JP6975759B2 - 表示装置及び表示装置の製造方法 - Google Patents

表示装置及び表示装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6975759B2
JP6975759B2 JP2019209226A JP2019209226A JP6975759B2 JP 6975759 B2 JP6975759 B2 JP 6975759B2 JP 2019209226 A JP2019209226 A JP 2019209226A JP 2019209226 A JP2019209226 A JP 2019209226A JP 6975759 B2 JP6975759 B2 JP 6975759B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
led element
insulating layer
display device
vertical led
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019209226A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020088392A (ja
Inventor
ハンセム カン
Original Assignee
エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド filed Critical エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド
Publication of JP2020088392A publication Critical patent/JP2020088392A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6975759B2 publication Critical patent/JP6975759B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/123Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • H01L21/0271Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
    • H01L21/0273Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
    • H01L21/0274Photolithographic processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/385Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending at least partially onto a side surface of the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/54Encapsulations having a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/124Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/005Processes relating to semiconductor body packages relating to encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0066Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Description

本明細書は、表示装置及び表示装置の製造方法に関し、より詳細には、垂直型LED(Light Emitting Diode)を用いた表示装置及び表示装置の製造方法に関する。
現在まで広く利用されている液晶表示装置(Liquid Crystal Display Device;LCD)、有機発光表示装置(Organic Light Emitting Display Device;OLED)、及び量子ドット表示装置(Quantum Dot Display Device;QD)は、その適用範囲が次第に拡大されている。
上述した表示装置は、イメージを具現するために複数の発光素子を表示装置の基板上に配置し、それぞれの発光素子を個別的に発光するようコントロールするために駆動信号または駆動電流を供給する駆動素子を発光素子と共に基板上に配置し、基板上に配置された複数の発光素子を表示しようとする情報の配列の通りに解析して基板上に表示するようにする。
液晶表示装置は、自発光方式ではないので、液晶表示装置の後面に光を発光するように配置されたバックライトユニットが必要である。液晶表示装置の後面にあるバックライトユニットは、液晶表示装置の厚さを増加させ、フレキシブルまたは円形等のような様々な形態のデザインで表示装置を具現するのに制限があり、輝度及び応答速度が低下し得る。
一方、自発光素子のある表示装置は、光源を組み込む表示装置より薄く具現され得るので、フレキシブルで折り畳むことができる表示装置を具現できる。自発光素子のある表示装置は、発光層として有機物を含む有機発光表示装置と、LEDを発光素子として使用するLED表示装置等があり得るが、有機発光表示装置またはLED表示装置のような自発光表示装置は、別途の光源が不要であるため、さらに薄いか、様々な形態の表示装置として活用され得る。
しかし、有機物を使用する有機発光表示装置は、水分と酸素の浸透による有機発光層と電極との間の酸化現象等、不良画素が発生しやすいので、酸素と水分の浸透を最小化するための様々な技術的構成がさらに要求される。
上述した問題点を解決するために、近年は、無機物を使用するLEDを発光素子として使用する表示装置に関する研究及び開発が進行しており、このような発光表示装置は、高画質と高信頼性を有するため、次世代表示装置として脚光を浴びている。
特開2018−085336
LED素子は、半導体に電流を流すと発光する性質を用いた半導体発光素子であり、照明、TV、サイネージ(signage)表示装置、及びタイリング(tiling)表示装置等、各種の表示装置等に広く活用されている。LED素子は、n型電極とp型電極、そして、その間にある活性層で構成される。n型電極及びp型電極は、それぞれ半導体で形成される。n型電極とp型電極に電流を流すと、n型電極からの電子と、p型電極からの正孔が活性層で結合して発光する。
LED素子は、GaNのような化合物半導体で構成され、無機材料の特性上、高電流を注入できて高輝度を具現でき、熱、水分、酸素等の環境影響性が低く、高信頼性を有する。
また、LED素子は、内部量子効率が90%の水準と有機発光表示装置より高いので高輝度の映像を表示することができ、消耗電力の低い表示装置を具現できる長所がある。
また、有機発光表示装置とは異なり無機物を使用するので酸素と水分の影響が僅かであり、酸素と水分の浸透を最小化するための別途の封止膜または封止基板が不要である。従って、封止膜または封止基板を配置することで発生し得るマージン領域である表示装置の非表示領域を最小化できる。
しかし、LED素子のような発光素子は、別途の半導体基板を使用して形成した後、駆動回路が形成されたパネルに移植する手順等が必要となり得る。上述したような長所を有するLED表示装置を提供するためには、発光素子をパネルに移植する過程で多くの時間とエラーが発生し得るので、これを最小化できる技術が必要であり、これに関する多くの研究活動がなされている。
LED素子は、n型電極及びp型電極がLED素子の同一面に形成された水平型LED素子と、n型電極及びp型電極が互いに向かい合って形成された垂直型LEDとに区分できる。
垂直型LED素子をパネルに移植する場合、垂直型LED素子の転写と同時にパネルに形成された電極との電気的接合が必要であるので、ユテクティックボンディング(eutectic bonding)方法やACF(anisotrophic conductive film)を使用し得る。しかし、ユテクティックボンディング方法は、300℃以上の高温工程が必要であり、温度の上昇と下降時間によって工程時間の遅滞が発生するので、大面積及び大量生産が必要な表示装置には適用されにくい。同様に、ACFも高温高圧工程が必要であるので、ユテクティックボンディング方法と類似するように大面積及び大量生産が必要な表示装置に適用されにくく、ACFは貴金属を含んでおり、コストが上昇する。
水平型LED素子を基板に移植する場合、水平型LED素子を接着部材を利用してパネルに付ける転写工程と、フォトリソグラフィ(photolithography)を用いた電気的連結工程を分離して実施できるので、物理的接着と電気的連結が同時にできるユテクティックボンディング方法やACFを使用した工程方法より工程時間を大きく短縮できる。しかし、水平型LED素子は、同一発光面積の垂直型LED素子に比べて面積が最大2倍に大きくなるので、LED素子の材料費が増加することとなる。
そこで、本明細書の発明者らは、上で言及した問題点を認識し、ユテクティックボンディング方法やACFを使用せず、LED素子の転写と電気的連結工程を分離して大面積及び大量生産が可能であり、同じ性能の水平型LED素子に比べてコストが低い表示装置を発明した。
本明細書の実施例に係る解決課題は、LED素子をパネルに移植する工程の時間が短縮されたLED素子を含む表示装置及び表示装置の製造方法を提供することである。
本明細書の実施例に係る解決課題は、LED素子をパネルに移植する過程で発生する工程コストが減少したLED素子を含む表示装置及び表示装置の製造方法を提供することである。
本明細書の課題は、以上において言及した課題に制限されず、言及されていないまた他の課題は、下記の記載から当業者に明確に理解され得るだろう。
本明細書の一実施例に係る表示装置において、表示装置は、基板上にあるゲート電極、ドレイン電極、及びソース電極で構成されたピクセル回路と、基板に配列され、第1電極、活性層、及び第2電極の構造体が封止膜で囲まれた垂直型LED素子と、第1電極と連結された第1連結電極と、垂直型LED素子の下部側面の封止膜により露出された第2電極と連結された第2連結電極とを含む。従って、LED素子を基板に移植する工程時間及びコストを減らすことができる。
本明細書の一実施例に係る表示装置の製造方法において、表示装置の製造方法は、ピクセル回路が形成された基板に垂直型LED素子を転写するステップと、垂直型LED素子上に第2連結電極を形成するステップと、第2連結電極上に絶縁層を形成するステップと、絶縁層上に第1連結電極を形成するステップを含む。そして、第1連結電極は、垂直型LED素子の上部と接触し、第2連結電極は、垂直型LED素子の下部側面に接触するように形成される。従って、LED素子を基板に移植する工程時間及びコストを減らすことができる。
その他の実施例の具体的な事項は、詳細な説明及び図面に含まれている。
本明細書の実施例によれば、基板上に第1電極、活性層、及び第2電極の構造体が封止膜で囲まれた垂直型LED素子を配列して、第1電極及び第2電極は、それぞれ第1連結電極及び第2連結電極に連結され、転写工程により垂直型LED素子の下部側面の封止膜の一部が除去されながら露出された第2電極と第2連結電極を連結させることで、LED素子を基板に移植する工程時間及びコストを減らすことができる。
そして、本明細書の実施例によれば、封止膜の一部が除去されて露出された第2電極の側面は、活性層の下部に限定されることで、活性層に不要な電圧が印加されることを防止できる。
そして、本明細書の実施例によれば、第2連結電極は、垂直型LED素子の側面に露出された第2電極を全て囲む構造で形成することで、共通電源配線との電気的連結に有利であり得る。
そして、本明細書の実施例によれば、垂直型LED素子を基板に転写する方法として接着部材を使用することで、工程時間を短縮できる。
そして、本明細書の実施例によれば、ピクセル回路を覆っている保護層上に絶縁層を形成することで、平坦面を提供し、垂直型LED素子の位置を固定できる。
そして、本明細書の実施例によれば、第2絶縁層を、垂直型LED素子及び垂直型LED素子の隣接した領域には形成しないことで、垂直型LED素子をパネルに転写する過程で発生し得るアライン(align)許容公差を増加させられる。
そして、本明細書の実施例によれば、空気中に露出された共通電極を覆うように第2絶縁層を形成することで、共通電極が補助電極と短絡しないようにできる。
そして、本明細書の実施例によれば、各サブピクセルの発光領域下に反射層を配置することで、垂直型LED素子から入射する光を垂直型LED素子の上部側に反射させ、表示装置の光効率を増加させられる。
そして、本明細書の実施例によれば、垂直型LED素子の上部に対応する領域と、ピクセル回路と連結させるためのコンタクトホールに対応する領域の光透過度が異なるハーフトーンマスク(Half−tone mask)を使用して第2絶縁層を形成することで、工程を単純化して工程時間を短縮できる。
以上において、解決しようとする課題、課題の解決手段、効果に記載した明細書の内容が請求項の必須な特徴を特定するものではないので、請求項の権利範囲は、明細書の内容に記載された事項によって制限されない。
本明細書の一実施例に係る表示装置を示した平面図である。 図1に示された一実施例に係る単位画素の構成を説明するための回路図である。 本明細書の一実施例に係るLED素子が配置された表示装置を示した断面図である。 本明細書の一実施例に係るLED素子を示した断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第2実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第2実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第2実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第2実施例に係る断面図である。 LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第2実施例に係る断面図である。
本発明の利点及び特徴、そして、それらを達成する方法は、添付の図面と共に詳細に後述されている実施例を参照すると、明確になるだろう。しかし、本発明は、以下において開示される実施例に限定されるものではなく、互いに異なる様々な形態で具現され、単に、本実施例は、本発明の開示が完全なものとなるようにし、本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者に発明の範疇を完全に知らせるために提供されるものであり、本発明は、請求項の範疇により定義されるだけである。
本発明の実施例を説明するための図面に開示された形状、大きさ、比率、角度、個数等は、例示的なものであるので、本発明は、図示された事項に限定されるものではない。明細書全体にわたって、同じ参照符号は、同じ構成要素を指す。また、本発明を説明するにあたって、関連した公知技術についての具体的な説明が本発明の要旨を不要に濁す恐れがあると判断される場合、その詳細な説明は省略する。本明細書上において言及された「含む」、「有する」、「なされる」等が使用される場合、「〜だけ」が使用されない以上、他の部分が加えられ得る。構成要素を単数で表現した場合、特に明示的な記載事項がない限り、複数を含む場合を含む。
構成要素を解釈するにあたって、別途の明示的な記載がなくても誤差範囲を含むものと解釈する。
位置関係についての説明である場合、例えば、「〜上に」、「〜上部に」、「〜下部に」、「〜隣に」等と二部分の位置関係が説明される場合、「すぐ」、「直接」、「隣接した」が使用されない以上、二部分の間に一つ以上の他の部分が位置してもよい。
時間関係についての説明である場合、例えば、「〜後に」、「〜に続いて」、「〜次に」、「〜前に」等と時間的先後関係が説明される場合、「すぐ」または「直接」が使用されない以上、連続的ではない場合も含むことができる。
本明細書の様々な実施例のそれぞれの特徴は、部分的または全体的に互いに結合または組み合わせ可能であり、技術的に多様な連動及び駆動が可能であり、各実施例が互いに対して独立して実施可能であってもよく、関連関係で共に実施してもよい。
本明細書において、表示装置の基板上に形成されるゲート駆動部及び画素駆動回路は、nタイプまたはpタイプのトランジスタで具現され得る。例えば、トランジスタは、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)構造のトランジスタで具現され得る。トランジスタは、ゲート電極、ソース電極、及びドレイン電極を含む3電極素子である。ソース電極は、キャリア(carrier)をトランジスタに供給する。トランジスタ内でキャリアはソースから移動し始める。ドレイン電極は、トランジスタでキャリアが外部に出る電極である。
例えば、トランジスタでキャリアはソース電極からドレイン電極へ移動する。nタイプのトランジスタの場合、キャリアが電子であるため、ソース電極からドレイン電極へ移動できるように、ソース電極がドレイン電極より低い電圧を有する。nタイプのトランジスタで電子がソース電極からドレイン電極の方へ移動するため、電流は、逆にドレイン電極からソース電極の方へ流れる。pタイプのトランジスタの場合、キャリアが正孔であるため、ソース電極からドレイン電極へ正孔が移動できるように、ソース電極の電圧がドレイン電極の電圧より高い。pタイプのトランジスタの正孔がソース電極からドレイン電極の方へ移動するため、電流は、ソース電極からドレイン電極の方へ流れる。トランジスタのソース電極とドレイン電極は固定されたものではなく、トランジスタのソース電極とドレイン電極は印加電圧によって変更され得る。従って、ソース電極及びドレイン電極は、それぞれ第1電極及び第2電極または第2電極及び第1電極と言及され得る。
以下において、ゲートオン電圧(gate on voltage)は、トランジスタをターンオン(turn−on)し得るゲート信号の電圧であり、ゲートオフ電圧(gate off voltage)は、トランジスタをターンオフ(turn−off)し得る電圧である。例えば、pタイプのトランジスタでゲートオン電圧はロジックロー電圧(VL)であってよく、ゲートオフ電圧はロジックハイ電圧(VH)であってよい。nタイプのトランジスタでゲートオン電圧はロジックハイ電圧であってよく、ゲートオフ電圧はロジックロー電圧であってよい。
以下、添付の図面を参照して、本明細書の実施例に係る表示装置及び表示装置の製造方法について説明する。
図1は、本明細書の一実施例に係る表示装置を示した平面図であり、図2は、図1に示された一実施例に係る単位画素の構成を説明するための回路図である。
図1及び図2を参照すると、本明細書の一実施例に係る表示装置100は、複数の単位ピクセルUPがある表示領域DAと、非表示領域NDAとに区分された基板110を含む。
単位ピクセルUPは、基板110の前面110aにある複数のサブピクセルSP1、SP2、SP3で構成され得、通常、赤色(red)、青色(blue)、及び緑色(green)の光を発光するサブピクセルSP1、SP2、SP3を含むことができるが、これに限定されず、白色(white)等の光を発するサブピクセルを含むことができる。
基板110は、トランジスタが形成されたアレイ基板であって、プラスチック材質またはガラス材質を含む。
一例による基板110は、不透明または有色ポリイミド(polyimide)材質を含むことができる。この場合、基板110を平面状態に維持させるために、基板110の後面に結合されたバックプレートをさらに含むこともできる。一例によるバックプレートは、プラスチック材質、例えば、ポリエチレンテレフタレート(polyethylene terephthalate)材質を含むことができる。一例による基板110は、ガラス基板であってよい。例えば、ガラス材質の基板110は、100μm以下の厚さを有する薄型ガラス基板であり、フレキシブルな特性を有し得る。
また、基板110は、2枚以上の基板の合着または2層以上の層に区分され得る。
非表示領域NDAは、表示領域DAを除く基板110上の領域と定義され得、表示領域DAに比べて相対的に狭い幅(または大きさ)を有し得、ベゼル領域と定義され得る。
複数の単位ピクセルUPそれぞれは、表示領域DAに配置される。この場合、複数の単位ピクセルUPそれぞれは、X軸方向に沿って予め決定された第1基準ピクセルピッチ(pixel pitch)を有するようになり、Y軸方向に沿って予め設定された第2基準ピクセルピッチを有するように表示領域DAに配置される。第1基準ピクセルピッチ及び第2基準ピクセルピッチそれぞれは、X軸方向またはY軸方向に隣接した単位ピクセルUPそれぞれの中央部間の距離と定義され得る。
そして、単位ピクセルUPをなすサブピクセルSP1、SP2、SP3間の距離もまた、第1基準ピクセルピッチ及び第2基準ピクセルピッチと類似するように第1基準サブピクセルピッチ及び第2基準サブピクセルピッチと定義され得る。
LED素子150を含む表示装置100は、非表示領域NDAの幅がピクセルピッチまたはサブピクセルピッチより小さくてよく、ピクセルピッチまたはサブピクセルピッチと同じまたは小さな長さの非表示領域NDAを有する表示装置100として、例えば、タイリング表示装置を具現する場合、非表示領域NDAがピクセルピッチまたはサブピクセルピッチより小さいので、ベゼル領域が実質的にないタイリング表示装置を具現できる。
ベゼル領域が実質的にないか最小化された、タイリング表示装置またはマルチスクリーン表示装置を具現するために、表示装置100は、表示領域DA内で第1基準ピクセルピッチ、第2基準ピクセルピッチ、第1基準サブピクセルピッチ、及び第2基準サブピクセルピッチを一定に維持することもできるが、表示領域DAを複数の区域と定義し、それぞれの区域内で上述したピッチの長さを互いに異にし、非表示領域NDAと隣接した区域のピクセルピッチを他の区域より広くすることで、さらにベゼル領域の大きさを相対的にピクセルピッチより小さくすることができる。この場合、互いに異なるピクセルピッチを有する表示装置100は、画像に対する歪曲現象が発生し得るので、設定されたピクセルピッチを考慮して、隣接した区域と比較及びサンプリングする方法でイメージプロセシングをして画像に対する歪曲現象を無くしながらベゼル領域を減らすことができる。
図2を参照して、表示装置100の単位ピクセルUPを構成するサブピクセルSP1、SP2、SP3の構成及び駆動回路について説明する。ピクセル駆動ラインは、基板110の前面110a上に設けられ、複数のサブピクセルSP1、SP2、SP3それぞれに必要な信号を供給する。本明細書の一実施例に係るピクセル駆動ラインは、ゲートラインGL、データラインDL、及び電源ラインを含む。ゲートラインGLは、第1ゲートラインGL1、第2ゲートラインGL2、及びエミッションラインELを含み、電源ラインは、駆動電源ラインDPL、共通電源ラインCPL、初期化電源ラインILを含む。
ゲートラインGLは、基板110の前面110a上に設けられるものであり、基板110の水平軸方向(x−axis)に沿って長く延びながら垂直軸方向(y−axis)に沿って一定の間隔で離隔される。
データラインDLは、ゲートラインGLと交差するように基板110の前面110a上に設けられたものであり、基板110の垂直軸方向(y−axis)に沿って長く延びながら水平軸方向(x−axis)に沿って一定の間隔で離隔される。
駆動電源ラインDPLは、データラインDLと並ぶように基板110上に設けられ、データラインDLと共に形成され得る。そして、各駆動電源ラインDPLは、外部から提供されるピクセル駆動電源を隣接したサブピクセルSP1、SP2、SP3に供給する。例えば、駆動電源ラインDPLは、複数の単位ピクセルUP毎に一つずつ設けられ得る。この場合、単位ピクセルUPを構成する少なくとも3つのサブピクセルSP1、SP2、SP3は、一つの駆動電源ラインDPLを共有する。これによって、各サブピクセルSP1、SP2、SP3の駆動のための駆動電源ラインDPLの個数を減少でき、減少した駆動電源ラインDPLの個数だけ各単位ピクセルUPの開口率を増加させるか、各単位ピクセルUPの大きさを減少させ得る。
共通電源ラインCPLは、ゲートラインGLと並ぶように基板110上に設けられるものであり、ゲートラインGLと共に形成され得る。そして、共通電源ラインCPLは、外部から提供される共通電源を隣接したサブピクセルSP1、SP2、SP3に供給する。
各サブピクセルSP1、SP2、SP3は、ゲートラインGLとデータラインDLにより定義されるサブピクセル領域に設けられる。そして、各サブピクセルSP1、SP2、SP3は、実際、光が発光する最小単位の領域と定義され得る。
互いに隣接した少なくとも3つのサブピクセルSP1、SP2、SP3は、カラー表示のための一つの単位ピクセルUPを構成できる。例えば、一つの単位ピクセルUPは、水平軸方向(x−axis)に沿って互いに隣接した赤色サブピクセルSP1、緑色サブピクセルSP2、及び青色サブピクセルSP3を含み、輝度向上のために白色サブピクセルをさらに含むこともできる。本明細書において示されたサブピクセルの配置構造は、ストライプ形態であるが、これには限定されない。
本明細書の一実施例に係る複数のサブピクセルSP1、SP2、SP3それぞれは、ピクセル回路PC及びLED素子150を含む。
ピクセル回路PCは、各サブピクセルSP1、SP2、SP3に定義された回路領域に設けられ、隣接したゲートラインGL、データラインDL、及び電源ラインに連結される。ピクセル回路PCは、駆動電源ラインDPLを通して提供されるピクセル駆動電源を基盤に、ゲートラインGLを通して提供されるスキャンパルスに応答してデータラインDLを通して提供されるデータ信号によってLED素子150に流れる電流を制御する。本明細書の一実施例に係るピクセル回路PCは、第1トランジスタT1、第2トランジスタT2、第3トランジスタT3、第4トランジスタT4、第5トランジスタT5、駆動トランジスタDT、及びキャパシタCstを含む。第1トランジスタT1乃至第5トランジスタT5、そして駆動トランジスタDTは、PMOS型薄膜トランジスタで具現され得、これを通して応答特性を確保できる。ただし、本発明の技術的思想は、これには限定されない。例えば、第1トランジスタT1乃至第5トランジスタT5、及び駆動トランジスタDTの中で少なくとも一つのトランジスタは、オフカレント特性の良いNMOS型薄膜トランジスタで具現され、残りのトランジスタは、応答特性の良いPMOS型薄膜トランジスタで具現されてもよい。
LED素子150は、サブピクセルSP1、SP2、SP3それぞれに実装される。LED素子150は、該当サブピクセルのピクセル回路PCと共通電源ラインCPLに電気的に連結されることで、ピクセル回路PC、即ち、駆動トランジスタDTから共通電源ラインCPLに流れる電流により発光する。本明細書の一実施例に係るLED素子150は、赤色光、緑色光、青色光、及び白色光のいずれか一つの光を放出する光素子または発光ダイオードチップであってよい。ここで、発光ダイオードチップは、1〜100μmのスケールを有し得るが、これに限定されず、サブピクセル領域のうちピクセル回路PCが占める回路領域を除く残りの発光領域の大きさより小さな大きさを有し得る。
駆動トランジスタDTは、駆動トランジスタDTのゲート−ソース間電圧によってLED素子150に流れる電流を調節する駆動素子である。駆動トランジスタDTは、第1ノードN1に連結されたゲート電極、駆動電源ラインDPLに連結されたソース電極、及び第2ノードN2に連結されたドレイン電極を含む。
第1トランジスタT1は、第1ノードN1と第2ノードN2との間に連結され、第1ゲート信号によってスイッチングされる。第1トランジスタT1のゲート電極は、第1ゲート信号が印加される第1ゲートラインGL1に連結される。第1トランジスタT1は、ターンオン時、駆動トランジスタDTのソース電極とドレイン電極を連結させることでダイオードコネクション(diode−connection)される。この場合、第1トランジスタT1は、駆動トランジスタDTの閾値電圧因子を感知して補償する。
第2トランジスタT2は、データラインDLと第3ノードN3との間に連結され、第1ゲート信号によってスイッチングされる。第2トランジスタT2のゲート電極は、第1ゲートラインGL1に連結される。第2トランジスタT2をターンオンしてデータ信号を第3ノードN3に印加する。
第3トランジスタT3は、第2ノードN2とLED素子150との間に連結され、エミッションラインELを通して提供されるエミッション信号によってスイッチングされる。第3トランジスタT3をターンオンして駆動トランジスタDTを通して流れる電流をLED素子150に提供する。第3トランジスタT3は、発光閾値電圧の低いLED素子150が初期化電圧により発光しないように制御する。
第4トランジスタT4は、第3ノードN3と初期化電源ラインILとの間に連結され、エミッション信号によってスイッチングされる。第4トランジスタT4をターンオンして、初期化電源ラインILを通して提供される初期化電源を第3ノードN3に提供して第3ノードN3の電圧を初期化する。
第5トランジスタT5は、第2ノードN2と初期化電源ラインILとの間に連結され、第2ゲートラインGL2を通して提供される第2ゲート信号によってスイッチングされる。第5トランジスタT5をターンオンして、初期化電源を第2ノードN2に提供して第2ノードN2の電圧を初期化する。
キャパシタCstは、第1ノードN1と第3ノードN3の重畳領域に設けられ、駆動トランジスタDTのゲート電極に供給されるデータ信号に対応する電圧を格納し、格納された電圧で駆動トランジスタDTをターンオンする。
次いで、ピクセル回路PCの駆動について説明する。図2のピクセル回路PCの駆動は、第1初期化区間、第2初期化区間、補償区間、維持区間、及び発光区間に区分され得る。第1初期化区間において、エミッション信号と第2ゲート信号はゲートオン電圧状態であるので、第3ノードN3の電圧は初期化され、LED素子150は発光状態を維持する。第2初期化区間において、エミッション信号はゲートオフ電圧に転換され、第1ゲート信号はゲートオン電圧に転換され、第2ゲート信号はゲートオン電圧を維持するので、LED素子150は発光を止めて、第3ノードN3にデータ信号が印加される。補償区間においては、第2ゲート信号がゲートオフ電圧に転換され、第1トランジスタT1がターンオンされるので駆動トランジスタDTがダイオードコネクションされて閾値電圧の補償過程が遂行される。維持区間においては、第1ゲート信号、第2ゲート信号、及びエミッション信号がいずれもゲートオフ電圧状態であるので、各ノードには以前の区間に印加された電圧が維持される。発光区間の間には、エミッション信号がゲートオン電圧に転換されながら駆動トランジスタDTから提供される駆動電流によりLED素子150は発光する。この場合、初期化電圧は、駆動電源より低く、共通電源より大きな電圧であってよい。上述したピクセル回路PCの駆動電流は、駆動電源の影響を受けないので、高解像度表示装置で均一な画質を具現できる。
本明細書の一実施例に係るピクセル回路PCは、上述した第1トランジスタT1乃至第5トランジスタT5、駆動トランジスタDT、及びキャパシタCstの構成に限定されず、別途のエミッション信号により制御される補助トランジスタ及び/又は補助キャパシタ等をさらに含むことができる。
図3は、本明細書の一実施例に係るLED素子が配置された表示装置を示した断面図である。
図3を参照すると、本明細書の一実施例に係る表示装置100の各サブピクセルSP1、SP2、SP3は、ピクセル回路PC、保護層113、LED素子150、絶縁層115−1、115−2、ピクセル電極PE、及び共通電極CEを含む。
図2において説明したように、ピクセル回路PCは、第1トランジスタT1乃至第5トランジスタT5、駆動トランジスタDT、及びキャパシタCstを含む。図3においては、このうちLED素子150と連結された第3トランジスタT3及びLED素子150を代表として示し、これについて説明する。
第3トランジスタT3は、ゲート電極GE、半導体層SCL、ソース電極SE、及びドレイン電極DEを含む。
ゲート電極GEは、基板110上にゲートラインGLと同じ層に同じ物質で形成され、ゲート絶縁層112により覆われる。ゲート電極GEは、シリコン(Si)等の半導体または導電性の金属、例えば、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)、及び銅(Cu)のいずれか一つであるか、二以上の合金、またはこれらの多重層であってよい。ゲート絶縁層112は、無機物質からなる単一層または複数の層で構成され得、シリコン酸化物(SiOx)、シリコン窒化物(SiNx)等からなり得る。第3トランジスタT3のゲート電極は、エミッションラインELから分岐または突出し得る。
半導体層SCLは、ゲート電極GEと重畳されるようにゲート絶縁層112上に予め設定されたパターン形態で設けられる。半導体層SCLは、非晶質シリコン(amorphous silicon)、多結晶シリコン(polycrystalline silicon)、酸化物(oxide)、及び有機物(organic material)のいずれか一つからなる半導体物質で構成され得るが、これには限定されない。
ソース電極SEは、半導体層SCLの一側と重畳されるように配置され、データラインDL及び駆動電源ラインDPLと同じ層に同じ物質で形成され得る。
ドレイン電極DEは、半導体層SCLの他側と重畳されながらソース電極SEと離隔されるように配置され、ソース電極SEと同じ層に同じ物質で共に形成される。
ソース電極SE及びドレイン電極DEは、シリコン(Si)等の半導体または導電性の金属、例えば、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、金(Au)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、ネオジム(Nd)、及び銅(Cu)のいずれか一つであるか、二以上の合金、またはこれらの多重層であってよい。
保護層113は、ピクセル回路PCを覆うように基板110の前面全体に設けられる。保護層113は、ピクセル回路PCを保護しながら平坦面を提供できる。本明細書の一実施例に係る保護層113は、ベンゾシクロブテン(benzocyclobutene)またはフォトアクリル(photo acryl)のような有機物質からなり得る。保護層113は、場合によって、ピクセル回路PCを保護する保護層と、ピクセル回路PCの段差を平坦化させる平坦層を別途備えてもよい。
LED素子150は、ピクセル回路PCと共通電源ラインCPLに電気的に連結されることで、ピクセル回路PCから共通電源ラインCPLに流れる電流により発光する。本明細書の一実施例に係るLED素子150は、第1電極151、活性層152、第2電極153、封止膜155、及び補助電極156を含む。本明細書の一実施例に係るLED素子150の第1電極151は、p型電極でアノード端子であり、第2電極153は、n型電極でカソード端子である。LED素子150は、第1電極151と第2電極153との間に流れる電流による電子と正孔の再結合により発光する。LED素子150の具体的な説明は、図4においてする。
本明細書の一実施例に係るLED素子150は、保護層113上に接着部材114が使用されて配置され得る。または、図面には示されないが、保護層113に凹部を設け、凹部にLED素子150を配置することもできる。この場合、保護層113にある凹部による傾斜面は、LED素子150から放出される光を特定方向に進行させるので、発光効率を向上できる。
絶縁層115−1、115−2を、LED素子150を覆うように保護層113上に形成できる。絶縁層115−1、115−2を、保護層113の前面、LED素子150が配置された箇所と残りの前面を全て覆うことができる程度の厚さをもって保護層113上に形成する。絶縁層115−1、115−2は、第1絶縁層115−1及び第2絶縁層115−2を含む多層構造の平坦化層であってよい。絶縁層115−1、115−2は、保護層113上に平坦面を提供し、LED素子150の位置を固定する役割を果たす。
ピクセル電極PEは、LED素子150の第1電極151を第3トランジスタT3のドレイン電極DEに連結する。ピクセル電極PEは、補助電極156と連結するためにコンタクトホールCHに延び得る。例えば、LED素子150の第1電極151は、第3トランジスタT3のソース電極SEに連結されてもよい。LED素子150の第1電極151に連結されるピクセル電極PEは、アノード電極または第1連結電極と定義され得る。ピクセル電極PEは、絶縁層115−1、115−2上に設けられ、絶縁層115−1、115−2及び接着部材114を貫通してドレイン電極DEに連結されたピクセル連結電極PCEと接触する。ピクセル連結電極PCEは、保護層113上に形成され、保護層113に形成されたコンタクトホールを通して第3トランジスタT3のドレイン電極DEと接触する。ピクセル電極PEは、表示装置100が前面発光方式である場合、透明導電物質からなり、表示装置100が後面発光方式である場合、光反射導電物質からなり得る。透明導電物質は、ITO(Indium Tin Oxide)またはIZO(Indium Zinc Oxide)等となり得るが、これには限定されない。光反射導電物質は、Al、Ag、Au、Pt、またはCu等となり得るが、これには限定されない。光反射導電物質からなるピクセル電極PEは、光反射導電物質を含む単一層、または単一層が積層された多重層になされ得る。
共通電極CEは、LED素子150の第2電極153と共通電源ラインCPLを電気的に連結するものであり、カソード電極または第2連結電極と定義され得、ピクセル電極PEと同じ物質からなり得る。共通電極CEは、LED素子150の第2電極153の側面SSと接触して接着部材114上に設けられ、共通連結電極CPEを通して共通電源ラインCPLと連結される。共通電源ラインCPLは、基板110とゲート絶縁層112との間に形成され、共通連結電極CPEは、保護層113上にあり、ピクセル連結電極PCEと同じ層に同じ物質で形成される。共通連結電極CPEは、保護層113及びゲート絶縁層112に形成されたコンタクトホールを通して共通電源ラインCPLと接触し、共通電極CEは、接着部材114に形成されたコンタクトホールを通して共通連結電極CPEと接触する。この場合、共通電源ラインCPLの位置は、基板110とゲート絶縁層112との間には限定されない。共通電源ラインCPLは、保護層113の下部で第3トランジスタT3のゲート電極GE、またはソース電極SE及びドレイン電極DEと同じ層に同じ物質で形成され得る。従って、共通電源ラインCPLは、ゲート絶縁層112と保護層113との間に形成されてもよい。
本明細書の一実施例に係る表示装置100は、各サブピクセルの発光領域下に設けられた反射層111を含むことができる。反射層111は、LED素子150を含む発光領域と重畳されるように基板110上に設けられる。本明細書の一実施例に係る反射層111は、ピクセル連結電極PCE及び共通連結電極CPEと同じ物質からなり、同じ層に設けられ得るが、これには限定されない。反射層111は、第3トランジスタT3を構成する電極のいずれか一つの電極と同じ物質からなり得る。反射層111は、LED素子150から入射する光をLED素子150の上部側に反射させ、表示装置100の光効率を増加できる。これによって、本明細書の一実施例に係る表示装置100は、反射層111を含むことによって前面発光構造を有する。この場合、ピクセル電極PEは、透明導電物質であり、ピクセル連結電極PCE及び反射層111は、光反射導電物質であってよい。
そして、本明細書の一実施例に係る表示装置100が後面発光方式である場合、反射層111は省略されるか、LED素子150の上部に配置され得る。
図4は、本明細書の一実施例に係るLED素子を示した断面図である。
図4は、LED素子150をパネルに移植する前、成長基板200上に形成された状態を示した図である。LED素子150は、成長基板200上に第2電極153、活性層152、及び第1電極151が順次に形成されたp−n接合構造の構造体である。
成長基板200は、サファイア基板またはGaN、GaAs、Siをベースとする基板等を利用して、成長基板200上に順にn型半導体層、活性層152、及びp型半導体層を化学的成長方法で形成する。この場合、n型半導体層は、第2電極153であり、p型半導体層は、第1電極151である。
n型半導体層は、負の電荷を有する自由電子がキャリアとして移動して電流が生じる半導体層であって、n−GaN系物質からなり得る。n−GaN系物質は、GaN、AlGaN、InGaN、AlInGaN等であってよく、n型半導体層のドーピングに使用される不純物としては、Si、Ge、Se、Te、C等が使用され得る。そして、場合によって、成長基板200とn型半導体層との間には、ドーピングされていないGaN系半導体層のようなバッファ層がさらに形成され得る。
活性層152は、n型半導体層上に配置され、井戸層と、井戸層よりバンドギャップの高い障壁層とを有する多重量子井戸(MQW;Multi Quantum Well)構造を有し得る。例えば、活性層152は、InGaN/GaN等の多重量子井戸構造を有し得る。
p型半導体層は、正の電荷を有する正孔がキャリアとして移動して電流が生じる半導体層であって、p−GaN系物質からなり得る。p−GaN系物質は、GaN、AlGaN、InGaN、AlInGaN等であってよく、p型半導体層のドーピングに使用される不純物としては、Mg、Zn、Be等が使用され得る。
p型半導体層上には、オーミック接触(ohmic contact)を形成するために補助電極156が形成される。LED素子150は、パネルに移植されながらピクセル電極PEと連結されなければならないので、補助電極156がピクセル電極PEと接触して第3トランジスタT3を通してデータ電圧に該当する電圧の供給を受けることができる。本明細書の一実施例に係る上部発光方式の表示装置の場合、補助電極156は、ITO(Indium Tin Oxide)またはIZO(Indium Zinc Oxide)等のような透明導電物質であってよいが、これには限定されない。
そして、補助電極156上には、n型半導体層、活性層152、及びp型半導体層で構成された構造体を保護するための封止膜155が形成される。封止膜155は、p型半導体層の上面と補助電極156及び成長基板200の前面上に形成され、ピクセル電極PEと補助電極156を接触させるために補助電極156の一部を露出させるオープン部を形成する。封止膜155は、SiO、Si、樹脂(Resin)の中から選択されるいずれか一つの物質で形成され得、Ni、Ti、Pt、Pd、Cu、CuW、Mo、MoW、Ag、Alの少なくとも一つの酸化物で構成されてもよい。
成長基板200上に形成されたLED素子150がパネルに移植されると、封止膜155のオープン部を通して補助電極156はピクセル電極PEと連結され、ピクセル電極PEを通してp型半導体層に正の電圧が印加され、共通電極CEを通してn型半導体層に負の電圧が印加されて、n型半導体層の電子の移動とp型半導体層の正孔の流れによりピクセル電極PEと共通電極CEとの間に電流が流れる。そして、ピクセル電極PEと共通電極CEとの間に流れる電流による電子と正孔の再結合により活性層152が発光する。
以下においては、成長基板200上に形成されたLED素子150をパネルに移植する過程を説明する。
図5a乃至図5jは、LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第1実施例に係る断面図である。
先に説明したように、垂直型LED素子は、LED素子の転写と同時にパネルに形成された電極との電気的接合が必要であるので、ユテクティックボンディング(eutectic bonding)方法やACF(anisotrophic conductive film)を使用し得る。しかし、ユテクティックボンディング方法は、300℃以上の高温工程が必要であるので、温度の上昇と下降時間により工程時間の遅滞が発生し、大面積及び大量生産が必要な表示装置には適用されにくい。ACFも高温高圧工程が必要であるので、ユテクティックボンディング方法と同様に大面積及び大量生産が必要な表示装置に適用しにくく、また、ACFは、貴金属を含んでおり、コストも上昇する。そして、水平型LED素子は、同一発光面積の垂直型LED素子に比べて面積が最大2倍まで大きくなるので、LED素子の材料費が増加する。従って、以下においては、垂直型LED素子を利用して、工程時間が短く、相対的に低いコストで形成された表示装置の製造方法について説明する。
図5aは、LED素子150をパネルに転写させるための工程であり、ピクセル回路PC、ピクセル回路PCを覆う保護層113、ピクセル連結電極PCE、及び共通連結電極CPEが形成された基板110上にLED素子150を転写するための接着部材114が形成される。接着部材114は、保護層113の前面全体に一定の厚さにコーティングされ、コンタクトホールCH1、CH2が設けられる保護層113の前面にコーティングされた接着部材114の一部は、コンタクトホール形成工程により除去される。または、インクジェットのようなプリンティング工程を通してコンタクトホールCH1、CH2が設けられる領域を除いて接着部材114が保護層113上に塗布されてもよい。
接着部材114上にLED素子150を転写するためには、LED素子150を成長基板200から分離する基板分離工程を実施する。基板分離工程は、レーザリフトオフ(Laser Lift−Off;LLO)、ケミカルリフトオフ(Chemical Lift Off;CLO)、スタンプで圧力を加えて封止層を破壊する方法等であってよい。このような基板分離工程の進行時、LED素子150が成長基板200から分離されながら成長基板200と隣接した第2電極153を覆っている封止膜155の一部が成長基板200と共に除去される。これは、第2電極153に対する後続的電気的連結を単純化および/または容易にする。これによって、第2電極153の側面SSは、空気中に露出される。この場合、空気中に露出された第2電極153の側面SSは、活性層152の下部に限定されることで、活性層152に不要な電圧を印加することを防止できる。基板分離工程で使用されるレーザ、化学物質、または物理的圧力等は、成長基板200をLED素子150から分離するための程度の強度(または量)であれば十分であるので、基板分離工程を進行しながら封止膜155の全部を除去できない。この場合、封止膜155は、第1電極151及び活性層152を完全に包み、第2電極の一部を包む構造である。
成長基板200から分離されて第2電極153の側面SS及び底面を露出したLED素子150は、接着部材114上に反射層111と重畳されて配置される。接着部材114は、LED素子150の底面と接触されながらLED素子150をパネルに一次的に固定することができる。このような単純接着方式は、転写工程時間を大きく短縮できる。
以下においては、LED素子150とピクセル回路PCの電気的連結工程を説明する。
図5bを参照すると、接着部材114を通してパネルに付けられたLED素子150及び基板110の前面には共通電極CEが形成される。共通電極CEは、LED素子150の補助電極156、第2電極153の側面SS、コンタクトホールCH1、CH2に全て接触して形成される。
図5cを参照すると、共通電極CEは、共通電源ラインCPLを通して印加される共通電源を第2電極153に提供するための電極であるので、ピクセル連結電極PCEの上部に形成された第1コンタクトホールCH1を覆う共通電極CEを除去するためのパターニング工程が遂行される。これによって、第1コンタクトホールCH1に形成されたピクセル連結電極PCEは空気中に露出され、共通電極CEは第2電極153の側面SS及び共通電源ラインCPLと接触することで、第2電極153と共通電源ラインCPLを電気的に連結する。従って、補助電極156とも接触している共通電極CEを除去しなければならないので、次いで、補助電極156の上部をオープンさせるための共通電極CEのパターニング工程を説明する。
共通電極CEは、LED素子150の上部だけを露出させたままLED素子150の側面SSを全て覆う密封された構造であってもよく、共通電極CEは、共通連結電極CPEとの連結のための最小限の面積で第2電極153の側面SSを覆う構造であってもよい。本明細書の一実施例に係る共通電極CEは、LED素子150の上部だけを露出させたままLED素子150の側面SSを全て包む構造について説明する。LED素子150を成長基板200から分離する過程で除去される封止膜155は、第2電極153の側面SSを均一な高さに露出させないこともある。従って、共通電極CEがLED素子150の側面SSの一部だけを包む構造より全て包む構造で形成することで、共通電源ラインCPLとの電気的連結に有利であり得る。
図5dは、第1絶縁層115−1が基板110上にパターニングされた状態を示す。第1絶縁層115−1は、LED素子150、共通電極CE、及び基板110の前面に蒸着されるステップと、フォトリソグラフィ(photolithography)工程を通して第1コンタクトホールCH1上の第1絶縁層115−1を除去するステップとを経て形成される。第1絶縁層115−1を、LED素子150の高さより低い厚さに形成し、続く工程でLED素子150の上部を露出できるようにする。
次いで、図5e乃至図5gは、LED素子150の上部を露出させるために第1絶縁層115−1及び共通電極CEを除去するステップを示す。図5eを参照すると、第1絶縁層115−1上にLED素子150及びLED素子150の周りを除く領域に感光性樹脂(Photo Resist)PRが塗布される。図5fを参照すると、感光性樹脂がオープンされた領域にある第1絶縁層115−1及び共通電極CEをドライエッチ(dry etch)を通して一定の厚さだけを残して除去し、補助電極156を露出する。この場合、共通電極CEの上部にある第1絶縁層115−1も共に除去されるので、共通電極CEの一部が空気中に露出される。そして、第1絶縁層115−1及び共通電極CEは、LED素子150の第2電極153を露出しない程度にのみエッチングされる。そして、図5gを参照すると、感光性樹脂は、ストリップ溶液により除去される。
次いで、図5hは、第2絶縁層115−2が基板110上にパターニングされた状態を示す。第2絶縁層115−2は、LED素子150及び基板110の前面に蒸着されるステップと、第1コンタクトホールCH1及び補助電極156上の第2絶縁層115−2を除去するステップとを経て形成される。第2絶縁層115−2は、共通電極CEが補助電極156と短絡しないようにするために、空気中に露出された共通電極CEを覆うようにLED素子150より高い厚さに形成される。そして、LED素子150の上部にある補助電極156及び第1コンタクトホールCH1上の第2絶縁層115−2は、フォトリソグラフィ工程を通して除去される。
次いで、図5iを参照すると、ピクセル電極PEは、第3トランジスタT3のドレイン電極DEを通して印加される電圧を第1電極151に提供するための電極であり、ピクセル電極PEは、第2絶縁層115−2により露出されたLED素子150の上部及びピクセル連結電極PCE上に形成された第1コンタクトホールCH1を含んで基板110上に形成される。そして、ピクセル電極PEは、補助電極156とピクセル連結電極PCEを電気的に連結させるための部分以外の領域に形成された部分を除去するためのパターニング工程が遂行される。これによって、隣接したサブピクセルと絶縁されたピクセル電極PEを形成することができる。
次いで、図5jを参照すると、表示装置は、基板110の前面にバッファ層116をさらに含むことができる。バッファ層116は、ピクセル電極PEが設けられた絶縁層115−1、115−2の全体を全て覆うように基板110上に設けられることで、絶縁層115−1、115−2上に平坦面を提供しながら外部衝撃からLED素子150及びピクセル回路PCを保護する。本明細書の一実施例によって、バッファ層116は、OCA(optical clear adhesive)またはOCR(optical clear resin)等になり得るが、これには限定されない。
上述した表示装置の製造方法は、垂直型LED素子を接着部材を利用してパネルに付ける転写工程と、フォトリソグラフィ(photolithography)を用いた電気的連結工程を分離して実施できるので、物理的接着と電気的連結が同時にできるユテクティックボンディング方法やACFを使用した工程方法より工程時間が大きく短縮され得、水平型LED素子に比べて小さな面積で同等な輝度を具現できるので、コストの側面で有利である。
図6a乃至図6eは、LED素子をパネルに移植する方法を示した本明細書の第2実施例に係る断面図である。
図6a乃至図6eは、図5gの第1絶縁層115−1が基板110上に形成された状態以後のステップを説明するための図であるので、第2絶縁層115−2、ピクセル電極PE、及び保護層113を形成するステップを示す。従って、図5a乃至図5gにおいて説明された工程ステップは、本明細書の第2実施例にも同様に適用される。
図6aは、第2絶縁層115−2の一部が基板110上に一次でパターニングされ、二次パターニングのために第2絶縁層115−2上に感光性樹脂が形成された状態を示す。
第2絶縁層115−2が一次でパターニングされるステップは、第2絶縁層115−2がLED素子150及び基板110の前面に蒸着されるステップと、第1コンタクトホールCH1上の第2絶縁層115−2を除去するステップとを含む。第2絶縁層115−2は、共通電極CEが補助電極156と短絡しないようにするために、空気中に露出された共通電極CEを覆うようにLED素子150よりも厚く形成される。そして、第1コンタクトホールCH1上の第2絶縁層115−2は、フォトリソグラフィ工程を通して除去される。
LED素子150の上部を露出させるための二次パターニングステップを進行するために、第2絶縁層115−2上に感光性樹脂PRを形成する。この場合、感光性樹脂PRは、LED素子150及びLED素子150を囲む隣接した領域には塗布されない。感光性樹脂PRを、LED素子150を含んでLED素子150の隣接した領域には塗布しないことで、LED素子150をパネルに転写する過程で発生し得るアライン(align)許容公差を増加させられる。具体的には、LED素子150のアライン(align)が正確でない状態でパターニングされた第2絶縁層115−2をLED素子150の上部、特に補助電極156に焦点を置いて補助電極156の上部が空気中に露出され得るように形成した場合、以後にピクセル電極PEとコンタクトされるべき補助電極156が第2絶縁層115−2により一部が覆われるか、完全に覆われることもある。従って、パターニングされた第2絶縁層115−2をLED素子150の上部及びLED素子150の周辺部まで露出できるように感光性樹脂PRを塗布する。
次いで、図6bを参照すると、感光性樹脂PRが形成されていない領域の第2絶縁層115−2の一部がドライエッチを通して除去される。第2絶縁層115−2は、LED素子150の上部及び周辺部、即ち、補助電極156と封止膜155の一部を露出させることができる程度にのみ除去されるので、共通電極CEは、第2絶縁層115−2による絶縁状態を維持できる。そして、図6cを参照すると、感光性樹脂PRは、ストリップ溶液により除去される。
先の説明によれば、第2絶縁層115−2を形成するためには、2回のパターニングステップを経なければならないが、工程を単純化するために、ハーフトーンマスク(Half−tone mask)を使用して1回のパターニングステップでの第2絶縁層115−2の形成もできる。第2絶縁層115−2をLED素子150及び基板110の前面に蒸着後、LED素子150の上部及び第1コンタクトホールCH1が露出されるようにハーフトーンマスクを使用して第2絶縁層115−2の露光工程を進行することで、第2絶縁層115−2を選択的に除去できる。この場合、LED素子150の上部に対応する領域と、第1コンタクトホールCH1に対応する領域のハーフトーンマスクの光透過度は互いに異なる。具体的には、LED素子150の上部に対応する領域には、部分透過膜からなるハーフトーンマスクを使用できる。
次いで、図6dを参照すると、ピクセル電極PEは、第3トランジスタT3のドレイン電極DEを通して印加される電圧を第1電極151に提供するための電極であり、ピクセル電極PEは、第2絶縁層115−2により露出されたLED素子150の上部及びピクセル連結電極PCE上に形成された第1コンタクトホールCH1を含んで基板110上に形成される。そして、ピクセル電極PEは、補助電極156とピクセル連結電極PCEを電気的に連結させるための部分以外の領域に形成された部分を除去するためのパターニング工程を進行する。これによって、隣接したサブピクセルと絶縁されたピクセル電極PEを形成できる。
次いで、図6eを参照すると、表示装置は、基板110の前面にバッファ層116をさらに含むことができる。バッファ層116は、共通電極CEが設けられた絶縁層115−1、115−2の全体を全て覆うように基板110上に設けられることで、絶縁層115−1、115−2上に平坦面を提供しながら外部衝撃からLED素子150及びピクセル回路PCを保護する。本明細書の一実施例によって、バッファ層116は、OCA(optical clear adhesive)またはOCR(optical clear resin)等になり得るが、これには限定されない。
上述した表示装置の製造方法は、垂直型LED素子を、接着部材を利用してパネルに付ける転写工程と、フォトリソグラフィ(photolithography)を用いた電気的連結工程を分離して実施できるので、物理的接着と電気的連結が同時にできるユテクティックボンディング方法やACFを使用した工程方法より工程時間が大きく短縮され得、水平型LED素子に比べて小さな面積で同等な輝度を具現できるので、コストの側面で有利である。
本明細書の一実施例に係る表示装置において、表示装置は、基板上にあるゲート電極、ドレイン電極、及びソース電極で構成されたピクセル回路、基板に配列され、第1電極、活性層、及び第2電極の構造体が封止膜で囲まれた垂直型LED素子、第1電極と連結された第1連結電極、及び垂直型LED素子の下部側面の封止膜により露出された第2電極と連結された第2連結電極を含む。従って、LED素子を基板に移植する工程時間及びコストを減らすことができる。
本明細書の他の特徴によれば、第2連結電極は、第2電極の側面の露出された部分を通して前記第2電極に連結され得、第2連結電極は、第2電極の側面の露出された部分を密封するように具現され得る。
本明細書の他の特徴によれば、封止膜は、第1電極及び活性層を完全に包み、第2電極の一部を包むことができる。
本明細書の他の特徴によれば、表示装置は、基板と垂直型LED素子及び第2連結電極の間にある接着部材をさらに含むことができる。
本明細書の他の特徴によれば、表示装置は、ゲート電極と同じ層にある共通電源ライン、及びピクセル回路上に保護層をさらに含み、第2連結電極は、保護層及び接着部材にある少なくとも一つのコンタクトホールを通して共通電源ラインに連結され得る。
本明細書の他の特徴によれば、接着部材上で垂直型LED素子を囲む第1絶縁層、及び第1絶縁層上にある第2絶縁層をさらに含むことができ、第2絶縁層は、垂直型LED素子の上部の一部または全部を露出できる。
本明細書の他の特徴によれば、第1連結電極は、第1絶縁層、第2絶縁層、及び接着部材にある少なくとも一つのコンタクトホールを通してピクセル回路と連結され得る。
本明細書の他の特徴によれば、第2絶縁層は、第2連結電極及び第1絶縁層を覆うことができる。
本明細書の他の特徴によれば、垂直型LED素子は、第1電極とオーミックコンタクトする補助電極をさらに含み、封止膜は、補助電極の一部を覆うことができる。
本明細書の一実施例に係る表示装置の製造方法において、表示装置の製造方法は、ピクセル回路が形成された基板に垂直型LED素子を転写するステップ、垂直型LED素子上に第2連結電極を形成するステップ、第2連結電極上に絶縁層を形成するステップ、及び絶縁層上に第1連結電極を形成するステップを含む。そして、第1連結電極は、垂直型LED素子の上部と接触し、第2連結電極は、垂直型LED素子の下部側面に接触するように形成される。従って、LED素子を基板に移植する工程時間及びコストを減らすことができる。
本明細書の他の特徴によれば、絶縁層を形成するステップは、第2連結電極上に第1絶縁層を形成するステップ、第1絶縁層上に第2絶縁層を形成するステップを含むことができる。
本明細書の他の特徴によれば、第1絶縁層を形成するステップは、第1絶縁層を蒸着するステップ、第1絶縁層上に感光性樹脂をパターニングするステップ、及び垂直型LED素子の一部が露出されるように第1絶縁層及び第2連結電極をエッチングするステップ、感光性樹脂をストリップするステップを含むことができる。
本明細書の他の特徴によれば、第1絶縁層をエッチングするステップは、垂直型LED素子の下部側面に接触した第2連結電極を維持するステップを含むことができる。
本明細書の他の特徴によれば、第2絶縁層を形成するステップは、第2絶縁層が第2連結電極を完全に覆うように第2絶縁層を形成するステップであってよい。
本明細書の他の特徴によれば、表示装置の製造方法は、垂直型LED素子を基板上に付けるための接着部材を形成するステップをさらに含み、垂直型LED素子上に第1連結電極を形成するステップは、第1連結電極が接着部材及び絶縁層に形成された少なくとも一つのコンタクトホールを通してピクセル回路に含まれたトランジスタのソース電極またはドレイン電極と連結されるように第1連結電極を形成するステップを含むことができる。
本明細書の他の特徴によれば、垂直型LED素子の製造ステップは、基板上に第2電極を形成するステップ、第2電極上に活性層を形成するステップ、活性層上に第1電極を形成するステップ、第1電極上に補助電極を形成するステップ、及び補助電極上に封止膜を形成するステップを含み、第1連結電極は、補助電極を通して第1電極と電気的に連結され得る。
本明細書の他の特徴によれば、封止膜は、垂直型LED素子を成長基板から分離する過程で成長基板に隣接して垂直型LED素子を覆っている封止膜の一部を除去できる。
本明細書の他の特徴によれば、第2連結電極は、封止膜の一部が除去されて露出された垂直型LED素子の第2電極と接触するように形成され得る。
本明細書の他の特徴によれば、絶縁層を形成するステップは、絶縁層を蒸着するステップ、及びハーフトーンマスクを使用して垂直型LED素子の上部及び第1連結電極をピクセル回路と連結させるための少なくとも一つのコンタクトホール上の絶縁膜を除去するステップを含むことができる。
以上、添付の図面を参照して、本発明の実施例をさらに詳細に説明したが、本発明は、必ずしもこのような実施例に限定されるものではなく、本発明の技術思想を外れない範囲内で多様に変形実施され得る。従って、本発明に開示された実施例は、本発明の技術思想を限定するためのものではなく、説明するためのものであり、このような実施例によって本発明の技術思想の範囲が限定されるものではない。それゆえ、以上において記述した実施例は、全ての面で例示的なものであり、限定的ではないものと理解すべきである。本発明の保護範囲は、請求の範囲によって解釈されるべきであり、それと同等な範囲内にある全ての技術思想は、本発明の権利範囲に含まれるものと解釈されるべきである。
100:表示装置
110:基板
111:反射層
112:ゲート絶縁層
113:保護層
114:接着部材
115−1:第1絶縁層
115−2:第2絶縁層
116:バッファ層
150:LED素子
151:第1電極
152:活性層
153:第2電極
155:封止膜
156:補助電極
200:成長基板

Claims (15)

  1. 基板上にゲート電極、ドレイン電極、及びソース電極で構成されたピクセル回路と
    前記基板に配列され、第1電極、活性層、及び第2電極の構造体が封止膜で囲まれた垂直型LED素子と
    前記第1電極と連結された第1連結電極と、
    前記垂直型LED素子の下部側面の封止膜により露出された前記第2電極の側面の部分直接連結された第2連結電極と、
    前記基板および前記垂直型LED素子の間にある接着部材とを含み、
    前記第2連結電極は、前記接着部材上に、前記垂直型LED素子と同層に形成される、表示装置。
  2. 前記第2連結電極は、前記第2電極の側面の露出した部分を密封するように具現される、請求項に記載の表示装置。
  3. 前記封止膜は、前記第1電極及び前記活性層を完全に包み、前記第2電極の一部を包む、請求項に記載の表示装置。
  4. 前記ゲート電極と同じ層にある共通電源ラインと、
    前記ピクセル回路上に保護層とをさらに含み、
    前記第2連結電極は、前記保護層及び前記接着部材にある少なくとも一つのコンタクトホールを通して共通電源ラインに連結される、請求項1に記載の表示装置。
  5. 前記接着部材上で前記垂直型LED素子を囲む第1絶縁層と
    前記第1絶縁層上にある第2絶縁層とをさらに含み、
    前記第2絶縁層は、前記垂直型LED素子の上部の一部または全部を露出させる、請求項に記載の表示装置。
  6. 前記第1連結電極は、前記第1絶縁層、前記第2絶縁層、及び前記接着部材にある少なくとも一つのコンタクトホールを通して前記ピクセル回路と連結される、請求項に記載の表示装置。
  7. 前記第2絶縁層は、前記第2連結電極及び前記第1絶縁層を覆う、請求項に記載の表示装置。
  8. 前記垂直型LED素子は、前記第1電極とオーミックコンタクトする補助電極をさらに含み、
    前記封止膜は、前記補助電極の一部を覆う、請求項に記載の表示装置。
  9. ピクセル回路が形成された基板に垂直型LED素子を転写するステップと、
    前記垂直型LED素子上に第2連結電極を形成するステップと、
    前記第2連結電極上に絶縁層を形成するステップと、
    前記絶縁層上に第1連結電極を形成するステップと、
    前記垂直型LED素子を前記基板上に付けるための接着部材を形成するステップとを含み、
    前記第1連結電極は、前記垂直型LED素子の上部と接触し、
    前記第2連結電極は、前記接着部材上に前記垂直型LED素子と同層に形成され、前記垂直型LED素子の下部側面に接触するように形成され
    前記垂直型LED素子の製造ステップは、
    成長基板上に第2電極を形成するステップと、
    前記第2電極上に活性層を形成するステップと、
    前記活性層上に第1電極を形成するステップと、
    前記第1電極上に補助電極を形成するステップと、
    前記補助電極上に封止膜を形成するステップとを含み、
    前記第1連結電極は、前記補助電極を通して前記第1電極と電気的に連結され、
    前記封止膜は、前記垂直型LED素子を前記成長基板から分離する過程で前記成長基板に隣接して前記垂直型LED素子を覆っている封止膜の一部を除去し、
    前記第2連結電極は、前記封止膜の一部が除去されて露出された前記垂直型LED素子の第2電極と直接接触するように形成される、表示装置の製造方法。
  10. 前記絶縁層を形成するステップは、
    前記第2連結電極上に第1絶縁層を形成するステップと、
    前記第1絶縁層上に第2絶縁層を形成するステップとを含む、請求項に記載の表示装置の製造方法。
  11. 前記第1絶縁層を形成するステップは、
    前記第1絶縁層を蒸着するステップと、
    前記第1絶縁層上に感光性樹脂をパターニングするステップと、
    前記垂直型LED素子の一部が露出されるように前記第1絶縁層及び前記第2連結電極をエッチングするステップと、
    前記感光性樹脂をストリップするステップとを含む、請求項10に記載の表示装置の製造方法。
  12. 前記第1絶縁層をエッチングするステップは、
    前記垂直型LED素子の下部側面に接触した前記第2連結電極を維持するステップを含む、請求項11に記載の表示装置の製造方法。
  13. 前記第2絶縁層を形成するステップは、
    前記第2絶縁層が前記第2連結電極を完全に覆うように前記第2絶縁層を形成するステップである、請求項10に記載の表示装置の製造方法。
  14. 前記垂直型LED素子上に第1連結電極を形成するステップは、
    前記第1連結電極が前記接着部材及び前記絶縁層に形成された少なくとも一つのコンタクトホールを通して前記ピクセル回路に含まれたトランジスタのソース電極またはドレイン電極と連結されるように前記第1連結電極を形成するステップを含む、請求項に記載の表示装置の製造方法。
  15. 前記絶縁層を形成するステップは、
    前記絶縁層を蒸着するステップと、
    ハーフトーンマスクを使用して前記垂直型LED素子の上部及び前記第1連結電極を前記ピクセル回路と連結させるための少なくとも一つのコンタクトホール上の絶縁膜を除去するステップとを含む、請求項に記載の表示装置の製造方法。
JP2019209226A 2018-11-23 2019-11-20 表示装置及び表示装置の製造方法 Active JP6975759B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2018-0146509 2018-11-23
KR1020180146509A KR102030323B1 (ko) 2018-11-23 2018-11-23 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020088392A JP2020088392A (ja) 2020-06-04
JP6975759B2 true JP6975759B2 (ja) 2021-12-01

Family

ID=67988900

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019209226A Active JP6975759B2 (ja) 2018-11-23 2019-11-20 表示装置及び表示装置の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11094867B2 (ja)
EP (1) EP3657542A1 (ja)
JP (1) JP6975759B2 (ja)
KR (1) KR102030323B1 (ja)
CN (3) CN117750819A (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111599831A (zh) * 2019-02-20 2020-08-28 日亚化学工业株式会社 显示装置以及其制造方法
US11362246B2 (en) 2019-02-20 2022-06-14 Nichia Corporation Method of manufacturing display device with lateral wiring
US10944027B2 (en) * 2019-06-14 2021-03-09 X Display Company Technology Limited Pixel modules with controllers and light emitters
TW202209663A (zh) * 2020-02-14 2022-03-01 日商半導體能源研究所股份有限公司 顯示裝置以及電子裝置
TWI740484B (zh) * 2020-05-04 2021-09-21 宏碁股份有限公司 顯示裝置與其製造方法
CN111564465A (zh) * 2020-05-19 2020-08-21 深超光电(深圳)有限公司 显示面板的制备方法
JP7091598B2 (ja) * 2020-05-20 2022-06-28 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
KR20210148536A (ko) * 2020-05-29 2021-12-08 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 제조 방법
FR3111234B1 (fr) * 2020-06-03 2024-04-26 Aledia Dispositif optoélectronique pour affichage lumineux et procédé de fabrication
CN112310118A (zh) * 2020-10-16 2021-02-02 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 驱动电路板及其制作方法
KR20220077287A (ko) * 2020-12-01 2022-06-09 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
WO2022209824A1 (ja) * 2021-03-30 2022-10-06 日亜化学工業株式会社 画像表示装置の製造方法および画像表示装置
WO2022216392A1 (en) * 2021-04-07 2022-10-13 Apple Inc. Display systems having vertical light-emitting diodes
EP4376086A1 (en) * 2021-07-22 2024-05-29 LG Electronics Inc. Display device comprising semiconductor light-emitting element
CN117897817A (zh) * 2021-09-01 2024-04-16 Lg电子株式会社 包括半导体发光器件的显示装置及其制造方法
WO2023052893A1 (ja) * 2021-09-29 2023-04-06 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置、表示モジュール、及び電子機器
KR102579242B1 (ko) * 2022-02-22 2023-09-18 한국에너지공과대학교 마이크로 led 표시 장치 및 마이크로 led 표시 장치 제조 방법
KR20230144700A (ko) * 2022-04-07 2023-10-17 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 제조 방법

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030189215A1 (en) * 2002-04-09 2003-10-09 Jong-Lam Lee Method of fabricating vertical structure leds
KR100696479B1 (ko) * 2004-11-18 2007-03-19 삼성에스디아이 주식회사 평판표시장치 및 그의 제조방법
JP5076282B2 (ja) 2005-04-28 2012-11-21 三菱化学株式会社 表示装置
CN101222015B (zh) 2008-01-19 2010-05-12 鹤山丽得电子实业有限公司 发光二极管、具有其的封装结构及其制造方法
JP2013037138A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Panasonic Corp 自発光型表示装置
JP6164560B2 (ja) * 2012-03-22 2017-07-19 シーエルフォトニクス カンパニー,リミテッド 水平型パワーled素子及びその製造方法
JP2013251400A (ja) 2012-05-31 2013-12-12 Olympus Corp 半導体発光素子
US8933433B2 (en) 2012-07-30 2015-01-13 LuxVue Technology Corporation Method and structure for receiving a micro device
US8987765B2 (en) * 2013-06-17 2015-03-24 LuxVue Technology Corporation Reflective bank structure and method for integrating a light emitting device
CN104282678A (zh) * 2013-07-09 2015-01-14 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 具有光感测功能的发光显示器
JP6294670B2 (ja) 2014-01-07 2018-03-14 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及び表示装置の製造方法
JP6519176B2 (ja) 2014-12-25 2019-05-29 大日本印刷株式会社 Led素子用基板及びled表示装置
KR102467420B1 (ko) * 2015-08-31 2022-11-16 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치 및 이의 제조 방법
KR102417117B1 (ko) * 2015-10-22 2022-07-06 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102661474B1 (ko) 2016-04-11 2024-04-29 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
CN107437551B (zh) * 2016-05-25 2020-03-24 群创光电股份有限公司 显示装置及其制造方法
KR102651097B1 (ko) 2016-10-28 2024-03-22 엘지디스플레이 주식회사 발광 다이오드 디스플레이 장치
US10319880B2 (en) * 2016-12-02 2019-06-11 Innolux Corporation Display device
KR20180071743A (ko) 2016-12-20 2018-06-28 엘지디스플레이 주식회사 발광 다이오드 칩 및 이를 포함하는 발광 다이오드 디스플레이 장치
KR20180078941A (ko) * 2016-12-30 2018-07-10 (재)한국나노기술원 액티브 매트릭스 디스플레이용 led 소자 및 그의 제조방법
KR101902566B1 (ko) 2017-07-25 2018-09-28 엘지디스플레이 주식회사 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR101888857B1 (ko) 2017-11-23 2018-09-20 엘지디스플레이 주식회사 발광 소자 및 이를 이용한 표시 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN117769313A (zh) 2024-03-26
US20200168777A1 (en) 2020-05-28
JP2020088392A (ja) 2020-06-04
CN117750819A (zh) 2024-03-22
EP3657542A1 (en) 2020-05-27
KR102030323B1 (ko) 2019-10-10
CN111223888B (zh) 2023-12-22
US11094867B2 (en) 2021-08-17
CN111223888A (zh) 2020-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6975759B2 (ja) 表示装置及び表示装置の製造方法
US10937815B2 (en) Light emitting diode display device
EP3316302B1 (en) Light emitting diode display device
KR102538424B1 (ko) 발광 소자 및 이를 이용한 표시 장치
CN108206234B (zh) 发光二极管芯片及包括该芯片的发光二极管显示设备
CN109215516B (zh) 显示装置及其制造方法
KR101888857B1 (ko) 발광 소자 및 이를 이용한 표시 장치
KR20230027132A (ko) 발광 소자 및 이를 이용한 표시 장치
US20230023304A1 (en) Light emitting diode display device
KR101895600B1 (ko) 표시 장치 및 이의 제조방법
KR20210078766A (ko) 마이크로 엘이디 표시 장치 및 이의 제조방법
TW202125810A (zh) 顯示裝置及其製造方法
CN113299677A (zh) 显示设备及用于显示设备的制造方法
KR20210082647A (ko) 표시 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191120

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210105

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210405

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210608

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210908

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211012

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211108

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6975759

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150