取るように接続されていてもよい。
図2はまた、本明細書に開示される原理に従い、格納されたCMMプローブ180(例えば180Aおよび180C)に電力を供給し加熱するための電力伝達構成体の一実施形態を示す。図示の実施形態では、電力伝達構成体は、一次電磁巻線259と電力供給線258とを備える一次電磁巻線モジュール250を含む。一次電磁巻線モジュール250は、プローブレセプタクル210(例えば、プローブレセプタクル210A、210Bおよび/または210Cのうちの1つ)の近傍または内部で格納ラックに取り付けられる。一次電磁巻線259は、電源から(例えば、電力供給線258から直接、または一次電磁巻線モジュール250内の交流発生電源から)交流電力を受け取るように構成される。一次電磁巻線259は、格納ラック200のプローブレセプタクル210内に保持された隣接するCMMプローブ180の(ハウジングの)近傍で変化する電磁場を発生させる。
電力伝達構成体は、隣接するCMMプローブ180のハウジングまたはカバーの内部かつその近傍に、二次電磁巻線199(例えば、図2に示す二次電磁巻線199A、199C)をさらに備える。既知の原理に従って、二次電磁巻線199は、一次電磁巻線259によって発生した変化する電磁場を受信できるように配置され、電磁誘導によって電力を発生させる(例えば交流を発生させる)。二次電磁巻線199および/またはCMMプローブ180のハウジングの近傍部分は、二次電磁巻線199が変化する電磁場に最適に結合するように構成されてもよい。例えば、CMMプローブ180の金属ハウジングは、その位置で薄くするかまたは除去されていてもよい。そのハウジングが取り外される場合、変化する電磁場を遮蔽しないプラスチック製のカバーまたはシーリング材料がハウジングを密封するために使用されてもよい。
二次電磁巻線199は、CMMプローブ180の内部に含まれる電子部品190に含まれ、電力を供給するように接続される。特に、様々な実施形態では、二次電磁巻線199は、電子部品190に含まれる熱調整要素195に電力を供給する。いくつかの実施形態では、熱調整要素195は、CMMの測定動作中に通常使用される要素(例えば、CMMプローブ180のすべて、または一次発熱要素のみが二次電磁巻線199によって電力を供給され得る)を単に備える(つまり、熱調整要素195は、測定動作中にCMMがCMMプローブ180を使用して電力を供給するときに通常電力が供給される電子部品190のうちの少なくともいくつかを備えているといえる)。他の実施形態では、熱調整要素195は、特定目的の「格納ラックヒータ」回路を備える。一実施形態では、それは、1つまたは複数の電力投入された抵抗器、制御温度センサ、および当技術分野で知られている他の適切な要素を含むことができる。
様々な実施形態では、熱調整要素195は、(例えば、符号195Cによって概略的に表されるように)CMMプローブ内の望ましい位置に分散させることができる。いずれにせよ、熱調整要素195に供給される電力は、CMMプローブ180を測定動作中に有するであろう温度と同様の温度に保つために熱を供給する。これにより、ユーザがCMMプローブ180を使用して正確なCMM測定動作を開始する前のウォームアップ期間の必要性が大幅に減少する。
様々な実施態様では、熱調整要素195は、(例えば、符号195Cによって概略的に表されるように)CMMプローブ内の望ましい位置に分散させることができる。いずれにせよ、熱調整要素195に供給される電力は、CMMプローブ180を測定動作中に有するであろう温度と同様の温度に保つために熱を供給する。これにより、ユーザがCMMプローブ180を使用して正確なCMM測定動作を開始する前のウォームアップ期間の必要性は大幅に減少する。
電磁誘導を介して電力を供給することはまた、図3および図4に示されるような直接電気接点の必要性を回避する。このような電気接点は、機械的摩耗および腐食に左右され、それらおよび他の理由から信頼できない接続である。電磁誘導を介して電力を供給することは、より良い信頼性とより低い組み立てコストを提供することができる。一次電磁巻線259の様々な実施形態は、(例えば、図2に示すような動作可能で便利な任意の位置で、一次電磁巻線モジュール250を格納ラック200に取り付けることによって)格納ラック200に容易に後付けすることができる。あるいは、一次電磁巻線259は、格納ラック200の要素内の任意の動作可能で都合のよい位置に直接配置または埋め込むことができる。一次電磁巻線259は、二次電磁巻線199に結合するための望ましい場を発生させるのに適合する任意の都合のよい望ましい形態をとることができる。
様々な実施形態では、一次電磁巻線259は、少なくとも2つのターンを含むコイルを備える。様々な実施形態では、二次電磁巻線199は、少なくとも2つのターンを含むコイルを備える。電磁誘導を介して電力を伝達するための様々な構成および回路は、知られており、本明細書に開示されている原理に従って様々な実施形態で使用または組み合わせることができる。例えば、様々な構成および回路が、米国特許出願公開第2012/0228286号、第2013/0162200号、第2014/0120747号に開示され、これらの各々は、その全体が参照により本明細書に組み込まれている。
図3は、格納ラック300の従来技術のプローブレセプタクル310の断面図である。格納ラック300は、 '588特許に開示された格納ラックと同様である。格納ラック300は、走査CMMプローブ320側の電気接点331Aおよび電気接点331Bを介して走査CMMプローブ320内のレーザ340に電力を供給するように構成された電気接点330Aおよび電気接点330Bを備える。
図4は、格納ラック400の従来技術のプローブレセプタクル410の断面図である。格納ラック400は、 '588特許に開示された格納ラックと同様である。格納ラック400は電気接点430A、430Bおよび430Cを備える。CMMに取り付けられている間、電気接点430A、430B、および430Cは、電力をCMMプローブ420に伝達するように構成される。格納ラック400は、電気接点431A、431B、および431Cを備える。格納ラック400は、CMMプローブ420がCMMから取り外されてプローブレセプタクル410に配置されると、電気接点431A、431B、および431Cと電気接点430A、430B、および430Cとの間の接続を介してCMMプローブ420に電力を伝達するように構成される。CMMプローブ420は、少なくとも1つの熱抵抗器440が格納ラック400から電力を受け取るように構成される。少なくとも1つの熱抵抗器440は、その温度を調整するためにCMMプローブ420に熱を供給する。
図5は、座標測定機から取り外された少なくとも1つの座標測定機(CMM)プローブに電力を供給するための方法を示すフロー図である。
ブロック510で、CMMプローブは、格納ラックのプローブレセプタクル内に保持される。プローブレセプタクルは、プローブレセプタクルの近傍または内部に取り付けられた一次電磁巻線を備える。
ブロック520で、格納ラックは、一次電磁巻線に電力を供給し、プローブレセプタクルに保持されたCMMプローブのハウジングの近傍で変化する電磁場を発生させるように動作する。
ブロック530で、変化する電磁場に応答して、CMMプローブ内の二次電磁巻線に電力が発生する。
2016年7月1日に出願された米国仮特許出願第62/357,683号の開示は、その全体が本明細書に組み込まれる。
本明細書に開示されている原理を実施するために様々な代替形態を使用することができる。さらに、上述の様々な実施形態を組み合わせてさらなる実施形態を提供することができる。さらなる実施形態を提供するために、本明細書に組み込まれる様々な特許および他の参考文献の概念を使用することが望まれる場合、または当技術分野で知られている他の方法で、実施形態の態様を変更することができる。
これら及び他の変更は、上記詳細な説明に照らして実施形態となされる。一般的には、以下の特許請求の範囲において、使用される用語は、明細書及び特許請求の範囲に開示された特定の実施形態に特許請求の範囲を限定するように解釈されるべきではなく、このような特許請求の範囲が権利を与えるような均等物の全範囲と共にすべての可能な実施形態を含むように解釈されるべきである。

Claims (14)

  1. 格納された座標測定機(CMM)プローブに電力を供給するためのシステムであって、
    格納ラックと、
    CMMの近傍に取り付けられ、前記CMMによって自動的に挿抜されるように自身を受け入れて保持するように構成されたプローブレセプタクルを備える前記格納ラックに格納され、前記CMMに自動的に着脱可能である前記CMMプローブと、
    力伝達構成体と、
    を備え、
    前記電力伝達構成体は、
    前記プローブレセプタクルの近傍または内部で前記格納ラックに取り付けられ、交流電流発生電源から電力を受け取り、前記プローブレセプタクル内に保持された前記CMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍で変化する電磁場を発生させるように構成された一次電磁巻線と、
    記CMMプローブのハウジングの内部かつ前記CMMプローブのハウジングの前記近傍部分の近傍に配置され、変化する前記電磁場に応答して前記CMMプローブの内部で使用可能な電力を発生させる二次電磁巻線と、
    を備え
    前記ハウジングの前記近傍部分は、前記CMMに取り付けられる前記CMMプローブの接触面ではなく、前記ハウジングの側面にあり、
    前記ハウジングは、少なくとも一部が前記ハウジングの前記近傍部分を少なくとも部分的に囲む金属部分を少なくとも備える金属ハウジングであり、
    前記ハウジングの前記近傍部分は、前記二次電磁巻線が前記一次電磁巻線によって発生する変化する電磁場に良好に結合可能となるように、前記ハウジングの前記金属部分と少なくとも1つ異なる特性を備える
    ことを特徴とするシステム
  2. 請求項1において、
    前記ハウジングの前記近傍部分と少なくとも1つ異なる特性は、前記ハウジングの前記金属部分よりも薄い金属、または前記一次電磁巻線によって発生する変化する前記電磁場を遮蔽しないプラスチック製のカバー若しくはシーリング材料の少なくともいずれかを備える
    ことを特徴とするシステム。
  3. 請求項1において、
    前記二次電磁巻線は、前記CMMプローブの電子部品に含まれる熱調整要素に電力を供給するように構成されている
    ことを特徴とするシステム
  4. 請求項において、
    前記熱調整要素は、測定動作中に前記CMMが前記CMMプローブを使用して電力を供給するときに通常電力が供給される前記電子部品のうちの少なくともいくつかを備える
    ことを特徴とするシステム
  5. 請求項1において、
    前記一次電磁巻線は、少なくとも2つのターンを含むコイルを備える
    ことを特徴とするシステム
  6. 請求項1において、
    前記二次電磁巻線は、少なくとも2つのターンを含むコイルを備える
    ことを特徴とするシステム
  7. 格納ラックと格納された座標測定機(CMM)プローブとを備える格納ラック構成体であって、
    前記格納ラックは、自身に格納され、CMMに自動的に着脱可能である格納された前記CMMプローブに電力を供給するための電力伝達構成体で使用するように構成された一次電磁巻線を備え、前記CMMの近傍に取り付けられ、前記CMMによって自動的に挿抜される前記CMMプローブを受け入れて保持するように構成されたプローブレセプタクルを備え、
    前記電力伝達構成体は、
    前記プローブレセプタクルの近傍または内部で前記格納ラックに取り付けられ、交流電流発生電源から電力を受け取り、前記プローブレセプタクル内に保持された前記CMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍で変化する電磁場を発生させるように構成された前記一次電磁巻線と、
    記CMMプローブのハウジングの内部かつ前記CMMプローブのハウジングの前記近傍部分の近傍に配置され、変化する前記電磁場に応答して前記CMMプローブの内部で使用可能な電力を発生させる二次電磁巻線と、
    を備え、
    前記ハウジングの前記近傍部分は、前記CMMに取り付けられる前記CMMプローブの接触面ではなく、前記ハウジングの側面にあり、
    前記ハウジングは、少なくとも一部が前記ハウジングの前記近傍部分を少なくとも部分的に囲む金属部分を少なくとも備える金属ハウジングであり、
    前記ハウジングの前記近傍部分は、前記二次電磁巻線が前記一次電磁巻線によって発生する変化する電磁場に良好に結合可能となるように、前記ハウジングの前記金属部分と少なくとも1つ異なる特性を備える
    ことを特徴とする格納ラック構成体
  8. 請求項7において、
    前記ハウジングの前記近傍部分と少なくとも1つ異なる特性は、前記ハウジングの前記金属部分よりも薄い金属、または前記一次電磁巻線によって発生する変化する前記電磁場を遮蔽しないプラスチック製のカバー若しくはシーリング材料の少なくともいずれかを備える
    ことを特徴とする格納ラック構成体。
  9. 請求項において、
    前記二次電磁巻線は、前記CMMプローブの電子部品に含まれる熱調整要素に電力を供給するように構成されている
    ことを特徴とする格納ラック構成体
  10. 請求項において、
    前記熱調整要素は、測定動作中に前記CMMが前記CMMプローブを使用して電力を供給するときに通常電力が供給される前記電子部品のうちの少なくともいくつかを備える
    ことを特徴とする格納ラック構成体
  11. 請求項において、
    前記一次電磁巻線は、少なくとも2つのターンを含むコイルを備える
    ことを特徴とする格納ラック構成体
  12. 請求項において、
    前記二次電磁巻線は、少なくとも2つのターンを含むコイルを備える
    ことを特徴とする格納ラック構成体
  13. 座標測定機から取り外された少なくとも1つの座標測定機(CMM)プローブに電力を供給するための方法であって、
    前記CMMプローブを格納ラックのプローブレセプタクル内に保持するステップと、
    前記プローブレセプタクルに備えられ、前記プローブレセプタクルの近傍または内部に取り付けられた一次電磁巻線に電力を供給し、前記プローブレセプタクル内に保持された前記CMMプローブのハウジングの近傍部分の近傍で変化する電磁場を発生させるように前記格納ラックを動作させるステップと、
    変化する前記電磁場に応答して、前記CMMプローブの前記ハウジングの内部かつ前記CMMプローブの前記ハウジングの前記近傍部分の近傍に配置された二次電磁巻線に電力を発生させるステップと、
    を含み、
    前記ハウジングの前記近傍部分は、前記CMMに取り付けられる前記CMMプローブの接触面ではなく、前記ハウジングの側面にあり、
    前記ハウジングは、少なくとも一部が前記ハウジングの前記近傍部分を少なくとも部分的に囲む金属部分を少なくとも備える金属ハウジングであり、
    前記ハウジングの前記近傍部分は、前記二次電磁巻線が前記一次電磁巻線によって発生する変化する電磁場に良好に結合可能となるように、前記ハウジングの前記金属部分と少なくとも1つ異なる特性を備える
    ことを特徴とする方法。
  14. 請求項13において、
    前記ハウジングの前記近傍部分と少なくとも1つ異なる特性は、前記ハウジングの前記金属部分よりも薄い金属、または前記一次電磁巻線によって発生する変化する前記電磁場を遮蔽しないプラスチック製のカバー若しくはシーリング材料の少なくともいずれかを備える
    ことを特徴とする方法。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016100308A1 (de) * 2016-01-11 2017-07-13 Datron Ag Verfahren zur Bestimmung von einer Referenzkoordinate eines Werkstücks und Bearbeitungsmaschine
DE102016221260A1 (de) * 2016-10-28 2018-05-03 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Linearführung für ein Koordinatenmessgerät und Koordinatenmessgerät
US10646883B2 (en) * 2017-04-19 2020-05-12 Renishaw Plc Contamination trap
US10866080B2 (en) 2018-11-01 2020-12-15 Mitutoyo Corporation Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position
JP6633142B2 (ja) * 2018-06-29 2020-01-22 Dmg森精機株式会社 測定装置および測定システム
US11073373B2 (en) * 2018-08-22 2021-07-27 Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce Non-contact coordinate measuring machine using a noncontact metrology probe
US10914570B2 (en) 2018-11-01 2021-02-09 Mitutoyo Corporation Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position
US11543899B2 (en) 2018-11-01 2023-01-03 Mitutoyo Corporation Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position and including coil misalignment compensation
US11740064B2 (en) 2018-11-01 2023-08-29 Mitutoyo Corporation Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position
US11644298B2 (en) 2018-11-01 2023-05-09 Mitutoyo Corporation Inductive position detection configuration for indicating a measurement device stylus position
US11347368B2 (en) * 2019-05-07 2022-05-31 Hexagon Metrology, Inc. Automated inspection process for batch production
US11499817B2 (en) 2020-05-29 2022-11-15 Mitutoyo Corporation Coordinate measuring machine with vision probe for performing points-from-focus type measurement operations
US11328409B2 (en) 2020-09-30 2022-05-10 Mitutoyo Corporation System and method utilizing multi-point autofocus to align an optical axis of an optical assembly portion to be normal to a workpiece surface
JP2022075107A (ja) * 2020-11-06 2022-05-18 株式会社ミツトヨ 形状測定装置および異常検出方法
US11713956B2 (en) 2021-12-22 2023-08-01 Mitutoyo Corporation Shielding for sensor configuration and alignment of coordinate measuring machine probe
US11733021B2 (en) 2021-12-22 2023-08-22 Mitutoyo Corporation Modular configuration for coordinate measuring machine probe

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010526991A (ja) 2007-04-30 2010-08-05 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 測定プローブのための保管装置

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4038625A (en) 1976-06-07 1977-07-26 General Electric Company Magnetic inductively-coupled connector
GB8330412D0 (en) 1983-11-15 1983-12-21 Renishaw Plc Tool change apparatus
JPS60224005A (ja) 1984-04-20 1985-11-08 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 自動三次元測定機
GB8808613D0 (en) * 1988-04-12 1988-05-11 Renishaw Plc Signal transmission system for machine tools inspection machines &c
DE3813949A1 (de) * 1988-04-26 1989-11-09 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Vorrichtung zur induktiven signaluebertragung bei tastkoepfen
DE4330873A1 (de) 1993-09-13 1995-03-16 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät mit einem Tastkopf und einer Elektronik zur Verarbeitung des Tastsignals
US5517190A (en) 1994-02-03 1996-05-14 Gunn; Colin N. Physical measurement from changes in reactance
DE19547977A1 (de) * 1995-12-21 1997-06-26 Zeiss Carl Fa Tastsystem für Koordinatenmeßgeräte
GB9701571D0 (en) 1997-01-25 1997-03-12 Renishaw Plc The changing of task modules on a coordinate positioning machine
EP1152209B1 (en) * 2000-05-01 2009-06-03 Mitutoyo Corporation Form measuring sensor and form measuring instrument
JP3500125B2 (ja) * 2001-02-14 2004-02-23 株式会社ミツトヨ 弾性体の振動検出システム
GB0115788D0 (en) * 2001-06-28 2001-08-22 Renishaw Plc Tool identification
GB0129471D0 (en) 2001-12-10 2002-01-30 Renishaw Plc Rack and change system
GB0207298D0 (en) * 2002-03-28 2002-05-08 Renishaw Plc Apparatus for changing operating modules on a coordinate positioning machine
US6912446B2 (en) 2002-10-23 2005-06-28 General Electric Company Systems and methods for automated sensing and machining for repairing airfoils of blades
US6772527B1 (en) * 2003-04-09 2004-08-10 Renishaw Plc Modular measurement device
ES2246640B1 (es) 2003-05-15 2006-11-01 Bsh Electrodomesticos España, S.A. Regulacion de la temperatura para un elemento calentador de calentamiento inducido.
JP2006258660A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Tokyo Seimitsu Co Ltd ハンドゲージ
GB0518078D0 (en) * 2005-09-06 2005-10-12 Renishaw Plc Signal transmission system
GB0603128D0 (en) 2006-02-16 2006-03-29 Renishaw Plc Articulating probe head apparatus
US7652275B2 (en) 2006-07-28 2010-01-26 Mitutoyo Corporation Non-contact probe control interface
US7735234B2 (en) * 2006-08-31 2010-06-15 Faro Technologies, Inc. Smart probe
JP5153228B2 (ja) * 2007-06-28 2013-02-27 株式会社小坂研究所 多関節型座標測定装置のパラメータ校正方法
TW201121163A (en) 2009-12-10 2011-06-16 Delta Electronics Inc Connection structure of power adaptor and electronic apparatus
US7997001B1 (en) 2010-06-14 2011-08-16 King Fahd University Of Petroleum And Minerals Telescopic ball bar gauge
US9272423B2 (en) 2010-12-22 2016-03-01 Stratom, Inc. Robotic tool interchange system
US20120228286A1 (en) 2011-03-09 2012-09-13 Central Garden And Pet Company Inductive Heating Device for Aquarium Tanks
GB201120036D0 (en) 2011-11-21 2012-01-04 The Technology Partnership Plc Method of providing power and data
US9331520B2 (en) 2011-12-22 2016-05-03 Texas Instruments Incorporated Inductively coupled charger
US9197292B2 (en) 2012-10-28 2015-11-24 NMC Corporation Non-mating connector
US20140203661A1 (en) 2013-01-21 2014-07-24 Powermat Technologies, Ltd. Inductive power receiver having dual mode connector for portable electrical devices
EP3034991B2 (en) * 2014-12-19 2022-08-24 Hexagon Technology Center GmbH Method and system for actively counteracting displacement forces with a probing unit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010526991A (ja) 2007-04-30 2010-08-05 レニショウ パブリック リミテッド カンパニー 測定プローブのための保管装置

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