JP6946167B2 - 基板保持部材 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体ウエハなど基板を保持するために用いられる基板保持部材に関する。
半導体製造装置において、基板(ウエハ)を保持するための基板保持部材が用いられている。基板保持部材は、板状の基体の主面から突出しているように設けられた複数の凸部(ピン)と、基体に設けられ、基体の主面において開口する開口部を有する通気路と、を備えている。基板の裏面が複数の凸部のうち少なくとも一部に当接するように、基板が基体に載置されたうえで、基体の主面および基板の裏面により画定される空間が通気路を通じて真空吸引されることで、基板に対して基体の主面に向かう真空吸引力が作用する。これにより、基板の裏面が複数の凸部のそれぞれに当接して平坦度が確保された状態で基板が基板保持部材により保持される。
基板の一の領域(例えば中央領域)に、基板の他の領域(例えば中央領域の周辺領域)に先立って真空吸引力を作用させるように、複数系統の独立した通気路が形成された基板保持部材が提案されている(例えば、特許文献1参照)。これにより、反りが存在する基板であっても、基板保持部材に保持された際に皺が寄ってその平坦度が損なわれるような事態の回避が図られている。
特開2004−221296号公報
しかし、系統が異なる通気路のそれぞれを通じて前記空間を真空吸引するため、複数の真空吸引機構(例えば、配管、配管に接続された真空ポンプおよび配管を開閉する電磁弁を有する。)が必要であり、さらに、当該複数の真空吸引機構を構成する各真空ポンプおよび各電磁弁の動作を制御するための制御機構が必要である。このため、基板を保持するための機構全体としてのコストが高くなり、かつ、占有スペースが大きくなる。
そこで、本発明は、基板を保持するための機構全体としてのコスト低減およびコンパクト化を図りながら、基板の複数の領域のそれぞれに対して時間差をつけて真空吸引力を作用させることができる基板保持部材を提供することを目的とする。
本発明は、主面を有する基体と、前記主面において開口する少なくとも1つの開口部を有し、前記基体の内壁面により画定される少なくとも1つの通気路と、前記基体に設けられ、前記主面において前記少なくとも1つの開口部とは異なる箇所に分散して配置され、かつ、前記基体の主面から突出している複数の凸部と、を備えている基板保持部材に関する。
本発明の基板保持部材は、前記基体の主面の垂線であって、前記主面の中心を通る垂線を基準軸線としたときに、前記少なくとも1つの開口部は、前記主面に沿った方向における前記基準軸線との距離が前記主面から前記基体の前記主面とは反対側の面に向かって離れるにつれて長くなるように傾斜した軸線を有し、前記少なくとも1つの開口部の軸線が、前記基体の主面の垂線に対して10°〜80°の角度範囲に含まれる角度をなしていることを特徴とする。
当該構成の基板保持部材によれば、基体の主面側に基板が載置され、基板の裏面が複数の凸部のうち少なくとも一部の上端面(基体の主面を上側にした際の端面を意味する。)に当接する。基体の主面と基板の裏面との間隙が、主面の少なくとも1つの開口部および少なくとも1つの通気路を通じて真空吸引される、または、当該間隙から空気が排出される。少なくとも1つの開口部の軸線が基準軸線に対して前記のように傾斜している。当該傾斜角度が10°未満である場合、負圧発現の時間差または強弱差が基板の平坦度を確保する観点から不十分となる可能性がある。当該傾斜角度が80°を超えている場合、基体の主面と通気路の内側面との境界に相当する開口部の周縁部にチッピングが残存する可能性が高い。ここで、開口部の軸線とは、開口部または通気路のうち少なくとも主面側の端部を画定する側面を有する柱体(仮想)の中心軸線を意味する。
このため、当該開口部の周辺領域のうち主面の中心に近い領域の方が、主面の中心から遠い領域よりも早くまたは強く負圧が発現する。すなわち、複数の真空吸引機構を必要とせずに、当該間隙の異なる領域に時間差をもって負圧を発現させることができる。これにより、時系列的に先に負圧が発現する中央領域で基板の平坦度が確保された後、時系列的に後に負圧が発現する周辺領域で基板の平坦度が確保され、結果的に基板全体としての平坦度の向上が図られる。
前記少なくとも1つの開口部は複数の開口部であって、前記複数の開口部のそれぞれの軸線が、前記基体の主面の垂線に対して10°〜80°の角度範囲に含まれる角度をなして、前記主面に沿った方向において前記基準軸線との距離が前記主面から前記基体の前記主面とは反対側の面に向かって離れるにつれて長くなるように傾斜し、かつ、前記基準軸線まわりの回転対称性を有することが好ましい。
当該構成の基板保持部材によれば、単一の真空吸引機構が用いられて少なくとも1つの通気路を通じて、基体の主面と基板の裏面との間隙が真空吸引されたとしても、前記のように軸線が基準軸線に対して傾斜している複数の開口部のそれぞれの周辺領域において時間差をもって負圧を発現させることができる。基板の平坦度が実現される態様に、当該複数の開口部のそれぞれの軸線と同様な回転対称性をもたせることができ、結果的に基板の平坦度の向上が図られる。
前記少なくとも1つの開口部の軸線が、前記基体の主面の垂線に対して40°〜80°の角度範囲に含まれる角度をなして傾斜していることが好ましい。
当該構成の基板保持部材によれば、少なくとも1つの開口部の周辺領域のうち主面の中心に近い領域と、主面の中心から遠い領域との間で、負圧が発現するタイミングまたは負圧の強弱が、基板の平坦度を確保する観点から適当に差異化される。
前記基体に設けられ、前記主面において前記少なくとも1つの開口部および前記複数の凸部を囲むように環状に延在し、かつ、前記主面から前記複数の凸部のそれぞれと同じ高さまたは前記主面から前記複数の凸部のそれぞれよりも低い高さで突出している主環状凸部をさらに備えていることが好ましい。
当該構成の基板保持部材によれば、基体の主面と基板の裏面との間隙に、特に少なくとも1つの開口部よりも外側の領域においてより確実に負圧を発現させることができ、基板の平坦度の向上が図られる。
前記基体の主面の中心から前記少なくとも1つの開口部までの距離が、前記基体の主面の中心から前記主環状凸部の内側面までの距離の0.3倍以上かつ0.9倍以下であることが好ましい。
これにより、基体の主面と基板の裏面との間隙であって、主環状凸部により囲まれている空間において、負圧が比較的早く発現する開口部の内側領域(基体の主面の中心に近い領域)と、負圧が比較的遅く発現する開口部の外側領域(基体の主面の中心から遠い領域)との面積の比率が、当該基板の平坦度の実現の観点から適当に調節されている。
前記基体の主面に沿った仮想平面において、前記複数の開口部のそれぞれの軸線を前記基準軸線に沿った方向に投影した投影線と、前記基準軸線と交差する基準点から前記複数の開口部のそれぞれの軸線に向かって延びる方位線と、が傾斜していることが好ましい。
当該構成の基板保持部材によれば、基体の主面と基板の裏面との間隙において負圧発現時に、複数の開口部よりも内側にある領域において内側から外側に向かって旋回気流を生じさせることができ、これにより負圧領域の形成の迅速が図られる。
前記基板保持部材が、前記基体に設けられ、前記主環状凸部の内側の前記主面において 前記少なくとも1つの開口部を囲むように延在し、かつ、前記基体の主面から前記複数の凸部よりも低い高さで突出している第1副環状凸部をさらに備えていることが好ましい。
当該構成の基板保持部材によれば、少なくとも1つの開口部よりも内側にある領域において内側から外側に向かって発生する気流を、第1副環状凸部の上端面と基板の裏面との間隙を通過させることができる。これにより、第1副環状凸部の上端面と、複数の凸部により支持されている基板の裏面との間隙において気流の速度が局所的に高くなり、基板に対して第1副環状凸部の上端面に向かうベルヌーイ力を局所的に作用させることができる。
前記少なくとも1つの開口部は複数の開口部であって、前記基体に設けられ、前記主面において前記複数の開口部により囲まれ、かつ、前記基体の主面から前記複数の凸部よりも低い高さで突出している第2副環状凸部をさらに備えていることが好ましい。
当該構成の基板保持部材によれば、複数の開口部よりも内側にある領域において内側から外側に向かって発生する旋回気流を、第2副環状凸部の上端面と基板の裏面との間隙を通過させることができる。このため、第2副環状凸部の上端面と基板の裏面との間隙における気流の流速態様を、当該第2副環状凸部に沿って均等化することができる。これにより、第2副環状凸部の上端面と、複数の凸部により支持されている基板の裏面との間隙に生じるベルヌーイ力の均等化が図られ、結果的に基板の平坦度の向上が図られる。
本発明の第1実施形態としての基板保持部材の上面図。 図1のII−II線に沿った基板保持部材の縦断面図。 第1実施形態の基板保持部材による基板吸着の初期状態に関する説明図。 第1実施形態の基板保持部材による基板吸着の中期状態に関する説明図。 第1実施形態の基板保持部材による基板吸着の終期状態に関する説明図。 第1実施形態の基板保持部材の真空吸引機能に関する説明図。 本発明の第2実施形態としての基板保持部材の上面図。 図5のVI−VI線に沿った基板保持部材の縦断面図。 第2実施形態の基板保持部材による基板吸着の初期状態に関する説明図。 第2実施形態の基板保持部材による基板吸着の中期状態に関する説明図。 第2実施形態の基板保持部材による基板吸着の終期状態に関する説明図。 第2実施形態の基板保持部材の真空吸引機能に関する説明図。 本発明の第3実施形態としての基板保持部材の上面図。 図9のX−X線に沿った基板保持部材の縦断面図。 第3実施形態の基板保持部材による基板吸着の初期状態に関する説明図。 第3実施形態の基板保持部材による基板吸着の中期状態に関する説明図。 第3実施形態の基板保持部材による基板吸着の終期状態に関する説明図。 通気路の第1の変形実施形態に関する説明図。 通気路の第2の変形実施形態に関する説明図。
(第1実施形態)
(構成)
図1および図2に示されている本発明の第1実施形態としての基板保持部材は、主面102を有する略円盤状の基体1と、複数の凸部10と、主環状凸部14と、複数の通気路21と、を備えている。
基板1はSiC、AlN、Al23等のセラミックスの焼結体により構成されている。複数の凸部10のそれぞれは、柱状、錐台状、複数の柱または錐台が軸線方向に積み重ねられたような形状であり、切削加工、ブラスト加工もしくはレーザー加工またはこれらの組み合わせにより形成される。
複数(本実施形態では「4」)の通気路21のそれぞれは、主面102において開口する1つの開口部212を有し、基体1の内壁面により画定される。開口部212を画定する基体1の内壁面の形状は、主面102に対して傾斜した中心軸線を有する円柱の側面の形状に相当する。開口部212の数は「4」に限らず、「1」でもよく、「2」または「3」であってもよく、「8」、「16」など「5」以上であってもよい。開口部212を画定する基体1の内壁面の形状は、主面102に対して傾斜した中心軸線を有する角柱(例えば六角柱)の側面の形状に相当してもよい。
4つの開口部212は、主面102の垂線であって主面102の中心Oを通る基準軸線L2のまわりの4回回転対称性を有するように配置されている。複数の開口部212が、基準軸線L2のまわりの回転対称性を有するように基体1の主面102に配置される場合、開口部212の一の群と、開口部212の他の群とが主面102の中心Oから異なる距離に配置されていてもよい。
図12Aおよび図12Bのそれぞれに示されているように、通気路21が途中で屈曲した形状の基体1の内壁面により画定されていてもよい。通気路21は、開口部212側の上流側通気路214と、上流側通気路214とは異なる方向に基体1の主面102の反対側の面まで延在している下流側通気路216と、により構成されている。これらの場合、上流通気路214の軸線が、開口部212の軸線Q2として定義される。
複数の通気路21のそれぞれは、例えば、基体1の主面102と反対側において、配管を介して共通の一の真空ポンプ(真空吸引装置)に接続されている。必要に応じて、当該配管を開閉する電磁弁が設けられていてもよい。複数の開口部212が、別個の通気路21ではなく、共通の通気路21に連通するように通気路21が基体1に形成されていてもよい。即ち、1つの通気路21が基体1の内部で分岐して複数の開口部212を有してい てもよい。
基体1の主面102の中心Oから各開口部212の中心Pまでの距離が、基体1の主面102の中心Oから主環状凸部14の内側面までの距離の0.3倍以上かつ0.9倍以下に設計されていてもよい。
各開口部212は、主面102に沿った方向(図2/左右方向参照)における、主面102の中心Oを通る当該主面102の垂線である基準軸線L2(図2/二点鎖線参照)との距離が主面102から基体1の主面102とは反対側の面に向かって離れるにつれて長くなるように角度φをなして傾斜した軸線Q2(図2/破線参照)を有している。角度φは10°〜80°の角度範囲に含まれ、好ましくは40°〜80°の角度範囲に含まれる。4つの開口部212のそれぞれの軸線Q2は、基準軸線L2のまわりの4回回転対称性を有するように配置されている。
基体1の主面102に沿った仮想平面において、複数の開口部212のそれぞれの軸線Q2を基準軸線L2に沿った方向に投影した投影線Q1(図1/破線参照)と、基準軸線L2と交差する基準点(図1/主面102の中心O)から各開口部212のそれぞれの軸線L2(図1/開口部212の中心P)に向かって延びる方位線L1とが角度θをなして傾斜している。角度θは0°〜60°の角度範囲に含まれ、好ましくは0°〜45°の角度範囲に含まれる。
複数の凸部10は、基体1に設けられ、主面102において複数の開口部212とは異なる箇所に分散して配置され、かつ、基体1の主面102から突出している。複数の凸部10は、基体1の主面102において正三角格子、正六角格子または正方格子などの格子の頂点を構成するように規則的に配置されている(図1参照)。
各凸部10は、柱状(円柱状もしくは角柱状)、錐台状(円錐台状もしくは角錐台状)、または、底面よりも中腹部で面積が小さくなるような段差を有する柱状もしくは錐台状など、様々な形状に形成されている。複数の凸部10は、研削加工、ブラスト加工もしくはレーザー加工、またはこれらの組み合わせにより形成される。凸部10の上端面の周縁部は面取りされたような形状を有している。
主環状凸部14は、基体1に設けられ、主面102において複数の開口部212および複数の凸部10を囲むように連続的または断続的な環状(例えば、主面102の中心Oを中心とする円環状)に延在し、かつ、主面102から突出している。複数の凸部10のそれぞれの高さH1と、主環状凸部14の高さH4とは同じである(図2参照)。複数の凸部10のそれぞれの高さH1と、主環状凸部14の高さH4とが異なっていてもよい。基板保持部材の縦断面(図2参照)における主環状凸部14の形状は矩形状のほか、台形状、半楕円形状、底部よりも途中で幅狭になる段差付きの矩形状など、さまざまに変更されてもよい。主環状凸部14は、研削加工、ブラスト加工もしくはレーザー加工、またはこれらの組み合わせにより形成される。
(機能)
前記構成の本発明の第1実施形態としての基板保持部材によれば、基板Wが基体1に載置され、基板Wが複数の凸部10のうち少なくとも一部により支持される(図3A参照)。この状態で基板Wの裏面および基体1の主面102により挟まれた空間から、開口部212および通気路21を通じて空気が排出される(図3A/黒下矢印参照)。
前記のように各開口部212の軸線Q2が基準軸線L2に対して角度φで傾斜しているため、開口部212の周辺領域のうち主面102の中心Oに近い内側領域のほうから負圧が発現する(図3A/黒横矢印参照)。これにより、基板Wの中心を含む中央領域に対して最初に基体1の主面102に向かう真空吸引力が作用する(図3A/白下矢印参照)。これに応じて基板Wの裏面の中央領域が全体的に複数の凸部10のそれぞれの上端面に当接することで基板Wの平坦性が実現される(図3B参照)。
続いて、開口部212の周辺領域のうち主面102の中心Oから遠い外側領域にも負圧が発現する(図3B/黒横矢印参照)。これにより、基板Wの中央領域を取り囲む環状の周辺領域に対しても基体1の主面102に向かう真空吸引力が作用する(図3B/白下矢印参照)。すなわち、複数の真空吸引機構を必要とせずに、当該間隙の異なる領域に時間差をもって負圧を発現させることができる。これにより、時系列的に先に負圧が発現する中央領域で基板Wの平坦度が確保された後、時系列的に後に負圧が発現する周辺領域で基板Wの平坦度が確保され、結果的に基板W全体としての平坦度の向上が図られる(図3C参照)。
さらに、複数の開口部212の軸線Q2が基準軸線L2まわりの回転対称性を有しているので、単一の真空吸引機構が用いられて複数の通気路21を通じて、基体1の主面102と基板Wの裏面との間隙が真空吸引されたとしても、複数の開口部212のそれぞれの周辺領域において時間差をもって負圧を発現させることができる。基板Wの平坦度が実現される態様に、当該複数の開口部212のそれぞれの軸線と同様な回転対称性をもたせることができ、結果的に基板Wの平坦度の向上が図られる。
基体1の主面102に沿った仮想平面において、各開口部212の軸線Q2が基準軸線L1に沿った方向に投影された投影線Q1と、基準軸線L2と交差する基準点(主面2102の中心O)から各開口部212の軸線Q2(開口部212の中心P)に向かって延びる方位線L1と、が角度θで傾斜している。これにより、基体1の主面102と基板Wの裏面との間隙において負圧発現時に、複数の開口部212よりも内側にある領域において内側から外側に向かって旋回気流を生じさせることができ(図4/渦巻き矢印参照)、当該間隙におけるこれにより負圧領域の形成の迅速が図られる。
(実施例1)
第1実施形態にしたがって実施例1の基板保持部材が作製された。板状のSiC焼結体が加工されることにより直径φ300mm×厚さt6mmの略円盤状の基体1が作製された。径φ5mmの4つの開口部212が、基体1の主面102において、中心Oから50mmの位置に、中心Oの回りに4回回転対称性を有するように配置されるように、基体1に形成または穿設された。開口部212の軸線Q2および基準軸線L2のなす角度φが80°に設計された。軸線Q2の投影線Q1および方位線L1のなす角度θが0°に設計された。
ピッチ3mmの正三角格子の頂点を構成するように、径φ0.5mm×高さ100μmの略円柱状の複数の凸部10が基体1の主面102に形成された。基体1の主面102と同心の円環状に延在する、内径φ299mm、幅0.5mm、高さ97μmの主環状凸部14が基体1の主面102に形成された。
(実施例2)
開口部212の軸線Q2および基準軸線L2のなす角度φが10°に設計されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例2の基板保持部材が作製された。
(実施例3)
開口部212の軸線Q2および基準軸線L2のなす角度φが40°に設計されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例3の基板保持部材が作製された。
(実施例4)
投影線Q1および方位線L1のなす角度θが45°に設計されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例4の基板保持部材が作製された。
(実施例5)
投影線Q1および方位線L1のなす角度θが60°に設計されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例5の基板保持部材が作製された。
(実施例6)
4つの開口部212が、基体1の主面102において、中心Oから60mmの位置に、中心Oの回りに4回回転対称性を有するように配置されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例6の基板保持部材が作製された。
(実施例7)
4つの開口部212が、基体1の主面102において、中心Oから120mmの位置に、中心Oの回りに4回回転対称性を有するように配置されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例7の基板保持部材が作製された。
(比較例)
投影線Q1および方位線L1のなす角度θが0°に設計され、かつ、開口部212の軸線Q2および基準軸線L2のなす角度φが0°に設計されたほかは、実施例1と同様の仕様で比較例の基板保持部材が作製された。
(評価方法)
基板Wとしてのシリコンウエハが基体1に載置された後、通気路21を介して基板Wと基体1の主面102とにより挟まれた空間が減圧された。この状態で、基板Wの平坦度がレーザー干渉計(ZYGO社製 GPI Hs)で測定された。各実施例および比較例の基板保持部材の開口部212の構成および当該測定結果を表1にまとめて示す。
Figure 0006946167
表1から明らかなように、実施例1〜7のそれぞれの基板保持部材によれば、基板W全体のPV値が0.17〜0.28μmであり、基板W全体のPV値が0.30μmである比較例の基板保持部材よりも基板Wの十分な平坦度が実現されていることが確認された。
(第2実施形態)
(構成)
図5および図6に示されている本発明の第2実施形態としての基板保持部材は、副環状凸部12(第2副環状凸部)をさらに備えている。副環状凸部12(第2副環状凸部)は、基体1に設けられ、主面102において複数の開口部212により囲まれるように、連続的または断続的な環状(例えば主環状凸部14と同心の円環状)に延在し、かつ、基体1の主面から突出している。副環状凸部12(第2副環状凸部)の高さH2は、複数の凸部10の高さH1よりも低い。基板保持部材の縦断面(図6参照)における副環状凸部12(第2副環状凸部)の形状は矩形状のほか、台形状、半楕円形状、底部よりも途中で幅狭になる段差付きの矩形状など、さまざまに変更されてもよい。副環状凸部12(第2副環状凸部)は、研削加工、ブラスト加工もしくはレーザー加工、またはこれらの組み合わせにより形成される。
これ以外の構成は、本発明の第1実施形態としての基板保持部材とほぼ同様であるため、同一の符号を用いるとともに説明を省略する。
(機能)
前記構成の本発明の第2実施形態としての基板保持部材によれば、基板Wが基体1に載置され、基板Wが複数の凸部10のうち少なくとも一部により支持される(図7A参照)。この状態で基板Wの裏面および基体1の主面102により挟まれた空間から、開口部212および通気路21を通じて空気が排出される(図7A/黒下矢印参照)。
前記のように各開口部212の軸線Q2が基準軸線L2に対して角度φで傾斜しているため、開口部212の周辺領域のうち主面102の中心Oに近い内側領域のほうから負圧が発現する(図7A/黒横矢印参照)。これにより、基板Wの中心を含む中央領域に対して最初に基体1の主面102に向かう真空吸引力が作用する(図7A/白下矢印参照)。さらに、内側領域から複数の開口部212のそれぞれに流れる気体が、副環状凸部12(第2副環状凸部)の上端面と基板Wの裏面との間隙を通過する際に局所的に速度が上がるため、基板Wのうち副環状凸部12(第2副環状凸部)に相当する領域に対して基体1の主面102に向かうベルヌーイ力が作用する(図7A/灰下矢印参照)。これに応じて基板Wの裏面の中央領域が、副環状凸部12(第2副環状凸部)に相当する領域を除いて全体的に複数の凸部10のそれぞれの上端面に当接することで基板Wの平坦性が実現される(図7B参照)。
続いて、開口部212の周辺領域のうち主面102の中心Oから遠い外側領域にも負圧が発現する(図7B/黒横矢印参照)。これにより、基板Wの中央領域を取り囲む環状の周辺領域に対しても基体1の主面102に向かう真空吸引力が作用する(図7B/白下矢印参照)。すなわち、複数の真空吸引機構を必要とせずに、当該間隙の異なる領域に時間差をもって負圧を発現させることができる。これにより、時系列的に先に負圧が発現する中央領域で基板Wの平坦度が確保された後、時系列的に後に負圧が発現する周辺領域で基板Wの平坦度が確保され、結果的に基板W全体としての平坦度の向上が図られる(図7C参照)。
さらに、複数の開口部212の軸線Q2が基準軸線L2まわりの回転対称性を有しているので、単一の真空吸引機構が用いられて複数の通気路21を通じて、基体1の主面102と基板Wの裏面との間隙が真空吸引されたとしても、複数の開口部212のそれぞれの周辺領域において時間差をもって負圧を発現させることができる。基板Wの平坦度が実現される態様に、当該複数の開口部212のそれぞれの軸線と同様な回転対称性をもたせることができ、結果的に基板Wの平坦度の向上が図られる。
基体1の主面102に沿った仮想平面において、各開口部212の軸線Q2が基準軸線L1に沿った方向に投影された投影線Q1と、基準軸線L2と交差する基準点(主面2102の中心O)から各開口部212の軸線Q2(開口部212の中心P)に向かって延びる方位線L1と、が角度θで傾斜している。これにより、基体1の主面102と基板Wの裏面との間隙において負圧発現時に、複数の開口部212よりも内側にある領域において内側から外側に向かって旋回気流を生じさせることができ(図8/渦巻き矢印参照)、当該間隙におけるこれにより負圧領域の形成の迅速が図られる。さらに、副環状凸部12(第2副環状凸部)の上端面と基板Wの裏面との間隙における気流の流速態様を、当該副環状凸部12(第2副環状凸部)に沿って均等化することができる。これにより、副環状凸部12(第2副環状凸部)の上端面と、複数の凸部10により支持されている基板Wの裏面との間隙に生じるベルヌーイ力(図7A/灰下矢印参照)の均等化が図られ、結果的に基板Wの平坦度の向上が図られる。
(実施例8)
第2実施形態にしたがって実施例8の基板保持部材が作製された。基体1の主面102と同心の円環状に延在する、内径φ79mm、幅0.5mm、高さ97μmの副環状凸部12(第2副環状凸部)が基体1の主面102に形成されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例8の基板保持部材が作製された。基板W全体のPV値が0.23μmであり、比較例(PV値が0.30μm)よりも基板Wの十分な平坦度が実現されていることが確認された。
(第3実施形態)
(構成)
図9および図10に示されている本発明の第3実施形態としての基板保持部材では、副環状凸部12(第1副環状凸部)が、基体1に設けられ、主面102において主環状凸部14の内側で複数の開口部212を囲むように、連続的または断続的な環状(例えば主環状凸部14と同心の円環状)に延在し、かつ、基体1の主面から突出している。
これ以外の構成は、本発明の第1実施形態または第2実施形態としての基板保持部材とほぼ同様であるため、同一の符号を用いるとともに説明を省略する。
(機能)
前記構成の本発明の第3実施形態としての基板保持部材によれば、基板Wが基体1に載置され、基板Wが複数の凸部10のうち少なくとも一部により支持される(図11A参照)。この状態で基板Wの裏面および基体1の主面102により挟まれた空間から、開口部212および通気路21を通じて空気が排出される(図11A/黒下矢印参照)。
前記のように各開口部212の軸線Q2が基準軸線L2に対して角度φで傾斜しているため、開口部212の周辺領域のうち主面102の中心Oに近い内側領域のほうから負圧が発現する(図11A/黒横矢印参照)。これにより、基板Wの中心を含む中央領域に対して最初に基体1の主面102に向かう真空吸引力が作用する(図11A/白下矢印参照)。
続いて、開口部212の周辺領域のうち主面102の中心Oから遠い外側領域にも負圧が発現する(図11B/黒横矢印参照)。これにより、基板Wの中央領域を取り囲む環状の周辺領域に対しても基体1の主面102に向かう真空吸引力が作用する(図11B/白下矢印参照)。すなわち、複数の真空吸引機構を必要とせずに、当該間隙の異なる領域に時間差をもって負圧を発現させることができる。
さらに、外側領域から複数の開口部212のそれぞれに流れる気体が、副環状凸部12(第1副環状凸部)の上端面と基板Wの裏面との間隙を通過する際に局所的に速度が上がるため、基板Wのうち副環状凸部12(第1副環状凸部)に相当する領域に対して基体1の主面102に向かうベルヌーイ力が作用する(図11B/灰下矢印参照)。これに応じて基板Wの裏面の中央領域が、副環状凸部12(第1副環状凸部)に相当する領域を除いて全体的に複数の凸部10のそれぞれの上端面に当接することで基板Wの平坦性が実現される(図11B参照)。
これにより、時系列的に先に負圧が発現する中央領域で基板Wの平坦度が確保された後、時系列的に後に負圧が発現する周辺領域で基板Wの平坦度が確保され、結果的に基板W全体としての平坦度の向上が図られる(図11C参照)。
さらに、複数の開口部212の軸線Q2が基準軸線L2まわりの回転対称性を有しているので、単一の真空吸引機構が用いられて複数の通気路21を通じて、基体1の主面102と基板Wの裏面との間隙が真空吸引されたとしても、複数の開口部212のそれぞれの周辺領域において時間差をもって負圧を発現させることができる。基板Wの平坦度が実現される態様に、当該複数の開口部212のそれぞれの軸線と同様な回転対称性をもたせることができ、結果的に基板Wの平坦度の向上が図られる。
(実施例9)
第3実施形態にしたがって実施例9の基板保持部材が作製された。基体1の主面102と同心の円環状に延在する、内径φ119mm、幅0.5mm、高さ97μmの副環状凸部12(第1副環状凸部)が基体1の主面102に形成されたほかは、実施例1と同様の仕様で実施例9の基板保持部材が作製された。基板W全体のPV値が0.24μmであり、比較例(PV値が0.30μm)よりも基板Wの十分な平坦度が実現されていることが確認された。
(本発明の他の実施形態)
複数の開口部212のそれぞれの軸線Q2が、基準軸線L2のまわりの回転対称性を有していなくてもよい。また、複数の開口部212のうち、少なくとも1つの開口部212の軸線Q2および基準軸線L2のなす角度φが0°であってもよい。複数の開口部212のうち、一部の開口部212のみが、基体1の主面102に沿った方向における基準軸線L2との距離が主面102から基体1の反対側の面に向かって離れるにつれて短くなるように傾斜した軸線を有していてもよい。基体1の主面102に副環状凸部12が複数設けられていてもよい。複数の副環状 凸部12は、第2実施形態のように複数の開口部212に取り囲まれる位置に設けられた 副環状凸部12と第3実施形態のように複数の開口部212を囲む位置に設けられた副環 状凸部12を含んでいてもよい。
複数の開口部212のうち、少なくとも1つの開口部212の軸線Q2の仮想平面への投影線Q1および当該仮想平面における当該開口部212の方位線L1のなす角度θが0°であってもよい。
1‥基体、10‥凸部、12‥副環状凸部、14‥主環状凸部、21‥通気路、212‥開口部、102‥主面、L1‥方位線、L2‥基準軸線、O‥主面の中心、P‥開口部の中心、Q1‥投影線、Q2‥開口部の軸線、W‥基板。

Claims (8)

  1. 主面を有する基体と、
    前記主面において開口する少なくとも1つの開口部を有し、前記基体の内壁面により画定される少なくとも1つの通気路と、
    前記基体に設けられ、前記主面において前記少なくとも1つの開口部とは異なる箇所に分散して配置され、かつ、前記基体の主面から突出している複数の凸部と、を備えている基板保持部材であって、
    前記基体の主面の垂線であって、前記主面の中心を通る垂線を基準軸線としたときに、前記少なくとも1つの開口部は、前記主面に沿った方向における前記基準軸線との距離が前記主面から前記基体の前記主面とは反対側の面に向かって離れるにつれて長くなるように傾斜した軸線を有し、前記少なくとも1つの開口部の軸線が、前記基体の主面の垂線に対して10°〜80°の角度範囲に含まれる角度をなしていることを特徴とする基板保持部材。
  2. 請求項1記載の基板保持部材において、
    前記少なくとも1つの開口部は複数の開口部であって、
    前記複数の開口部のそれぞれの軸線が、前記基体の主面の垂線に対して10°〜80°の角度範囲に含まれる角度をなして、前記主面に沿った方向において前記基準軸線との距離が前記主面から前記基体の前記主面とは反対側の面に向かって離れるにつれて長くなるように傾斜し、かつ、前記基準軸線まわりの回転対称性を有することを特徴とする基板保持部材。
  3. 請求項1または請求項2に記載の基板保持部材において、
    前記少なくとも1つの開口部の軸線が、前記基体の主面の垂線に対して40°〜80°の角度範囲に含まれる角度をなして傾斜していることを特徴とする基板保持部材。
  4. 請求項1〜3のうちいずれか1つに記載の基板保持部材において、
    前記基体に設けられ、前記主面において前記少なくとも1つの開口部および前記複数の凸部を囲むように環状に延在し、かつ、前記主面から前記複数の凸部のそれぞれと同じ高さまたは前記主面から前記複数の凸部のそれぞれよりも低い高さで突出している主環状凸部をさらに備えていることを特徴とする基板保持部材。
  5. 請求項4記載の基板保持部材において、
    前記基体の主面の中心から前記少なくとも1つの開口部までの距離が、前記基体の主面の中心から前記主環状凸部の内側面までの距離の0.3倍以上かつ0.9倍以下であることを特徴とする基板保持部材。
  6. 請求項2記載の基板保持部材において、
    前記基体の主面に沿った仮想平面において、前記複数の開口部のそれぞれの軸線を前記基準軸線に沿った方向に投影した投影線と、前記基準軸線と交差する基準点から前記複数の開口部のそれぞれの軸線に向かって延びる方位線と、が傾斜していることを特徴とする基板保持部材。
  7. 請求項4記載の基板保持装置において、
    前記基体に設けられ、前記主環状凸部の内側の前記主面において前記少なくとも1つの開口部を囲むように延在し、かつ、前記基体の主面から前記複数の凸部よりも低い高さで突出している第1副環状凸部をさらに備えていることを特徴とする基板保持部材。
  8. 請求項1〜7記載の基板保持部材において、
    前記少なくとも1つの開口部は複数の開口部であって、前記基体に設けられ、前記主面において前記複数の開口部により囲まれ、かつ、前記基体の主面から前記複数の凸部よりも低い高さで突出している第2副環状凸部をさらに備えていることを特徴とする基板保持部材。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP3676520B2 (ja) * 1996-10-31 2005-07-27 大日本スクリーン製造株式会社 基板載置台
JPH1187477A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Toshiba Corp 基板の保持装置
JP2003197532A (ja) * 2001-12-21 2003-07-11 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp エピタキシャル成長方法及びエピタキシャル成長用サセプター
JP2007273693A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Nikon Corp 基板保持部材及び基板保持方法、基板保持装置、並びに露光装置及び露光方法
JP5913162B2 (ja) * 2012-04-04 2016-04-27 東京エレクトロン株式会社 基板保持装置および基板保持方法
JP6108803B2 (ja) * 2012-12-07 2017-04-05 日本特殊陶業株式会社 基板保持部材
JP6302758B2 (ja) * 2014-06-10 2018-03-28 株式会社ディスコ チャックテーブル
DE112016006567B4 (de) * 2016-03-10 2022-12-29 Mitsubishi Electric Corporation Substratansaugstufe, substratbehandlungsvorrichtung und substratbehandlungsverfahren

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