JP6933902B2 - 逆浸透膜の改質方法、および、非荷電物質含有水の処理方法 - Google Patents
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本発明の実施形態に係る逆浸透膜の改質方法は、ポリアミド系の逆浸透膜にハロゲン系酸化剤を接触させることにより、非荷電物質の阻止率を変更する逆浸透膜の改質方法において、逆浸透膜の純水換算のフラックスの測定値に基づいて、改質処理を行う方法である。この改質方法において、予め作成した、逆浸透膜の純水換算フラックスと非荷電物質の阻止率との相関式に基づいて、改質処理を行うことが好ましい。また、本発明の実施形態に係る逆浸透膜は、この逆浸透膜の改質方法により改質された逆浸透膜である。なお、本明細書における逆浸透膜の「改質」とは、非荷電物質の阻止率の向上を指す。
純水換算フラックス[m/d/MPa]=透過水量/膜面積/(膜面有効圧−浸透圧)
R2NSO3H (1)
(式中、Rは独立して水素原子または炭素数1〜8のアルキル基である。)
本実施形態に係る逆浸透膜用改質剤は、ハロゲン系酸化剤を含む。本実施形態に係る逆浸透膜用改質剤は、好ましくは「臭素系酸化剤」と「スルファミン酸化合物」との混合物を含む安定化次亜臭素酸組成物、または「塩素系酸化剤」と「スルファミン酸化合物」との混合物を含む安定化次亜塩素酸組成物を含有するものであり、さらにアルカリを含有してもよい。
安定化次亜臭素酸組成物または安定化次亜塩素酸組成物を含む逆浸透膜用改質剤は、臭素系酸化剤または塩素系酸化剤とスルファミン酸化合物とを混合することにより得られ、さらにアルカリを混合してもよい。
窒素雰囲気下で、液体臭素:16.9重量%(wt%)、スルファミン酸:10.7重量%、水酸化ナトリウム:12.9重量%、水酸化カリウム:3.94重量%、水:残分を混合して、安定化次亜臭素酸組成物を調製した。安定化次亜臭素酸組成物のpHは14、全塩素濃度は7.5重量%であった。全塩素濃度は、HACH社の多項目水質分析計DR/4000を用いて、全塩素測定法(DPD(ジエチル−p−フェニレンジアミン)法)により測定した値(mg/L asCl2)である。安定化次亜臭素酸組成物の詳細な調製方法は以下の通りである。
電極タイプ:ガラス電極式
pH測定計:東亜ディーケーケー社製、IOL−30型
電極の校正:関東化学社製中性リン酸塩pH(6.86)標準液(第2種)、同社製ホウ酸塩pH(9.18)標準液(第2種)の2点校正で行った
測定温度:25℃
測定値:測定液に電極を浸漬し、安定後の値を測定値とし、3回測定の平均値
次亜塩素酸ナトリウム(実施例1)および上記で調製した安定化次亜臭素酸組成物(実施例2)を改質剤(ハロゲン系酸化剤)としてそれぞれ用いて、ポリアミド系高分子逆浸透膜(日東電工株式会社製、SWC5)の改質を行った。改質は、この逆浸透膜を備える逆浸透膜装置に、操作圧2.0MPaで、上記改質剤を10ppm添加した水をpH4、25±1℃で通水した。目標IPA阻止率を97%とし、予め作成した相関式(図1)に基づいて、設定純水換算フラックスを0.28m/d/MPaとした。流量計で流量をモニタしながら下記式で求める純水換算フラックスが0.28m/d/MPaになるまで通水して実施した。その後、操作圧2.0MPaで、非荷電物質としてイソプロピルアルコールをTOC値で10ppm添加した水を、pH7、25±1℃で通水した。原水および透過水のTOC濃度を、TOC計(GEAI製、Sievers M9eシリーズ)を用いて測定し、下記のIPA阻止率を算出した。結果を表1に示す。
純水換算フラックス[m/d/MPa]=透過水量/膜面積/(給水圧−浸透圧)
IPA阻止率[%]=100−[透過水TOC濃度/{(給水TOC濃度+濃縮水TOC濃度)/2}]×100)
上記で調製した安定化次亜臭素酸組成物を改質剤として用いて、ポリアミド系高分子逆浸透膜(日東電工株式会社製、「SWC4」)(実施例3)、ポリアミド系高分子逆浸透膜(日東電工株式会社製、「SWC5」)(実施例4)の改質をそれぞれ行った。改質は、この逆浸透膜を備える逆浸透膜装置に、操作圧2.0MPaで、上記改質剤を10ppm添加した水をpH4、25±1℃で、流量計で流量をモニタしながら純水換算フラックスが0.28m/d/MPaになるまで通水して実施した。その後、操作圧2.0MPaで、非荷電物質としてIPAをTOC値で10ppm添加した水を、pH7、25±1℃で通水した。原水および透過水のTOC濃度を、TOC計を用いて測定し、上記のIPA阻止率を算出した。結果を表2に示す。
純水換算フラックスの測定値に基づいて改質処理を行うのではなく、特許文献1の段落[0044]に記載のように、改質の時間に基づいて改質処理を行った。上記で調製した安定化次亜臭素酸組成物を改質剤として用いて、ポリアミド系高分子逆浸透膜(FILMTEC製、「SW30HRLE」)(比較例1)、ポリアミド系高分子逆浸透膜(日東電工株式会社製、「SWC5」)(比較例2)の改質をそれぞれ行った。改質は、この逆浸透膜を備える逆浸透膜装置に、操作圧2.0MPaで、上記改質剤を10ppm添加した水をpH4、25±1℃で所定の時間、通水して実施した。その後、操作圧2.0MPaで、非荷電物質としてIPAをTOC値で10ppm添加した水を、pH7、25±1℃で通水した。原水および透過水のTOC濃度を、TOC計を用いて測定し、上記のIPA阻止率を算出した。結果を表3に示す。
Claims (6)
- ポリアミド系の逆浸透膜にハロゲン系酸化剤を接触させることにより、非荷電物質の阻止率を変更する逆浸透膜の改質方法において、
前記逆浸透膜の純水換算のフラックスの測定値と、予め作成した、前記逆浸透膜の純水換算のフラックスと前記非荷電物質の阻止率との相関式と、に基づいて、改質処理を行うことを特徴とする逆浸透膜の改質方法。 - 請求項1に記載の逆浸透膜の改質方法であって、
前記非荷電物質は、分子量200以下の低分子物質であることを特徴とする逆浸透膜の改質方法。 - 請求項1または2に記載の逆浸透膜の改質方法であって、
前記接触が、pH4〜6.5の範囲で行われることを特徴とする逆浸透膜の改質方法。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の逆浸透膜の改質方法であって、
前記接触における前記ハロゲン系酸化剤の濃度が、0.1〜100mg/Lの範囲であることを特徴とする逆浸透膜の改質方法。 - 請求項1〜4のいずれか1項に記載の逆浸透膜の改質方法であって、
前記接触が、0.1〜20MPaの範囲の加圧下で行われることを特徴とする逆浸透膜の改質方法。 - 請求項1〜5のいずれか1項に記載の逆浸透膜の改質方法により改質された逆浸透膜を用いて非荷電物質含有水を逆浸透膜処理することを特徴とする非荷電物質含有水の処理方法。
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